JP6168652B2 - データ処理装置およびリサンプリング方法 - Google Patents
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Description
t'(k)=a0+a1k+a2k2+a3k3
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102 アイソレータ
103 集光レンズ
104 SOA(semiconductor optical amplifier)
105 反射面
106 コリメータレンズ
107 KTN光偏向器
108,109 電極
110 電源
111 回折格子
121,201 KTN光源
122,127,202,207 光カプラ
123,128,203,208 サーキュレータ
124,130,204,210 レンズ
125,205 参照ミラー
126,206 受光素子
129,209 駆動ミラー
131,225 測定対象物
132,212 データ処理装置
133,213 ドライバ回路
211 測定用治具
221 測定対象物固定板
222 リファレンス校正部
223 固定バンド
224 リファレンス測定点
226 治具基準面
Claims (6)
- 光源からの光の波長掃引を行って対象の物体に照射し、該物体からの反射光を、干渉計により干渉波形信号として取得する光干渉断層撮影法を適用したデータ処理装置におけるリサンプリング方法であって、
前記データ処理装置の取得手段が、前記対象の物体を固定する治具に設けられた測定点と前記対象の物体とに前記光源からの光を照射して、前記干渉波形信号を取得する第1ステップであって、前記治具の基準面と前記対象の物体の表面との間の第1の距離が一定となるように前記対象の物体が治具に固定され、前記治具の基準面と前記測定点との間の第2の距離と、前記第1の距離との差が小さいことと、
前記データ処理装置の参照手段が、前記測定点に光を照射して取得した干渉波形信号から算出した波数−時間関数を参照して、前記光源からの光の波数−時間関数を確定する第2ステップと、
前記データ処理装置の算出手段が、前記第2ステップで確定された波数−時間関数の波数が一定間隔となる、前記干渉波形信号のリサンプリング点を求める第3ステップと、
前記データ処理装置のリサンプリング手段が、前記干渉波形信号を、前記リサンプリング点でリサンプリングする第4ステップと
を備えたことを特徴とするリサンプリング方法。 - 前記第1ステップは、1回の走査により前記光源からの光を、前記測定点と前記対象の物体とに照射して、前記干渉波形信号を取得し、
前記第2ステップは、前記1回の走査ごとに、前記光源からの光の波数−時間関数を確定することを特徴とする請求項1に記載のリサンプリング方法。 - 前記光源は、半導体光増幅器、KTN(KTa1-xNbxO3(0<x<1))結晶からなるKTN光偏向器、回折格子およびミラーからなるLittman型外部共振器で構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のリサンプリング方法。
- 光源からの光の波長掃引を行って対象の物体に照射し、該物体からの反射光を、干渉計により干渉波形信号として取得する光干渉断層撮影法を適用したデータ処理装置であって、
前記対象の物体を固定する治具に設けられた測定点と前記対象の物体とに前記光源からの光を照射して、前記干渉波形信号を取得する取得手段であって、前記治具の基準面と前記対象の物体の表面との間の第1の距離が一定となるように前記対象の物体が治具に固定され、前記治具の基準面と前記測定点との間の第2の距離と、前記第1の距離との差が小さいことと、
前記測定点に光を照射して取得した干渉波形信号から算出した波数−時間関数を参照して、前記光源からの光の波数−時間関数を確定する参照手段と、
前記参照手段で確定された波数−時間関数の波数が一定間隔となる、前記干渉波形信号のリサンプリング点を求める算出手段と、
前記干渉波形信号を、前記リサンプリング点でリサンプリングするリサンプリング手段と
を備えたことを特徴とするデータ処理装置。 - 前記取得手段は、1回の走査により前記光源からの光を、前記測定点と前記対象の物体とに照射して、前記干渉波形信号を取得し、
前記参照手段は、前記1回の走査ごとに、前記光源からの光の波数−時間関数を確定することを特徴とする請求項4に記載のデータ処理装置。 - 前記光源は、半導体光増幅器、KTN(KTa1-xNbxO3(0<x<1))結晶からなるKTN光偏向器、回折格子およびミラーからなるLittman型外部共振器で構成されていることを特徴とする請求項4または5に記載のデータ処理装置。
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