JP4148959B2 - 超音波探傷方法及びその装置 - Google Patents
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Description
y2/a2+z2/b2=1 ・・・(1)
a=W1/2、b=1/2√(W1 2−S1 2)
y:スキャン直角方向、z:深さ方向。
(y−ΔS)2/a2+z2/b2=1 ・・・(2)
a=W2/2、b=1/2√(W2 2−S2 2)
y:スキャン直角方向、z:深さ方向。
2…探傷部
3,4…送信探触子
5,6…受信探触子
7,8…超音波探触子
9,10…超音波
11,12…回折波
13,14…楕円軌跡
15…送信探触子
16,17…受信探触子
18…超音波
19,20…回折波
21,22…楕円軌跡
23…送信探触子
24…受信探触子
25…超音波
26,27,28…回折波
29,30,31…楕円軌跡
32…送信探触子
33…受信探触子
34…超音波
35…回折波
36…超音波
37…回折波
38,39,40…楕円軌跡
41…送信探触子
42…受信探触子
43…超音波
44,45…回折波
e…欠陥
p…交点
Claims (8)
- 被検査体の探傷部を挟んだ同一面側の一方から送信探触子により縦波の超音波を発信し、該超音波が欠陥で回折する際に発生する横波の回折波と縦波の回折波とを前記探傷部の同一面側の他方で受信探触子により受信し、該受信探触子により受信した前記被検査体の表面直下を伝搬するラテラル波と被検査体の底面で反射した底面波とを除く欠陥端部で回折した回折波の縦波と横波との音速差から欠陥の走査直交方向のずれ量を求める超音波探傷方法。
- 被検査体の探傷部を挟んだ同一面側の一方から送信探触子により横波の超音波を発信し、該超音波が欠陥で回折する際に発生する縦波の回折波と横波の回折波とを前記探傷部の同一面側の他方で受信探触子により受信し、該受信探触子により受信した前記被検査体の表面直下を伝搬するラテラル波と被検査体の底面で反射した底面波とを除く欠陥端部で回折した回折波の横波と縦波との音速差から欠陥の走査直交方向のずれ量を求める超音波探傷方法。
- 被検査体の探傷部を挟んだ同一面側に、縦波の超音波を発信する送信探触子と、縦波の回折波と横波の回折波を受信する受信探触子とを配置し、
前記送信探触子から前記被検査体に向けて縦波の超音波を発信し、前記受信探触子で受信した前記被検査体の表面直下を伝搬するラテラル波と被検査体の底面で反射した底面波とを除く欠陥端部で回折した縦波の回折波と横波の回折波との音速差から欠陥の走査直交方向のずれ量を検出する制御機を設けた超音波探傷装置。 - 前記送信探触子に縦波斜角探触子を用い、前記受信探触子に縦波斜角探触子及び横波斜角探触子を用いて回折後の縦波及び横波を効率よく受信するように構成した請求項3記載の超音波探傷装置。
- 前記縦波で入射した超音波が回折後に縦波で伝搬した際にエコーの受信が予想される範囲と、縦波で入射した超音波が回折後に横波で伝搬した際にエコーの受信が予想される範囲とを、回折波を表示する探傷画面の時間軸上に表示するようにした請求項3又は請求項4記載の超音波探傷装置。
- 被検査体の探傷部を挟んだ同一面側に、横波の超音波を発信する送信探触子と、横波の回折波と縦波の回折波を受信する受信探触子とを配置し、
前記送信探触子から前記被検査体に向けて横波の超音波を発信し、前記受信探触子で受信した前記被検査体の表面直下を伝搬するラテラル波と被検査体の底面で反射した底面波とを除く欠陥端部で回折した横波の回折波と縦波の回折波との音速差から欠陥の走査直交方向のずれ量を検出する制御機を設けた超音波探傷装置。 - 前記送信探触子に横波斜角探触子を用い、前記受信探触子に縦波斜角探触子及び横波斜角探触子を用いて回折後の縦波及び横波を効率よく受信するように構成した請求項6記載の超音波探傷装置。
- 前記横波で入射した超音波が回折後に横波で伝搬した際にエコーの受信が予想される範囲と、横波で入射した超音波が回折後に縦波で伝搬した際にエコーの受信が予想される範囲とを、回折波を表示する探傷画面の時間軸上に表示するようにした請求項6又は請求項7記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005146640A JP4148959B2 (ja) | 2005-05-19 | 2005-05-19 | 超音波探傷方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005146640A JP4148959B2 (ja) | 2005-05-19 | 2005-05-19 | 超音波探傷方法及びその装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002356650A Division JP3765417B2 (ja) | 2002-12-09 | 2002-12-09 | 超音波探傷方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005274583A JP2005274583A (ja) | 2005-10-06 |
JP4148959B2 true JP4148959B2 (ja) | 2008-09-10 |
Family
ID=35174379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005146640A Expired - Lifetime JP4148959B2 (ja) | 2005-05-19 | 2005-05-19 | 超音波探傷方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4148959B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105651863A (zh) * | 2015-12-29 | 2016-06-08 | 中国农业大学 | 一种虫蛀孔洞玉米种子检测方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102207488B (zh) * | 2011-03-29 | 2014-02-19 | 北京理工大学 | 横波tofd缺陷定位方法 |
JP5846367B2 (ja) * | 2011-10-26 | 2016-01-20 | 株式会社ニチゾウテック | Tofd法を用いた溶接部の探傷方法および探傷装置 |
JP2013104787A (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-30 | Ryoden Shonan Electronics Kk | 超音波探傷装置及び超音波探傷プログラム |
KR101921685B1 (ko) * | 2017-03-30 | 2018-11-23 | 신동환 | 결함 검출 장치 및 이를 이용한 결함 검출 방법 |
CN107782789A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-09 | 洋浦海科石化工程检测有限公司 | 一种用于管道腐蚀检测的声定位c扫成像装置及方法 |
-
2005
- 2005-05-19 JP JP2005146640A patent/JP4148959B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105651863A (zh) * | 2015-12-29 | 2016-06-08 | 中国农业大学 | 一种虫蛀孔洞玉米种子检测方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005274583A (ja) | 2005-10-06 |
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