JP4209765B2 - テラヘルツ波画像装置 - Google Patents
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Description
なお、ここでは測定可能範囲は最大出力周波数での出力に対しておよそ1%以上の出力を得られる周波数範囲を目安とした。
なお、ポンプ光源、信号光源レーザをモードロックすれば100MHz以上の高速繰り返し周波数が得られるが、1パルスあたりの出力エネルギーが小さいので1スポットのデータを同じS/Nで得るために1000パルス以上についての積分を行わなければならない。
2…ポンプ光レーザ
3…信号光レーザ
4…偏光子
5…放熱マウント
6,7…非軸放物面鏡
8…金属導波管、金属導波管テーパ部
9…検体
10…ステージ
11…検知器
12…反射テラヘルツ波
13…テラヘルツビームスプリッタ
14…金属導波管
15…検知器
16,16’…近赤外線用円筒型凸レンズ及び凹レンズ
17,17’…テラヘルツ電磁波用凸レンズ及び凹レンズ
Claims (3)
- それぞれ、300Hz以上の繰り返し周波数を有するパルス半導体レーザによって励起される第1及び第2の単一周波数パルスレーザ、前記2つの単一周波数パルスレーザの差周波数を持つテラヘルツ波発生用GaP結晶、前記GaP結晶を効率よく放熱し温度制御する放熱マウント、前記単一周波数パルスレーザからの2つのビームが互いに所定の位相整合角度をもって前記GaP結晶に入射する手段を有し、前記2つの単一周波数パルスレーザの少なくとも一つが周波数可変であることにより0.3THzから7THzの範囲の所望の単一周波数コヒーレント光であり、300Hz以上の繰り返し周波数を有するテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生部と、
検体を乗せる試料移動ステージと、
前記検体に前記テラヘルツ波を導入する金属導波管と、
前記検体を透過した前記テラヘルツ波を検出するテラヘルツ波検出器
とを備え、前記テラヘルツ波が前記検体を透過した透過画像を得るテラヘルツ波画像装置。 - それぞれ、300Hz以上の繰り返し周波数を有するパルス半導体レーザによって励起される第1及び第2の単一周波数パルスレーザ、前記2つの単一周波数パルスレーザの差周波数を持つテラヘルツ波発生用GaP結晶、前記GaP結晶を効率よく放熱し温度制御する放熱マウント、前記単一周波数パルスレーザからの2つのビームが互いに所定の位相整合角度をもって前記GaP結晶に入射する手段を有し、前記2つの単一周波数パルスレーザの少なくとも一つが周波数可変であることにより0.3THzから7THzの範囲の所望の単一周波数コヒーレント光であり、300Hz以上の繰り返し周波数を有するテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生部と、
検体を乗せる試料移動ステージと、
前記検体から反射した前記テラヘルツ波を検出するテラヘルツ波検出器と、
前記検体から反射した前記テラヘルツ波を前記テラヘルツ波検出器に導入する金属導波管
とを備え、前記テラヘルツ波が前記検体から反射した反射画像を得るテラヘルツ波画像装置。 - 前記2つの単一周波数パルスレーザのビームが、前記GaP結晶内で、それぞれ楕円状断面となるように円筒凸レンズおよび円筒凹レンズが配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のテラヘルツ波画像装置。
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