JP4008086B2 - データモニタ回路 - Google Patents
データモニタ回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4008086B2 JP4008086B2 JP02313198A JP2313198A JP4008086B2 JP 4008086 B2 JP4008086 B2 JP 4008086B2 JP 02313198 A JP02313198 A JP 02313198A JP 2313198 A JP2313198 A JP 2313198A JP 4008086 B2 JP4008086 B2 JP 4008086B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- address
- address information
- monitor circuit
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/38—Response verification devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3466—Performance evaluation by tracing or monitoring
- G06F11/348—Circuit details, i.e. tracer hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3466—Performance evaluation by tracing or monitoring
- G06F11/349—Performance evaluation by tracing or monitoring for interfaces, buses
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0405—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals comprising complete test loop
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/104—Embedded memory devices, e.g. memories with a processing device on the same die or ASIC memory designs
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、マイクロコンピュータに内蔵され、マイクロコンピュータ内で扱われるデータの格納を行うメモリ手段、例えば、ランダムアクセスメモリ(以下、RAMと称する)や電気的に消去可能なROM(以下、EEPROMと称する)等の不良を特定するためのデータモニタ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、マイクロコンピュータはその集積度、性能が飛躍的に向上している。このマイクロコンピュータは、1つの集積回路チップ(以下、単にチップと称する)に様々な構成要素を集積して構成されている。特に、マイクロコンピュータの構成としては、マイクロコンピュータ内の各構成要素の動作制御を行う中央処理装置、マイクロコンピュータ内で扱われるデータを格納する第1のメモリ手段であるRAMやEEPROM等、マイクロコンピュータにおける様々な処理のためのプログラムを格納する第2のメモリ手段である読み出し専用のメモリ(以下、ROMと称する)、これらメモリにおけるアドレス情報やデータを転送するためのバスがある。
【0003】
このようなマイクロコンピュータにおいて、内蔵されているデータ格納のためのメモリにおける不良が生じたとする。この不良解析としては、このメモリに対してデータの書き込み/読み出しを実行し、その読み出されたデータの状態によって不良箇所を特定するようにしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のように単にデータ格納のためのメモリに対してデータの書き込み/読み出しを実行するだけでは不良箇所の発見に時間がかかり、また、不良箇所の発見ができないことがある。例えば、プログラム中に設定されている特定の処理の実行後にデータ格納のためのメモリに不良が生ずる場合、その特定の処理の実行も重要な不良の要因となるためである。このような場合、プログラム中に不良箇所チェック用のプログラムを挿入して、不良現象が再現されるプログラムの実行中に不良箇所を特定できればよい。
【0005】
しかしながら、プログラムを格納しておくROMにはマスクROMを用いること、及び、ワンタイムプログラム(以下、OTPと称する)型のマイクロコンピュータのように、マイクロコンピュータに内蔵されたメモリ中のプログラムが変更できないものがある。このため、プログラム中にチェック用プログラムを挿入できず、不良解析ができないことになってしまう課題があった。
【0006】
本発明は、上記課題を解決するため、プログラムの実行中に、不良解決を確実に行うことを目的とする。
【0007】
また、本発明は、上記目的を簡単な構成で行うことを目的とする。
【0008】
また、本発明は、上記目的をより高速に行うことを目的とする。
【0009】
また、本発明は、上記目的を、複雑な条件に対しても確実に行うことを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明のデータモニタ回路は、所定のプログラムに従って、少なくともデータの読み出しがバスを介して行われる第1のメモリ手段に対して、バスに転送されるデータを監視するデータモニタ回路において、メモリ手段の、監視すべきアドレス情報を格納する第1のアドレス格納手段と、所定のプログラムに従って指示されるアドレス情報をバスを介して入力し、第1のアドレス格納手段に格納されたアドレス情報との一致を検出する第1の比較手段と、バスに転送されているデータを格納する第1のデータ格納手段と、第1の許可信号に応答して、バスに転送されているデータを第1のデータ格納手段に転送する第1のゲート手段と、第1の比較手段の検出結果に従って第1の許可信号を出力する制御手段と、を有するものである。
【0011】
また、本発明のデータモニタ回路は、制御手段は、第1の許可信号の出力とともに第1の比較手段の検出結果を指示する指示情報を出力し、データモニタ回路は、指示情報を格納し、出力する指示情報格納手段を有するものであってもよい。
【0012】
また、本発明のデータモニタ回路は、所定のプログラムは第2のメモリ手段に格納され、データモニタ回路は、第2のメモリ手段の、監視すべきアドレス情報を格納する第2のアドレス格納手段と、所定のプログラムに対するプログラムカウンタで指示するアドレス情報と第2のアドレス格納手段に格納されたアドレス情報との一致を検出する第2の比較手段と、第2の許可信号に応答して、第1のデータ格納手段に格納されているデータを外部へ出力する第2のゲート手段とを有し、制御手段は、第2の比較手段の検出結果に従って第2の許可信号を出力するものであってもよい。
【0013】
また、本発明のデータモニタ回路は、第2のアドレス格納手段は、第2のメモリ手段の、監視すべきのアドレス情報を複数格納するn個(ただし、nは2以上の整数)の副格納部を有し、データモニタ回路は、第1の選択手段、及び第2の選択手段を有し、第1の選択手段により、監視すべきアドレス情報の優先順位の高い順に第1の副格納部から第nの副格納部に格納し、第2の選択手段により、第2の比較手段に優先順位の高い順に監視すべきのアドレス情報を、副格納部から転送するものであってもよい。
【0014】
また、本発明のデータモニタ回路は、第2の選択手段は、第2の比較手段の検出結果に応じて、第2の比較手段に転送する副格納部に格納されたアドレス情報を切り換えるものであってもよい。
【0015】
また、本発明のデータモニタ回路は、第1のアドレス格納手段は、メモリ手段の、監視すべきアドレス情報を複数格納するn個(ただし、2以上の整数)の副格納部を有し、第1の比較手段は、n個の副格納部に格納されたアドレス情報とバスに転送されるアドレス情報とをそれぞれ比較するn個の比較部を有し、第1の許可信号は、n個の比較部の検出結果に応じたn個の許可信号からなり、第1のデータ格納手段はn個の副格納部を有し、第1のゲート手段及び第2のゲート手段は第1のデータ格納手段のn個の副格納部にそれぞれ対応したn個の副ゲート部を有し、第1のゲート手段のn個の副ゲート部はそれぞれn個の許可信号の1つに応答してバスに転送されているデータを第1のデータ格納手段のn個の副格納部の対応する1つに転送し、第2のゲート手段のn個の副ゲート部は第2の許可信号に応答して第1のデータ格納手段に格納されているデータを外部に出力するものであってもよい。
【0016】
また、本発明のデータモニタ回路は、制御手段は、第2の許可信号の出力とともに第2の比較手段の検出結果を指示する指示情報を出力し、データモニタ回路は、指示情報を格納し、出力する指示情報格納手段を有するものであってもよい。
【0017】
【発明の実施の形態】
本発明のデータモニタ回路についてを図面を用いて以下に詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施の形態におけるデータモニタ回路100の回路図である。なお、データモニタ回路100はマイクロコンピュータに内蔵されるものとして示してある。
【0018】
また、バスはアドレス情報とデータとを共通のバスで転送されるものと、アドレス情報転送用のアドレスバスとデータ転送用のデータバスとをそれぞれ設けるものとあるが、図中では共通のバスで転送されるものとして示している。アドレスバスとデータバスとをそれぞれ設けるものについてはアドレス情報はアドレスバスにて、データはデータバスにて転送されるものとして考慮すれば本発明は適用可能であることはいうまでもない。また、この場合、アドレス情報(データ)を誤ってデータ(アドレス情報)として扱ってしまうことを抑制でき、アドレス情報とデータとを、可能な場合に並行して転送することができよりよい。
【0019】
図1において、10、20はマイクロコンピュータ内部の構成要素(例えば、データモニタ回路100)と外部とのデータ等の授受を行う入出力ポートである。なお、入出力ポート10は、本発明においてはデータ等の受信をするだけのものでもよく、入出力ポート20は、本発明においてはデータ等の送信をするだけのものでもよい。実施の形態においては、入出力ポートを用いれば、端子数の削減されたマイクロコンピュータに対して本発明の適用が可能であることを示している。
【0020】
また、図1において、30はバスであり、上述のように、アドレス情報とデータとを共通に転送するものでも、アドレス情報を転送するためのアドレスバスとデータを転送するためのデータバスとがそれぞれ設けられているものでもよい。
【0021】
次に、データモニタ回路100について、次に詳細に説明する。データモニタ回路100は、第1のアドレス格納手段であるデータメモリアドレスバッファ110、第1の比較手段であるアドレスコンパレータ120、第1のゲート手段である出力ゲート130、第1のデータ格納手段であるデータバッファ140、制御手段であるコントロール部150、及び指示情報格納手段である完了フラグ部160を有する。
【0022】
データメモリアドレスバッファ110は、テスト信号Tにてテストを指示する(例えば、ハイレベルの信号)場合に、入出力ポート10から、マイクロコンピュータに内蔵される図示せぬデータの格納のためのメモリの、監視すべきアドレス情報(なお、データの格納のためのメモリのアドレス情報はデータメモリアドレスとも称される)を入力することで、この入力されたアドレス情報を格納し、出力するものである。なお、テスト信号Tがテストを指示していない(例えば、ローレベルの信号)場合には、入出力ポート10から入力される信号はデータメモリアドレスバッファ110には格納されない。
【0023】
アドレスコンパレータ120は、プログラムの実行中にバス30で転送されるアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ110に格納されているアドレス情報とを比較し、その一致を検出するものである。この検出結果は一致信号としてコントロール部150へ転送される。一致信号は例えば、ローレベルの場合には検出結果が不一致を、ハイレベルの場合には検出結果が一致を指示するものである。
【0024】
コントロール部150は、アドレスコンパレータ120の一致信号に応答して第1の許可信号であるイネーブル信号を出力するものである。例えば、一致信号がハイレベルの場合には、イネーブル信号はハイレベルとなり、一致信号がローレベルの場合には、イネーブル信号はローレベルとなるものとする。
【0025】
また、コントロール部150はハイレベルの一致信号に応答して、完了フラグ部160をセットするものとする。ここで、セットとは、フラグを初期状態である”0”から”1”にセットすることをいう。なお、完了フラグ部160のリセット(初期状態の”0”にすること)は、例えば、テスト信号Tがハイレベルになることに応答して行われるようになるものとする。なお、完了フラグ部160のフラグの状態は外部端子、例えば、入出力ポートの1つから確認できるように、出力するものとする。
【0026】
出力ゲート130は、ハイレベルのイネーブル信号に応答して、バスに転送されているデータをデータバッファ140へ転送可能とする。つまり、イネーブル信号がローレベルの時には、バスに転送されているデータをデータバッファ140へ転送しないようにしている。
【0027】
データバッファ140は、出力ゲート130を介して転送されてくるデータを格納し、入出力ポート20へ出力する。なお、データバッファ140の格納内容はテスト信号Tのハイレベルを受けることで初期化(通常動作時に影響を与えないような情報にする)されるものとすればよい。
【0028】
このように、構成されたデータモニタ回路100の動作について、以下に説明する。
【0029】
まず、マイクロコンピュータが通常の動作時には、テスト信号Tはローレベルであり、データメモリアドレスバッファ110には、監視すべきアドレス情報が格納されていない(あるいは、通常動作では指定しない無効なアドレス情報を格納しておく)。このため、アドレスコンパレータ120の一致信号は常にローレベルとなる。よって、コントロール部150のイネーブル信号はローレベルとなる。よって、出力ゲート130からデータバッファ140にはデータの転送が行われることがない。よって、データモニタ回路100による影響を受けることなく、入出力ポート10、20は通常動作におけるデータの授受を行うことができる。なお、この時、完了フラグも”0”のままで変化しない。よって、完了フラグ部160のフラグの状態を指示する端子が入出力ポートの1つであっても、その入出力ポートでの信号授受が優先されるので問題はない。
【0030】
次に、不良解析のため、データの格納のためのメモリにおける所定のアドレス値の状態を監視する場合についてを説明する。
【0031】
まず、テスト信号Tをハイレベルとし、入出力ポート10から、データ格納のためのメモリの、監視したいメモリセルのアドレス情報を入力し、このアドレス情報をデータメモリアドレスバッファ110に格納する。この時、完了フラグ部160も初期状態の”0”にリセットされる。
【0032】
この状態で、テスト信号Tをローレベルに戻し、通常動作と同様に、内蔵のプログラムを実行させて、マイクロコンピュータを動作させる。プログラムの進行の伴い、監視対象であるデータ格納のためのメモリにはデータの書き込み/読み出しが行われる。この際、データ格納のためのメモリに対して読み出し/書き込みの際にアドレス情報がバスを介して転送されているので、この転送されているアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ110に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ120にて行われる。
【0033】
この比較において、アドレスコンパレータ120がアドレス情報の一致を検出した場合には、アドレスコンパレータ120からハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部150は、イネーブル信号をハイレベルにする。イネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート130は、一致したアドレス情報に基づき、バスに転送される、データ格納のためのメモリに書き込まれた(あるいは読み出された)データをデータバッファ140へ転送する。データバッファ140はこのデータを格納し、入出力ポート20へ出力する。なお、この時、コントロール部150は、ハイレベルの一致信号を受けたことに応答して、完了フラグ部160に対してフラグを”1”にセットする。なお、アドレスコンパレータ120が不一致を検出している間は、一致信号、イネーブル信号はローレベルのままであり、完了フラグ部160も、フラグが”0”のままである。
【0034】
このように、完了フラグ部160のフラグが”1”になったことを確認することで、データの格納のためのメモリの、監視すべきアドレス情報に対するアクセスが行われたことをただちに知ることができ、また、入出力ポート20から出力されている情報を確認することで、そのアドレス情報のメモリセルに書き込まれた(あるいは、読み出された)データを知ることができる。
【0035】
以上のように、本発明の第1の実施の形態のデータモニタ回路100により、マイクロコンピュータに内蔵されたプログラムを変更することなく、そのプログラムの実行状態にて、監視対象のメモリの所定のアドレス情報に対するデータの監視を行うことができる。
【0036】
また、上述のように、データモニタ回路としての構成要素を大幅に追加するものでなく、複雑な制御もないので、容易に適用でき、このデータモニタ回路を内蔵しても、チップサイズが大型化することもない。
【0037】
次に、本発明の第2の実施の形態であるデータモニタ回路について図面を用いて以下に説明する。図2は本発明の第2の実施の形態におけるデータモニタ回路200の回路図である。なお、図2において、図1と同様な構成については、同様な符号を付けている。
【0038】
図2において、特徴的なのは、データモニタ回路200は、第2のアドレス格納手段であるプログラムメモリアドレスバッファ210、第2の比較手段であるアドレスコンパレータ220、第2のゲート手段である出力ゲート230が追加され、これらの追加に応じて変更されたコントロール部250を有することである。
【0039】
プログラムメモリアドレスバッファ210は、テスト信号Tにてテストを指示する(例えば、ハイレベルの信号)場合に、マイクロコンピュータに設けられた入出力ポート50から、マイクロコンピュータに内蔵される図示せぬプログラム格納のためのメモリの、監視すべきアドレス情報(プログラム格納のためのメモリのアドレス情報はプログラムメモリアドレスとも称される)を入力することで、この入力されたアドレス情報を格納し、出力するものである。
【0040】
アドレスコンパレータ220は、プログラムメモリアドレスバッファ210に格納されたアドレス情報と、プログラムカウンタ60で指示されているアドレス情報とを比較し、一致を検出するものである。プログラムカウンタ60とは、プログラムの実行時に用いられ、プログラム格納のためのメモリに対して、実行すべき処理の格納先であるアドレス情報を指示するものである。この検出結果は一致信号としてコントロール部250へ転送される。一致信号は例えば、ローレベルの場合には検出結果が不一致を、ハイレベルの場合には検出結果が一致を指示するものである。
【0041】
コントロール部250は、アドレスコンパレータ120からの一致信号に応答して、第1の許可信号であるイネーブル信号を出力する機能に加え、アドレスコンパレータ220からの一致信号に応答して、第2の許可信号であるイネーブル信号を出力する。第2の許可信号としてのイネーブル信号は、例えば、アドレスコンパレータ220からの一致信号がハイレベル(一致を検出)の場合には、イネーブル信号はハイレベルとなり、一致信号がローレベル(不一致を検出)の場合には、イネーブル信号はローレベルとなるものとする。
【0042】
また、コントロール部250は、アドレスコンパレータ120と220が両方とも一致を検出した時(アドレスコンパレータ120及び220から出力される一致信号それぞれからハイレベルの信号を受信した時)、完了フラグ部160にフラグとして”1”をセットするものである。
【0043】
出力ゲート230は、第2の許可信号であるイネーブル信号(つまり、アドレスコンパレータ220の一致検出の応答したイネーブル信号)がハイレベルの時に、データバッファ140に格納されたデータを入出力ポート20へ出力するものである。つまり、第2の許可信号であるイネーブル信号がローレベルの時は、出力ゲート230はデータバッファ140に格納されたデータを入出力ポート20へ出力しないものである。
【0044】
このように構成された、データモニタ回路200の動作について、以下に説明する。
【0045】
まず、マイクロコンピュータが通常の動作時には、テスト信号Tはローレベルであり、データメモリアドレスバッファ110及びプログラムメモリアドレスバッファ210には、監視すべきアドレス情報が格納されていない(あるいは、通常動作では指定しない無効なアドレス情報を格納しておく)。このため、アドレスコンパレータ120及び220の一致信号はそれぞれ常にローレベルとなる。よって、コントロール部250の2つのイネーブル信号はローレベルとなる。よって、出力ゲート130からデータバッファ140にはデータの転送が行われることがなく、出力ゲート230からデータバッファ140のデータが入出力ポート230へ転送されることもない。よって、データモニタ回路200による影響を受けることなく、入出力ポート10、20、50は通常動作におけるデータの授受を行うことができる。なお、この時、完了フラグも”0”のままで変化しない。よって、完了フラグ部160のフラグの状態を指示する端子が入出力ポートの1つであっても、その入出力ポートでの信号授受が優先されるので問題はない。
【0046】
次に、不良解析のため、所定の処理の実行時における、データの格納のためのメモリにおける所定のアドレス値の状態を監視する場合についてを説明する。
【0047】
まず、テスト信号Tをハイレベルとし、入出力ポート10から、監視したいアドレス値のアドレス情報を入力し、このアドレス情報をデータメモリアドレスバッファ110に格納する。同様に、入出力ポート50から、条件として、ある所定の処理の実行時であることとした場合、プログラム格納のためのメモリの、その所定の処理が格納されているアドレス情報を入力し、このアドレス情報をプログラムメモリアドレスバッファ210に格納する。この時、完了フラグ部160も初期状態の”0”にリセットされる。
【0048】
この状態で、テスト信号Tをローレベルに戻し、通常動作と同様に、内蔵のプログラムを実行させて、マイクロコンピュータを動作させる。プログラムの進行の伴い、監視対象であるデータ格納のためのメモリにはデータの書き込み/読み出しが行われる。この際、データ格納のためのメモリに対して読み出し/書き込みの際にアドレス情報がバスを介して転送されているので、この転送されているアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ110に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ120にて行われる。同様に、プログラムカウンタ60で指示されるアドレス情報とプログラムメモリアドレスバッファ210に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ220にて行われる。
【0049】
この比較において、アドレスコンパレータ120がアドレス情報の一致を検出した場合には、ハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部250は、出力ゲート130に対するイネーブル信号をハイレベルにする。イネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート130は、一致したアドレス情報に基づき、バスに転送される、データ格納のためのメモリに書き込まれた(あるいは読み出された)データをデータバッファ140へ転送する。しかしながら、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出していない場合は、コントロール部250から出力ゲート230をデータ転送可能とするハイレベルのイネーブル信号が供給されていない(つまり、出力ゲート230に供給されるイネーブル信号はローレベルのままである)。このため、データバッファ140に格納されたデータは入出力ポート20には出力されない。なお、完了フラグ部160も、フラグが”0”のままである。つまり、アドレスコンパレータ220が一致を検出していない間は、アドレスコンパレータ120が一致を検出する度にデータバッファ140の内容は更新される。
【0050】
次に、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出した場合には、アドレスコンパレータ220からハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部250は、出力ゲート230に対するイネーブル信号をハイレベルにする。このイネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート230は、この時にデータバッファ140に格納されているデータを入出力ポート20へ出力する。この時、コントロール部250は、2つのアドレスコンパレータ120、220の一致信号がそれぞれハイレベルになったことに応答して、完了フラグ部160に対してフラグとして”1”をセットする。
【0051】
このように、本発明の第2の実施の形態のおけるデータモニタ回路200では、所定の処理の実行時までに、監視すべきメモリの特定のアドレス情報に書き込み/読み出しされたデータを監視することができるので、より限定した条件での監視を可能としている。よって、不良解析がより確実に、より短時間に行えることができる。
【0052】
また、第1の実施の形態と比べてにても、大幅な構成の追加はなく、制御を複雑にすることはないので、チップサイズが大型化することもない。
【0053】
次に、本発明の第3の実施の形態であるデータモニタ回路について図面を用いて以下に説明する。図3は本発明の第3の実施の形態におけるデータモニタ回路300の回路図である。なお、図3において、図2と同様な構成については、同様な符号を付けている。
【0054】
図3において、特徴的なのは、第1の選択手段であるアドレスバッファセレクタ310、複数(図3中においては説明簡略化のために3つ)の副格納部として第2のアドレス情報手段を構成する3つのプログラムメモリアドレスバッファ320、330、340、第2の選択手段であるアドレスバッファセレクタ350がデータモニタ回路の構成として追加され、この追加に伴い変更されたコントロール部360を有することである。
【0055】
アドレスバッファセレクタ310はセレクト信号Sにより順次プログラムメモリアドレスバッファ320、330、340のいずれか1つを選択し、入出力ポート50から入力される、マイクロコンピュータに内蔵される図示せぬプログラム格納のためのメモリの、監視すべきアドレス情報を選択された1つのプログラムメモリアドレスバッファに出力する。なお、セレクト信号としては、例えば、2ビットの情報を有する信号であれば3つのプログラムメモリアドレスバッファを選択可能であるが、これに限らない。例えば、セレクト信号Sを1ビットの信号とし、クロック信号のように、パルスの数で選択対象を切り換えるものでもよく、この場合、セレクト信号Sの代わりにテスト信号Tを用いてもよい。
【0056】
プログラムメモリアドレスバッファ320、330、340は、それぞれテスト信号Tにてテストを指示する(例えば、ハイレベルの信号)場合に、アドレスバッファセレクタ310を介して入出力ポート50から、マイクロコンピュータに内蔵される図示せぬプログラム格納のためのメモリの、監視すべきアドレス情報を入力することで、この入力されたアドレス情報を格納し、出力するものである。この時、監視すべきアドレス情報のうち、優先順位の高いものから順にプログラムメモリアドレスバッファ320、330、340の順に格納しておく。
【0057】
アドレスバッファセレクタ350は、順次プログラムメモリアドレスバッファ320、330、340のいずれか1つを選択し、選択されたプログラムメモリアドレスバッファから出力されているアドレス情報をアドレスコンパレータ220に出力するものである。アドレスバッファセレクタ350は、例えば、テスト信号Tのハイレベルにて、初期状態としてプログラムメモリアドレスバッファ320を選択するものとする。また、アドレスバッファセレクタ350は、アドレスコンパレータ220の一致信号毎に、順次プログラムメモリアドレスバッファ330、340の順に選択するものである。
【0058】
コントロール部360は、出力ゲート130に対しては、第2の実施の形態と同様な条件で、出力ゲート130へイネーブル信号を出力するが、出力ゲート230に対しては、アドレスコンパレータ220からの一致信号のハイレベルを3回受信した時(つまり、3つのプログラムメモリアドレスバッファ320、330、340それぞれに格納されたアドレス情報に対して一致を検出した時)、出力ゲート230に対するイネーブル信号をハイレベル(つまり、データバッファ140に格納されたデータを入出力ポート20へ出力可能とする)にするものである。
【0059】
なお、このコントロール部360を第2の実施の形態におけるコントロール部250とし、コントロール部360の上記動作をアドレスコンパレータ220に持たせてもよい。つまり、このようにした場合、アドレスコンパレータ220は一致を検出する毎に、コントロール部250へ転送する一致信号とは別の一致信号にてアドレスバッファセレクタ350の選択対象を変更し、3つのプログラムメモリアドレスバッファに格納したアドレス情報の一致をそれぞれ検出した場合に、アドレスコンパレータ220は、コントロール部250へハイレベルの一致信号を転送するようにすればよい。
【0060】
このように構成された、データモニタ回路300の動作について、以下に説明する。
【0061】
まず、マイクロコンピュータが通常の動作時には、テスト信号Tはローレベルであり、データメモリアドレスバッファ110及び少なくとも初期選択されているプログラムメモリアドレスバッファ320には、監視すべきアドレス情報が格納されていない(あるいは、通常動作では指定しない無効なアドレス情報を格納しておく)。このため、第2の実施の形態と同様に、出力ゲート130からデータバッファ140にはデータの転送が行われることがなく、出力ゲート230からデータバッファ140のデータが入出力ポート230へ転送されることもない。よって、データモニタ回路300による影響を受けることなく、入出力ポート10、20、50は通常動作におけるデータの授受を行うことができる。なお、この時、完了フラグも”0”のままで変化しない。よって、完了フラグ部160のフラグの状態を指示する端子が入出力ポートの1つであっても、その入出力ポートでの信号授受が優先されるので問題はない。
【0062】
次に、不良解析のため、いくつかの所定の処理の実行の後、特定の処理の実行時における、データの格納のためのメモリにおける所定のアドレス値の状態を監視する場合についてを説明する。
【0063】
まず、テスト信号Tをハイレベルとし、入出力ポート10から、データ格納のためのメモリの、監視したいメモリセルのアドレス情報を入力し、このアドレス情報をデータメモリアドレスバッファ110に格納する。同様に、入出力ポート50から、条件として、いくつかの所定の処理(例えば、まず、第1の処理が実行されることが最優先の条件で、次に、第1の処理の実行後に第2の処理が行われることが次に優先される条件)の実行後に、ある特定の処理(例えば、第1の処理、第2の処理がそれぞれ順次行われ、その後に行われる第3の処理)の実行時であることとした場合、まず、プログラム格納のためのメモリの、第1の処理が格納されているアドレス情報を入力し、このアドレス情報をプログラムメモリアドレスバッファ320に格納する。次に、プログラム格納のためのメモリの、第2の処理が格納されているアドレス情報を入力し、このアドレス情報をプログラムメモリアドレスバッファ330に格納する。次に、プログラム格納のためのメモリの、第3の処理が格納されているアドレス情報を入力し、このアドレス情報をプログラムメモリアドレスバッファ340に格納する。この格納は、アドレスバッファセレクタ310の上述の動作により実現可能である。この時、完了フラグ部160も初期状態の”0”にリセットされる。
【0064】
この状態で、テスト信号Tをローレベルに戻し、通常動作と同様に、内蔵のプログラムを実行させて、マイクロコンピュータを動作させる。プログラムの進行の伴い、監視対象であるデータ格納のためのメモリにはデータの書き込み/読み出しが行われる。この際、データ格納のためのメモリに対して読み出し/書き込みの際にアドレス情報がバスを介して転送されているので、この転送されているアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ110に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ120にて行われる。同様に、プログラムカウンタで指示されるアドレス情報とアドレスバッファセレクタ350で初期選択されているプログラムメモリアドレスバッファ320に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ220にて行われる。
【0065】
