JP4206137B2 - 半導体記憶装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体技術さらには不揮発性半導体記憶装置に関し、例えば低電圧で動作可能なEEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM)及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近時、携帯電話等の移動体通信用の端末機器の普及に伴って、端末機器のさらなる小型軽量化が望まれている。それを実現するために、駆動用電池の小型化及び動作時間の長時間化の重要性が高まっており、端末機器の低電圧化及び低消費電力化が強く望まれている。
【0003】
それらの端末機器においては、その機器の使用者が入力した電話番号等のデータを記憶する記憶装置として、一般に、EEPROM等の電気的に消去・再書込み可能な不揮発性メモリが用いられている。EEPROMは、トンネル酸化膜を介して、フローティングゲートに電荷を蓄積したり、フローティングゲートに蓄積されていた電荷を該ゲートから引き抜くことによって、データを保持したり、消去したりするようになっている。
【0004】
従来、フローティングゲートの厚さは100オングストロ−ム程度であり、このフローティングゲートから電荷を引き抜く際には、トンネル酸化膜に12MV/cm以上の高電界を印加する必要がある。EEPROMの低電圧化を図るにあたっては、トンネル酸化膜を薄くすることが有効であるが、従来の製造プロセスのまま従来と同等の膜質のトンネル酸化膜を100オングストロ−ムよりも薄くなるように成膜しても、歩留まりが低いという欠点がある。
【0005】
そこで、トンネル酸化膜の厚さを従来よりも薄くすることなく、トンネル酸化膜の印加電圧を下げる方法として、表面粗度の高い半導体基板の表面上にトンネル酸化膜を形成し、基板表面の凸部に生じる電界集中により、従来よりも低い印加電圧でトンネル現象が起こるようにした方法が提案されている(IEEE Trans. Electron Devices,37,583(1990))。
【0006】
また、トンネル酸化膜の厚さを従来よりも薄くすることなく、トンネル酸化膜の印加電圧を下げる別の方法として、SiO2 よりなるトンネル酸化膜をCVD(化学気相成長法)で成膜する際に、O2 に比べてSiが化学量論比よりも多くなるようにすることにより、トンネル酸化膜中に島状にSi領域(以下、Siアイランドと称する)を形成し、このSiアイランドを経由して電荷のトンネル現象が起こるようにした方法が提案されている(Appl. Phys. Lett.,35,24(1993))。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、表面粗度の高い基板を用いる方法では、電界集中によるブレークダウンが起こり易く、素子の信頼性が低いという欠点があった。加えて、製造プロセスの制御が難しく、基板表面に一定の粗さを形成することが困難であり、歩留まりが低いという欠点もあった。
【0008】
また、Siアイランドを形成する方法では、高い歩留まりを得るための成膜プロセスの制御が難しいだけでなく、CVD法により得られた膜の品質が低くて素子の信頼性が乏しいという欠点があった。
【0009】
本発明の目的は、上記問題点を解決するためになされたもので、素子の信頼性が高く、歩留まりよく製造可能な、低電圧で電荷の注入及び引抜きを行なうことができる半導体記憶装置例えばEEPROMを提供することにある。
【0010】
また、本発明の他の目的は、素子の信頼性が高く、低電圧で電荷の注入及び引抜きを行なうことができる半導体記憶装置例えばEEPROMを歩留まりよく製造できる方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明の半導体記憶装置は、トンネル酸化膜を介して、フローティングゲートに電荷を蓄積するとともに、その蓄積された電荷を電気的に引き抜くことができる不揮発性の半導体記憶装置において、
0<x<1のとき、前記トンネル酸化膜はSi(1-x) Gex O2 からなり、該Si(1-x) Gex O2 膜中に島状のGe領域が存在することを特徴とする。
【0012】
本発明の半導体記憶装置の製造方法はトンネル酸化膜を介して、フローティングゲートに電荷を蓄積するとともに、その蓄積された電荷を電気的に引き抜くことができる不揮発性の半導体記憶装置を製造する方法において、
0<x<1のとき、半導体基板上に所定厚さのSi(1-x) Gex 層をエピタキシャル成長させる工程と、
該Si(1-x) Gex 層を酸化してSi(1-x) Gex O2 からなるトンネル酸化膜を形成する工程と、
該トンネル酸化膜上にフローティングゲートを形成する工程と、
を含むことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明に係る半導体記憶装置をフローティングゲートを有するEEPROMに適用した例ついて、図面を参照しながら、詳細に説明する。
EEPROMは例えば図1に示すように、メモリトランジスタ100及び選択トランジスタ200からなり、p型のSi半導体基板1上に形成したn型半導体よりなるドレイン領域11の上にトンネル酸化膜2及びポリシリコンよりなるフロ−ティングゲ−ト3を積層した構造を有している。この実施の形態はトンネル酸化膜の構造に特徴があるが、全体の構造について簡単に述べておく。
