JP4327395B2 - センサおよび微細加工された装置 - Google Patents

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Description

【0001】
〔関連出願に対する相互参照〕
この出願は、参照により本明細書に援用される、1999年8月31日に出願された仮出願第60/151,730号から優先権を請求するものである。
〔発明の背景〕
この発明は、概して容量センサとともに使用する、特に微細加工加速度計とともに使用する回路に関する。
【0002】
微細加工加速度計は、エアバッグを起動させるための、自動車事故によって生じる加速の感知、またはガスの配管を自動的に遮断して火事を防ぐための、地震による加速の感知を含む、様々な用途について加速度を感知するために使用することができる。1つのタイプの微細加工プロセスは、表面微細加工と呼ばれ、このプロセスによって、センサ構造が、溶着およびエッチング等の半導体処理技術を用いて、基板上に層で形成される。米国特許第5,326,726号は、このようなプロセスを記載しており、全ての目的のためにその全体を参照により本明細書に援用する。
【0003】
本発明の譲渡人によって目下作成された1つのタイプの微細加工された装置では、ポリシリコン質量体が、テザーを支持することによって基板上に吊される。基板に対して略平行な質量体は、軸に沿って延長するビームと、ビームの軸に対して垂直な方向にビームから離れて延出する多数のフィンガとを有する。ビームおよびフィンガは、軸に沿って基板に対して横方向に移動可能である。このような可動フィンガはそれぞれ質量体の平面にあり、基板に対して固定された2つのポリシリコンフィンガの間に配置される。可動フィンガの両側にある可動フィンガおよび固定フィンガはそれぞれ、差動コンデンサセルを形成する。セルは付加的に差動コンデンサを形成する。このタイプの構造は、たとえば、全ての目的のためにその全体を参照により本明細書に援用される米国特許第5,345,824号に示されている。
【0004】
異なる手法を用いて、このような差動コンデンサで加速度を感知することができる。1つの手法は、米国特許第5,345,824号に記載されるように、力フィードバックを用いるというものである。可動フィンガ(すなわち、質量体とともに移動可能)はそれぞれ、2つの固定フィンガの間でセンタリングされる。可動フィンガの片側上の固定フィンガはすべて、ともに電気的に接続され、可動フィンガの反対側上の固定フィンガもまたすべて、ともに電気的に接続される。2つの固定フィンガセットは、異なるDC電位にあり、互いに180度位相がずれたAC搬送波信号を使用して駆動される。
【0005】
受感軸に沿った外力/加速に応答して、可動フィンガを有する質量体は、一方または他方の固定フィンガセットに向かって移動する。ビーム上の信号は、増幅され、復調され、出力端子に提供される。フィードバック回路網は、出力端子とビームとを接続する。フィードバックは、可動フィンガを2つの固定フィンガセットの間で再びセンタリングされる。出力端子における信号は、ビームを再び中心に配置するために必要な力の測定であり、したがって加速度に比例する。
【0006】
この閉ループ力フィードバック回路に対する1つの代替は、開ループ回路である。従来技術である図1に示すように、センサセル10は、可動電極12を第1の電極14と第2の電極16の間に備える。また、全ての目的のために全体を参照により本明細書に特に援用する、米国特許第5,659,262号にも示されるように、電極14および16は、各ドライバ18および20によって駆動される。各ドライバは、2つの電圧、たとえば0ボルトと5ボルトの間で交番する100kHzの方形波を提供する。ドライバからの信号は180度位相がずれているため、一方のフィンガセットが0ボルトである間、他方は5ボルトである。
【0007】
加速度に応答して、ビームが、電極セット14、16の一方に向かって移動し、AC出力信号をビームに出現させる。この信号は、電極12が移動する方向に向かって電極14、16のいずれかのドライバ信号と位相が合い、またミリボルト程度の振幅を有する方形波信号である。振幅は、小さい変位の場合には加速度に比例して概算される。増幅器22および復調器26に提供されるビーム信号は、出力端子28においてV/gに関して出力信号を生成し、それによって加速度を示す。
【0008】
この開ループ設計では、加速度が出力信号の大きさから決定されるため、信号を出力端子(たとえば、増幅器および復調器)に提供する信号処理回路が、精密であることが重要である。たとえば、増幅器は、精密な利得を有するべきであり、回路は、温度ドリフトおよび出力に影響する可能性がある他の要因に敏感であるべきではない。
【0009】
上記力フィードバック設計は、精密な回路の必要性を低減するとともに、寄生容量性作用(parasitic capacitive effect)に起因しうる問題を実質的に軽減する。しかし、力フィードバックは他の欠点を有する。力フィードバックは、レシオメトリック動作を有さず、通常、DCバイアスをセンサに与えなければならず、荷電誘導オフセットおよび他の望ましくない作用を生じさせる。機械的伝達関数がループ内にあるため、ループの安定性が問題になりうる。
【0010】
