JP4344667B2

JP4344667B2 - 非接触電圧測定装置

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Publication number: JP4344667B2
Application number: JP2004270899A
Authority: JP
Inventors: 俊夫中沢; 隆江連; 正山本
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 2004-09-17
Filing date: 2004-09-17
Publication date: 2009-10-14
Anticipated expiration: 2024-09-17
Also published as: JP2006084380A

Description

本発明は、被覆された電線に印加された電圧を導電部とは非接触で測定するようにした非接触電圧測定装置に関するものである。

従来、非接触電圧測定装置の先行技術としては次のようなものがある。

特開平０８−０３６００５号公報特許第３１５８０６３号公報特開２００１−２５５３４２号公報特開２００１−２１０３４７号公報

特許文献１に記載された技術は、活線状態にて電線と大地間に流れる電流を検出するとともに誘電正接を検出し、この検出した誘電正接の値をもとに電線に印加されている電圧を測定するものである。

また、特許文献２に記載された技術は、絶縁被覆された電線内の導体に印加される交流電圧を測定する非接触電圧測定装置として、芯線と電極との間に形成される結合容量を測定するものである。しかし、このような技術では発信器やフィルタなどを用いるため構成が複雑となる。

また、特許文献３に記載された技術は、電線の電位を、芯線と電極との間に形成される結合容量と、基準のコンデンサの静電容量とで分圧し、コンデンサの容量を切り替えてそのときの分圧された電圧の値から結合容量を求め、この結合容量の値を用いて導体に印加された電圧を求めるものである。非接地型の場合では、装置と大地間の浮遊容量も同様にして求める。
このような非接触電圧測定装置では、上述の発振器などが不要になり簡便に非接触で電圧を測定することができる。

また、特許文献４に記載された技術は、検出プローブと共通電位点との間にコンデンサを接続してこのコンデンサと結合容量とで導体に印加される電圧を分圧し、この分圧された電圧を検出するようにして、コンデンサの値を変化させてそのときの分圧された電圧の値から結合容量を求め、この結合容量の値から導体に印加された電圧を求めるようにしたものである。

この特許文献４に記載された技術について図４を用いて簡単に説明する。
図４において、１１０は入力部、１２０は入力部１１０の出力が入力されるブートストラップ回路である。このブートストラップ回路の出力をＡ／Ｄ変換器１３０でデジタル信号に変換し演算手段１４０により演算して芯線１０に印加される電圧値を求めている。

入力部１１０はコンデンサ１３，１４およびスイッチ１５で構成される。７は電極（検出プローブ）である。１２は電極７と絶縁被覆された電線９と絶縁体１１との間に形成される結合容量を表したものであり、Ｃｘ１はその容量値を表す。

１３，１４はそれぞれＣ１、Ｃ２の容量値を有するコンデンサであり、その一端は電極７に接続され、他端はそれぞれスイッチ１５の接点Ａ、同Ｂに接続される。スイッチ１５の共通接点Ｃは共通電位点に接続される。

ブートストラップ回路１２０は抵抗１２１および１２２，コンデンサ１２３およびアンプ１２４から構成される。抵抗１２１，１２２は直列接続され、この直列接続された抵抗の一端には入力部１１０の出力が印加され、他端は共通電位点に接続される。

アンプ１２４の非反転入力端子には入力部１１０の出力が印加される。すなわち、抵抗１２１と１２２の直列回路の共通電位点側でない側に接続される。また、アンプ１２４の出力端子と反転入力端子は共通接続され、この共通接続点と抵抗１２１と１２２の接続点の間にはコンデンサ１２３が接続される。

このような構成により、ブートストラップ回路１２０の入力インピーダンスは帰還作用によって非常に高い値になる。すなわち、入力部１１０の動作はブートストラップ回路１２０が接続されることによって影響を受けることはない。

しかし、特許文献１に記載された従来の誘電正接測定器では、電線の電圧信号を活線部分から取り出すので感電の危険性があり、測定する場所も限定される。
また、特許文献２に記載された技術では発信器やフィルタなどを用いるため構成が複雑となる。

