JP2015169440A - 電圧測定装置および電圧測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】簡単な構成により、交流電圧の絶対値と位相を正確に測定できるようにする。【解決手段】電圧測定装置（１）は、検出プローブ（１１）と、検出プローブ（１１）に誘起される電圧から、交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する電圧絶対値測定回路（１８）と、同一の検出プローブ（１１）に誘起される電圧から、交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する位相測定回路（１９）とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は、絶縁被覆された配線内の導体を流れる交流の電圧を、配線の導体に接触することなく測定する電圧測定装置および電圧測定方法に関する。

従来、例えば工場等に引き込まれた１００Ｖや２００Ｖといった商用電源については、電圧の絶対値および電圧の位相を測定することが求められている。電圧の位相を測定することは、電気機器に対して良好な力率にて電力が供給されているかどうかを判定する上において重要である。この種の電圧の測定には、非接触電圧測定装置が使用される。この電圧測定装置は、絶縁被覆された配線内の導体を流れる交流の電圧を、配線の導体に接触することなく測定する装置であり、例えば特許文献１に開示されている。

図８を用いて、一般的な非接触電圧測定装置１０１（以下、単に電圧測定装置１０１と称する）の構成を説明する。図８は、電圧測定装置１０１の構成を示す概略の回路図である。

図８に示すように、電圧測定装置１０１は、検出電極として機能とする検出プローブ１１１を備えている。検出プローブ１１１は、電圧測定対象の電線１１２における絶縁被覆の表面の少なくとも一部を覆うようになっている。これにより、電線１１２の導体と検出プローブ１１１との間には結合容量Ｃ_Ｌが形成される。

検出プローブ１１１とＧＮＤとの間には検出用インピーダンスＺ_Ｓが接続されており、この検出用インピーダンスＺ_Ｓの両端には、電線１１２の導体を流れる交流の電圧Ｖ_Ｌによって電圧が生じる。この電圧は、検出プローブ１１１の出力値Ｖ_ｏｕｔとして出力される。なお、出力値Ｖ_ｏｕｔは、電線１１２の導体の電圧Ｖ_Ｌを検出用インピーダンスＺ_Ｓと結合容量Ｃ_Ｌとで分圧した電圧のうちの検出用インピーダンスＺ_Ｓ側の電圧である。

これにより、電線１１２の電圧Ｖ_Ｌ、交流の周波数ｆ（角周波数ω）、検出用インピーダンスＺ_Ｓ、出力値Ｖ_ｏｕｔ、および結合容量Ｃ_Ｌの間には、次の式（１）の関係が成り立つ。

したがって、電線１１２の電圧Ｖ_Ｌの絶対値は、次の式（２）のようになる。

次に、電線１１２の電圧Ｖ_Ｌを求める手順について説明する。図９は、図８に示した電圧測定装置１０１において、検出用インピーダンスＺ_ＳがコンデンサＣ_１およびＣ_２にて構成されている非接触電圧測定装置１０２（以下、単に電圧測定装置１０２と称する）の構成を示す概略の回路図である。

図８に示すように、コンデンサＣ_１およびＣ_２は、一端部が検出プローブ１１１に接続され、他端部が切替えスイッチ１１４を介してＧＮＤに接続される。すなわち、切替えスイッチ１１４は、コンデンサＣ_１およびＣ_２のうち、いずれか一方が電気的に検出プローブ１１１と接続されるように切り替える。

電圧測定装置１０２では、切替えスイッチ１１４を用いて、コンデンサＣ_１に印加される電圧、およびコンデンサＣ_２に印加される電圧が、出力値Ｖ_ｏｕｔ１およびＶ_ｏｕｔ２としてそれぞれ測定される。電圧Ｖ_Ｌは、これら測定された出力値Ｖ_ｏｕｔ１およびＶ_ｏｕｔ２から以下の手順にて算出される。

