JP4142040B2 - 高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法 - Google Patents

高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4142040B2
JP4142040B2 JP2005322598A JP2005322598A JP4142040B2 JP 4142040 B2 JP4142040 B2 JP 4142040B2 JP 2005322598 A JP2005322598 A JP 2005322598A JP 2005322598 A JP2005322598 A JP 2005322598A JP 4142040 B2 JP4142040 B2 JP 4142040B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polymer
conductor
base material
ultrasonic energy
energy converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005322598A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006352823A (ja
Inventor
明▲ウェイ▼ 張
大成 ▲ぱん▼
昭勝 曽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Industrial Technology Research Institute ITRI
Original Assignee
Industrial Technology Research Institute ITRI
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Industrial Technology Research Institute ITRI filed Critical Industrial Technology Research Institute ITRI
Publication of JP2006352823A publication Critical patent/JP2006352823A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4142040B2 publication Critical patent/JP4142040B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/16Probe manufacture
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0009Structural features, others than packages, for protecting a device against environmental influences
    • B81B7/0012Protection against reverse engineering, unauthorised use, use in unintended manner, wrong insertion or pin assignment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B06GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
    • B06BMETHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
    • B06B1/00Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
    • B06B1/02Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
    • B06B1/0292Electrostatic transducers, e.g. electret-type
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C1/00Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q90/00Scanning-probe techniques or apparatus not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R19/00Electrostatic transducers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C2201/00Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
    • B81C2201/01Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
    • B81C2201/0101Shaping material; Structuring the bulk substrate or layers on the substrate; Film patterning
    • B81C2201/0102Surface micromachining
    • B81C2201/0105Sacrificial layer
    • B81C2201/0108Sacrificial polymer, ashing of organics
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/43Electric condenser making
    • Y10T29/435Solid dielectric type
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49005Acoustic transducer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/4902Electromagnet, transformer or inductor
    • Y10T29/4908Acoustic transducer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49169Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor
    • Y10T29/49171Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating
    • Y10T29/49172Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating by molding of insulating material
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49194Assembling elongated conductors, e.g., splicing, etc.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)