また、特許文献３に記載された従来の非接触電圧測定装置では、電線の芯線と装置の電極間にある被覆等の絶縁体には誘電正接があり、この誘電正接により結合容量の測定に誤差を生じ、この結果として電線の電圧測定にも大きな誤差を生じる。

また、特許文献４に記載された従来の非接触電圧測定方法および装置では、電圧Ｖ１，Ｖ２の測定中は未知の電圧Ｅｘは一定電圧で電圧変動が無いとの条件で結合容量Ｃｘを演算して、未知の電圧Ｅを求めている。

しかし実際には測定対象のライン電圧は常に変動している為、電圧Ｖ１，Ｖ２の測定を１回行うだけでは正確に未知の電圧Ｅｘが求まらない。ライン変動の影響を少なくするには、何回か既知のキャパシタＣ１，Ｃ２を切り替えてＶ１，Ｖ２の各平均電圧を算出し、未知の電圧Ｅｘを求めなければならない。そのため、電圧変動があるライン電圧測定では短時間で正確に測定ができない欠点がある。

従って本発明が解決しようとする課題は、電圧変動があっても測定精度に影響がなく、短時間で正確に未知の電圧Ｅｘが測定可能な非接触電圧測定装置を提供することにある。

このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、この第１分圧電圧検出回路の出力を測定する第１電圧測定手段と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
この第２分圧電圧検出回路の出力を測定する第２電圧測定手段と
前記第１，第２電圧測定手段で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を入力し前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えたことを特徴とする。

請求項２記載の発明においては、電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える第１切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
これら第１，第２分圧電圧検出回路の出力を切換える第２切換えスイッチと、
前記第１，第２分圧電圧検出回路で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を前記第２切換えスイッチを介して入力する電圧測定手段と、
前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えたことを特徴とする。

以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項１の発明によれば、電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、この第１分圧電圧検出回路の出力を測定する第１電圧測定手段と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
この第２分圧電圧検出回路の出力を測定する第２電圧測定手段と
前記第１，第２電圧測定手段で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を入力し前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えているので、電圧変動があっても測定精度に影響がなく、短時間で正確に未知の電圧Ｅｘを測定可能となる。

請求項２記載の発明によれば、
電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える第１切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
これら第１，第２分圧電圧検出回路の出力を切換える第２切換えスイッチと、
前記第１，第２分圧電圧検出回路で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を前記第２切換えスイッチを介して入力する電圧測定手段と、
前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えているので、電圧変動があっても測定精度に影響がなく、短時間で正確に未知の電圧Ｅｘを測定可能となる。

以下に、図に基づいて本発明を詳細に説明する。
図１は、非接触電圧測定装置の一実施例を示した構成図である。
図１において、１は第１分圧電圧検出回路、２は第２分圧電圧検出回路であり、第１分圧電圧検出回路１は、電極７ａを介して結合容量により電線９に接続されている。同様に第２分圧電圧検出回路２は、電極７ｂを介して結合容量により電線９に接続されている。これら第１，第２分圧電圧検出回路１，２には導体である芯線１０と絶縁体１１と電極７ａ，７ｂによる結合容量で芯線１０から交流信号が入力する。

Ｃｘ１は芯線１０と電極７ａ間の絶縁体の静電容量である。同様にＣｘ２は芯線１０と電極７ｂ間の絶縁体の静電容量である。Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３はコンデンサであり、コンデンサＣ１の一端は電極７ａ及びアンプ１２ａの非反転入力端子に接続され、他端はスイッチＳＷ１を介してアース電位に接続されている。同様にコンデンサＣ２の一端も電極７ａに接続され他端はアンプ１２ａの非反転入力端子に接続され、他端はスイッチＳＷ１を介してアース電位に接続されている。コンデンサＣ３の一端は電極７ｂ及びアンプ１２ｂの非反転入力端子に接続されており、他端はアース電位に接続されている。

抵抗Ｒ１はアンプ１２ａの内部抵抗を等価的に表したもので、等価的にコンデンサＣ１，Ｃ２に並列に接続したものとして表すことができる。同様に抵抗Ｒ２はアンプ１３ｂの内部抵抗を等価的に表したもので、等価的にコンデンサＣ３に並列に接続したものとして表すことができ、これらの抵抗Ｒ１，Ｒ２はアンプ１２ａ又は１２ｂの入力抵抗となる。