まず、測定された２つの電圧Ｖ_ｏｕｔ１およびＶ_ｏｕｔ２から、以下の関係式（式（３））が得られる。

式（３）から、結合容量Ｃ_Ｌが算出される。

式（４）および回路方程式から、以下の式（５）が導かれる。

特開２００３−２８９００号公報（２００３年１月２９日公開）

上記従来の構成では、電線１１２の交流電圧（電圧Ｖ_Ｌ）の絶対値については測定できるようになっている。しかしながら、位相の測定に関し、電線１１２の被覆の抵抗（後述の導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌに相当）については考慮されておらず、この被覆の抵抗により電線１１２の交流電圧の位相を正確に測定することができない。

具体的には、非接触電圧測定装置１０１により電線１１２の交流電圧の位相を測定した場合には、電線１１２の被覆の抵抗の存在により、測定された位相は、本来の位相からずれたものとなる。

一方、電線１１２の交流電圧の位相を正確に測定できるように非接触電圧測定装置１０１の各素子の値を設定した場合には、電線１１２の交流電圧の絶対値の検出感度が低下するため、電線１１２の交流電圧の絶対値を正確に測定できなくなる。すなわち、電線１１２の交流電圧の位相の測定においては、検出プローブ１１１（検出電極）の容量と検出インピーダンスの合成容量を純粋な容量成分とみなせるように検出インピーダンスを設定する必要があり、このような設定にした場合には、電線１１２の交流電圧の絶対値の検出感度が低下する。

したがって、本発明は、簡単な構成により、電線の交流電圧の絶対値と電線の交流電圧の位相とを正確に測定することができる電圧測定装置および電圧測定方法の提供を目的としている。

上記の課題を解決するために、本発明の電圧測定装置は、電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を前記導体に非接触で測定する電圧測定装置であって、前記導体との間に結合容量が形成される一つのプローブと、前記プローブを含み、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する電圧絶対値測定回路と、同一の前記プローブを含み、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する位相測定回路とを備えていることを特徴としている。

上記の構成によれば、電圧測定装置は、電線の交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する電圧絶対値測定回路と、電線の交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する位相測定回路とを備えている。したがって、電圧絶対値測定回路を電線の交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得するのに適した設定とし、かつ位相測定回路を電線の交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得するのに適した設定とすることができる。したがって、電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を正確に測定することができる。

また、電圧絶対値測定回路および位相測定回路は同一のプローブを含んでいるので、複数のプローブが不要であり、コンパクトな構成とすることができる。

また、本発明の電圧測定方法は、電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を前記導体に非接触で測定する電圧測定方法であって、前記導体との間に結合容量が形成されるプローブを配置する工程と、前記プローブを含む電圧絶対値測定回路により、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する工程と、同一の前記プローブを含む位相測定回路により、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する工程とを備えていることを特徴としている。

上記の構成によれば、上記電圧測定装置と同様の作用効果を奏する。

前記電圧絶対値測定回路および前記位相測定回路は、前記電圧絶対値測定回路と前記位相測定回路とでインピーダンス値を切り替えることにより形成される構成としてもよい。

上記の構成によれば、電圧絶対値測定回路と位相測定回路とで最適なインピーダンス値を設定することができ、電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を正確に測定することができる。

上記の電圧測定装置において、前記電圧絶対値測定回路は、インピーダンス値を変更可能であり、一端部が前記プローブと接続されるインピーダンス設定手段と、前記インピーダンス設定手段の他端部と接続される第１のインピーダンス要素とを備え、前記位相測定回路は、前記インピーダンス設定手段と並列に接続された第２のインピーダンス要素を備え、前記第１のインピーダンス要素に対して前記インピーダンス設定手段または前記第２のインピーダンス要素が電気的に接続されるように切り替える切替え手段が設けられている構成としてもよい。

上記の構成によれば、プローブに加えて第１のインピーダンス要素が電圧絶対値測定回路および位相測定回路により共用されるので、さらにコンパクトな構成とすることができる。

