JP4245708B2 - 測距装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は自動的に焦点検出や測距を行い、その結果に基づいて撮影レンズの焦点調節を行うカメラに適用可能な測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から夜景撮影用モードを有するカメラが数多く実現されているが、そのような夜景撮影用のモードがなくてもカメラを三脚に固定して長時間露光を使用するときれいな写真が撮影することができる。
【０００３】
夜景のような暗い被写体でも、最近の自動焦点（ＡＦ）カメラは焦点を確実に検出することができる。
図１９の（ａ）は、撮影されるファインダ内の画像を示している。
【０００４】
手前に人物が立っており、撮影者は夜景を背景にその人物を主要被写体として撮影しようとしているところである。
このシーンにおいて、人物の右側には背景の街灯があり、人物の左側には背景の建物のネオンがある。
【０００５】
ＡＦターゲット（測距枠）は、これら人物と街灯とネオンの３つをとらえており、その周辺は夜のため暗いとする。
一般に、夜景を撮影しようとした場合には、上記のようなシーンは良くあるシーンである。
【０００６】
つまり、測距枠内に何らかの光源があり、その光源は背景の建物の窓の明かりや街灯である場合が多く、測距枠内が完全に暗い場合の方が稀である。
また、手前に主要被写体の人物がいない場合でも，同様のことが言える。
【０００７】
すなわち、夜景撮影における光源は、昼間の太陽と異なって点光源的になる場合が多いと言える。
図１９の（ａ）のシーンをＡＦセンサで撮像したセンサデータを図１９の（ｂ）に示す。
【０００８】
ＡＦの検出方式は、公知のパッシブ位相差検出方式であり、それぞれ左右のセンサ列の出力を示す。
横軸は前画素（６４エレメントとした）の並び順を示し、縦軸はセンサ出力であり、隣合う画素の出力を結んで描いた図である。
【０００９】
図１９の（ｂ）からわかるように、街灯の像はＡＦセンサにとって点光源的であり、かつ非常に明るいため、細くて急峻な像となるが、人物の像は背景の街灯やネオンよりも暗く、出力は小さい。
【００１０】
すなわち、明暗差が大きいため暗部の中央の像がつぶれた出力となってる。
例えば、逆光下のセンサ出力もこのようになることが知られている。
このようなセンサ出力に基づいて焦点演算すると、背景にも人物にもピントがあっていない写真となることがある。
【００１１】
この原因は、パッシブ位相差検出方式が、原理上、元々持っている以下の２つの問題点に起因する。
（１）逆光的な被写体は中央の像がつぶれるため、中央の像に合焦しにくい。
（２）急峻な像（像が２、３画素にしか出ていないような点光源的な像）に基づいて演算焦点すると、演算精度が低下する。
【００１２】
上記（１），（２）の問題点を解決するため、次のような従来技術が知られている。
まず、特公平６−７２１９号公報には、ＡＦセンサをＡＦ光学系の結像面から少しオフセットした位置に配置すると共に、光学的なローパス効果を出すことにより急峻なセンサ出力になりにくいようにした技術が開示されている。
【００１３】
そして、特開平５−２６４８８７号公報には、逆光状態を検出するとＡＦセンサの積分時間を延長することにより、暗部の像も出力されるようにした技術が開示されている。
【００１４】
すなわち、これは、図１９の（ｃ）に示すように、周辺の街灯の像は飽和するが、中央の人物の像をはっきりと出力して、人物に合焦させる技術である。
図１９の（ｃ）の場合の積分時間は、図１９の（ｂ）の場合のそれよりも数倍長くなっている。
【００１５】
そして、特開平７−１９９０３９号公報には、夜景を撮影する夜景モードにセットされた場合には、ＡＦの補助光を発光させる技術が開示されている。
すなわち、手前の人物に補助光を照射して人物の像をはっきりと出力することにより、人物に合焦させる技術である。
【００１６】
また、街灯のような点光源状の直接光は、ＡＦ光学系の収差等により、ＡＦセンサ上でフレアーを有する像になる場合がある。
このような状況で、上記点光源状の直接光がＡＦセンサの有効受光領域の端に入射した場合、像の重心位置がずれるために誤測距となる（図１８参照）。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
しかるに、上記従来技術には以下のような問題点があつた。
まず、特公平６−７２１９号公報の技術では、細い線状の被写体に対しては効果があるが、図１９の（ａ）の街灯のような点光源に対しては効果がないという問題点がある。
【００１８】
これは、逆に言えば、街灯のような点光源はそれ程までに非常に急峻な像になると言える。
つまり、点光源の焦点検出に及ぼす影響を小さくする技術が必要となる。
【００１９】
そして、特開平５−２６４８８７号公報では、太陽光下の逆光を検出の対象にしているため、図１９の（ｂ）のようなセンサ出力は逆光と判断できないという問題点がある。
【００２０】
すなわち、これは、両側の出力が中央部よりも大きい場合のみ、逆光であると判断することができる。
そして、特開平７−１９９０３９号公報では、夜景モードでは、常に、ＡＦの補助光が出射されるためエネルギーロスとなるばかりか、必要のない場面（太陽光下で夜景モードを使用、あるいは街灯のようなＡＦにとっての有害光のない夜景）でも補助光が出射されるという問題点がある。
【００２１】
なお、上記、街灯のような点光源状の直接光による、ＡＦセンサ上でフレアーを有する像が有効受光領域の端に入射した場合の像の重心ずれによる誤測距の問題を解決する手法は未だ提案されていない。
【００２２】
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、焦点検出等の測距動作に対して有害光の及ぼす影響を除去し、主要被写体に対するＡＦ精度の向上を可能とする測距装置を提供することを目的とする。
【００２３】
【課題を解決するための手段】
本発明によると、上記課題を解決するために、
