JP4285632B2 - 巨大磁気抵抗およびスピン分極トンネルを有する化合物、その製造および使用方法 - Google Patents
巨大磁気抵抗およびスピン分極トンネルを有する化合物、その製造および使用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4285632B2 JP4285632B2 JP2002568388A JP2002568388A JP4285632B2 JP 4285632 B2 JP4285632 B2 JP 4285632B2 JP 2002568388 A JP2002568388 A JP 2002568388A JP 2002568388 A JP2002568388 A JP 2002568388A JP 4285632 B2 JP4285632 B2 JP 4285632B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- compound
- effect
- spin
- magnetic field
- compounds
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G1/00—Methods of preparing compounds of metals not covered by subclasses C01B, C01C, C01D, or C01F, in general
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F1/00—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties
- H01F1/01—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials
- H01F1/40—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials of magnetic semiconductor materials, e.g. CdCr2S4
- H01F1/408—Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials of magnetic semiconductor materials, e.g. CdCr2S4 half-metallic, i.e. having only one electronic spin direction at the Fermi level, e.g. CrO2, Heusler alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
- H10N50/85—Magnetic active materials
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Hard Magnetic Materials (AREA)
Description
磁気電子回路は、磁気抵抗効果およびスピン分極電子を使用する、または将来これらを使用する電子構成部材を含む電子回路の新しい分野である。その磁気抵抗特性により、このような化合物は、とりわけ、磁界センサとして使用することができる。関連する「磁気抵抗特性」は、外部磁界による電気抵抗(磁気抵抗)の変化である。室温で起こるスピン分極トンネルにより、このような化合物は、また、磁気ランダム・アクセス・メモリ(MRAM)およびスピン・トランジスタを製造する際に、基本的な形成ブロックとして使用することもできる。「スピン分極トンネル」は、トンネルの確率がそのスピン分極に依存する電子のトンネル(ポテンシャル障壁の量子力学的透過)と定義される。
− GMR効果を持つ多層システムの有利な特性、すなわち、
・高い磁界感度
・読出しヘッドの動作温度での大きな効果
・広い温度範囲における安定した効果
− CMR効果を持つ化合物の有利な特性、すなわち、
・絶縁材料および高いスピン分極を示す金属材料からなるバルク材料または複合材料で極度に大きい効果。この効果はGMR効果の場合のように、介在フィルムの厚さに大きく依存してはならない。
・スピン電子回路で使用する場合、室温にできるだけ近い温度での高いスピン分極
− 下記のものからなるそのバンド構造の3要因「スペクトル」
・鞍点
・スピン密度波
・局所的磁気モーメント
− 下記のものを含む半金属の強磁性体であること。
− 可変価電子濃度
− 高度に対称的な構造
− キュリー温度>500K
・高い磁界反応性
・読出しヘッドの動作温度での大きな効果
・広い温度範囲での効果の安定性
・バルク材料または複合材料での極度に大きな効果。この場合、効果はGMR効果の場合のように、介在フィルムの厚さに大きく依存してはならない。
・スピン電子回路へ適用する場合には、室温近い温度での大きなスピン分極
a)2つまたはそれ以上の真の金属(T1およびT2)
b)1つまたはそれ以上の真の金属、およびBサブグループの1つまたはそれ以上の真の金属
c)Bサブグループの2つまたはそれ以上の金属
この場合、クラス1からクラス3へ遷移すると、その特性は金属的な性格が少なくなり、真の化合物の性格にますます似てくる。Bサブグループの真の金属および化学元素への分類は、(1976年)ベルリンおよびニューヨークのWalter de Gruyter Verlag発行のR.C.Evansの、「Einführung in die Kristallchemie」の276ページの表13.1に基づいて行った。
− 大きな負の磁気抵抗(MR0が10%を超える、好適には、20%を超える、特に好適には、80%を超える(磁界が存在しない場合のその抵抗の最大80%、またはその飽和磁化の最大700%))。それ故、この負の磁気抵抗は、GMRシステムに対するものよりも遥かに大きい。
・室温を超える温度において(好適には、読出しヘッドの通常の動作温度範囲、すなわち、約25℃〜55℃において)、
− 100℃を超える、好適には、200℃を超える、特に好適には、400℃を超える幅を持つ広い温度範囲にわたる大きな磁気抵抗効果
− (0.1T当り10%を超える、好適には、0.1T当り20%を超える、特に好適には、0.1T当り70%を超える)大きな磁界感度
− 室温における(0.1T当り5%を超える、好適には、0.1T当り20%を超える、特に好適には、0.1T当り50%を超える)PMR効果
− (50℃までの、好適には、80℃までの、特に好適には、100℃までの)熱分解に対する高い抵抗力、および高い化学的安定性(H2O、O2および特に好適には、酸およびアルカリに対する抵抗力)
− シリコン処理技術との互換性
− 磁気電子回路でのその広い適応性を供給するための、フェルミ・エネルギーのところでの(60%を超える、好適には、70%を超える、特に好適には、90%を超える)高いスピン分極