アンプ１２ａ，１２ｂの反転入力端子は夫々の出力端子に接続されており、ゲイン１のバッファアンプとして機能する。そしてスイッチＳＷ１により切換えられて出力する分圧された電圧Ｖ１又はＶ２と電圧Ｖ３を出力する。

即ち、アンプ１２ａに入力される電圧は、芯線１０の電圧ＥがコンデンサＣｘ１とコンデンサＣ１又はＣ２と抵抗Ｒ１の合成インピーダンスとで分圧され、アンプ１２ａの出力電圧Ｖ１又はＶ２となる。

図２は他の構成例を示すもので、アンプ１２ａと１２ｂの出力をスイッチＳＷ２で切換えて電圧測定手段１３ｃに入力するようにしたもので、スイッチＳＷ２の切換え速度は例えば１ｍＳとされる。
そして、スイッチＳＷ１がＣ１の側に接続している場合はＶ１とＶ３、スイッチＳＷ１がＣ２の側に接続している場合はＶ２とＶ３の電圧がほぼ同時に電圧測定手段１３ｃにより測定される。

これらの測定により、短時間で芯線の電圧Ｅが変動している場合でも正確にＶ１とＶ３、Ｖ２とＶ３が測定できる。
補正手段１４はＶ１を測定している時のＶ３と、Ｖ２を測定している時のＶ３の電圧変化に応じてＶ１又はＶ２の出力電圧を補正する。
演算手段１５は補正されたＶ２や電圧測定手段で測定したＶ１及び既知のＣ１，Ｃ２を用いて結合容量Ｃｘ１を求め、電線の芯線１０に印加されている電圧Ｅを求める。

図１の第一分圧検出回路１において、アンプ１の入力抵抗がコンデンサＣ1又はＣ２のインピーダンスより充分大きい場合は、コンデンサＣｘ１とコンデンサＣ1で分圧された電圧Ｖ１、コンデンサＣ２で分圧された電圧Ｖ２と電圧Ｅの関係は次式で表される。
Ｖ１＝Ｅ×Ｃｘ１／（Ｃ１＋Ｃｘ１）・・・・・（１）
Ｖ２＝Ｅ×Ｃｘ１／（Ｃ２＋Ｃｘ１）・・・・・（２）

第２分圧検出回路２において、アンプ２の入力抵抗Ｒ２がコンデンサＣ３のインピーダンスより充分大きい場合は、コンデンサＣｘ２とコンデンサＣ３で分圧された電圧Ｖ３と電圧Ｅの関係は次式で表される。
Ｖ３＝Ｅ×Ｃｘ２／（Ｃ３＋Ｃｘ２）・・・・・（３）
第１、第２分圧検出回路１，２で検出された電圧Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３は第１、第２電圧測定手段１３ａ，１３ｂにより実効値電圧として測定される。

この電圧測定では第１分圧検出回路１のスイッチＳＷ１をＣ１側に切り替えて、電圧Ｖ１と同時に電圧Ｖ３を測定する。同様にスイッチＳＷ１をＣ２側に切り替えて、電圧Ｖ２と同時に電圧Ｖ３を測定する。
補正手段１４では電圧Ｖ１又は電圧Ｖ２と同時に測定した電圧Ｖ３で電圧変動を求め、電圧Ｖ１又は電圧Ｖ２を補正する。

演算手段１５では補正手段で補正した電圧Ｖ１又は電圧Ｖ２と既知のコンデンサＣ１、Ｃ２で下記の式により芯線１０と電極７ａ間の静電容量Ｃｘ１を求め、電線の電圧Ｅを求める。
Ｃｘ１＝（Ｖ２×Ｃ２−Ｖ１×Ｃ１）／（Ｖ１−Ｖ２）・・・・・（４）
Ｅ＝Ｖ１×（Ｃ１＋Ｃｘ１）／Ｃｘ１・・・・・（５）