上記の電圧測定装置において、前記第２のインピーダンス要素はコンデンサである構成としてもよい。

上記の構成によれば、汎用のコンデンサを使用して位相測定回路を容易に構成することができる。

本発明の構成によれば、簡単な構成により、電線の交流電圧の絶対値と位相とを正確に測定することができる。

本発明の実施の形態の非接触電圧測定装置の構成を示す概略の回路図である。 図２の（ａ）は、図１に示した非接触電圧測定装置の第１および第２の状態を示す回路図、図２の（ｂ）は、図１に示した非接触電圧測定装置の第３の状態を示す回路図である。 図１に示した非接触電圧測定装置の等価回路を示す図である。 図１に示した電線の導体と検出プローブとの間に、結合容量および導体・プローブ間抵抗が生じている状態を示す説明図である。 図１に示した構成における結合容量と電線の交流電圧との関係を示すものであって、結合容量の静電容量値と、電線の交流電圧の絶対値の２回微分との関係を表すグラフである。 図１に示した非接触電圧測定装置において、コンデンサＣ_３の値を変化させた場合の導体・プローブ間抵抗と電線の交流電圧の位相遅れ量との関係を示すグラフである。 図２の（ａ）に示した電圧絶対値測定回路において、インピーダンス素子として、二つのコンデンサに代えて一つの可変コンデンサを備えた例を示す回路図である。 従来の非接触電圧測定装置の構成を示す概略の回路図である。 図８に示した検出用インピーダンスが二つのコンデンサにて構成されている非接触電圧測定装置の構成を示す概略の回路図である。

〔実施の形態〕
本発明の実施の形態を図面に基づいて以下に説明する。

（非接触電圧測定装置１の構成）
図１は、非接触電圧測定装置（以下、単に電圧測定装置と称する）１の構成を示す概略の回路図である。電圧測定対象の電線１２の導体１３は、被覆層１４によって絶縁被覆されており、電圧測定装置１は、導体１３を流れる交流の電圧（絶対値）および位相を導体１３に接触することなく測定する。

図１に示すように、電圧測定装置１は、検出プローブ（プローブ）１１、検出コンデンサＣ_１〜Ｃ_３、切替えスイッチ（切替え手段）１５、検出抵抗（第１のインピーダンス要素）Ｒ_Ｓおよび演算部１７を備えている。

検出プローブ１１は、電線１２の被覆層１４の外周面を囲うように取り付けることができる電極を備えている。コンデンサＣ_１〜Ｃ_３は、一端部が検出プローブ１１に接続され、他端部が切替えスイッチ１５を介して検出抵抗Ｒ_Ｓに接続されている。

切替えスイッチ１５は、コンデンサＣ_１〜Ｃ_３のうちのいずれか一つが電気的に検出プローブ１１と接続されるように切り替える。検出抵抗Ｒ_Ｓは一端部が切替えスイッチ１５と接続され、他端部がＧＮＤ（電圧測定装置１のＧＮＤ）と接続されている。切替えスイッチ１５と検出抵抗Ｒ_Ｓとの間は、検出電圧出力点１６となっている。

演算部１７は、検出電圧出力点１６から得られた電圧に基づいて、電線１２を流れる交流電圧の絶対値および位相を求める。

ここで、電圧測定装置１では、切替えスイッチ１５の切り替えにより、検出プローブ１１に対して、コンデンサ（インピーダンス設定手段）Ｃ_１および検出抵抗Ｒ_Ｓが直列接続された第１の状態、検出プローブ１１に対して、コンデンサ（インピーダンス設定手段）Ｃ_２および検出抵抗Ｒ_Ｓが直列接続された第２の状態、並びに検出プローブ１１に対して、コンデンサ（第２のインピーダンス要素）Ｃ_３および検出抵抗Ｒ_Ｓが直列接続された第３の状態が生じる。これら第１〜第３の状態のうち、第１の状態および第２の状態は、電線１２の電圧の絶対値を測定する電圧絶対値測定回路１８を構成する（図２の（ａ））。また、第３の状態は、電線１２の電圧の位相を測定する位相測定回路１９を構成する（図２の（ｂ））。

なお、切替えスイッチ１５は、上記第１の状態において、コンデンサＣ_１，Ｃ_２のいずれか一方が電気的に検出プローブ１１と接続されるように切り替え、上記第２の状態において、並列接続されたコンデンサＣ_１，Ｃ_２が電気的に検出プローブ１１と接続されるように切り替えるものであってもよい。

（電圧測定装置１の動作）
上記の構成において、電圧測定装置１の動作について以下に説明する。
図３は、図１に示した電圧測定装置１の等価回路を示す図である。図４は、電線１２の導体１３と検出プローブ１１との間に、結合容量Ｃ_Ｌおよび導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌが生じている状態を示す説明図である。

