JP4267604B2 - Cleaning device - Google Patents

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Description

本発明は、洗浄装置に関し、特に、有機EL用の有機材料の蒸着工程において、マスクに付着した有機材料を除去する洗浄装置に関する。   The present invention relates to a cleaning apparatus, and more particularly, to a cleaning apparatus that removes an organic material attached to a mask in a vapor deposition process of an organic material for organic EL.

近年、有機エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「有機EL」と略称する)素子を用いた有機EL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されており、例えば、その有機EL素子を駆動させる駆動用薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下「TFT」と略称する。)を備えた有機EL表示装置の研究開発も進められている。   In recent years, an organic EL display device using an organic electroluminescence (Electro Luminescence: hereinafter referred to as “organic EL”) element has attracted attention as a display device that replaces a CRT or LCD. For example, the organic EL display device is driven. Research and development of an organic EL display device including a driving thin film transistor (Thin Film Transistor: hereinafter abbreviated as “TFT”) is also in progress.

有機EL素子は、例えば、ITOから成る陽極、MTDATA(4,4−bis(3−methylphenylphenylamino)biphenyl)等の第1ホール輸送層及びTPD(4,4,4−tris(3−methylphenylphenylamino)triphenylanine)等の第2ホール輸送層から成るホール輸送層、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むBebq(10−ベンゾ〔h〕キノリノール−ベリリウム錯体)から成る発光層、Bebqから成る電子輸送層、及びアルミニウム合金等から成る陰極が、この順番で積層形成された構造を有する。 The organic EL device includes, for example, an anode made of ITO, a first hole transport layer such as MTDATA (4,4-bis (3-methylphenylphenyl) biphenyl), and TPD (4,4,4-tris (3-methylphenylamino) triphenyline). A hole transport layer comprising a second hole transport layer, a light emitting layer comprising Bebq 2 (10-benzo [h] quinolinol-beryllium complex) containing a quinacridone derivative, an electron transport layer comprising Bebq 2 , and an aluminum alloy Etc. have a structure in which the cathodes are formed in this order.

このような有機EL素子は、有機EL素子を駆動させる駆動用TFTを介して電流が供給されることによって発光する。即ち、陽極から注入されたホールと、陰極から注入された電子とが発光層の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起して励起子が生じる。この励起子が放射失活する過程で発光層から光が放たれ、この光が、透明な陽極及びガラス基板等の絶縁性基板を介して外部へ放出されて発光する。   Such an organic EL element emits light when current is supplied through a driving TFT for driving the organic EL element. That is, holes injected from the anode and electrons injected from the cathode are recombined inside the light emitting layer, and excitons are generated by exciting organic molecules forming the light emitting layer. Light is emitted from the light emitting layer in the process of radiation deactivation of the excitons, and this light is emitted to the outside through a transparent anode and an insulating substrate such as a glass substrate to emit light.

上述した有機EL素子の各層のうち、ホール輸送層、発光層、電子輸送層の形成に用いられる有機材料は、耐溶剤性が低く、水分にも弱いという特性がある。そのため、半導体プロセスにおけるフォトリソグラフィ技術を利用することができない。そこで、例えば金属薄膜から成るマスク(いわゆるシャドウマスク)を用いた蒸着法により、上記有機材料を、駆動用TFTを備えた絶縁性基板上に選択的に蒸着して、有機EL素子のホール輸送層、発光層、電子輸送層及び陰極のパターン形成を行っていた。   Among the layers of the organic EL element described above, an organic material used for forming the hole transport layer, the light emitting layer, and the electron transport layer has characteristics that it has low solvent resistance and is weak against moisture. Therefore, the photolithography technique in the semiconductor process cannot be used. Therefore, for example, the organic material is selectively deposited on an insulating substrate having a driving TFT by a vapor deposition method using a mask made of a metal thin film (so-called shadow mask) to form a hole transport layer of the organic EL element. The patterning of the light emitting layer, the electron transport layer, and the cathode was performed.

そのような有機材料の蒸着の際に用いるマスクの一例を、図15乃至図17に示す。図15は、従来例に係る有機EL用のマスクを説明する上面図である。また、図16は、図15のX−X線に沿った断面図であり、図17は、図15のY−Y線に沿った断面図である。図15乃至図17に示すように、マスク10は、例えば縦横各数ミクロンメートル程度の複数の微細な孔11を有した例えばニッケル(Ni)及び鉄(Fe)等の金属薄膜から成る。これらの孔11を通して、上記有機材料が絶縁性基板上に選択的に蒸着される。   An example of a mask used for vapor deposition of such an organic material is shown in FIGS. FIG. 15 is a top view illustrating a mask for organic EL according to a conventional example. 16 is a cross-sectional view taken along line XX of FIG. 15, and FIG. 17 is a cross-sectional view taken along line YY of FIG. As shown in FIGS. 15 to 17, the mask 10 is made of a metal thin film such as nickel (Ni) and iron (Fe) having a plurality of fine holes 11 each having a length and width of about several microns. Through these holes 11, the organic material is selectively deposited on the insulating substrate.

また、上記金属薄膜から成るマスク10は、例えばニッケル(Ni)及び鉄(Fe)から成る金属フレーム12に固定されており、当該マスク10の縁が、当該金属フレーム12により支持されている。また、金属フレーム12の縁には、当該金属フレーム12を保持するための複数の係止部13が形成されている。以下、金属フレーム12に固定されたマスク10を、「マスク10」として略称する。   The mask 10 made of the metal thin film is fixed to a metal frame 12 made of, for example, nickel (Ni) and iron (Fe), and the edge of the mask 10 is supported by the metal frame 12. A plurality of locking portions 13 for holding the metal frame 12 are formed on the edge of the metal frame 12. Hereinafter, the mask 10 fixed to the metal frame 12 is abbreviated as “mask 10”.

なお、関連する技術文献としては、例えば以下の特許文献が挙げられる。
特開2004−103269号公報
In addition, as a related technical document, the following patent documents are mentioned, for example.
JP 2004-103269 A

有機EL素子が、カラー表示に対応して、3原色の赤色,緑色,青色の各発光層を有する場合、有機材料の蒸着工程は、一般に、各色用のマスクを繰り返し用いて行われる。そのため、繰り返される蒸着の回数が多くなるに従って、マスク10の表面には有機材料が幾層にも積層するようにして付着する。即ち、図18に示した有機材料が蒸着されたマスクの断面図に示すように、有機材料1は、マスク10の表面上のみならず、本来ならば有機材料1を通過させるべき複数の孔11を塞ぐようにして、孔11の周縁にオーバーハング1aを形成する。   When the organic EL element has light emitting layers of three primary colors, red, green, and blue, corresponding to color display, the organic material vapor deposition step is generally performed by repeatedly using a mask for each color. Therefore, as the number of repeated depositions increases, the organic material adheres to the surface of the mask 10 so as to be laminated in layers. That is, as shown in the cross-sectional view of the mask on which the organic material shown in FIG. 18 is deposited, the organic material 1 is not only on the surface of the mask 10 but also a plurality of holes 11 through which the organic material 1 is supposed to pass. The overhang 1a is formed on the periphery of the hole 11 so as to close the hole.

このように、マスク10の孔11が有機材料から成るオーバーハングによって狭められるために、当該有機材料の絶縁性基板への蒸着における精度が低下するという問題が生じていた。   Thus, since the hole 11 of the mask 10 is narrowed by the overhang made of an organic material, there has been a problem that the accuracy in vapor deposition of the organic material on the insulating substrate is lowered.

上述した問題への対処としては、同一のマスクを複数回用いずに、所定の蒸着回数ごとに使用済みのマスクを廃棄して、未使用のマスクに交換する方法がある。しかしながら、この方法を用いた場合、上記有機EL用の有機材料の蒸着に用いられる未使用のマスクは高価であることから、コストが増大するという問題が生じていた。   As a countermeasure to the above-described problem, there is a method in which the used mask is discarded every predetermined number of depositions and replaced with an unused mask without using the same mask a plurality of times. However, when this method is used, an unused mask used for vapor deposition of the organic material for the organic EL is expensive, which causes a problem of an increase in cost.

そこで本発明は、マスクに付着した有機EL用の有機材料を除去することが可能な洗浄装置を提供するものである。   Therefore, the present invention provides a cleaning device capable of removing the organic EL organic material adhering to the mask.

本発明の洗浄装置は、上述の課題に鑑みて為されたものであり、マスクに付着した有機EL用の有機材料を除去する洗浄装置であって、以下の特徴を有するものである。   The cleaning device of the present invention has been made in view of the above-described problems, and is a cleaning device that removes the organic material for organic EL attached to the mask, and has the following features.

即ち、本発明の洗浄装置は、マスクを所定の洗浄液により洗浄処理する洗浄槽と、洗浄槽からオーバーフローした洗浄液を真空蒸留する真空蒸留器と、真空蒸留器により真空蒸留された洗浄液を室温に冷却する第1の冷却器と、第1の冷却器により冷却された洗浄液を洗浄槽に還流させる第1の還流管と、マスクを所定のリンス液によりリンス処理するリンス槽と、リンス槽からオーバーフローしたリンス液を常圧下で蒸留する常圧蒸留器と、常圧蒸留器で常圧蒸留されたリンス液を室温に冷却する第2の冷却器と、第2の冷却器により冷却されたリンス液をリンス槽に還流させる第2の還流管と、を備えることを特徴とする。   That is, the cleaning device of the present invention includes a cleaning tank that cleans the mask with a predetermined cleaning liquid, a vacuum distiller that vacuum-distills the cleaning liquid overflowing from the cleaning tank, and a cleaning liquid vacuum-distilled by the vacuum distiller to room temperature. The first cooler, the first reflux pipe for refluxing the cleaning liquid cooled by the first cooler, the rinse tank for rinsing the mask with a predetermined rinse liquid, and the overflow from the rinse tank A normal pressure distiller for distilling the rinse liquid under normal pressure, a second cooler for cooling the normal pressure distilled rinse liquid to the room temperature, and a rinse liquid cooled by the second cooler. And a second reflux pipe for refluxing the rinse tank.

また、本発明の洗浄装置は、上記構成に加えて、洗浄槽内に、洗浄液を振動させる第1の超音波振動器を備え、さらに、洗浄槽の洗浄液の温度を検出する第1の温度センサと、第1の温度センサの検出結果に応じて洗浄槽内の洗浄液を室温に調整する第1の温度調整器と、を備えることを特徴とする。ここで、第1の温度調整器は第1の熱交換器を備え、当該第1の温度調整器は、当該第1の熱交換器により冷却された洗浄液を洗浄槽へ流入させることにより当該洗浄槽内の洗浄液の温度を調整する。   In addition to the above configuration, the cleaning apparatus of the present invention further includes a first ultrasonic vibrator that vibrates the cleaning liquid in the cleaning tank, and further detects a temperature of the cleaning liquid in the cleaning tank. And a first temperature controller for adjusting the cleaning liquid in the cleaning tank to room temperature according to the detection result of the first temperature sensor. Here, the first temperature regulator includes a first heat exchanger, and the first temperature regulator performs the cleaning by allowing the cleaning liquid cooled by the first heat exchanger to flow into the cleaning tank. Adjust the temperature of the cleaning liquid in the tank.

また、本発明の洗浄装置は、上記構成に加えて、リンス槽内に、前記リンス液を振動させる第2の超音波振動器を備え、さらに、リンス槽のリンス液の温度を検出する第2の温度センサと、第2の温度センサの検出結果に応じてリンス槽内のリンス液を室温に調整する第2の温度調整器と、を備えることを特徴とする。ここで、第2の温度調整器は第2の熱交換器を備え、当該第2の温度調整器は、当該第2の熱交換器により冷却されたリンス液をリンス槽へ流入させることにより当該リンス槽内のリンス液の温度を調整する。   In addition to the above-described configuration, the cleaning apparatus of the present invention further includes a second ultrasonic vibrator that vibrates the rinse liquid in the rinse tank, and further detects a temperature of the rinse liquid in the rinse tank. And a second temperature regulator that adjusts the rinse liquid in the rinse tank to room temperature according to the detection result of the second temperature sensor. Here, the second temperature regulator includes a second heat exchanger, and the second temperature regulator is configured to flow the rinse liquid cooled by the second heat exchanger into the rinse tank. Adjust the temperature of the rinse liquid in the rinse tank.

また、本発明の洗浄装置は、上記構成に加えて、第3の冷却器を有した回収槽を備え、回収槽は、当該第3の冷却器によって冷却されることにより、リンス槽内で蒸発したリンス液を回収し、その回収されたリンス液を、第2の還流管を通してリンス槽に還流させることを特徴とする。ここで、回収槽は、当該回収槽内の温度を検出する第3の温度センサを備え、第3の冷却器は、第3の温度センサを用いて、リンス槽内と回収槽内とで蒸気圧差が生じるように回収槽内を冷却するものである。   In addition to the above configuration, the cleaning device of the present invention includes a recovery tank having a third cooler, and the recovery tank evaporates in the rinse tank by being cooled by the third cooler. The rinse solution thus collected is collected, and the collected rinse solution is refluxed to the rinse tank through the second reflux pipe. Here, the recovery tank includes a third temperature sensor that detects the temperature in the recovery tank, and the third cooler uses the third temperature sensor to steam in the rinse tank and the recovery tank. The inside of the collection tank is cooled so that a pressure difference is generated.

また、本発明の洗浄装置は、上記構成に加えて、回収槽によって回収されたリンス液中の水分を分離する水分離槽を備え、水分離槽を通したリンス液を、第2の還流管を通してリンス槽に還流させることを特徴とする。   In addition to the above-described configuration, the cleaning device of the present invention further includes a water separation tank that separates moisture in the rinse liquid collected by the collection tank, and the rinse liquid that has passed through the water separation tank is supplied to the second reflux pipe. It is made to return to a rinse tank through.

また、本発明の洗浄装置は、上記構成に加えて、洗浄液を含有するリンス液を、洗浄液とリンス液とに分離する分離器と、当該分離器により分離された洗浄液、及び常圧蒸留器により蒸留された洗浄液を含有するリンス液を蓄積して再び分離器へ流入させるプール槽と、を備えることを特徴とする。ここで、プール槽は、洗浄液及び前記リンス液の液面の下限を検出する下限センサを備え、当該下限センサの検出結果に応じて、分離された洗浄液を真空蒸留器へ流入させるものである。   In addition to the above configuration, the cleaning apparatus of the present invention includes a separator that separates a rinse liquid containing a cleaning liquid into a cleaning liquid and a rinse liquid, a cleaning liquid separated by the separator, and an atmospheric distillation unit. And a pool tank for accumulating a rinse liquid containing the distilled cleaning liquid and allowing the rinse liquid to flow into the separator again. Here, the pool tank includes a lower limit sensor that detects the lower limits of the liquid levels of the cleaning liquid and the rinse liquid, and allows the separated cleaning liquid to flow into the vacuum distiller according to the detection result of the lower limit sensor.

本発明の洗浄装置によれば、有機EL用の有機材料の蒸着工程において、蒸着に用いるマスクに付着した有機材料を、適宜除去することができる。   According to the cleaning apparatus of the present invention, the organic material attached to the mask used for vapor deposition can be appropriately removed in the vapor deposition step of the organic material for organic EL.

従って、同一のマスクを繰り返し用いても、マスクの孔の周縁に当該有機材料から成るオーバーハングが形成されることがなくなるため、孔が狭められることがなくなる。結果として、有機材料の蒸着の精度が低下することを極力抑止することができる。   Therefore, even if the same mask is used repeatedly, an overhang made of the organic material is not formed at the periphery of the mask hole, so that the hole is not narrowed. As a result, it can suppress as much as possible that the precision of vapor deposition of an organic material falls.

また、有機材料の蒸着工程において、同一のマスクを用いることができることから、従来の蒸着工程にみられたような、未使用のマスクへの交換によるコストの増大を極力回避することが可能となる。また、使用済みのマスクの廃棄が不要となることから、当該廃棄に係る環境汚染を極力抑止することが可能となる。   Further, since the same mask can be used in the vapor deposition process of the organic material, it is possible to avoid as much as possible the increase in cost due to replacement with an unused mask as seen in the conventional vapor deposition process. . In addition, since it is not necessary to discard the used mask, it is possible to suppress environmental pollution related to the disposal as much as possible.

次に、本発明の実施形態に係る洗浄装置について説明する。なお、被洗浄体であるマスクは、図15乃至図17に示した従来の蒸着工程において用いられるものと同様のマスク10であるものとする。即ち、当該マスクは、有機材料が形成される所定のパターンに沿って、縦横各数ミクロンメートル程度の孔11が形成された金属薄膜から成る。この金属薄膜は、例えばニッケル(Ni)及び鉄(Fe)等から成る。また、当該マスクの縁には、例えばニッケル(Ni)及び鉄(Fe)から成る金属フレーム12が固定されている。当該金属フレーム12は、係止部13を有している。以下、金属フレーム12に固定されたマスク10を、「マスク10」として略称する。   Next, the cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention will be described. In addition, the mask which is a to-be-cleaned body shall be the mask 10 similar to what is used in the conventional vapor deposition process shown in FIG. 15 thru | or FIG. That is, the mask is made of a metal thin film in which holes 11 each having a length and width of about several microns are formed along a predetermined pattern in which an organic material is formed. This metal thin film is made of, for example, nickel (Ni), iron (Fe), or the like. A metal frame 12 made of, for example, nickel (Ni) and iron (Fe) is fixed to the edge of the mask. The metal frame 12 has a locking portion 13. Hereinafter, the mask 10 fixed to the metal frame 12 is abbreviated as “mask 10”.

本実施形態に係る洗浄装置は、有機EL用の有機材料を、駆動用TFTが形成された絶縁性基板に蒸着する蒸着工程において、蒸着に用いられる金属薄膜から成るマスク10に付着した上記有機材料を除去するものである。本実施形態に係る洗浄装置の全体の構成は、マスク10に付着した有機EL用の有機材料を除去するための洗浄系と、マスク10を搬送するための搬送系とに大別される。   In the cleaning apparatus according to the present embodiment, the organic material for organic EL is attached to the mask 10 made of a metal thin film used for vapor deposition in a vapor deposition process in which the organic material for organic EL is vapor-deposited on the insulating substrate on which the driving TFT is formed. Is to be removed. The overall configuration of the cleaning apparatus according to the present embodiment is broadly divided into a cleaning system for removing the organic EL organic material attached to the mask 10 and a transport system for transporting the mask 10.

最初に、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系の構成について、図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系を説明する図である。なお、図1では、搬送系に係る構成要素は省略されている。   First, the configuration of the cleaning system of the cleaning apparatus according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a cleaning system of the cleaning apparatus according to the present embodiment. In FIG. 1, components relating to the transport system are omitted.

図1に示すように、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系は、マスク10を所定の洗浄液により洗浄処理する第1及び第2の洗浄槽21,22と、第1及び第2の洗浄槽21,22で洗浄処理されたマスク10を所定のリンス液によりリンス処理する第1及び第2のリンス槽51,52を備えている。   As shown in FIG. 1, the cleaning system of the cleaning apparatus according to the present embodiment includes first and second cleaning tanks 21 and 22 for cleaning a mask 10 with a predetermined cleaning liquid, and first and second cleaning tanks. First and second rinsing tanks 51 and 52 for rinsing the mask 10 that has been cleaned in 21 and 22 with a predetermined rinsing liquid are provided.

なお、上記所定の洗浄液は、例えば炭化水素(HC)系の洗浄液であるものとする。また、上記所定のリンス液は、上記洗浄液よりも低い沸点を有したフッ素(F)系溶媒であり、例えばハイドロフルオロエーテル(HFE;Hydrofluoroether)であるものとする。当該リンス液の比重は、水分に対して大きいものである。また、表面張力が大きい上記洗浄液を、表面張力が小さい上記リンス液でリンスすることで、より細かなところまでリンスが入り込み、洗浄液を確実に捕捉する効果がある。   Note that the predetermined cleaning liquid is, for example, a hydrocarbon (HC) -based cleaning liquid. The predetermined rinsing liquid is a fluorine (F) -based solvent having a lower boiling point than the cleaning liquid, and is, for example, hydrofluoroether (HFE). The specific gravity of the rinse liquid is large with respect to moisture. Further, by rinsing the cleaning liquid having a large surface tension with the rinsing liquid having a small surface tension, the rinsing enters into a finer area and has an effect of reliably capturing the cleaning liquid.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系のうち第1及び第2の洗浄槽21,22に係る構成について説明する。   Next, the structure which concerns on the 1st and 2nd washing tanks 21 and 22 among the washing | cleaning systems of the washing | cleaning apparatus which concerns on this embodiment is demonstrated.

この洗浄装置は、第1の洗浄槽21に、当該第1の洗浄槽21からオーバーフローした洗浄液を蓄えるオーバーフロー槽23を備えている。また、この洗浄装置は、洗浄処理によってマスク10より除去された有機材料を含む洗浄液から、いわゆる真空蒸留によって洗浄液のみを抽出するため真空蒸留器30を備えている。有機材料を含む洗浄液は、第1の洗浄槽21からオーバーフロー槽23にオーバーフローして、当該オーバーフロー槽23から真空蒸留器30に流入する。真空蒸留器30の底部に沈殿した有機材料は、冷却釜30rで冷却されて外部へ排出される。   The cleaning apparatus includes an overflow tank 23 that stores the cleaning liquid overflowed from the first cleaning tank 21 in the first cleaning tank 21. In addition, the cleaning device includes a vacuum distiller 30 for extracting only the cleaning liquid by so-called vacuum distillation from the cleaning liquid containing the organic material removed from the mask 10 by the cleaning process. The cleaning liquid containing the organic material overflows from the first cleaning tank 21 to the overflow tank 23 and flows into the vacuum distiller 30 from the overflow tank 23. The organic material precipitated on the bottom of the vacuum still 30 is cooled in the cooling pot 30r and discharged to the outside.

上述した洗浄液の蒸留では、当該洗浄液を真空状態において加熱して蒸留する。これにより、当該洗浄液の155℃程度の沸点を低下させて、蒸留の際の加熱温度を極力低下させることができる。   In the above-described distillation of the cleaning liquid, the cleaning liquid is heated and distilled in a vacuum state. Thereby, the boiling point of about 155 ° C. of the cleaning liquid can be reduced, and the heating temperature during distillation can be reduced as much as possible.

また、この洗浄装置は、真空蒸留器30により真空蒸留された洗浄液を室温に冷却する第1の冷却器31を備えている。第1の冷却器31によって室温に冷却された洗浄液は、第1の還流管101を通して第2の洗浄槽22に還流する。   In addition, the cleaning device includes a first cooler 31 that cools the cleaning solution vacuum-distilled by the vacuum still 30 to room temperature. The cleaning liquid cooled to room temperature by the first cooler 31 returns to the second cleaning tank 22 through the first reflux pipe 101.

なお、本願において、室温は、「10℃〜40℃」、好ましくは「20℃〜30℃」、更に好ましくは約25℃である。   In the present application, the room temperature is “10 ° C. to 40 ° C.”, preferably “20 ° C. to 30 ° C.”, more preferably about 25 ° C.

上述したような洗浄液の真空蒸留、冷却、及び還流により、マスク10の洗浄処理を、室温において行うことが可能となる。従って、マスク10に、熱を起因とした応力によるストレスや損傷が生じることを極力抑止することが可能となる。   The cleaning treatment of the mask 10 can be performed at room temperature by vacuum distillation, cooling, and refluxing of the cleaning liquid as described above. Therefore, it is possible to suppress the mask 10 from being stressed or damaged due to heat-induced stress as much as possible.

さらに、上述した第1及び第2の洗浄槽21,22は、マスク10の表面に洗浄液が確実に及ぶように当該洗浄液を振動させるための不図示の第1の超音波振動器を備えている。さらに、その第1の超音波振動器の振動による洗浄液の温度の上昇に対処するため、第1及び第2の洗浄槽21,22は、洗浄液の温度を室温に微調整するための第1の温度調整器40を備えている。   Further, the first and second cleaning tanks 21 and 22 described above are provided with a first ultrasonic vibrator (not shown) for vibrating the cleaning liquid so that the cleaning liquid reliably reaches the surface of the mask 10. . Further, in order to cope with an increase in the temperature of the cleaning liquid due to the vibration of the first ultrasonic vibrator, the first and second cleaning tanks 21 and 22 are provided with a first for finely adjusting the temperature of the cleaning liquid to room temperature. A temperature regulator 40 is provided.

ここで、第1の温度調整器40は、第1の熱交換器40h及びポンプ42を備えており、当該第1の熱交換器40hにより第1及び第2の洗浄槽21、22の洗浄液を冷却する。そして、第1の温度調整器40は、当該第1の熱交換器40hにより冷却された洗浄液を、ポンプ42を介して第1及び第2の洗浄槽21,22へ流入させるか否かによって、当該各槽の洗浄液の温度を室温に微調整する。   Here, the 1st temperature regulator 40 is provided with the 1st heat exchanger 40h and the pump 42, The washing | cleaning liquid of the 1st and 2nd washing tanks 21 and 22 is carried out by the said 1st heat exchanger 40h. Cooling. The first temperature controller 40 determines whether the cleaning liquid cooled by the first heat exchanger 40h flows into the first and second cleaning tanks 21 and 22 via the pump 42. Finely adjust the temperature of the cleaning liquid in each tank to room temperature.

また、洗浄液は、循環させてフィルタによってろ過している。なお、図1に示すように、その循環の経路、即ち洗浄槽21、第1の温度調整器40、ポンプ42、洗浄槽21の経路にフィルタを設けてもよいが、そのフィルタは、その経路とは別経路として、その経路に併設した経路、即ち、洗浄槽21、フィルタ、ポンプ42、洗浄槽21の経路を設けてもよい。   The cleaning liquid is circulated and filtered through a filter. In addition, as shown in FIG. 1, you may provide a filter in the path | route of the circulation, ie, the path | route of the washing tank 21, the 1st temperature regulator 40, the pump 42, and the washing tank 21, However, The filter is the path | route. As a separate path, a path provided along with the path, that is, a path of the cleaning tank 21, the filter, the pump 42, and the cleaning tank 21 may be provided.

上述したように、第1の温度調整器40によって、第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液の温度を微調整することが可能となる。   As described above, the temperature of the cleaning liquid in the first and second cleaning tanks 21 and 22 can be finely adjusted by the first temperature controller 40.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系のうち、第1及び第2のリンス槽51,52に係る構成について説明する。   Next, the structure which concerns on the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52 among the washing | cleaning systems of the washing | cleaning apparatus which concerns on this embodiment is demonstrated.

この洗浄装置は、第1のリンス槽51に、当該第1のリンス槽51からオーバーフローしたリンス液を蓄えるオーバーフロー槽53を備えている。   The cleaning apparatus includes an overflow tank 53 that stores the rinse liquid overflowed from the first rinse tank 51 in the first rinse tank 51.

また、この洗浄装置は、マスク10を介して第1のリンス槽51に持ち込まれる第2の洗浄槽22の微量な洗浄液や微量な有機材料等の不純物を含むリンス液から、常圧下における常圧蒸留によって当該不純物を取り除くための常圧蒸留器60を備えている。リンス液は、第1のリンス槽51からオーバーフロー槽53にオーバーフローして、当該オーバーフロー槽53から常圧蒸留器60に流入する。   In addition, the cleaning apparatus is configured so that the second cleaning tank 22 brought into the first rinsing tank 51 through the mask 10 and the rinsing liquid containing impurities such as a small amount of organic material are used at normal pressure under normal pressure. An atmospheric distillation unit 60 is provided for removing the impurities by distillation. The rinse liquid overflows from the first rinse tank 51 to the overflow tank 53 and flows from the overflow tank 53 into the atmospheric distillation unit 60.

上述したリンス液の沸点は例えば60℃程度であれば、約160℃程度の沸点を有する洗浄液の蒸留のように、当該沸点を下げるための真空蒸留を行う必要がない。そのため、常圧蒸留器60で常圧(大気圧)下による常圧蒸留が行われる。蒸留の際に蒸発したリンス液は、これを液化させる温度のトラップコイル60tにより液化される。   If the boiling point of the rinse liquid described above is about 60 ° C., for example, it is not necessary to perform vacuum distillation for lowering the boiling point as in the case of distillation of a cleaning liquid having a boiling point of about 160 ° C. Therefore, atmospheric distillation is performed in the atmospheric distiller 60 under normal pressure (atmospheric pressure). The rinse liquid evaporated during the distillation is liquefied by the trap coil 60t having a temperature for liquefying the rinse liquid.

また、この洗浄装置は、常圧蒸留器60により常圧蒸留されたリンス液を室温に冷却する第2の冷却器61を備えている。第2の冷却器61によって室温に冷却されたリンス液は、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52に還流する。   In addition, the cleaning device includes a second cooler 61 that cools the rinse solution distilled at atmospheric pressure by the atmospheric distillation device 60 to room temperature. The rinse liquid cooled to room temperature by the second cooler 61 is refluxed to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102.

ここで、第2の冷却器と第2の還流管102との間には、水分離槽80が備えられている。この水分離槽80は、常圧蒸留を経て水分を含んだリンス液を、水分とリンス液とに分離するものである。リンス液は、水分の分離後、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52に還流する。   Here, a water separation tank 80 is provided between the second cooler and the second reflux pipe 102. This water separation tank 80 separates the rinse liquid containing moisture through atmospheric distillation into moisture and rinse liquid. The rinse liquid is refluxed to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102 after the moisture is separated.

また、この洗浄装置は、第1のリンス槽51もしくは第2のリンス槽52から蒸発したリンス液を回収する回収槽54を備えている。例えば、回収槽54内の温度は、第2のリンス槽52の蒸気圧と回収槽54内の蒸気圧の比が150:1〜10:1になるような温度に設定すれば良い。回収槽54は、第3の冷却器55を備えている。この第3の冷却器55が回収槽54を例えば零下25℃程度まで冷却することにより、回収槽54の蒸気圧が第1のリンス槽51もしくは第2のリンス槽52の蒸気圧よりも概ね100分の1程度に低くなり、蒸発したリンス液が回収槽54に流入する。回収槽54に流入したリンス液は水分離槽80へ流入して、含んでいる水分の分離後、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52に還流する。   In addition, the cleaning device includes a recovery tank 54 that recovers the rinse liquid evaporated from the first rinse tank 51 or the second rinse tank 52. For example, the temperature in the recovery tank 54 may be set such that the ratio of the vapor pressure in the second rinse tank 52 and the vapor pressure in the recovery tank 54 is 150: 1 to 10: 1. The collection tank 54 includes a third cooler 55. The third cooler 55 cools the recovery tank 54 to, for example, about 25 ° C. below zero, so that the vapor pressure of the recovery tank 54 is approximately 100 than the vapor pressure of the first rinse tank 51 or the second rinse tank 52. The evaporated rinse liquid flows into the recovery tank 54. The rinsing liquid that has flowed into the recovery tank 54 flows into the water separation tank 80, and after being separated from the water contained therein, returns to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102.

上述したようなリンス液の常圧蒸留、冷却、及び還流により、マスク10のリンス処理を、室温において行うことが可能となる。従って、マスク10に、熱を起因とした応力によるストレスや損傷が生じることを極力抑止することが可能となる。   The atmospheric pressure distillation, cooling, and refluxing of the rinsing liquid as described above enables the rinsing process of the mask 10 to be performed at room temperature. Therefore, it is possible to suppress the mask 10 from being stressed or damaged due to heat-induced stress as much as possible.

また、上述した洗浄装置では、洗浄液に浸漬したマスク10をリンス液に浸漬することから、微量の洗浄液がマスク10を介して第1のリンス槽51のリンス液に移り、当該リンス液と混合される。そこで、この洗浄装置は、洗浄液を含有するリンス液を、洗浄液とリンス液とに分離する分離器90を備えている。この分離器90は、洗浄液を含有するリンス液を蒸発させた後に、当該蒸発したリンス液のみを冷却器等で冷却することにより液化して回収する。このように分離されたリンス液は、水分離槽80へ流入して、含んでいる水分の分離後、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52に還流する。   Further, in the above-described cleaning apparatus, since the mask 10 immersed in the cleaning liquid is immersed in the rinsing liquid, a small amount of the cleaning liquid moves to the rinsing liquid in the first rinsing tank 51 through the mask 10 and is mixed with the rinsing liquid. The Therefore, this cleaning apparatus includes a separator 90 that separates the rinse liquid containing the cleaning liquid into the cleaning liquid and the rinse liquid. The separator 90 evaporates the rinse liquid containing the cleaning liquid, and then liquefies and collects only the evaporated rinse liquid by cooling with a cooler or the like. The rinse liquid thus separated flows into the water separation tank 80, and after the water contained therein is separated, returns to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102.

さらに、この洗浄装置は、分離器90により分離された洗浄液、及び常圧蒸留器60から流入する常圧蒸留される前のリンス液(洗浄液を含有する)を蓄積して再び分離器90へ流入させるプール槽91を備えている。   Further, the cleaning device accumulates the cleaning liquid separated by the separator 90 and the rinsing liquid (containing the cleaning liquid) before being subjected to atmospheric distillation flowing from the atmospheric distillation apparatus 60 and flows into the separator 90 again. A pool tank 91 is provided.

ここで、プール槽91は、流入して蓄積される洗浄液及びリンス液の液面の上限を検出する上限センサ91fと、当該液面の下限を検出する下限センサ91eを備えている。そして、バルブ60bの開閉により、常圧蒸留器60からのリンス液を、上限センサ91fが液面を検出するまでプール槽91に流入させて当該流入を停止した後、その洗浄液を含むリンス液を分離器90に流入させ、洗浄液とリンス液との分離を行う。   Here, the pool tank 91 includes an upper limit sensor 91f that detects the upper limit of the liquid level of the cleaning liquid and the rinse liquid that flows in and accumulates, and a lower limit sensor 91e that detects the lower limit of the liquid level. Then, by opening and closing the valve 60b, the rinsing liquid from the atmospheric distillation unit 60 is caused to flow into the pool tank 91 until the upper limit sensor 91f detects the liquid level and the inflow is stopped, and then the rinsing liquid containing the cleaning liquid is removed. The cleaning liquid and the rinsing liquid are separated from each other by flowing into the separator 90.

上記リンス液の分離器90への流入は、プール槽91内のリンス液の液面が下限センサ91eによって検出された時点で停止され、再度、常圧蒸留器60からのリンス液を、上限センサ91fが液面を検出するまでプール槽91に流入させて当該流入を停止する。そして、洗浄液を含むリンス液を分離器90に流入させる。このような洗浄液とリンス液との分離を繰り返す回数が増加するのに従って、プール槽91内に蓄積されるリンス液は、分離器90から流入してプール槽91内で蓄積する洗浄液を多く含むようになる。そのため、当該洗浄液を含有するリンス液が分離器90で蒸発して分離される速度が遅くなる。   The flow of the rinsing liquid into the separator 90 is stopped when the liquid level of the rinsing liquid in the pool tank 91 is detected by the lower limit sensor 91e, and the rinsing liquid from the atmospheric distillation unit 60 is again used as the upper limit sensor. It flows into the pool tank 91 until 91f detects the liquid level and stops the inflow. Then, the rinse liquid containing the cleaning liquid is caused to flow into the separator 90. As the number of times of repeating the separation of the cleaning liquid and the rinsing liquid increases, the rinsing liquid accumulated in the pool tank 91 includes a large amount of the cleaning liquid flowing in from the separator 90 and accumulating in the pool tank 91. become. For this reason, the speed at which the rinse liquid containing the cleaning liquid is evaporated and separated by the separator 90 is reduced.

そこで、プール槽91内において、下限センサ91eの検出結果により、分離器90による分離開始時点からリンス液の液面が下限に到達するまでの時間が計測され、当該到達時間が所定の時間よりも長くなった場合、当該プール槽内のリンス液に含まれる洗浄液は飽和状態であるとみなされて、分離器90による分離が終了する。分離器90による分離が終了した後、プール槽91内の分離された洗浄液は、真空蒸留器30へ流入する。   Therefore, in the pool tank 91, the time from the start of separation by the separator 90 until the liquid level of the rinse liquid reaches the lower limit is measured based on the detection result of the lower limit sensor 91e, and the arrival time is shorter than a predetermined time. When it becomes long, the washing | cleaning liquid contained in the rinse liquid in the said pool tank is considered to be a saturated state, and isolation | separation by the separator 90 is complete | finished. After the separation by the separator 90 is completed, the separated cleaning liquid in the pool tank 91 flows into the vacuum still 30.

上述したような処理により、リンス液に含まれる洗浄液を分離して、リンス液のみを再利用することができる。   By the treatment as described above, the cleaning liquid contained in the rinsing liquid can be separated and only the rinsing liquid can be reused.

さらに、上述した第1及び第2のリンス槽51,52は、マスク10の表面にリンス液が確実に及ぶように当該リンス液を振動させるための不図示の第2の超音波振動器を備えている。さらに、その第2の超音波振動器の振動によるリンス液の温度の上昇に対処するため、第1及び第2のリンス槽51,52は、リンス液の温度を室温に微調整するための第2の温度調整器70を備えている。   Further, the first and second rinse tanks 51 and 52 described above include a second ultrasonic vibrator (not shown) for vibrating the rinse liquid so that the rinse liquid reliably reaches the surface of the mask 10. ing. Furthermore, in order to cope with an increase in the temperature of the rinsing liquid due to the vibration of the second ultrasonic vibrator, the first and second rinsing tanks 51 and 52 are configured to adjust the temperature of the rinsing liquid to room temperature. Two temperature regulators 70 are provided.

ここで、第2の温度調整器70は、第2の熱交換器70h及びポンプ72を備えており、当該第2の熱交換器70hにより第1及び第2のリンス槽51、52のリンス液を冷却する。そして、第2の温度調整器70は、当該第2の熱交換器70hにより冷却されたリンス洗浄液を、ポンプ72を介して第1及び第2のリンス槽51,52へ流入させるか否かによって、当該各槽のリンス液の温度を室温に微調整する。   Here, the 2nd temperature regulator 70 is provided with the 2nd heat exchanger 70h and the pump 72, The rinse liquid of the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52 by the said 2nd heat exchanger 70h. Cool down. The second temperature controller 70 determines whether the rinse cleaning liquid cooled by the second heat exchanger 70h flows into the first and second rinse tanks 51 and 52 via the pump 72. Finely adjust the temperature of the rinse liquid in each tank to room temperature.

上述したように、第2の温度調整器70によって、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液の温度を微調整することが可能となる。   As described above, the temperature of the rinse liquid in the first and second rinse tanks 51 and 52 can be finely adjusted by the second temperature controller 70.

次に、第1及び第2の洗浄槽21,22、及び第1及び第2のリンス槽51,52の各槽内の詳細な構成について説明する。図2は、第1及び第2の洗浄槽21,22を説明する断面図である。また、図3は、第1及び第2のリンス槽51,52、及び回収槽54を説明する断面図である。なお、図2及び図3では、オーバーフロー槽23、53の図示は省略されている。   Next, the detailed structure in each tank of the 1st and 2nd washing tanks 21 and 22 and the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52 is demonstrated. FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the first and second cleaning tanks 21 and 22. FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating the first and second rinse tanks 51 and 52 and the recovery tank 54. 2 and 3, the overflow tanks 23 and 53 are not shown.

図2に示すように、第1及び第2の洗浄槽21,22は、それぞれ、第1の超音波振動器21a,22a、第1の攪拌器21b,22b、第1の温度センサ21c,22c、及び可動式の第1の液中キャリア21d,22dを備えている。ここで、第1の超音波振動器21a,22aは、マスク10の表面に洗浄液が確実に及ぶようにマスクに対して正対するように当該洗浄液に振動を与えれば良いが、マスクを複数枚ずつ洗浄するいわゆるバッチ式の場合よりも、マスクを1枚ずつ洗浄するいわゆる枚葉式の場合の方が、その第1の超音波振動器21a,22aの効果は大きい。また、第1の攪拌器21b,22bは、第1及び第2の洗浄槽21,22内で洗浄液を流動させるように当該洗浄液を攪拌するものである。   As shown in FIG. 2, the first and second cleaning tanks 21 and 22 include first ultrasonic vibrators 21a and 22a, first stirrers 21b and 22b, and first temperature sensors 21c and 22c, respectively. , And movable first submerged carriers 21d, 22d. Here, the first ultrasonic vibrators 21a and 22a may apply vibration to the cleaning liquid so as to face the mask so that the cleaning liquid surely reaches the surface of the mask 10. The effect of the first ultrasonic vibrators 21a and 22a is greater in the case of the so-called single wafer type in which the masks are washed one by one than in the case of the so-called batch type in which the cleaning is performed. The first stirrers 21b and 22b stir the cleaning liquid so that the cleaning liquid flows in the first and second cleaning tanks 21 and 22, respectively.

また、第1の温度センサ21c,22cは、第1の温度調整器40による第1及び第2の洗浄槽21,22内の洗浄液の温度調整の際に、参照温度として、当該洗浄液の温度を検出するものである。また、第1の液中キャリア21d,22dは、マスク10を洗浄処理する際に当該マスク10を保持して洗浄液に浸漬する機能を有する。また、この第1の液中キャリア21d,22dは、マスク10の表面にリンス液が確実に及ぶようにマスク10全体を垂直方向に振動させる揺動機能を有していることが好ましい。   The first temperature sensors 21c and 22c use the temperature of the cleaning liquid as a reference temperature when the temperature of the cleaning liquid in the first and second cleaning tanks 21 and 22 is adjusted by the first temperature controller 40. It is to detect. Further, the first submerged carriers 21d and 22d have a function of holding the mask 10 and immersing it in the cleaning liquid when the mask 10 is cleaned. The first submerged carriers 21d and 22d preferably have a swinging function that vibrates the entire mask 10 in the vertical direction so that the rinsing liquid reliably reaches the surface of the mask 10.

上述したように、第1及び第2の洗浄槽21,22では、第1の超音波振動器21a,22aによる洗浄液の振動、第1の攪拌器21b,22bによる洗浄液の攪拌、及び第1の液中キャリア21d,22dによるマスク10の揺動により、当該洗浄液によるマスク10の洗浄処理が確実に行われるようになる。   As described above, in the first and second cleaning tanks 21 and 22, the vibration of the cleaning liquid by the first ultrasonic vibrators 21a and 22a, the stirring of the cleaning liquid by the first stirrers 21b and 22b, and the first As the mask 10 is swung by the liquid carriers 21d and 22d, the cleaning process of the mask 10 by the cleaning liquid is surely performed.

同様に、図3に示すように、第1及び第2のリンス槽51,52は、それぞれ、第2の超音波振動器51a、52a、第2の攪拌器51b,52b、第2の温度センサ51c,52c、及び可動式の第2の液中キャリア51d,52dを備えている。ここで、第2の超音波振動器51a、52aは、マスク10の表面にリンス液が確実に及ぶように当該リンス液に振動を与える振動器である。また、第2の攪拌器51b,52bは、第1及び第2のリンス槽51,52内でリンス液を流動させるように当該リンス液を攪拌するものである。   Similarly, as shown in FIG. 3, the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52 are respectively 2nd ultrasonic vibrator 51a, 52a, 2nd stirrer 51b, 52b, 2nd temperature sensor. 51c, 52c, and movable second submerged carriers 51d, 52d. Here, the second ultrasonic vibrators 51 a and 52 a are vibrators that vibrate the rinse liquid so that the rinse liquid surely reaches the surface of the mask 10. The second stirrers 51b and 52b stir the rinse liquid so that the rinse liquid flows in the first and second rinse tanks 51 and 52.

また、第2の温度センサ51c,52cは、第2の温度調整器70による第1及び第2のリンス槽51,52内のリンス液の温度調整の際に、参照温度として、当該リンス液の温度を検出するものである。また、第2の液中キャリア51d,52dは、マスク10をリンス処理する際に当該マスク10を保持してリンス液に浸漬する機能を有する。また、この第2の液中キャリア51dは、マスク10の表面にリンス液が確実に及ぶようにマスク10全体を垂直方向に振動させる揺動機能を有していることが好ましい。   Further, the second temperature sensors 51c and 52c are used as reference temperatures when the temperature of the rinse liquid in the first and second rinse tanks 51 and 52 is adjusted by the second temperature regulator 70. It detects temperature. The second submerged carriers 51d and 52d have a function of holding the mask 10 and immersing it in the rinsing liquid when the mask 10 is rinsed. The second submerged carrier 51d preferably has a swinging function that vibrates the entire mask 10 in the vertical direction so that the rinsing liquid reliably reaches the surface of the mask 10.

