JP4064872B2 - 周波数領域特性を利用したpdp電極検査方法及び装置 - Google Patents
周波数領域特性を利用したpdp電極検査方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4064872B2 JP4064872B2 JP2003177069A JP2003177069A JP4064872B2 JP 4064872 B2 JP4064872 B2 JP 4064872B2 JP 2003177069 A JP2003177069 A JP 2003177069A JP 2003177069 A JP2003177069 A JP 2003177069A JP 4064872 B2 JP4064872 B2 JP 4064872B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- pdp
- inspection
- frequency
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/28—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using luminous gas-discharge panels, e.g. plasma panels
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J11/00—Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
- H01J11/20—Constructional details
- H01J11/22—Electrodes, e.g. special shape, material or configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J11/00—Gas-filled discharge tubes with alternating current induction of the discharge, e.g. alternating current plasma display panels [AC-PDP]; Gas-filled discharge tubes without any main electrode inside the vessel; Gas-filled discharge tubes with at least one main electrode outside the vessel
- H01J11/20—Constructional details
- H01J11/46—Connecting or feeding means, e.g. leading-in conductors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の属する技術分野及び従来の技術】
本発明は多数の電極から成るプラズマ画面表示装置(Plasma Display Panel、以下「PDP」という)の電極異常有無を検査する装置に関するもので、より詳しくは電極の断線、短絡などの欠陥の発生に起因する周波数特性の変化を検出して迅速且つ安価に異常有無及び異常位置を検出できる周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法及び装置に関するものである。
【0002】
PDPはガス放電現象に基づく平板ディスプレー装置として、小スペース占有、広い視野角、軽量、カラー化容易などの利点があり、最も有望な大型HDTV及び壁付けマルチメディアディスプレー装置中一つとして注目を浴びている。しかも、最近ディスプレーの大型化につれてPDP需要が増加しており、とりわけ、PDPは20インチから80インチまでの画面寸法に対して4インチ以下の厚さを有し、配置にあたって空間の制約を受けず、その需要はより増加する見込みである。
【0003】
前記PDPは密封された上板パターンと下板パネル、蛍光物質そして各パネル上に印刷された電極から成る。そして、前記PDPは大画面において高解像度を得るべく、各パネルがかなり多数の電極を有し、また各電極の大きさも大変小さいので、損傷の危険が高い。
【0004】
例えば、HDTV級PDPの場合、横電極は5760個、縦電極は1080個から成り、各PDP電極は数百μの幅と数百nmから数μmの厚さを有する。
そればかりでなく、前記PDP電極には200V程の高電圧が印加される為、電極の一部だけ損傷されたとしても電極損傷の進行が大変速い。
【0005】
また、上板パネルと下板パネルとを結合した後には、電極に異常があっても補修し難いので組立てたPDP自体を廃棄しなければならない問題があった。
そうであるだけに、PDP製品の生産において生産単価を下げ製品の質を向上させるためには、上板パネルと下板パネルの組立て前にPDP電極の異常有無を検査する必要性は大変高いといえる。
【0006】
従来のPDP電極の検査方法はビジョンシステム(Vision system)方式として、検査対象PDPの大きさ(幅)に合わせて一列に配置される多数のラインスキャンカメラ(line scan camera)とフレームグラッバー(frame grabber)から成るもので、PDPの上板パネルと下板パネルとを結合した後、電極に電圧を印加し、発生する実際の画面情報を前記多数のラインスキャンカメラでスキャンして異常有無を検査するといったものである。こうした従来の検査方法は、ラインスキャンカメラの数が検査解像度及び検査対象PDPの大きさに比例し、検査解像度が大きくなるほど、検査しようとするPDPの大きさが大きくなるほど、システム価格が上がり検査時間が長くなる欠点を抱えている。
【0007】
より具体的に説明すれば、ビジョンシステムの核心要素であるラインスキャンカメラは所定のピクセル数を有するもので現在のところ最大データ出力速度が100MHzで、ライン当り検査速度は最大100KHzを超えられない。現在のラインスキャンカメラを使用する場合、ビジョンシステムは40インチPDPパネル1枚当り数十秒以上の検査時間がかかる。しかし、ビジョンシステムにおいて、検査解像度または検査対象の大きさと出力データ量とが比例するので、検査解像度が高くなったりPDPの大きさが大きくなれば、検査所要時間も長くなる。
【0008】
さらに、大きいサイズのPDPを高解像度で検査するためには高速、高解像度のラインスキャンカメラで構成されるビジョンシステムが必要であるが。高速高解像度のカメラは1台当り価格が数千万ウォンと、かなり高価である。
したがって、ビジョンシステムは、例えば解像度を2倍高めるためには検査時間を4倍に増加させるか、カメラ数を2倍に増やさなければならない。したがって、ビジョンシステムでPDP電極を検査の際、検査解像度を高めたり検査対象PDPの大きさが増加する場合、検査時間が長引くか検査コストが上昇する問題があった。
【0009】
上述したビジョンシステム以外の方式には、磁気センサやローラープローブ、ICプローブなどを利用したものがあるが、こうした方式は全てセンサやプローブがPDP上を動きながら検査する方式であるため、PDPの大きさが大きくなるほどスキャン面積が増加し検査時間が長くなる欠点があり、センサやプローブの接触によりPDP電極部位が損傷される恐れがある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
こうして、本発明は上述した従来の問題点を解決するために提案されたものとして、その目的はPDP電極の周波数特性を測定し、迅速且つ安価にPDP組立前に電極の異常有無及び異常位置まで認識できる周波数領域特性を利用した電極検査方法及び装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上述した目的を成し遂げるための構成手段として、本発明は、それぞれ横または縦方向に多数の電極が印刷される上板パネルと下板パネルとが結合されて成るPDP電極を検査する方法において、前記パネルに印刷された検査対象PDP電極を伝送線構造に変換する段階と、前記伝送線構造に変換されたPDP電極に諸周波数の検査信号を印加してから、該PDP電極の一端に反射した反射波と合成された検査信号の周波数別大きさ及び位相を検出する段階と、前記検出した周波数別大きさ及び位相特性を分析し電極の異常を判断する段階とから行われるものであり、大容量のデータ処理無しで検出した周波数特性から電極異常有無及び異常位置を容易に判断できる効果を奏する。