図１に示した電圧測定装置１を等価回路によって示すと図３のようになる。図３の回路では、電線１２の導体１３とコンデンサＣ_１〜Ｃ_３との間に、並列接続された状態の結合容量Ｃ_Ｌおよび導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌが存在する。

結合容量Ｃ_Ｌは、検出プローブ１１のサイズ（電極面積）に比例する。したがって、検出プローブ１１が小さいほど、結合容量Ｃ_Ｌの値は小さくなる。結合容量Ｃ_Ｌの値は、例えば、数ｐＦ〜数１０ｐＦである。

（電線１２の交流電圧の絶対値の測定）
まず、電線１２を流れる交流電圧の絶対値の測定手順について説明する。電線１２の交流電圧の絶対値を測定する場合、電圧測定装置１は、第１の状態と第２の状態に切り替えられる。

電圧測定装置１が第１の状態であるとき、電線１２の導体１３の電圧Ｖ_Ｌは、検出抵抗Ｒ_Ｓと、コンデンサＣ_１と、結合容量Ｃ_Ｌとの間で分圧される。一方、電圧測定装置１が第２の状態であるとき、電線１２の導体１３の電圧Ｖ_Ｌは、検出抵抗Ｒ_Ｓと、コンデンサＣ_２と、結合容量Ｃ_Ｌとの間で分圧される。

演算部１７は、検出電圧出力点１６の電圧（検出抵抗Ｒ_Ｓの両端の電圧）である出力値Ｖ_ｏｕｔに基づいて電圧Ｖ_Ｌを求める。この場合、演算部１７は、上述した式（１）および式（２）に従って電圧Ｖ_Ｌを絶対値を算出する。ただし、式（１）および式（２）において、検出用インピーダンスＺ_Ｓは検出抵抗Ｒ_１に置換される。

（電線１２の交流電圧の絶対値の測定感度を高めるための対策）
電線１２の交流電圧の絶対値を測定する場合において、測定感度は、結合容量Ｃ_Ｌを大きくすることにより高くなる。結合容量Ｃ_Ｌを大きくするには、例えば、検出プローブ１１の電極の面積を大きくすればよい。結合容量Ｃ_Ｌの大きさは、例えば１０ＰＦ以上としてもよい。

（補足）
結合容量Ｃ_Ｌの絶対値が大きいほど、電圧Ｖ_Ｌの誤差は小さくなる。ここでは、その根拠を理論的に説明する。

図３に示す電圧測定装置１において、電圧Ｖ_Ｌは以下の数式で表される。

ここで、電圧測定装置１が下記の状態（Ａ）であるときに検出抵抗Ｒ_Ｓに流れる電流をＩ_１、発生する電圧をＶ_ｏｕｔ１とし、電圧測定装置１が下記の状態（Ｂ）であるときに上記検出抵抗Ｒ_Ｓに流れる電流をＩ_２、発生する電圧をＶ_ｏｕｔ２とした。状態（Ａ）は、コンデンサＣ_１が、結合容量Ｃ_Ｌと検出抵抗Ｒ_Ｓとの間に直列接続された状態であり、状態（Ｂ）は、コンデンサＣ_２が、結合容量Ｃ_Ｌと検出抵抗Ｒ_Ｓとの間に直列接続された状態である。

式（７）を式（６）に代入すると、

ゆえに、

ゆえに、

従って、

図５に、電圧Ｖ_Ｌの絶対値の２回微分ｄ｜Ｖ_Ｌ｜^２／ｄＣ_Ｌと、結合容量Ｃ_Ｌとの関係をグラフに示す。同図に示すグラフから、結合容量Ｃ_Ｌの静電容量値が大きいほど、ｄ｜Ｖ_Ｌ｜^２／ｄＣ_Ｌの変動が小さいことが分かる。このことから、結合容量Ｃ_Ｌの静電容量が大きいほど、Ｖ_Ｌの計測値の変動および誤差が小さいことが、理論的に導かれる。

（電線１２の交流電圧の位相の測定）
次に、電線１２を流れる交流電圧の位相の測定手順について説明する。電線１２の交流電圧の位相を測定する場合、電圧測定装置１は、第３の状態に切り替えられる。

