KR20220106583A - 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법 - Google Patents

전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법 Download PDF

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KR20220106583A KR1020210009677A KR20210009677A KR20220106583A KR 20220106583 A KR20220106583 A KR 20220106583A KR 1020210009677 A KR1020210009677 A KR 1020210009677A KR 20210009677 A KR20210009677 A KR 20210009677A KR 20220106583 A KR20220106583 A KR 20220106583A
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윤태일
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광주과학기술원
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Abstract

본 발명은 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법에 관한 것으로서, 상기 전역광학 단층 영상 획득 시스템은 광원으로부터 출사된 광을 측정대상체 및 참조단에 각각 조사하고, 상기 측정대상체 및 참조단으로부터 반사되는 광을 통해 광간섭신호를 생성하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성하는 신호생성부와, 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호를 토대로 해당 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부와, 상기 신호생성부에서 제공된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리부를 구비한다.
본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법은 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 적용하므로 하드웨어 제어의 불안정성과 신호의 손실없이 잔여 간섭무늬를 효과적으로 줄일 수 있다는 장점이 있다.

Description

전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법{Full-Field optical coherence tomography image acquisition system and Full-Field optical coherence tomography image acquisition method}
본 발명은 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 적용하는 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법에 관한 것이다.
시료 표면의 이미지만을 보기 위해서는 기존의 여러 가지 형태의 현미경을 사용할 수 있으나, 현미경을 사용하여 시료 내부의 구조 정보를 얻기에는 많은 제약이 따른다. 그러나, 빛의 가간섭성을 이용하면 시료의 표면 정보뿐만 아니라 내부에 대한 정보를 얻을 수 있다.
시료의 표면 정보뿐만 아니라 내부에 대한 정보를 얻을 수 있는 대표적인 방법이 광학 단층 영상술(Optical Coherence Tomography, 이하 "OCT")이다. 상기 OCT는 Time domain OCT와, Frequency domain OCT로 나눌 수 있다. 여기서, FF-OCT(Full-Field OCT)는 TD-OCT(Time domain OCT)의 한 종류로서, 한 번에 2차원 영역에 대한 이미지를 한번에 얻을 수 있으며, FD-OCT(Frequency domain OCT)에는 스펙트럼 영역 OCT와 Swept Source OCT(파장훑음 레이저 OCT)가 있다.
FF-OCT는 한번에 시료의 횡단면에 대한 정보를 얻는 방법이다. 일반적으로 FF-OCT를 이용하여 얻는 간섭 무늬 이미지는 DC 노이즈를 나타내는 DC항과 간섭 무늬로 인한 AC항을 포함한다. 종래에는 간섭계를 이용하여 DC항과 간섭 무늬를 나타내는 AC항들을 제거한 시료의 표면 이미지나 단층 이미지를 얻기 위하여 통상 3장 또는 그 이상의 간섭 무늬 이미지들을 필요로 하였다.
종래에 사용되었던 방법은 크게 위상 천이를 단계적(phase-stepping)으로 하는 방법과 위상천이를 연속적(integrating-bucket)으로 하는 방법으로 나눌 수 있다.
여기서, 위상천이를 연속적(integrating-bucket)으로 하는 방법에서는 참조단의 90도 위상천이를 통해 획득한 총 4장의 간섭무늬 이미지를 필요로 하므로 phase-stepping 방법에 비해 빠르고 정확하지만, 4장의 간섭무늬 이미지를 얻을 때 정확한 위상천이 값이 아닌 경우에는 마찬가지로 잔여 간섭무늬 패턴이 남는 문제점이 있다.
등록특허공보 제10-1082477호: 기능적 내시경 광단층 영상진단 장치
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창안된 것으로서, 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 적용할 수 있는 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템은 광원으로부터 출사된 광을 측정대상체 및 참조단에 각각 조사하고, 상기 측정대상체 및 참조단로부터 반사되는 광을 통해 광간섭신호를 생성하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성하는 신호생성부와, 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호를 토대로 해당 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부와, 상기 신호생성부에서 제공된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리부를 구비한다.
상기 보정계수 산출부는 상기 신호생성부에서 생성된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 생성한 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출한다.
상기 기준각도는 90°인 것이 바람직하다.
상기 신호생성부는 소정의 천이각도만큼 위상천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 생성할 수 있다.
상기 천이각도는 90°인 것이 바람직하다.
상기 보정계수 산출부는 상기 신호생성부에서 제공되는 광간섭신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하고,
[수학식]
Figure pat00001
Figure pat00002
여기서, 상기
Figure pat00003
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00004
는 상기 제2중간신호이고, 상기 A는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 진폭이고, 상기
Figure pat00005
는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 위상이고, 상기
Figure pat00006
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
Figure pat00007
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00008
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
Figure pat00009
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00010
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
Figure pat00011
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00012
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
Figure pat00013
가 곱해진 계수이다.
상기 보정계수 산출부는 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출할 수 있다.
상기 보정계수 산출부는 상기 제1 및 제2중간신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 보정계수를 산출하고,
[수학식]
Figure pat00014
여기서, 상기
Figure pat00015
는 상기 보정계수이고, 상기
Figure pat00016
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00017
는 상기 제2중간신호이고, 상기
Figure pat00018
는 상기 제1중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이고, 상기
Figure pat00019
는 상기 제2중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이다.
상기 영상처리부는 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 방법은 광원으로부터 출사된 광을 측정대상체 및 참조단에 각각 조사하고, 상기 측정대상체 및 참조단로부터 반사되는 광을 통해 생성된 광간섭신호를 획득하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 획득하는 신호 획득단계와, 상기 광간섭신호들을 토대로 해당 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출단계와, 상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리단계를 포함한다.
상기 보정계수 산출단계에선, 상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호들을 토대로 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 상기 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출할 수 있다.
상기 기준각도는 90°인 것이 바람직하다.
상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성할 수 있다.
상기 신호 획득단계에서는, 소정의 천이각도만큼 위상천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 획득할 수 있다.
상기 천이각도는 90°인 것이 바람직하다. 상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 신호 획득단계에서 획득된 광간섭신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하고,
[수학식]
Figure pat00020
Figure pat00021
여기서, 상기
Figure pat00022
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00023
는 상기 제2중간신호이고, 상기 A는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 진폭이고, 상기
Figure pat00024
는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 위상이고, 상기
Figure pat00025
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
Figure pat00026
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00027
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
Figure pat00028
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00029
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
Figure pat00030
가 곱해진 계수이고, 상기
Figure pat00031
는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
Figure pat00032
가 곱해진 계수이다.
상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출할 수 있다.
상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 제1 및 제2중간신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 보정계수를 산출하고,
[수학식]
Figure pat00033
여기서, 상기
Figure pat00034
는 상기 보정계수이고, 상기
Figure pat00035
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00036
는 상기 제2중간신호이고, 상기
Figure pat00037
는 상기 제1중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이고, 상기
Figure pat00038
는 상기 제2중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이다.
상기 영상처리단계에서는, 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성할 수 있다.
본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법은 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 적용하므로 하드웨어 제어의 불안정성과 신호의 손실없이 잔여 간섭무늬를 효과적으로 줄일 수 있다는 장점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템에 대한 블럭도이고,
도 2는 도 1의 전역광학 단층 영상 획득 시스템의 신호생성부에 대한 개념도이고,
도 3은 본 발명에 따른 전역광한 단층 영상 획득 방법에 대한 순서도이고,
도 4은 본 발명의 성능 검사시 획득한 측정대상체의 이미지와, 해당 측정대상체로부터 획득한 광 간섭 신호로부터 생성된 광 간섭 이미지의 예시이고,
도 5는 종래의 방식으로 획득한 제1중간신호와 제2중간신호, 그리고 이로부터 재구성된 단층 이미지이고,
도 6은 본 발명의 전역광학 단층 영상 획득 시스템에서 보정 계수(Γ)를 산출하기 위한 과정에 대한 예시도이고,
도 7은 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템에 따라 계수가 동일시된 제1중간신호와 제2중간신호, 그리고 이로부터 재구성된 단층 이미지이고,
도 8은 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템에 따라 획득한 해당 측정대상체에 대한 3D 이미지와 이를 확대한 이미지이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
도 1 및 도 2에는 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템(100)이 도시되어 있다.
도면을 참조하면, 상기 전역광학 단층 영상 획득 시스템(100)은 광원(210)으로부터 출사된 광을 측정대상체(10) 및 참조단(270)의 기준거울(271)에 각각 조사하고, 상기 측정대상체(10) 및 기준거울(271)로부터 반사되는 광을 통해 광간섭신호를 생성하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성하는 신호생성부(200)와, 상기 신호생성부(200)에서 생성된 광간섭신호를 토대로 해당 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부(300)와, 상기 신호생성부(200)에서 제공된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리부(400)를 구비한다.
상기 신호생성부(200)는 소정의 출력광을 출력하는 광원(210)과, 상기 광원(210)으로부터 출력되는 출력광을 제1 및 제2분할광으로 분할하여 참조단(270) 및 측정대상체(10)에 조사하는 광분배기(220)를 구비한다.
상기 광원(210)은 백색 광원(white light source)을 사용하는 광대역 광원(210)으로서, 할로겐 램프가 적용되나, 이에 한정하는 것이 아니라 광대역 폭을 가지는 백색 광원, 일예로, white LED 등과 같은 광원이 적용될 수도 있다. 상기 광분배기(220)는 광원(210)으로부터 출력된 출력광을 분할하기 위해 빔스플리터가 적용된다.
한편, 참조단(270)은 광분배기(220)에서 출력되는 제1분할광의 광축 선상에 설치되어, 해당 제1분할광을 반사하는 기준거울(271)과, 상기 기준거울(271)과 광분배기(220) 사이에 설치되어 기준거울(271)에서 반사된 광 파워를 측정대상체(10)에서 반사된 광 파워와 대응되는 양으로 만들기 위한 뉴트럴 필터(neutral density filter)(272)와, 상기 기준거울(271)에 설치되어 상기 기준거울(271)의 정밀 이송을 위한 거울 스테이지(273)를 구비한다. 여기서, 거울 스테이지는 특정 진폭과 위상을 가지는 sin 파를 인가하면, 그 진폭과 위상에 따라 물리적인 거리를 움직이는 piezo-electric transducer가 적용된다.
또한, 뉴트럴 필터(272)와 기준거울(271) 사이에 제1대물렌즈(microscope objective)(274)가 설치되어 있다.
한편, 신호생성부(200)는 측정대상체(10)가 세팅되는 샘플단(205)이 마련되어 있다. 상기 샘플단(205)은 측정대상체(10)가 세팅되는 세팅 스테이지(230)이 마련되고, 광분배기(220)와 세팅 스테이지(230) 사이에는 광분배기(220)에서 출력되는 제2분할광을 상기 측정대상체(10)에 반사하기 위한 가동거울(280)이 설치된다. 이때, 해당 가동거울(280)을 통해 측정대상체(10)에서 반사된 광이 광분배기(220)로 입사된다. 또한, 가동거울(280)과 광분배기(220) 사이에는 윈도우 글라스(window glass)(240)가 설치될 수 있다. 그리고, 측정대상체(10)의 표면 이미지 및 단층 이미지를 고배율로 획득하기 위해 가동거울(280)과 세팅 스테이지(230) 사이에 제2대물렌즈(250)가 세팅되어 있다. 해당 세팅 스테이지(230)는 측정대상체(10)의 depth scan을 위한 스테이지가 적용된다.
또한, 신호생성부(200)는 광분배기(220)를 기준으로 기준거울(271)에 대향되는 위치에 설치되어, 기준거울(271)로부터 입사되는 광신호 및 측정대상체(10)로부터 입사되는 광신호를 검출하기 위한 광검출기(260)를 구비한다. 해당 광검출기(260)에 의해 광의 간섭이 검출되고, 해당 광 간섭 신호를 영상처리부(400)에 전송되어 해당 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지가 생성된다. 여기서, 상기 광검출기(260)는 CCD(charge-coupled device) 카메라가 적용되며, 광분배기(220)와 광검출기(260) 사이에는 간섭무늬 이미지 초점이 해당 광검출기(260)에 맺히도록 초점렌즈가 세팅될 수도 있다. 한편, 광검출기(260)는 이에 한정하는 것이 아니라 CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor) 카메라도 적용이 가능하다.
이때, 신호생성부(200)는 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성할 수 있도록 상기 기준미러를 세팅하기 위해 거울 스테이지(273)의 움직임을 제어하는 제어모듈(미도시)를 더 구비할 수 있다. 여기서, 상기 신호생성부(200)는 광학 간섭계로서, 마이켈슨 간섭계가 적용될 수 있다.
광원(210)으로부터 출력된 출력광은 광분배기(220)를 통해 제1 및 제2분할광으로 분할되고, 제1 및 제2분할광은 기준거울(271) 및 측정대상체(10)에 조사된다. 이때, 기준거울(271)에 반사된 반사광과, 측정대상체(10)에 반사된 반사광은 광분배기(220)에서 재결합되어 광검출기(260)로 입력된다. 해당 광검출기(260)에 의해 광 간섭신호가 검출된다.
여기서, 제어모듈은 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성될 수 있도록 거울 스테이지(273)를 연속적으로 제어한다. 즉, 신호생성부(200)는 소정의 천이각도만큼 위상 천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 생성한다. 이때, 천이각도는 90°인 것이 바람직하다.
신호생성부(200)는 참조단(270)의 90°위상 천이를 통해 4장의 간섭무늬 이미지를 획득한다. 즉, PZT인 거울 스테이지(273)에 인가해준 sine wave의 90도 위상 차이마다 광검출기(260)가 광 간섭무늬 이미지를 캡쳐한다. 따라서, 하기의 수학식에서, 4개의
Figure pat00039
로부터 생성한 제1중간신호와 제2중간신호가 90°위상차이를 가지게 된다. 즉, 해당 신호생성부(200)는 integrating-bucket 방식에 의해 광간섭신호를 생성한다.
여기서, 4개의 광간섭신호는 하기의 수학식 1로 정의될 수 있다.
Figure pat00040
여기서, A와
Figure pat00041
는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 진폭 및 위상이고, B와
Figure pat00042
는 변조의 진폭 및 초기 위상이고, D는 광간섭신호의 DC 구성요소이다.
그리고, 해당 수학식 1에, Jacobi-Anger expansion을 사용하는 수학적 방식을 적용하여, 해당 수학식1을 하기의 수학식2와 같이 위상
Figure pat00043
의 코사인 및 사인의 선형 조합으로 만들 수 있다.
Figure pat00044
여기서, 변조 매개 변수 B와
Figure pat00045
로 주어진 k번째 광간섭신호
Figure pat00046
의 두 계수인
Figure pat00047
와
Figure pat00048
는 제1종의 베셀 함수(Bessel functions)로 표현될 수 있으며, 하기 수학식 3과 같은 특성을 갖는다.
Figure pat00049
여기서, 동일하고 완전한 위상 변조 기간동안 수학식1의 4가지 통합이 적용되어 4개의 광간섭신호
Figure pat00050
를 획득할 수 있다. 선형 조합에서 수학식3를 사용하여 하기의 수학식 4, 5와 같은 제1 및 제2중간신호를 획득할 수 있다.
Figure pat00051
Figure pat00052
여기서, 상기
Figure pat00053
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00054
는 상기 제2중간신호이다. 이때, 제1 및 제2중간신호의 두 상수는 하기의 수학식 5와 같이 정의할 수 있다.
Figure pat00055
Figure pat00056
상기 두 상수를 이용하여 수학식 4,5를 하기의 수학식 8,9와 같이 단순화할 수 있다.
Figure pat00057
Figure pat00058
여기서, 두 상수 F와 G 는 변조 매개 변수 B와
Figure pat00059
가 특정한 최적 값을 가질때 서로 동일하다. 이러한 최적의 매개 변수를 사용하면, 하기의 수학식 10과 같이 제1 및 제2중간신호로 삼각법을 이용하여 광간섭신호의 진폭A를 산출할 수 있다.
Figure pat00060
여기서, 진폭 A는 위상
Figure pat00061
의 영향을 받지 않고 획득할 수 있다. 그러나, 변조 매개 변수가 적절하게 조정되지 않으면, F와 G가 서로 다르고, 단층 이미지 재구성에 결함이 발생된다. 즉, 해당 단층 이미지에 일부 잔류 간섭무늬가 형성된다. 이는 하기의 수학식 11과 같이 단층 이미지 재구성 후에도 위상
Figure pat00062
에 따라 상이하다.
Figure pat00063
종래에는 잔류 간섭 무늬를 제거하기 위해 푸리에 영역의 필터링이 적용되었으나, 이 방법은 주파수 성분 분리가 어렵고, 데이터 손실이 발생하는 단점이 있다.
따라서, 보정계수 산출부(300)는 상기 신호생성부(200)에서 생성된 광간섭신호를 토대로 해당 측정대상체(10)에 대한 단층이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출한다. 상기 보정계수 산출부(300)는 상기 신호생성부(200)에서 생성된 상기 광간섭신호들을 토대로 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 생성한 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출한다. 여기서, 상기 기준각도는 90°가 적용된다. 또한, 보정계수 산출부(300)는 수학식 4,5를 이용하여 상기 신호 획득단계(S110)에서 획득된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성한다.
여기서, 보정계수 산출부(300)는 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출될 수 있다.
상기 보정계수는 하기의 수학식 12와 같이 정의될 수 있다.
Figure pat00064
여기서,
Figure pat00065
는 상기 보정계수이다.
이미 재구성된 이미지에서 최적의 신호생성부(200)의 하드웨어 조정은 F 값을 G 값과 같도록 세팅하는 것이므로 이상적인 경우,
Figure pat00066
는 1이 된다. 그렇지 않을 경우,
Figure pat00067
는 1이 아닌 다른 값을 갖는다. 이 경우,
Figure pat00068
를 수학식 9에 곱하고, 수학식 8,9의 두 상수를 균등화하여 단층 이미지를 재구성할 수 있다.
FF-OCT(Full-Field OCT) 시스템에서 사용되는 광원(210)의 짧은 가간섭 거리에도 불구하고, 측정대상체(10) 평면에 가간섭 거리 내에서 소정의 상하 변화가 발생되는 경우, 특정 깊이에서 촬영한 이미지에는 다양한 위상
Figure pat00069
으로 인해 간섭무늬가 포함된다. 수학식 8,9와 같은 정현파 함수의 위상 변화가 무작위이면, 제곱의 전체 평균이 1/2가 된다. 이에 따라 보상계수
Figure pat00070
은 하기의 수학식 13과 같이 산출될 수 있다.
Figure pat00071
여기서, 상기
Figure pat00072
는 상기 제1중간신호이고, 상기
Figure pat00073
는 상기 제2중간신호이고, 상기
Figure pat00074
는 상기 제1중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이고, 상기
Figure pat00075
는 상기 제2중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이다.
이렇게 할때, 하기의 수학식 14와 같이 잔여 간섭무늬가 없는 단층 이미지를 재구성할 수 있다.
Figure pat00076
상술된 바와 같이 상기 보정계수 산출부(300)는 산출된 보정계수를 영상처리부(400)에 제공한다.
영상처리부(400)는 상기 신호생성부(200)에서 제공된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성한다. 여기서, 영상처리부(400)는 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성한다. 즉, 영상처리부(400)는 제2중간신호인
Figure pat00077
에, 보상계수
Figure pat00078
에 곱한 값과, 제1중간신호
Figure pat00079
을 이용하여 단층 이미지를 재구성한다.
한편, 도 3에는 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템(100)을 이용한 전역광학 단층 영상 획득방법에 대한 순서도가 도시되어 있다.
도면을 참조하면, 상기 전역광학 단층 영상 획득 방법은 신호 획득단계(S110), 보정계수 산출단계(S120) 및 영상처리단계(S130)를 포함한다.
상기 신호 획득단계(S110)는 광원(210)으로부터 출사된 광을 측정대상체(10) 및 참조단(270)에 각각 조사하고, 상기 측정대상체(10) 및 참조단(270)로부터 반사되는 광을 통해 생성된 광간섭신호를 획득하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 획득하는 단계이다. 여기서, 신호 생성부는 소정의 천이각도만큼 위상 천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 획득한다.
보정계수 산출단계(S120)는 상기 광간섭신호들을 토대로 해당 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 단계이다. 여기서, 보정계수 산출부(300)는 상기 신호 획득단계(S110)에서 획득된 상기 광간섭신호들을 토대로 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 상기 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출한다. 이때, 보정계수 산출부(300)는 수학식 4,5를 이용하여 상기 신호 획득단계(S110)에서 획득된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성한다.
또한, 보정계수 산출부(300)는 상술된 바와 같이 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출되는데, 제1 및 제2중간신호를 수학식 13에 대입하여 보정계수를 산출할 수 있다.
영상처리단계(S130)는 상기 신호 획득단계(S110)에서 획득된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성하는 단계이다. 여기서, 영상처리부(400)는 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성할 수 있다.
한편, 본 발명의 전역광학 단층 영상 획득 시스템(100)에 대한 성능 검사를 실시하였다. 광원(210)은 텅스턴 할로겐 램프(KI-100W,
Figure pat00080
=650nm,
Figure pat00081
=220nm), 광검출기(260)는 Silicon-based CCD camera (CCD1020, 20fps, 512 X 512 pixels, VDS)가 적용되고, 대물렌즈는 Water immersion microscope objectives (UMPLFL series, Olympus, 10X)가 적용된다. 스캐닝 조건은 깊이 스캔 스텝(Step of depth scan)는 1㎛이고, 샘플두께는 50㎛이다. 또한, 측정대상체(10)는 필리핀 1페소 동전이다. 이때, 신호생성부(200)는 integrating-bucket 방식으로 4개의 광간섭신호를 생성한다.
도 4에는 측정대상체(10)와, 해당 측정대상체(10)로부터 획득한 광 간섭 신호로부터 생성된 광 간섭 이미지가 게시되어 있다. 도 4의 (a), (b)는 측정대상체(10)에 대한 사진이고, 도 4의 (c)~(f)는 획득한 광 간섭 신호에 대한 광 간섭 이미지이다.
도 5에는 종래의 방식으로 재구성된 단층 이미지가 게시되어 있다. 여기서, 도 5의 (a)는 제1중간신호(
Figure pat00082
)에 대한 광 간섭 이미지이고, 도 5의 (b)는 제2중간신호(
Figure pat00083
)에 대한 광 간섭 이미지이고, 도 5의 (c)는 제1 및 제2중간신호를 토대로 재구성한 단층 이미지이다. 도면을 참조하면, 위상 변조 인수 B 와 θ를 신호생성부(200)의 하드웨어 제어로 이상적인 수치로 조정해주지 못하면 F와 G가 달라지게 되고, 도 5의 (a),(b)의 이미지 밝기가 상호 상이하고, 도 5의 (c)와 같이 복원한 단층 이미지에서 잔여간섭무늬가 잔류함을 알 수 있다.
도 6에는 보정 계수(Γ)를 산출하기 위한 과정에 대한 도면이 게시되어 있다. 도면을 참조하면, 보정계수(Γ)를 계산하기 위해 도 5의 (a),(b)의 평균값을 취하는 픽셀 수를 1X1부터 512X512로 변경하며 그 변화 추이를 확인하였다. 그 결과, 픽셀 수가 320X320이 되었을 때, 보정계수(Γ)의 값이 1.51로 수렴한다.
도 7에는 본 발명에 따라 재구성된 광 간섭 이미지가 게시되어 있다. 여기서, 도 7의 (a)는 제1중간신호(
Figure pat00084
)에 대한 광 간섭 이미지이고, 도 7의 (b)는 보정계수가 적용된 제2중간신호(
Figure pat00085
)에 대한 광 간섭 이미지이고, 도 7의 (c)는 해당 제1 및 제2중간신호를 토대로 재구성한 단층 이미지이다. 도면을 참조하면, 보정계수를 상수 G에 곱해준 결과, 도 7의 (a), (b)의 밝기가 비슷해진 것을 확인할 수 있고, 이를 이용해 단층 이미지를 재구성한 결과, 도 7의 (c)와 같이 잔여 간섭무늬가 제거된 것을 확인할 수 있다.
한편, 도 8에는 본 발명에 따라 획득한 해당 측정대상체(10)에 대한 3차원 이미지가 게시되어 있다. 여기서, 측정대상체(10)에 대해 깊이방향으로 1㎛ 간격으로 스캔하여 50장의 en face 이미지를 획득하였고, 해당 이미지를 토대로 단층 이미지를 재구성하였다. 도 8의 (a)는 종래의 방식으로 재구성한 3차원 단층 이미지이고, 도 8의 (c)는 도 8 (a)의 빨간색으로 표시된 영역에 대한 확대도이다. 또한, 도 8의 (b)는 본 발명에 따라 재구성한 3차원 단층 이미지이고, 도 8의 (d)는 도 8 (b)의 빨간색으로 표시된 영역에 대한 확대도이다. 도면을 참조하면, 본 발명에 따라 보정계수를 적용한 결과, 단층 이미지에서 잔여 간섭무늬가 제거된 결과를 얻을 수 있음을 알 수 있다.
상술된 바와 같이 본 발명에 따른 전역광학 단층 영상 획득 시스템(100) 및 이를 이용한 전역광학 단층 영상 획득 방법은 측정대상체(10)에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 적용하므로 하드웨어 제어의 불안정성과 신호의 손실없이 잔여 간섭무늬를 효과적으로 줄일 수 있다는 장점이 있다.
제시된 실시예들에 대한 설명은 임의의 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 이용하거나 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이러한 실시예들에 대한 다양한 변형들은 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자에게 명백할 것이며, 여기에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 그리하여, 본 발명은 여기에 제시된 실시예들로 한정되는 것이 아니라, 여기에 제시된 원리들 및 신규한 특징들과 일관되는 최광의의 범위에서 해석되어야 할 것이다.
10: 측정대상체
100: 전역광학 단층 영상 획득 시스템
200: 신호생성부
205: 샘플단
210: 광원
220: 광분배기
230: 세팅 스테이지
240: 윈도우 글라스
250: 제2대물렌즈
260: 광검출기
270: 참조단
271: 기준거울
272: 뉴트럴 필터
273: 거울 스테이지
274: 제1대물렌즈
280: 가동거울
300: 보정계수 산출부
400: 영상처리부

Claims (20)

  1. 광원으로부터 출사된 광을 측정대상체 및 참조단의 기준거울에 각각 조사하고, 상기 측정대상체 및 참조단의 기준거울로부터 반사되는 광을 통해 광간섭신호를 생성하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 생성하는 신호생성부;
    상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호를 토대로 해당 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부; 및
    상기 신호생성부에서 제공된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리부;를 구비하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 보정계수 산출부는 상기 신호생성부에서 생성된 상기 광간섭신호들을 토대로 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 생성한 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 기준각도는 90°인,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 보정계수 산출부는 상기 신호생성부에서 생성된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 신호생성부는 소정의 천이각도만큼 위상 천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 생성하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 천이각도는 90°인,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서,
    상기 보정계수 산출부는 상기 신호생성부에서 제공되는 광간섭신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하는,
    [수학식]
    Figure pat00086

    Figure pat00087

    여기서, 상기
    Figure pat00088
    는 상기 제1중간신호이고, 상기
    Figure pat00089
    는 상기 제2중간신호이고, 상기 A는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 진폭이고, 상기
    Figure pat00090
    는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 위상이고, 상기
    Figure pat00091
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
    Figure pat00092
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00093
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
    Figure pat00094
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00095
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
    Figure pat00096
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00097
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
    Figure pat00098
    가 곱해진 계수인,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  8. 제2항에 있어서,
    상기 보정계수 산출부는 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  9. 제2항에 있어서,
    상기 보정계수 산출부는 상기 제1 및 제2중간신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 보정계수를 산출하는,
    [수학식]
    Figure pat00099

    여기서, 상기
    Figure pat00100
    는 상기 보정계수이고, 상기
    Figure pat00101
    는 상기 제1중간신호이고, 상기
    Figure pat00102
    는 상기 제2중간신호이고, 상기
    Figure pat00103
    는 상기 제1중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이고, 상기
    Figure pat00104
    는 상기 제2중간신호의 제곱값에 대한 면적평균인,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  10. 제2항에 있어서,
    상기 영상처리부는 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성하는,
    전역광학 단층 영상 획득 시스템.
  11. 광원으로부터 출사된 광을 측정대상체 및 참조단에 각각 조사하고, 상기 측정대상체 및 참조단로부터 반사되는 광을 통해 생성된 광간섭신호를 획득하는 것으로서, 위상이 상호 상이한 다수의 광간섭신호를 획득하는 신호 획득단계;
    상기 광간섭신호들을 토대로 해당 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성시 발생하는 잔여 간섭무늬를 줄일 수 있도록 상기 광간섭신호를 보정하기 위한 보정계수를 산출하는 보정계수 산출단계; 및
    상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호에 상기 보정계수를 적용하여 상기 측정대상체에 대한 단층 이미지를 생성하는 영상처리단계;를 포함하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 보정계수 산출단계에선, 상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호들을 토대로 소정의 기준각도의 위상 차이를 갖는 제1 및 제2중간신호를 생성하고, 상기 제1 및 제2중간신호를 이용하여 상기 보정계수를 산출하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 기준각도는 90°인,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 신호 획득단계에서 획득된 상기 광간섭신호들을 선형 조합하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 신호 획득단계에서는, 소정의 천이각도만큼 위상 천이를 연속적으로 진행하여 상기 광간섭신호들을 순차적으로 획득하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 천이각도는 90°인,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  17. 제15항 또는 제16항에 있어서,
    상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 신호 획득단계에서 획득된 광간섭신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 제1 및 제2중간신호를 생성하는,
    [수학식]
    Figure pat00105

    Figure pat00106

    여기서, 상기
    Figure pat00107
    는 상기 제1중간신호이고, 상기
    Figure pat00108
    는 상기 제2중간신호이고, 상기 A는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 진폭이고, 상기
    Figure pat00109
    는 최종적으로 얻고자하는 광 간섭 이미지에 대응되는 광간섭신호의 위상이고, 상기
    Figure pat00110
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
    Figure pat00111
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00112
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
    Figure pat00113
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00114
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 최초 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 최초 광간섭신호에
    Figure pat00115
    가 곱해진 계수이고, 상기
    Figure pat00116
    는 상기 신호생성부에서 생성된 광간섭신호들 중 두번째 광간섭신호에 대한 변조 매개변수 진폭(B)과 위상(θ)의 제1종의 베셀 함수 값으로서, 상기 두번째 광간섭신호에
    Figure pat00117
    가 곱해진 계수인,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  18. 제12항에 있어서,
    상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 제1 및 제2중간신호를 각각 제곱한 다음, 평균을 계산하여 상기 보정계수를 산출하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  19. 제12항에 있어서,
    상기 보정계수 산출단계에서는, 상기 제1 및 제2중간신호를 하기의 수학식에 대입하여 상기 보정계수를 산출하는,
    [수학식]
    Figure pat00118

    여기서, 상기
    Figure pat00119
    는 상기 보정계수이고, 상기
    Figure pat00120
    는 상기 제1중간신호이고, 상기
    Figure pat00121
    는 상기 제2중간신호이고, 상기
    Figure pat00122
    는 상기 제1중간신호의 제곱값에 대한 면적평균이고, 상기
    Figure pat00123
    는 상기 제2중간신호의 제곱값에 대한 면적평균인,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
  20. 제12항에 있어서,
    상기 영상처리단계에서는, 상기 제2중간신호에 상기 보정계수를 곱한 신호 값과, 상기 제1중간신호를 이용하여 상기 단층 이미지를 생성하는,
    전역광학 단층 영상 획득 방법.
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