JP4340889B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4340889B2 JP4340889B2 JP2004207989A JP2004207989A JP4340889B2 JP 4340889 B2 JP4340889 B2 JP 4340889B2 JP 2004207989 A JP2004207989 A JP 2004207989A JP 2004207989 A JP2004207989 A JP 2004207989A JP 4340889 B2 JP4340889 B2 JP 4340889B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- inspection
- unit
- value
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/029—Software therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
まず、検査員が電源部2を手動操作して、通信用デバイス1へ所定の電力、複数の制御信号を出力させる。ここで、制御信号は通信用デバイス1の波形品位を決めるパラメータとみなせ、例えば、振幅を制御する電圧、クロスポイントを制御する電圧、オフセットを制御する電圧、波形の上限値や下限値をクリップさせるレベルを制御する電圧等である。
(1)個人差によるバラツキ。感覚や識別能力には、個人差によるバラツキがある。また、どの特性値、特徴量を重点的に調整するかといったバラツキもある。
(2)感情による影響。その日の気分、生活環境、健康状態、疲労等によって、五感が左右されることがあり、そのために検査の判定基準が、その都度変化してしまう。
(3)表現のばらつき。波形品位が”大変良い”と判断しても、どの点から”大変”の表現を使うかの境界も個人差がある。また、検査員によっては、針小棒大な表現をする人もいれば、その逆の人もいる。官能検査は、具体的に表現をすることが難しいだけに、表現には個人差が大きくでる。
(4)習熟度による変化。検査員は、一般的に作業に習熟してくると、無意識により高い波形品位となるように調整・検査を行なう。また、ユーザから苦情等があると、検査の基準が極端に厳しくなるなど、外部の変化により心理状態が左右されることもある。
被検査対象が出力する信号の波形品位によって、被検査対象を検査する検査装置において、
前記被検査対象の出力を制御する制御信号を複数出力する電源部と、
前記被検査対象が出力する信号を測定し、波形画像を作成する波形測定部と、
この波形測定部が測定した波形画像から波形品位を示す値を複数求める解析手段と、
この解析手段によって求められた値が目標値を満たすかを判断する判断手段と、
この判断手段の判断結果によって、前記電源部が出力する制御信号の設定値を変更する最適化手段と
を設け、
前記解析手段は波形品位を示すものとして、振幅、オフセット、クロスポイント、S/N、ジッタ、立上がり時間、立下がり時間、ロウレベルにおける最大幅と最小幅との比、ハイレベルにおける最大幅と最小幅の比、閉領域における面積のうち、所望の項目を求めることを特徴とするものである。
通信用デバイスとこの通信用デバイスの出力を制御する制御信号を複数出力する電源部とを備えた通信用測定装置が出力する信号の波形品位によって、通信用測定装置を検査する検査装置において、
前記通信用測定装置が出力する信号を測定し、波形画像を作成する波形測定部と、
この波形測定部が測定した波形画像から波形品位を示す値を複数求める解析手段と、
この解析手段によって求められた値が目標値を満たすかを判断する判断手段と、
この判断手段の判断結果によって、前記通信用測定装置の電源部が出力する制御信号の設定値を変更する最適化手段と
を設け、
前記解析手段は波形品位を示すものとして、振幅、オフセット、クロスポイント、S/N、ジッタ、立上がり時間、立下がり時間、ロウレベルにおける最大幅と最小幅との比、ハイレベルにおける最大幅と最小幅の比、閉領域における面積のうち、所望の項目を求めることを特徴とするものである。
前記解析手段によって求められた値、判断手段の判断結果、判断を行なった波形画像となる制御信号の設定値とを記憶する検査結果記憶部を設けたことを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、
波形画像は、アイパターンであることを特徴とするものである。
請求項1〜4によれば、最適化手段が、判断手段の判断結果によって、波形品位を示す値と目標値とから制御信号の設定値を再計算し、電源部に求めた設定値で制御信号を出力させる。そして、目標値を満たすまで繰り返し、調整・検査を行なう。これにより、官能検査を含む検査工程を自動化し、安定した結果をえるとともに、検査員の工数を削減することができる。
[第1の実施例]
図1は、本発明の第1の実施例を示す構成図である。ここで、図8と同一のものには同一符号を付し説明を省略する。図1において、オシロスコープ3は、波形測定装置であり、波形測定部31、演算手段32を有し、通信用デバイス1から信号から入力され、波形画像と特性値を出力する。波形測定部31は、通信用デバイス1が出力する信号を測定し、波形画像(例えば、アイパターン)を作成する。演算手段32は、アイパターンから波形品位を示す値を求める。波形品位を示すものとしては、例えば、振幅、オフセット、クロスポイント、S/N、ジッタ、立上がり時間、立下がり時間等である。
なお、演算手段32、抽出手段51で解析手段を構成している。
まず、最適化手段53が、通信用デバイス1に出力させる波形の設定値(例えば、振幅=5[V]、クロスポイント=50[%]、オフセット=0[V])および波形の設定値に対応する特性値、特徴量の目標値を、図示しない目標値記憶部から読み出す。目標値は、通信用デバイス1の仕様にあわせて設定するが、仕様と同程度の値にしてもよく、仕様よりも厳しくしてもよい。また、どの特性値、特徴量を重点的に調整・検査するかも予め考慮して目標値を設定するとよい(S10)。
図7は、本発明の第2の実施例を示す構成図である。ここで、図1と同一のものには同一符号を付し説明を省略する。図1においては、通信用のデジタル信号を出力する通信用デバイス1を検査する構成を示したが、波形画像および特性値を求める波形測定装置を検査してもよい。
まず、オシロスコープ3を用いて、図1に示す装置と同様に所望の波形の設定値に対する最適な制御信号の設定値を求める。そして、最適な制御信号の設定値およびこの設定値における特性値、特徴量を判断手段52および最適化手段53が、設定値記憶部55に格納する。
図1に示す装置において、通信用デバイス1を被検査対象として検査する構成を示したが、この通信用デバイス1と電源部2を含む通信用測定装置の検査に用いてもよい。すなわち、図1において、通信用デバイス1と電源部2が、通信用測定装置に設けられる。なお、通信用測定装置には、所望のアイパターンとなる制御信号の設定値を保存させる記憶部を設けるとよい。そして、通信用測定装置をユーザが使用する場合、ユーザの設定した波形の設定値に対応する制御信号の設定値を電源部が読み出し、読み出した制御信号の設定値に基づいて、電源部2が制御信号を出力する。
2 電源部
3、6オシロスコープ
31、61 波形測定部
32、62 演算手段
51 抽出手段
52 判断手段
53 最適化手段