電圧測定装置１が第３の状態であるとき、電線１２の導体１３の電圧Ｖ_Ｌは、検出抵抗Ｒ_Ｓと、コンデンサＣ_３と、結合容量Ｃ_Ｌとの間で分圧される。

演算部１７は、検出電圧出力点１６の電圧（検出抵抗Ｒ_Ｓの両端の電圧）である出力値Ｖ_ｏｕｔに基づいて電線１２の交流電圧の位相を求める。この場合、演算部１７は、電線１２の交流電圧の例えばピーク、ボトムあるいはゼロクロス点等の時刻を測定する。

（導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌによる位相遅れへの対策）
結合容量Ｃ_Ｌと抵抗値が小さい検出抵抗Ｒ_Ｓとが存在することにより、測定した電線１２の交流電圧の位相は、本来、９０°進んだものとなる。したがって、測定した位相を９０°戻せば、電線１２の交流電圧の位相を求めることができる。

しかしながら、結合容量Ｃ_Ｌは、導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌが存在することにより純粋な容量として作用なくなる。このため、電線１２の交流電圧の位相は、９０°から少し遅れたもとなり、正確に測定できなくなる。

そこで、電圧測定装置１では、結合容量Ｃ_Ｌ、導体・プローブ間抵抗Ｒ_ＬおよびコンデンサＣ_３を含む位相測定回路１９を、純粋な容量成分と見なすことができるように、コンデンサＣ_３を微小容量としている。

例えば、コンデンサＣ_３を１ＰＦとし、結合容量Ｃ_Ｌが１０ＰＦ、導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌが１０ＧΩである場合、位相測定回路１９は、略１ＰＦのコンデンサに等価な回路（容量成分）と見なすことができる。すなわち、位相測定回路１９は、インピーダンスの高いコンデンサおよび抵抗値の小さい検出抵抗Ｒ_Ｓ（例えば１００ｋΩ）の回路となり、位相９０°を進んだ状態に固定することができる。

（位相遅れ防止効果の確認）
次に、コンデンサＣ_３を微小容量とすることによる、電線１２の交流電圧の位相遅れ防止効果について説明する。図６は、位相測定回路１９において、コンデンサＣ_３が１ＰＦ、１０ＰＦ、１００ＰＦの各場合における導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌと電線１２の交流電圧の位相遅れ量との関係を示すグラフである。

図６に示すように、電線１２の交流電圧の位相遅れは、コンデンサＣ_３を微小容量の１ＰＦとした場合に、コンデンサＣ_３の容量を１０ＰＦおよび１００ＰＦとした場合と比較して大幅に低減し、２°以下に低減することができた。特に、導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌが１０ＧΩの場合（電線１２の通常の被覆層１４によって生じる導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌ）には、ほぼ０とすることができた。

（電圧絶対値測定回路１８および位相測定回路１９を備える利点）
以上のように、電圧測定装置１では、一つの検出プローブ１１を共用した、電線１２の交流電圧の絶対値を測定する場合に使用する電圧絶対値測定回路１８と、電線１２の交流電圧の位相を測定する場合に使用する位相測定回路１９とを備え、これらを切り替えて使用できるようになっている。これにより、電線１２の交流電圧の絶対値の測定、および電線１２の交流電圧の位相をそれぞれ正確に行えるようになっている。

すなわち、仮に、電圧絶対値測定回路１８をそのまま電線１２の交流電圧の絶対値および位相の測定に共用した場合、位相の測定において、導体・プローブ間抵抗Ｒ_Ｌを無視できなくなり、正確に位相を測定することができない。

一方、電圧絶対値測定回路１８のコンデンサＣ_２を微小容量のもの（コンデンサＣ_３の容量値）に置き換えて、電圧絶対値測定回路１８を電線１２の交流電圧の絶対値および位相の測定に共用した場合、コンデンサＣ_２が微小容量であるため、切替えスイッチ１５にてコンデンサＣ_１，Ｃ_２を切り替えて得られた検出電圧出力点１６の電圧に基づいて電線１２の交流電圧の絶対値を測定することが困難となる。