【0014】
Si半導体基板1上には、n型半導体よりなるソ−ス領域12及びn領域13が形成され、前記ドレイン領域11とソ−ス領域12との間、及び前記ドレイン領域11とnウエル領域との間におけるチャネルとなる領域の上には、夫々ゲ−ト酸化膜31、41が形成されている。15、16、32及び4は電極であり、33はシリコン酸化膜よりなる絶縁膜である。
【0015】
次に、上記構成のEEPROMのトンネル酸化膜の製造プロセスについて述べる。まずSi半導体基板1にアイソレーション領域となるフィールド酸化膜を形成して、素子領域を確保した後、図2(A)に示すように後、エピタキシャル成長法により、素子領域の基板表面に厚さ60〜70オングストロ−ムのSi(1-x) Gex 層20を形成する。その際、エピタキシャル成長法として、常圧エピタキシャル法、高圧エピタキシャル法、減圧エピタキシャル法、ラピッドサーマルCVD法及び分子線エピタキシー(MBE)を適用することができる。一例として、常圧エピタキシャル成長法を採用する場合には、原料ガスとしてSiH2 Cl2 とGeH4 を用い、H2 をキャリアガスとして用いて、成長温度625℃でSi(1-x) Gex を成長させる。
【0016】
次いで図2(B)に示すように、エピタキシャル成長させたSi(1-x) Gex 層20を酸化し、トンネル酸化膜2を形成する。この酸化工程では、Si(1-x) Gex 層20が酸化されると共にSi半導体基板1の表面部分に入り込み、膜厚がおおきくなって、結果としてトンネル酸化膜2の厚さは、約100オングストロ−ムになる。このときの酸化方法は、550〜800℃の低温でのドライ酸化が好ましい。例えば酸化温度が780℃の場合には、約10分間で、厚さ100オングストロ−ムのSi0.8 Ge0.2 O2 膜が得られる。ここで、SiO2 はGeO2 よりも熱力学的に安定しているため、得られたトンネル酸化膜2中には、図3に示すように、Ge(ゲルマニウム)のグレインが島状に点在してアイランド21が形成される。
【0017】
その他の工程は、公知の方法を用いればよく、ゲート酸化膜31及びトンネル酸化膜2上に、ポリシリコン層を積層した後、フォトリソグラフィ技術及びエッチングにより、所望形状をなすフローティングゲート3を形成する。次いで半導体基板1に不純物をドーピングして、ドレイン領域11、ソ−ス領域12及びnウエル領域13を形成する。また、基板表面上に絶縁膜33を形成してフローティングゲート3を周囲から絶縁し、その上にポリシリコンよりなる制御ゲート32を形成し、そして電極15、16、4を形成する。
【0018】
本発明に係るEEPROMでは、図3に示すように、トンネル酸化膜2はSi(1-x) Gex O2 でできており、その中にはGeアイランド21が点在して形成されている。従って電子はこのGeアイランド21を通って流れるため、低電界で電子を注入することができる。
【0019】
また、トンネル酸化膜2の組成について、xは0.15〜0.40であることが好ましい。その理由は、xが、0.15より小さいと、Geアイランド21の密度が低下し、充分なトンネル電流が得られず、また0.40より大きいと、Si(1-x) Gex とSiの格子不整合により基板に欠陥が発生し絶縁膜の信頼性を低下させることになるからである。
【0020】
図4には、このメモリトランジスタのエネルギーバンド図が模式的に示されており、同図(A),(B)は、電界がかかっていない時及び電界がかかっている時の状態をそれぞれ表している。電荷の蓄積時または引抜き時には、同図(B)に示すように、電荷(図には、e- で示す)は、SiからSi(1-x) Gex O2 の禁制帯をトンネル現象により通過してGeへ至り、Geの電導帯を介して、再びSi(1-x) Gex O2 の禁制帯をトンネル現象により通過してSiへ至る。
【0021】
図5は、一例として、Geアイランドを有するSi0.8 Ge0.2 O2 膜と通常のSiO2 膜のそれぞれについて、印加電圧対する電流密度の関係を示すグラフである。厚さは、ともに100オングストロ−ムである。同図より、Si0.8 Ge0.2 O2 膜の方がSiO2 膜よりも、同一の印加電圧に対して流れる電流が多いことがわかる。つまり、SiO2 膜よりもSi0.8 Ge0.2 O2 膜の方が、低い印加電圧でもって、トンネル酸化膜を介してフローティングゲートに電荷を注入したり、フローティングゲートから電荷を引き抜くことができる。例えば、本発明者が実験したところ、それぞれ厚さが100オングストロ−ムのSiO2 膜とSi0.8 Ge0.2 O2 膜で約10-4A/cm2 のトンネル電流が得られる電界はそれぞれ約12MV/cm及び8MV/cmであった。
【0022】
上記実施形態によれば、トンネル酸化膜2中にGeアイランド21が存在するため、このアイランド21を介して、フローティングゲート3との間で電荷のやり取りが行なわれるので、従来よりも低い電界、例えば、8MV/cmでフローティングゲート3に対する電荷の注入及び引抜きを行なうことができる。従って、EEPROMの低電圧化及び低消費電力化を図ることができる。
【0023】
また、上記実施形態によれば、Si(1-x) Gex 層をエピタキシャル成長させた後、これを酸化してトンネル酸化膜を形成するので、高品質のSi(1-x) Gex エピタキシャル成長層が得られ、従ってこれを酸化して得られたSi(1-x) Gex O2 層も高品質であり、信頼性が高い。また、製造の歩留まりもよい。
【0024】
また、上記実施形態では、メモリトランジスタがnチャネルトランジスタでできている場合について説明したが、pチャネルトランジスタでできていてもよい。この場合には、フローティングゲート3に注入される電荷はホールとなる。
【0025】
さらに、上記実施形態では、フローティングゲート3を形成した後、ドレイン領域11、ソ−ス領域12及びnウエル領域13を形成するとしたが、初めに半導体基板1に各領域11、12、13を形成してから、Si(1-x) Gex 層をエピタキシャル成長させ、それを酸化してトンネル酸化膜2を形成するようにしてもよい。
【0026】
また、上記実施形態では、本発明をメモリトランジスタ100及び選択トランジスタ200を有するEEPROMに適用した場合について説明したが、本発明は、1トランジスタで構成される電気的一括消去・再書込み可能なROM(いわゆるフラッシュメモリ)にも適用することができる。
【0027】
【発明の効果】
本発明によれば、信頼性が高く、低電圧で電荷の注入及び引抜きを行なうことができる半導体記憶装置が得られる。
また、本発明によれば、低電圧で電荷の注入及び引抜きを行なうことができる半導体記憶装置を歩留まりよく製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明をEEPROMに適用した実施の形態の全体構成を示す構成図である。
【図2】本発明に係る半導体記憶装置のトンネル酸化膜の製造工程を示す説明図である。
【図3】本発明に係る半導体記憶装置のトンネル酸化膜の一部を拡大して示す概略図である。
【図4】本発明に係る半導体記憶装置のエネルギーバンド図を示す概略図である。
【図5】Si0.8 Ge0.2 O2 とSiO2 について電圧ー電流密度特性を示すグラフである
【符号の説明】
1 半導体基板
2 トンネル酸化膜
3 フローティングゲート
20 Si(1-x) Gex 層
21 Geアイランド
Claims (2)
- トンネル酸化膜を介して、フローティングゲートに電荷を蓄積するとともに、その蓄積された電荷を電気的に引き抜くことができる不揮発性の半導体記憶装置において、
0<x<1のとき、前記トンネル酸化膜はSi(1-x) Gex O2 からなり、
該Si(1-x) Gex O2 膜からなる前記トンネル酸化膜中に島状のGe領域が存在することを特徴とする半導体記憶装置。 - トンネル酸化膜を介して、フローティングゲートに電荷を蓄積するとともに、その蓄積された電荷を電気的に引き抜くことができる不揮発性の半導体記憶装置を製造する方法において、
0<x<1のとき、半導体基板上にSi(1-x) Gex 層をエピタキシャル成長させる工程と、
該Si(1-x) Gex 層を酸化して、少なくとも該トンネル酸化膜を有するSi(1-x) Gex O2 層を形成する工程と、
該Si (1-x) Ge x O 2 層の該トンネル酸化膜上にフローティングゲートを形成する工程と、
を含むことを特徴とする半導体記憶装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP24948197A JP4206137B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH1174386A JPH1174386A (ja) | 1999-03-16 |
JP4206137B2 true JP4206137B2 (ja) | 2009-01-07 |
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Family Applications (1)
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JP (1) | JP4206137B2 (ja) |
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JP4976796B2 (ja) * | 2006-09-25 | 2012-07-18 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
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1997
- 1997-08-28 JP JP24948197A patent/JP4206137B2/ja not_active Expired - Fee Related
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A711 | Notification of change in applicant |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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