【0012】
さらに、本発明のPDP電極検査方法において、前記PDP電極を伝送線構造に変換する段階は、前記検査対象電極が印刷されたパネルの反対面に導体板を付着する段階と、前記付着した導体板を接地させグラウンドプレーンを形成する段階とで成ることができ、さらに、前記PDPパネルの検査対象PDP電極が形成された面に誘電物質から成るインピーダンス調節層を形成する段階と、前記インピーダンス調節層の下部に導体板を付着する段階と、前記導体板を接地させグラウンドプレーンとする段階とで成ることもでき、他の方法として、前記検査対象電極が印刷されたPDPパネルを電気が通じ比重の高い液体上に前記電極印刷面が上向きになるよう浮かばせ、前記液体をグラウンドプレーンとすることによって、PDP電極を伝送線構造に変換することもでき、また他の方法として、それぞれ二つの相互隣接した電極を一対に指定し、前記指定した電極対別に任意の一電極を検査対象電極に設定し、残りの電極を接地させ該検査電極を伝送線構造に変換することもできる。
【0013】
さらに、本発明によるPDP電極検査方法において、前記信号印加及び検出段階は一つのパネル上に印刷された多数のPDP電極に共通に接触するよう導体線を設け、PDP電極を分岐線に用いて検査を行ってもよく、前記多数の検査対象PDP電極のそれぞれに電極の一側端部に検査信号を印加し、同時に前記検査信号が印加された端部から信号波形の周波数及び位相特性を検出することで、電極を伝送線に用いて検査してもよい。
【0014】
そして、本発明のPDP電極検査方法において、前記信号印加及び検出段階で印加される検査信号は、
【数2】
(ここで、Lは分岐線の長さ、ΔLは区別しようとする分岐線の長さ変化、cは光の進行速度、εrは伝送線を構成する誘電物質の相対誘電率である)の周波数間隔(Δf)を有する複数個の周波数信号で、前記のような検査信号の周波数間隔調節により検査解像度及び正確性を調節することができる。
【0015】
さらに、本発明によるPDP電極検査方法において、前記判断段階は前記信号印加及び検出段階において検出した周波数特性の結果から極小点の位置をチェックし、予め把握してある正常状態での極小点位置と異なる場合、検査対象電極に異常が発生したものと判断して異常有無を確認することもでき、前記信号印加及び検出段階において検出した周波数特性の結果において極小点を有する周波数から異常電極の異常位置を判断することもでき、前記信号印加及び検出段階において検出した周波数特性の結果において極小点の個数と大きさから異常電極の数を検出することもできる。
【0016】
さらに、本発明によるPDP電極検査方法は、前記判断段階において電極に異常があると判断されたパネルをビジョンシステムで検査し、電極の異常位置を検出することによって、ビジョンシステムの負担を減少させることもできる。
【0017】
さらに、本発明は、検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れるようグラウンドプレーンが設けられ前記電極を伝送線構造に変化させ、前記電極にすべて接触する導体線が付着された検査対象PDPパネルと、多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる信号発生器と、前記信号発生器と検査対象PDPパネルの導体線との間でインピーダンスをマッチングさせ前記検査信号を導体線の第1端部に伝達する第1インピーダンス変換器と、前記検査対象電極を経て導体線の第2端部から出力する出力信号の周波数別大きさを測定するピーク検出器と、前記導体線の第2端部とピーク検出器のインピーダンスをマッチングさせ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達させる第2インピーダンス変換器とから成る周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置を提供する。
【0018】
さらに、本発明は、検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れるようグラウンドプレーンが設けられ前記電極を伝送線構造に変化させる検査対象PDPパネルと、多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる多数の信号発生器と、前記多数の信号発生器とPDPパネルに印刷された多数の検査対象電極との間にそれぞれ設けられ信号発生器と電極間のインピーダンスをマッチングさせながら当該検査信号を電極別に印加する多数の第1インピーダンス変換器と、前記PDPパネル上に印刷された検査対象電極それぞれの出力波形の周波数別大きさを測定する多数のピーク検出器と、前記多数の検査対象電極とピーク検出器との間に設けられ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達させる多数の第2インピーダンス変換器とを含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置を提供する。
【0019】
さらに、本発明は、検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れるようグラウンドプレーンが設けられ前記電極が伝送線構造に変化される検査対象PDPパネルと、多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる信号発生器と、前記信号発生器とPDPパネルに印刷された検査対象電極との間に位置して検査信号を反射無しで電極側に伝達する第1インピーダンス変換器と、前記PDPパネル上に印刷された検査対象電極の出力波形の周波数辺別大きさを測定するピーク検出器と、前記検査対象電極とピーク検出器との間に設けられ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する多数の第2インピーダンス変換器と、前記第1、2インピーダンス変換器を多数の検査対象電極中一電極に選択的に連結するスイッチとを含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置を提供する。
【0020】
さらに、本発明は、多数の検査対象電極が印刷された検査対象PDPパネルと、前記PDPパネルに印刷された隣接する2個の電極にそれぞれ連結され、連結された両電極を第1選択端子または第2選択端子に交差連結させ、前記第2選択端子は接地電位に連結される多数のスイッチと、複数個の周波数信号から成る検査信号を発生させ、前記多数のスイッチの第1選択端子にそれぞれ連結される多数の信号発生器と、前記信号発生器と検査対象電極との間に位置して検査信号を反射無しで電極側に伝達する第1インピーダンス変換器と、前記多数のスイッチの第1選択端子にそれぞれ連結され当該スイッチを通して入力された検査対象電極の出力波形の周波数別大きさを測定するピーク検出器と、前記検査対象電極とピーク検出器との間に設けられ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する多数の第2インピーダンス変換器とを含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置を提供する。
【0021】
【発明の実施の形態】
上述した本発明の特徴及び利点は添付の図面を参照しながら実施形態を通してより容易に理解できる。
【0022】
《分岐線検査》
本発明によるPDP電極異常検査装置の検査原理に対する理解を容易にさせるべく、先ず伝送線を対象にした分岐線検査方法について説明する。
図1は分岐線(stub)を有する伝送線(transmission line)を表すもので、前記伝送線(L1)に信号(S1)を印加すると、分岐点(P)から伝送線(L1)に沿って進行する信号の一部は伝送線(L1)に沿って印加され続け、一部は分岐線(L2)に印加される。この際、前記分岐線(L2)に印加された信号は分岐線(L2)の特性インピーダンスと終端インピーダンスとの不一致により、進行しては終端において反射する。