Description

本発明は一種の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法であり、特に製作費用を削減することが出来る高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法である。
超音波感知システムはいまよく使われる設備であり、構成する主な部品は超音波エネルギー転換器である。超音波エネルギー転換器の「超小型化」はいま全世界で積極的に開発しようとしているポイントのひとつである。それは「超小型化」がいい反響、ポータブルと広い応用範囲などのメリットがあるから。超音波システムは非侵襲性(Noninvasive)、即時的、ポータブルと経済の価値が多いとの長所があり、臨床医学、軍事上及び航空宇宙学の面での応用はますます広くなっている。例えば医学用の超音波画像システムはこのようなものである。
感知センサーのデザインと製作の品質は映像の良さに大きな影響を及ぼすため、この部分の仕事も超音波画像システムの技術の中心になる。今よく使われる材質は圧電材料であり、これは圧電材料の陶磁器の表面では抵抗の数量と固体とは一緒なためである。ただし、テスト物質は液体とかガスとなると抵抗の差が大きすぎるので今までよく使われる圧電材料は使えなくなって、新しい材質と技術を探さなくてはいけない。図29は公知である昔の圧電センサーの断面図で、センサーには背部ゴム層30で基板とする。それに発射の能率を上げるため、圧電材料層32と材質層36に間に相性層34を作る。大きい商売の利益と技術突破の要因で超音波感知システムもだんだん圧電式からマイクロコンデンサー式のエネルギー転換器に移り、もっと応用の面と特性もアップになる。
コンデンサー超音波エネルギー転換器は従来の圧電式の商品と比べると一番大きな差は超音波の転換効率がよいから。このわけで超音波のエネルギー転換器は周波数の幅が大きく、感度がよく、解像度強いと動態範囲も大きい、更に空気中でも使えるなどの長所がある。空気中で使用すると普通のコンデンサーの周波数の幅が200KHz-5KHzに対して圧電式の商品がただ50-200KHzである。周波数帯域の大きな差が自然に使い道を限定し、商品の応用できる範囲も縮まる。また、圧電式の商品の製造プロセスは高温の環境で生産するので電子式の回路とはうまく整合しない。この欠点も全体的な発展に悪い影響を与える。
コンデンサー超音波センサーの構造は平行板の機械コンデンサーに似る。それは一つ固定電極と振動的な薄膜電極で交流電圧信号を加えて薄膜を動かし超音波の振動を発生させて検査する。
1998年、Jinらは面型微加工技術で空気中と水中で使えるコンデンサー超音波センサーを作り出した。高不純物添加で表面がいい導電率もつシリコンウエーハを基材とし、まずLow Pressure-Chemical Vapor Deposition System(LPCVD)の方法により、800℃の環境で第一層の窒化物を沈積して底部の電極を保護する。それからアモルファスシリコンを犠牲層とし、ドライエッチング(dry etching)により六角形島状物を蝕刻して、それから第二層の窒化物をまた沈積して薄膜及び薄膜を支える六角のフレームも一緒に形成する。それからドライエッチングで第二層の窒化物を穴あけして75≡C以下の環境で穴を経由しpotassium hydroxideをつかってアモルファスシリコンを取り除きセンサーの室を形成する。最後は堆積した酸化ケイ素で穴を埋め、アルミでめっきしウットエッチングによりセンサー上部の電極パターンを完成する。
2002年、Cianciらは薄膜のテンションがセンサー装置に悪い影響を低減するため、低温製造技術と焼きなましの手段を発明した。それによりコンデンサー式超音波センサーを作る。具体的な方法はまずポリイミド(Polyimide)が犠牲層としてReactive Ion Etching(RIE)の方法でPolyimideをエッチングし六角形島状物を作り出す。次は六角のフレームが犠牲層の高さに達するまでに低温で一酸化ケイ素を蒸発めっきし、その六角のフレームが薄膜を支える。
それからelectron cyclotron resonance plasma-enhanced chemical vapor deposition(PECVD)の方法で380℃の環境の下に窒化珪素を沈積して薄膜のフレームとして作る。最後は510℃で十時間まで焼きなましし薄膜のプレッシャを消して軽いテンションのいい結果をさせる。センサーの上部の電極はフォトリソグラフィ工程で完成し、下部の電極はシリコンウエーハの裏にスパッタリングでつける。
但し、前の製造工程において、加工の温度と残留テンションが高すぎ、製造工程が複雑すぎ、コストが高いなどの問題も沢山ある。よって、これに関わる加工工程にあわせて前の問題を解決しなければなりません。例えば、焼きなましのやり方で残留テンションを下げて振動膜の変形と破壊などの問題を消す。ところで、今までの技術はよくSILICON BASEの材料を使って振動室を作るため、Lamb Waveの不良反応が起きる。且つ振動室と薄膜も異なる材質で作られるので熱膨張率は違い、超音波エネルギー転換器が不安定になる。
本発明の主な目的は一種の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法を提供する。また、高分子材料は安さ、簡単に加工でき、大型化できるなどのメリットがあるからこれらの特性をつかって生産コストを安くすると製作の過程も簡易にさせる目的が遂行できる。その効果を出すため、高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法は以下の段階を含める、
(a) 基板を提供し、
(b) 基板の上に材料を塗って第一導体を作り、
(c) 基板に一層の犠牲層を塗り第一導体を包み、
(d) 犠牲層をエッチングし第一導体と接触する室を作り、
(e) 第一高分子基材料を基板に塗って完全に室を含め、
(f) 第一高分子基材料の上で第二導体部を作り出し、
(g) 第一高分子基材料の上で室に達する通穴を開ける、また
(h) この穴をつかって室をエッチングして室をはっきりと取り除く。
もっといい方法は段階(b)でまた次のやり方を使ってする(b1)基板の上で完璧に第一導体部を塗る。
もっといい方法は段階(b1)でまた次のやり方を使ってする(b2) 第一導体部をエッチングし必要な部分だけ残す。
もっといい方法は高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法に下の段階を含める(i)第二高分子基材料で完全に第二導体部を包む。
もっといい方法は高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法に下の段階を含める(i)第二高分子基材料で完全に第二導体部を包み通穴まで埋める。
もっといい方法は第一導体部が金属で作る。
もっといい方法は第一導体部の作れる金属がスパッタリングで基板につける。
もっといい方法は第二導体部が金属で作る。
もっといい方法はf)段階で第二導体部の作れる金属がスパッタリングで第一高分子基材料につける。
もっといい方法は犠牲層も金属で作る。
もっといい方法は第一高分子基材料が微科学会社(MCC)から出産されたSU-8フォト-レジスト剤を使う。
請求項1の発明は、一種の高分子基コンデンサー超音波転換器の製造方法は以下のステップのように、
(a) 基板を提供し、
(b) 基板の上に材料を塗って第一導体を作り、
(c) 第一高分子基材料で基板を塗り、第一導体を包み、
(d) 第一高分子基材料をエッチングし開放エリアを作り、
(e) 開放エリアで犠牲層を作り、
(f) 犠牲層を第二高分子基材料で塗り、全部の犠牲層を包み、
(g) 第二高分子基材料で犠牲層に達する通穴を開け、
(h) 第二高分子基材料で第二導体部を作り、
(I) 第三高分子基材料で第二導体部を包む、また
(j) 通穴で室をエッチングし完全に取り除くことを特徴とする、高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法としている。
請求項の発明は、請求項記載の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法において、第一導体、第二導体部と犠牲層などがみんな金属であることを特徴とする、高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法としている。
本発明の主な目的は一種の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法を提供する。また、高分子材料は安く、簡単に加工でき、大型化できるなどのメリットがあるからこれらの特性をつかって生産コストを安くすると製作の過程も簡易にさせる目的が遂行できる。
図1から図9までは高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法フローチャートでこれも第一実施例と表す。
図1で基板10を提供し基板10の上に導体部12をおく。
図2で導体部12はエッチングされ、必要な形に作られる。
次は図3のように犠牲層14が基板10に塗られて第一導体部12を包む。
次に図4のように犠牲層14をエッチングし第一導体部12に連結する室16だけ残す。
図5に示すのは基板10に高分子基材料18をぬり、室16を完全に包むのである。
図6に示すのは高分子基材料18でもう一つ導体部20を形成するのである。
図7に示すのは高分子基材料18で室16に達する通穴22を開け、本実施例の中では二つの通穴を開けるが、実際はひとつでも複数の穴でも開けるとは自由である。つぎに図8に示すのは通穴22を経由し室16をウエットエッチングにより全部の室を取り除くのである。
この段階まで本発明の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器は大体完成になる。もちろん、図9のように導体部12と20がほこりと水分と錆びを防ぐためにまたもう一つ高分子基材料24で導体部20を完全につつみ、通穴22まで埋めることができる。
図10から図16までは本発明の第二実施例であり、本発明高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法のフローチャートである。
図10に示すように基板10を提供し基板10の上に導体部12を置く。
図11に示すように導体部12で室16を作る。
次に図12のように導体部12で高分子基材料18を塗り、完全に室16を包む。
それから図13示すように高分子基材料18でもう一つ導体部20を作る。
図14に示すように高分子基材料18の上で室16までの通穴22をあける。
本実施例は二つ通穴を開け、もちろん一つ或いは複数の穴を開けるのも自由である。次に図15に示すのは通孔22で室16をウットエッチングし室16を全部取り除くのである。
また、前述第一実施例のように導体部12と20はほこりと水分と錆びを防ぐため、さらに高分子基材料26でしっかり導体部20を包むことができる。図16に示すのは適切な高分子基材料26の選択により該高分子基材料26で導体部20を塗ると高分子基材料26の横の粘着力は垂直の重力より強いので高分子基材料26が垂れない。よって通穴22は埋まらない。
図17から図28まで示すのは高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法のフローチャートであり、本発明の第三実施例を表す。本実施例ではいろいろな室の隙の厚みが異なる高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器を作り出すのである。
図17に示すのは基板40を提供し、基板の上に導体部42を作るのである。
図18に示すのは導体部42を高分子基材料44で塗り完全に導体部42を包むのである。
図19に示すのは高分子基材料44をエッチングし、開放エリア46aと46bを形成するのである。
また図20に示すように、開放エリア46aと46bで犠牲層48a、48bを形成するのである。
図21に示すようにフォト-レジスト50ですべての分子基材料44と犠牲層48a、48bをぬりつつむ。
フォト-レジスト50をとり、図22に示すようにただ犠牲層48a、48bの上にある部分のフォト-レジスト50を残す。
図23に示すのは犠牲層48bを厚くし続けるのである。
それから図24のように全部のフォト-レジスト50を取り除き、高分子基材料44で犠牲層48a、48bをぬ り完全に犠牲層48a、48bを包むのである。
図25に示すのは高分子基材料44において、それぞれ犠牲層48aと犠牲層48bに到達する通穴52a、52bを設けるのである。
図26に示すように高分子基材料44において、犠牲層48a、48bに相応する導体部54aと導体部54bを形成する。
次は図27に示すように高分子基材料44で導体部54a、54bを包む。
最後は図28に示すように通穴52aと52bを経って犠牲層48a、48bをエッチングし、完全に犠牲層48a、48bを取り除く。
以上の段階が終わって、室の隙の厚み(発射素子と受信素子として)が異なる高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器を得ることができる。
本発明の中で基板はシリコンウエーハであり、導体部は基板と高分子基材料において、スパッタリングの技術で構成される。また、該犠牲層も金属、例えば銅で作られる。且つ該高分子基材料も微化学会社(MCC)が生産するSU-8フォト-レジスト剤を使用することもできる。
前述の説明から分かるように、本発明の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器は高分子材料の安さと容易に加工し、大型化できるなどのメリット且つ高分子の低温加工技術を用い、従来の技術のコスト高い製造過程と高温で製作することを避けることができるから相性層の加工も優しくする。それにより作り出すエネルギー転換器は高い性能と高い方向性という特性を持ち、感度と動態的な検査範囲を向上する以外、医学画像と非破壊性検査、移動、流量、液面の検査などの領域もよく使えて抜群な競争力を持つ商品となる。
本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第一の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第二の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 本発明のフローチャートであり、第三の実施例を表す。 昔の圧電センサーの断面図である。
符号の説明
10 基板
12 導体部
14 犠牲層
16 室
18 高分子基材料
20 導体部
22 通穴
24 高分子基材料
26 高分子基材料
30 背部ゴム層
32 圧電材料層
34 相性層
36 材質層
40 基板
42 導体部
44 高分子基材料
46a 開放エリア
46b 開放エリア
48a 犠牲層
48b 犠牲層
50 フォト-レジスト
52a 通穴
52b 通穴
54a 導体部
54b 導体部

Claims (2)

  1. 一種の高分子基コンデンサー超音波転換器の製造方法は以下のステップのように、
    (a) 基板を提供し、
    (b) 基板の上に材料を塗って第一導体を作り、
    (c) 第一高分子基材料で基板を塗り、第一導体を包み、
    (d) 第一高分子基材料をエッチングし開放エリアを作り、
    (e) 開放エリアで犠牲層を作り、
    (f) 犠牲層を第二高分子基材料で塗り、全部の犠牲層を包み、
    (g) 第二高分子基材料で犠牲層に達する通穴を開け、
    (h) 第二高分子基材料で第二導体部を作り、
    (I) 第三高分子基材料で第二導体部を包む、また
    (j) 通穴で室をエッチングし完全に取り除くことを特徴とする、高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法。
  2. 請求項1記載の高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法において、第一導体、第二導体部と犠牲層などがみんな金属であることを特徴とする、高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法。
JP2005322598A 2005-06-17 2005-11-07 高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法 Expired - Fee Related JP4142040B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW094120108A TWI260940B (en) 2005-06-17 2005-06-17 Method for producing polymeric capacitive ultrasonic transducer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006352823A JP2006352823A (ja) 2006-12-28
JP4142040B2 true JP4142040B2 (ja) 2008-08-27

Family

ID=35249173

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005322598A Expired - Fee Related JP4142040B2 (ja) 2005-06-17 2005-11-07 高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (2) US7673375B2 (ja)
JP (1) JP4142040B2 (ja)
KR (1) KR100634994B1 (ja)
DE (1) DE102005051604A1 (ja)
FR (1) FR2887242A1 (ja)
GB (1) GB2427321B (ja)
TW (1) TWI260940B (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI268183B (en) 2005-10-28 2006-12-11 Ind Tech Res Inst Capacitive ultrasonic transducer and method of fabricating the same
WO2007115283A2 (en) * 2006-04-04 2007-10-11 Kolo Technologies, Inc. Modulation in micromachined ultrasonic transducers
US7721397B2 (en) * 2007-02-07 2010-05-25 Industrial Technology Research Institute Method for fabricating capacitive ultrasonic transducers
US20110026367A1 (en) * 2007-05-07 2011-02-03 Baumer Electric Ag Acoustic Transducer
GB2452941B (en) 2007-09-19 2012-04-11 Wolfson Microelectronics Plc Mems device and process
US7856883B2 (en) * 2008-03-24 2010-12-28 Industrial Technology Research Institute Capacitive ultrasonic sensors and display devices using the same
GB2459866B (en) * 2008-05-07 2011-08-31 Wolfson Microelectronics Plc Mems transducer
US8402831B2 (en) * 2009-03-05 2013-03-26 The Board Of Trustees Of The Leland Standford Junior University Monolithic integrated CMUTs fabricated by low-temperature wafer bonding
JP5377066B2 (ja) 2009-05-08 2013-12-25 キヤノン株式会社 静電容量型機械電気変換素子及びその製法
US8428286B2 (en) * 2009-11-30 2013-04-23 Infineon Technologies Ag MEMS microphone packaging and MEMS microphone module
JP2011244425A (ja) * 2010-04-23 2011-12-01 Canon Inc 電気機械変換装置及びその作製方法
WO2013054614A1 (ja) * 2011-10-11 2013-04-18 東海ゴム工業株式会社 トランスデューサ
FR2982414B1 (fr) 2011-11-09 2014-08-22 Commissariat Energie Atomique Procede ameliore de realisation d'un dispositif a cavite formee entre un element suspendu reposant sur des plots isolants semi-enterres dans un substrat et ce substrat
CN102538850A (zh) * 2012-01-04 2012-07-04 无锡智超医疗器械有限公司 一种电容式微机电超声传感器及其制作方法
US8586455B1 (en) * 2012-05-15 2013-11-19 International Business Machines Corporation Preventing shorting of adjacent devices
JP6057571B2 (ja) * 2012-07-06 2017-01-11 キヤノン株式会社 静電容量型トランスデューサ
JP6071285B2 (ja) * 2012-07-06 2017-02-01 キヤノン株式会社 静電容量型トランスデューサ
US9364862B2 (en) * 2012-11-02 2016-06-14 University Of Windsor Ultrasonic sensor microarray and method of manufacturing same
CN103217228B (zh) * 2013-03-15 2015-04-29 西安交通大学 一种基于cmut的温度传感器及制备和应用方法
US20150109889A1 (en) * 2013-10-17 2015-04-23 Merry Electronics (Shenzhen) Co., Ltd. Acoustic transducer with membrane supporting structure
WO2015156859A2 (en) * 2014-01-13 2015-10-15 Board Of Regents, The University Of Texas System Surface micromachined microphone with broadband signal detection
MY167930A (en) * 2014-05-07 2018-10-04 Mimos Berhad An etch-free method for conductive electrode formation
CA3085014A1 (en) 2017-12-19 2019-06-27 The University Of British Columbia Layered structure and method for fabricating same
CN108918662B (zh) * 2018-05-16 2020-10-27 西安交通大学 一种CMUTs流体密度传感器及其制备方法
DE102019203829B4 (de) * 2019-03-20 2020-12-31 Vitesco Technologies GmbH Verfahren zum Herstellen einer Fluidsensorvorrichtung und Fluidsensorvorrichtung
US11219913B2 (en) * 2019-03-20 2022-01-11 William Allen Smith Wheel guard to shield wheels from tire dressing
TWI750862B (zh) * 2020-10-23 2021-12-21 友達光電股份有限公司 電容式超音波換能器及其製造方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5287331A (en) * 1992-10-26 1994-02-15 Queen's University Air coupled ultrasonic transducer
FR2697675B1 (fr) 1992-11-05 1995-01-06 Suisse Electronique Microtech Procédé de fabrication de transducteurs capacitifs intégrés.
US5619476A (en) * 1994-10-21 1997-04-08 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Jr. Univ. Electrostatic ultrasonic transducer
US6316796B1 (en) 1995-05-24 2001-11-13 Lucas Novasensor Single crystal silicon sensor with high aspect ratio and curvilinear structures
US5704105A (en) * 1996-09-04 1998-01-06 General Electric Company Method of manufacturing multilayer array ultrasonic transducers
US6295247B1 (en) * 1998-10-02 2001-09-25 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Micromachined rayleigh, lamb, and bulk wave capacitive ultrasonic transducers
US6271620B1 (en) 1999-05-20 2001-08-07 Sen Corporation Acoustic transducer and method of making the same
US6246158B1 (en) 1999-06-24 2001-06-12 Sensant Corporation Microfabricated transducers formed over other circuit components on an integrated circuit chip and methods for making the same
US6430109B1 (en) * 1999-09-30 2002-08-06 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Array of capacitive micromachined ultrasonic transducer elements with through wafer via connections
US6867535B1 (en) * 1999-11-05 2005-03-15 Sensant Corporation Method of and apparatus for wafer-scale packaging of surface microfabricated transducers
US6249075B1 (en) * 1999-11-18 2001-06-19 Lucent Technologies Inc. Surface micro-machined acoustic transducers
US6443901B1 (en) * 2000-06-15 2002-09-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Capacitive micromachined ultrasonic transducers
CA2464589C (en) * 2001-10-23 2008-07-08 David W. Schindel Ultrasonic printed circuit board transducer
US7087023B2 (en) * 2003-02-14 2006-08-08 Sensant Corporation Microfabricated ultrasonic transducers with bias polarity beam profile control and method of operating the same
EP1713399A4 (en) * 2004-02-06 2010-08-11 Georgia Tech Res Inst CMUT DEVICES AND MANUFACTURING METHOD
WO2005084284A2 (en) * 2004-02-27 2005-09-15 Georgia Tech Research Corporation Multiple element electrode cmut devices and fabrication methods
WO2005087391A2 (en) * 2004-03-11 2005-09-22 Georgia Tech Research Corporation Asymmetric membrane cmut devices and fabrication methods

Also Published As

Publication number Publication date
DE102005051604A1 (de) 2006-11-23
TWI260940B (en) 2006-08-21
TW200701817A (en) 2007-01-01
FR2887242A1 (fr) 2006-12-22
JP2006352823A (ja) 2006-12-28
US20090126183A1 (en) 2009-05-21
GB2427321B (en) 2007-05-16
GB2427321A (en) 2006-12-20
GB0519271D0 (en) 2005-10-26
KR100634994B1 (ko) 2006-10-16
US20070013266A1 (en) 2007-01-18
US7673375B2 (en) 2010-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4142040B2 (ja) 高分子基コンデンサー超音波エネルギー転換器の製造方法
US10583462B2 (en) Electromechanical transducer and method of producing the same
US9611135B1 (en) System and method for a differential comb drive MEMS
CN102728534B (zh) 机电换能器及其制造方法
US20110062535A1 (en) Mems transducers
US20060075818A1 (en) Capacitive micromachined ultrasonic transducer array with through-substrate electrical connection and method of fabricating same
JP2009291514A (ja) 静電容量型トランスデューサの製造方法、及び静電容量型トランスデューサ
US20110026367A1 (en) Acoustic Transducer
CN109511023B (zh) 一种高灵敏度的压电麦克风及制作方法
JP2002521890A (ja) 容量性超音波変換器を製造する方法
JP2009538238A (ja) マイクロマシン構成素子及びその製法
JP2014017564A (ja) 静電容量型トランスデューサ
US20230234837A1 (en) Mems microphone with an anchor
CN111770422A (zh) 级联微型麦克风及其制造方法
KR101776725B1 (ko) 멤스 마이크로폰 및 그 제조방법
JP5188188B2 (ja) 容量型超音波トランスデューサの製造方法
JP2010098454A (ja) 機械電気変換素子
CN210183543U (zh) 一种mems结构
JP2007309892A (ja) 静電容量型センサ
Mescher et al. Novel MEMS microshell transducer arrays for high-resolution underwater acoustic imaging applications
Kim et al. Piezoelectric parylene-C MEMS microphone
US10284987B2 (en) Acoustic apparatus, system and method of fabrication
JP2008053400A (ja) エレクトレットコンデンサ
TWI697999B (zh) Mems裝置及製程
JP6309034B2 (ja) 電気機械変換装置及びその作製方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071217

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080108

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080407

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080410

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080603

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080611

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4142040

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130620

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees