JP4201693B2 - 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置 - Google Patents

光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4201693B2
JP4201693B2 JP2003396983A JP2003396983A JP4201693B2 JP 4201693 B2 JP4201693 B2 JP 4201693B2 JP 2003396983 A JP2003396983 A JP 2003396983A JP 2003396983 A JP2003396983 A JP 2003396983A JP 4201693 B2 JP4201693 B2 JP 4201693B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
optical path
parallel
shaft portion
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003396983A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005156417A (ja
Inventor
俊作 立花
光司 久保
憲嗣 岡部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2003396983A priority Critical patent/JP4201693B2/ja
Publication of JP2005156417A publication Critical patent/JP2005156417A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4201693B2 publication Critical patent/JP4201693B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置に関する。例えば、二光束干渉によって観察対象面の表面凹凸を観察するための光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置、および、光干渉対物レンズ装置を有する測定装置に関する。
従来、光干渉対物レンズ装置が知られ、例えば、図2および図3の断面図に示される光干渉対物レンズ装置が特許文献1に開示されている。
図2および図3に示されるように、従来の光干渉対物レンズ装置1は、対物レンズ2と、観察対象面Sからの反射光に参照光Lを干渉させて干渉縞を生成する光干渉ユニット3と、を備えている。
光干渉ユニット3は、対物レンズ2の前方に配設されたビームスプリッタ4と、ビームスプリッタ4で分割された光束の一方を参照光Lとしてビームスプリッタ4に再帰させる参照ミラー5と、参照ミラー5の傾斜角を調整する傾き調整手段51と、ビームスプリッタ4で分割された光路を中心軸として参照ミラー5の回転角を調整する回転角調整手段56と、を備えている。
傾き角調整手段51は、参照ミラー5を保持する保持部材52と、保持部材52の後方(ビームスプリッタ4に反対側)に向けて延設され先端に傾斜面54を有する軸部53と、傾斜面54を押動操作する調整ねじ55と、を備えている。
回転角調整手段56は、参照ミラー5を収納する収納筒57と、ビームスプリッタ4で分割された参照光Lの光路を中心軸として収納筒57を回転させるジャーナル58と、を備えている。
このような構成において、対物レンズ2からの光束がビームスプリッタ4で分割されて、一方は被検光Lとして観察対象面Sに照射され、他方は参照光Lとして参照ミラー5で反射される。
すると、観察対象面Sで反射された被検光Lと参照ミラー5で反射された参照光Lとが干渉し、光路差に応じて干渉縞が観察される。そして、参照ミラー5の傾きにより干渉縞の間隔が変化されるところ、調整ねじ55で傾斜面を押し引きすることによって参照ミラー5の傾斜角が調整される。また、参照ミラー5の傾斜方向によって干渉縞の方向が変化されるところ、収納筒57を回転させることで参照ミラー5の回転角が調整される。
特開2000−193891号公報
しかしながら、従来の光干渉対物レンズ装置1では、ビームスプリッタ4と参照ミラー5との距離を変えられない構成である。すると、観察対象面Sからの反射光と参照ミラー5からの参照光との光路長がずれた場合には干渉縞を観察できないという問題が生じる。すなわち、対物レンズ2を取り替えて焦点距離が変わる場合には、もはや干渉縞を得られないことになる。したがって、対物レンズ2ごとに光干渉ユニット3を用意する必要がある。
また、傾き調整手段51として保持部材52の後方に伸びる軸部53や調整ねじ55を備える都合上、従来の光干渉対物レンズ装置1は、光干渉ユニット3の部分を対物レンズ2から大きく突き出す構成となってしまう。このように光干渉ユニット3がアーム状に突き出していては、例えば、顕微鏡のリボルバーにこの光干渉対物レンズ装置1をセットしようとしても、他の対物レンズにあたって邪魔になるという問題が生じる。すると、顕微鏡のリボルバーに複数の対物レンズをセットすることはできず、測定(観察)効率を大きく低減させるという問題が生じる。
ここで、従来の光干渉対物レンズ装置1にあって、単純に参照ミラー5を変位可能に構成すると、対物レンズ2から突き出す光干渉ユニット3はさらに大きくなることから、参照光の光路長を調整可能とすることには困難があった。
本発明の目的は、従来の問題を解消し、参照光の光路長を調整できる光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置を提供することにある。