この比較において、アドレスコンパレータ120がアドレス情報の一致を検出した場合には、ハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部360は、出力ゲート130に対するイネーブル信号をハイレベルにする。イネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート130は、一致したアドレス情報に基づき、バスに転送される、データ格納のためのメモリに書き込まれた(あるいは読み出された)データをデータバッファ140へ転送する。しかしながら、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出していない場合は、コントロール部360から出力ゲート230をデータ転送可能とするハイレベルのイネーブル信号が供給されていない(つまり、出力ゲート230に供給されるイネーブル信号はローレベルのままである)。このため、データバッファ140に格納されたデータは入出力ポート20には出力されない。なお、完了フラグ部160も、フラグが”0”のままである。つまり、アドレスコンパレータ220が一致を検出していない間は、アドレスコンパレータ120が一致を検出する度にデータバッファ140の内容は更新される。
【0066】
次に、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出した場合には、アドレスコンパレータ220からハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号は、コントロール部360に転送される。コントロール部360は1回目のアドレスコンパレータ220からのハイレベルの一致信号の受信を記憶する。この場合はコントロール部360は、出力ゲート230に対するイネーブル信号をローレベルのままである。このため出力ゲート230は、この時にデータバッファ140に格納されているデータを入出力ポート20へ出力しない。また、アドレスコンパレータ220の一致の検出に応答して、アドレスバッファセレクタ350は、アドレスコンパレータ220に転送するアドレス情報をプログラムメモリアドレスバッファ330に格納されているアドレス情報に切り換える。
【0067】
なお、アドレスコンパレータ220が再び一致検出を開始し、プログラムメモリアドレスバッファ320、330、340に格納された全てのアドレス情報に対して一致の検出がされるまでは、アドレスコンパレータ120が一致を検出する度にデータバッファ140の内容は更新される。
【0068】
このようなアドレスコンパレータ220の一致検出は、一致の検出がされる毎に、対象のプログラムメモリアドレスバッファを切り換えて、プログラムメモリアドレスバッファ320、330、340の順に行われる。
【0069】
次に、アドレスコンパレータ220が既に、プログラムメモリアドレスバッファ320及び330に対して一致の検出をしており、その後に、アドレスコンパレータ220がプログラムメモリアドレスバッファ340に格納されたアドレス情報に対して一致を検出した場合には、アドレスコンパレータ220からハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号はコントロール部360に入力される。この時のアドレスコンパレータ220からのハイレベルの一致信号は3回目となるので、コントロール部360は、出力ゲート230に対するイネーブル信号をハイレベルにする。このイネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート230は、この時にデータバッファ140に格納されているデータを入出力ポート20へ出力する。この時、コントロール部360は、アドレスコンパレータ120の一致信号がハイレベルになり、アドレスコンパレータ220の一致信号が3回ハイレベルになったことに応答して、完了フラグ部160に対してフラグとして”1”をセットする。
【0070】
このように、本発明の第3の実施の形態のおけるデータモニタ回路300では、いくつかの所定の処理が実行された後に、特定の処理の実行時までに、監視すべきメモリの特定のアドレス情報に書き込み/読み出しされたデータを出力することができるので、より限定した条件(処理に追従した条件)での監視を可能としている。よって、不良解析がより確実に、より短時間に行えることができる。
【0071】
また、第2の実施の形態と比べてにても、大幅な構成の追加はなく、制御を複雑にすることはないので、チップサイズが大型化することもない。
【0072】
次に、第4の実施の形態におけるデータモニタ回路について図面を用いて以下に説明する。図4は本発明の第4の実施の形態におけるデータモニタ回路400の回路図である。なお、図4において、図2と同様な構成については、同様な符号を付けている。
【0073】
図4において、特徴的なのは、図2のデータモニタ回路200に比べて、データメモリアドレスバッファ410、アドレスコンパレータ420、出力ゲート460、データバッファ470、出力ゲート480、データバッファ有効フラグ部440が追加され、この追加に伴い変更されたコントロール部450を有することである。
【0074】
データメモリアドレスバッファ410は、データメモリアドレスバッファ110と同様な機能を有し、入出力ポート70から入力される、データ格納のための、監視すべきアドレス情報を格納するものである。
【0075】
アドレスコンパレータ420は、アドレスコンパレータ120と同様な機能を有し、データメモリアドレスバッファ410に格納されたアドレス情報とバスに転送されるアドレス情報とを比較して、一致を検出するものである。
【0076】
コントロール部450は、アドレスコンパレータ120、420の一致の検出(一致を検出した際に各アドレスコンパレータからそれぞれハイレベルの一致信号を出力)に応答して、それぞれに対応したハイレベルのイネーブル信号を出力するものである。なお、アドレスコンパレータ120、420が不一致を検出(ローレベルの一致信号を出力)している時は、コントロール部450はそれぞれローレベルのイネーブル信号を出力している。
【0077】
また、コントロール部450は、アドレスコンパレータ120、420の一致検出状態(アドレスコンパレータ120のみが一致を検出しているか、アドレスコンパレータ420のみが一致を検出しているか、2つのアドレスコンパレータがともに一致を検出しているか、2つのアドレスコンパレータがともに不一致を検出しているか)を指示する情報をデータバッファ有効フラグ部440に転送する。この情報は、少なくとも2ビット分の情報があればよい。なお、この情報の転送はアドレスコンパレータ220が一致を検出した場合に、コントロール部450からデータバッファフラグ部440に転送されるものである。データバッファフラグ部440の内容は、テスト信号Tにて初期化(例えば、”00”)され、マイクロコンピュータの外部端子、例えば、入出力ポートから出力されるものとする。
【0078】
出力ゲート460は、出力ゲート130と同様な機能を有し、アドレスコンパレータ420における一致の検出の応答してコントロール部450から出力されるハイレベルのイネーブル信号に応答して、バスに転送されているデータをデータバッファ470へ出力するものである。つまり、アドレスコンパレータ420が不一致を検出していることを指示するローレベルのイネーブル信号の時は、バスに転送されているデータをデータバッファ470へ出力しない。
【0079】
データバッファ470は、データバッファ140と同様な機能を有し、出力ゲート460を介して転送されるデータを格納し、出力するものである。
【0080】
出力ゲート480は、出力ゲート230と同様な機能を有し、アドレスコンパレータ220が一致を検出した際に出力するハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部450から出力されるイネーブル信号を受けて、データバッファ470に格納されたデータを入出力ポート80へ出力するものである。つまり、アドレスコンパレータ220が不一致を検出している場合に、コントロール部450が出力するローレベルのイネーブル信号を受信している時は、出力ゲート480はデータバッファ470に格納されたデータを出力しない。なお、出力ゲート480に入力されるイネーブル信号は、出力ゲート230に入力されるイネーブル信号と同様である。
【0081】
つまり、第4の実施の形態におけるデータモニタ回路400は、第1のアドレス格納手段を複数(図4中では、説明簡略のために2つとしている)の副格納部(データメモリアドレスバッファ110、410)から構成しているものであり、これに伴い、第1の比較手段(アドレスコンパレータ120、420)、第1のゲート手段(出力ゲート130、460)、第1のデータ格納手段(データバッファ140、470)、第2のゲート手段(出力ゲート230、480)をそれぞれ複数(対応する数)設けているものである。このため、データを格納するためのメモリの、監視すべきアドレス情報を複数設定することが可能である。
【0082】
このように構成されたデータモニタ回路400の動作についてを以下に説明する。
【0083】
まず、マイクロコンピュータが通常の動作時には、テスト信号Tはローレベルであり、データメモリアドレスバッファ110、410は、監視すべきアドレス情報が格納されていない(あるいは、通常動作では指定しない無効なアドレス情報を格納しておく)。このため、第2の実施の形態と同様に、出力ゲート130からデータバッファ140へのデータの転送、出力ゲート460からデータバッファ470へのデータ転送ともに行われることがなく、出力ゲート230からデータバッファ140のデータが入出力ポート20へ転送されること、及び出力ゲート480からデータバッファ470のデータが入出力ポート80へ転送されることがない。よって、データモニタ回路400による影響を受けることなく、入出力ポート10、20、50、70、80は通常動作におけるデータの授受を行うことができる。なお、この時、完了フラグも”0”のまま、データバッファ有効フラグ部440の情報も”00”のままで変化しない。よって、完了フラグ部160のフラグの状態やデータバッファ有効フラグ部440の情報を指示する端子が入出力ポートであっても、その入出力ポートでの信号授受が優先されるので問題はない。
【0084】
次に、不良解析のため、特定の処理の実行時における、データの格納のためのメモリにおける、いくつかの所定のアドレス値の状態を監視する場合についてを説明する。
【0085】
まず、テスト信号Tをハイレベルとし、入出力ポート10から、データ格納のためのメモリの、監視したいメモリセルのアドレス情報の1つを入力し、このアドレス情報をデータメモリアドレスバッファ110に格納する。同様に、入出力ポート70から、監視したいメモリセルのアドレス情報の他の1つを入力し、このアドレス情報をデータメモリアドレスバッファ410に格納する。同様に、入出力ポート50から、条件として、ある特定の処理の実行時であることとした場合、プログラム格納のためのメモリの、特定の処理が格納されているアドレス情報を入力し、このアドレス情報をデータプログラムメモリアドレスバッファ210に格納する。この時、完了フラグ部160も初期状態の”0”にリセットされ、データバッファ有効フラグ部440の情報も”00”にリセットされる。
【0086】
この状態で、テスト信号Tをローレベルに戻し、通常動作と同様に、内蔵のプログラムを実行させて、マイクロコンピュータを動作させる。プログラムの進行の伴い、監視対象であるデータ格納のためのメモリにはデータの書き込み/読み出しが行われる。この際、データ格納のためのメモリに対して読み出し/書き込みの際にアドレス情報がバスを介して転送されているので、この転送されているアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ110に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ120にて行われ、転送されているアドレス情報とデータメモリアドレスバッファ410に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ420にて行われる。同様に、プログラムカウンタ60で指示されるアドレス情報とプログラムメモリアドレスバッファ210に格納されているアドレス情報との比較がアドレスコンパレータ220にて行われる。
【0087】
この比較において、アドレスコンパレータ120(あるいはアドレスコンパレータ420)がアドレス情報の一致を検出した場合には、ハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部450は、出力ゲート130(あるいは460)に対するイネーブル信号をハイレベルにする。イネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート130(あるいは460)は、一致したアドレス情報に基づき、バスに転送される、データ格納のためのメモリに書き込まれた(あるいは読み出された)データをデータバッファ140(あるいは470)へ転送する。しかしながら、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出していない場合は、コントロール部450から出力ゲート230及び480をデータ転送可能とするハイレベルのイネーブル信号が供給されていない(つまり、出力ゲート230及び480に供給されるイネーブル信号はローレベルのままである)。このため、データバッファ140(あるいは470)に格納されたデータは入出力ポート20(あるいは80)には出力されない。なお、完了フラグ部160も、フラグが”0”のまま、データバッファ有効フラグ部も、”00”のままである。つまり、アドレスコンパレータ220が一致を検出していない間は、アドレスコンパレータ120(あるいは420)が一致を検出する度にデータバッファ140(あるいは470)の内容は更新される。
【0088】
次に、アドレスコンパレータ220がアドレス情報の一致を検出した場合には、ハイレベルの一致信号が出力される。ハイレベルの一致信号に応答して、コントロール部450は、出力ゲート230及び480に対するイネーブル信号をハイレベルにする。このイネーブル信号のハイレベルに応答して、出力ゲート230及び480は、それぞれ、この時にデータバッファ140及び470に格納されているデータを入出力ポート20及び80へ出力する。この時、コントロール部450は、3つのアドレスコンパレータ120、420、220の一致信号がそれぞれハイレベルになったことに応答して、完了フラグ部160に対してフラグとして”1”をセットする。
【0089】
なお、アドレスコンパレータ220が一致を検出した時に、アドレスコンパレータ120が既に一致を検出しており、アドレスコンパレータ420が一度も一致を検出していない場合に、データバッファ有効フラグ部440の情報は”01”となる。また、アドレスコンパレータ220が一致を検出した時に、アドレスコンパレータ420がともに、既に一致を検出しており、アドレスコンパレータ120が一度も一致を検出していない場合に、データバッファ有効フラグ部440の情報は”10”となる。また、アドレスコンパレータ220が一致を検出した時に、アドレスコンパレータ120、420が既に一致を検出している場合に、データバッファ有効フラグ部440の情報は”11”となる。なお、このデータバッファ有効フラグ部440の機能を完了フラグ部160に持たせて兼用するようにしてもよい。
【0090】
このように、本発明の第4の実施の形態のおけるデータモニタ回路400では、所定の処理の実行時までに、監視すべきメモリの複数の特定のアドレス情報に書き込み/読み出しされたデータを出力することができるので、より高速な不良解析を可能としている。よって、不良解析がより確実に、より短時間に行えることができる。
【0091】
また、第2の実施の形態と比べてにても、大幅な構成の追加はなく、制御を複雑にすることはないので、チップサイズが大型化することもない。
【0092】
また、データバッファ有効フラグ部440により、入出力ポート20、80から出力されている情報がどのような状態のものかをただちに知ることができる。
【0093】
以上、詳細に説明したが、本発明のデータモニタ回路は上記実施の形態の構成に限定されるものではない。例えば、データモニタアドレスバッファやプログラムメモリアドレスバッファは上記実施例の数に限られるものではない。また、各バッファへの入力や各バッファからの出力を入出力ポートを利用するものとしたが、他の端子でもよいことはいうまでもない。また、本発明のデータモニタ回路はマイクロコンピュータに内蔵されるものとして説明したが、本発明のデータモニタ回路と同様な動作が可能であるならば、外部装置としてもよい。また、監視対象となるデータ格納のためのメモリは少なくとも読み出しが行えるものであればよいことは言うまでもない。また、各実施の形態の特徴部分を組み合わせて適用すること(例えば、第3の実施の形態と第4の実施の形態のそれぞれの特徴を有するデータモニタ回路)も可能である。
【0094】
【発明の効果】
本発明のデータモニタ回路を適用することにより、プログラムの実行中に、不良解決を確実に行うことを実現することができる。
【0095】
また、本発明は、上記目的を簡単な構成で行うことができる。
【0096】
また、本発明は、上記目的をより高速に行うことができる。
【0097】
また、本発明は、上記目的を、複雑な条件に対しても確実に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示すデータモニタ回路100の回路ブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示すデータモニタ回路200の回路ブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態を示すデータモニタ回路300の回路ブロック図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態を示すデータモニタ回路400の回路ブロック図である。
【符号の説明】
10、20、50、70、80 入出力ポート
30 バス
100、200、300、400 データモニタ回路
110、410 データメモリアドレスバッファ
120、220、420 アドレスコンパレータ
210、320、330、340 プログラムメモリアドレスバッファ
140、470 データバッファ
130、230、460、480 出力ゲート
150、250、360、450 コントロール部
160 完了フラグ部
440 データバッファ有効フラグ部
Claims (5)
- 所定のプログラムに従って、少なくともデータの読み出しがバスを介して行われる第1のメモリ手段に対して、該バスに転送されるデータを監視するデータモニタ回路において、
前記メモリ手段の、監視すべきアドレス情報を格納する第1のアドレス格納手段と、
第2のメモリ手段に格納された前記所定のプログラムに従って指示されるアドレス情報をバスを介して入力し、前記第1のアドレス格納手段に格納されたアドレス情報との一致を検出する第1の比較手段と、
バスに転送されているデータを格納する第1のデータ格納手段と、
第1の許可信号に応答して、バスに転送されているデータを前記第1のデータ格納手段に転送する第1のゲート手段と、
前記第2のメモリ手段の、監視すべきアドレス情報を格納する第2のアドレス格納手段と、
前記所定のプログラムに対するプログラムカウンタで指示するアドレス情報と前記第2のアドレス格納手段に格納されたアドレス情報との一致を検出する第2の比較手段と、
第2の許可信号に応答して、前記第1のデータ格納手段に格納されているデータを外部へ出力する第2のゲート手段と、
前記第1の比較手段の検出結果に従って前記第1の許可信号を出力し、前記第2の比較手段の検出結果に従って前記第2の許可信号を出力する制御手段と、
を有することを特徴とするデータモニタ回路。 - 請求項1記載のデータモニタ回路において、前記第2のアドレス格納手段は、前記第2のメモリ手段の、監視すべきアドレス情報を複数格納するn個(ただし、nは2以上の整数)の副格納部を有し、前記データモニタ回路は、第1の選択手段、及び第2の選択手段を有し、該第1の選択手段により、該監視すべきアドレス情報の優先順位の高い順に第1の副格納部から第nの副格納部に格納し、該第2の選択手段により、前記第2の比較手段に優先順位の高い順に監視すべきアドレス情報を、該副格納部から転送することを特徴とするデータモニタ回路。
- 請求項2記載のデータモニタ回路において、前記第2の選択手段は、前記第2の比較手段の検出結果に応じて、該第2の比較手段に転送する前記副格納部に格納されたアドレス情報を切り換えることを特徴とするデータモニタ回路。
- 請求項1記載のデータモニタ回路において、前記第1のアドレス格納手段は、前記メモリ手段の、監視すべきアドレス情報を複数格納するn個(ただし、2以上の整数)の副格納部を有し、前記第1の比較手段は、該n個の副格納部に格納されたアドレス情報とバスに転送されるアドレス情報とをそれぞれ比較するn個の比較部を有し、前記第1の許可信号は、該n個の比較部の検出結果に応じたn個の許可信号からなり、前記第1のデータ格納手段はn個の副格納部を有し、前記第1のゲート手段及び前記第2のゲート手段は該第1のデータ格納手段のn個の副格納部にそれぞれ対応したn個の副ゲート部を有し、該第1のゲート手段のn個の副ゲート部はそれぞれ該n個の許可信号の1つに応答してバスに転送されているデータを該第1のデータ格納手段のn個の副格納部の対応する1つに転送し、該第2のゲート手段のn個の副ゲート部は前記第2の許可信号に応答して該第1のデータ格納手段に格納されているデータを外部に出力することを特徴とするデータモニタ回路。
- 請求項1〜4のいずれか1つに記載のデータモニタ回路において、前記制御手段は、前記第2の許可信号の出力とともに前記第2の比較手段の検出結果を指示する指示情報を出力し、該データモニタ回路は、該指示情報を格納し、出力する指示情報格納手段を有することを特徴とするデータモニタ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02313198A JP4008086B2 (ja) | 1998-02-04 | 1998-02-04 | データモニタ回路 |
US09/192,593 US6289470B1 (en) | 1998-02-04 | 1998-11-17 | Data monitor circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02313198A JP4008086B2 (ja) | 1998-02-04 | 1998-02-04 | データモニタ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11219321A JPH11219321A (ja) | 1999-08-10 |
JP4008086B2 true JP4008086B2 (ja) | 2007-11-14 |
Family
ID=12101986
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02313198A Expired - Fee Related JP4008086B2 (ja) | 1998-02-04 | 1998-02-04 | データモニタ回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6289470B1 (ja) |
JP (1) | JP4008086B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7047391B2 (en) | 1998-09-14 | 2006-05-16 | The Massachusetts Institute Of Technology | System and method for re-ordering memory references for access to memory |
JP3604977B2 (ja) * | 1999-10-14 | 2004-12-22 | Necエレクトロニクス株式会社 | バスインタフェース回路作成装置及び記録媒体 |
US7612652B2 (en) * | 2003-12-09 | 2009-11-03 | Intelleflex Corporation | Battery activation circuit |
DE602005007318D1 (de) * | 2005-02-09 | 2008-07-17 | Agilent Technologies Inc | Datenanalyse in zwei Schritten |
CN101989242B (zh) * | 2010-11-12 | 2013-06-12 | 深圳国微技术有限公司 | 一种提高soc系统安全的总线监视器及其实现方法 |
WO2013184125A1 (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Checkpointing using fpga |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3579199A (en) * | 1969-02-03 | 1971-05-18 | Gen Motors Corp | Method and apparatus for fault testing a digital computer memory |
US4326290A (en) * | 1979-10-16 | 1982-04-20 | Burroughs Corporation | Means and methods for monitoring the storage states of a memory and other storage devices in a digital data processor |
US4692897A (en) * | 1984-09-04 | 1987-09-08 | Gte Communication Systems Corporation | Arrangement for dynamic range checking or matching for digital values in a software system |
US5263143A (en) * | 1988-07-11 | 1993-11-16 | Star Semiconductor Corporation | Real time probe device for internals of signal processor |
JPH0721769B2 (ja) * | 1988-08-12 | 1995-03-08 | 日本電気株式会社 | マイクロプロセッサの冗長構成による機能監視方式 |
JPH02105945A (ja) | 1988-10-14 | 1990-04-18 | Mitsubishi Electric Corp | トリガ出力付マイクロコンピユータ |
JP2630271B2 (ja) * | 1994-09-14 | 1997-07-16 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置 |
JP3235523B2 (ja) * | 1997-08-06 | 2001-12-04 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
US6134676A (en) * | 1998-04-30 | 2000-10-17 | International Business Machines Corporation | Programmable hardware event monitoring method |
US6141757A (en) * | 1998-06-22 | 2000-10-31 | Motorola, Inc. | Secure computer with bus monitoring system and methods |
-
1998
- 1998-02-04 JP JP02313198A patent/JP4008086B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-17 US US09/192,593 patent/US6289470B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11219321A (ja) | 1999-08-10 |
US6289470B1 (en) | 2001-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6259639B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device capable of repairing defective parts in a large-scale memory | |
CA1221466A (en) | Memory subsystem | |
KR100328357B1 (ko) | 개선된자동메모리테스터용용장성분석기 | |
US5175831A (en) | System register initialization technique employing a non-volatile/read only memory | |
JP4008086B2 (ja) | データモニタ回路 | |
US20080288836A1 (en) | Semiconductor integrated circuit capable of testing with small scale circuit configuration | |
US6625684B1 (en) | Application specific integrated circuit with dual-mode system for externally accessible data buses and visibility buses | |
US6240532B1 (en) | Programmable hit and write policy for cache memory test | |
US7107392B2 (en) | Content addressable memory (CAM) device employing a recirculating shift register for data storage | |
US7484147B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP2002312252A (ja) | メモリ診断装置及び診断方法 | |
US6931492B2 (en) | Method for using a portion of the system cache as a trace array | |
US6229328B1 (en) | Integrated circuit with a test function implemented by circuitry which identifies the presence of a control signal | |
US7028237B2 (en) | Internal bus testing device and method | |
US6240377B1 (en) | Integrated circuit with embedded reprogrammable EEPROM and emulation method to facilitate debugging | |
US8140921B2 (en) | System for elevator electronic safety device | |
US6378078B1 (en) | Semiconductor integrated circuit supervising an illicit address operation | |
US7191323B2 (en) | Information processing unit selecting one of reset vector addresses | |
US5797032A (en) | Bus for connecting extension cards to a data processing system and test method | |
US5687341A (en) | Device for speeding up the reading of a memory by a processor | |
CN110851374B (zh) | 预比对系统及预比对方法 | |
JPS6329859A (ja) | 記憶保護装置 | |
US20040153947A1 (en) | Method for writing to a defect address memory, and test circuit having a defect address memory | |
KR100535251B1 (ko) | 내부 데이터 확인이 가능한 반도체 메모리 장치 내부의병렬 비트 테스트 회로 및 이를 이용한 병렬 비트 테스트방법. | |
KR0184154B1 (ko) | 원칩 마이크로 컴퓨터 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050124 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20060923 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20060929 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20061013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070821 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070829 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907 Year of fee payment: 5 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907 Year of fee payment: 5 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130907 Year of fee payment: 6 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |