JP4273986B2 - プラスチックカードの製造方法及びプラスチックカード - Google Patents
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図4は、組み合わせ例として、カード領域Pb1とカード領域Pb2(原反小片ロールP3及びP4)とを選択し、カード領域Pb1の裏面とカード領域Pb2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pb1及びPb2のそれぞれの分子配向D(b1)及びD(b2)は互いに一致し、これらのなす角(配向ずれ)は0°である。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、反りはほとんど見られなかった(評価:二重丸)。
図5は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pa2(原反小片ロールP1及びP2)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pa2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pa1及びPa2のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(a2)のなす角(配向ずれ)は、105°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード化後の厚さ(0.8mm)と反り量の合計が1.6mm以上で、カード厚を含む反り量のJISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たせなかった(評価:×)。
図6は、組み合わせ例として、カード領域Pc1とカード領域Pc2(原反小片ロールP5及びP6)とを選択し、カード領域Pc1の裏面とカード領域Pc2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pc1及びPc2のそれぞれの分子配向D(c1)及びD(c2)のなす角(配向ずれ)は、105°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード化後の厚さ(0.8mm)と反り量の合計が1.6mm以上で、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たせなかった(評価:×)。
図7は、組み合わせ例として、カード領域Pb1とカード領域Pb2(原反小片ロールP3及びP4)とを選択し、カード領域Pb1の裏面とカード領域Pb2の表面とを互いに貼り合わせた例を示している。この場合の各カード領域Pb1及びPb2のそれぞれの分子配向D(b1)及びD(b2)のなす角(配向ずれ)は、12°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード面の反りは具体例1ほど優れたものではないものの、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たした(評価:○)。
図8は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pa2(原反小片ロールP1及びP2)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pa2の表面とを互いに貼り合わせた例を示している。この場合の各カード領域Pa1及びPa2のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(a2)のなす角(配向ずれ)は、15°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード面の反りは具体例1ほど優れたものではないものの、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たした(評価:○)。
図9は、組み合わせ例として、カード領域Pc1とカード領域Pc2(原反小片ロールP5及びP6)とを選択し、カード領域Pc1の裏面とカード領域Pc2の表面とを互いに貼り合わせた例を示している。この場合の各カード領域Pc1及びPc2のそれぞれの分子配向D(c1)及びD(c2)のなす角(配向ずれ)は、15°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード面の反りは具体例1ほど優れたものではないものの、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たした(評価:○)。
図10は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pc2(原反小片ロールP1及びP6)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pc2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pa1及びPc2のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(c2)は互いに一致し、これらのなす角(配向ずれ)は0°である。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、反りはほとんど見られなかった(評価:二重丸)。
図11は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pc1(原反小片ロールP1及びP5)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pc1の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。この場合の各カード領域Pa1及びPc1のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(c1)のなす角(配向ずれ)は、15°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード面の反りは具体例1ほど優れたものではないものの、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たした(評価:○)。
図12は、組み合わせ例として、カード領域Pa2とカード領域Pc1(原反小片ロールP2及びP5)とを選択し、カード領域Pa2の裏面とカード領域Pc1の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pa2及びPc1のそれぞれの分子配向D(a2)及びD(c1)は互いに一致し、これらのなす角(配向ずれ)は0°である。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、反りはほとんど見られなかった(評価:二重丸)。
図13は、組み合わせ例として、カード領域Pa2とカード領域Pc2(原反小片ロールP2及びP6)とを選択し、カード領域Pa2の裏面とカード領域Pc2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。この場合の各カード領域Pa2及びPc2のそれぞれの分子配向D(a2)及びD(c2)のなす角(配向ずれ)は、15°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード面の反りは具体例1ほど優れたものではないものの、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たした(評価:○)。
図14は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pc2(原反小片ロールP1及びP6)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pc2の表面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pa1及びPc2のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(c2)のなす角(配向ずれ)は、120°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード化後の厚さ(0.8mm)と反り量の合計が1.6mm以上で、JISに規定するカード反り規格(1.5mm以内)を満たせなかった(評価:×)。
図15は、組み合わせ例として、カード領域Pa1とカード領域Pb2(原反小片ロールP1及びP4)とを選択し、カード領域Pa1の裏面とカード領域Pb2の裏面とを互いに貼り合わせた例を示している。各カード領域Pa1及びPb2のそれぞれの分子配向D(a1)及びD(b2)のなす角(配向ずれ)は、66°であった。このような組み合わせ例で非接触ICカード1を製造した結果、カード厚(0.8mm)を含む反り量は、JISに規定するカード反り規格(1.5mm)付近であった(評価:△)。
なお、分割ロール24a〜24cの両側端は不要領域として回収部45にて回収された後、破棄される。
Claims (1)
- 同一の原反ロールから切り出した一対のカード基材を互いに貼り合わせてカード化するプラスチックカードの製造方法であって、
巻取方向及びこれに直交する方向の二軸方向に延伸され、前記巻取方向に複数列のカード領域を取得できる幅の樹脂フィルムで前記原反ロールを形成する工程と、
前記原反ロールを分割することで、第1の列のカード領域及び第2の列のカード領域をそれぞれ有する複数の分割ロールを作製する工程と、
前記複数の分割ロールの前記第1の列のカード領域の表面に第1の印刷層を形成する工程と、
前記複数の分割ロールの前記第2の列のカード領域の裏面に第2の印刷層を形成する工程と、
前記複数の分割ロールを列単位でそれぞれ分割することで、前記第1の列のカード領域を有する複数の第1の原反小片ロールと、前記第2の列のカード領域を有する複数の第2の原反小片ロールをそれぞれ作製する工程と、
前記複数の第1及び第2の原反小片ロールの中から、前記原反ロールの面内における分子配向のなす角が0°以上66°以下となる一対の第1及び第2の原反小片ロールの組み合わせを選択する工程と、
アンテナ用配線が形成された回路基板とこれに搭載された半導体チップとを含むアンテナモジュールを準備する工程と、
前記アンテナモジュールを間に配置して、前記選択された一対の第1及び第2の原反小片ロールを、当該第1の原反小片ロールの裏面と当該第2の原反小片ロールの表面とが対向するように、互いに貼り合わせる工程とを有する
プラスチックカードの製造方法。
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