54 検査結果記憶部
55 設定値記憶部
Claims (4)
- 被検査対象が出力する信号の波形品位によって、被検査対象を検査する検査装置において、
前記被検査対象の出力を制御する制御信号を複数出力する電源部と、
前記被検査対象が出力する信号を測定し、波形画像を作成する波形測定部と、
この波形測定部が測定した波形画像から波形品位を示す値を複数求める解析手段と、
この解析手段によって求められた値が目標値を満たすかを判断する判断手段と、
この判断手段の判断結果によって、前記電源部が出力する制御信号の設定値を変更する最適化手段と
を設け、
前記解析手段は波形品位を示すものとして、振幅、オフセット、クロスポイント、S/N、ジッタ、立上がり時間、立下がり時間、ロウレベルにおける最大幅と最小幅との比、ハイレベルにおける最大幅と最小幅の比、閉領域における面積のうち、所望の項目を求めることを特徴とする検査装置。 - 通信用デバイスとこの通信用デバイスの出力を制御する制御信号を複数出力する電源部とを備えた通信用測定装置が出力する信号の波形品位によって、通信用測定装置を検査する検査装置において、
前記通信用測定装置が出力する信号を測定し、波形画像を作成する波形測定部と、
この波形測定部が測定した波形画像から波形品位を示す値を複数求める解析手段と、
この解析手段によって求められた値が目標値を満たすかを判断する判断手段と、
この判断手段の判断結果によって、前記通信用測定装置の電源部が出力する制御信号の設定値を変更する最適化手段と
を設け、
前記解析手段は波形品位を示すものとして、振幅、オフセット、クロスポイント、S/N、ジッタ、立上がり時間、立下がり時間、ロウレベルにおける最大幅と最小幅との比、ハイレベルにおける最大幅と最小幅の比、閉領域における面積のうち、所望の項目を求めることを特徴とする検査装置。 - 前記解析手段によって求められた値、判断手段の判断結果、判断を行なった波形画像となる制御信号の設定値とを記憶する検査結果記憶部を設けたことを特徴とする請求項1または2記載の検査装置。
- 波形画像は、アイパターンであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004207989A JP4340889B2 (ja) | 2004-07-15 | 2004-07-15 | 検査装置 |
US11/180,905 US7243033B2 (en) | 2004-07-15 | 2005-07-14 | Inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004207989A JP4340889B2 (ja) | 2004-07-15 | 2004-07-15 | 検査装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009127174A Division JP4973690B2 (ja) | 2009-05-27 | 2009-05-27 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006029929A JP2006029929A (ja) | 2006-02-02 |
JP4340889B2 true JP4340889B2 (ja) | 2009-10-07 |
Family
ID=35733303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004207989A Expired - Fee Related JP4340889B2 (ja) | 2004-07-15 | 2004-07-15 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7243033B2 (ja) |
JP (1) | JP4340889B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4340889B2 (ja) * | 2004-07-15 | 2009-10-07 | 横河電機株式会社 | 検査装置 |
JP2007315828A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Yokogawa Electric Corp | テストシステム |
JP2012095120A (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-17 | Advantest Corp | 測定装置、測定方法およびプログラム |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5613015A (en) * | 1992-11-12 | 1997-03-18 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Image signal analyzing system and coding system |
US5864798A (en) * | 1995-09-18 | 1999-01-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and apparatus for adjusting a spectrum shape of a speech signal |
JP3818702B2 (ja) * | 1996-08-07 | 2006-09-06 | 松下電器産業株式会社 | Cdma無線伝送システム並びに該システムにおいて用いられる送信電力制御装置および送信電力制御用測定装置 |
JP2000295298A (ja) | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Advantest Corp | アイ開口率自動測定方法及びその装置 |
JP4159701B2 (ja) * | 1999-04-20 | 2008-10-01 | 富士フイルム株式会社 | デジタル放射線画像の評価方法および評価装置 |
JP2002082830A (ja) * | 2000-02-14 | 2002-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | インターフェイス回路 |
JP2002152163A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-24 | Fujitsu Ltd | 通信ノード及び通信ユニット |
WO2002087097A1 (fr) * | 2001-04-18 | 2002-10-31 | Fujitsu Limited | Dispositif de correction de distorsion |
JP4828730B2 (ja) * | 2001-07-05 | 2011-11-30 | 富士通株式会社 | 伝送装置 |
DE10146499B4 (de) * | 2001-09-21 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Verfahren zur Optimierung der Abbildungseigenschaften von mindestens zwei optischen Elementen sowie Verfahren zur Optimierung der Abbildungseigenschaften von mindestens drei optischen Elementen |
JP4606691B2 (ja) * | 2002-09-10 | 2011-01-05 | 三星電子株式会社 | 無線電話機及び無線通信方法 |
US7471738B2 (en) * | 2002-12-02 | 2008-12-30 | Research In Motion Limited | Method and apparatus for optimizing transmitter power efficiency |
US7209716B2 (en) * | 2003-02-27 | 2007-04-24 | Ntt Docomo, Inc. | Radio communication system, radio station, and radio communication method |
JP4142992B2 (ja) * | 2003-05-15 | 2008-09-03 | 株式会社フジクラ | GHz帯伝送の伝送線路構造およびGHz帯伝送に用いるコネクタ |
US7418040B2 (en) * | 2003-05-30 | 2008-08-26 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for determining a timing offset for processing a multi-carrier signal |
JP2005039687A (ja) * | 2003-07-18 | 2005-02-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形等化装置 |
US20060030272A1 (en) * | 2004-01-21 | 2006-02-09 | Hideyuki Nakamizo | Transceiver and receiver |
JP4340889B2 (ja) * | 2004-07-15 | 2009-10-07 | 横河電機株式会社 | 検査装置 |
-
2004
- 2004-07-15 JP JP2004207989A patent/JP4340889B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-07-14 US US11/180,905 patent/US7243033B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006029929A (ja) | 2006-02-02 |
US20060025708A1 (en) | 2006-02-02 |
US7243033B2 (en) | 2007-07-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9739827B1 (en) | Automated waveform analysis using a parallel automated development system | |
CN101587703B (zh) | 色彩分析仪测得的色温坐标值的调整方法及装置 | |
US20100076724A1 (en) | Method for capturing and analyzing test result data | |
FI126901B (en) | Procedure and system for testing an electronic device | |
US6711514B1 (en) | Method, apparatus and product for evaluating test data | |
CN107783069A (zh) | 集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准系统及方法 | |
CN108400098A (zh) | 验证晶圆测试相关性的方法 | |
DE102021116906A1 (de) | Test- und messsystem zur analyse von zu testenden vorrichtungen | |
US7301325B2 (en) | Method and apparatus for creating performance limits from parametric measurements | |
US20080228448A1 (en) | Waveform measuring apparatus and method thereof | |
TWI509260B (zh) | 低電壓差分信號測試的系統和方法 | |
US10353917B2 (en) | Method and apparatus for analyzing a transmission signal | |
JP2005292143A (ja) | シングルエンド信号をシリアル併合して分析する測定回路及びその方法 | |
JP4340889B2 (ja) | 検査装置 | |
KR101906702B1 (ko) | 원자로보호계통 전자기판 종합 성능 진단 장비 및 방법 | |
JP4973690B2 (ja) | 検査装置 | |
US20080278493A1 (en) | Metrology methods | |
JP6644577B2 (ja) | 試験システム | |
US11921155B2 (en) | Dice testing method | |
JP4188119B2 (ja) | 伝送波形解析装置 | |
US20050010308A1 (en) | Method for improving a manufacturing process | |
JP2007120991A (ja) | テストパターンの検出率算出方法、コンピュータプログラム及びテストパターンの検出率算出装置 | |
US11620264B2 (en) | Log file processing apparatus and method for processing log file data | |
DE102005058874A1 (de) | Zusammenstellung von Kalibrierungsinformationen für mehrere Testabläufe | |
CN113219363B (zh) | 一种电源噪声测试方法、装置及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061016 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090413 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090527 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090610 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090623 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |