JP4011042B2 - 光空間変調器、放射線ビームを空間変調する方法、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
光空間変調器、放射線ビームを空間変調する方法、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 Download PDFInfo
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Description
第1波長の入射放射線ビームをそれぞれ異なる帰路へ反射する、少なくとも二つの位置の間を動き得る可動ミラー、
上記可動ミラーをこれらの位置の間を動かすように構成したアクチュエータ、
第2波長のプログラミングビームを受け且つそれに応じて制御信号を発生するための感光素子、および
上記感光素子が発生した制御信号に従って上記可動ミラーを選択した位置にセットするように上記アクチュエータを制御するための制御回路装置を含む変調器が提供される。
第1波長の入射放射線ビームをそれぞれ異なる帰路へ反射する、少なくとも二つの位置の間を動き得る可動ミラー、
上記可動ミラーをこれらの位置の間を動かすように構成したアクチュエータ、
第2波長のプログラミングビームを受け且つそれに応じて制御信号を発生するための感光素子、および
上記感光素子が発生した制御信号に従って上記可動ミラーを選択した位置にセットするように上記アクチュエータを制御するための制御回路装置を含み、
上記方法が、
上記パターンに従って少なくとも一つのプログラミングビームを変調する工程、
各感光素子を照射し、それによって対応する可動ミラーの状態をセットするように、上記アレイを横切ってこのまたは各プログラミングビームをこのまたは各ビームの変調と同期して走査する工程、および
上記可動ミラーの状態に従って変調されるように、上記光空間変調器上に放射線ビームを指向する工程を含む方法も提供する。
更に、本発明は、リソグラフィ投影装置であって、
放射線の投影ビームを供給するための照明システム、
この投影ビームを所望のパターンに従ってパターン化するためのプログラム可能パターニング手段、
基板を保持するための基板テーブル、および
このパターン化したビームを基板の目標部分上に投影するための投影システムを含む投影装置に於いて、
上記プログラム可能パターニング手段が上に説明したような光空間変調器を含むことを特徴とする装置を提供する。
基板を用意する工程、
照明システムを使って放射線の投影ビームを用意する工程、
上記の方法を使ってこの投影ビームにパターンを付ける工程、および
この放射線のパターン化したビームを上記基板の目標部分上に投影する工程、を含む方法を提供する。
この発明の光空間変調器は、粘弾性制御層および反射面を有するマトリックスアドレス可能面として構成してもよい。そのような装置の背後の基本原理は、(例えば)この反射面のアドレス指定された領域が入射光を回折光として反射し、一方アドレス指定されない領域が入射光を未回折光として反射するということである。適当な空間フィルタを使って、上記未回折光を反射ビームから濾過して取除き、回折光だけを基板に達するように残すことができ、この様にして、このビームがマトリックスアドレス可能面のアドレス指定パターンに従ってパターン化されるようになる。代替案として、このフィルタが回折光を濾過して取除き、未回折光を基板に達するように残してもよいことが分るだろう。
放射線(例えば、UV放射線)の投影ビームPBを供給するための照明システム(照明器)IL、
この投影ビームにパターンを付けるための個々に制御可能な素子のアレイPPM(例えば、プログラム可能ミラーアレイ)であって、一般的に個々に制御可能な素子のアレイの位置は、部材PLに関して固定であるが、その代りに部材PLに関して正確に位置決めするために位置決め手段に結合してもよいアレイ、
基板(例えば、レジストを塗被したウエハ)Wを保持し、且つこの基板を部材PLに関して正確に位置決めするために位置決め手段PWに結合された基板テーブル(例えば、ウエハテーブル)WT、および
個々に制御可能な素子のアレイPPMによって投影ビームPBに与えたパターンを基板Wの目標部分C(例えば、一つ以上のダイを含む)上に結像するための投影システム(“レンズ”)PLを含み、この投影システムは、個々に制御可能な素子のアレイを基板上に結像してもよい、その代りに、この投影システムは、個々に制御可能な素子のアレイの素子がシャッタとして作用する二次源を結像してもよい、この投影システムは、例えば、二次源を作り且つマイクロスポットを基板上に結像するために、マイクロレンズアレイ(MLAとして知られる)またはフレネルレンズアレイのような集束素子のアレイも含んでよい。
1.ステップモード:個々に制御可能な素子のアレイが全パターンを投影ビームに与え、それを目標部分C上に一度に(即ち、単一静的露出で)投影する。次に基板テーブルWTをXおよび/またはY方向に移動して異なる目標部分Cを露出できるようにする。ステップモードでは、露出領域の最大サイズが単一静的露出で結像する目標部分Cのサイズを制限する。
2.走査モード:個々に制御可能な素子のアレイが与えられた方向(所謂“走査方向”、例えば、Y方向)に速度vで動き得て、それで投影ビームPBがこの個々に制御可能な素子のアレイの上を走査させられ;同時に、基板テーブルWTがそれと共に同じまたは反対方向に速度V=Mvで動かされ、このMはレンズPLの倍率である。走査モードでは、露出領域の最大サイズが単一動的露出での目標部分の幅(非走査方向の)を制限し、一方走査運動の長さが目標部分の高さ(走査方向の)を決める。
3.パルスモード:個々に制御可能な素子のアレイを本質的に固定し、パルス化した放射線源を使って全パターンを目標部分C上に投影する。基板テーブルWTをほぼ一定速度で動かして投影ビームPBに基板Wを横切る線を走査させるようにする。個々に制御可能な素子のアレイ上のパターンを放射線システムのパルス間で必要に応じて更新し、これらのパルスは、連続する目標部分Cを基板上の必要な場所で露出するように時間が決めてある。従って、投影ビームは、基板のストリップに対して完全なパターンを露出するために基板Wを横切って走査できる。完全な基板を1行ずつ露出するまでこのプロセスを繰返す。
4.連続走査モード:実質的に一定の放射線源を使い、個々に制御可能な素子のアレイ上のパターンを投影ビームが基板を横切って走査し且つそれを露出するとき更新することを除いて、本質的にパルスモードと同じである。
上に説明した使用モードの組合せおよび/または変形または全く異なった使用モードも使ってよい。
フォトダイオードに発生した電荷信号を増幅し且つそれをコンデンサ板14、15に加えるための制御回路装置18は、コンデンサ板14、15の下の基板13にある。この制御回路装置18は、以下に詳しく説明する。
図6は概略図に過ぎず、ビーム走査ユニットは、投影ビームを妨害しないように十分小さいサイズであり、且つ適した位置にあることが分るだろう。
投影ビームのパルスの後に、制御コンデンサC1、C2を放電するためにスイッチS3を閉じることによって画素をリセットして、ミラーを静止位置へ戻し、スイッチS2を閉じて蓄積コンデンサC3を放電する。次にスイッチS1およびS2を開いて次のサイクルに備える。
上記の装置は、ミラーをそれらの静止位置から一方向にだけ偏向する。二方向の偏向が必要な場合は、ミラーの複雑さが増すだけでアナログ減算器またはコンパレータ含めることができ、または追加の信号インバータを使って極性を反転することができる。
11 可動ミラー、光変調素子
13 基板
14 アクチュエータ、コンデンサ
15 アクチュエータ、コンデンサ
16 感光素子、フォトダイオード
17 プログラミングビーム
18 制御回路装置
20 ビーム走査手段
22 プリズム
23 軸
24 回転手段
A1 増幅器
A2 増幅器
C 目標部分
IL 照明システム
m 2次元アレイの行数
n 2次元アレイの列数
PB 投影ビーム、放射線ビーム
PL 投影システム
PPM 光空間変調器
W 基板
WT 基板テーブル
Claims (13)
- 基板上に配置した画素のアレイを含む光空間変調器であって、各画素が、
第1波長の入射放射線ビームをそれぞれ異なる帰路へ反射する、少なくとも二つの位置の間を動き得る可動ミラー、
前記可動ミラーをこれらの位置の間を動かすように構成したアクチュエータ、
第2波長のプログラミングビームを受け且つそれに応じて制御信号を発生するための感光素子、および
前記感光素子が発生した制御信号に従って前記可動ミラーを選択した位置にセットするように前記アクチュエータを制御するための制御回路装置、を含み、
前記可動ミラーが前記感光素子の上に配置してあり、および前記可動ミラーが前記第2波長の放射線に実質的に透明であり、
前記プログラミングビームの照射方向が前記可動ミラーを通過するように設定されている変調器。 - 各画素の前記可動ミラーおよび前記感光素子が前記基板の同じ側に配置してある請求項1に記載された光空間変調器。
- 前記基板が前記第2波長の放射線に実質的に透明である請求項2に記載された光空間変調器。
- 前記画素のアレイを横切って少なくとも一つのプログラミングビームを走査するためのビーム走査手段を含む請求項1ないし請求項3の何れか一項に記載された光空間変調器。
- 前記画素のアレイが複数の行および複数の列を有する2次元アレイであり、並びに前記ビーム走査手段は、前記列のそれぞれの一つに沿う前記複数の列と数が等しい複数のプログラミングビームを走査するようになっている請求項4に記載された光空間変調器。
- 前記ビーム走査手段が、反射面を有し且つその軸を前記列に垂直にして配置したプリズムおよび前記プリズムを前記軸周りに回転するための手段を含む請求項5に記載された光空間変調器。
- 前記ビーム走査手段は、数が前記複数のビームに相当する複数の独立に制御可能な光源を含む請求項5または請求項6に記載された光空間変調器。
- 前記感光素子がフォトダイオードを含み、および前記アクチュエータは、前記プログラミングビームが入射したときに前記フォトダイオードに発生する電流によって充電されるように前記フォトダイオードに接続したコンデンサを含む請求項1ないし請求項7の何れか一項に記載された光空間変調器。
- 前記制御回路装置が、更に、前記フォトダイオードに発生した電流を増幅するための増幅器を含む請求項8に記載された光空間変調器。
- 基板上に配置した画素のアレイを含む光空間変調器を使ってパターンに従って放射線ビームを空間的に変調する方法であって、各画素が、
第1波長の入射放射線ビームをそれぞれ異なる帰路へ反射する、少なくとも二つの位置の間を動き得る可動ミラー、
前記可動ミラーをこれらの位置の間を動かすように構成したアクチュエータ、
第2波長のプログラミングビームを受け且つそれに応じて制御信号を発生するための感光素子、および
前記感光素子が発生した制御信号に従って前記可動ミラーを選択した位置にセットするように前記アクチュエータを制御するための制御回路装置、を含み、
前記可動ミラーが前記感光素子の上に配置してあり、および前記可動ミラーが前記第2波長の放射線に実質的に透明であり、
前記プログラミングビームの照射方向が前記可動ミラーを通過するように設定されており、
前記方法が:
前記パターンに従って少なくとも一つのプログラミングビームを変調する工程、
各感光素子を照射し、それによって対応する可動ミラーの状態をセットするように、前記アレイを横切ってこのまたは各プログラミングビームをこのまたは各ビームの変調と同期して走査する工程、および
前記可動ミラーの状態に従って変調されるように、前記光空間変調器上に放射線ビームを指向する工程、を含む方法。 - 前記放射線ビームをパルス化し、前記変調および走査工程を前記放射線ビームのパルスの間に実施する請求項10に記載された方法。
- リソグラフィ投影装置であって、
放射線の投影ビームを供給するための照明システム、
この投影ビームを所望のパターンに従ってパターン化するためのプログラム可能パターニング手段、
基板を保持するための基板テーブル、および
このパターン化したビームを基板の目標部分上に投影するための投影システムを含む投影装置に於いて、
前記プログラム可能パターニング手段が請求項1ないし請求項9の何れか一項に記載された光空間変調器を含むことを特徴とする装置。 - デバイス製造方法であって、
基板を用意する工程、
照明システムを使って放射線の投影ビームを用意する工程、
請求項10または請求項11に記載された方法を使ってこの投影ビームをパターン化する工程、および
放射線のパターン化したビームを前記基板の目標部分上に投影する工程を含む方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP03253906A EP1489449A1 (en) | 2003-06-20 | 2003-06-20 | Spatial light modulator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005010786A JP2005010786A (ja) | 2005-01-13 |
JP4011042B2 true JP4011042B2 (ja) | 2007-11-21 |
Family
ID=33396012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004180810A Expired - Fee Related JP4011042B2 (ja) | 2003-06-20 | 2004-06-18 | 光空間変調器、放射線ビームを空間変調する方法、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7630118B2 (ja) |
EP (1) | EP1489449A1 (ja) |
JP (1) | JP4011042B2 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7417782B2 (en) * | 2005-02-23 | 2008-08-26 | Pixtronix, Incorporated | Methods and apparatus for spatial light modulation |
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US8310442B2 (en) | 2005-02-23 | 2012-11-13 | Pixtronix, Inc. | Circuits for controlling display apparatus |
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US9261694B2 (en) | 2005-02-23 | 2016-02-16 | Pixtronix, Inc. | Display apparatus and methods for manufacture thereof |
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-
2003
- 2003-06-20 EP EP03253906A patent/EP1489449A1/en not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-06-16 US US10/868,191 patent/US7630118B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-18 JP JP2004180810A patent/JP4011042B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050007671A1 (en) | 2005-01-13 |
US7630118B2 (en) | 2009-12-08 |
JP2005010786A (ja) | 2005-01-13 |
EP1489449A1 (en) | 2004-12-22 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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