開ループ設計もまた同様に欠点を有する。通常、スケールファクタは、可動電極およびこれに接続された回路の寄生容量に依存する。このキャパシタンスは、電圧および温度に伴って変化する接合容量を含み、スケールファクタの変動につながる。所望のレシオメトリック振る舞いは、スケールファクタの温度係数のように、影響を受ける。第1および第3の電極上の駆動信号もまた、第2の電極の位置に伴って変化する静電力を生じさせ、センサの機械的な応答を有効に変化させる。このような静電力は供給電圧とともに変化するため、出力は、厳密にはレシオメトリックではない。
〔発明の概要〕
本発明は、あまり力をセンサに加えることなく、加速力の下でセンサの出力信号を電気的に再平衡させるフィードバック方法を使用する閉ループ電気機械的システムである。本システムは、別のコンポーネントに対して移動可能である可動コンポーネントを備える。このフィードバックは、可動コンポーネント上の力をあまり変更しないように、可動コンポーネント上の出力を電気的にゼロにするように、センサのいくつかのコンポーネントに与えられるクロック信号の平衡を失わせるによって達成される。このフィードバックは、力フィードバックを使用することなく、閉ループ動作の利点を提供し、スケールファクタに対する静電力の作用を最小にする。
【0011】
本発明は、フィードバックおよび駆動回路、フィードバックおよび駆動回路を有するセンサ、および差動コンデンサタイプの微細加工センサを使用しての感知を実行する方法を含む。センサは、基板上に吊り下げられ、上記センサと同様にして基板に対して可動である可動質量体を備える。
【0012】
一態様では、本発明は、第1、第2、および第3の電極を備え、第2の電極は、第1の電極と第3の電極に対して可動であり、差動コンデンサを形成する、センサと、駆動信号を第1および第3の電極に提供する第1および第2のドライバと、第2の電極と出力端子の間に接続される信号処理回路と、出力端子と少なくとも第1のドライバとの間に接続され、第1の電極に対する駆動信号振幅を制御するフィードバック回路と、を備える。第1および第2のドライバからの駆動信号は、一方の駆動信号が他方の駆動信号と180度位相ずれしている方形波であることが好ましい。第2の電極から出力端子への回路は、増幅器および復調器を含むことが好ましい。
【0013】
フィードバックは、第2の電極上の信号がゼロになるように、一方(または好ましくは両方)のドライバの振幅を調整する。フィードバックは、好ましくは第2の電極上にAC力が実質的になく、かつ第2の電極上の静電力が変化しないように、一方または双方の駆動信号の振幅を調整させる。第2の電極信号をゼロにするドライバの調整は、第2の電極の動きに対する正確な関係を有し、出力信号は、調整量から精密に決定される。ゼロ化により、スケールファクタに対する静電力の作用は、大幅に最小化される。
【0014】
電極は、基板上に吊り下げられ、可動ビームおよびフィンガの列(全部で第2の電極を構成する)を備える可動質量体を有する表面微細加工した加速度計の一部であることが好ましい。第1および第3の電極は、基板に対して固定されるフィンガであり、可動ビームから延出するフィンガの両側にある。固定電極は、位相が逆の高周波搬送波信号を用いて駆動される。加速度計は、1つの軸に沿って可動である単一の質量体、2つ以上の質量体、または複数の軸に沿って可動である1つまたは複数の質量体を有しうる。
【0015】
本発明はまた、第1の電極、第2の電極、および第3の電極を有し、第2の電極が、第1と第3の電極の間にあり、第1および第3の電極に対して可動であり、差動コンデンサを形成する、容量センサと、駆動信号を第1および第3の電極に提供するドライバとを使用して、加速度を感知する方法も含む。本方法は、第2の電極上の信号を処理すること、および一方または好ましくは両方のドライバにフィードバックを提供して、好ましくは、第2の電極上にAC力を発生させることなくまたは静電力を変化させることなく、第2の電極上のAC信号をゼロにすることを含む。
【0016】
本発明はまた、基板、該基板上に吊り下げられた第1、第2、および第3の電極とを有し、第2の電極が、第1および第3の電極に対して可動である、微細加工センサも含む。好ましくはセンサと同じ基板に集積された回路は、信号を第1および第3の電極に提供するドライバと、第2の電極上の信号を処理するとともに、第2の電極から出力端子に信号を提供する回路と、出力端子とドライバの間にあり、ドライバからの信号を制御するフィードバック回路と、を含む。ドライバは、第1および第3の電極に周期信号、好ましくは互いに180度位相がずれた方形波を提供する。フィードバック信号は、ドライバを制御して、好ましくは第2の電極上にAC力を発生させることなくまたは静電力を変化させることなく、第2の電極上の信号をゼロにするように、少なくとも1つの周期信号の振幅を変更させる。
【0017】
本発明の回路は、多数の異なる形態をとることができる。たとえば、回路は、可動ビームから信号を受信するための1つまたは複数のオペアンプを備えることができる。さらに、1つまたは2つのトランジスタの差動対を有する実施形態、およびオペアンプまたはトランジスタを有する実施形態がある。別の実施形態は、ドライバ回路を有する増幅および復調回路を備える。これらの差動回路は、精度、感度、感度変更能力、スペース、およびコンポーネントの数等、異なる利点および欠点を有する。回路の実施形態は、共通して、別の電極からの入力信号に応答して、電極に提供される少なくとも1つの周期信号の振幅を調整する能力を有する。
【0018】