請求項1に記載の光干渉ユニットは、観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系に対して着脱自在に着装され、観察対象面からの被検光に参照光を干渉させて干渉縞を生成する光干渉ユニットにおいて、観察対象面を照明する照明光を分割して前記観察対象面を観察する被検光とこの被検光に干渉する参照光とを生成する光路分割手段と、前記参照光の光路に沿って変位可能に設けられ前記光路分割手段で生成された前記参照光を反射して前記光路分割手段に再帰させる参照ミラーと、前記参照ミラーの変位方向を前記参照光の光路に平行な方向に規制する平行ガイド機構によって前記光路分割手段と前記参照ミラーとの距離を変更する参照光路長変更手段と、を備え、前記平行ガイド機構は、平行四辺形型の平行リンク機構を備えて構成され、前記平行リンク機構は、前記光路分割手段で生成された前記参照光の光路に対して平行に配置された状態で前記光路分割手段に対する相対位置が固定された固定軸部と、前記固定軸部に対する対向辺として配置され前記参照ミラーと一体的に移動する従動軸部と、一端が前記固定軸部に回動自在に連結され他端が前記従動軸部に回動自在に連結され、前記参照光の光路に対して平行な方向に沿って離間した状態で互いに平行配置され、かつ、前記対物レンズの光軸に平行配置される一対の平行連結部材と、を備えていることを特徴とする。
このような構成において、光干渉ユニットを対物レンズ系に装着すれば干渉縞を得ることができ、この干渉縞から観察対象面の形状を測定することができる。
ここで、干渉縞の観察にあたって、まず、対物レンズ系の焦点を観察対象面にあわせる。次に、参照光路長変更手段により参照ミラーを変位させて参照光の光路長を調整する。つまり、光路分割手段から観察対象面までの光路長に対して光路分割手段から参照ミラーまでの光路長を略一致させるように参照ミラーを変位させる。
そして、観察対象面に向けて光(照明光)を照射する。すると、照明光は、光路分割手段で被検光と参照光とに分割される。被検光は観察対象面に照射され、観察対象面からの反射光が光路分割手段に再帰される。光路分割手段で分割された参照光は、参照ミラーで反射されて光路分割手段に再帰される。
このとき、光路分割手段との距離が調整されているので、参照ミラーで反射されてきた参照光は観察対象面からの反射光に干渉し、干渉縞が生成される。
観察対象面からの反射光と参照ミラーからの参照光とが干渉した状態で対物レンズ系に入射され、この干渉光から干渉縞が観察される。そして、干渉縞の間隔や移動速度などにより観察対象面の表面凹凸や凹凸の変化などが観察される。
参照ミラーが変位可能に設けられているので、参照ミラーを変位させることにより参照光の光路長を調整することができる。すると、対物レンズの焦点距離に応じて参照光の光路長を変化させることができる。よって、焦点距離が異なる複数の対物レンズに対応して参照光路長を調整できるので、複数の対物レンズに対して一つの光干渉ユニットで対応できることになる。
参照ミラーの変位方向は平行ガイド機構により参照光の光路に平行方向に規制されるので、参照ミラーが参照光路上から外れてしまうことがない。したがって、参照ミラーを変位させて参照光路長を調整した場合でも参照ミラーでの反射光を確実に光路分割手段に再帰させることができ、干渉縞を得ることができる。
なお、平行ガイド機構としては、例えば、平行リンク機構などが例示されるが、この他、変位方向を参照光路に平行方向にガイドする機構であればよい。例えば、参照光に平行に設けられたガイド棒やガイド溝などのガイド手段と、このガイド手段に沿ってスライドする可動部材とが設けられていてもよい。
また、従動軸部の変位方向は、平行連結部材による平行リンク機構によって固定軸部に対して平行な方向に規制される。このとき、固定軸部は参照光の光路に平行配置されて固定されているので、従動軸部は、参照光と平行に変位される。従動軸部と一体的に参照ミラーが変位されるので、参照ミラーは参照光の光路に沿って移動される。したがって、参照ミラーを変位させて参照光路長を調整した場合でも参照ミラーでの反射光を確実に光路分割手段に再帰させることができ、干渉縞を得ることができる。
平行リンク機構は、固定軸部と従動軸部とを連結するように平行連結部材を有するので、参照光に交差する方向に大きさを有するものの、参照光の方向に突き出す構成とはならずにすむ。さらに、平行連結部材が対物レンズの光軸に平行に配設されているので、参照光路長変更手段は、対物レンズ系から光軸に直角方向に突き出す部分が一層少なくてすむ。その結果、参照光路長変更手段がコンパクトに構成され、参照ミラーを変位可能としながら光干渉ユニットを小型化することができる。
ここで、平行連結部材が固定軸部および従動軸部に回動自在に連結されるとは、固定(従動)軸部および平行連結部材のいずれか一方に軸孔が設けられ、いずれか他方にピンが設けられ、軸孔にピンを嵌合させて回動自在としてもよい。あるいは、連結部に弾性ヒンジが設けられていても、平行連結部材が板ばね等の弾性部材であってもよい。
請求項2に記載の光干渉ユニットは、請求項1に記載の光干渉ユニットにおいて、前記平行連結部材は、平行板ばねであり、前記参照光路長変更手段は、前記参照ミラーの変位量を調整可能な調整手段を備え、前記調整手段は、前記固定軸部から前記平行板ばねに沿って延びる基軸部に設けられ、かつ、前記平行板ばねを前記対物レンズの光軸に向けて付勢する押込プランジャと、前記基軸部に設けられるとともに、前記従動軸部に螺合されていて、この螺合量に応じて前記対物レンズの光軸から離間する向きの前記従動軸部の変位量を調整できる押込調整ねじと、を備えていることを特徴とする
このような構成によれば、押込プランジャで平行板ばねを対物レンズの光軸に向けて押す一方で、従動軸部を押込調整ねじで引き上げるので、平行板ばねに一定の反りが付与される。すると、平行板ばねは一定の剛性を有する状態となるので、この平行板ばねの剛性により従動軸部の位置が堅固に保たれる。よって、参照ミラーの位置が堅固に保たれ、例えば、観測中に参照ミラーの位置がずれるなどの不都合を防止することができる。
請求項3に記載の光干渉ユニットは、請求項1または請求項2に記載の光干渉ユニットにおいて、前記参照ミラーの反射面と前記参照光の光路との交点を中心点として前記参照ミラーを揺動させる球面滑り軸受によって前記参照ミラーが前記参照光の光路となす角を変更する参照光角度変更手段を備え、前記参照光路長変更手段は、前記参照光角度変更手段を介して前記参照ミラーを支持することを特徴とする。
このような構成によれば、参照光角度変更手段の球面滑り軸受によって参照ミラーが揺動され、参照ミラーで参照光を反射する角度が調整される。すると、参照ミラーにより参照光を確実に光路分割部材に向けて反射し、参照光を被検光に干渉させることができる。さらには、干渉縞の縞間隔を調整することができる。
参照ミラーは、参照ミラーの反射面上の一点を中心点として揺動されるので、揺動された場合でも光路分割部材との距離が変化されない。したがって、参照ミラーの角度を調整しても参照光の光路長は変化されず、参照光の光路長が調整された状態を維持したままで参照光の反射角を調整することができる。
また、参照ミラーは、参照光角度変更手段を介して参照光路長変更手段で支持されているので、参照光角度変更手段で角度調整された状態を維持したままで参照光路長変更手段によって変位される。すると、参照光の反射角を変化させることなく、参照光の光路長が調整される。
参照光角度変更手段としては、参照ミラーを保持するとともに前記参照ミラーの反射面と前記参照光の光路との交点を中心点とすた球面を有する保持体と、この保持体の球面を軸受する軸受筒と、を備えた構成が例として挙げられる。
また、参照ミラーが参照光角度変更手段を介して参照光路長変更手段に支持されるとは、従動軸部に参照光角度変更手段が連結され、参照光角度変更手段により参照ミラーが支持される構成が例示される。
請求項4に記載の光干渉ユニットは、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の光干渉ユニットにおいて、観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系に対して着脱自在に連結される連結部材を備え、前記参照光路長変更手段は、前記連結部材が前記対物レンズ系に着装された状態において前記対物レンズの光軸を中心軸として回動可能であり、前記参照ミラーは前記参照光路長変更手段を介して前記連結部材に保持されていることを特徴とする。
このような構成によれば、連結部材によって光干渉ユニットを対物レンズ系に着脱できるので、一つの光干渉ユニットで複数の対物レンズ系に対応できる。このとき、参照光路長変更手段によって参照光路長を調整できるので、焦点距離が異なる複数の対物レンズ系に一つの光干渉ユニットで対応できる。
また、連結部材で光干渉ユニットを対物レンズ系に着装したときに、参照光路長変更手段を対物レンズの光軸回りに回動させることができるので、例えば、顕微鏡のリボルバーに複数の対物レンズとともにセットする場合でも、他の対物レンズから邪魔にならない位置に参照ミラーの位置を変えることができる。
ここで、連結部材は、対物レンズ系を内方に遊嵌する筒状の連結環であってもよい。さらに、参照光路長変更手段は、連結環に取付固定されていてもよい。すると、連結環を対物レンズ系に対して回動させれば、参照光路長変更手段を回動させることができる。また、この連結環を所定位置で止着する止着手段としては、例えば、連結環の側面から螺合してレンズ保持筒の側面に押圧される止めねじなどが例示される。
あるいは、連結部材は対物レンズ系に対して回動不可である一方で、参照光路長変更手段が光軸中心に回動自在に前記連結部材に取り付けられていてもよい。
請求項5に記載の光干渉対物レンズ装置は、観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系と、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の光干渉ユニットと、を備える。
請求項6に記載の測定装置は、請求項5に記載の光干渉対物レンズ装置と、前記光干渉対物レンズ装置によって観察される干渉縞を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像された前記干渉縞に基づいて前記観察対象面の形状を解析する解析手段と、を備える。
このような構成によれば、上記に記載の発明に同様の作用効果を奏することができる。
ここで、撮像手段としてはCCDカメラを用いることが例として挙げられる。解析手段としては、光源から発射される光の波長と観察される干渉縞の間隔とから観察対象面の凹凸を求める構成が例として挙げられる。
以下、本発明の実施の形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
図1に、本発明の光干渉対物レンズ装置100に係る一実施形態を示す。
光干渉対物レンズ装置100は、対物レンズ系200と、光干渉ユニット300と、を備えている。
対物レンズ系200は、対物レンズ(不図示)と、この対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒201と、を備える。
対物レンズ系200の観察対象となる観察対象面Sは、対物レンズの光軸Aを延長した一方側で対物レンズの焦点位置に配置される。レンズ保持筒201の他方側には、例えば顕微鏡装置等にこの光干渉対物レンズ装置100を取り付けるための取付部203が設けられている。
レンズ保持筒201の外側面には、周方向に沿って刻設された溝条202が設けられている。
ここで、対物レンズ系200は、十分に長い焦点距離(長作動距離)を有している。例えば、厚みを有するガラスが対物レンズ系200と観察対象面Sとの間に挿入されて観察対象面Sまでの距離が長くなる場合であっても、観察対象面に焦点を合わせて観察できる。
また、対物レンズ系200は、ガラス等が観察対象面Sとの間に挿入されることによって生じる収差を補正可能に構成されている。このようにガラス等の挿入によって生じる収差を補正できる対物レンズ系200としては、互いに相対移動可能な複数のレンズ(またはレンズ群)を備えた構成が一例として挙げられる。
光干渉ユニット300は、観察対象面Sで反射される被検光Lに参照光Lを干渉させて干渉縞を生成する。
光干渉ユニット300は、連結環(連結部材)400と、ビームスプリッタ(光路分割部材)500と、参照光調整部600と、を備えている。
連結環400は、光干渉ユニット300を対物レンズ系200に着脱可能に取り付ける連結部品である。連結環400は、内方に対物レンズ系200を回動自在に受け入れ可能な有底筒状であって、連結環400の外側から溝条202に係合する止めねじ401が螺合される。連結環400の底部には、対物レンズ系200に光束を入出射する光透過孔402が形成されている。
以後、光干渉ユニット300が連結環400によって対物レンズ系200に着装された状態で構成を説明する。
ビームスプリッタ500は、入射された光束を二光束(透過光と反射光)に分割する。ビームスプリッタ500は、連結環400の外側において連結環400の底部に付設された保持枠501に保持されている。
光干渉ユニット300が対物レンズ系200に取り付けられた状態で、ビームスプリッタ500は、対物レンズ系200と観察対象面Sとの間で対物レンズの光軸A上に位置する。そして、ビームスプリッタ500は、光軸Aに対して角度45°で交差し、対物レンズ系200からの光束の一部を反射して光軸Aに対して直角方向の参照光Lを生成するハーフミラー502を有する。
参照光調整部600は、ビームスプリッタ500からの参照光Lの角度および光路長を調整する。
参照光調整部600は、参照ミラー610と、参照光角度変更手段620と、参照光路長変更手段630と、を備えている。
参照ミラー610は、参照光Lを反射して再びビームスプリッタ500に再帰させる。参照ミラー610は、ビームスプリッタ500に対向して配置されている。ここで、ビームスプリッタ500から観察対象面Sまでの距離に対して、ビームスプリッタ500から参照ミラー610の反射面までの距離を略等しくする位置に参照ミラー610は配置されている。
参照光角度変更手段620は、参照ミラー610の角度を変更して、ビームスプリッタ500からの参照光Lが参照ミラー610で反射される角度を変更する。
参照光角度変更手段620は、保持体621と、軸受筒623と、保持板624と、支持軸部626と、を備えている。
保持体621は、参照ミラー610を挟んでビームスプリッタ500とは反対側から参照ミラー610を保持する。保持体621は、参照ミラー610を保持する面とは反対側が球面622に形成された半球状であって、この球面622が球面滑り軸受の滑り側を構成している。また、この球面622は、参照ミラー610の反射面の中心Pを中心点とする球面に形成されている。
軸受筒623は、保持体621の球面622を球面滑り可能に軸受けする有底筒状で、筒の開口部で保持体621の球面622を軸受している。
ここに、保持体621の球面622と軸受筒623とにより球面滑り軸受が構成されている。
保持板624は、参照ミラー610を保持体621とにて挟持して参照ミラー610を保持する。保持板624は、参照ミラー610に光を導くための光透過孔625を有する。
支持軸部626は、対物レンズの光軸Aに対して略平行を保つ状態で配設された軸部で、参照光角度変更手段620を支持している。
支持軸部626は、連結環400の外側に位置する光軸Aに平行な長手状で、その一端はビームスプリッタ500に対向する位置にある。
そして、支持軸部626の一端に傾き調整ねじ627が4本挿通され、傾き調整ねじ627は、軸受筒623および保持体621の脇を通って保持板624の4隅に螺合している。傾き調整ねじ627のねじ頭が支持軸部626に係合して支持軸部626を挿通不可となり、この傾き調整ねじ627により保持板624が支持軸部626に引き付けられ、保持板624と支持軸部626との間で保持体621および軸受筒623が挟持される。4本ある傾き調整ねじ627のそれぞれの螺合量を調整することによって、保持板624の傾きが変化し、保持板624とともに参照ミラー610の傾きが変化される。
なお、図1中では、傾き調整ねじ627のうち手前に位置する二本のみが記載され、奥側の二本は隠れて見えない。
参照光路長変更手段630は、参照ミラー610とビームスプリッタ500との距離を変えて、参照光Lの光路長を変更する。
参照光路長変更手段630は、取付軸部640と、平行リンク機構(平行ガイド機構)650と、調整手段660と、を備えている。
取付軸部640は、連結環400の側面に取付固定されており、参照光路長変更手段630を連結環400に固定する。
平行リンク機構650は、取付軸部640の一端に連続的に設けられ、光軸Aに対して垂直性を保つ変位を生じさせる。
平行リンク機構650は、固定軸部651と、一対の平行板ばね(平行連結部材)652と、従動軸部654と、を備えている。
固定軸部651は、光軸Aに対して垂直な方向に沿って設けられ、取付軸部640の一端に連続している。ここで、ビームスプリッタ500は保持枠501を介して連結環400に固定されており、固定軸部651は取付軸部640を介して連結環400に固定されているので、固定軸部651とビームスプリッタ500とは相対位置が固定される関係にある。
平行板ばね652は、光軸Aに垂直な方向に沿って離間し、かつ、光軸Aに平行に配設された2枚の板ばねである。なお、2枚の平行板ばね652は、光軸Aに垂直な方向に弾性変形する。2枚の平行板ばね652は、その一端が固定軸部651に固定されている。ここで、平行板ばね652は、光軸Aに垂直な方向に沿って離間し、すなわち、参照光Lに平行な方向に離間している。
