JP4296070B2 - 位相特性測定装置 - Google Patents
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Description
Chris Iaconis, et al., "Self-Referencing Spectral Interferometry for Measuring Ultrashort Optical Pulses", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol.35, No.4, pp.501-509 (1999)
さらに、本発明に係る位相特性測定装置は、(a) ダブル光パルス生成部が、パルス間隔を複数の値τ i (i=1〜n)それぞれに順次に設定してダブル光パルスを出力し、(b) 高調波光生成部が、ダブル光パルス生成部から出力された各パルス間隔τ i のダブル光パルスを入力して高調波光を生成し出力し、(c) 解析部が、ダブル光パルスの各パルス間隔τ i について、高調波光生成部から出力された高調波光が分光計測部により分光計測されて取得された高調波光スペクトルに基づいて、パルス間隔τ i に対応する分光計測部の装置関数の振幅A i および位相φ i を求め、これら振幅A i および位相φ i の系列からなる装置関数とのデコンボリューション演算により和周波光スペクトルを補正するとともに解析して、被測定光パルスの位相特性を測定することを特徴とする。
Claims (5)
- 被測定光パルスを入力し、この被測定光パルスをパルス間隔τのダブル光パルスに変換して、このダブル光パルスを出力するとともに、このパルス間隔τの調整が可能であるダブル光パルス生成部と、
プローブ光パルスを入力し、このプローブ光パルスに含まれる各電場周波数成分に対して伝搬速度に分布を与えることにより、パルス幅内において時刻とその時刻における瞬時周波数とがリニアな関係を持ったチャープ光パルスに変換し、このチャープ光パルスを出力するチャープ付与部と、
前記ダブル光パルス生成部から出力されたダブル光パルスと、前記チャープ付与部から出力されたチャープ光パルスとを入力して、これらダブル光パルスおよびチャープ光パルスそれぞれの光周波数の和に等しい光周波数を有する和周波光を生成し出力する和周波光生成部と、
前記ダブル光パルス生成部から出力されたダブル光パルスを入力し、このダブル光パルスの光周波数の2倍の光周波数を有する高調波光を生成し出力する高調波光生成部と、
入力した光を分光計測する分光計測部と、
前記和周波光生成部から出力された和周波光と、前記高調波光生成部から出力された高調波光との、何れかを選択的に前記分光計測部へ入力させる選択部と、
前記和周波光生成部から出力された和周波光が前記分光計測部により分光計測されて取得された和周波光スペクトルを、前記高調波光生成部から出力された高調波光が前記分光計測部により分光計測されて取得された高調波光スペクトルに基づいて補正するとともに解析して、前記被測定光パルスの位相特性を測定する解析部と、
を備え、
前記ダブル光パルス生成部が、前記パルス間隔を複数の値τ i (i=1〜n)それぞれに順次に設定して前記ダブル光パルスを出力し、
前記高調波光生成部が、前記ダブル光パルス生成部から出力された各パルス間隔τ i のダブル光パルスを入力して高調波光を生成し出力し、
前記解析部が、前記ダブル光パルスの各パルス間隔τ i について、前記高調波光生成部から出力された高調波光が前記分光計測部により分光計測されて取得された高調波光スペクトルに基づいて、パルス間隔τ i に対応する前記分光計測部の装置関数の振幅A i および位相φ i を求め、これら振幅A i および位相φ i の系列からなる装置関数とのデコンボリューション演算により前記和周波光スペクトルを補正するとともに解析して、前記被測定光パルスの位相特性を測定する、
ことを特徴とする位相特性測定装置。
- 前記被測定光パルスを2分岐して、その2分岐した一方を前記ダブル光パルス生成部へ入力させ、他方を前記プローブ光パルスとして前記チャープ付与部へ入力させる光分岐部を更に備えることを特徴とする請求項1記載の位相特性測定装置。
- 前記解析部における補正の際の補正情報を記憶する記憶部を更に備えることを特徴とする請求項1記載の位相特性測定装置。
- 前記高調波光生成部から出力された高調波光の強度を検出する光検出部を更に備え、
前記解析部が該光検出部による検出結果に基づいてフリンジ分解SHG自己相関波形を求める、
ことを特徴とする請求項1記載の位相特性測定装置。 - 前記和周波光生成部および前記高調波光生成部が共通の非線形光学結晶を含むことを特徴とする請求項1記載の位相特性測定装置。
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