電圧Ｖ２の補正は下記の式により行う。
電圧Ｖ１を測定中の電圧Ｅが電圧Ｖ２を測定中にＥaと変動した場合、同時に測定した電圧をＶ３、Ｖ３aとすると、
電圧Ｖ１測定中の電圧Ｖ３
Ｖ３＝Ｅ×Ｃx２／（Ｃ３＋Ｃx２）
電圧Ｖ２測定中の電圧Ｖ３a
Ｖ３a＝Ｅa×Ｃx２／（Ｃ３＋Ｃx２）
電圧Ｖ３からＶ３aへの変動比は
変動比＝Ｖ３a／Ｖ３
この変動比を使用して電圧Ｖ２を補正する補正比は
補正比＝１／変動比
電圧Ｖ２の補正前の電圧をＶ２a、補正後の電圧をＶ２oとすると
Ｖ２o＝Ｖ２a×補正比＝Ｖ２a×（Ｖ３／Ｖ３a）

以上の方法で電圧Ｖ３の同時測定で、電圧Ｖ２の補正を行い、式（４）で結合容量Ｃｘ１を求め、式（５）で電線の電圧Ｅを求める。
Ｖ３を電圧Ｖ１、Ｖ２と同時に測定することにより、電線の電圧Ｅの変動の影響が無くなり、式（４）で結合容量Ｃｘ１が正確に求められて、最終的に式（５）で電線の電圧Ｅが求まる。

ところで、上記（４）式は先に述べた特許文献４に記載されたＣｘ１を求める式であるが、この式ではＶ１とＶ２測定中の電圧ＥとＥaは同一電圧でなければならない。
しかし、本発明では、電圧Ｅを分圧しているＶ３の電圧を測定してＶ２の電圧を補正している。（Ｃｘ１を求める場合は電圧Ｅが同じになれば、補正はＶ１又はＶ２の電圧どちらでも良い。電圧ＥはＶ１とＶ２の測定順序がＶ１→Ｖ２と測定するので時間が近いＶ２での電圧Ｅaを測定する。）

図３は電線の芯線に印加された電圧Ｅの真値と、分圧回路の電圧Ｖ１とＶ２及びＶ３を電圧測定手段で測定し、計算値は補正手段と演算手段で計算した結合容量Ｃｘ１と電圧Ｅaである。

測定条件は、Ｃｘ１：１ｐＦ（未知の結合容量）
Ｃｘ２：１ｐＦ（未知の結合容量）
Ｃ１：９９ｐＦ（既知の容量）
Ｃ２：９９９ｐＦ（既知の容量）
Ｃ３：４９９ｐＦ（既知の容量）
とした。

図３において、条件１では芯線の電圧Ｅが電圧Ｖ１,Ｖ２測定中に変動しない場合を示し、真値Ｅが１００Ｖに対して従来方式及び本発明のいずれも計算値の電圧Ｅaが１００Ｖとなっており、真値Ｅとは一致している。
条件２〜４は芯線の電圧Ｅが電圧Ｖ２を測定中において変動した場合の条件で、電圧Ｖ１とＶ２では芯線の電圧Ｅが異なった電圧を示している。
即ち、条件２では測定モードＶ２（Ｃ２）で芯線の電圧Ｅの真値が１００．１Ｖに変化している。その場合、従来の方式では分圧回路の電圧Ｖ２は０．１００１Ｖで、計算値は結合容量Ｃｘ１が１．１１ｐＦ、電圧Ｅａの計算値は９０．１Ｖとなり、真値と比較して約マイナス１０％の誤差が生じる。

これに対し、本発明での条件２では測定モードＶ１（Ｃ１）のときに電圧Ｖ３が０．２０００Ｖで、測定モードＶ２（Ｃ２）のときには電圧Ｖ３が０．２００２Ｖと変化しているが、補正後の計算値では結合容量Ｃｘ１は１．００ｐＦ、電圧Ｖ２_０は０．１０００Ｖ、電圧Ｅaは１００．１Ｖであり、測定モードＶ２の真値１００．１Ｖとの誤差はない。

次に条件３では測定モードＶ２（Ｃ２）で芯線の電圧Ｅの真値が１０１．０Ｖに変化している。その場合、従来の方式では分圧回路の電圧Ｖ２は０．１０１０Ｖで、計算値は結合容量Ｃｘ１が２．１１ｐＦ、電圧Ｅａの計算値は４７．８７Ｖとなり、真値と比較して約５０％強の誤差が生じる。

これに対し、本発明での条件３では測定モードＶ１（Ｃ１）のときに電圧Ｖ３が０．２０００Ｖで、測定モードＶ２（Ｃ２）のときには電圧Ｖ３が０．２０２０Ｖと変化しているが、補正後の計算値では結合容量Ｃｘ１は１．００ｐＦ、電圧Ｖ２_０は０．１０００Ｖ、電圧Ｅaは１０１．０Ｖであり、測定モードＶ２の真値１０１．０Ｖとの誤差はない。

次に条件４では測定モードＶ２（Ｃ２）で芯線の電圧Ｅの真値が１０５．０Ｖに変化している。その場合、従来の方式では分圧回路の電圧Ｖ２は０．１０５０Ｖで、計算値は結合容量Ｃｘ１が６．５９ｐＦ、電圧Ｅａの計算値は１６．０３Ｖとなり、真値と比較して約８５％の誤差が生じている。

これに対し、本発明での条件４では測定モードＶ１（Ｃ１）のときに電圧Ｖ３が０．２０００Ｖで、測定モードＶ２（Ｃ２）のときには電圧Ｖ３が０．２１００Ｖと変化しているが、補正後の計算値では結合容量Ｃｘ１は１．００ｐＦ、電圧Ｖ２_０は０．１０００Ｖ、電圧Ｅaは１０５．０Ｖであり、測定モードＶ２の真値１０５．０Ｖとの誤差はない。
このように本発明では条件２〜４のいずれの条件でも補正後の計算値Ｅaが真値と一致しており正確に測定することができる。

なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。

本発明の非接触電圧測定器の一実施例を示す構成図である。本発明の非接触電圧測定器の他の実施例を示す構成図である。本発明と従来の測定器の真値に対する計算値の誤差を示す図である。従来の非接触電圧測定器の一例を示す構成図である。

符号の説明

１第１分圧電圧検出回路
２第２分圧電圧検出回路
７電極
９電線
１０芯線
１１絶縁体
１２アンプ
１３電圧測定手段
１４補正手段
１５演算手段

Claims

電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、この第１分圧電圧検出回路の出力を測定する第１電圧測定手段と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
この第２分圧電圧検出回路の出力を測定する第２電圧測定手段と
前記第１，第２電圧測定手段で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を入力し前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えたことを特徴とする非接触電圧測定装置。
電線の芯線に印加される交流電圧Ｅを前記芯線に接する絶縁体を通して測定する非接触電圧測定装置において、
前記絶縁体を挟んで設けられた第1，第２電極と、
前記第1電極に接続された容量の異なる第１，第２の基準コンデンサと
前記第１，第２の基準コンデンサを切換える第１切換えスイッチと、
前記芯線に印加される交流電圧を前記第１電極と芯線との間で形成される結合容量と前記第１または第２の基準コンデンサの間で分圧した分圧電圧Ｖ１，Ｖ２を求める第１分圧電圧検出回路と、
前記第２電極に接続された第３の基準コンデンサと
前記芯線に印加される交流電圧を芯線と前記第２電極間で形成される結合容量と前記第３の基準コンデンサで分圧した分圧電圧Ｖ３を求める第２分圧電圧検出回路と、
これら第１，第２分圧電圧検出回路の出力を切換える第２切換えスイッチと、
前記第１，第２分圧電圧検出回路で求めた分圧電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３を前記第２切換えスイッチを介して入力する電圧測定手段と、
前記分圧電圧Ｖ３を用いて前記分圧電圧Ｖ１又はＶ２を補正する電圧補正手段と、
この補正した補正電圧に基づいて前記芯線に印加されている電圧を演算する演算手段を備えたことを特徴とする非接触電圧測定装置。