また、第2のリンス槽52と導通する回収槽54は、第3の冷却器55及び第3の温度センサ54cを備えている。第3の冷却器55は、第3の温度センサ54cの検出結果に応じて、回収槽54を、第1及び第2のリンス槽51,52よりも低い温度に冷却する。当該冷却の温度は、前述のように、例えば零下25℃程度である。回収槽54に導かれた蒸発したリンス液は、いわゆるトラップコイル54tによって液化されて、当該回収槽54に回収される。   The recovery tank 54 that is electrically connected to the second rinse tank 52 includes a third cooler 55 and a third temperature sensor 54c. The third cooler 55 cools the collection tank 54 to a temperature lower than that of the first and second rinse tanks 51 and 52 according to the detection result of the third temperature sensor 54c. As described above, the cooling temperature is, for example, about 25 ° C. below zero. The evaporated rinse liquid guided to the recovery tank 54 is liquefied by a so-called trap coil 54 t and recovered in the recovery tank 54.

また、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液の液面より上方には、第3及び第4の温度調整器57,58、及び2つの第4の温度センサ50cが備えられている。第3の温度調整器57は、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液の液面の上方の温度を例えば零下10℃程度に冷却することにより、蒸発したリンス液が第1及び第2のリンス槽51,52の外部へ拡散することを抑止する第1の空気層59aを形成する。また、第4の温度調整器58は、第1の空気層59aの上方の温度を、室温より若干高い温度に調整して、第1及び第2のリンス槽51,52の外部の大気が当該槽内に流入することを抑止する第2の空気層59bを形成する。   In addition, the third and fourth temperature regulators 57 and 58 and the two fourth temperature sensors 50c are provided above the surface of the rinse liquid in the first and second rinse tanks 51 and 52, respectively. Yes. The third temperature regulator 57 cools the temperature above the surface of the rinsing liquid in the first and second rinsing tanks 51 and 52 to, for example, about 10 ° C. below zero, whereby the evaporated rinsing liquid is A first air layer 59a that suppresses diffusion outside the second rinse tanks 51 and 52 is formed. The fourth temperature regulator 58 adjusts the temperature above the first air layer 59a to a temperature slightly higher than room temperature, and the atmosphere outside the first and second rinse tanks 51 and 52 A second air layer 59b that inhibits the flow into the tank is formed.

ここで、第3及び第4の温度調整器57,58による上記温度の調整は、2つの第4の温度センサ50cによる温度の検出結果に応じて行われることが好ましい。なお、第3及び第4の温度調整器57,58による上記温度の調整が、予め設定した所定の温度に調整される場合、2つの第4の温度センサ50cのうちいずれか1つもしくは全ては、省略されてもよい。   Here, the temperature adjustment by the third and fourth temperature regulators 57 and 58 is preferably performed according to the temperature detection results by the two fourth temperature sensors 50c. When the temperature adjustment by the third and fourth temperature regulators 57 and 58 is adjusted to a predetermined temperature set in advance, any one or all of the two fourth temperature sensors 50c are , May be omitted.

上述したように、第1及び第2のリンス槽51,52では、第2の超音波振動器51a,52aによるリンス液の振動、第2の攪拌器51b,52bによるリンス液の攪拌、及び第2の液中キャリア51d,52dによるマスク10の揺動により、当該リンス液によるマスク10のリンス処理が確実に行われるようになる。   As described above, in the first and second rinse tanks 51 and 52, the vibration of the rinse liquid by the second ultrasonic vibrators 51a and 52a, the stirring of the rinse liquid by the second stirrers 51b and 52b, and the first The rinsing process of the mask 10 with the rinsing liquid is surely performed by the swing of the mask 10 by the second submerged carriers 51d and 52d.

また、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液の液面より上方に、第3及び第4の温度調整器57,58を備えているため、第1及び第2のリンス槽51,52で蒸発したリンス液を大気中に拡散させずに、回収槽54によって回収することができる。   Moreover, since the 3rd and 4th temperature regulators 57 and 58 are provided above the liquid level of the rinse liquid of the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52, the 1st and 2nd rinse tank 51 is provided. , 52 can be recovered by the recovery tank 54 without diffusing into the atmosphere.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系における洗浄液の流れについて説明する。第1の洗浄槽21、次いで第2の洗浄槽22にマスク10が浸漬されて洗浄処理が行われると、マスク10から除去された有機材料が洗浄液に混ざる。そして、第1の還流管101を通して還流した洗浄液が第2の洗浄槽22に流入すると、第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液が第1のオーバーフロー槽23へオーバーフローする。オーバーフローした洗浄液は真空蒸留器30へ流入する。ここで、真空蒸留器30内は例えば0.8気圧程度に減圧され、例えば120℃程度に加熱されて、洗浄液の真空蒸留が行われる。真空蒸留器30の底部に沈殿した有機材料は、冷却釜30rで冷却されて定期的に外部へ排出する。   Next, the flow of the cleaning liquid in the cleaning system of the cleaning apparatus according to the present embodiment will be described. When the mask 10 is immersed in the first cleaning tank 21 and then the second cleaning tank 22 and the cleaning process is performed, the organic material removed from the mask 10 is mixed with the cleaning liquid. Then, when the cleaning liquid refluxed through the first reflux pipe 101 flows into the second cleaning tank 22, the cleaning liquid in the first and second cleaning tanks 21 and 22 overflows into the first overflow tank 23. The overflow cleaning liquid flows into the vacuum still 30. Here, the inside of the vacuum distiller 30 is decompressed to, for example, about 0.8 atm, and heated to, for example, about 120 ° C., and the vacuum distillation of the cleaning liquid is performed. The organic material precipitated on the bottom of the vacuum still 30 is cooled in the cooling pot 30r and periodically discharged to the outside.

この洗浄液の沸点は例えば160℃程度であるが、当該洗浄液を真空状態において加熱して蒸留することにより、当該沸点を低下させて、蒸留の際の加熱温度を例えば120℃程度に低下させることができる。また、上記蒸留は真空蒸留であるため、蒸留の過程で洗浄液に水分が含まれることはない。   The boiling point of this cleaning liquid is, for example, about 160 ° C. However, by heating and distilling the cleaning liquid in a vacuum state, the boiling point can be reduced and the heating temperature during distillation can be decreased to, for example, about 120 ° C. it can. Moreover, since the said distillation is vacuum distillation, a washing | cleaning liquid does not contain a water | moisture content in the process of distillation.

真空蒸留されて有機材料が取り除かれた洗浄液は、第1の冷却器31により室温に冷却され、第1の還流管101を通して第2の洗浄槽22に還流する。   The cleaning liquid from which the organic material has been removed by vacuum distillation is cooled to room temperature by the first cooler 31, and refluxed to the second cleaning tank 22 through the first reflux pipe 101.

また、第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液の一部は、第1の温度調整器40に備えられた第1の熱交換器40hにより冷却され、当該冷却された洗浄液が、
ポンプ42を介して第2の洗浄槽22へ適宜流入する。
Further, a part of the cleaning liquid in the first and second cleaning tanks 21 and 22 is cooled by the first heat exchanger 40h provided in the first temperature regulator 40, and the cooled cleaning liquid is
It flows appropriately into the second cleaning tank 22 via the pump 42.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の洗浄系におけるリンス液の流れについて説明する。第1のリンス槽51、次いで第2のリンス槽52にマスク10が浸漬されてリンス処理が行われると、マスク10から除去された洗浄液がリンス液に混ざる。第2の還流管102を通して還流したリンス液が第2のリンス槽52に流入すると、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液が第2のオーバーフロー槽53へオーバーフローする。   Next, the flow of the rinse liquid in the cleaning system of the cleaning apparatus according to the present embodiment will be described. When the mask 10 is immersed in the first rinse tank 51 and then the second rinse tank 52 and the rinse treatment is performed, the cleaning liquid removed from the mask 10 is mixed with the rinse liquid. When the rinse liquid refluxed through the second reflux pipe 102 flows into the second rinse tank 52, the rinse liquids in the first and second rinse tanks 51 and 52 overflow into the second overflow tank 53.

このオーバーフローしたリンス液は常圧蒸留器60へ流入する。ここで、リンス液の沸点は例えば60℃であるために、例えば160℃程度の沸点を有する洗浄液の蒸留のように、当該沸点を下げるための真空蒸留を行う必要がない。そこで、常圧蒸留器60内は例えば常圧(大気圧)下で、当該沸点を超える例えば65℃程度に加熱されて、リンス液の常圧蒸留が行われる。   This overflow rinse liquid flows into the atmospheric distillation unit 60. Here, since the boiling point of the rinsing liquid is, for example, 60 ° C., there is no need to perform vacuum distillation for lowering the boiling point, for example, distillation of a cleaning liquid having a boiling point of about 160 ° C. Therefore, the inside of the atmospheric distillation apparatus 60 is heated to, for example, about 65 ° C., which exceeds the boiling point, under atmospheric pressure (atmospheric pressure), for example, and the atmospheric distillation of the rinsing liquid is performed.

この常圧蒸留により、リンス液に含まれる有機材料(洗浄液が付着したマスク10を介して運ばれる)等の不純物が取り除かれる。常圧蒸留されたリンス液は、常圧蒸留される過程で水分が混合しているが、その水分よりも大きい比重を利用して、水分とリンス液とに分離される。このリンス液は、第2の冷却器62により室温に冷却され、水分離槽80へ流入する。   By this atmospheric distillation, impurities such as an organic material contained in the rinsing liquid (carrying through the mask 10 to which the cleaning liquid is attached) are removed. The atmospherically distilled rinse liquid is mixed with water in the process of atmospheric distillation, but is separated into water and rinse liquid using a specific gravity larger than the water. The rinse liquid is cooled to room temperature by the second cooler 62 and flows into the water separation tank 80.

水分離槽80でさらに水分が除かれたリンス液は、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52へ還流する。   The rinse liquid from which water has been further removed in the water separation tank 80 is refluxed to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102.

また、常圧蒸留器60へ流入したものの常圧蒸留されていないリンス液の一部、即ち微量の洗浄液(マスク10を介してリンス液に混ざる)を含むリンス液は、バルブ60bの開閉に応じて、プール槽91へ流入する。リンス液がプール槽91へ流入して当該プール槽91の上限を満たした後、バルブ60bは閉じられ、リンス液の流入が停止する。そして、プール槽91内のリンス液は、分離器90へ流入して、リンス液と洗浄液との分離が開始される。   In addition, a portion of the rinse liquid that has flowed into the atmospheric distillation apparatus 60 but has not been subjected to atmospheric distillation, that is, a rinse liquid that contains a small amount of cleaning liquid (mixed with the rinse liquid through the mask 10), corresponds to the opening and closing of the valve 60b. Flows into the pool tank 91. After the rinse liquid flows into the pool tank 91 and satisfies the upper limit of the pool tank 91, the valve 60b is closed and the flow of the rinse liquid is stopped. Then, the rinse liquid in the pool tank 91 flows into the separator 90, and separation of the rinse liquid and the cleaning liquid is started.

プール槽91内のリンス液の液面が下限センサ91eにより検出された場合、再びバルブ60bが開けられて常圧蒸留器60からプール槽91内へリンス液が流入する。   When the liquid level of the rinse liquid in the pool tank 91 is detected by the lower limit sensor 91e, the valve 60b is opened again, and the rinse liquid flows into the pool tank 91 from the atmospheric distillation unit 60.

分離器90によって分離されたリンス液は、その水分よりも大きい比重を利用して、水分離槽80で水分を取り除いた後、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52へ還流する。また、分離器90によって分離された洗浄液は、プール槽91へ流入する。   The rinsing liquid separated by the separator 90 uses the specific gravity larger than the water to remove the water in the water separation tank 80 and then returns to the second rinse tank 52 through the second reflux pipe 102. In addition, the cleaning liquid separated by the separator 90 flows into the pool tank 91.

このような洗浄液とリンス液との分離を繰り返してゆくに従って、プール槽91内に蓄積されるリンス液は、分離器90から流入してプール槽91内で蓄積する洗浄液を多く含むようになる。そのため、当該洗浄液を含有するリンス液が分離器90で蒸発して分離される速度が遅くなる。   As such separation of the cleaning liquid and the rinsing liquid is repeated, the rinsing liquid accumulated in the pool tank 91 contains a large amount of the cleaning liquid flowing in from the separator 90 and accumulating in the pool tank 91. For this reason, the speed at which the rinse liquid containing the cleaning liquid is evaporated and separated by the separator 90 is reduced.

そこで、プール槽91のリンス液の液面に対する下限センサ91eの検出結果により、分離器90による分離開始時点からリンス液の液面が下限に到達するまでの時間が計測され、当該到達時間が所定の時間よりも長くなった場合、当該プール槽91内のリンス液に含まれる洗浄液は飽和状態であるとみなされて、分離器90による分離が終了する。そして、それまでは閉じていたバルブ91bが開いて、プール槽91内の分離された洗浄液は、真空蒸留器30へ流入する。   Therefore, based on the detection result of the lower limit sensor 91e with respect to the liquid level of the rinse liquid in the pool tank 91, the time from the start of separation by the separator 90 until the liquid level of the rinse liquid reaches the lower limit is measured. When the time is longer than the time, the cleaning liquid contained in the rinse liquid in the pool tank 91 is considered to be saturated, and the separation by the separator 90 is completed. Then, the valve 91 b that has been closed until then is opened, and the separated cleaning liquid in the pool tank 91 flows into the vacuum still 30.

また、第1及び第2のリンス槽51,52から蒸発したリンス液は、第3の冷却器55によって、第1及び第2のリンス槽51,52よりも低い例えば零下25℃程度に冷却された回収槽54に導かれて、回収される。回収槽54に回収されたリンス液は、水分離槽80へ流入して、その1.5程度の比重を利用して水分が除かれ、第2の還流管102を通して第2のリンス槽52へ還流する。   The rinse liquid evaporated from the first and second rinse tanks 51 and 52 is cooled by the third cooler 55 to, for example, about 25 ° C. below zero, which is lower than that of the first and second rinse tanks 51 and 52. It is guided to the recovery tank 54 and recovered. The rinse liquid collected in the collection tank 54 flows into the water separation tank 80, moisture is removed using the specific gravity of about 1.5, and the second rinse pipe 52 passes through the second reflux pipe 102 to the second rinse tank 52. Reflux.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の搬送系について図面を参照して説明する。図4乃至図8、及び図11乃至図14は、本実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。また、図9及び図10は、本実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する斜視図である。なお、図4乃至図14では、洗浄系に係る構成要素については、搬送系の説明に必要な一部の構成要素のみを図示している。   Next, the conveyance system of the cleaning apparatus according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. 4 to 8 and FIGS. 11 to 14 are cross-sectional views for explaining a transport system of the cleaning apparatus according to the present embodiment. 9 and 10 are perspective views for explaining a transport system of the cleaning apparatus according to the present embodiment. In FIGS. 4 to 14, only some components necessary for the description of the transport system are illustrated as components related to the cleaning system.

図4乃至図14に示すように、本実施形態に係る洗浄装置の搬送系は、ステージ200上に設置されて複数のマスク10を水平方向に格納したカセット210と、カセット210から1つのマスク10を取り出す第1のアーム221を有した第1の移載装置220と、マスク10を掴む第2のアームを有した第2の移載装置230と、第1及び第2の洗浄槽21,22や第1及び第2のリンス槽51,52にマスク10を搬送する搬送装置240と、を備えている。ここで、搬送装置240は、マスク10を搬送する際に、マスク10の一辺を保持するための鉤部242を有している。   As shown in FIGS. 4 to 14, the transport system of the cleaning apparatus according to the present embodiment includes a cassette 210 that is installed on a stage 200 and stores a plurality of masks 10 in the horizontal direction, and one mask 10 from the cassette 210. A first transfer device 220 having a first arm 221 for taking out the second, a second transfer device 230 having a second arm for gripping the mask 10, and first and second cleaning tanks 21, 22. And a transfer device 240 that transfers the mask 10 to the first and second rinse tanks 51 and 52. Here, the transport device 240 has a flange 242 for holding one side of the mask 10 when the mask 10 is transported.

次に、本実施形態に係る洗浄装置の搬送系の動作について説明する。最初に、図4に示すように、第1の移載装置220の第1のアーム221が伸縮して、カセット210から1つのマスク10を取り出す。次に、図5に示すように、第1の移載装置220は、第1のアーム221を下降させてマスク10をステージ200の所定の位置に載置する。次に、図6に示すように、第2の移載装置230が、第2のアーム231によってマスク10を掴み、さらに図7に示すように、マスク10を搬送装置240上に載置する。   Next, the operation of the transport system of the cleaning apparatus according to this embodiment will be described. First, as shown in FIG. 4, the first arm 221 of the first transfer device 220 expands and contracts to take out one mask 10 from the cassette 210. Next, as shown in FIG. 5, the first transfer device 220 lowers the first arm 221 to place the mask 10 at a predetermined position on the stage 200. Next, as shown in FIG. 6, the second transfer device 230 grips the mask 10 with the second arm 231, and further places the mask 10 on the transport device 240 as shown in FIG. 7.

そして、図8に示すように、マスク10が載置された搬送装置240は、垂直方向に90度程度回転して垂直な状態に至るまで起き上がる。また、搬送装置240上に載置されたマスク10も同時に、垂直方向に90度程度回転して起き上がる。このときの搬送装置240及びそれに載置されたマスク10の様子を示すと、図9の斜視図のようになる。   As shown in FIG. 8, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed rises up to a vertical state by rotating about 90 degrees in the vertical direction. In addition, the mask 10 placed on the transfer device 240 also rises simultaneously by rotating about 90 degrees in the vertical direction. The state of the transfer device 240 and the mask 10 placed thereon is shown in the perspective view of FIG.

このように、搬送装置240及びマスク10が垂直な状態となるために、マスク10を構成する金属薄膜に応力(金属薄膜に対する重力を起因とする応力や液による揺動を起因とする応力)が加わって金属疲労や損傷が生じることを極力回避することが可能となる。さらに、マスク10を垂直方向に立てかけることにより、液切れがよくなるという効果もある。   As described above, since the transfer device 240 and the mask 10 are in a vertical state, stress (stress caused by gravity on the metal thin film or stress caused by liquid oscillation) is applied to the metal thin film constituting the mask 10. In addition, it is possible to avoid metal fatigue and damage as much as possible. Further, the mask 10 is stood in the vertical direction, so that there is an effect that the liquid breakage is improved.

なお、上記搬送装置240とマスク10が回転する際の角度は、必ずしも90度程度である必要は無い。即ち、重力を起因とする応力によってマスク10を構成する金属薄膜に金属疲労や損傷が極力生じないような角度であれば、搬送装置240及びマスク10は、水平及び垂直以外の角度に至るようにして回転してもよい。   Note that the angle at which the transfer device 240 and the mask 10 rotate does not necessarily need to be about 90 degrees. That is, if the angle is such that metal fatigue and damage do not occur as much as possible in the metal thin film constituting the mask 10 due to the stress caused by gravity, the transfer device 240 and the mask 10 should be at angles other than horizontal and vertical. May rotate.

さらに、図10の斜視図に示すように、搬送装置240に予め備えられている保持具241が、マスク10の係止部13と嵌合されるようにして当該マスク10の係止部13に圧着される。これにより、マスク10は、その金属薄膜の表面に損傷を与えることなく、搬送装置240の保持具241と鉤部242とにより挟まれて保持される。   Further, as shown in the perspective view of FIG. 10, the holder 241 provided in advance in the transport device 240 is fitted to the locking portion 13 of the mask 10 so as to be fitted to the locking portion 13 of the mask 10. Crimped. As a result, the mask 10 is sandwiched and held between the holder 241 and the flange 242 of the transfer device 240 without damaging the surface of the metal thin film.

こうして搬送装置240上に保持されたマスク10は、搬送装置240と共に、洗浄装置の洗浄系、即ち、第1及び第2の洗浄槽21,22(及び第1及び第2のリンス槽51,52)へ搬送される。ここで、当該搬送の際は、搬送装置240は、図11の断面図に示すように、垂直方向及び水平方向の移動を連続的に行うことにより、同図中の軌跡1及び8のように、円弧状に近似した曲線状の所定の軌跡を以って移動する。なお、同図中のA,B,Cは洗浄液もしくはリンス液の液面より上方における垂直方向の位置(高さ)を示している。   The mask 10 thus held on the transporting device 240 together with the transporting device 240 is a cleaning system of the cleaning device, that is, the first and second cleaning tanks 21 and 22 (and the first and second rinsing tanks 51 and 52). ). Here, at the time of the conveyance, the conveyance device 240 continuously moves in the vertical direction and the horizontal direction as shown in the cross-sectional view of FIG. Then, it moves along a predetermined trajectory of a curve that approximates an arc shape. In the figure, A, B, and C indicate vertical positions (heights) above the surface of the cleaning liquid or rinsing liquid.

そのような所定の軌跡を有した搬送装置240の移動により、当該移動が垂直方向から水平方向へ、もしくは水平方向から垂直方向に切り替わる際の衝撃による応力によって金属薄膜から成るマスク10に金属疲労や損傷が生じることを極力回避することができる。   Due to the movement of the transfer device 240 having such a predetermined trajectory, the mask 10 made of a metal thin film is subjected to metal fatigue or the like due to stress caused by an impact when the movement is switched from the vertical direction to the horizontal direction or from the horizontal direction to the vertical direction. It is possible to avoid the occurrence of damage as much as possible.

また、搬送装置240は、所定の速度を以って移動する。この所定の速度は、搬送装置240が移動する際の風圧や衝撃による応力によって、金属薄膜から成るマスク10に金属疲労や損傷が生じない程度の速度であるものとする。もしくは、上記所定の速度は、搬送装置240が移動する際に生じる気流の乱れによって、第1及び第2のリンス槽51,52内のリンス液の蒸発を促さないような所定の速度であるものとする。   Further, the conveying device 240 moves at a predetermined speed. This predetermined speed is assumed to be a speed that does not cause metal fatigue or damage to the mask 10 made of the metal thin film due to wind pressure or stress caused by impact when the transport device 240 moves. Or the said predetermined speed is a predetermined speed which does not promote evaporation of the rinse liquid in the 1st and 2nd rinse tanks 51 and 52 by the disturbance of the airflow which arises when the conveying apparatus 240 moves. And

次に、図12に示すように、マスク10を載置した搬送装置240が、第1の洗浄槽21上に搬送される。そして、図13に示すように、第1の洗浄槽21中に備えられている第1の液中キャリア21dが洗浄液の液面より上方に上昇する。そして、第1の液中キャリア21dが搬送装置240と同一の位置まで上昇した後、もしくは搬送装置240が洗浄液の液面の上方に上昇した液中キャリア21dと同一の位置まで移動した後、搬送装置240の保持具241の圧着が解除されて、マスク10が液中キャリア21dに移し替えられる。   Next, as shown in FIG. 12, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed is transferred onto the first cleaning tank 21. As shown in FIG. 13, the first submerged carrier 21d provided in the first cleaning tank 21 rises above the liquid surface of the cleaning liquid. Then, after the first submerged carrier 21d rises to the same position as the transport device 240, or after the transport device 240 moves to the same position as the submerged carrier 21d raised above the liquid level of the cleaning liquid, The pressure bonding of the holder 241 of the device 240 is released, and the mask 10 is transferred to the submerged carrier 21d.

その後、図14に示すように、マスク10が載置された第1の液中キャリア21dが、洗浄液中に下降して、マスク10が洗浄液に浸漬される。また、マスク10を洗浄液中から取り出すときは、図14、図13、図12に示した過程を、この順で経るものとする。そして、図12乃至図14に示した第1の洗浄槽21のときと同様に、マスク10を載置した搬送装置240が、第2の洗浄槽22上に搬送される。そして、マスク10が第1の液中キャリア21dを介して洗浄液中に浸漬された後、取り出される。   After that, as shown in FIG. 14, the first submerged carrier 21d on which the mask 10 is placed descends into the cleaning liquid, and the mask 10 is immersed in the cleaning liquid. Further, when the mask 10 is taken out from the cleaning liquid, the processes shown in FIGS. 14, 13, and 12 are performed in this order. Then, similarly to the case of the first cleaning tank 21 shown in FIGS. 12 to 14, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed is transferred onto the second cleaning tank 22. Then, after the mask 10 is immersed in the cleaning liquid through the first liquid carrier 21d, the mask 10 is taken out.

上述したように、第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液にマスク10を浸漬する際、搬送装置240を洗浄液に浸漬することなく、洗浄処理を行うことができる。即ち、搬送装置240に洗浄液が付着することを極力回避することができる。そのため、第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液が、搬送装置240を介して第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液に運ばれることを極力回避することができる。   As described above, when the mask 10 is immersed in the cleaning liquids of the first and second cleaning tanks 21 and 22, the cleaning process can be performed without immersing the transport device 240 in the cleaning liquid. That is, it is possible to prevent the cleaning liquid from adhering to the transport device 240 as much as possible. Therefore, it is possible to avoid as much as possible that the cleaning liquids in the first and second cleaning tanks 21 and 22 are conveyed to the rinsing liquids in the first and second rinsing tanks 51 and 52 via the transport device 240.

次に、図12乃至図14に示した第1の洗浄槽21のときと同様に、マスク10を載置した搬送装置240が、第1のリンス槽51上に搬送される。そして、マスク10が第2の液中キャリア51dを介してリンス液中に浸漬された後、取り出される。さらに、マスク10を載置した搬送装置240が、第2のリンス槽52上に搬送される。そして、マスク10が第2の液中キャリア52dを介してリンス液中に浸漬された後、取り出される。   Next, similarly to the case of the first cleaning tank 21 shown in FIGS. 12 to 14, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed is transferred onto the first rinse tank 51. And after the mask 10 is immersed in the rinse liquid through the 2nd liquid carrier 51d, it is taken out. Further, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed is transferred onto the second rinse tank 52. Then, the mask 10 is taken out after being immersed in the rinsing liquid via the second liquid carrier 52d.

上述したように、第1及び第2のリンス槽51,52のリンス液にマスク10を浸漬する際、搬送装置240をリンス液に浸漬することなく、リンス処理を行うことができる。即ち、搬送装置240にリンス液が付着することを極力回避することができる。そのため、再び洗浄処理を行う際、搬送装置240にリンス液が付着して、当該リンス液が第1及び第2の洗浄槽21,22の洗浄液に運ばれることを極力回避することができる。   As described above, when the mask 10 is immersed in the rinsing liquids of the first and second rinsing tanks 51 and 52, the rinsing process can be performed without immersing the transport device 240 in the rinsing liquid. That is, it is possible to avoid the rinse liquid from adhering to the transport device 240 as much as possible. Therefore, when the cleaning process is performed again, it is possible to avoid as much as possible that the rinse liquid adheres to the transport device 240 and the rinse liquid is carried to the cleaning liquid in the first and second cleaning tanks 21 and 22.

なお、上述した搬送装置240は、マスク10を洗浄液もしくはリンス液に浸漬する場合、図11の軌跡1乃至4に従って移動することが好ましい。即ち、最初に、搬送装置240は、軌跡1に従ってAからBの高さに移動して一時停止する。その停止の際には、急激に停止するのではなく、マスクに前述の応力がかからないように徐々に減速しながら停止させるようにする。そして、不図示の液中キャリア21d,22d,51d,52dがBの高さに上昇した後、搬送装置240は、液中キャリア21d,22d,51d,52dにマスク10を受け渡しながら、BからCの高さに移動する。その後、搬送装置240は、液中キャリア21d,22d,51d,52dを離れるようにして軌跡3に従って水平方向に移動する。さらに、搬送装置240は、Aの高さに戻るようにして、軌跡4に従って、垂直方向に移動する。   In addition, when the mask 10 is immersed in the cleaning liquid or the rinsing liquid, the transfer device 240 described above preferably moves according to the trajectories 1 to 4 in FIG. That is, first, the conveying device 240 moves from A to B along the trajectory 1 and pauses. At the time of the stop, it is not stopped suddenly, but stopped while gradually decelerating so that the aforementioned stress is not applied to the mask. Then, after the unillustrated submerged carriers 21d, 22d, 51d, and 52d rise to the height of B, the transfer device 240 delivers the mask 10 to the submerged carriers 21d, 22d, 51d, and 52d, while transferring the mask 10 from B to C. Move to the height of. Thereafter, the conveying device 240 moves in the horizontal direction according to the trajectory 3 so as to leave the submerged carriers 21d, 22d, 51d, and 52d. Further, the conveying device 240 moves in the vertical direction along the locus 4 so as to return to the height of A.

また、上述した搬送装置240は、マスク10を洗浄液もしくはリンス液の液中から取り出す場合、図11の軌跡5乃至8に従って移動することが好ましい。即ち、最初に、搬送装置240は、軌跡5に従ってAからCの高さに移動する。次に、液中キャリア21d,22d,51d,52dに近づくようにして、軌跡6に従って水平方向に移動する。その後、搬送装置240は、軌跡7に従って、CからBの高さに移動して一時停止する。その後、搬送装置240は、Bの高さに上昇している液中キャリア21d,22d,51d,52dからマスク10を掬い上げるようにして移し替えながら、軌跡8に従って、BからAの高さに移動する。このときも、搬送装置240が急激に上方向に移動しないように、徐々に移動速度を増すようにすることが好ましい。そうすることにより、搬送装置240は、マスクに上述の応力をかけることなく移動できる。   In addition, the transfer device 240 described above preferably moves according to the trajectories 5 to 8 in FIG. 11 when the mask 10 is taken out of the cleaning liquid or the rinse liquid. That is, first, the transport device 240 moves from A to C along the trajectory 5. Next, it moves in the horizontal direction according to the locus 6 so as to approach the submerged carriers 21d, 22d, 51d, and 52d. Thereafter, the conveying device 240 moves from C to B along the locus 7 and stops temporarily. After that, the transfer device 240 moves from the submerged carrier 21d, 22d, 51d, 52d rising to the height of B so as to scoop up the mask 10 and moves from B to the height of A according to the trajectory 8. Moving. Also at this time, it is preferable to gradually increase the moving speed so that the conveying device 240 does not move rapidly upward. By doing so, the transfer device 240 can move without applying the stress described above to the mask.

ここで、搬送装置240は1つのマスク10を、第1及び第2の洗浄槽21,22もしくは第1及び第2のリンス槽51,52のいずれか1つの槽へ搬送した後、当該搬送が完了したマスク10とは異なる他のマスク10を、その他の槽に搬送してもよい。   Here, after the transport device 240 transports one mask 10 to one of the first and second cleaning tanks 21 and 22 or the first and second rinse tanks 51 and 52, the transport is performed. Another mask 10 different from the completed mask 10 may be transferred to another tank.

最後に、マスク10を載置した搬送装置240が、図1に示した真空乾燥器99に搬送されて乾燥される。   Finally, the transfer device 240 on which the mask 10 is placed is transferred to the vacuum dryer 99 shown in FIG. 1 and dried.

上述のように、図11に示す軌跡1及び8において円弧をなすように移動させること、また、軌跡1においては、移動速度(下方向)を徐々に減速すること、さらに軌跡8においては、移動速度(上方向)を徐々に増すようにすることによって、マスク10にかかる応力を減少させることができる。また、マスク10を搬送していないときの搬送装置240の動きは、液槽の側壁や液中キャリアとぶつからないようにすればよく、円弧状でもよく、また、急激に移動してもよい。   As described above, the trajectories 1 and 8 shown in FIG. 11 are moved so as to form an arc, the trajectory 1 is gradually decelerated, and the trajectory 8 is moved. By gradually increasing the speed (upward direction), the stress applied to the mask 10 can be reduced. Further, the movement of the transfer device 240 when the mask 10 is not transferred may be prevented from colliding with the side wall of the liquid tank or the carrier in liquid, may be arcuate, or may move rapidly.

なお、上述した実施形態では、洗浄液及びリンス液を、炭化水素系の洗浄液及びフッ素系のリンス液としたが、本発明はこれに限定されない。即ち、上記洗浄液及びリンス液は、マスク10に対して洗浄処理(有機EL用の有機材料の除去)及びリンス処理を行うことが可能であり、炭化水素系の洗浄液及びフッ素系のリンス液と同様の沸点、及び水分に対する比重を有したものであれば、上記以外の洗浄液及びリンス液であってもよい。   In the above-described embodiment, the cleaning liquid and the rinse liquid are the hydrocarbon-based cleaning liquid and the fluorine-based rinse liquid, but the present invention is not limited to this. That is, the cleaning liquid and the rinsing liquid can be subjected to a cleaning process (removal of organic materials for organic EL) and a rinsing process on the mask 10, and are the same as the hydrocarbon-based cleaning liquid and the fluorine-based rinsing liquid. As long as it has the boiling point of and the specific gravity with respect to water | moisture content, the washing | cleaning liquid and rinse liquid other than the above may be sufficient.

また、上述した実施形態では、マスク10はニッケル(Ni)及び鉄(Fe)から成る金属薄膜であるものとしたが、本発明はこれに限定されない。即ち、本発明は、マスク10が上記金属薄膜以外の金属、もしくは樹脂により構成される場合においても適用される。   In the embodiment described above, the mask 10 is a metal thin film made of nickel (Ni) and iron (Fe), but the present invention is not limited to this. That is, the present invention is also applied when the mask 10 is made of a metal other than the metal thin film or a resin.

本発明の実施形態に係る洗浄装置の洗浄系を説明する図である。It is a figure explaining the washing | cleaning system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の洗浄系を説明する図である。It is a figure explaining the washing | cleaning system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の洗浄系を説明する図である。It is a figure explaining the washing | cleaning system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する斜視図である。It is a perspective view explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する斜視図である。It is a perspective view explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る洗浄装置の搬送系を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the conveyance system of the washing | cleaning apparatus which concerns on embodiment of this invention. 従来例に係る有機EL用のマスクを説明する上面図である。It is a top view explaining the mask for organic EL which concerns on a prior art example. 図15のX−X線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the XX line of FIG. 図15のY−Y線に沿った断面図である。It is sectional drawing along the YY line of FIG. 有機材料が蒸着されたマスクの断面図である。It is sectional drawing of the mask in which the organic material was vapor-deposited.

符号の説明Explanation of symbols

1 有機材料 1a オーバーハング
10 マスク 11 孔 12 金属フレーム 13 係止部
21 第1の洗浄槽 22 第2の洗浄槽
21a,22a 第1の超音波振動器
21b,22b 第1の攪拌器
21c,22c 第1の温度センサ
21d,22d 第1の液中キャリア
30 真空蒸留器 31 第1の冷却器
40 第1の温度調整器
51 第1のリンス槽 52 第2のリンス槽
51a,52a 第2の超音波振動器
51b,52b 第2の攪拌器
51c,52c 第2の温度センサ
51d,52d 第2の液中キャリア
54 回収槽 55 第3の冷却器
60 常圧蒸留器 61 第2の冷却器
70 第2の温度調整器
80 水分離槽
90 分離器
91 プール槽 91f 上限センサ 91e 下限センサ
101 第1の還流管 102 第2の還流管
200 ステージ
210 カセット
220 第1の移載装置
230 第2の移載装置
240 搬送装置 241 保持具 242 鉤部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic material 1a Overhang 10 Mask 11 Hole 12 Metal frame 13 Locking part 21 1st washing tank 22 2nd washing tank 21a, 22a 1st ultrasonic vibrator 21b, 22b 1st stirrer 21c, 22c 1st temperature sensor 21d, 22d 1st submerged carrier 30 Vacuum distiller 31 1st cooler 40 1st temperature regulator 51 1st rinse tank 52 2nd rinse tank 51a, 52a 2nd super Sonic vibrators 51b, 52b Second stirrers 51c, 52c Second temperature sensors 51d, 52d Second submerged carrier 54 Recovery tank 55 Third cooler 60 Atmospheric distiller 61 Second cooler 70 First 2 temperature controller 80 water separation tank 90 separator 91 pool tank 91f upper limit sensor 91e lower limit sensor 101 first reflux pipe 102 second reflux pipe 200 stage 210 cassette 20 first transfer device 230 the second transfer device 240 conveying device 241 holder 242 hook

Claims (14)

マスクに付着した有機EL用の有機材料を除去する洗浄装置であって、
前記マスクを所定の洗浄液により洗浄処理する洗浄槽と、
前記洗浄槽からオーバーフローした前記洗浄液を真空蒸留する真空蒸留器と、
前記真空蒸留器により真空蒸留された前記洗浄液を室温に冷却する第1の冷却器と、
前記第1の冷却器により冷却された前記洗浄液を前記洗浄槽に還流させる第1の還流管と、
前記洗浄槽で洗浄された前記マスクを所定のリンス液によりリンス処理するリンス槽と、
前記リンス槽からオーバーフローした前記リンス液を常圧下で蒸留する常圧蒸留器と、
前記常圧蒸留器で常圧蒸留された前記リンス液を室温に冷却する第2の冷却器と、
前記第2の冷却器により冷却された前記リンス液を前記リンス槽に還流させる第2の還流管と、を備えることを特徴とする洗浄装置。
A cleaning device for removing an organic EL organic material attached to a mask,
A cleaning tank for cleaning the mask with a predetermined cleaning liquid;
A vacuum still for vacuum distillation of the cleaning liquid overflowed from the cleaning tank;
A first cooler that cools the cleaning solution vacuum distilled by the vacuum still to room temperature;
A first reflux pipe for refluxing the cleaning liquid cooled by the first cooler to the cleaning tank;
A rinsing tank for rinsing the mask cleaned in the cleaning tank with a predetermined rinsing liquid;
An atmospheric distiller for distilling the rinse liquid overflowed from the rinse tank under atmospheric pressure;
A second cooler that cools the rinse solution that has been atmospherically distilled in the atmospheric distillation device to room temperature;
A cleaning apparatus comprising: a second reflux pipe for refluxing the rinse liquid cooled by the second cooler to the rinse tank.
前記洗浄槽内に、前記洗浄液を振動させる第1の超音波振動器を備えることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。 The cleaning apparatus according to claim 1, further comprising a first ultrasonic vibrator that vibrates the cleaning liquid in the cleaning tank. 前記洗浄槽の洗浄液の温度を検出する第1の温度センサと、
前記第1の温度センサの検出結果に応じて前記洗浄槽内の前記洗浄液を室温に調整する第1の温度調整器と、を備えることを特徴とする請求項2記載の洗浄装置。
A first temperature sensor for detecting the temperature of the cleaning liquid in the cleaning tank;
The cleaning apparatus according to claim 2, further comprising: a first temperature controller that adjusts the cleaning liquid in the cleaning tank to room temperature according to a detection result of the first temperature sensor.
前記第1の温度調整器に第1の熱交換器を備え、
当該第1の温度調整器は、当該第1の熱交換器により冷却された前記洗浄液を前記洗浄槽へ流入させることにより当該洗浄槽内の前記洗浄液の温度を調整することを特徴とする請求項3記載の洗浄装置。
The first temperature controller includes a first heat exchanger,
The first temperature regulator adjusts the temperature of the cleaning liquid in the cleaning tank by allowing the cleaning liquid cooled by the first heat exchanger to flow into the cleaning tank. 3. The cleaning apparatus according to 3.
前記リンス槽内に、前記リンス液を振動させる第2の超音波振動器を備えることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。 The cleaning apparatus according to claim 1, further comprising a second ultrasonic vibrator that vibrates the rinse liquid in the rinse tank. 前記リンス槽のリンス液の温度を検出する第2の温度センサと、
前記第2の温度センサの検出結果に応じて前記リンス槽内の前記リンス液を室温に調整する第2の温度調整器と、を備えることを特徴とする請求項5記載の洗浄装置。
A second temperature sensor for detecting the temperature of the rinse liquid in the rinse tank;
The cleaning apparatus according to claim 5, further comprising: a second temperature controller that adjusts the rinse liquid in the rinse tank to room temperature according to a detection result of the second temperature sensor.
前記第2の温度調整器に第2の熱交換器を備え、
当該第2の温度調整器は、当該第2の熱交換器により冷却された前記リンス液を前記リンス槽へ流入させることにより当該リンス槽内の前記リンス液の温度を調整することを特徴とする請求項6記載の洗浄装置。
The second temperature controller includes a second heat exchanger,
The second temperature regulator adjusts the temperature of the rinse liquid in the rinse tank by allowing the rinse liquid cooled by the second heat exchanger to flow into the rinse tank. The cleaning apparatus according to claim 6.
第3の冷却器を有した回収槽を備え、
前記回収槽は、当該第3の冷却器によって冷却されることにより、前記リンス槽内で蒸発した前記リンス液を回収し、
前記回収槽に回収された前記リンス液を、前記第2の還流管を通して前記リンス槽に還流させることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
A recovery tank having a third cooler;
The recovery tank recovers the rinse liquid evaporated in the rinse tank by being cooled by the third cooler,
The cleaning apparatus according to claim 1, wherein the rinse liquid recovered in the recovery tank is refluxed to the rinse tank through the second reflux pipe.
前記回収槽に、当該回収槽内の温度を検出する第3の温度センサを備え、
前記第3の冷却器は、前記第3の温度センサを用いて、前記リンス槽内と前記回収槽内とで蒸気圧差が生じるように前記回収槽内を冷却することを特徴とする請求項8記載の洗浄装置。
The recovery tank is provided with a third temperature sensor for detecting the temperature in the recovery tank,
The said 3rd cooler uses the said 3rd temperature sensor, and cools the inside of the said collection tank so that a vapor | steam pressure difference may arise in the inside of the said rinse tank and the said collection tank. The cleaning device described.
前記第2の冷却器によって冷却された前記リンス液中の水分を分離する水分離槽を備え、
前記水分離槽を通した前記リンス液を、前記第2の還流管を通して前記リンス槽に還流させることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
A water separation tank for separating water in the rinse liquid cooled by the second cooler;
The cleaning apparatus according to claim 1, wherein the rinse liquid that has passed through the water separation tank is refluxed to the rinse tank through the second reflux pipe.
前記回収槽によって回収された前記リンス液中の水分を分離する水分離槽を備え、
前記水分離槽を通した前記リンス液を、前記第2の還流管を通して前記リンス槽に還流させることを特徴とする請求項8または請求項9に記載の洗浄装置。
A water separation tank for separating water in the rinse liquid collected by the collection tank;
The cleaning apparatus according to claim 8 or 9, wherein the rinse liquid that has passed through the water separation tank is refluxed to the rinse tank through the second reflux pipe.
洗浄液を含有するリンス液を、洗浄液とリンス液とに分離する分離器と、
当該分離器により分離された洗浄液、及び前記常圧蒸留器の洗浄液を含有するリンス液を蓄積して再び前記分離器へ流入させるプール槽と、を備えることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
A separator for separating the rinse liquid containing the cleaning liquid into the cleaning liquid and the rinse liquid;
The cleaning tank according to claim 1, further comprising a pool tank that accumulates a cleaning liquid separated by the separator and a rinsing liquid containing the cleaning liquid of the atmospheric distillation apparatus and allows the rinse liquid to flow into the separator again. apparatus.
前記プール槽に、前記洗浄液及び前記リンス液の液面の下限を検出する下限センサを備え、
当該下限センサの検出結果に応じて、分離された洗浄液を前記真空蒸留器へ流入させることを特徴とする請求項12記載の洗浄装置。
The pool tank includes a lower limit sensor that detects a lower limit of the liquid level of the cleaning liquid and the rinse liquid,
The cleaning apparatus according to claim 12, wherein the cleaning liquid separated is caused to flow into the vacuum distiller according to a detection result of the lower limit sensor.
前記所定のリンス液は、フッ素系溶媒であることを特徴とする請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13のいずれかに記載の洗浄装置。 The predetermined rinsing liquid is a fluorinated solvent, according to any one of claims 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, and 13. Cleaning device.
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