（１） 光電変換素子列を有する光電変換素子を含み、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を上記光電変換素子列の出力に基づき所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、
上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす点光源状の被写体による有害光の影響があるかを上記光電変換素子列の出力に基づき判定する有害光判定手段と、
上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段と、
を具備し、
上記有害光判定手段は上記光電変換素子列上の有害光の位置を検出し、上記制御手段は上記有害光判定手段によって検出された上記有害光の位置に基づいて上記測距手段により測距演算を行う検出ブロックとして、あらかじめ決められた複数の検出ブロックのうちから上記有害光の位置を含まない検出ブロックを選択する
ことを特徴とする測距装置が提供される。
【００２４】
また、本発明によると、
（２） 光電変換素子列を有する光電変換素子を含み、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を上記光電変換素子列の出力に基づき所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、
上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす点光源状の被写体による有害光の影響があるかを上記光電変換素子列の出力に基づき判定する有害光判定手段と、
上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段と、
を具備し、
上記有害光判定手段は上記光電変換素子列上の有害光の位置を検出し、上記制御手段は上記有害光判定手段によって検出された上記有害光の位置に基づいて上記測距手段により測距演算を行う検出ブロックを、上記有害光の位置を含まないように設定する
ことを特徴とする測距装置が提供される。
【００２５】
また、本発明によると、
（３） 上記有害光判定手段は上記光電変換素子列の画素出力の最大値が第１判定値より大きく、かつ、上記最大値の画素出力と当該画素出力が最大値の画素の両側において２画素離れた位置の画素出力との差が第２判定値より大きい場合に、有害光が存在すると判定する
ことを特徴とする（１）または（２）に記載の測距装置が提供される。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
図１は、本発明の実施の形態によるカメラの自動焦点調節装置として適用可能な測距装置の概念を示したブロック図である。
【００２７】
すなわち、本発明の第１の態様によるカメラの自動焦点調節装置として適用可能な測距装置は、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段１と、この測距手段１の出力に基づき測距動作に悪影響を及ぼす有害光の有無を判断する有害光判断手段２と、この有害光判断手段２において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように測距演算方法を変更するように測距手段１に指示する測距演算方法変更手段３と、上記測距手段１の出力に基づいて焦点調節制御を行う制御手段４と、を具備することを特徴とする。
【００２８】
図２は、本発明の自動焦点調節装置を適用したカメラの全体の構成を示したブロック図である。
まず、機構的な構成と光学的な構成について説明する。
【００２９】
図２において、被写体からの光束は、５群構成の撮影レンズ４１を通過し、メインミラー４２に入射される。
ここで、撮影レンズ４１は、第１群レンズ５１、第２群レンズ５２、第３群レンズ５３、第４群レンズ５４及び第５群レンズ５５の各レンズ群と、絞り８７とにより構成される。
【００３０】
そして、第１群レンズ５１、第２群レンズ５２ではフォーカシングが行われ、ズーム時は、第３群レンズ５３、第４群レンズ５４を移動させると同時に、第１群レンズ５１、第２群レンズ５２がカム構造で駆動されて、ズーム時のピント移動が防止されている。
【００３１】
上記メインミラー４２はハーフミラーになっており、このメインミラー４２に対する入射光量の７０％がファインダ光学系４３に向けて反射される。
一方、メインミラー４２に対する入射光量の残り３０％は、該メインミラー４２を透過し、サブミラー４４で反射された後、ＡＦ光学系４５に導かれる。
【００３２】
上記ファインダ光学系４３は、スクリーン６１、コンデンサレンズ６２、プリズム６３、モールドダハミラー６４、接眼レンズ６５により構成され、撮影者により観察される。
【００３３】
そして、メインミラー４２とサブミラー４４は、フィルム露光時には図中の破線で示された位置に退避する。
また、撮影レンズ４１を通過した被写体光束は、シャッタ７１の開いている間にフィルム７２に露光される。
【００３４】
更に、上記ＡＦ光学系４５は、視野絞り８１、赤外カットフィルタ８２、コンデンサレンズ８３、ミラー８４、再結像絞り８５、再結像レンズ８６とから構成されており、ＡＦセンサ１５に対して焦点検出のための光束を導くようになっている。
【００３５】
次に、電気的な構成について説明する。
図２において、カメラの制御装置であるカメラ制御部１０は、内部に中央処理装置ＣＰＵ１１とインターフェースＩＣ１２等を有しており、カメラの一連の動作の制御を行っている。
【００３６】
上記カメラ制御部１０には、露光制御部１３と、フィルム駆動部１４と、ＡＦセンサ１５と、絞り駆動部１６と、ズーム制御部１７とＡＦレンズ制御部１８と、測光部１９と、ストロボ制御部２０と、スイッチ群２１と、ＥＥＰＲＯＭ２２とが接続されている。
【００３７】
上記露光制御部１３は、メインミラー４２のアップダウン及びシャッタ７１の駆動を行って、フィルム７２への露光を制御する。