本発明のセンサおよび回路は、多数の利点を有する。システムは、閉フィードバック回路網の利点を有し、機械的力に関わらず、レシオメトリック(電源電圧に比例して変化するgに対するボルトのスケールファクタ)にすることができ、ビーム上の駆動信号に対するDCバイアスの必要性をなくす。フィードバックは、少なくとも1つのドライバに提供され、好ましくは各ドライバに提供されて、信号が、感知された加速度に応答してAC成分を持たないように、可動ビーム上の信号をゼロにする。このようなAC成分が実質的にない場合、可動電極上の寄生容量が、その結果生じる出力信号に対して最小の影響を有する。このシステムを使用すると、増幅器が精密な利得を有する必要がなく、回路の利得が温度に敏感ではない必要がないという点において、他の設計と比較して、処理回路において要求される精密性がより低い。したがって、処理回路は、たとえば開ループ設計において使用される処理回路に対して単純化することができる。他の特徴および利点は、以下の詳細な説明、図面、および特許請求の範囲から明らかになるであろう。
〔詳細な説明〕
本発明は、回路、回路を備えたセンサ、および感知方法に関する。本発明を表面微細加工した加速度計とともに使用する場合について以下に説明するが、本発明は他の容量センサとともに使用することもできる。
【0019】
図2を参照すると、本発明によるシステムでは、センサ40は、第1の電極44と第2の電極46の間にあり、差動コンデンサを形成する可動電極42を備える。第1および第2の電極44、46は、互いに対して固定されるが、電極42は、外力に応答して電極44、46の間を移動する。可動電極42は、高利得AC増幅器50および復調器54に接続され、その出力は出力端子56に提供される。ドライバ60および62はそれぞれ、高周波(たとえば、100KHz)搬送波、好ましくは方形波を提供する。搬送波信号の振幅は等しいまたは同様であり、180度位相がずれている。出力端子56がドライバ60に接続され、好ましくは、破線63で示すようにドライバ62にも接続される。フィードバックが一方のドライバにのみ提供される場合、他方のドライバは、電極42と電極44および46との間の静電力を平衡させるとともに、オフセットをゼロ化するためのトリミング可能なドライバであり、援用された米国特許第5,659,262号に記載のものと同様である。
【0020】
図3は、本発明の第1の実施形態による第1および第2の固定電極88および94に信号を提供するドライバ60および62(ともに組合せられて示される)のより詳細な図を示す。フィードバック電圧Vfは、オペアンプ70および72の非反転入力に提供される。オペアンプ70および72の出力は、N型トランジスタ74およびP型トランジスタ76それぞれのゲートに接続される。トランジスタ74は、抵抗器R1を通して供給電圧VDDに接続されたドレイン端子を有する。トランジスタ74のソース端子80は、抵抗器R2およびR3を通してオペアンプ70の反転端子および接地に接続される。トランジスタ74のドレインおよび抵抗器R2とR3の間のノード84はそれぞれ、クロックスイッチ86に接続され、クロックスイッチ86の出力は第1の固定電極88に接続される。
【0021】
トランジスタ76は、抵抗器R4およびR5を通して供給電圧VDDに接続されるとともに、オペアンプ72の反転端子に接続されたソース端子78を有する。トランジスタ76のドレインは、抵抗器R6を通して接地に接続される。トランジスタ76のドレイン、および抵抗器R4とR5の間のノード92はそれぞれ、クロックスイッチ90に接続され、クロックスイッチ90の出力は、第2の固定電極94に接続される。
【0022】
この回路は2つのオペアンプを備えるが、この設計のオペアンプは抵抗型負荷を駆動する必要がないため、オペアンプの設計はむしろ単純である。
図3における回路の動作について、図3Aにおける波形も参照して説明する。可動電極98に対する外部加速がない場合、フィードバックされる信号VfはVDD/2に等しい。電圧Vfはトランジスタ74のソースにも現れるが、これは、抵抗器R3の電圧が(Vf)(R3)/(R2+R3)であることを意味する。R3=R1であるため、抵抗器R3およびR1の電圧降下は同じである。抵抗器R2は、抵抗器R3の値よりもはるかに高い値を有するため、抵抗器R1およびR3の電圧は、Vfと比較して低い。抵抗器R1およびR3の電圧降下がxである場合、クロックスイッチ86は、xとVDD-Xの間で振幅が交互になる方形波を生成する。電圧をクロックスイッチ90に提供する回路は、この場合、Vfが接地を参照するのではなく供給電圧VDDを参照することを除き、クロックスイッチ86の場合の回路と同様である。図3に示すように、抵抗器の値の例は、R1=R3=R4=R6=1キロオーム、およびR2=R5=40キロオームである。VDDが5ボルトに等しく、したがって加速がないVf=2.5ボルトと仮定すると、抵抗器R1およびR3の電圧xは約60ミリボルトであるため、クロックト信号が0.06ボルトと4.94ボルトの間で交互になる。また図3Aを参照すると、Vfが電極98の移動に応答して増減するにつれ、一方の方形波がより大きい最大およびより小さい最小を有することになり、他方の方形波がより小さい最大およびより大きい最小を有する。各電極については、各電極がまだVDD/2にセンタリングされている。
【0023】
正のVfは、可動電極98が固定電極88に近付いて移動し、したがって、電極98上の差動電圧出力がなく、可動電極と各固定電極の間の静電力の等しさを維持するために、固定電極94上により高い駆動信号が必要であることを意味する。微細加工センサでは、出力の全範囲は、10〜20ミリボルト程度でありうるため、接地より60ミリボルト大きく、かつVDDよりも60ミリボルト小さいことにより、出力に対して十分な余地を提供する。
【0024】
図4は、1つのみのオペアンプを必要とし、制御トランジスタを必要としないドライバ回路の第2の実施形態を示す。この場合におけるオペアンプは、図3の回路において使用されるオペアンプよりも比較的難しい。これは、図4の回路におけるオペアンプは抵抗型負荷を駆動する必要があるためである。
【0025】
電圧Vfは、抵抗器R7を通してオペアンプ140の反転端子に提供される。オペアンプ140の非反転入力は、VDD/2の電源に接続される。オペアンプ140の出力は、抵抗器R8を通して反転端子にフィードバックされる。電圧Vfは、抵抗器R9およびR10を通して供給電圧VDDに接続され、また抵抗器R11およびR12を通して接地に接続される。抵抗器R9とR10の間にはノード142があり、抵抗器R11とR12の間にはノード144がある。
【0026】
オペアンプ140の出力は、ノード150に接続され、このノード150は抵抗器R13およびR14を通して供給電圧VDDに接続され、また抵抗器R15およびR16を通して接地に接続される。抵抗器R13とR14の間にはノード152があり、抵抗器R15とR16の間にはノード154がある。
【0027】
センサ部分は、互いに対して固定された電極164と166の間に可動電極168を有する。電極164を通しての駆動信号は、ノード144からの入力とノード152からの入力の間で交互になるクロックスイッチ160を通して提供される。電極166は、ノード142からの信号とノード154からの信号の間で交互になるクロックスイッチ162を通して駆動信号を受信する。したがって、結果得られる駆動信号は、振幅が等しいまたは同様であり、180度位相がずれた方形波である。
【0028】
図4における回路の波形は、図3Aの波形と実質的に同じである。たとえば、図4の場合、クロックスイッチ162は、(a)VDDから、抵抗器R10の電圧降下を差し引いたものと、(b)抵抗器R16の電圧降下と、の間で交互になるが、クロックスイッチ160は、(c)VDDから抵抗器R14の電圧降下を差し引いたものと、(d)抵抗器R12の電圧降下との間で交互になる。同様に、方形波は、0.06ボルトと4.94ボルトの間で交互になる。
【0029】
図3および図4の実施形態双方において、フィードバック信号は、約VDD/2にセンタリングされた方形波を使用して双方のドライバに提供され、相補的にドライバの振幅を変更させる。すなわち、一方のドライバの振幅は、他方の振幅が低減する量と同じだけ増大する。このような実施形態では、AC静電力はごくわずかであり、ビーム位置に伴う静電力の変化もごくわずかである。この特性により、高周波力(high frequency force)の可能性が低減し、出力応答がよりレシオメトリックになる。
【0030】
図5の実施形態では、オペアンプも制御トランジスタも必要ないが、この場合、ドライブの半分のみが調整される。回路の複雑性はより低いが、図3および図4の実施形態とは異なり、ビームが加速に応答して移動するため、駆動信号は、VDD/2を中心にして対称のままではない。したがって、低減されるがなくなりはしない、いくらかのAC静電力および電気ばね作用がある。電圧Vfは、抵抗器R17およびR18を通して供給電圧VDDに、また抵抗器R19およびR20を通して接地に接続される。ノード170が抵抗器R17とR18の間にあり、ノード172が抵抗器R19とR20の間にある。供給電圧VDDもまた、抵抗器R21、R22、およびR23を通して接地に接続され、ノード174が抵抗器R21とR22の間にあり、ノード176が抵抗器R22とR23の間にある。
【0031】
センサは、固定電極178および180と、該電極178と180の間にある可動電極182とを有し、差動コンデンサを形成する。電極178は、ノード170から受信する信号とノード176から受信する信号の間で交互になるクロックスイッチ184を通して駆動信号を受信する。電極180は、ノード172および174上の信号の間で交互になるクロックスイッチ186に接続される。
【0032】
図5Aに示すように、この実施形態では、駆動信号が、電荷に応答してVDD/2にセンタリングされない。1つの駆動信号は、量yだけ増大するため、ハイサイクル中の公称量よりもわずかに上であり、他方の波形は、駆動信号の値が低い間、フィードバックに応答して量yだけ低減する。このような変化の作用は、破線で示される。示すように、振幅yを有する周期信号がある。但し、y<<VDDである。
【0033】
図3、図4、および図5によって示されるように、多数の異なる実施形態を使用することができるが、これら異なる実施形態では、共通して、固定電極に対する駆動電圧がフィードバックを通して制御される。図3および図4の実施形態はさらに、共通して、各固定電極と可動電極の間の静電力の差がなくなるため、電気ばね作用がなくなる。この静電力の除去は、図6を参照して示される。可動電極180は、固定電極182および184から公称で距離dで離間され、各電極182および184と電極180の間には公称電圧Vがある。外部から加えられる加速は、可動ビームを固定ビーム182に向けて距離x移動させる。本発明によるフィードバックを用いると、ドライバにフィードバックされる信号が、量zだけ双方のクロック駆動信号の振幅を変更し、一方をzだけ増大させ、他方をzだけ低減させる。力はおおよそV2/d2に比例し、静電力を等化するため、(V−z)2/(d−x)2=(V+z)2/(d+x)2である。クロック駆動信号の電圧を調整することにより、可動ビーム180上のAC信号をゼロ化するおおよそ同じ振幅において、力を等化することができる。したがって、力フィードバックを用いて電極を再びセンタリングする機械的な手法とは対照的に、力は最小化され、実質的に電気的に低減(たとえば、少なくとも10分の1)される。