平行板ばね652は、両端を除く中央部分に補強板653を備えている。補強板653は、2枚の平行板ばね652の表裏両面に設けられ、平行板ばね652を挟持している。
従動軸部654は、固定軸部651と平行に配設され、2枚の平行板ばね652の他端に固定されている。そして、従動軸部654は、平行板ばね652により固定軸部651に対する平行状態を保ったまま変位し、すなわち、従動軸部654は、光軸Aに対して垂直性を保ったまま変位する。
また、従動軸部654において連結環400よりの一端には支持軸部626の他端が連続的に接続されている。支持軸部626の一端には参照ミラー610が支持されているところ、参照ミラー610は従動軸部654と一体的に変位し、参照ミラー610は光軸Aに垂直な方向に沿って変位する。
調整手段660は、平行リンク機構650の変位量を調整する。
調整手段660は、基軸部661と、押込プランジャ662と、押込調整ねじ66と、を備えている。
基軸部661は、固定軸部651において連結環400から遠い側の一端に連続して設けられ、光軸ALに平行に配設されている。つまり、基軸部661は、平行リンク機構650を間にして連結環400とは反対側で光軸ALに平行に配設されている。基軸部661は、平行板ばね652よりも若干長めであり、基軸部661の一端が固定軸部651から連続して、基軸部661の他端は従動軸部654の端面に対向している。
押込プランジャ662は、平行リンク機構650の平行板ばね652を連結環400側に押し込むプランジャである。押込プランジャ662は、基軸部661を挿通して設けられ、押込プランジャ662の先端が補強板653の一枚に当接する。押込プランジャ662の先端は、平行板ばね652において従動軸部654よりの端を押し込む。なお、押込プランジャ662は、外筒663と、ばね(不図示)と、ピン664とを備えて構成され、外筒663の内部に設けられた図示しないばねの付勢力によって、ピン664が外筒663から突出する方向に付勢されている。
押込調整ねじ665は、基軸部661を挿通して設けられ、従動軸部654に螺合している。押込調整ねじ665のねじ頭が基軸部661に係合して基軸部661を挿通不可となり、押込調整ねじ665を回すと螺合量に応じて従動軸部654が変位される。すると、従動軸部654と一体的に参照ミラー610が変位される。
このような構成を備える本実施形態を使用する場合について説明する。
まず、光干渉ユニット300を対物レンズ系200に着装する。
連結環400に対物レンズ系200を挿嵌して、連結環400を所定の位置に回転させる。参照光調整部600が所定の位置にきたところで止めねじ401により連結環400を対物レンズ系200に止着する。さらに、この光干渉対物レンズ装置100を、例えば、顕微鏡などの観察装置(測定装置)に取付部203を嵌め込んでセットする。
そして、対物レンズ系200の焦点位置を観察対象面Sにあわせて観察対象面Sを観察できる状態にする。
次に、参照ミラー610の傾斜角を調整する。これは、傾き調整ねじ627の一本ずつを回して螺合量を調整することで行われる。傾き調整ねじ627のいずれかを回すと、保持板624のいずれかの隅が変位される。このとき、保持体621の球面622が軸受筒623によって球面滑り軸受されているので、参照ミラー610が揺動される。すると、参照ミラー610の反射面で参照光Lを反射する角度が変化される。
次に、参照ミラー610を変位させて、参照光Lの光路長を調整する。これは、押込調整ねじ665を回して螺合量を調整することで行われる。
押込調整ねじ665を回して、例えば、螺合量を少なくした場合、押込プランジャ662による押込力もあいまって平行板ばね652が光軸A側に変位される。すると、平行板ばね652とともに従動軸部654が光軸A側に変位される。平行板ばね652によって従動軸部654と固定軸部651との平行状態が保たれた状態で従動軸部654が変位されるので、従動軸部654は、光軸Aに対して垂直を保って変位する。そして、従動軸部654と連続一体的に支持軸部626が設けられ、支持軸部626に参照ミラー610が支持されているので、参照ミラー610は、光軸Aに対して垂直方向に沿ってビームスプリッタ500に向けて変位される。このとき、参照ミラー610は、傾き調整された状態を保って変位される。
また、押込調整ねじ665を回して螺合量を多くすれば、従動軸部654が基軸部661に向けて引かれて、参照ミラー610がビームスプリッタ500から離間する方向に向けて変位される。
参照ミラー610の傾きおよび参照光路長の調整が終了したところで、対物レンズ系200から観察対象面Sに向けて光(照明光)を照射する。すると、対物レンズ系200から発射された光は、ビームスプリッタ500で被検光Lと参照光Lとに分割される。
ビームスプリッタ500を透過した被検光Lは観察対象面Sに照射され、観察対象面Sから反射されてビームスプリッタ500に再帰される。
ビームスプリッタ500で分割された参照光Lは、参照ミラー610で反射されてビームスプリッタ500に再帰される。
このとき、参照ミラー610は、傾きおよびビームスプリッタ500との距離が調整されているので、参照ミラー610で反射されてきた参照光Lは観察対象面Sからの被検光Lに干渉し、干渉縞が生成される。
観察対象面Sからの被検光Lと参照ミラー610からの参照光Lとが干渉した状態で対物レンズ系200に入射され、この干渉光から干渉縞が観察される。そして、干渉縞の間隔や移動速度などにより観察対象面Sの表面凹凸や表面凹凸の変化などが観察される。
このような構成を備える本実施形態によれば、次の効果を奏することができる。
(1)参照ミラー610が変位可能に設けられているので、参照ミラー610を参照光路長変更手段630によって変位させれば、参照光Lの光路長を調整することができる。すると、対物レンズの焦点距離に応じて参照光Lの光路長を変化させることができる。例えば、焦点距離が異なる複数の対物レンズに対応して参照光路長を調整できる。その結果、複数の対物レンズに対して一つの光干渉ユニット300で対応できる。
(2)参照ミラー610の変位方向は平行リンク機構650により参照光Lの光路に平行方向に規制される。よって、参照ミラー610を変位させた場合でも、参照ミラー610が参照光路上から外れてしまうことがない。したがって、参照ミラー610を変位させて参照光路長を調整した場合でも参照ミラー610での反射光を確実にビームスプリッタ500に再帰させることができ、干渉縞を得ることができる。
そして、光学干渉系は光軸調整が非常に重要であるが、平行リンク機構650により参照ミラー610は参照光Lに沿って変位されるので、参照ミラー610を変位させた場合でもめんどうな光軸調整を行う必要がない。その結果、光軸調整の手間を削減することで、測定効率を向上させることができる。
なお、平行リンク機構650で従動軸部654を変位させると、基本的には固定軸部651に平行に変位されるものの、僅かながら光軸Aに沿った方向にも変位される場合もあり得る。このような場合でも、参照光角度変更手段620によって参照ミラー610の角度を調整することによって、参照ミラー610で反射される参照光の方向を調整でき、参照ミラー610で反射された参照光Lを確実にビームスプリッタ500に再帰させることができる。
(3)参照光角度変更手段620により、参照ミラー610で参照光Lを反射する角度を調整することができる。よって、参照ミラー610により参照光Lを確実にビームスプリッタ500に向けて反射し、参照光Lを被検光Lに干渉させることができる。さらには、干渉縞の縞間隔を調整することができる。
(4)保持体621は、参照ミラー610の反射面上の一点Pを中心点とする球面で滑り軸受されているので、参照ミラー610とビームスプリッタ500との距離を変えることなく参照ミラー610を揺動させることができる。したがって、参照光Lの光路長が調整された状態を維持したままで参照光Lの反射角を調整することができる。
(5)連結環400は、対物レンズ系200に対して回動可能であるので、連結環400を所定位置まで回動させることにより、参照光調整部600を適当な位置に移動させることができる。例えば、顕微鏡のリボルバーに複数の対物レンズとともにセットする場合でも、他の対物レンズから邪魔にならない位置に参照光調整部600の位置を変えることができる。
(6)押込プランジャ662で平行板ばね652を光軸Aに向けて押す一方で、従動軸部654を押込調整ねじ665で引き上げるので、平行板ばね652に一定の反りが付与される。すると、平行板ばね652は一定の剛性を有する状態となるので、この平行板ばね652の剛性により従動軸部654の位置が堅固に保たれる。よって、参照ミラー610の位置が堅固に保たれ、例えば、観測中に参照ミラー610の位置がずれるなどの不都合を防止することができる。
(7)参照光路長変更手段630は、平行リンク機構650の平行板ばね652を有するところ、平行板ばね652は光軸Aに平行に配設されている。よって、参照光路長変更手段630は、対物レンズ系200から光軸Aに直角方向に突き出す部分が少なく、全体的にコンパクトに小型化される。すなわち、参照ミラー610を変位可能としながら光干渉ユニット300を小型化することができる。その結果、この光干渉対物レンズ装置100を、顕微鏡のリボルバーに他の複数の対物レンズ系と一緒にセットすることができる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。
観察対象面Sを照明する照明光は対物レンズからビームスプリッタ500を透過して観察対象面Sに照射されるとして説明したが、照明光は対物レンズを通さずにビームスプリッタ500に入射されてもよい。
例えば、照明光を直接ビームスプリッタ500に入射させ、ビームスプリッタ500での反射光を観察対象面Sに照射させて、ビームスプリッタ500の透過光を参照ミラー610に導いてもよい。
対物レンズ系200と観察対象面Sとの間にビームスプリッタ500が位置する構成を例に説明したが、ビームスプリッタ500からの干渉縞を対物レンズ系200で観察できればよいので、対物レンズが観察対象面Sに正対する必要は特にない。例えば、観察対象面Sからの反射光がビームスプリッタ500で反射されて観察対象面Sに平行方向になるのであれば、対物レンズ系200は、対物レンズの光軸が観察対象面Sに平行となるように配置されることになる。
本発明は、例えば、二光束干渉を用いた光学干渉系を対物レンズに取り付けて使用する光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置、および測定装置に用いることができる。
本発明の光干渉対物レンズに係る一実施形態を示す図である。 従来の光干渉対物レンズの断面図を示す図である。 従来の光干渉対物レンズの断面図を示す図であって図2中のIII-III線による断面図である。
符号の説明
1…光干渉対物レンズ装置、100…光干渉対物レンズ装置、2…対物レンズ系、200…対物レンズ系、201…レンズ保持筒、202…溝条、203…取付部、3…光干渉ユニット、300…光干渉ユニット、4…ビームスプリッタ、400…連結環、401…止めねじ、402…光透過孔、5…参照ミラー、51…傾き調整手段、52…保持部材、53…軸、54…傾斜面、56…回転角調整手段、57…収納筒、58…ジャーナル、500…ビームスプリッタ、501…保持枠、502…ハーフミラー、600…参照光調整部、610…参照ミラー、620…参照光角変更手段、620…参照光角度変更手段、621…保持体、622…球面、623…軸受筒、624…保持板、625…光透過孔、626…支持軸部、630…参照光路長変更手段、640…取付軸部、650…平行リンク機構、651…固定軸部、652…平行板ばね、653…補強板、654…従動軸部、660…調整手段、661…基軸部、662…押込ピン、662…押込プランジャ、663…外筒、664…ピン、AL…対物レンズの光軸、LR…参照光、S…観察対象面

Claims (6)

  1. 観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系に対して着脱自在に着装され、観察対象面からの被検光に参照光を干渉させて干渉縞を生成する光干渉ユニットにおいて、
    観察対象面を照明する照明光を分割して前記観察対象面を観察する被検光とこの被検光に干渉する参照光とを生成する光路分割手段と、
    前記参照光の光路に沿って変位可能に設けられ前記光路分割手段で生成された前記参照光を反射して前記光路分割手段に再帰させる参照ミラーと、
    前記参照ミラーの変位方向を前記参照光の光路に平行な方向に規制する平行ガイド機構によって前記光路分割手段と前記参照ミラーとの距離を変更する参照光路長変更手段と、を備え、
    前記平行ガイド機構は、平行四辺形型の平行リンク機構を備えて構成され、
    前記平行リンク機構は、前記光路分割手段で生成された前記参照光の光路に対して平行に配置された状態で前記光路分割手段に対する相対位置が固定された固定軸部と、
    前記固定軸部に対する対向辺として配置され前記参照ミラーと一体的に移動する従動軸部と、
    一端が前記固定軸部に回動自在に連結され他端が前記従動軸部に回動自在に連結され、前記参照光の光路に対して平行な方向に沿って離間した状態で互いに平行配置され、かつ、前記対物レンズの光軸に平行配置される一対の平行連結部材と、を備えている
    ことを特徴とする光干渉ユニット。
  2. 請求項1に記載の光干渉ユニットにおいて、
    前記平行連結部材は、平行板ばねであり、
    前記参照光路長変更手段は、前記参照ミラーの変位量を調整可能な調整手段を備え、
    前記調整手段は、
    前記固定軸部から前記平行板ばねに沿って延びる基軸部に設けられ、かつ、前記平行板ばねを前記対物レンズの光軸に向けて付勢する押込プランジャと、
    前記基軸部に設けられるとともに、前記従動軸部に螺合されていて、この螺合量に応じて前記対物レンズの光軸から離間する向きの前記従動軸部の変位量を調整できる押込調整ねじと、を備えている
    ことを特徴とする光干渉ユニット。
  3. 請求項1または請求項2に記載の光干渉ユニットにおいて、
    前記参照ミラーの反射面と前記参照光の光路との交点を中心点として前記参照ミラーを揺動させる球面滑り軸受によって前記参照ミラーが前記参照光の光路となす角を変更する参照光角度変更手段を備え、
    前記参照光路長変更手段は、前記参照光角度変更手段を介して前記参照ミラーを支持する
    ことを特徴とする光干渉ユニット。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の光干渉ユニットにおいて、
    観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系に対して着脱自在に連結される連結部材を備え、
    前記参照光路長変更手段は、前記連結部材が前記対物レンズ系に着装された状態において前記対物レンズの光軸を中心軸として回動可能であり、
    前記参照ミラーは前記参照光路長変更手段を介して前記連結部材に保持されている
    ことを特徴とする光干渉ユニット。
  5. 観察対象面を観察する対物レンズおよびこの対物レンズを内部に収納するレンズ保持筒を有する対物レンズ系と、
    請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の光干渉ユニットと、を備えた光干渉対物レンズ装置。
  6. 請求項5に記載の光干渉対物レンズ装置と、
    前記光干渉対物レンズ装置によって観察される干渉縞を撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段で撮像された前記干渉縞に基づいて前記観察対象面の形状を解析する解析手段と、を備えた測定装置。
JP2003396983A 2003-11-27 2003-11-27 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置 Expired - Lifetime JP4201693B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003396983A JP4201693B2 (ja) 2003-11-27 2003-11-27 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003396983A JP4201693B2 (ja) 2003-11-27 2003-11-27 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005156417A JP2005156417A (ja) 2005-06-16
JP4201693B2 true JP4201693B2 (ja) 2008-12-24

Family

ID=34722269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003396983A Expired - Lifetime JP4201693B2 (ja) 2003-11-27 2003-11-27 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4201693B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022121710A1 (de) 2021-08-30 2023-03-02 Mitutoyo Corporation Optische Vorrichtung

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017181172A (ja) * 2016-03-29 2017-10-05 キヤノンマーケティングジャパン株式会社 レンズユニット、計測装置、および計測システム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59139010A (ja) * 1983-01-31 1984-08-09 Canon Inc 可動ミラ−
JPS63238409A (ja) * 1987-03-26 1988-10-04 Matsushita Electric Works Ltd 顕微鏡用干渉ユニツト
JP2520950Y2 (ja) * 1988-03-11 1996-12-18 株式会社ニコン 二光束干渉用対物レンズ
JP2569571Y2 (ja) * 1991-10-18 1998-04-28 ユニオン光学株式会社 干渉対物レンズ装置
JP2000018935A (ja) * 1998-07-03 2000-01-21 Tokyo Seimitsu Co Ltd 表面粗さ形状検出器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022121710A1 (de) 2021-08-30 2023-03-02 Mitutoyo Corporation Optische Vorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005156417A (ja) 2005-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3314196B1 (en) Hybrid holographic sight
EP0640829B1 (en) Scanning probe microscope
US5777783A (en) Microscope
US5537247A (en) Single aperture confocal imaging system
US6819484B2 (en) Total internal reflection illumination apparatus and microscope using this total internal reflection illumination apparatus
US6084672A (en) Device for optically measuring an object using a laser interferometer
JP4201693B2 (ja) 光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置
JP4019995B2 (ja) ライン表示器
US7173710B2 (en) Inclination adjusting apparatus, ferrule clamping apparatus, and interferometer apparatus equipped with them
US6459490B1 (en) Dual field of view optical system for microscope, and microscope and interferometer containing the same
JP4847649B2 (ja) 顕微鏡焦準装置
JP2007047043A (ja) 多波長干渉計
US5959759A (en) Multiple beam scanning optical system
US6870669B2 (en) Variable-powered binoculars
JP4431381B2 (ja) 顕微鏡鏡筒
RU2343511C2 (ru) Оптическая система с температурной компенсацией фокусировки
JP2580824Y2 (ja) 焦点調整装置
JP2010223807A (ja) 参照鏡筒ユニット
US3709606A (en) Device for adjusting angle of inclination of reference mirror for interferometer
JPH09145721A (ja) 光学顕微鏡一体型走査型プローブ顕微鏡
JP2006526166A (ja) 微調整装置
JP3283575B2 (ja) ファイバー端面測定装置
KR200339961Y1 (ko) 광 주사유니트
JPH02290536A (ja) 顕微分光測定装置
JP4814583B2 (ja) 波面収差測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060530

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070703

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070809

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080417

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080422

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080930

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081007

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4201693

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111017

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111017

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141017

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250