JP2018031737A - 信号処理装置およびリスケーリング方法 - Google Patents
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】波数が時間的に一方向に連続的に変化する光を出力する波長掃引光源と、該波長掃引光源から出力された光を入力し、サンプルアームと参照アームと間の光路長差に応じた干渉信号を出力する干渉計とを含み、該干渉計から出力された干渉信号を周波数解析して断層信号を出力する光断層撮像装置において、リスケーリング処理を行うための信号処理装置であって、観測対象となるサンプルの波長分散に合わせて位相変化曲線に波数毎の係数をかけることにより、観測対象の波長分散に合った位相変化曲線を作成することによって、観測対象に合ったリサンプリング点を得る。
【選択図】図7
Description
波数リニア光源では、kΩ(・)が時間に対して変化が無いので、F[exp(±j2zkΩ(t))]はf=0にピークを持つデルタ関数となる。このため、Im(f)は、F[(Pr(t)Ps(t))1/2]を±zk’/πだけずらしたものとなる。Pr(t)Ps(t)がガウシアンの場合は、Im(f)は、±zk’/πにピークを持つ鋭いガウシアンとなる。Pr(t)Ps(t)が時間に対して広いほど、Im(f)の±zk’/πにピークを持つそれぞれのガウシアンの幅は狭くなり、画像の精細度が高くなる。
本実施形態においては、観測対象となるサンプルの波長分散に合わせて位相変化曲線に波数k毎の係数をかけることにより、観測対象の波長分散に合った位相変化曲線を作成することによって、観測対象に合ったリサンプリング点(時刻)を得る。リサンプリング点(時刻)を求めるとき、サンプルaをサンプルとして用いることとし、光の波数k=k0時の屈折率na(k0)を基準としたとき、波数kに対する屈折率の増加率を表す屈折率増加関数をra(k)(=na(k)/na(k0))とする。k0は、例えば波長掃引光源の掃引する波数の中心としてもよい。このとき、サンプルaを用いた時の干渉信号の位相変化曲線φma(t)は下記のようになる。
[ステップS−206(時間−波数対応データ取得)]時間−波数対応データ取得手段106は、波長掃引光源から出力される光の波数の時間変化データ(時間−波数対応データ)を取得し出力する。具体的な方法は実施例2に示す。
(a)S−201〜S−210を行い、その後はk(t)の掃引ごとの変動が無視できる掃引回数だけ、光源の時間変動S−211〜S−212のみを繰り返し行う。
(b)変動が無視できない掃引回数に達した場合に、再度S−201〜S−210を行い、位相変化曲線と時間−補正係数対応データとを初期化する。
実施例1における時間−波数対応データk(t)の取得手段の具体的な構成について述べる。ここでは、光の狭帯域バンドパスフィルタの中心波長と時間の関係を取得する方法について述べる。図8に、時間−波数対応データ取得手段の機能ブロックの第1例を示し、図9にフローチャートを示す。
上記の時間−波数対応データ取得手段においては、波数のステップδkを小さくし、波数を密に取得する構成であった。δkを大きくして波数を疎に取得し、時間−波数対応データ取得後、その疎な時間−波数対応データを、時間−波数対応データ補間生成手段によって補間して、密な時間−波数対応データを作成することが考えられる。
処理2)φm(tα)/(2z0)を計算し、初期値の波数k(tα)とする。
処理3)Δkを計算する。
処理4)Δk≦δであれば終了(そのときのk(tα)が求めるk(tα))。そうでなければ、処理5を行う。
処理5)k(tα)+Δkをk(tα)に置き換え、処理3に戻る。
・rApp(k)がkの0次関数の場合は、式(4−4)に示す式によりk(t)を算出する。
・rApp(k)がkの1次関数の場合は、式(4−5)’に示す式によりk(t)を算出する。
・rApp(k)がkの2次関数の場合は、式(4−1)の右辺がkの3次関数となるが、φm(t)を定数として、カルダノの方法によりk(t)を算出する。
・rApp(k)がkの3次関数の場合は、式(4−1)の右辺がkの4次関数となるが、φm(t)を定数として、フェラーリの方法によりk(t)を算出する。
・rApp(k)がkの4次関数以上、または、kの多項式ではない関数であるとすると、式(4−6)が成り立つk(t)を算出する。このような非線型方程式の解法としては、例えば、ニュートン・ラフソン(Newton-Raphson)法、割線法(secant method)、二分法、DKA(Durand-Kerner-Aberth)法等の反復解法を用いる。
802 アイソレータ
803 集光レンズ
804 半導体光増幅器(SOA)
805 SOA反射面
806 コリメータレンズ
807 光偏向器
810 電源
811 回折格子
812 ミラー
901 KTN結晶
902,903 電極
904 光軸
905,1309,2009,2409 出射光
1001,1401,2001,2401 波長掃引光源
1002,1302,1402,2002,2402 干渉計
1007,1307,1407,2007,2407 受光素子
1014,1314,1414,2014,2414 干渉信号
1016,1416,2005 ビームスプリッタ
1303,2003,2403 サンプル
1308,2008,2408 反射面
1310,2010,2410 サンプル光
1311,2011,2411 基準面
1312,2012,2412 参照光
1313,2013,2413 干渉光
1316,2416 サーキュレータ
1320 ブロック1
1321 ブロック2
1322,1324 面1
1323,1325 面2
2004,2404 信号処理装置
2006 参照光ミラー
2418 ファイバコリメータ
Claims (7)
- 波数が時間的に一方向に連続的に変化する光を出力する波長掃引光源と、該波長掃引光源から出力された光を入力し、サンプルアームと参照アームと間の光路長差に応じた干渉信号を出力する干渉計とを含み、該干渉計から出力された干渉信号を周波数解析して断層信号を出力する光断層撮像装置において、リスケーリング処理を行うための信号処理装置であって、
サンプルaを用いて単一の光路長差に係る位相変化曲線φm(t)を出力する位相変化曲線取得手段と、
前記サンプルaの屈折率分散データna(k)、観測対象の屈折率分散データnb(k)、および前記波長掃引光源から出力された光の時間−波数対応データk(t)から、波数k0における屈折率を基準としたときの、サンプルaの時間−屈折率変動データra(t)(=na(k)/na(k0))に対する観測対象の時間−屈折率変動データrb(t)(=nb(k)/nb(k0))の比rb(t)/ra(t)を時間−補正係数対応データra→b(t)として出力する波長分散補正係数算出手段と、
前記時間−補正係数対応データra→b(t)と前記位相変化曲線φm(t)との積を補正された位相変化曲線φm’(t)として出力する位相変化曲線補正手段と、
前記補正された位相変化曲線φm’(t)からリサンプリング点tnを算出するリサンプリング点算出手段と
を備えたことを特徴とする信号処理装置。 - 前記波長掃引光源から出力された光に対して、指示された波数kを中心としたバンドパスフィルタリングを行う狭帯域バンドパスフィルタと、
該狭帯域バンドパスフィルタでフィルタリングされた光を検知する光検知器と、
前記波長掃引光源のトリガ信号から前記光検知器が検知した光のピークまでの時間を計測し、前記指示された波数と対応させた、前記時間−波数対応データk(t)を出力する時間計測手段と
を含む時間−波数対応データ取得手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記波長掃引光源から出力された光とトリガ信号から疎な時間−波数対応データks(t)を出力する時間−波数対応データ実測手段と、
前記波長掃引光源から出力された光を光路長差のある干渉計を通して得た干渉信号im(t)から位相変化曲線φm(t)を出力する位相変化曲線実測手段と、
前記疎な時間−波数対応データks(t)の時刻tiごとに、前記位相変化曲線実測手段が出力した位相変化曲線φm(t)を分割し、分割された位相変化曲線により、前記疎な時間―波数対応データを外挿または内挿して前記時間−波数対応データk(t)を出力する時間−波数対応データ外内挿手段と
を含む時間−波数対応データ取得手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記波長掃引光源から出力された光とトリガ信号から疎な時間−波数対応データks(t)を出力する時間−波数対応データ実測手段と、
前記波長掃引光源から出力された光を光路長差のある干渉計を通して得た干渉信号im(t)から位相変化曲線φm(t)を出力する位相変化曲線実測手段と、
屈折率分散データn(k)と所定の基準波数k0から屈折率増加関数r(k)を出力する屈折率増加関数生成手段と、
前記疎な時間−波数対応データと前記位相変化曲線φm(t)と前記屈折率増加関数r(k)と前記光路長差とから補正された位相変化曲線φm’(t)を出力する位相変化曲線実測手段と、
前記屈折率増加関数r(k)の近似関数rApp(k)を生成し、前記補正された位相変化曲線φm’(t)と前記光路長差とから前記近似関数rApp(k)に応じた時間−波数対応データk(t)を出力する時間−波数対応データ生成手段と
を含む時間−波数対応データ取得手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記サンプルaの温度Taを取得するサンプル温度取得手段と、
前記屈折率分散データna(k)の想定温度T0との差に従って、前記サンプルaの温度係数Δn(k)を用いて、前記屈折率分散データを補正する屈折率分散データ温度補正手段と
をさらに備えたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の信号処理装置。 - 波数が時間的に一方向に連続的に変化する光を出力する波長掃引光源と、該波長掃引光源から出力された光を入力し、サンプルアームと参照アームと間の光路長差に応じた干渉信号を出力する干渉計とを含み、該干渉計から出力された干渉信号を周波数解析して断層信号を出力する光断層撮像装置における信号処理装置のリスケーリング方法であって、
前記信号処理装置の位相変化曲線取得手段が、サンプルaを用いて単一の光路長差に係る位相変化曲線φm(t)を出力する第1ステップと、
前記信号処理装置の波長分散補正係数算出手段が、前記サンプルaの屈折率分散データna(k)、観測対象の屈折率分散データnb(k)、および前記波長掃引光源から出力された光の時間−波数対応データk(t)から、波数k0における屈折率を基準としたときの、サンプルaの時間−屈折率変動データra(t)(=na(k)/na(k0))に対する観測対象の時間−屈折率変動データrb(t)(=nb(k)/nb(k0))の比rb(t)/ra(t)を時間−補正係数対応データra→b(t)として出力する第2ステップと、
前記信号処理装置の位相変化曲線補正手段が、前記時間−補正係数対応データra→b(t)と前記位相変化曲線φm(t)との積を補正された位相変化曲線φm’(t)として出力する第3ステップと、
前記信号処理装置のリサンプリング点算出手段が、前記補正された位相変化曲線φm’(t)からリサンプリング点tnを算出する第4ステップと
を備えたことを特徴とするリスケーリング方法。 - 波数が時間的に一方向に連続的に変化する光を出力する波長掃引光源と、該波長掃引光源から出力された光を入力し、サンプルアームと参照アームと間の光路長差に応じた干渉信号を出力する干渉計とを含み、該干渉計から出力された干渉信号を周波数解析して断層信号を出力する光断層撮像装置におけるリスケーリング方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記コンピュータを、
サンプルaを用いて単一の光路長差に係る位相変化曲線φm(t)を出力する位相変化曲線取得手段と、
前記サンプルaの屈折率分散データna(k)、観測対象の屈折率分散データnb(k)、および前記波長掃引光源から出力された光の時間−波数対応データk(t)から、波数k0における屈折率を基準としたときの、サンプルaの時間−屈折率変動データra(t)(=na(k)/na(k0))に対する観測対象の時間−屈折率変動データrb(t)(=nb(k)/nb(k0))の比rb(t)/ra(t)を時間−補正係数対応データra→b(t)として出力する波長分散補正係数算出手段と、
前記時間−補正係数対応データra→b(t)と前記位相変化曲線φm(t)との積を補正された位相変化曲線φm’(t)として出力する位相変化曲線補正手段と、
前記補正された位相変化曲線φm’(t)からリサンプリング点tnを算出するリサンプリング点算出手段
として機能させるためのプログラム。
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上野 雅浩 MASAHIRO UENO, 電子情報通信学会2016年エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集1 PROCEEDINGS OF THE 2016 IEIC, JPN6019019966, ISSN: 0004045503 * |
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