上記フィルム駆動部１４は、フィルム７２の巻上げ巻戻しの制御を行う。
【００３８】
上記ＡＦセンサ１５は、光電変換素子列であるフォトダイオードアレイ１５Ｌ及び１５Ｒを有しており、その各素子の出力をカメラ制御部１０に送出して焦点検出を行う。
【００３９】
上記絞り駆動部１６は、撮影レンズ４１内の絞り８７を適正絞り値まで駆動する。
上記ズーム制御部１７は、撮影レンズ４１のズームレンズ群をズームモータ２３によつて駆動する。
【００４０】
この場合、ズームレンズ群の位置は、ズームモータ２３に付設されているエンコーダ２４によって制御される。
上記ＡＦレンズ制御部１８は、撮影レンズ４１のフォーカスレンズ群をＡＦモータ２５によって駆動する。
【００４１】
この場合、フォーカスレンズ群の位置は、ＡＦモータ２５に付設されているエンコーダ２６によって制御される。
上記測光部１９は、被写体の輝度に応じた出力を発生するフォトダイオードからなるセンサであり、例えば、ファインダ光学系４３内に設置される。
【００４２】
上記ストロボ制御部２０は、被写体に閃光発光を行うストロボを制御すると共に、本発明では、補助光としてストロボ光を使用するので、補助光制御部も兼ねている。
【００４３】
上記スイッチ群２１は、撮影者によって押圧されるカメラ上の全てのスイッチ（以下ＳＷ）であり、図示されないレリーズ釦や夜景モードを設定する撮影モードＳＷを含む。
【００４４】
この夜景モードＳＷを押圧すると、カメラは夜景撮影に適した露光動作をするモードになる。
上記ＥＥＰＲＯＭ２２には、ＡＦ、測光等の各種補正データ等が記憶されており、ＣＰＵ１１は、カメラの電源投入時や初期化の際にＣＰＵ１１は該ＥＥＰＲＯＭ２２からデータを読み出してＣＰＵ１１内のＲＡＭに展開すると共に、必要に応じて該ＥＥＰＲＯＭ２２から随時データを読み出して補正等を行う。
【００４５】
次に、図３はＡＦセンサ１５の内部ブロック構成を示す図である。
図３において、ＡＦセンサ１５は、フォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒ、画素増幅回路ＥＡＣ、シフトレジスタＳＲ及びセンサ制御回路ＳＣＣから構成されている。
【００４６】
上記フォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒは、各フォトダイオードに入射する光量に応じた電荷を発生し、それぞれ独立して上記画素増幅回路ＥＡＣに出力する。
【００４７】
上記画素増幅回路ＥＡＣでは、フォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒの各フォトダイオードから発生される電荷をそれぞれ独立して増幅し、発生電荷に対する電圧信号を発生する。
【００４８】
また、画素増幅回路ＥＡＣは、各フォトダイオードの発生する電荷のうちの最大値、つまり最も入射光量の大きいフォトダイオードに対応する画素増幅回路出力に応じてモニタ出力を発生し、モニタ出力端子ＭＤＡＴＡに出力する。
【００４９】
上記センサ制御回路ＳＣＣは、ＣＰＵ１１からの各信号（ＣＥＮ，ＲＥＳ，ＥＮＤ，ＣＬＫ）に応じてＡＦセンサ１５の内部の動作を制御する。
更に、シフトレジスタＳＲは、ＣＰＵ１１からのクロック信号ＣＬＫに応じてフォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒの各フォトダイオードに対応する画素増幅回路ＥＡＣの出力を、順次センサデータ出力端子ＳＤＡＴＡに出力させる。
【００５０】
次に、図４のタイミングチャートに基づき、ＣＰＵ１１とＡＦセンサ１５の動作を説明する。
最初に、ＣＰＵ１１によりリセット信号ＲＥＳを受けると、センサ制御回路ＳＣＣは、ＡＦセンサ１５内の各ブロックの初期化を行うと共に、フォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒ及び画素増幅回路ＥＡＣによる電荷の蓄積動作を開始させる。
【００５１】
この蓄積動作中、画素増幅回路ＥＡＣは、電荷蓄積のレベルに応じたモニタ信号をモニタ出力ＭＤＡＴＡに出力する。
ＣＰＵ１１は、このモニタ出力ＭＤＡＴＡを内蔵のＡＤコンバータで随時モニタしており、適切な電荷蓄積量となるレベルに達したところで蓄積終了信号ＥＮＤをＡＦセンサ１５に出力し、積分動作を終了させる。
【００５２】
次に、ＣＰＵ１１が読み出しクロックＣＬＫをＡＦセンサ１５に出力すると、シフトレジスタＳＲは、これに応じてフォトダイオードアレイ１５Ｌと１５Ｒのフォトダイオードの蓄積電荷に対応する画素増幅回路ＥＡＣの出力電圧をセンサデータ出力ＳＤＡＴＡに順次出力する。
【００５３】
ＣＰＵ１１では、このセンサデータ出力ＳＤＡＴＡを内蔵のＡＤコンバータで順次ＡＤ変換し、内部のＲＡＭに各々格納していく。
なお、後述するように、本発明では、ＡＦの補助光としてストロボ光を使用しており、被写体が低輝度のために焦点検出ができないときには、積分動作中にストロボ光を図示のようにパルス的に発光して、適正積分量を得る。
【００５４】
図５は、補助光を兼ねているストロボ制御部２０の詳細な構成を示すブロック図である。
図５において、電源Ｅには電源電圧をストロボが発光可能な電圧になるまで昇圧するＤＣ／ＤＣコンバータ９０が並列に接続されている。
【００５５】
このＤＣ／ＤＣコンバータ９０の出力にはメインコンデンサＭＣに充電された電圧を測定するメインコンデンサ電圧測定回路９１が接続されている。
そして、上記ＤＣ／ＤＣコンバータ９０の出力には、Ｘｅ（キセノン）管９５に発光のためのトリガを印加するトリガ回路９２が接続されていると共に、ダイオードＤ１を介して発光エネルギーを蓄えるメインコンデンサＭＣにも接続されている。
【００５６】
そして、電源Ｅには前記ダイオードＤ１のカソードに接続されたメインコンデンサＭＣのエネルギーを消費して発光するＸｅ管９５と、このＸｅ管９５の発光光量の制御を行う発光光量制御回路９３が直列に接続されており、前記発光光量制御回路９３には電源Ｅの供給を制御する電源供給制御回路９４が接続されている。
【００５７】
上記ＤＣ／ＤＣコンバータ９０、メインコンデンサ電圧測定回路９１、トリガ回路９２、発光光量制御回路９３の制御は、ＣＰＵ１１によりインターフェースＩＣ１２を介して行われる。
【００５８】
図６は、本発明の第１の実施の形態のカメラ全体の動作を示したメインルーチンのフローチャートである。
まず、不図示のメインＳＷがオンされると、ＣＰＵ１１がパワーオンリセットされて動作を開始し、Ｉ／Ｏポートの初期化とＲＡＭの初期化等を行う（ステップＳ１）。
【００５９】
次に、ファーストレリーズ（以下、１ＲＳＷ）がオンされているかを判断する（ステップＳ２）。
本発明のカメラのレリーズＳＷ（不図示）は一般的な２段階ＳＷになっており、半押しの第１ストロークで１ＲＳＷがオンし、カメラはＡＦとレンズ駆動等の動作を行い、全押しの第２ストロークでセカンドレリーズスイッチ（以下、２ＲＳＷ）がオンして露光に至るようになっている。
【００６０】
ステップＳ２で、１ＲＳＷがオフならステップＳ１０に移行する。
一方、１ＲＳＷがオンであれば、測光部１９が動作して被写体輝度の測光を行うことにより、適正露出となる絞り値とシャッタスピード値が演算される（ステップＳ３）。
【００６１】
そして、サブルーチン「ＡＦ」が実行されて被写体の焦点検出が行われる。
この焦点検出に基づいて、フォーカシングレンズが合焦位置へ駆動されて、被写体にピントが合わせられる（ステップＳ４）が、これについては後述する。
【００６２】
続いて、このＡＦ動作の結果、合焦したか否かが判断される（ステップＳ５）が、後述するように、ローコントラスト等でＡＦ不能の場合（検出不能フラグで判断）にも合焦していないと判断される。
【００６３】
ここで、合焦していなければステップＳ９に移行し、合焦するまで露光動作に移行できないようになっている。
一方、合焦している場合には、２ＲＳＷがオンされているか否かが判断される（ステップＳ６）。
【００６４】
ここで、２ＲＳＷがオフしていればステップＳ２に戻るが、オンしていれば上記ステップＳ３で演算した結果に基づいて絞り８７、メインミラー４２、シャッタ７１を制御して露出動作を行う（ステップＳ７）。
【００６５】
この露出動作が終了すると、撮影されたフィルム７２が巻上げられて次の駒の位置に給送されて（ステップＳ８）、一連の撮影動作が終了する。
そして、不図示の表示装置ＬＣＤ、ＬＥＤの表示動作が制御されて（ステップＳ９）、ステップＳ２に戻る。
【００６６】
また、上記ステップＳ１０では、１ＲＳＷや２ＲＳＷ以外のＳＷのどれかが操作された場合に応じて、他のＳＷの状態が検出され、オンされていなければ上記ステップＳ９に移行する。
【００６７】
オンされているＳＷがある場合には、そのＳＷに応じた処理が実行された（ステップＳ１１）後に、ステップＳ９に移行する。
図７は、上記ステップＳ４におけるサブルーチン「ＡＦ」のフローチャートである。
【００６８】
まず、図４で説明したタイミングチャートに従ってＡＦセンサ１５の積分動作を行う（ステップＳ２０）。
この積分終了後、全画素のセンサデータをＣＰＵ１１のＲＡＭに読み込み（ステップＳ２１）、照度補正を行う（ステップＳ２２）。
【００６９】
この照度補正は、センサ感度バラツキやＡＦ光学系の周辺光量低下を補正する公知の技術である。
ステップＳ２３では、有害光となる点光源が含まれているか否かを判断するが、この有害光判断の具体的方法については後述する。
【００７０】
ステップＳ２４では、有害光判断の結果、設定されている有害光フラグを参照し、有害光が含まれていない場合には、ステップＳ２６に移行する。
また、有害光が含まれている場合には、ステップＳ２５にて有害光のＡＦセンサ上の位置を記憶する。
【００７１】
ステップＳ２６では、有害光の位置が中央ブロック内か否かを判別する。
有害光フラグがクリアされている状態すなわち有害光がない場合、または有害光が中央ブロックにない場合には、ステップＳ２７に移行して中央ブロックの相関演算を行う。
【００７２】
中央ブロックとは、図１９の（ｂ）に示したそれぞれ左右のセンサの中央部同士のブロックを示している。
この中央ブロック内の相関演算についても後述する。
【００７３】
一方、ステップＳ２６で有害光が中央ブロック内にある場合はステップＳ２９に移行し、中央ブロックの相関演算を行わない。
ステップＳ２８では、中央ブロック相関演算の結果が検出不能であるかを判断し、検出不能であればステップＳ２９に進み、検出可能であればステップＳ３５に進む。
【００７４】
ステップＳ２９では、有害光位置が右ブロック内か否か判別し、有害光フラグがクリアされている状態または有害光が右ブロックにない場合には、ステップＳ３０に移行して右ブロックの相関演算を行う。
【００７５】
右ブロックとは、図１９の（ｂ）に示したそれぞれ左右のセンサの右同士のブロックを示している。
右ブロックの相関演算の結果、検出不能であればステップＳ３２に進み、検出可能であれば、ステップＳ３５に進む。
【００７６】
ステップ３２では、有害光位置が、左ブロック内か否か判別し、有害光フラグがクリアされている状態または有害光が左ブロックにない場合には、ステップＳ３３に移行して左ブロックにない場合は、ステップＳ３３に移行して左ブロックの相関演算を行う。
【００７７】
左ブロックとは、図１９の（ｂ）に示したそれぞれの左右のセンサの左同士のブロックを示している。
また、有害光が左ブロック内の場合には、全ブロックで検出不能としてリターンする。
【００７８】
そして、左ブロック相関演算の結果、焦点検出不能であるか否かを判断し（ステップＳ３５）、検出不能であれば全ブロックで検出不能であるのでリターンする。
【００７９】
一方、ステップＳ２８、Ｓ３２、Ｓ３４のいずれかで検出可能であれば、ステップＳ３５で測距結果である撮影レンズ４１のデフォーカス量を演算し、ステップＳ３６で撮影レンズの収差量を補正する。
【００８０】
この収差補正とは、撮影レンズ４１の焦点距離の違いによる検出デフォーカス量の差を補正するものである。
次に、撮影レンズ４１が既に合焦状態にあるのか否かを判断する（ステップＳ３７）。
【００８１】
この判断は、検出フオーカス量が所定の許容値以内にあるかを判断するためである。
そして、すでに、合焦状態にあればレンズ駆動する必要がないので、リターンするが、非合焦であれば上記測距結果であるデフォーカス量に基づいて、合焦までのレンズ駆動量を演算して（ステップＳ３８）、撮影レンズ４１を合焦位置まで駆動する（ステップＳ３９）。
【００８２】
ステップＳ３５乃至３９については公知の技術であり、本発明の主旨と直接関係ないので説明を省略する。
以上のように、有害光を検出した場合は、有害光を含むブロックの相関演算を行わないようにしたので、図１９の（ｂ）の点光源（右ブロック）以外の被写体の像についてのみ相関演算を行い、人物に合焦することができる。
【００８３】
すなわち、ステップＳ２７の中央ブロック相関演算において、人物の像を検出可能とすることができる。
ここで、図８を参照して、図７のステップＳ２７で実行されるサブルーチン 「中央ブロック相関演算」について説明する。
【００８４】
図７のステップＳ２１で読み込まれるセンサデータは、ここでは左センサの被写体像信号Ｌ（Ｉ）、右センサの被写体像信号Ｒ（Ｉ）として表記するものとする。
【００８５】
まず、変数ＳＬ，ＳＲ，Ｆｍｉｎ，Ｊに初期値として、それぞれ″５″，″３７″，″５″，″８″を代入する（ステップ、Ｓ７１，Ｓ７２）。
このＳＬは被写体像信号Ｌ（Ｉ）のうちから相関検出する小ブロック素子列の先頭番号を記憶する変数であり、同様に、ＳＲは被写体像信号Ｒ（Ｉ）のうちから相関検出する小ブロック素子列の先頭番号を記憶する変数であり、Ｆｍｉｎは相関最小値を示す変数である。
【００８６】
また、Ｊは被写体像信号Ｒ（Ｉ）において小ブロックのずらした回数をカウントする変数である。
そして、相関出力Ｆ（ｓ）を次式により計算する。
【００８７】

この場合、小ブロックの素子数は２７であり、この小ブロックの素子数はファインダに表示された測距枠の大きさと検出光学系の倍率によつて定まる。
【００８８】
続いて、相関出力Ｆ（ｓ）の最小値を検出する。
すなわち、Ｆ（ｓ）をＦｍｉｎと比較して、もしＦ（ｓ）がＦｍｉｎよりも小さければＦｍｉｎにＦ（ｓ）を代入し、そのときのＳＬとＳＲをそれぞれＳＬＭとＳＲＭとして記憶する（ステップＳ７４、Ｓ７５）。
【００８９】
更に、ＳＲとＪをデクリメントし（ステップＳ７６）、Ｊ＝０でなるまで相関演算を繰り返す（ステップＳ７７）。
すなわち、像Ｌでの小ブロック位置を固定し、像Ｒでの小ブロック位置を１素子ずつずらせながら相関をとる。
【００９０】
そして、Ｊ＝０になると、次にＳＬに４をＳＲに３をそれぞれ加算し、ＳＬ＝２９になるまで相関演算を繰り返す（ステップＳ７８、Ｓ７９）。
すなわち、像Ｌでの小ブロックの素子数を４素子づつずらせながら相関演算を繰り返す。
【００９１】
以上により、効率的に相関演算を行い、相関出力の最小値を検出することができる。
この相関出力の最小値を示す小ブロックの位置が、最も相関性の高い像信号の位置関係を示している。
【００９２】
そして、このときの小ブロックの間隔である２像間隔ＳＲＭ−ＳＬＭを採用する。
そして、検出した最も相関性の高い小ブロック像信号について相関性の判定を行うために、次の式（２），（３）で示す相関出力ＦＭとＦＰとを計算する（ステップＳ８０）。
【００９３】

すなわち、被写体像Ｒについて最小の相関出力を示す小ブロック位置に対して±１素子だけずらせたときの相関出力を計算する。
【００９４】
このとき、ＦＭ、Ｆｍｉｎ、ＦＰは、図９の（ａ）、（ｂ）に示すような関係になる。
なお、図９の（ａ）、（ｂ）の横軸は、光電変換素子の位置（左端からの素子の番号）であり、縦軸は相関出力を示している。
【００９５】
相関性の高い場合には、相関出力Ｆ（ｓ）は、点ＳｏにおいてＳｏ＝０になるが、これに対して、相関性の低い場合にはＳｏは″０″にならない。
以上までの相関演算を行うことによって、光電変換素子数を片側６４個とすると、左右それぞれの両端の約５素子を除いたほぼ全域に渡って相関演算を行ったことになる。
【００９６】
続いて、相関性の判定をするために、次式で示す相関性指数ＳＫとＦＳを求める（ステップＳ８１）。
ＦＭ≧ＦＰのとき
ＳＫ＝（ＦＰ＋Ｆｍｉｎ）／（ＦＭ−Ｆｍｉｎ） …（４）
ＦＳ＝ＦＭ−Ｆｍｉｎ …（５）
ＦＭ＜ＦＰのとき
ＳＫ＝（ＦＭ＋Ｆｍｉｎ）／（ＦＰ−Ｆｍｉｎ） …（６）
ＦＳ＝ＦＰ−Ｆｍｉｎ …（７）
なお、図９の（ａ）、（ｂ）は、ＦＭ≧ＦＰのときのみを示している。
【００９７】
相関性指数ＳＫは、相関性の高い場合にはＳＫ＝１となり、その値が大きくなるほど相関性は低くなる。
また、相関性指数ＦＳは、最も相関性の高い小ブロック像信号のコントラストに相当するので、この値が大きいほどコントラストが高いことを示す。
【００９８】
したがって、相関性指数ＳＫとＦＳとの値を所定の値と比較することによって、検出する像ずれ量に信頼性があるか否かを判断することができる（ステップＳ８２、Ｓ８３）。
【００９９】
ステップＳ８２とＳ８３とのいずれかにおいて信頼性が低いと判断された場合には、検出不能フラグをセットして（ステップＳ８４）、リターンするが、ステップＳ８２とＳ８３のいずれでも信頼性が高いと判断された場合には、検出不能フラグをクリアして（ステップＳ８５）、リターンする。
【０１００】
この検出不能フラグを先の図７のステップＳ２８で判断する。
以上のように信頼性がある場合には、２像間隔ＳＲＭ−ＳＬＭを採用する。
この２像間隔ＳＲＭ−ＳＬＭは、画素単位のデータであるので、公知の３点補間等の手法により、より詳細な２像間隔データＺＲが算出される。
【０１０１】
そして、ＥＥＰＲＯＭ２２にメモリされている合焦時の２像間隔ＺＲ０を用いて、合焦近傍においてデフォーカス量に比例する像ずれ量ΔＺＲ＝ＺＲ−ＺＲ０を求める。
【０１０２】
サブルーチン「右ブロック相関演算」、「左ブロック相関演算」については、上記「中央ブロック相関演算」に対して、変数、初期値等の設定が異なるのみで基本的処理はそれと同様であるので説明は省略する。
【０１０３】
図１０は、ステップＳ２３の有害光判断の概念図である。
図１０のセンサデータは、図１９の（ｂ）のそれと同じである。
図１０は有害光の焦点検出に及ぼす影響が大きい場合を示す。
【０１０４】
先に説明したように、街灯の像はＡＦセンサにとって点光源的であり、かつ非常に明るいため、細くて急峻な像となるが、人物の像は背景の街灯やネオンよりも暗く、出力は小さい。
【０１０５】
すなわち、明暗差が大きいため暗部の中央の像がつぶれた出力となっており、図中のＡとＢの幅は大きいがＣの幅は小さくなり、Ｃの幅は画素のピッチにもよるが３画素程度である。
【０１０６】
また、出力のａとｂは小さくｃは非常に大きくなる。
このようなセンサデータになる場合を検出して有害光有りと判断する。
次に、図１１に図７のステップＳ２３のサブルーチン「有害光判断」のフローチャートを示す。
【０１０７】
まず、全画素の中で最大出力となる値とその画素を探索し、その値をＭａｘとする（ステップＳ１００）。
これは図１０の（ａ）中のＣに対応する。
【０１０８】
そして、このＭａｘが第１のスレッシュ値よりも大きいか否かを判断し（ステップＳ１０１）、大きくない場合には有害光フラグをクリアして（ステップＳ１１０）、リターンする。
【０１０９】
すなわち、このＭａｘがある程度大きくない場合には有害光ではあり得ないと判断する。
一方、このＭａｘが第１のスレッシュ値よりも大きい場合には、最大出力を与える画素の２画素先の画素の出力を求め、その出力をＭａｘｐとする（ステップＳ１０２）。
【０１１０】
更に、最大出力を与える画素の２画素手前の画素の出力を求め、その出力をＭａｘｍとする（ステップＳ１０３）。
そして、Ｍａｘ−Ｍａｘｐが第２のスレッシュ値よりも大きいか否かを判断し（ステップＳ１０４）、大きくない場合にはステップＳ１０７に移行するが、大きい場合にはＭａｘ−Ｍａｘｍが第２のスレッシュ値よりも大きいか否かを判断し（ステップＳ１０５）、大きくない場合にはステップＳ１０７に移行する。
【０１１１】
すなわち、±２画素の範囲でセンサデータが急峻に変化していることを検出し、急峻に変化していない場合には有害光では有り得ないと判断する。
ステップＳ１０７では、有害光フラグをクリアして、リターンする。
【０１１２】
一方、Ｍａｘ−Ｍａｘｐが第２のスレッシュ値よりも大きく、かつ、Ｍａｘ−Ｍａｘｍも第２のスレッシュ値よりも大きい場合には、有害光フラグをセットして（ステップＳ１０６）、リターンする。
【０１１３】
次に、本発明の第２の実施の形態について説明するが、その構成は前述した第１の実施の形態のそれと同様である。
図１２は、第２の実施の形態によるサブルーチン「ＡＦ」のフローチャートが示されている。
【０１１４】
最初に、ステップＳ１８１では、ＡＦセンサ１５の積分制御を行う。
ステップＳ１８２では、ＣＰＵ１１はＡＦセンサ１５において蓄積された信号をセンサデータとして読み出し、ＲＡＭに格納する。
【０１１５】
ステップＳ１８３では、第１の実施の形態と同様に照度補正を行なう。
ステップＳ１８４では、ＲＡＭに格納されたセンサーデータに基づいて焦点検出演算１を行う。
【０１１６】
ステップＳ１８５では、焦点検出演算１の結果が検出不能か否かを判別することにより、検出できた場合にはステップＳ１８６に移行するが、検出不能の場合にはリターンする。
【０１１７】
ステップＳ１８６では、上記焦点検出演算１により算出された像ずれ量ΔＺＲが、合焦許容範囲より広い所定の範囲内か否かを判定し、範囲外のときにはステップＳ１８８に移行する。
【０１１８】
これは、像ずれ量すなわちデフォーカス量が大きい状態では検出精度が低下するので、次に、説明する有害光影響除去処理を行っても効果的ではないためである。
【０１１９】
次に、ステップＳ１８７では、上記相関性の最も高い検出ブロックＳＬＭ，ＳＲＭのセンサデータより主要被写体と混在する有害光の有無を判定し、有害光がある場合にはその影響を除去する処理を行う。
【０１２０】
この有害光影響除去方法については後述する。
ステップＳ１８８では、上記焦点検出演算により求められて最終的に採用された像ずれ量ΔＺＲをデフォーカス量に変換する演算を行う。
【０１２１】
ステップＳ１８９では第１の実施の形態と同様の収差補正を行う。
そして、ステップＳ１９０では上記デフォーカス量が合焦許容範囲内にあるか否かを判別して、合焦範囲内にあればリターンする。
【０１２２】
一方、ステップＳ１９０にて非合焦状態であれば、ステップＳ１９１では求められたでフォーカス量に基づいてレンズ駆動量を計算し、ステップＳ１９２で撮影レンズ４１の駆動制御を実行し、リターンする。
【０１２３】
図１３は、図１２のステップＳ１８４におけるサブルーチン「焦点検出演算１」によるＡＦセンサデータ（被写体像信号Ｌ（ｉ）、Ｒ（ｉ））上の検出ブロックのシフト方法を示すものである。
【０１２４】
このように被写体像信号の全域にわたって効率的に検出演算を行なう。
なお、この「焦点検出演算１」による処理は、第１の実施の形態の「中央ブロック相関演算」と同様であるので説明を省略する。
【０１２５】
次に、図１４に示すフローチヤートに基づいて行われる「有害光影響除去処理」について説明する。
ステップＳ１９３においては、上記「焦点検出演算１」による相関性が最も高い検出ブロックＳＬＭ内のセンサーデータＬ（ｉ）について第１の実施の形態のサブルーチン「有害光判断」を適用する。
【０１２６】
ステップＳ１９４において、有害光フラグを参照して、有害光有りの場合にはステップＳ１９５は進むが、有害光がない場合にはステップＳ１９９に進み、焦点検出演算１の結果を採用してリターンする。
【０１２７】
ステップＳ１９５では、検出された有害光位置に基づいて新しい検出ブロックＢＬを設定する。
ここで、新検出ブロックＢＬの設定は、主要被写体と有害光の位置関係に応じて異なる。
【０１２８】
図１６の（ａ）の場合では、有害光の左端がｉ＝ａに位置している。
このとき、センサーデータＬ（ｉ）内で新検出ブロックＢＬの最終位置をＢＬＥ＝ａと設定し、検出ブロックＢＬの画素数Ｎをａ−ＳＬＭ＋１とする。
【０１２９】
また、先頭位置ＢＬＳ＝ＳＬＭである。
また、図１６の（ｂ）の場合では、有害光の右端がｉ＝ｂに位置している。
センサデータＬ（ｉ）内で新検出ブロックＢＬの先頭位置ＢＬＳは、有害光の右端１＝ｂとし（ＢＬＳ＝ｂ）、最終位置はＢＬＥ＝ＳＬＭ＋２６とする。
【０１３０】
また、画素数ＮはＳＬＭ＋２７−ｂとなる。
ステップＳ１９６では、上記新検出ブロックＢＬについて「焦点検出演算２」が実行されるが、この「焦点検出演算２」については後述する。
【０１３１】
ステップＳ１９７においては、新検出ブロックＢＬでの検出結果が検出可能か否かを判別し、検出可能の場合にはステップＳ１９８にて焦点検出演算２の結果を採用する。
【０１３２】
一方、検出不能の場合にはステップＳ１９９において、焦点検出演算１の結果を採用する。
次に、図１５に示されるフローチャートにより焦点検出演算２を説明する。
【０１３３】
「焦点検出演算２」では、検出ブロックＢＬについての演算を行う。
ステップＳ１２１において、図１７に示すようにセンサーデータＬ（ｉ）、Ｒ（ｉ）上の検出ブロックの先頭を示す変数ＳＬ、ＳＲにそれぞれ初期値としてＢＬＳ、Ｘｓ＋ＢＬＳ＋ｄ（Ｘｓは合焦時のシフト量）を入力する。
【０１３４】
次に、ステップＳ１２２において、変数Ｊに初期値２＊ｄを設定する。
ＪはセンサーデータＲ（ｉ）でのブロックのシフト回数をカウントするための変数である。
【０１３５】
次に、ステップＳ１２３において、以下に示すような相関演算式（８）の計算を行う。
Ｆ（ｓ）＝Σ｜Ｌ（ＳＬ＋ｉ）−Ｒ（ＳＲ＋ｉ）｜（ｉ＝０〜Ｎ）…（８）
ｓ＝ＳＲ−ＳＬ
続いて、相関出力Ｆ（ｓ）の最小値を検出するために、ステップＳ１２４にてＦ（ｓ）とＦｍｉｎとを比較してＦ（ｓ）がＦｍｉｎよりも小さければＦｍｉｎにＦ（ｓ）を代入し、そのときのＳＬ、ＳＲをＳＬ１、ＳＲ１として記憶する （ステップＳ１２５）。
【０１３６】
ここで、Ｆｍｉｎは予め所定の初期値を設定しておく。
一方、ステップＳ１２４にて、Ｆ（ｓ）がＦｍｉｎ以上の場合には、そのままステップＳ１２６に進む。
【０１３７】
ステップＳ１２６ではＳＲ、Ｊをそれぞれデクリメントして、次のセンサーデータＲ（ｉ）のブロックを指定する。
ステップＳ１２７では、Ｊ＝０か否かを判定する。
【０１３８】
ここで、Ｊが０でなければ上記演算を繰り返すために、ステップＳ１２３に戻る。
このようにステップＳ１２３乃至Ｓ１２８では、センサーデータＬ（ｉ）のブロック位置をＢＬＳに固定したままでセンサーデータＲ（ｉ）のブロック位置を１画素ずつ、回数Ｊ回ずらすことにより、合焦時シフト量ｘｓを中心にｄの範囲で合焦近傍のみシフト量を変化させながら相関をとる動作を繰り返す。
【０１３９】
図１７は検出ブロックＢＬに対するセンサデータＲ（ｉ）上の検出ブロックＢＲの位置シフトの様子を示している。
そして、Ｊ＝０となると、ステップＳ１２８でＦＭ、ＦＰの計算を行い、ステップＳ１２９で、信頼性指数ＦＳ、ＳＫの計算を行う。
【０１４０】
この計算方法は前述の式（４）乃至（７）と同一であるので、その説明については省略する。
次に、ステップＳ１３０、Ｓ１３１にて、上記信頼性指数ＦＳ、ＳＫを判定値ＦＳｔｈ２、ＳＫｔｈ２と比較し、信頼性の有無を判別する。
【０１４１】
この判定値は、検出ブロックの画素数に応じて、以下のように変更される。
ここで、検出ブロック内の画素数が少ない方が、相関出力Ｆ（ｓ）が小さくなりやすいので、信頼性指数ＦＳ、ＳＫの判定値は、検出画素数Ｎとすると、例えば
ＦＳｔｈ２＝Ｎ／２７＊ＦＳｔｈ …（９）
ＳＫｔｈ２＝２７／Ｎ＊Ｓｋｔｈ …（１０）
のように画素数に応じて設定している。
【０１４２】
そして、信頼性がない場合（ＦＳ≦ＦＳｔｈ２またはＳＫ＞ＳＫｔｈ２）には、検出不能としてリターンするが、信頼性がある場合（ＦＳ＞ＦＳｔｈ２且つＳＫ≦ＳＫｔｈ２）には、ステップＳ１３２に進んで検出不能フラグをクリアし、リターンする。
【０１４３】
また、ステップＳ１３３では検出不能フラグをセットしてリターンする。
なお、第２の実施の形態ではセンサデータＬ（ｉ）内の最良相関ブロックＳＬＭについてのみ、有害光判断を行なっているが、センサデータＲ（ｉ）についてのみ有害光判断を行なってもよいし、両方の結果を考慮してもよい。
【０１４４】
また、撮影レンズの焦点距離や撮影倍率等の条件を考慮して、有害光判断を行なうか否かを判別するようにしてもよい。
具体的には、有害光が遠近混在しやすい焦点距離が小さいか又は撮影倍率が所定値より小さい場合だけ有害光判断を行ってもよい。
【０１４５】
以上のように、本発明では、主要被写体の背景に有害光被写体があっても、その有害光を分離して焦点検出演算を行なうことによりその影響を排除し、ＡＦ精度を向上させることが可能となる。
【０１４６】
なお第１及び第２の実施の形態では、ＴＴＬ位相差方式の焦点検出装置に適用しているが、外光式パッシブ測距装置に適用してもデフォーカス量データが距離データに置き換わるだけであり、まったく同様の効果が得られる。
【０１４７】
また、以上の処理を夜景モードが選択されている場合にだけ実行するようにして、他の撮影モードの場合には実行しないようにしてもよい。
本発明の焦点調節装置によれば、測距視野内や被写体の背景に、夜景撮影における街灯のような有害光があっても、その影響を排除してＡＦ精度を向上させることができるという顕著な効果が得られる。
【０１４８】
【発明の効果】
従って、以上説明したように、本発明によれば、焦点検出等の測距動作に対して有害光の及ぼす影響を除去し、主要被写体に対するＡＦ精度の向上を可能とする測距装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の第１の実施の形態によるカメラの自動焦点調節装置として適用可能な測距装置の概念を示したブロック図である。
【図２】図２は、本発明の自動焦点調節装置を適用したカメラの全体の構成を示したブロック図である。
【図３】図３は、ＡＦセンサ１５の内部ブロック構成を示す図である。
【図４】図４は、ＣＰＵ１１とＡＦセンサ１５の動作を説明するタイミングチャートである。
【図５】図５は、補助光を兼ねているストロボ制御部２０の詳細な構成を示すブロック図である。
【図６】図６は、本発明の第１の実施の形態のカメラ全体の動作を示したメインルーチンのフローチャートである。
【図７】図７は、上記ステップＳ４におけるサブルーチン「ＡＦ」のフローチャートである。
【図８】図８は、図７のステップＳ２７で実行されるサブルーチン「中央ブロック相関演算」について説明するためのフローチャートである。
【図９】図９は、ＦＭ、Ｆｍｉｎ、ＦＰの関係を示すもので、図９の（ａ）、（ｂ）の横軸は、光電変換素子の位置（左端からの素子の番号）であり、縦軸は相関出力を示している。
【図１０】図１０は、図７のステップＳ２３で実行されるサブルーチン「有害光判断」の概念図である。
【図１１】図１１は、図７のステップＳ２３で実行されるサブルーチン「有害光判断」のフローチャートである。
【図１２】図１２は、第２の実施の形態によるサブルーチン「ＡＦ」のフローチャートである。
【図１３】図１３は、図１２のステップＳ１８４におけるサブルーチン「焦点検出演算１」によるＡＦセンサデータ（被写体像信号Ｌ（ｉ）、Ｒ（ｉ））上の検出ブロックのシフト方法を示す図である。
【図１４】図１４は、「有害光影響除去処理」について説明するためのフローチヤートである。
【図１５】図１５は、焦点検出演算２を説明するためのフローチヤートである。
【図１６】図１６は、検出された有害光位置に基づいて新しい検出ブロックＢＬを主要被写体と有害光の位置関係に応じて設定する場合の具体例を説明するための図である。
【図１７】図１７は、センサデータＬ（ｉ）、Ｒ（ｉ）上の検出ブロックの位置シフトの先頭を示す変数ＳＬ、ＳＲにそれぞれ初期値としてＢＬＳ、Ｘｓ＋ＢＬＳ＋ｄ （ｘｓは合焦時のシフト量）を入力する様子を示す図である。
【図１８】図１８は、点光源状の直接光がＡＦセンサの有効受光領域の端に入射した場合、像の重心位置がずれるために誤測距となることを説明するための図である。
【図１９】図１９は、従来技術を説明するための図である。
【符号の説明】
１…測距手段、
２…有害光判断手段、
３…測距演算方法変更手段、
４…制御手段、
４１…撮影レンズ、
４２…メインミラー、
４３…ファインダ光学系、
４４…サブミラー、
４５…ＡＦ光学系、
５１…第１群レンズ、
５２…第２群レンズ、
５３…第３群レンズ、
５４…第４群レンズ、
５５…第５群レンズ、
８７…絞り、
６１…スクリーン、
６２…コンデンサレンズ、
６３…プリズム、
６４…モールドダハミラー、
６５…接眼レンズ、
７１…シャッタ、
７２…フィルム、
８１…視野絞り、
８２…赤外カットフィルタ、
８３…コンデンサレンズ、
８４…ミラー、
８５…再結像絞り、
８６…再結像レンズ、
１０…カメラ制御部、
１１…中央処理装置（ＣＰＵ）、
１２…インターフェースＩＣ、
１３…露光制御部、
１４…フィルム駆動部、
１５…ＡＦセンサ、
１６…絞り駆動部、
１７…ズーム制御部、
１８…ＡＦレンズ制御部、
１９…測光部、
２０…ストロボ制御部、
２１…スイッチ群、
２２…ＥＥＰＲＯＭ、
１５Ｌ、１５Ｒ…フォトダイオードアレイ、
２３…ズームモータ、
２４…エンコーダ、
２５…ＡＦモータ、
２６…エンコーダ、
ＥＡＣ…画素増幅回路、
ＳＲ…シフトレジスタ、
ＳＣＣ…センサ制御回路。

Claims (3)

1. 光電変換素子列を有する光電変換素子を含み、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を上記光電変換素子列の出力に基づき所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、
   上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす点光源状の被写体による有害光の影響があるかを上記光電変換素子列の出力に基づき判定する有害光判定手段と、
   上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段と、
   を具備し、
   上記有害光判定手段は上記光電変換素子列上の有害光の位置を検出し、上記制御手段は上記有害光判定手段によって検出された上記有害光の位置に基づいて上記測距手段により測距演算を行う検出ブロックとして、あらかじめ決められた複数の検出ブロックのうちから上記有害光の位置を含まない検出ブロックを選択する
   ことを特徴とする測距装置。
2. 光電変換素子列を有する光電変換素子を含み、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を上記光電変換素子列の出力に基づき所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、
   上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす点光源状の被写体による有害光の影響があるかを上記光電変換素子列の出力に基づき判定する有害光判定手段と、
   上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段と、
   を具備し、
   上記有害光判定手段は上記光電変換素子列上の有害光の位置を検出し、上記制御手段は上記有害光判定手段によって検出された上記有害光の位置に基づいて上記測距手段により測距演算を行う検出ブロックを、上記有害光の位置を含まないように設定する
   ことを特徴とする測距装置。
3. 上記有害光判定手段は上記光電変換素子列の画素出力の最大値が第１判定値より大きく、かつ、上記最大値の画素出力と当該画素出力が最大値の画素の両側において２画素離れた位置の画素出力との差が第２判定値より大きい場合に、有害光が存在すると判定する
   ことを特徴とする請求項１または２に記載の測距装置。

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