関連する化合物をその化学量論により関連する化学元素から合成した。測定した量を圧力によりペレットに形成し、アーク溶接機により不活性ガスの雰囲気内で約30秒間溶融した。サンプルを均質化するために、このプロセスを数回反復することが好ましい。結果として得られる重量の損失は、通常、5%未満であった。短時間高温でサンプルを焼き戻すと有利であることが分かっている。5日間、真空中で800℃で焼き戻した石英アンプル(quartz ampoule)のサンプルの効果は低減していた。しかし、その結晶性構造のそのX線回折パターンは変化していなかった。外部磁界の存在する状態で、また外部磁界が存在しない状態で、電気抵抗を測定してその磁気抵抗特性を調査した。サンプルの電気抵抗のこれらの測定は、4点法により、オックスフォード・インストルメンツ社のヘリウム低温槽内で行い、300K〜4Kの温度範囲をカバーした。磁界0と磁界8Tに対してR(T)曲線を記録した。−8Tから+8Tの範囲の磁界を掛けて、選択した温度において、その電気抵抗のB磁界依存性を測定した。乳鉢により溶融した球状サンプルをすりつぶし、その電気抵抗の行動を調査する前に、5メートルトンの力を加えて、厚さ約1mm、直径8mmのペレット内に圧入した。
全重量2グラムのこの化合物を、その化学量論比により、関連化学元素、(Karlsruhe所在のAlfa Metal社の99.8%純度のコバルト、同じくKarlsruhe所在のAlfa Metal社の99.8%純度のクロム、Karlsruhe所在のChempur社の99.99%純度のアルミニウム、およびKarlsruhe所在のAlfa Metal社の99.9%純度の鉄)から合成した。計量した量からペレットを作り、65Aの電流および20Vの電圧で、アーク溶接機により700ミリバールのアルゴン雰囲気内で約30秒間溶融した。サンプルを均質化するために、このプロセスを3回反復して行った。関連重量損失は2%未満であった。製品の純度を、シーメンス社のD5000X線粉末回折計により、Cu−Kα照射によりチェックした。Co2Cr0.6Fe0.4Al相(a=0.5724nmで、Co2CrAl構造と立方対称性を有するホイスラー相)は不純物を含んでいなかった。図1は、0Tに対するそのR(T)曲線を示す。外部磁界が存在しない場合のその電気抵抗対温度グラフは、300Kで広い局所的な最大値を示した。温度が低下すると、その電気抵抗は温度が約150Kになるまで減少し、次に、温度がさらに下がると増大した。これは能動的動作である。
例1と同じ方法で化合物Co2Cr0.6Fe0.4Alを作成した。結果として得られた製品を乳鉢で細かく粉砕し、15%のモル分率で、Chempur社の99.9%純度のAl2O3と混合し均質にした。次に、この混合物に圧力を加えてペレットにした。
Claims (16)
- 面心立方格子型のホイスラー化合物とドーパントとを含む組成を有し、組成式における各化学元素の最後の閉じた不活性ガス殻の外側の軌道内の電子数に各化学元素の組成を乗じた数の合計(価電子濃度)が、前記組成式単位あたり5.5±0.5、6.95±0.5、又は7.13±0.5である化合物。
- 前記価電子濃度が6.95±0.5である、請求項1記載の化合物。
- フェルミ・エネルギーの近くのバンド構造に鞍点とスピン密度波を有し、該鞍点とスピン密度波とが該フェルミ・エネルギー値±0.5電子ボルトの範囲内に位置する、請求項1または2に記載の化合物。
- CMR効果及び/又はGMR効果が、室温(23℃)およびそれより高い温度で発生する、請求項1〜3のいずれかに記載の化合物。
- 局所的磁気モーメントを有する、請求項1〜4のいずれかに記載の化合物。
- キュリー温度が室温(23℃)を超える、請求項1〜5のいずれかに記載の化合物。
- 化学式Co2Cr0.6Fe0.4Al、Co2Cr0.2Mn0.8Al、Co2Cr0.6Fe0.4Ga、Co2Mn0.8Cr0.2Al、Co2Mn0.8Cr0.2Ga、Co2MnGe0.5Ga0.5、Co2MnSi0.5Al0.5、Co2MnSn0.5In0.5、Co2Mn0.5Cr0.5Si、Co2Mn0.5Fe0.5Al、Co2Mn0.5Fe0.5Ga、Co2Mn0.5Fe0.5In、Fe2CoGe0.5Ga0.5、またはFe2.5Co0.5Gaで表される、請求項1〜6のいずれかに記載の化合物。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の化合物の少なくとも1つ、および少なくとも1つの絶縁材料または半導体材料からなる複合材料。
- 前記絶縁材料または半導体材料が、前記化合物の量に対して、15%またはそれ以上のモル分率で使用される、請求項8に記載の複合材料。
- 前記絶縁材料または半導体材料が、酸化物、フッ化物、ポリマーまたはオリゴマーから選択される少なくとも一種である、請求項8または9に記載の複合材料。
- PMR効果を示し、290Kを超える温度において、0.1T当り10%を超える磁界感度を有する、請求項8〜10のいずれかに記載の複合材料。
- PMR効果が、室温(23℃)およびそれ以上の温度で見られる、請求項11に記載の複合材料。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の化合物を、記憶素子上で使用される読出しヘッドを製造するために使用する方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の化合物を、磁界センサとして使用する方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の化合物を、スピン電子回路で使用する方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の化合物を、TMRデバイスを製造するために使用する方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001108760 DE10108760A1 (de) | 2001-02-23 | 2001-02-23 | Verbindungen mit Riesenmagnetwiderstand (CMR), ihre Herstellung und Verwendung |
DE2001157172 DE10157172A1 (de) | 2001-11-22 | 2001-11-22 | Verbindungen mit Riesenmagnetwiderstand und spinpolarisiertem Tunneln, ihre Herstellung und Verwendung |
PCT/EP2002/001876 WO2002069356A1 (de) | 2001-02-23 | 2002-02-22 | Verbindungen mit riesenmagnetwiderstand und spinpolarisiertem tunneln, ihre herstellung und verwendung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004524689A JP2004524689A (ja) | 2004-08-12 |
JP4285632B2 true JP4285632B2 (ja) | 2009-06-24 |
Family
ID=26008609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002568388A Expired - Lifetime JP4285632B2 (ja) | 2001-02-23 | 2002-02-22 | 巨大磁気抵抗およびスピン分極トンネルを有する化合物、その製造および使用方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7691215B2 (ja) |
EP (1) | EP1382046B1 (ja) |
JP (1) | JP4285632B2 (ja) |
KR (1) | KR100528778B1 (ja) |
CN (1) | CN1295712C (ja) |
AT (1) | ATE532188T1 (ja) |
WO (1) | WO2002069356A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10331580A1 (de) * | 2003-07-11 | 2005-01-27 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur Detektion der Drehzahl und/oder der Position eines rotierenden Bauteils |
WO2005060657A2 (en) * | 2003-12-15 | 2005-07-07 | Yale University | Magnetoelectronic devices based on colossal magnetoresistive thin films |
KR100624417B1 (ko) * | 2004-01-31 | 2006-09-18 | 삼성전자주식회사 | 터널링 자기 저항 소자 |
JP2005228998A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Japan Science & Technology Agency | 磁性薄膜及びそれを用いた磁気抵抗効果素子並びに磁気デバイス |
DE102004062474A1 (de) | 2004-03-23 | 2005-10-13 | Siemens Ag | Vorrichtung zur potenzialfreien Strommessung |
JP2006278386A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
JP2007227748A (ja) | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Alps Electric Co Ltd | 磁気抵抗効果素子 |
WO2007126071A1 (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Japan Science And Technology Agency | 磁性薄膜及びそれを用いた磁気抵抗効果素子並びに磁気デバイス |
US7672088B2 (en) * | 2006-06-21 | 2010-03-02 | Headway Technologies, Inc. | Heusler alloy with insertion layer to reduce the ordering temperature for CPP, TMR, MRAM, and other spintronics applications |
US20080173543A1 (en) * | 2007-01-19 | 2008-07-24 | Heraeus Inc. | Low oxygen content, crack-free heusler and heusler-like alloys & deposition sources & methods of making same |
JP4384196B2 (ja) | 2007-03-26 | 2009-12-16 | 株式会社東芝 | スピンfet、磁気抵抗効果素子及びスピンメモリ |
DE102008026241B4 (de) * | 2008-05-30 | 2016-12-01 | Johannes-Gutenberg-Universität Mainz | Inhomogene Verbindungen mit hohem Magnetwiderstand und Verwendung |
KR101012225B1 (ko) * | 2008-09-05 | 2011-02-08 | 정금희 | 전신 온열 찜질기 |
DE102008046920A1 (de) * | 2008-09-12 | 2010-03-25 | Johannes-Gutenberg-Universität Mainz | Neue Materialien mit hoher Spinpolarisation |
JP5413646B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2014-02-12 | 国立大学法人東北大学 | ホイスラー合金材料、磁気抵抗素子および磁気デバイス |
JP5696990B2 (ja) * | 2011-01-07 | 2015-04-08 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | Co2Fe基ホイスラー合金とこれを用いたスピントロニクス素子 |
CN107004760B (zh) * | 2014-12-18 | 2020-11-03 | 英特尔公司 | 用于从原位沉积的磁性叠层制造自旋逻辑器件的方法 |
JP6866694B2 (ja) * | 2017-03-03 | 2021-04-28 | Tdk株式会社 | 磁気抵抗効果素子 |
WO2019131394A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | アルプスアルパイン株式会社 | トンネル磁気抵抗効果膜ならびにこれを用いた磁気デバイス |
KR102300085B1 (ko) | 2019-02-18 | 2021-09-08 | 충북대학교 산학협력단 | 블록체인을 이용한 의료정보관리 시스템 및 방법 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5780176A (en) * | 1992-10-30 | 1998-07-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element |
US5985356A (en) * | 1994-10-18 | 1999-11-16 | The Regents Of The University Of California | Combinatorial synthesis of novel materials |
JP3629057B2 (ja) | 1995-03-14 | 2005-03-16 | 株式会社東芝 | ホイスラー合金薄膜の製造方法、磁性膜を備えた積層膜、それを利用した磁気抵抗効果素子および固体磁気記録素子 |
JP3556782B2 (ja) | 1996-09-17 | 2004-08-25 | 財団法人電気磁気材料研究所 | 高電気抵抗を有する磁気抵抗膜 |
DE69820524T2 (de) * | 1997-05-09 | 2004-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba, Kawasaki | Magnetisches Element und Magnetkopf oder Speicherelement die dieses Element verwenden |
JP3498200B2 (ja) | 1997-08-06 | 2004-02-16 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック複合部品 |
US6069820A (en) * | 1998-02-20 | 2000-05-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Spin dependent conduction device |
US6225801B1 (en) * | 1999-01-14 | 2001-05-01 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising electronic circuits and devices with magnetically programmable electrical resistance |
JP2001237473A (ja) | 1999-12-14 | 2001-08-31 | Tdk Corp | 複合磁性薄膜 |
JP2001217483A (ja) | 2000-02-04 | 2001-08-10 | Alps Electric Co Ltd | トンネル型磁気抵抗効果型素子及びその製造方法 |
JP2001308414A (ja) | 2000-02-15 | 2001-11-02 | Tdk Corp | 巨大磁気抵抗効果膜 |
US6905780B2 (en) * | 2001-02-01 | 2005-06-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Current-perpendicular-to-plane-type magnetoresistive device, and magnetic head and magnetic recording-reproducing apparatus using the same |
JP2003338644A (ja) | 2001-11-19 | 2003-11-28 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子及びその製造方法 |
JP3607678B2 (ja) | 2002-01-24 | 2005-01-05 | アルプス電気株式会社 | 磁気検出素子 |
JP4487472B2 (ja) * | 2002-07-05 | 2010-06-23 | 株式会社日立製作所 | 磁気抵抗効果素子、及びこれを備える磁気ヘッド、磁気記録装置、磁気メモリ |
JP2005051251A (ja) | 2004-08-20 | 2005-02-24 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子 |
DE102008026241B4 (de) * | 2008-05-30 | 2016-12-01 | Johannes-Gutenberg-Universität Mainz | Inhomogene Verbindungen mit hohem Magnetwiderstand und Verwendung |
-
2002
- 2002-02-22 WO PCT/EP2002/001876 patent/WO2002069356A1/de active IP Right Grant
- 2002-02-22 JP JP2002568388A patent/JP4285632B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-02-22 EP EP02722119A patent/EP1382046B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-02-22 CN CNB028053605A patent/CN1295712C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2002-02-22 US US10/469,098 patent/US7691215B2/en active Active
- 2002-02-22 AT AT02722119T patent/ATE532188T1/de active
- 2002-02-22 KR KR10-2003-7011101A patent/KR100528778B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2010
- 2010-02-19 US US12/709,099 patent/US8277575B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATE532188T1 (de) | 2011-11-15 |
KR100528778B1 (ko) | 2005-11-15 |
CN1295712C (zh) | 2007-01-17 |
EP1382046A1 (de) | 2004-01-21 |
JP2004524689A (ja) | 2004-08-12 |
KR20030091998A (ko) | 2003-12-03 |
US20110084429A1 (en) | 2011-04-14 |
US20040114283A1 (en) | 2004-06-17 |
CN1526146A (zh) | 2004-09-01 |
US7691215B2 (en) | 2010-04-06 |
US8277575B2 (en) | 2012-10-02 |
EP1382046B1 (de) | 2011-11-02 |
WO2002069356A1 (de) | 2002-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4285632B2 (ja) | 巨大磁気抵抗およびスピン分極トンネルを有する化合物、その製造および使用方法 | |
Coey et al. | Half-metallic ferromagnetism: Example of CrO2 | |
US7230265B2 (en) | Spin-polarization devices using rare earth-transition metal alloys | |
Felser et al. | Spintronics: a challenge for materials science and solid‐state chemistry | |
Chambers et al. | New materials for spintronics | |
Akinaga et al. | Material design of half-metallic zinc-blende CrAs and the synthesis by molecular-beam epitaxy | |
Felser et al. | Tetragonal Heusler compounds for spintronics | |
JPWO2017090730A1 (ja) | スピン流磁化反転素子、磁気抵抗効果素子、および磁気メモリ | |
TWI826643B (zh) | 反鐵磁體元件 | |
Kumar et al. | Double perovskite Sr2FeMoO6: a potential candidate for room temperature magnetoresistance device applications | |
US8277960B2 (en) | Inhomogeneous compounds having high magnetic resistance, the production and use thereof | |
Webb et al. | New ternary magnets (Ca, Sr, Ba) 14MnBi11 | |
Zhang et al. | Synthesis, structure, magnetic and half-metallic properties of Co2− xRuxMnSi (x= 0, 0.25, 0.5, 0.75, 1) compounds | |
Bakkar | New inverse-Heusler materials with potential spintronics applications | |
Das | Fabrication and study of the structure and magnetism of rare-earth free nanoclusters | |
Jin | Novel Half-Metallic and Spin-Gapless Heusler Compounds | |
Zhang | Magnetic investigations of Mn-based and Mn-free potential half metals | |
Ambrose et al. | Growth and magnetotransport properties of thin Co2MnGe layered structures | |
Gupta et al. | Study of spin pumping and inverse spin hall effect on manganite based thin films | |
Wang et al. | Interface Structure and Magnetic Properties of BiFeO3-based Layered Films | |
Wu | Magnetic oxides and heterostructures | |
Ferrante | Development of tetragonal Heusler compounds with perpendicular anisotropy for Magnetic Random Access Memory applications | |
Yu | Investigation on Heusler alloys Co2FeSi and Co2FeAl0. 5Si0. 5 | |
Balke | Special Heusler compounds for spintronic applications | |
Himpsel et al. | Electronic states of magnetic materials |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060425 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20060724 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060724 |
|
RD12 | Notification of acceptance of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432 Effective date: 20060724 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20060725 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071002 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071226 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20071226 |
|
RD14 | Notification of resignation of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434 Effective date: 20090108 |
|
RD14 | Notification of resignation of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434 Effective date: 20090115 |
|
RD12 | Notification of acceptance of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432 Effective date: 20090126 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090310 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090311 |
|
RD14 | Notification of resignation of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434 Effective date: 20090311 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090318 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120403 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4285632 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120403 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130403 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130403 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140403 Year of fee payment: 5 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |