JP4049757B2 - 磁気センサ回路 - Google Patents
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を具備することを特徴とする。
そして加算回路の出力側には、加算回路の出力信号を所定のしきい値と比較することでホール素子に近接した位置に磁性体が存在するか否かを判定する判定回路を設ける。なお判定回路は、大雑把に分けると、加算回路の出力信号と所定のしきい値を比較する比較器と、比較器の出力信号に対応した信号の状態を所定の期間保持するバッファ回路とから構成される。
第1の期間に続いて生じる第1の期間とは重ならない第2の期間においては、第1のスイッチ回路網の第2のグループに属するスイッチをオンすることによりホール素子の第2の方向のホール電圧を検出し、この第2の方向のホール電圧に相当する電圧信号を第2の記憶回路に蓄積するといった動作が行われる。
この繰り返し実行された第2の期間に続いて生じる第4の期間においては、第2のスイッチ回路網の第2のグループに属するスイッチをオンすることにより、第3の期間とは反対の接続関係となるようにして加算回路の第1と第2の入力端子にそれぞれ第1の記憶回路と第2の記憶回路に蓄積された電圧信号を入力する。この時に、それぞれの電圧信号の極性を負となるようにして得られた加算信号を比較器において所定のしきい値と比較し、ホール素子に近接した位置に磁性体が存在するか判定する。そして、比較器の出力信号を第4の期間内の所定のタイミングで検知し、バッファ回路に比較器の出力信号に応じた信号を出力させると共に、その信号状態を所定の期間保持させるといった動作が行われる。
ホール素子HOLの対をなす端子a、bは、それぞれ高電位側の電源端子IN1、低電位側の電源端子IN2に接続されている。ホール素子HOLの対をなす端子c、dのうち、端子cは、トランスファーゲートによるスイッチ11を介して増幅器AMP1の非反転入力端子(+)に接続され、更にスイッチ22を介して増幅器AMP1の反転入力端子(−)に接続されている。一方、端子dは、スイッチ12を介して増幅器AMP1の反転入力端子(−)に接続され、更にスイッチ21を介して増幅器AMP1の非反転入力端子(+)に接続されている。
コンデンサC1の一端はヒステリシスコンパレータタイプの比較器CMP1の一方の入力端子接続される。比較器CMP1の他方の入力端子は所定のしきい値電圧を提供する電圧源VTH1に接続される。同様に、コンデンサC2の一端は比較器CMP2の一方の入力端子接続され、比較器CMP2の他方の入力端子は電圧源VTH2に接続される。
ここで、各スイッチ11、12、21、22と増幅器AMP1による回路部分はスイッチ回路網SN1を構成し、スイッチ13とコンデンサC1による回路部分は第1の記憶回路MC1を構成し、スイッチ23とコンデンサC2による回路部分は第2の記憶回路MC2を構成し、比較器CMP1、CMP2と電圧源VTH1、VTH2と論理和回路OR1による回路部分は判定回路JUD1を構成している。
一般に、ホール素子から得られるホール電圧には、磁束の大きさと関係の無い有害なオフセットが含まれることが知られている。このため、磁気センサ回路の信頼性の向上や品質の安定化を図るためにはホール素子や信号処理回路に生じるオフセットをキャンセルするための機構を付属して設ける必要がある。なお、磁気センサ回路におけるホール素子他のオフセットキャンセルのための機構の例は、特許文献2として挙げた特開2002−236160号や特開2001−337147号等の文献に紹介されている。
具体的に図3の回路は次のような構成となっている。
コンデンサC3の一端はスイッチ501を介して抵抗R1の一端に接続され、更にスイッチ601を介して抵抗R2の一端に接続されている。またコンデンサC4の一端はスイッチ502を介して抵抗R2の一端に接続され、更にスイッチ602を介して抵抗R1の一端に接続されている。
第1の記憶回路MC3のスイッチ301には図4に示す信号S13が供給され、第2の記憶回路MC4のスイッチ401には図4に示す信号S14が供給される。
そして、バッファ回路BUFの第1のフリップフロップFF1のCK端子に図4に示すクロック信号CK1が供給され、第2のフリップフロップ回路FF2のCK端子に図4に示すクロック信号CK2が供給される。
なお、図4中の信号Q1およびQ2は、それぞれ第1のフリップフロップ回路FF1のQ端子の信号状態、第2のフリップフロップ回路FF2のQ端子の信号状態を示している。
そして時間t4a〜t5の間の所定のタイミング、すなわち時間t4bにおいてクロック信号CK2が立ち上がると、第2のフリップフロップFF1は比較器CMP3からD端子に供給されるハイレベルの信号を参照し、ハイレベルの信号をQ端子から出力する。このQ端子から出力される信号のハイレベル状態は、次にクロック信号CK2が立ち上がるまで維持される。
バッファ回路BUF内の論理和回路OR2は、2つのフリップフロップ回路FF1とFF2のうち、どちらか一方でもQ端子から出力する信号をハイレベルとしていれば、ホール素子HOLに近接した位置に磁性体が存在することを示す信号“1”を端子OUTに出現させることになる。
なお本発明は、中折れ式携帯電話に限らず、扉や蓋の状態に伴って電源のオン・オフが実施される冷蔵庫等の家電製品にも適用可能である。
HOL:ホール素子
SN1、SN2:第1のスイッチ回路網
SN3:第2のスイッチ回路網
MC1、MC3:第1の記憶回路
MC2、MC4:第2の記憶回路
JUD1、JUD2:判定回路
ADD:加算回路
BUF:バッファ回路
CMP1〜CMP3:比較器
VTH1〜VTH3:所定のしきい値を提供するための電圧源
Claims (4)
- 検出用磁性体が発する磁気を利用して近接位置に検出用磁性体を持つ物体が存在するかどうかを検知する磁気センサ回路おいて、
通過する磁束に応じたホール電圧を発生させるホール素子と、
第1の期間には該ホール素子に生じた第1の方向のホール電圧を検出し、該第1の期間とは重ならない第2の期間には該ホール素子に生じた第2の方向のホール電圧を検出するように駆動されるスイッチ回路網と、
該スイッチ回路網を介して該第1の期間に検出された該ホール電圧に相当する電圧信号を蓄積する第1の記憶回路と、
該スイッチ回路網を介して該第2の期間に検出された該ホール電圧に相当する電圧信号を蓄積する第2の記憶回路と、
該第1と第2の記憶回路に蓄積されたそれぞれの電圧信号を受信し、該電圧信号から得た加算信号を所定のしきい値と比較し、該検出用磁性体を持つ物体が近接位置に存在するか否かを示す信号を発生する判定回路と、
を具備し、
ここで、前記判定回路が、第1と第2の入力端子を有する加算回路と、第3の期間には前記第1の記憶回路に蓄積された電圧信号を該加算回路の第1の入力端子に入力し、前記第2の記憶回路に蓄積された電圧信号を該加算回路の第2の入力端子に入力し、第4の期間には該加算回路の入力端子とそこに入力される記憶回路に蓄積された電圧信号の関係を第3の期間と逆にする第2のスイッチ回路網とを具備する
ことを特徴とする磁気センサ回路。 - 前記判定回路が更に、
前記加算回路の出力信号を所定のしきい値と比較する比較回路と、
所定のタイミングで該比較回路の出力信号を検知し、該比較回路の出力信号に応じた信号を出力し、次に再び該比較回路の出力信号を検知するまでその信号状態を保持するバッファ回路と、
を具備することを特徴とする、請求項1に記載した磁気センサ回路。 - 前記バッファ回路が、
前記第3の期間内の所定のタイミングで前記比較回路の出力を検知する第1のDフリップフロップと、
前記第4の期間内の所定のタイミングで前記比較回路の出力を検知する第2のDフリップフロップと、
該第1と第2のDフリップフロップの出力信号の論理和となる信号を発生させる出力回路と
を具備することを特徴とする、請求項2に記載した磁気センサ回路。 - 検出用磁性体が発する磁気を利用して近接位置に検出用磁性体を持つ物体が存在するかどうかを検知する磁気センサ回路おいて、
第1の期間の間に、ホール素子に発生した第1の方向のホール電圧に相当する電圧信号を第1の記憶回路に蓄積する第1ステップ、
第2の期間の間に、ホール素子に発生した第2の方向のホール電圧に相当する電圧信号を第2の記憶回路に蓄積する第2ステップ、
第3の期間の間に、該第1と第2の記憶回路にそれそれ蓄積された電圧信号を受信し、それぞれの電圧信号の極性が正となるようにして加算処理した第1の加算信号を生成し、該第1の加算信号を所定のしきい値と比較する第3ステップ、
第4の期間の間に、該第1と第2の記憶回路にそれぞれ蓄積された電圧信号を受信し、それぞれの電圧信号の極性が負となるようにして加算処理した第2の加算信号を生成し、該第2の加算信号を所定のしきい値と比較する第4ステップ、
の各ステップを実施することを特徴とする磁気センサ回路。
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