【0034】
図7は、どのように本発明の回路を表面微細加工した加速度計とともに使用するかを示す。図7は、ここでは例示のために示される、既知のタイプの微細加工した加速度計のセンサ部分のかなり簡略化された上面図である(より詳細な図は、援用した特許に示される)が、差動コンデンサを有する他の構造を使用してもよい。センサ構造100は、基板に対して垂直に延出するアンカー106に接続されたテザー104を使用して、基板102上に吊り下げられる。センサ構造100は、x軸と沿って移動可能な中央ビーム108と、x軸に垂直な方向に沿って延出する可動フィンガ110(ビーム108とともに移動し、基板に対して移動可能である)とを有する。フィンガ110はそれぞれ、2つの固定フィンガ112と114の間にあり、差動コンデンサを形成する。上記ドライバおよび読み出し回路を形成する回路もまた、基板上に集積され、まとめて回路116として表される。x軸に沿った加速に応答して、回路116が、フィンガ112および114に提供される信号を制御し、好ましくはビーム上の信号がAC成分を持たない。
【0035】
図8〜図10は、ドライバ回路のさらなる実施形態の概略図である。図8における回路200は、フィードバックが一方の駆動信号を変化させるという点において、図5に示される回路と同様である。回路200では、可動電極からの入力信号はオペアンプ202に提供され、オペアンプ202の出力はFET204に提供される。抵抗器R24=R25=R26=R27であり、これら抵抗器は、抵抗器R28およびR29よりも低い抵抗を有する。この実施形態では、抵抗器R28はバイアス、オフセット、およびスケールを設定する。信号A、B、C、およびDは、図5におけるスイッチ184および186に提供される4つの信号に対応する。結果得られる波形は、図5Aに示される波形と同様である。
【0036】
図9および図10は、2つの差動増幅器または1つの差動増幅器それぞれを有する回路の実施形態を示す。図9の回路は本質的に2つの差動増幅器212、214を有し、これら差動増幅器はそれぞれ差動トランジスタ対を有し、一方のトランジスタは入力信号を受信し、他方はそのベースにおいて固定電圧VDD/2を受信する。抵抗器R30、R31、R32、およびR33はすべて等しく、抵抗器R34およびR35と比較して比較的小さい。抵抗器R34およびR35は、回路の感度を設定するために使用される。この回路の利点は、回路の他のコンポーネントを変更することなく、感度を変更することができることである。
【0037】
図10は、本質的に2つの電流ミラーを使用して、抵抗器R38およびR40を通して、またR40およびR41を通して電流を提供する単一の差動対を有することを除き、図9に示す回路と同様の回路220を有する。この回路もまた、抵抗器R42を使用して感度を調整することができる。この実施形態は、オペアンプの使用も回避しており、コンパクトであり、回路の残りの部分を変更することなく、感度を調整することができる。
【0038】
図3〜図5および図8〜図10とともに上述した実施形態はそれぞれ、4つの信号を有し、2つの信号が第1の電極に接続された第1のスイッチに提供され、他の2つの信号は、第2の電極に接続された第2のスイッチに接続される。図11に示すように、回路は、一対の差動コンデンサ構造とともに使用することが可能である。信号A、B、C、およびDは、差動コンデンサ構造を駆動する方形波駆動信号のレベルを設定する。この構成は、対から差動出力を提供する。図11は、第1の差動コンデンサ242および第2の差動コンデンサ244を有する回路240を示す。これらコンデンサは、可動電極246および248と、固定電極250、252、254、および256を有する。スイッチ260、262、264、および266はそれぞれ、固定電極250、252、254、および256に接続される。
【0039】
図12を参照すると、本発明の別の実施形態では、増幅器、復調器、およびドライバが、増幅器段302、復調器段304、およびドライバ段306を有する単一回路300に効率的に組合せられている。増幅器段302は、差動トランジスタ対310、電流ミラー312、およびカスコードトランジスタ314を有する。カスコードトランジスタ314のドレインは、ノード316において復調器段304に対する高インピーダンス入力である。ノード316における信号はスイッチ318および320に提供され、スイッチ318および320は、その信号を交互に積分器322および324に提供される。これら積分器は、復調を行うとともにループ帯域幅を制御する各コンデンサC2およびC1を備える。復調器322および324中のトランジスタのソースは、互いに接続されるとともに、トランジスタ336のゲートに接続される。トランジスタ336のドレインは、カスコードトランジスタ314のソースに接続される。トランジスタ336は、トランジスタ314のソースから電流を引き込み、トランジスタ320および322におけるDC電圧を固定バイアスに設定するフィードバックを提供する。
【0040】
ノード326および328における復調信号は、ドライバ段306におけるMOSトランジスタ330および332の各ゲートに提供される。結果得られる出力信号V01およびV02は、トランジスタ330および332のソースに提供される。これらソースはまた、抵抗器R46およびR47を通して、また抵抗器R49およびR50を通してそれぞれ供給電圧Vddに接続される。トランジスタ330および332のドレインは、各抵抗器R48およびR51を通して基板に接続される。抵抗器R47およびR50は、好ましくは、抵抗器R46、R48、R49、およびR51よりもかなり大きく、抵抗器R46、R48、R49、およびR51は、好ましくは互いに等しい。たとえば、抵抗器R47およびR46の抵抗は、約14:1の比を有する。結果得られる信号A、B、C、およびDは、上述したようにクロックスイッチに提供される。
【0041】
動作は本質的に、上記他の実施形態と同様である。ビーム上のAC信号は、差動増幅器段によって増幅され、復調されて、出力として提供され、ドライバ段における抵抗器の比によって縮小される信号を得る。
【0042】
図12の回路は、1つの軸に沿って移動する単一可動ビーム、1つの軸における複数のビーム、または複数の軸に沿って移動するビームとともに使用することが可能である。1つの軸に沿って移動するビームを使用する単一ビーム実施形態では、回路300に対する入力の一方は、VSD/2に接続される一方、他方の入力はビームに接続される。2ビーム実施形態では、各ビームが回路300に対する入力の1つに接続される。
【0043】
2つの軸に沿って移動する単一ビームについての実施形態は、図13に簡略化した形態で示される。ビーム350は、X軸およびY軸に沿っての移動を感知する感知フィンガを各側に有する。ビーム350からの信号は、増幅器段352に提供されてから、図12の実施形態における段304と等価の2つの実質的に同一の復調器段354および356に提供される。次に、2つの軸上の信号を分離するために直角位相の復調された出力が、ドライバ段358および360それぞれに提供され、ドライバ段358および360はそれぞれ、図12の実施形態におけるドライバ段306と実質的に同様である。したがって、図12の回路は、異なるタイプの加速度計に対する柔軟性を提供する。
【0044】
図14は、本発明の別の実施形態の概略図である。この実施形態は、増幅器段402、復調器段404、およびドライバ段406を有する単一回路400があることから、図12の実施形態と多くの点において同様である。増幅器段402は、差動トランジスタ対408、電流ミラー412、およびカスコードトランジスタ410を含む。動作は、図12とともに上述した動作と本質的に同様である。
【0045】
図12および図14の回路は、その他の実施形態のうちのいくつかを超える特定の利点を有する。フィードバックループにおけるすべての回路は本質的に、単一ポールを有するオペアンプとほとんど同様である1つの統一回路に組合せられる。設計は、低電力であり、低電圧を含む広い供給範囲で作動するとともに、広い帯域幅を有する。この実施形態における増幅器段および復調器段は、スケーリングファクタを正確にすることができる限り、特に精密である必要はない。回路は単一ポールのみを有するため、補償が容易である。このフィードバック手法は、ループから二次機械的伝達関数をなくすため、あらゆるビーム共鳴周波数すなわちQに関してループを安定化させる。
【0046】
本発明の実施形態を説明したが、併記の特許請求の範囲によって定義される本発明の範囲から逸脱せずに、変更を行うことができることは明らかなはずである。たとえば、加速度計の構造は、例示的なものである、他の電極構造も使用しうる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来技術による開ループ回路を示す概略ブロック図である。
【図2】 本発明による回路を使用するセンサの概略ブロック図である。
【図3】 図3は、図2のドライバ回路の実施形態の概略図であり、図3Aは、図3および図4の回路の電極上の波形のグラフを示す。
【図4】 図2のドライバ回路の実施形態の概略図である。
【図5】 図5は、図2のドライバ回路の実施形態の概略図であり、図5Aは、図5の回路の電極上の波形のグラフを示す。
【図6】 ビームの寸法およびビーム上の力を示す図(pictorial view)である。
【図7】 本発明による微細加工センサの上面図である。
【図8】 図2のドライバ回路の実施形態の概略図である。
【図9】 図2のドライバ回路の実施形態の概略図である。
【図10】 図2のドライバ回路の実施形態の概略図である。
【図11】 図11および図11Aは、2つの差動コンデンサを有する本発明のシステムの使用を概略的に示す。
【図12】 増幅器、復調器、およびドライバ回路が組み合わされた本発明の実施形態の概略図である。
【図13】 2軸センサと併用される図12の回路の部分ブロック図である。
【図14】 増幅器、復調器、およびドライバ回路が組み合わされた本発明の実施形態の概略図である。

Claims (11)

  1. 第1の電極と、
    第1の周期信号を前記第1の電極に提供する第1のドライバと、
    第2の電極と、
    第2の周期信号を前記第2の電極に提供する第2のドライバであって、前記第1および第2の周期信号は、互いに180度位相がずれている、該第2のドライバと、
