JP4286530B2 - 表示装置の製造方法及びその製造装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置、有機EL表示装置、CRTなどの表示装置におけるE−EDID情報を書き込むための製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ビデオ関連技術の標準化を進め、グラフィックス環境の標準の策定とサポートを行う、ビデオエレクトロニクス規格制定委員会(Video Electronics Standards Association; VESA)が存在する。
【0003】
このVESAが、コンピュータ・ディスプレイに関する4つの標準仕様を2000年2月1日に新たに明らかにしている。
【0004】
第1の標準仕様は、Enhanced Extended Identification Data(E-EDID)である。このE−EDIDは、ディスプレイの機能やIDをホスト・コンピュータに伝えるためのデータ・フォーマットを規定するものであり、データは128バイトから構成されている。
【0005】
第2の標準仕様は、Enhanced Display Data Channel(E-DDC)であり、このE−DDCは、ディスプレイとホスト・コンピュータ間の通信チャネルを定める仕様であり、データは双方向でやりとりする。そして、コンフィギュレーションの設定や制御を、このチャネルを使って行うものであり、大きなデータ量が扱えるように、既存のDDCを拡張したものである。
【0006】
第3の標準仕様は、VESA Generalized Timing Formula(GTF)であり、このGTFは、ディスプレイのタイミングを生成する方式に関して定められたものであり、ディスプレイのリフレッシュレートを固定したり、予め設定する必要が無くなるものである。
【0007】
第4の標準仕様は、Video Signal Standard(VSIS)であり、このVSISは、アナログビデオ信号を標準化するものであり、ディスプレイやグラフィックスカードの進展に対応したものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
最近、上記で説明したE−EDID情報を液晶表示装置に書き込んで販売するメーカが現れてきている。その理由は、このE−EDID情報を書き込むことにより、その液晶表示装置の履歴が判別することができるためである。
【0009】
そして、このE−EDID情報を液晶表示装置に記憶させるために、液晶表示装置の駆動回路にROM ICを設けている。
【0010】
この記憶させる方法としては、液晶表示装置が完成して、画像検査が合格となった製品に対し、このE−EDID情報を書き込んでいる。
【0011】
しかしながら、このE−EDID情報を書き込むためには、改めて書き込み装置を接続して、かつ、その液晶表示装置の種類などを改めて入力する工程が増えることとなり、作業工程が増加するという問題点がある。
【0012】
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、表示装置に製造履歴データを書き込む場合に作業工程を増加させることなく、書き込めることができる表示装置の製造方法を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明は、液晶表示装置、有機EL表示装置、CRTなどの表示装置に設けられた記録媒体へ製造番号、製造年週及び表示装置の仕様データを含む製造履歴データを書き込むための表示装置の製造方法において、前記表示装置の画像検査を行うために、画像検査装置に記憶された前記表示装置に適応した画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、前記表示装置の製造番号を読み込む製造番号読み込み工程と、前記選択した画像テストデータに対応した表示装置に関する製造履歴データの内、前記仕様データを前記画像検査装置から呼び出し、この呼び出した仕様データと、前記読み込んだ製造番号と、前記画像検査装置のタイマが計測している現在の製造年週とを製造履歴データとして前記記録媒体に書き込む製造履歴データ書き込み工程と、前記選択した画像テストデータによって前記表示装置の画像検査を前記画像検査装置によって行う画像検査工程と、を有することを特徴とする表示装置の製造方法である。
【0014】
請求項2の発明は、前記選択した画像テストデータに対応した表示装置の種類が、製造履歴データを書き込む種類の場合には前記読み込み工程を行い、製造履歴データを書き込まない種類の場合には、前記画像検査工程を行うことを特徴とする請求項1記載の表示装置の製造方法である。
【0015】
請求項3の発明は、製造履歴データが前記記録媒体に既に書き込まれている場合には、前記記録媒体に記録されている製造履歴データを読み出す製造履歴データ読み出し工程と、前記読み出した製造履歴データが正常か異常かを判別する判別工程と、前記製造履歴データが正常の場合には、前記画像検査装置が計測している現在の製造年週を前記読み出した製造履歴データに上書きして前記画像検査工程と行い、前記製造履歴データが異常の場合には、前記製造履歴データ書き込み工程を行うことを特徴とする請求項1記載の表示装置の製造方法である。
【0016】
請求項4の発明は、 表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する前記表示サイズデータが蓄積された第1のメモリ部と、前記製造番号を記憶する第2のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第1のメモリ部及び第2のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備することを特徴とする表示装置の製造装置である。
【0017】
本発明においては、製造履歴データの書き込みと画像検査を共通の画像検査装置を用いた一連のステップとして処理できるため、生産効率を飛躍的に向上させることができる。
【0018】
本発明において、製造履歴データは表示装置の製造番号データ、製造年週データ及び当該表示装置の品種を識別する仕様データを含む。製造番号データは、本発明の製造工程に先立ってバーコードシール等の形式により表示装置に付与されたシリアルナンバーである。但しこれに限らず表示装置のROM−ICにシリアルナンバーを記憶させておく手法を用いてもよい。
製造年週データは西暦の製造年データと製造週データ(1〜53週、閏年は54週)により構成され、本発明の製造履歴データ書き込み工程の時点で検査装置のタイマが計測している年週データが表示装置の記憶媒体に書き込まれる。
また仕様データは、表示装置の画面の縦横サイズのデータ、各種推奨タイミング(水平表示期間、水平ブランキング、垂直表示期間、垂直ブランキング等)のデータ等、種々の仕様データの中から当該表示装置の品種(表示装置メーカ−が管理する表示装置の型番)を識別可能なデータの組合せにより構成される。この仕様データの組合せは、ユーザーからの要求に応じて変更可能であるが、E−EDID仕様等規格化された機種コードに準拠することが好ましい。尚このE−EDID仕様は先に述べた通り一般に入手可能である。
【0019】
また画像テストデータは、表示装置を駆動する各種タイミング信号、画像データ等で構成され、画面サイズや動作タイミング、駆動電圧等の異なる品種の各々に対応する複数種類のテストデータが検査装置に内蔵されるハードディスク等ドライブ等の第1のメモリ部に蓄積されている。検査装置のオペレータは検査対象の表示装置の品種(型番)を表示装置に貼り付けられたシール等で確認し、検査装置のモニタに表示されたテストデータのファイル名(型番と同じ形式のファイル名として表示される)の中から検査対象の型番と一致するファイル名を選択する。
【0020】
このテストデータのファイル名が選択されると、同じく検査装置に内蔵されるハードディスクドライブ等の第1のメモリ部に蓄積されている仕様データの中から、当該選択されたテストデータのファイル名と一致するファイル名(即ち検査対象の表示装置の型番と一致するファイル名)の仕様データが自動的に選択されるようプログラミングされている。この選択された仕様データは、製造履歴書き込み工程において、既に検査装置に内蔵されるRAM(ランダムアクセスメモリ)等の記憶装置により構成される第2のメモリ部に取り込まれている製造番号データ及びタイマが計測する年週データと合せてインタフェース部に送出され、表示装置の記憶媒体に取り込まれる。尚テストデータと仕様データは、それぞれ検査装置に内蔵される別個のハードディスク装置に蓄積されるようにしてもよい。
【0021】
そして画像検査工程においては、選択されたテストデータによって表示装置が駆動され、その点灯状態を目視あるいはカメラ等を用いて観察することにより、表示欠陥の有無が検査される。テストデータに含まれる画像データは、検査に用いる画像パターン(全面点灯、市松模様表示等)の種類や表示の順番に応じて、任意の画像データとすることができる。また検査装置システムを構成する個々のハードウェア自体(制御装置、記憶装置、インタフェース部)は、それぞれ当業者に周知の構成を用いることができ、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の構成をとることができる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施例の画像検査装置10を用いて、液晶表示装置12の画像検査及び製造履歴データを書き込む工程について、図1から図5に基づいて説明する。尚本実施例においては、E−EDID仕様に準拠して製造履歴データを構成する。
【0023】
(1)液晶表示装置12の構成
図1は、画像検査装置10及び液晶表示装置12の関係を示すブロック図である。
【0024】
本実施例において、検査対象の表示装置12は周知のTFT液晶モジュールにより構成される。即ち図1に示すように、TFTアレイを含む2枚のガラス基板の間に液晶を封入した液晶セル13の裏面側に設けられている駆動回路基板14には、TFTアレイを駆動する走査線駆動回路及び信号線駆動回路により構成される周辺駆動回路ICに向けて外部から入力される画像データやその他のクロック信号などの制御信号を配分する図示しないコントローラICが搭載され、さらにE−EDID情報を記憶するためのROM18も搭載されている。そしてコントローラIC外部からの制御信号を入力し、ROM18にE−EDID情報を入力するための複数の端子を有するコネクタ16が設けられている。さらに液晶表示装置の裏面側にはこの液晶表示装置12の製造番号を表すバーコードシール20が貼り付けられている。
【0025】
(2)画像検査装置10の構成
画像検査装置10は、液晶表示装置12へ画像検査を行なうための画像データを含むテストデータを出力しまた、画像検査に先立ち、E−EDID情報の書き込み、読み出し、これらの確認を行なう機能を有し、E−EDID情報の処理と連続して画像検査を行うものである。画像検査装置10は、コンピュータを主体に構成され、具体的には、制御装置であるCPU25と、現在の年月日及び時刻及び週を計測するタイマ22とを有している。
【0026】
また、各種類の液晶表示装置12に対応した画像検査を行うためのテストデータがハードディスクより構成される第1のハードディスクドライブ26に記憶され、また、このテストデータに1対1に対応したE−EDID情報が第2のハードディスクドライブ28に記録されている。このE−EDID情報は、所定の形式(例えば、エクセル(登録商標))のファイル形式で記録されている。
また画像検査装置は、液晶表示装置12のコネクタ16に接続されるコネクタケーブルに向けて記憶部に蓄積された検査用の各種データやE−EDID情報を出力するための図示しないインタフェース部が設けられている。このインタフェース部は、コンピュータのハードウェア構成として周知のものを用いることができる。
【0027】
そして、テストデータを選択すると、その選択されたテストデータに対応するE−EDID情報が呼び出されてくる。また、各テストデータには、E−EDID情報を必要としている種類か、必要としていない種類かを判別するためのE−EDIDフラッグが設けられている。このE−EDIDフラッグがONの場合には、第2のハードディスクドライブ28からE−EDID情報を呼び出してくる。
これは、ユーザーによってE−EDID情報を表示装置に記憶させる要求がある場合と無い場合があり、双方に対処するためテストデータを入力した時点でE−EDIDの書き込みが必要か不要かを確定させるためである。従ってフラッグがOFFの表示装置には、後述するようにE−EDID情報の書き込みは行われず直接検査工程を実施することにより、工程を短縮し生産効率を向上させることができる。
【0028】
さらに、検査員が操作するためのオペレーションBOX24が接続され、また、バーコードリーダ30が接続されている。オペレーションBOX24には、液晶ディスプレイを用いたタッチパネルが設置されており、表示装置の型番(例:△××××(△はアルファベット、×は0〜9までの整数))と同じ形式で表示されるテストデータ名の中から、検査対象となる表示装置の型番と一致する名前のファイルを選択する。
【0029】
(3)E−EDID情報の内容
次に、E−EDID仕様で定められている製造履歴データについて図4乃至図7に基づいて説明する。
【0030】
E−EDID情報は、アドレスが00から127までの128バイトのデータから構成され、各アドレスにその液晶表示装置12に関する製造履歴データが記録されている。
【0031】
例えば、アドレス16には、製造週が記録され、アドレス17には製造年が記録され、アドレス21及びアドレス22には、最大水平表示サイズと最大垂直表示サイズが記録されている。アドレス127には、アドレス00から126にある全てのデータを加算してなるCheck Sumが記録されている。
【0032】
このCheck Sumは、このE−EDID情報が正常か異常かを判断するためのものであり、E−EDID仕様として規格化されたものである。アドレス00から126にある全てのデータを加算してなるCheck Sumデータの下2桁が00であれば正常であり、00以外の数字であれば異常であることを示している。
【0033】
(4)画像検査及びE−EDID情報を書き込む工程
以下、図2及び図3のフローチャートに基づいて、液晶表示装置12において画像検査及びE−EDID情報を書き込む工程について説明する。
【0034】
この工程は、液晶表示装置12の最終工程に位置するものであり、液晶表示装置12は全て組み立てられた状態で行う工程である。最初に、液晶表示装置12のコネクタ16に検査装置10のコネクタケーブルを接続する。
【0035】
まず画像検査に先立ち、E−EDID情報の確認を行う。
【0036】
ステップ1において、対象となる液晶表示装置12にE−EDID情報を変更してよいか否かを判断する。すなわち、液晶表示装置12にE−EDID情報が書き込まれていない場合には新しくE−EDID情報を書き込むこととなり、既にE−EDID情報が書き込まれている場合には上書きしてE−EDID情報を書き込んでよいか否かを判断する。E−EDID情報が既に書き込まれている状態としては、画像検査工程を一度行って不合格となり調整されて再び画像検査を行う場合の液晶表示装置12が該当する。
【0037】
そして、E−EDID情報を変更してよい場合はステップ2に進み、変更が禁止される場合にはステップ3に進む。
【0038】
ステップ2において、E−EDID情報を変更してよいため、液晶表示装置12の種類に応じた画像検査をするためのテストデータを選択しステップ4に進む。
【0039】
ステップ3においては、E−EDID情報の変更が禁止されているため、その液晶表示装置12に関してユーティリティーメニューでリードチェックモード(READCHKモード)に設定する。このリードチェックモードとは、既に書き込まれているE−EDID情報が正常か異常かを判断するためのモードであり、この後のステップで行うものである。
【0040】
ステップ4において、画像検査装置10から呼び出された画像検査に関するテストデータにおいてE−EDIDフラッグがONかOFFかを判断する。すなわち、E−EDIDフラッグがOFFのときはE−EDID情報を書き込むことなく検査工程を行う。一方、E−EDIDフラッグがONになっている場合にはステップ5に進む。
【0041】
ステップ5において、テストデータに対応したE−EDID情報が第2のハードディスクドライブ28にあるか否かを判断する。このE−EDID情報は、テストデータと同じく表示装置の型番(例:△××××(△はアルファベット、×は0〜9までの整数))と同じ形式のファイル名で保存されており、テストデータとE−EDID情報とは互いに異なる識別子(.edi等)により識別される。検査装置は、テストデータのファイル名と一致するファイル名のE−EDID情報を検索するようプログラミングされている。そして、第2のハードディスクドライブ28にE−EDID情報が記憶されていなければオペレーションBOX24においてエラー表示を行い終了する。E−EDID情報がある場合にはステップ6に進む。
【0042】
ステップ6において、画像検査装置10の第1のハードディスクドライブ26からテストデータを読み込み、画像検査の準備を行う。そして、バーコードリーダ30によって製造番号が読み込めるようにする。
【0043】
ステップ7において、バーコードリーダ30によって、液晶表示装置10の裏面側にあるバーコード20を読取、製造番号を画像検査装置10に入力し、この画像検査装置10に内蔵されたRAM等の記憶装置により構成される第2の記憶部(不図示)に記憶させる。
【0044】
ステップ8において、読み込んだ製造番号の下5桁が数字であるか否かを判断し数字でなければステップ6に戻り、製造番号の読み取りを再度指示する。この判断を行うのは、液晶表示装置10の裏面側には、製造番号以外の情報を入力したバーコードが複数貼り付けられているため、誤ってその他の情報を入力した場合には、再度読み込みを指示するためのものである。製造番号である下5桁が数字である場合にはステップ9に進む。
【0045】
ステップ9において、過去1日以内に読んだ製造番号であるか否かを判断する。同じ製造番号である場合には、ステップ10に進む。そして、異なる製造番号の場合にはステップ12に進む。
【0046】
ステップ10においては、過去1日以内に読んだ製造番号と同じであるため、オペレーションBOX24のランプを点滅させて検査員に注意を促し、ステップ11において検査員がそれを了承した場合にはオペレーションBOX24のカーソルキーが押されステップ12に進み,カーソルキーが押されない場合にはステップ6に戻って再度製造番号を読み込む工程を行う。
【0047】
ステップ12において、画像検査を開始するためのオペレーションBOX24のテスト開始キーが入力される。
【0048】
ステップ13において、リードチェックモードであるか否かを判断する。リードチェックモードであれば、液晶表示装置12のROM18に書き込まれているE−EDID情報が正常であるか否かを判断する必要があるため,ステップ14に進み,リードチェックモードでなければステップ16に進む。
【0049】
ステップ14において、液晶表示装置12のROM18から書き込まれているE−EDID情報を読み込み、ステップ15においてその読み込んだE−EDID情報のCheck Sumが0であるか(すなわち正常であるか)否かを判断する。製造であれば、ステップ19に進む。また異常であればもう一度E−EDID情報を書き込む必要があるためステップ16に進む。
【0050】
ステップ16において、E−EDID情報を検査装置のインタフェース部から送出し、液晶表示装置12のROM18にE−EDID情報を書き込む。この書き込まれるE−EDID情報は、テストデータに対応したE−EDID情報であって、製造番号は、バーコードリーダ30から読み込んだ製造番号を書き込み、製造年週は、画像検査装置10のタイマ22が計測している現在の年週をリアルタイムに書き込む。
【0051】
ステップ17において、画像検査装置10は書き込んだE−EDID情報を再び読み取り、ステップ18で、その読み込んだE−EDID情報が正常かまたは異常であるかを検査する。そのために読み出したCheck Sumが書き込んだCheck Sumと等しいか否か、または、Check Sumが0であるか否かを判断する。Check Sumが等しい時または0である時は正常にE−EDID情報が書き込まれたと判断してステップ19に進む。それ以外であれば、エラー表示をして検査を終了する。
【0052】
ステップ19においては、オペレーションBOX24に今読み取ったE−EDID情報における製造年週を表示し、ステップ20において通常の画像検査を行う。即ち、テストデータ選択ステップ2で選択されたテストデータを検査装置のインタフェース部から液晶表示装置12に送出し、液晶表示装置を点灯させて表示欠陥の有無を目視やカメラを用いて確認する。
【0053】
こうして、E−EDID情報の書き込みと画像検査とを同一装置を用いて連続して行うため,作業工程を簡略化することができる。
【0054】
また、E−EDID情報を書き込み、正常に書き込まれていることが確認されないと次のステップに進むことができないようになっているため、E−EDID情報の書き込み忘れ防止機能、チェック機能をプログラム制御により付与することができた。
【0055】
また、製造番号をバーコードリーダ30で入力してからE−EDID情報を書き込み、また確認機能があるため、誤った製造番号等が入力されることがない。
【0056】
さらに、E−EDID情報の上書きが禁止された液晶表示装置12であっても、リードチェックモードにおいて書き込まれているE−EDID情報が正常か異常かを判断することができる。
【0057】
上記実施例では、液晶表示装置において説明したが、これに代えて有機EL表示装置やブラウン管のCRTの表示装置であっても、同様に画像検査工程と連続してE−EDID情報を書き込むことができる。
また画像検査装置を構成する各種ハードウェアは、コンピュータシステムとして周知のものを用いることができ、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば第1のメモリ部と第2のメモリ部とを単一のハードディスクドライブ装置で構成してもよい。またハードディスクドライブ装置とRAM等機能の異なる記憶装置を適宜組み合わせて用いることもできる。
【0058】
【発明の効果】
以上により、本発明によれば表示装置に画像検査と連続してE−EDID情報を書き込むことができ、作業工程を簡略化することができると共に、その書き込み工程においてミスを制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す画像検査装置と液晶表示装置のブロック図である。
【図2】画像検査及び書き込み工程の第1のフローチャートである。
【図3】同じく第2のフローチャートである。
【図4】E−EDID情報の表を示す図である。
【図5】図4の表の続きの図である。
【図6】図5の表の続きの図である。
【図7】図6の表の続きの図である。
【符号の説明】
10 画像検査装置
12 液晶表示装置
14 駆動回路基板
16 コネクタ
18 ROM
20 バーコード
22 タイマ
24 オペレーションBOX
26 第1のハードディスクドライブ
28 第2のハードディスクドライブ
30 バーコードリーダ
Claims (4)
- 表示装置に設けられた記録媒体へ当該表示装置の製造番号データ、製造年週データ及び当該表示装置の品種を識別する仕様データを含む製造履歴データを書き込むための表示装置の製造方法において、
表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する前記仕様データが蓄積された第1のメモリ部と、前記製造番号を記憶する第2のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第1のメモリ部及び第2のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備する画像検査装置に前記表示装置を接続する工程と、
前記第1のメモリ部に蓄積された前記複数の画像テストデータの中から前記表示装置に適応した画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、
前記表示装置に付与された製造番号データを前記画像検査装置に入力し前記第2のメモリ部に記憶させる製造番号データ読み込み工程と、
前記第1のメモリ部に蓄積された前記仕様データのうち、前記テストデータ選択工程で選択された画像テストデータに対応する前記仕様データと、前記製造番号データ読み込み工程で前記第2のメモリ部に記憶された前記製造番号と、前記タイマが計測している現在の年週データとを前記インタフェース部を介して前記記録媒体に書き込む製造履歴データ書き込み工程と、
前記製造履歴データ書き込み工程に引き続き、前記テストデータ選択工程で選択された前記画像テストデータを前記インタフェース部を介して前記表示装置に送出し、前記表示装置の点灯検査を行う画像検査工程と、
を有することを特徴とする表示装置の製造方法。 - 前記画像テストデータは前記製造履歴データの要否判別データを含み、前記テストデータ選択工程で選択された画像テストデータの要否判別データが製造履歴データ不要を示すデータである場合は、前記製造番号データ読み込み工程及び製造履歴データ書き込み工程を省略することを特徴とする請求項1記載の表示装置の製造方法。
- 前記テストデータ選択工程の前に前記記録媒体上の前記製造履歴データの有無を検出する検出工程と、
前記検出工程で検出された製造履歴データを読み出し前記第2のメモリ部に記憶させる製造履歴データ読み出し工程と、
前記第2のメモリ部に記憶された製造履歴データに含まれる各仕様データを合計した合計値により当該製造履歴データの良否を判定する判定工程と、
前記製造履歴データが異常と判断された場合は引き続き前記書き込み工程を行い、前記製造履歴データが正常と判断された場合は前記書き込み工程と代替して当該表示装置の記憶媒体に前記タイマが計測している現在の製造年週を上書きすることを特徴とする請求項1記載の表示装置の製造方法。 - 表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する表示サイズデータが蓄積された第1のメモリ部と、当該表示装置の製造番号を記憶する第2のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第1のメモリ部及び第2のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備することを特徴とする表示装置の製造装置。
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