また、一つの検出プローブ１１を電圧絶対値測定回路１８と位相測定回路１９とで共用することにより、コンパクトな構成とすることができる。

（変形例）
上記の実施の形態では、電圧絶対値測定回路１８がインピーダンスを設定するインピーダンス素子としてコンデンサＣ_１，Ｃ_２，Ｃ_３を備えたものとしている。しかしながら、インピーダンス素子は、コンデンサＣ_１，Ｃ_２，Ｃ_３に限定されることなく、インピーダンスを切り替えられるものであればよい。例えば、インピーダンス素子は、コンデンサＣ_１，Ｃ_２に代えて２つの抵抗あるいは二つのインダクタ（コイル）であってもよい。あるいは、インピーダンス素子は、コンデンサＣ_１，Ｃ_２に代えて一つの可変容量ダイオードあるいは一つの可変コンデンサであってもよい。図７には、インピーダンス素子として、コンデンサＣ_１，Ｃ_２に代えて可変コンデンサＣｖを備えた電圧絶対値測定回路１８の例を示す。

また、スイッチ１５は、例えばリレー、ＳＳＲ（ソリッドステートリレー）、ＦＥＴトランジスタあるいはアナログスイッチ等からなるスイッチであってもよい。また、コンデンサＣ_１，Ｃ_２，Ｃ_３およびスイッチ１５による容量切り替え回路については、これに代えて例えば可変容量回路や可変インピーダンス回路等であってもよい。

本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、実施の形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施の形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、実施の形態に開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。

本発明は、例えば、配電盤の配線の導体に接触することなく、導体を流れる交流の電圧を測定する装置として利用することができる。

１ 非接触電圧測定装置（電圧測定装置）
１１ 検出プローブ（プローブ）
１２ 電線
１３ 導体
１４ 被覆層
１５ 切替えスイッチ（切替え手段）
１６ 検出電圧出力点
１７ 演算部
１８ 電圧絶対値測定回路
１９ 位相測定回路
Ｒ_ｓ 検出抵抗（第１のインピーダンス要素）
Ｒ_Ｌ 導体・プローブ間抵抗
Ｃ_１ コンデンサ（インピーダンス設定手段）
Ｃ_２ コンデンサ（インピーダンス設定手段）
Ｃ_３ コンデンサ（第２のインピーダンス要素）
Ｃ_Ｌ 結合容量
Ｖ_Ｌ 電圧

Claims (5)

1. 電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を前記導体に非接触で測定する電圧測定装置であって、
   前記導体との間に結合容量が形成されるプローブと、
   前記プローブを含み、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する電圧絶対値測定回路と、
   同一の前記プローブを含み、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する位相測定回路とを備えていることを特徴とする電圧測定装置。
2. 前記電圧絶対値測定回路および前記位相測定回路は、前記電圧絶対値測定回路と前記位相測定回路とでインピーダンス値を切り替えることにより形成されることを特徴とする請求項１に記載の電圧測定装置。
3. 前記電圧絶対値測定回路は、インピーダンス値を変更可能であり、一端部が前記プローブと接続されるインピーダンス設定手段と、前記インピーダンス設定手段の他端部と接続される第１のインピーダンス要素とを備え、
   前記位相測定回路は、前記インピーダンス設定手段と並列に接続された第２のインピーダンス要素を備え、
   前記第１のインピーダンス要素に対して前記インピーダンス設定手段または前記第２のインピーダンス要素が電気的に接続されるように切り替える切替え手段が設けられていることを特徴とする請求項２に記載の電圧測定装置。
4. 前記第２のインピーダンス要素はコンデンサであることを特徴とする請求項３に記載の電圧測定装置。
5. 電線の導体を流れる交流の電圧の絶対値および位相を前記導体に非接触で測定する電圧測定方法であって、
   前記導体との間に結合容量が形成されるプローブを配置する工程と、
   前記プローブを含む電圧絶対値測定回路により、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の絶対値を測定するための電圧を取得する工程と、
   同一の前記プローブを含む位相測定回路により、前記プローブに誘起される電圧から、前記交流の電圧の位相を測定するための電圧を取得する工程とを備えていることを特徴とする電圧測定方法。

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