    前記第1の電極と前記第2の電極の間にあり、該第1および第2の電極に対して移動可能である第3の電極であって、前記第1、第2、および第3の電極は、差動コンデンサを形成する、該第3の電極と、
    該第3の電極に接続される増幅器を有し、前記第3の電極の移動に応答して、前記第1および第2の周期信号の振幅を変更するために、前記第1および第2のドライバにフィードバックされる出力信号を提供する信号処理回路であって、前記第1の周期信号の振幅の変化により、前記第3の電極が周期成分を実質的に持たなくなるように前記第3の電極上の信号変化させ、前記第3の電極と前記第1の電極との間の静電力と、前記第3の電極と前記第2の電極との間の静電力とを実質的に等しくして、前記第3の電極を機械的に再びセンタリングすることなく前記静電力を低減させる、該信号処理回路と、
    を備える、センサ。
  2. 前記第1、第2、および第3の電極は、前記第1および第2の電極が基板に対して固定され、前記第3の電極が、前記基板上に吊り下げられ、前記基板に対して横方向に移動可能であるように、基板上に表面微細加工された電極である、請求項1記載のセンサ。
  3. 前記第1および第2のドライバは、互いに180度位相がずれた方形波信号を前記第1および第2の電極それぞれに提供する、請求項1記載のセンサ。
  4. 前記第1の電極に向けての前記第3の電極の移動に応答して、前記第1の周期信号の振幅は電圧Vだけ増大され、前記第2の周期信号の振幅は該電圧Vだけ低減される、請求項1記載のセンサ。
  5. 前記第1および第2のドライバは、方形波信号を前記第1および第2の電極に提供する、請求項1記載のセンサ。
  6. 前記第1のドライバは、第1のドライバから方形波の平均値がVs/2になるように、0でない電圧vとVs−vの間の該方形波を提供し、Vsは供給電圧である、請求項5記載のセンサ。
  7. 前記vが前記Vsよりも非常に小さい、請求項6記載のセンサ。
  8. 基板と、
    前記基板上に吊り下げられ、前記基板に対して横方向に移動可能な質量体であって、該質量体は該質量体とともに横方向に移動可能な複数の延出した可動電極を含む、該質量体と、
    前記基板上に吊り下げられ、前記基板に対して移動不可能な第1の固定電極と、
    前記基板上に吊り下げられ、前記基板に対して移動不可能な第2の固定電極であって、前記可動電極、前記第1の固定電極および第2の固定電極が差動コンデンサを形成する、該第2の固定電極と、
    前記可動電極に接続され、増幅された交流信号を提供する増幅器と、
    前記増幅器に接続され、前記増幅された交流信号を受信し、復調された信号を提供する復調器と、
    前記復調された信号を受信し、第1および第2のフィードバック電圧を提供するスケーリング段であって、前記フィードバック電圧は、スケーリング段における抵抗器の比によって出力電圧に関連する、該スケーリング段と、
    前記第1および第2のフィードバック電圧を前記第1の固定電極に交互に提供して、第1の周期信号を前記第1の固定電極に提供する第1のスイッチであって、前記第1の周期信号が、前記可動電極を機械的に再びセンタリングすることなく前記交流信号を低減させる、該第1のスイッチと、
    を備える、微細加工された装置。
  9. 前記スケーリング段は、第3および第4のフィードバック電圧をさらに提供し、前記装置は、前記第3および第4のフィードバック電圧を前記第2の固定電極に交互に提供する第2のスイッチをさらに備える、請求項8記載の装置。
  10. 前記スケーリング段は、2つの固定電源の間に第1、第2、および第3の抵抗器を直列に備え、前記第1および第3の抵抗器は抵抗が等しく、またスケーリングファクタだけ前記第2の抵抗器よりも小さい、請求項8記載の装置。
  11. 前記可動電極は、第1の方向に沿って延出し、
    前記質量体は、前記第1の方向に垂直な第2の方向に延出する複数の電極を含む第2の可動電極と、前記第2の可動電極とともに第2の差動コンデンサを形成する第3および第4の固定電極とを有する、請求項8記載の装置。
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10357870B4 (de) * 2003-12-11 2013-02-07 Robert Bosch Gmbh Sensor mit symmetrischer Begrenzung eines Signals
US7194376B2 (en) * 2004-04-27 2007-03-20 Delphi Technologies, Inc. Circuit and method of processing multiple-axis sensor output signals
US20050235751A1 (en) * 2004-04-27 2005-10-27 Zarabadi Seyed R Dual-axis accelerometer
US20060266118A1 (en) * 2005-03-29 2006-11-30 Denison Timothy J Capacitive sensor with damping
ES2245614B1 (es) * 2005-05-25 2006-12-16 Universitat Autonoma De Barcelona Sistema de lectura para un elemento transductor mecanico.
US7368923B2 (en) * 2005-12-22 2008-05-06 Honeywell International Inc. Time interval trimmed differential capacitance sensor
US7377171B2 (en) * 2006-08-15 2008-05-27 General Electric Company Feedback circuit for radiation resistant transducer
US7552637B2 (en) * 2006-09-19 2009-06-30 Honeywell International Inc. Torque driving circuit
DE102008003342A1 (de) * 2008-01-07 2009-07-09 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung mit einem Differenzkondensator und einer Auswerteschaltung
DE102008023535B4 (de) * 2008-05-14 2011-05-12 Texas Instruments Deutschland Gmbh Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Auswertung einer variablen Kapazität
US7956621B2 (en) * 2008-06-11 2011-06-07 Analog Devices, Inc. Anti-capture method and apparatus for micromachined devices
US9201091B2 (en) 2009-04-14 2015-12-01 Atlantic Inertial Systems Limited Accelerometer control systems
MX2012013044A (es) * 2010-05-12 2013-03-05 Hewlett Packard Development Co Acelerometro.
US8576006B1 (en) 2010-11-30 2013-11-05 Lockheed Martin Corporation Wideband variable gain amplifier
CN103999364B (zh) * 2011-12-16 2018-01-19 美国亚德诺半导体公司 用于多个通道的低噪声放大器
US8860508B1 (en) 2012-12-05 2014-10-14 Lockheed Martin Corporation Digitally controlled wideband variable gain amplifier
US9383384B2 (en) * 2013-05-31 2016-07-05 Honeywell International Inc. Extended-range closed-loop accelerometer
CN103558417A (zh) * 2013-11-08 2014-02-05 中国工程物理研究院电子工程研究所 一种电荷平衡式微加速度计表头差分电容检测方法及其装置
GB2527595A (en) * 2014-06-27 2015-12-30 Atlantic Inertial Systems Ltd Accelerometers
GB2555804B (en) * 2016-11-09 2022-02-02 Atlantic Inertial Systems Ltd Accelerometer control
GB2593132A (en) 2019-11-01 2021-09-22 Atlantic Inertial Systems Ltd Methods for closed loop operation of capacitive accelerometers
EP3862757B1 (en) 2020-02-07 2024-03-27 Atlantic Inertial Systems Limited Methods for closed loop operation of capacitive accelerometers and such capacitive accelerometers

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5326726A (en) 1990-08-17 1994-07-05 Analog Devices, Inc. Method for fabricating monolithic chip containing integrated circuitry and suspended microstructure
EP0543901B1 (en) 1990-08-17 1995-10-04 Analog Devices, Inc. Monolithic accelerometer
FR2689627B1 (fr) 1992-04-07 1997-06-20 Sextant Avionique Perfectionnement aux micro-capteurs pendulaires asservis.
US5801309A (en) 1994-03-18 1998-09-01 New Jersey Institute Of Technology Microaccelerometer employing resonant circuit detection of seismic mass displacement
JP3139305B2 (ja) * 1994-08-24 2001-02-26 株式会社村田製作所 容量型加速度センサ
JP3216455B2 (ja) * 1994-12-22 2001-10-09 株式会社村田製作所 容量型静電サーボ加速度センサ
US5659262A (en) * 1996-03-15 1997-08-19 Analog Devices, Inc. Offset trimming for a micromachined sensing device

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Publication number Publication date
DE60027020D1 (de) 2006-05-18
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US6530275B1 (en) 2003-03-11
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