【0023】
この際、分岐線(L2)の終端が断線されていると信号は位相変化無しで反射し、短絡していると位相が180度変って反射する。
前記のように、分岐線(L2)の終端において反射した反射波は分岐点(P)に向って進行し、伝送線(L1)に沿って進行していた信号(S1)と重畳し、この重畳した信号が伝送線(L1)の出力端に出力される。
【0024】
前記分岐線(L2)の終端において反射し分岐点(P)に到達した反射波は入力波(S1)に対して、分岐線(L2)を往復するのにかかる時間、即ち(進行距離)/(進行速度)の時間遅延を経験する。この際、進行距離は信号が分岐線を往復した距離なので分岐線の長さの2倍になる。したがって、反射波は入力波に対して前記時間遅延に当るだけ位相差を有することになり、両波が重畳した出力波は遅延時間に伴って異なる特性を示すようになる。
【0025】
とりわけ、入力波(S1)が正弦波である場合、伝送線(L1)から出力される出力波は分岐線(L2)の長さに比例した位相差を有する2つの正弦波が重畳した結果なので、出力波の大きさを測定することにより伝送線に対する分岐線の存在有無及び分岐線の長さを把握することができる。
【0026】
図2は前記図1における分岐線を有する伝送線に対する信号特性を調べるための等価回路図であり、前記図2を参照して伝送線(L1)に入力する入力波(S1)として正弦波を用いる場合を考える。この際、伝送線(L1)のインピーダンスと分岐線(L2)のインピーダンスとが同等と仮定し、入力された正弦波の大きさをA、周波数をωだとすれば、図8の分岐点(P)から分岐線(L2)に入力される波形の大きさは伝送線(L1)に入力された波形の2/3となる。したがって、分岐線(L2)に入力される正弦波は"(2A/3)sinωt"となり、反射波は分岐線(L2)の終端状態に応じて異なってくる。前記反射波の時間遅延をΔtとすれば、分岐線(L2)の終端状態が断線の場合、分岐点(P)に到達した反射波は(2A/3)sinω(t+Δt)=(2A/3)sin(ωt+ωΔt)となり両波形の位相差θはωΔtとなる。そして、分岐線(L2)の終端状態が短絡の場合、分岐点(P)に到達する反射波は−(2A/3)sinω(t+Δt)=(2A/3)sin(ωt+ωΔt+π)となり、入力波と反射波との位相差θはωΔt+πとなる。
【0027】
図2において、ZL両端の出力波形は入力波と反射波とが重畳したものなので、両波形の位相差によって大きさが決まるが、位相差がπの奇数倍になると反射波の極性は入力波と反対になるので相殺する。即ち、断線した分岐線においてはωΔtが、短絡した分岐線においてはωΔt+πがπの奇数倍になると、両波形が互いに相殺して出力波の大きさはほぼゼロになる。例えば、分岐線が断線の場合、信号の減衰を無視した出力波形、VO(t)は
【数3】
となり、前記式から出力波形の大きさは位相差ωΔtの関数であることがわかる。コサイン関数は位相が(2n−1)πの場合−1の最小値を有するので、出力波形の大きさはωΔtが(2n−1)πで最小になる。こうした位相差は正弦波の周波数と時間遅延により決定され、前記時間遅延は先に説明したように正弦波の進行速度と分岐線の長さにより決定される。一定の長さの分岐線に対して特定周波数においてのみ位相差がπの奇数倍になり両波形が相殺する。したがって、周波数を変化させながら信号を印加し、その反射波及び入力波の重畳信号を検出して大きさが相殺する周波数を測定することにより分岐線の長さを把握することができる。
【0028】
次いで、前記分岐線(L2)の長さと伝送線(L1)の出力波の大きさとの関係は次のとおりである。前記分岐線(L2)の長さをLとすると、断線された分岐線の場合に例えると、分岐線(L2)による時間遅延によって重畳する正弦波の相殺条件はnを自然数とすると次の式1のように表すことができる。
(式1)
ωΔt=(2n−1)π
【0029】
前記式1において、信号の周波数をfとすると、ω=2πfの関係があり、正弦波の進行速度をvpとすると、Δt=2L/vpの関係にある。この関係を前記式1に代入すると、次の式2のようになる。
【数4】
【0030】
前記式2から長さがLの分岐線(L2)において位相差により相殺する周波数fを求めると、次の式3のとおりである。
【数5】
そして、真空中の光の速度をc、伝送線(L1)を成す誘電体の相対誘電率(relative permittivity)をεrとすると、信号の進行速度(vp)は、
【数6】
の関係が成立する。
【0031】
図3は一定の長さの分岐線を有する伝送線から出力される正弦波の定規化した大きさを周波数別に表すものである。図3において、正弦波の大きさがほぼゼロになる点を確認でき、この点の存在から伝送線に分岐線があることが判る。前記大きさがほぼゼロになる周波数は上述の式3からn=1、2、...を代入して得られる値であり、分岐線の長さにより決定される値である。
【0032】
伝送線において図3のような周波数特性を測定すると、分岐線の長さを把握することができる。分岐線の長さを測定するためには、前記式3にn=1を代入してから、Lに対して整理すれば次の式4のとおりになる。
【数7】
【0033】
前記式4においてfは相殺が表れる最初の周波数、即ち最も低い周波数となる。したがって、伝送線において周波数特性を測定し、大きさが減衰する地点があるか否かによって分岐線の有無を判断でき、減衰があれば、減衰の発生する最小周波数から分岐線の長さを把握することができる。
分岐線の終端が断線の場合には、反射波の位相が変らず、短絡の場合には反射波の位相が180度変る為、同じ測定対象に対しても分岐線の終端状態に応じて周波数特性が異なってくる。
【0034】
《断線の場合の出力波形》
断線はインピーダンスが無限大の場合なので、分岐線の終端が断線すると伝送線の出力インピーダンスは伝送線の特性インピーダンスとなり出力波形は図3のように表れる。そして分岐線長さと減衰が発生した周波数との関係は上述の式4に従う。
【0035】
《短絡の場合の出力波形》
短絡はインピーダンスがゼロの場合なので、分岐線の終端が短絡すると低周波において伝送線の出力インピーダンスはゼロになり、出力波形は図4のように表れる。即ち、図2と図4を比較するとわかるように、短絡した分岐線と断線した分岐線による出力波形は低周波特性が異なり、この低周波特性の差から分岐線の状態が断線か短絡かを区別することができる。そして、前記短絡の場合の位相差はωΔt+πなので次の式5のとおりになる。
(式5)
ωΔt+π=(2n−1)π
【0036】
そして、前記式5から分岐線長さと減衰が発生した周波数との関係を求めると次の式6のとおりである。
【数8】
したがって、短絡した分岐線においても断線の場合と同様に周波数特性測定を通して分岐線長さを把握することができる。
【0037】
《分岐線が2個以上存在する場合の出力波形》
相殺が起こる周波数は伝送線に分岐線が存在する位置とは関係無く、唯一分岐線の長さにのみ関係する。したがって、同じ長さの分岐線が複数個連結された伝送線において相殺の起こる周波数は同じ長さの分岐線が一個連結された伝送線における周波数と同じである。しかし、長さの異なる分岐線が複数個連結された伝送線においては相殺の起こる周波数が複数個存在し、その周波数同士の間に整数倍が成立しない。もちろん、分岐線の長さが一定な伝送線においても大きさが相殺する周波数は複数個存在するが、この場合その周波数同士の間には最小周波数の整数倍になる規則が存在する。
【0038】
即ち、断線の場合相殺の起こる周波数同士では上述した式3のように最小周波数と奇数倍の関係を満たし、短絡の場合には式5のように最小周波数と整数倍の関係を満たす。従って、互いに整数倍の関係を満たさない周波数の個数が長さの異なる分岐線の個数と一致する。例えば、断線した伝送線において2GHzまでの周波数特性を測定した結果、300MHz、450MHz、900MHz、1350MHz、1500MHzの周波数において相殺が起きたなら、長さが約8cmと12cmである2個の分岐線を有する伝送線であることがわかる。
【0039】
そして、同じ長さを有する分岐線の個数が多数の場合、出力波形の大きさを通して分岐線の個数を把握することができる。分岐線同士の干渉を無視する場合、相殺の程度は同じ長さの分岐線の個数に比例する。そして、一般に、分岐線同士の間隔は相互干渉を無視できる程離れはしないが、同じ長さの分岐線の個数が増加すれば入力波と反射波が相殺する程度がひどくなるので、出力波形の大きさは減少してくる。したがって、同じ長さの分岐線が複数個存在しても、出力波形の相殺周波数と相殺程度から分岐線の長さと数を把握することができる。
【0040】
以下、先に説明した分岐線検査の原理を適用して、PDP電極の異常有無を検査する方法について説明する。
【0041】
《PDP電極の構造》
図5はPDP電極パネルの基本構造を表すもので、基本的にPDPは図示のようにガラス(glass)板(70)上に多数の平行電極(electrode)(71)が印刷された構造の上板パネル及び下板パネルから成る。電極印刷パターンや電極の材質、寸法(dimension)などは製造会社、そして上板パネルか下板パネルかによって異なるが、およそ図5のような構造を保っている。
【0042】
ところで、先に説明した周波数領域特性を利用した検査方法は電極のインピーダンス変化による信号の反射を利用するため、電極のインピーダンスが位置に関らず一定に維持されなければならず、インピーダンス変化の影響を容易に区別できなければならない。本発明はPDP電極に上述した周波数領域特性を利用した検査方法を適用できるよう、検査にあたってPDP電極の構造を伝送線(micro-strip、strpiline、coaxial cable、twisted pairなど)構造になるよう変形させなければならない。
【0043】
図6はPDP電極構造をマイクロストリップライン(micro-strip)構造に変形した例である。図示のように、ガラス板(70)の電極印刷面の反対面にグラウンドプレーン機能を行える導体板(73)を追加し、多数個のPDP電極に接触されるよう導体線(conduction line)(72)を連結する。こうして、導体線(72)が伝送線になり、多数のPDP電極が分岐線になり、ガラス板(70)が誘電(dielectric)物質として機能し、周波数領域特性を利用した電極検査が可能となる。
【0044】
《PDP電極の伝送線構造変換及びインピーダンス調節》
図7A及び図7Bは、本発明により検査のために伝送線構造を有するよう変形されたPDPパネルの断面図である。
図7Aをみれば、ガラス板(70)のPDP電極(71)印刷面に誘電物質から成る誘電層(74)を載せ、前記誘電層(74)の下にグラウンドプレーン機能を行う導体板(73)を付着する。こうした構造においては、誘電層(74)の誘電物質種類と層厚を調節して電極インピーダンスを調節することができ、前記PDP電極(71)が分岐線に当該する。
【0045】
他の方法として、図7BのようにPDP電極(71)が印刷されたガラス板(70)の電極(71)の反対面にグラウンドプレーン機能を行う導体板(75)を形成する。この際、前記導体板(75)には金属板を使ってもよく、導体板(75)の代わりに水銀のように導電性と比重が高い液体を使ってもよい。後者の場合、前記PDP電極(71)が上向きになるようガラス板(70)を水銀のように導電性と比重が高い液体に浮かばせることにより、前記液体をグラウンドプレーンとして用いる。前記において、ガラス板(70)は誘電層の役目を果たし、導体板または水銀などの比重の高い液体がグラウンドプレーンの役目を果たし伝送線構造になる。
【0046】
このように変換された伝送線構造において、誘電物質の種類と層厚、追加導体線の太さを調節することにより、PDP電極のインピーダンスを調節することができる。その他の異なるインピーダンス調節方法として、空気ポンプのような圧力調節装置を利用することもできる。即ち、PDP電極とグラウンドプレーンとの間に誘電物質を挿入せず、空気ポンプを用いてPDP電極とグラウンドプレーンとの間の空気層厚を調節すれば相対誘電率が1の空気を誘電物質に用いる結果となり、こうした空気層の厚さを調節してインピーダンスを調節する伝送線構造を有することになる。
【0047】
このように、導体線とPDP電極のインピーダンス比によって分岐点で分岐する信号の比が決定され、結局各PDP電極が全体の出力信号に与える影響が導体線とPDP電極のインピーダンス比により決まることになる。
今まではグラウンドプレーンを追加してPDP電極が伝送線構造を有するよう変換したが、この方法の他にも、2個のPDP電極が相互平行し間隔が一定となる特性を利用して伝送線構造に変換することもできる。PDP電極はすべて一定の間隔で平行に配列している為、両電極によるインピーダンスは一定に保たれる。したがって、2個のPDP電極を設け、一電極は信号を印加する検査対象伝送線に、他電極はグラウンド信号のための線に用いることによって、検査対象電極を伝送線構造に変換させる。
【0048】
《検査信号の印加及び検出》
以上の諸方法によりPDP電極が電極線構造に変換されると、前記PDP電極に正弦波を周波数変換させながら印加し、前記信号印加後表れる出力波形の周波数特性を検出する。この際、検出した出力波形の周波数特性曲線はPDP電極の長さに対応する周波数において極小点を有するようになる。
【0049】
図8は上述したように、伝送線構造のPDP電極に対する異常有無を検査する装置のブロック構成図である。図示のように、本発明によるPDP電極検査装置は伝送線構造に変換された検査対象PDP電極(80)と、諸周波数の検査信号を発生させる信号発生器(81)と、前記信号発生器(81)から発生した検査信号を反射波が発生しないよう検査対象電極(80)に伝達する第1インピーダンス変換器(82)と、前記検査対象電極(80)の出力信号を反射無しで検出するための第2インピーダンス変換器(83)と、前記第2インピーダンス変換器(83)を通して印加された検査対象電極(80)の出力波の周波数特性を検出するピーク検出器(84)とで成る。
【0050】
前記信号発生器(81)は所望の周波数の信号を発生させ第1インピーダンス変換器(82)を経て検査しようとする測定対象(伝送線構造に変換されたPDP電極または伝送線構造のPDP電極に接触されるよう追加した導体線)に印加する。前記第1、2インピーダンス変換器(82、83)は、信号発生器(81)と検査対象電極(80)、そして、検査対象電極(80)とピーク検出器(84)との間に反射波が発生しないようインピーダンスをマッチングさせる役目を果たす。信号発生器の出力インピーダンスとピーク検出器の入力インピーダンスは一般に50Ωなので、50Ωと導体線の特性インピーダンスとをマッチングさせる。したがって、導体線の特性インピーダンスを50Ωにする場合は、インピーダンス変換器が不要となる。前記ピーク検出器(34)は入力信号が検査対象(80)を経て出る出力波の大きさを測定し、測定した周波数別大きさから電極の異常有無及び異常位置を把握する。
【0051】
先に説明した式3からわかるように、分岐線の長さに応じて特定周波数でのみ相殺が起こるので、分岐線に対応する検査対象PDP電極の長さを把握するためには入力信号の周波数を変化させながら印加しなければならない。したがって、前記信号発生器(81)からは諸周波数の検査信号を検査対象(80)に印加する。この際、入力する検査信号の周波数間隔が狭いほど区別可能な電極長さの差が小さくなる。そして、高周波数の信号を印加するほどより短い電極まで検出することができる。したがって、印加する検査信号の周波数間隔が狭いほど測定した電極長さの正確度が向上し、印加する検査信号の周波数範囲が高くなるほど検出できない範囲は減少する。
【0052】
前記手段の他にも、周波数を変換させながら各波形の大きさを測定するためには、これを制御するための制御手段及び駆動プログラムと測定した波形の大きさデータを貯蔵するためのメモリーを追加することができる。
【0053】
《PDP電極の異常有無の判断》
図9はPDP電極の異常有無を検査するために検査装置を連結したものを表し、ここで、検査信号はすべてのPDP電極(71)に接触されるよう追加された導体線(72)である。PDP電極の異常有無を検査するためには図9に表すように、検査装置のインピーダンス変換器(82、83)の間に直列で導体線(72)の入出力端子を連結する。そして、信号発生器(81)を通して正弦波信号を周波数変換させながら導体線(72)に印加し、前記導体線(72)から出力する出力信号の大きさをピーク検出器(84)で測定する。こうして測定された周波数特性曲線は各PDP電極の長さ(Ls)に該当する周波数において減衰が生じた極小点を有する。
【0054】
PDP電極の異常は主に電極の断線や部分断線の形で発生し、こうした異常は電極インピーダンスの変化を引き起こす。したがって、PDP電極の異常箇所において信号が反射し周波数特性に変化を来し、こうした周波数特性からPDP電極の異常有無を判断することができる。
【0055】
《異常電極の長さの分析》
図9において、全電極の長さが同一になるよう導体線が追加された状態において、1個の電極が途中断線され長さが異なったと仮定しよう。
この場合、図11Aに示すように、断線した電極長さに該当する周波数において追加的な極小点が生じる。したがって、正常状態の周波数特性曲線と比較して追加的に発生した極小点の周波数から異常電極の有無及び長さを把握することができる。図11Aにおいて、実線は異常の無いPDP電極パネルに対する周波数特性曲線を表し、点線や一点鎖線、二点鎖線で表した曲線は異常電極が存在し断線の位置が異なる場合の周波数特性曲線を表す。前記グラフに比較されるように、追加的な極小点の存在有無から異常電極の有無を把握することができる。そして、異常電極の長さに応じて追加的な極小点が発生する周波数が式4のように変化するので、これから異常電極の長さを把握することができる。
【0056】
《異常電極個数の分析》
図9において、全電極の長さが同一になるよう導体線が追加された状態において、多数個の異常電極が存在し、その断線の長さがすべて異なる場合には、相互長さの異なる分岐線が存在するのと同様なので、相互異なる周波数位置に多数個の極小点が発生する。したがって、極小点の個数を測定することにより、異常電極の個数を把握することができる。そして、同じ長さの異常電極が多数個存在する場合には、極小点の大きさを把握することにより、同じ長さにおいて異常が発生した電極の個数を区別することができる。図11Bは同じ長さを有する異常電極の数に応じた周波数特性の変化を表すもので、実線はすべてのPDP電極の長さが同じな場合、即ちPDP電極がすべて正常的な場合の周波数特性曲線で、点線は2個の同じ長さを有する異常電極が存在する場合の周波数特性曲線、二点鎖線は同じ長さを有する4個の異常電極が存在する場合の周波数特性曲線を表す。図示のように、同じ長さの異常電極の数が増加するほど同一周波数における極小点の大きさがより減少することがわかる。したがって、前記のように極小点の大きさを比較することから同じ長さを有する異常電極の個数も把握することができる。
【0057】
《検査信号の周波数間隔選定》
上述した式4及び式6から判るように、相殺する周波数は分岐線の長さと反比例の関係を示し、同じ長さの差(ΔL)でも分岐線の長さに応じて相殺周波数の変化幅は異なってくる。即ち、そもそも分岐線の長さが長ければ短い分岐線に比して同じ長さ変化に対する相殺周波数の変化は少ない。したがって、分岐線の長さに関らず同一な長さ解像度を有し、速い検査速度を得るためには、印加する検査信号の周波数間隔を検査しようとする長さ(L)に応じて調節しなければならない。
【0058】
即ち、長さがLの分岐線においてΔLほどの長さ変化を区別しようとする場合印加しなければならない周波数間隔は次のとおりである。
断線した分岐線の場合、長さLの分岐線における相殺周波数をf1、長さが(L−ΔL)の分岐線における相殺周波数をf2(=f1+Δf)だとすると、前記式4から両周波数の差(Δf)は次の式7のように表すことができる。この周波数間隔(Δf)がΔLの長さ差を区別するため印加しなければならない周波数間隔なので、これを式7のように調節して印加すると、分岐線長さに関らず所望の検査解像度(ΔL)を維持することができる。
【0059】
【数9】
前記式7においてLは分岐線の長さ、△Lは区別しようとする分岐線(即ち、PDP電極)の長さ変化、Δfは印加する周波数間隔、cは光の進行速度、εrは伝送線を成す誘電物質の相対誘電率である。
【0060】
《実施例》
本発明によるPDP電極検査の際、迅速な検査のために電極の異常有無のみ検査してもよく、正確な検査のために異常有無及び異常位置を検査することもできる。
電極の異常有無のみを検査する場合にも、異常電極の長さが把握でき、異常電極の位置把握を要する場合より迅速な検査が可能で検査時間を省くことができる。また、グラウンドプレーンを用いてPDP電極を伝送線構造に変形する場合にもPDP電極を伝送線に連結された分岐線に用いる方法とPDP電極自体を伝送線に用いる2種の検査方法がある。
【0061】
図10Aは、信号を印加する別途の導体線(即ち、伝送線)を追加し、PDP電極を伝送線に連結された分岐線に用いる検査方法の一例を表すもので、図面において符合91はガラス板(70)に印刷された諸PDP電極(71)に同時に連結され信号を印加する導体線である。前記PDP電極(71)が導体線(91)に連結された分岐線となる。この際、ピーク検出器(84)は前記導体線(91)のインピーダンスと同じ入出力インピーダンスを有する。そして、この方法の場合、追加する導体線(91)の特性(形態、特性インピーダンス、連結するPDP電極の数など)を変化させることにより、他の波形特性が得られるようにする。例えば、PDP電極の実際の長さは少しずつ異なるが、前記導体線(91)を追加する際、導体線(91)の接触位置から各電極の終端までの長さがすべて同じになるよう導体線(91)の形態を調節することができる。このように、導体線(91)の接触部から終端までの電極長さが同一な場合、すべてのPDP電極に異常が無ければ、出力波形は唯一な分岐線を有する場合と同じくなり、すべて同じ周波数において極小点を有するようになる。逆に、PDP電極中一つでも断線していると、正常状態のPDP電極より短い長さの分岐線が発生した状態となり、正常状態より高い周波数領域に極小点を有するようになる。このように導体線(91)の出力波形を分析することで、電極の異常有無を短時間内に把握できるようになる。
【0062】
図10BはPDP電極(71)自体を伝送線に用いる方法の例を表すもので、導体線無しで信号発生器(81)及びピーク検出器(84)が検査対象電極(71)に同時に連結される。この際、ピーク検出器(84)はインピーダンスマッチングのために高いインピーダンスを有しなければならない。前記検査装置はsource terminationされている。この構造においては、各PDP電極別に検査信号を印加し、出力波形を分析して、電極の異常有無を検査する。
【0063】
次に、PDP電極の異常有無及び異常位置まで検査する方法について説明する。
グラウンドプレーンを用いる構造において信号印加用導体線をPDP電極に追加する際、導体線から各電極の終端までの長さが電極別に設定された差を有するよう導体線形態を調節する。
【0064】
この際、同一解像度においてより速い検査速度を得るためには、周波数をログスケールで印加するのが良いので、電極長さも相殺周波数がログスケールにおいて一定間隔ずつ差が出るよう調節することがよい。そうすると、検査対象PDP電極中一部に異常がある場合、異常がある電極の長さに該当する周波数の相殺度合いが変化し、どの電極に異常が発生したかを容易に察知できる。即ち、異常電極の無いPDP電極における測定波形を基準波形として基準波形における相殺周波数と、検査対象体の測定波形のパターンとを比較分析して異常電極の位置を把握することができる。この実施例において、異常有無及び位置検査が一度の信号測定及び分析から行われるので検査速度が大変速いとの利点がある。
【0065】
さらに、図10Bのように、導体線無しでPDP電極をそのまま伝送線に用いる方法の場合にも各電極別に前記検査を繰り返すことで、異常電極を把握することができる。図12A及び図12BはPDP電極を伝送線に用いる方法による検査装置の実施例を表すものである。
図12Aに表す検査装置はPDP電極(71)別にそれぞれ信号発生器(81)とピーク検出器(94)とを並列連結したもので、各電極の異常有無及び長さ検出を同時に行うことで、一度の実行により異常電極の位置及び長さが把握でき、検査速度が速いとの利点がある。
【0066】
図12Bに表す検査装置はスイッチ(リレーまたはマルチプレクサなども含む)(85)を通して一つの信号発生器(81)とピーク検出器(84)を多数のPDP電極(71)に選択的に連結する構造として、多数のPDP電極を順次検査する。この際、前記図12Aに表す実施例とは異なり信号発生器(81)及びピーク検出器(84)の数が減少し、必要な装置数は減るが、一度に一電極に対する検査のみ実施するので、検査速度が遅くなりかねない。
【0067】
さらに、本発明は周波数特性から異常有無のみを検査した後、異常のあるPDPパネルのみを対象にビジョンシステムを使ってより詳しい異常検査を実施することができる。本発明により電極検査を実施すれば、異常電極の大体の位置及び長さを知ることができるので、ビジョンシステムを使って全体PDPパネルを検査するのでなく、前記検出された異常電極の周辺のみ検査する。したがって、高速ラインスキャンカメラが必要無く、PDPパネルの大きさが増加するにつれて所要する検査時間を短縮させられる。即ち、本発明による検査方法とビジョンシステムとを結合することにより、ビジョンシステムのみ利用する場合抱える高価の装備と大容量データ処理問題を解決することができる。
【0068】
グラウンドプレーンを使わずに、相互平行な両電極をそれぞれ信号線とグラウンド線とに用いる場合は、図13A及び図13Bのように、各電極に直接信号を印加して出力波形を測定しなければならない。
図13Aに表す実施例の場合、任意選択した一対の電極(信号電極とグラウンド電極)にそれぞれ信号発生器(81)とピーク検出器(82)とを連結し、スイッチ(85)を通して一対の電極がそれぞれ如何なる動作をするか決定する。この場合、一対の電極(71)に対して、動作を異ならせた二度の検査を行うことにより異常有無を把握することができる。
【0069】
次いで、図13Bに表す実施例においては、一個の信号発生器(81)とピーク検出器(84)を用いて多数の電極を検査するもので、信号発生器(81)とピーク検出器(84)をそれぞれ1個ずつ用意し、2個のスイッチ(85)を制御して信号端と接地端をそれぞれ多数PDP電極に選択的に連結する。この際、スイッチ(35)の動作により一度に一対の電極に対する検査が実施されるので、装置数は減るが、検査速度は遅くなりかねない。
【0070】
【発明の効果】
以上説明したように、多様な実施例により具現可能な本発明による周波数領域特性を利用したPDP電極異常検査方法及び装置は、従来のビジョンシステムを利用したPDP検査方法や装置に比して検査所要時間が少なく、漸次大型化され需要が増加してきたPDPに合わせて検査の効率性を高めることができる。さらに、本発明はビジョンシステムにおけるように大量のデータを処理する必要が無く構成が単純で、低コストで検査装置の構成が可能な効果を奏する。さらに、検査対象PDPの大きさが増加しても追加的なハードウェアが不要で、検査時間もほぼ増加しない利点がある。
【0071】
以上のような本発明の周波数特性の測定によるPDP電極検査方法及び装置はPDP電極ばかりでなく、分岐線を有するすべての伝送線構造にも適用可能で、通信線の異常有無及び異常箇所の検査が容易に行え、印刷回路基板のパターン検査にも拡大適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 分岐線を有する伝送線を表す模式図である。
【図2】 分岐線を有する伝送線における信号の伝達及び反射関係を表す図面である。
【図3】 断線した分岐線を有する伝送線に対する周波数別出力特性を表すグラフである。
【図4】 短絡した分岐線を有する伝送線における周波数別出力特性を表すグラである。
【図5】 PDP(Plasma Display Panel)の基本構造図である。
【図6】 本発明により伝送線(micro-strip line)構造に変形されたPDP電極を表す図面である。
【図7A】 本発明においてPDP電極の異常を検査するためのインピーダンス調節構造を表す断面図である。
【図7B】 本発明においてPDP電極の異常を検査するためのインピーダンス調節構造を表す断面図である。
【図8】 本発明によるPDP電極検査方法を適用した装置のブロック構成図である。
【図9】 本発明によるPDP電極検査装置の実施例を表す回路図である。
【図10A】 本発明によるPDP電極検査方法中の異常の有無を検査するための構造を表す例示図である。
【図10B】 本発明によるPDP電極検査方法中の異常の有無を検査するための構造を表す例示図である。
【図11A】 本発明によるPDP電極検査において、PDP電極における一電極の長さ変化と周波数特性変化との関係を表すグラフである。
【図11B】 本発明によるPDP電極検査において、PDP異常電極の数と周波数特性変化との関係を表すグラフである。
【図12A】 本発明によるPDP電極検査方法において異常電極の位置判別のための検査構造を表す例示図である。
【図12B】 本発明によるPDP電極検査方法において異常電極の位置判別のための検査構造を表す例示図である。
【図13A】 本発明の他実施例によるPDP電極検査構造を表す例示図である。
【図13B】 本発明の他実施例によるPDP電極検査構造を表す例示図である。
【符合の説明】
70…ガラス板
71…PDP電極
72…導体線
73…グラウンドプレーン
74…誘電層
81…信号発生器
82、83…インピーダンス変換器
84…ピーク検出器
85…スイッチ
Claims (18)
- それぞれ横または縦方向に多数の電極が印刷される上板パネルと下板パネルが結合されて成るPDPの電極を検査する方法において、
前記パネルに印刷された検査対象PDP電極を伝送線構造に変換する段階と、
前記伝送線構造に変換されたPDP電極に諸周波数の検査信号を印加した後、当該PDP電極の一端で反射波と入射波間の信号重畳による検査信号の周波数別大きさを検出する段階と、
前記大きさ検出によって、相殺が起こった周波数を検出し、前記相殺が起こった周波数を整数倍の関係を満たす周波数同士にグループ化した後、前記周波数グループの数と各グループの最小周波数の相殺の大きさから、各PDPの電極の異常を判断する段階と
から成ることを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。 - 前記PDP電極を伝送線構造に変換する段階は、
前記検査対象電極が印刷されたパネルの反対側に導体板を付着する段階と、
前記付着した導体板を接地させグラウンドプレーンを設ける段階と
から成ることを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。 - 前記PDP電極を伝送線構造に変換する段階は、
前記PDPパネルの検査対象PDP電極が形成された面に誘電物質から成るインピーダンス調節層を形成する段階と、
前記インピーダンス調節層の下部に導体板を付着する段階と、
前記導体板を接地させてグラウンドプレーンに用いる段階と
から成ることを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。 - 前記PDP電極を伝送線構造に変換する段階は、前記検査対象電極が印刷されたPDPパネルを導電性と比重が高い液体上に前記電極印刷面が上向きになるよう浮かべ、前記液体をグラウンドプレーンに用いることにより、PDP電極を伝送線構造に変換することを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記PDP電極を伝送線構造に変換する段階は、前記検査対象PDP電極をそれぞれ2個の相互隣接する電極を一対に指定し、前記指定し電極対別に、任意の一電極を検査対象電極に設定し、残りの電極を接地させ該当検査電極を伝送線構造に変換することを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記信号印加及び検出段階は、
一つのパネル上に印刷された多数のPDP電極に共通に接触するよう導体線を設ける段階と、前記導体線の一側端部に検査信号を印加する段階と、
前記検査信号が印加された導体線の反対側端部から出力される信号の周波数及び位相特性を検出する段階と
から成り、多数の検査対象電極を同時に検査することを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。 - 前記信号印加及び検出段階は、前記多数の検査対象PDP電極それぞれに電極の一側端部に検査信号を印加し、同時に前記検査信号が印加された端部から信号波形の周波数及び位相特性を検出することを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記判断段階は、正常状態のPDP電極に対して、前記検査信号を印加した場合に起こる相殺周波数値およびその周波数信号の大きさを基準値に設定し、前記検出された相殺周波数および大きさを前記基準値と比較して、前記設定値と異なる大きさまたは周波数が検出されると当該PDPに電極異常が発生したものと判断することを特徴とする請求項1に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記方法は、検査対象電極のインピーダンスを調節して分岐点において分岐する信号の分配比を決定することにより検査敏感度を調節する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記導体線を追加する段階は多数の検査対象電極が導体線接触位置から一端までほぼ同じ長さを有するよう導体線を形成し、この際、前記判断段階は予め収集してある正常電極での出力波形と前記伝送線構造に変換された検査対象電極の出力波形とで極小点の位置を比較し、該当PDPパネルにおける異常有無を判断することを特徴とする請求項6に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記導体線を追加する段階は前記検査対象電極が互いに導体線接触位置から一端までの長さにおいて一定間隔ずつ差を有するよう導体線を形成し、前記判断段階は同じ条件下において正常状態の電極に対する出力波形と前記検査対象電極の出力波形のパターンを比較分析し、電極の異常有無及び異常位置を検査することを特徴とする請求項6に記載の周波数特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記検査敏感度の調節段階は、前記誘電層の誘電物質の種類、誘電物質の層の厚さ、そして導体線の太さを調節することにより、電極インピーダンスを調節するか、グラウンドプレーンとPDP電極と間隔を調節することによりインピーダンスを調節することを特徴とする請求項10に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 前記方法は、前記判断段階において電極に異常があるものと判断されたパネルをビジョンシステムで検査し、電極の異常位置を検出する段階をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の周波数領域特性を利用したPDP電極検査方法。
- 検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れてグラウンドプレーンが設けられ前記電極を伝送線構造に変化させ、前記電極にすべて接触する導体線が付着された検査対象PDPパネルと、
多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる信号発生器と、
前記信号発生器と検査対象PDPパネルの導体線との間にインピーダンスをマッチングさせ前記検査信号を導体線の第1端部に伝達する第1インピーダンス変換器と、
前記検査対象電極を経て導体線の第2端部から出力される出力信号の周波数別大きさを測定し、相殺が起こった周波数を相互に整数倍を有するもの同士にグループ化した後、前記相殺周波数グループの最小周波数値およびその周波数信号の大きさからPDP内電極の異常を判断するピーク検出器と、
前記導体線の第2端部とピーク検出器のインピーダンスをマッチングさせ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する第2インピーダンス変換器と
を含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置。 - 検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れてグラウンドプレーンが設けられ前記電極を伝送線構造に変化させる検査対象PDPパネルと、
多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる多数の信号発生器と、
前記多数の信号発生器とPDPパネルに印刷された多数の検査対象電極との間にそれぞれ設けられ信号発生器と電極間のインピーダンスをマッチングさせながら当該検査信号を電極別に印加する多数の第1インピーダンス変換器と、
前記PDPパネル上に印刷された検査対象電極それぞれの出力波形の周波数別大きさを測定し、相殺が起こった周波数を相互に整数倍を有するもの同士にグループ化した後、前記相殺周波数グループの最小周波数値およびその周波数信号の大きさからPDP内電極の異常を判断する多数のピーク検出器と、
前記多数の検査対象電極とピーク検出器との間に設けられて反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する多数の第2インピーダンス変換器と
を含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置。 - 検査対象電極が印刷され、前記電極と所定間隔離れてグラウンドプレーンが設けられ前記電極が伝送線構造に変化される検査対象PDPパネルと、
多数の周波数信号から成る検査信号を発生させる信号発生器と、
前記信号発生器とPDPパネルに印刷された検査対象電極との間に位置し検査信号を反射無しで電極側に伝達する第1インピーダンス変換器と、
前記PDPパネル上に印刷された検査対象電極の出力波形の周波数別大きさを測定し、相殺が起こった周波数を相互に整数倍を有するもの同士にグループ化した後、前記相殺周波数グループの最小周波数値およびその周波数信号の大きさからPDP内電極の異常を判断するピーク検出器と、
前記検査対象電極とピーク検出器との間に設けられ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する第2インピーダンス変換器と、
前記第1、2インピーダンス変換器を多数の検査対象電極中の一電極に選択的に連結するスイッチと
を含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置。 - 多数の検査対象電極が印刷された検査対象PDPパネルと、
前記PDPパネルに印刷された隣接する電極にそれぞれ連結され、当該電極を第1選択端子または第2選択端子に交差連結させ、前記第2選択端子は接地電位に連結される一つ以上のスイッチと、
複数個の周波数信号から成る検査信号を発生させ、前記多数スイッチの第1選択端子にそれぞれ連結される一つ以上の信号発生器と、
前記信号発生器と検査対象電極との間に位置し検査信号を反射無しで電極側に伝達する一つ以上の第1インピーダンス変換器と、
前記多数スイッチの第1選択端子にそれぞれ連結され当該スイッチを通して入力された検査対象電極の出力波形の周波数別大きさを測定し、相殺が起こった周波数を相互に整数倍を有するもの同士にグループ化した後、前記相殺周波数グループの最小周波数値およびその周波数信号の大きさからPDP内電極の異常を判断する一つ以上のピーク検出器と、
前記検査対象電極とピーク検出器との間に設けられ反射無しで出力信号をピーク検出器に伝達する一つ以上の第2インピーダンス変換器と
を含むことを特徴とする周波数領域特性を利用したPDP電極検査装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2002-0036264A KR100472918B1 (ko) | 2002-06-27 | 2002-06-27 | 주파수 특성을 이용한 분기선 및 pdp 전극 검사 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004031348A JP2004031348A (ja) | 2004-01-29 |
JP4064872B2 true JP4064872B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=31185734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003177069A Expired - Fee Related JP4064872B2 (ja) | 2002-06-27 | 2003-06-20 | 周波数領域特性を利用したpdp電極検査方法及び装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6870371B2 (ja) |
JP (1) | JP4064872B2 (ja) |
KR (1) | KR100472918B1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040022634A (ko) * | 2002-09-09 | 2004-03-16 | 엘지전자 주식회사 | 비파괴 검사 방법 |
TWI283000B (en) * | 2003-05-15 | 2007-06-21 | Au Optronics Corp | A method for repairing electrode pattern defects |
KR100859768B1 (ko) * | 2007-04-16 | 2008-09-24 | 전북대학교산학협력단 | 고속 임피던스 및 질량변화 복합측정기 및 측정방법 |
KR100877648B1 (ko) * | 2007-04-23 | 2009-01-08 | 엘에스엠트론 주식회사 | 전기적 특성 측정 장치 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2953039B2 (ja) * | 1990-11-13 | 1999-09-27 | 松下電器産業株式会社 | プラズマディスプレイの特性検査装置 |
US5570029A (en) | 1994-03-30 | 1996-10-29 | Fluke Corporation | Cable crosstalk measurement system |
KR19990074057A (ko) * | 1998-03-06 | 1999-10-05 | 구자홍 | Pdp결함 수선 장치 |
KR20010106963A (ko) * | 2000-05-24 | 2001-12-07 | 은탁 | 타이머ic에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 pdp전극패턴 검사장치 및 방법 |
JP2002156399A (ja) | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Oht Inc | 回路基板の検査装置及び検査方法 |
-
2002
- 2002-06-27 KR KR10-2002-0036264A patent/KR100472918B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-06-20 JP JP2003177069A patent/JP4064872B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-06-25 US US10/603,731 patent/US6870371B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100472918B1 (ko) | 2005-03-10 |
US6870371B2 (en) | 2005-03-22 |
KR20040001154A (ko) | 2004-01-07 |
JP2004031348A (ja) | 2004-01-29 |
US20040090222A1 (en) | 2004-05-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2940815B2 (ja) | 導体回路基板の検査方法およびその検査装置 | |
KR100799161B1 (ko) | 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법 | |
US6777953B2 (en) | Parallel arc fault diagnostic for aircraft wiring | |
US7602194B2 (en) | Apparatus and method of water absorption test for generator stator winding insulator using cross capacitance | |
KR100599499B1 (ko) | 기판검사 장치 및 기판검사 방법 | |
CN1252463C (zh) | 用于片状材料的无损测量和绘制分布图的方法和装置 | |
CN103308817B (zh) | 阵列基板线路检测装置及检测方法 | |
CN103487955B (zh) | 一种短路测量方法 | |
KR20100028275A (ko) | 평판 디스플레이의 전극라인 검사 장치 및 방법 | |
JP2001133506A (ja) | ガス絶縁機器の診断方法および装置 | |
JP4064872B2 (ja) | 周波数領域特性を利用したpdp電極検査方法及び装置 | |
KR20080098088A (ko) | 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법 | |
JP2003232829A (ja) | 巻線機器の部分放電検出装置 | |
JP3131131B2 (ja) | 導電性パターンが形成された基板の検査方法およびそれに用いる検査装置 | |
CN115453279A (zh) | 一种多场耦合的盆式绝缘子检测装置及方法 | |
Abessolo-Bidzo et al. | Isolating failing sites in IC packages using time domain reflectometry: Case studies | |
JPH0465618A (ja) | 肉厚測定装置 | |
KR20070027095A (ko) | 비접촉 도선 결함 검사 장치 및 그 검사 방법 | |
JP3756486B2 (ja) | 電力機器の接触不良検出方法及びその装置 | |
JPH08240628A (ja) | 配線パターン検査方法およびその装置ならびに配線パターン基板の製造方法 | |
JPH07128379A (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
JP2006064461A (ja) | 回転電機の部分放電検出装置および方法 | |
CN114019227A (zh) | 一种转盘式微波功率检测系统 | |
JP2013217841A (ja) | 導電パターン検査装置 | |
JPH10206484A (ja) | 非接触検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050825 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050906 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051205 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071002 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071116 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071227 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4064872 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140111 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |