JP3970789B2 - 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 - Google Patents
窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3970789B2 JP3970789B2 JP2003078418A JP2003078418A JP3970789B2 JP 3970789 B2 JP3970789 B2 JP 3970789B2 JP 2003078418 A JP2003078418 A JP 2003078418A JP 2003078418 A JP2003078418 A JP 2003078418A JP 3970789 B2 JP3970789 B2 JP 3970789B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystal
- susceptor
- seed crystal
- single crystal
- growth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、窒化アルミニウム(AlN)、窒化ガリウム(GaN)、窒化インジウム(InN)などのIII族元素の窒化物の単結晶を製造する方法およびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
III族元素の窒化物のうち、窒化アルミニウムは、熱伝導率が高く、窒化ガリウムと格子整合することから、GaN系半導体デバイス用基板として期待されている。
従来、この種の窒化物単結晶の製造方法としては、いくつかの方法が知られているが、なかでも昇華法が有望視されている。
【0003】
図6は、この昇華法による従来の窒化物単結晶の製造装置を示すもので、図中符号1は加熱炉を示す。この加熱炉1は、誘導加熱コイル2と、加熱炉本体3を備え、加熱炉本体3内には容器状の黒鉛るつぼ4が設けられている。この加熱炉1の底部には、雰囲気ガスの流入口5が形成され、加熱炉1の上部には雰囲気ガスの排出口6が形成されている。
【0004】
また、この加熱炉1の上部には、種結晶7が貼り付けられたサセプター8が固定されている。このサセプター8は、黒鉛などからなる板状のもので、その種結晶7を貼り付ける面は水平とされ、種結晶7の表面も水平となっている(ジャスト方向と言われることがある)。
そして、黒鉛るつぼ4の底部に原料9となる窒化物の粉末や焼結体などを配置する。ついで、加熱炉1内を真空排気した後、底部の雰囲気ガスの流入口5から窒素等の雰囲気ガスを導入する。誘導加熱コイル2を動作させて、黒鉛るつぼ4内の原料9となる窒化物粉末や焼結体およびサセプター8、種結晶7を加熱する。また、加熱炉1上部の排出口6から加熱炉1内の雰囲気ガスを排気する。
【0005】
この加熱により、るつぼ4の底部の原料9の窒化物粉末などが溶融、昇華し、昇華ガスが種結晶7の表面に付着し、結晶成長する。この際、種結晶7での結晶成長の結晶化速度を制御するため、サセプター8の温度と原料9から昇華する昇華ガスの昇華速度をそれぞれ最適化することが行われている。
【0006】
ところで、このような昇華法による結晶成長時においては、るつぼ4内の温度分布は、るつぼ4の壁面近傍が最も高温となり、その中央部が最も低温となる。このため、るつぼ4から昇華する昇華ガスの量が不均一となる。この現象は、るつぼが大型化するとより顕著となる。大口径の窒化物単結晶を製造しようとした場合には、大型のるつぼが必要になり、昇華ガス量の不均一性が益々大きくなる。
【0007】
このため、加熱炉1内の気相は、結晶成長温度(2100〜2200℃)では、乱流状態となり、種結晶7上に結晶核が析出する過程で、結晶核は種結晶7上にランダムに付着し(結晶成長学的表現では、ボォルマー・ウェーバー成長様式と言う。)、その後の結晶成長過程での気相/結晶の界面は荒れた状態で成長する(結晶成長学的表現では三次元成長と言う。)ことから、得られる単結晶には多くの欠陥が導入されるという欠点があった。
窒化アルミニウムなどの窒化物単結晶の製造方法に関する先行技術文献としては、以下のようなものがある。
【0008】
【特許文献1】
特開平10−053495号公報
【非特許文献1】
Glen A.Slack and T.F.Mcnelly,Journal of Crystal Growth,34(1976)263−279
【非特許文献2】
R.Schlesser and Z.Sitar,Journal ofCrystal Growth,234(2002)349
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
よって、本発明における課題は、昇華法により窒化物単結晶を製造する際に、得られる単結晶に欠陥がなく、良質で、大口径の単結晶が効率よく製造できるようにすることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため、
請求項1にかかる発明は、昇華法によりサセプター上の種結晶上に窒化物単結晶を成長させる製造方法において、サセプターの種結晶を貼り付ける面を、水平面に対して0.1〜2.0度傾斜させ、雰囲気ガスの流れをサセプターの表面の傾斜方向に一致させ、かつ、種結晶の成長面を結晶学的低指数面である(0001)面から0.1〜0.8度、方位(1100)方向に傾斜させ、雰囲気ガスの流れを種結晶の成長面の傾斜方向に一致させることを特徴とする窒化物単結晶の製造方法である。
【0012】
請求項2にかかる発明は、昇華法によりサセプター上の種結晶上に窒化物単結晶を成長させる製造装置において、種結晶を貼り付ける面を、水平面に対して0.1〜2.0度傾斜させたサセプターを用い、加熱炉の雰囲気ガスの排出口をサセプターの傾斜方向に設け、かつ種結晶として、その成長面を結晶学的低指数面である(0001)面から0.1〜0.8度、方位(1100)方向に傾斜させたものを用い、雰囲気ガスの流れを種結晶の成長面の傾斜方向に一致させるようにしたことを特徴とする窒化物単結晶の製造装置である。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を詳しく説明する。
図1は、本発明の窒化物単結晶の製造装置の一例を示すもので、図5に示した装置と同一構成部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【0015】
図1に示した例の装置においては、図1(a)に示すように、加熱炉1の上部に固定されたサセプター8の種結晶7を貼り付ける表面が水平面に対して傾斜している。また、サセプター8に貼り付けられる種結晶7の表面も同様に傾斜している。
【0016】
さらに、図1(b)に示すように、加熱炉1の上部に形成された雰囲気ガスの排出口6は、雰囲気ガスの流れがサセプター8の表面の傾斜面に沿って流れるようにサセプター8の傾斜方向の位置に形成されている。また、この排出口6は、その形状が矩形で、その長手方向の長さがサセプター8の外径とほぼ同じになっており、サセプター8の側方に形成されている。
【0017】
また、加熱炉1の底部に形成された雰囲気ガスの流入口5は、図1(c)に示すように、底部に3箇所に放射状に分散して形成されており、底部全体から均一に加熱炉1内に雰囲気ガスが流れ込むようになっている。
このような流入口5および排出口6の配置により、るつぼ4から昇華した昇華ガスの流れFは、図示するように種結晶7の傾斜方向に沿ってスムースに流れるようになる。
【0018】
図2は、図1におけるサセプター8と種結晶7とを拡大して示したものである。サセプター8の表面8aは、水平面に対して傾斜角αが0.1〜2.0度となるように傾斜している。また、種結晶7の表面7aも傾斜角βが0.1〜0.8度で傾斜している。種結晶7表面の傾斜は、具体的には結晶学的低指数面である(0001)面から0.1〜0.8度だけ方位(1100)方向に傾けられており、これにより図3に示すように、その表面には微細な多数のステップ10が形成されたものとなっている。なお、図2では、理解のため、各傾斜角α、βを実際よりも大きく描いてある。
【0019】
このような製造装置を用いて窒化物単結晶を種結晶7上に成長させると、種結晶7の低指数面から0.1〜0.8度の傾斜を持たせたことで、図3に示すように、低指数面で構成されるステップ10が形成され、このステップ10に沿って昇華ガスが流れることになる。このため、このステップ10に結晶核が付着して面内成長(ステップ成長)して単結晶11が成長するようになり、二次元的な均一な結晶成長(フランク・ファンデアメルベ成長)がなされ、欠陥のない良質な窒化物単結晶を製造することができる。
【0020】
なお、本発明での傾斜角に関しては、サセプター8および種結晶7の加工精度の点からプラスマイナス0.05度程度の誤差が生じ、この誤差を加味した値となっている。
また、本発明では、窒化アルミニウムに限られず、これ以外の窒化物単結晶の製造にも適用できることは言うまでもない。さらに、炭化物単結晶の製造にも応用することができる。
さらに、るつぼ4およびサセプター8には、その表面を窒化ホウ素(BN)や窒化ケイ素(SiN)などで被覆した黒鉛製のものを用い、昇華ガスとの反応を防止することも好ましい。
【0021】
以下、具体例を示すが、本発明はこれらの具体例に限定されるものではない。以下の具体例では、種結晶に六方晶系に属するSiCおよびAlN単結晶を用いたが、他の六方晶系あるいは三方晶系の単結晶でも同様の結果が得られる。
【0022】
(例1)
図1に示した構造の装置を使用して、AlN単結晶を作製した。原料9には、99.99%のAlN粉体を焼結した塊を用い、黒鉛るつぼ4の底部に置いた。種結晶7には結晶学的低指数面である(0001)面から傾斜角βが0.1度である方位(1100)方向に傾けたSiC単結晶を用いた。サセプター8には、その表面の傾斜角αが0.1度であるものを使用した。
【0023】
原料9の温度をAlNの分解温度である2200℃より約20℃高い温度に加熱し、種結晶7の温度を1950℃に加熱し、この温度で20時間保持した。この時、雰囲気ガスとして窒素ガスを用い、その流量を内圧〜500トールとなるように、流入口5から導入して、サセプターの傾斜方向に沿ってスムースに流れるようにし、さらに排出口6から排出するようにした。
【0024】
20時間経過後、種結晶7上には厚さ20mmの単結晶が成長していた。この単結晶は、無色透明で、X線回折によって結晶構造がウルツ鉱のAlNに一致しており、格子定数は、c=4.97Å、a=3.11Åであった。小傾角粒界のない単結晶であることが確認できた。結晶性は、X線回折の2θ−ωスキャンのロッキングカーブ半値幅が約70秒であった。
【0025】
(例2)
種結晶7には結晶学的低指数面である(0001)面から傾斜角βが0.3度である方位(1100)方向に傾けたSiC単結晶を用い、サセプター8には、その表面の傾斜角αが0.3度であるものを使用した以外は、例1と同様にしてAlN単結晶を作製した。但し、成長時間は18時間とした。
【0026】
得られた単結晶は、厚さが約15mmで、淡黄色の透明な結晶であった。X線回折の結果、バルク成長部はAlNで、その格子定数は、c=4.98Å、a=3.10Åであった。X線回折の2θ−ωスキャンのロッキングカーブ半値幅が約55秒であった。
【0027】
(例3)
この例では、図4に示した構造の製造装置を使用した比較例を示す。図4に示した装置にあっては、雰囲気ガスの排出口6の形成位置を、図4(b)に示すように、図1に示した製造装置とは反対側にした点が例1、2で用いた装置と異なるところである。このような装置では、昇華ガスの流れFは、サセプター8の傾斜方向とは逆の方向になる。
【0028】
種結晶7の面方位傾斜角βを0.3度とし、サセプター8の表面の傾斜角αを約0.5度とした。これ以外は例1と同様の条件で20時間の結晶成長を行った。
その結果、厚さ約23mmの淡灰青色の透明結晶を得た。X線回折の結果、バルク成長部はAlNで、その格子定数は、c=4.96Å、a=3.10Åであった。X線回折の2θ−ωスキャンのロッキングカーブ半値幅が約205秒であった。
【0029】
さらに、電子顕微鏡によって得られた結晶を観察したところ、結晶中に微少な析出物が散見していた。この析出物が結晶性を劣化させていることが推定された。このことから、昇華ガスが種結晶7の表面のステップ10の角に当たって、いわゆるベルグ効果によって結晶核発生がその角に集まり、不均質な結晶成長が惹起されたものと思われる。
【0030】
(例4)
例1と同様にしてAlN単結晶を作製した。原料の温度を2210℃に、種結晶温度を1995℃とした。サセプター8の外径を20mmとし、種結晶7の傾斜角βを約0.3度に、サセプター8の表面の傾斜角αを0.5度にして、20時間結晶成長を行った。
【0031】
その結果、成長した単結晶は、サセプター8の外径20mmから最終成長部で約30mmになっていた。顕微鏡観察とX線解析から、成長部はAlN単結晶であり、その格子定数は、c=4.96Å、a=3.11Åであった。X線回折の2θ−ωスキャンのロッキングカーブ半値幅が約60秒であり、きわめて良質な結晶性を有していることがわかった。
【0032】
(例5)
例1で使用した製造装置を使用してAlN単結晶を作製した。原料温度を2210℃とし、種結晶温度を1995℃とした。サセプター8の外径は約20mmとし、サセプター8の傾斜角αを1.5度とし、種結晶7の傾斜角βを約1.0度として、成長時間を20時間とした。
【0033】
その結果、得られた結晶は、厚さ約27mmの灰色がかった透明結晶であった。しかし、結晶性は悪く、X線のロッキングカーブの半値幅は370秒で、格子定数はc=4.99Å、a=3.12Åであった。このような低結晶性は以下のように解釈される。すなわち、種結晶7表面の傾斜角βが1.0度と大きいのでその表面に露出するであろうステップ10の形状は、ステップ幅が短くなっていて、AlN結晶核の面内成長(二次元成長あるいはラテラル成長)が抑制されて、結果的に三次元成長をしたものと推測される。
【0034】
これらの具体例およびこれ以外の実験結果に基づいて、サセプター8の傾斜角αと種結晶7の傾斜角βとをパラメータとして得られたAlN単結晶の結晶性を図5にまとめた。ここではロッキングカーブ半値幅100秒以下の値を示したものを結晶性が良好とし、○で示した。また、同じく半値幅が100秒を超えるものを結晶性が劣るとし、△で示した。さらに、例3のように雰囲気ガスの排出口6がサセプター8の傾斜方向と反対側に設けた製造装置によって得られた結晶性の劣るものを×で示した。
【0035】
この図5の結果から、サセプターの傾斜角αは、0.1〜2度が、種結晶の傾斜角βは0.1〜0.8度が良好な結晶性を有するAlN単結晶を作製する範囲であることがわかる。
【0036】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、種結晶表面にステップが形成され、このステップにより二次元成長することが可能になるので、平滑な気相/結晶界面が得られ、安定した良好な結晶性を有するAlNなどの窒化物単結晶が製造できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の窒化物単結晶の製造装置の一例を示す概略構成図である。
【図2】上記装置の要部を拡大して示した概略構成図である。
【図3】本発明での結晶成長の状態を示す説明図である。
【図4】具体例の例3で用いた比較例の単結晶の製造装置の概略構成図である。
【図5】具体例の結果を示した図表である。
【図6】従来の窒化物単結晶の製造装置の概略構成図である。
【符号の説明】
6・・・排出口、7・・・種結晶、8・・・サセプター
Claims (2)
- 昇華法によりサセプター上の種結晶上に窒化物単結晶を成長させる製造方法において、サセプターの種結晶を貼り付ける面を、水平面に対して0.1〜2.0度傾斜させ、雰囲気ガスの流れをサセプターの表面の傾斜方向に一致させ、かつ、種結晶の成長面を結晶学的低指数面である(0001)面から0.1〜0.8度、方位(1100)方向に傾斜させ、雰囲気ガスの流れを種結晶の成長面の傾斜方向に一致させることを特徴とする窒化物単結晶の製造方法。
- 昇華法によりサセプター上の種結晶上に窒化物単結晶を成長させる製造装置において、種結晶を貼り付ける面を、水平面に対して0.1〜2.0度傾斜させたサセプターを用い、加熱炉の雰囲気ガスの排出口をサセプターの傾斜方向に設け、かつ、種結晶として、その成長面を結晶学的低指数面である(0001)面から0.1〜0.8度、方位(1100)方向に傾斜させたものを用い、雰囲気ガスの流れを種結晶の成長面の傾斜方向に一致させるようにしたことを特徴とする窒化物単結晶の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003078418A JP3970789B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003078418A JP3970789B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004284869A JP2004284869A (ja) | 2004-10-14 |
JP3970789B2 true JP3970789B2 (ja) | 2007-09-05 |
Family
ID=33292906
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003078418A Expired - Fee Related JP3970789B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3970789B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006290685A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Bridgestone Corp | 炭化ケイ素単結晶の製造方法 |
US8293012B2 (en) * | 2006-06-20 | 2012-10-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for growing AlxGa1-xN crystal, and AlxGa1-xN crystal substrate |
WO2009066663A1 (ja) | 2007-11-22 | 2009-05-28 | Meijo University | 窒化アルミニウム単結晶多角柱状体及びそれを使用した板状の窒化アルミニウム単結晶の製造方法 |
JP5461859B2 (ja) * | 2008-03-28 | 2014-04-02 | Jfeミネラル株式会社 | AlNバルク単結晶及び半導体デバイス並びにAlN単結晶バルクの製造方法 |
-
2003
- 2003-03-20 JP JP2003078418A patent/JP3970789B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004284869A (ja) | 2004-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8491719B2 (en) | Silicon carbide single crystal, silicon carbide single crystal wafer, and method of production of same | |
JP5068423B2 (ja) | 炭化珪素単結晶インゴット、炭化珪素単結晶ウェハ及びその製造方法 | |
US11708644B2 (en) | Method for preparing SiC ingot, method for preparing SiC wafer and the SiC wafer prepared therefrom | |
JP2009536605A (ja) | アルミニウムを含むiii族窒化物半導体化合物の成長方法及び材料。 | |
JP2007055881A (ja) | AlN結晶およびその成長方法ならびにAlN結晶基板 | |
TW201443302A (zh) | 低碳第iii族氮化物結晶 | |
JP4460236B2 (ja) | 炭化珪素単結晶ウェハ | |
JP5131262B2 (ja) | 炭化珪素単結晶及びその製造方法 | |
JP3970789B2 (ja) | 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 | |
US20200299858A1 (en) | Method for producing group iii nitride semiconductor | |
CN111719181B (zh) | 晶锭的制备方法、晶锭生长用原料物质及其制备方法 | |
Bickermann et al. | Vapor transport growth of wide bandgap materials | |
Zuo et al. | Growth of AlN single crystals on 6H‐SiC (0001) substrates with AlN MOCVD buffer layer | |
CN111286781A (zh) | Ramo4基板及其制造方法、以及iii族氮化物半导体 | |
JP4670002B2 (ja) | 窒化物単結晶の製造方法 | |
Yamaguchi et al. | Growth of Highly Crystalline GaN at High Growth Rate by Trihalide Vapor‐Phase Epitaxy | |
JP2007137714A (ja) | 単結晶の製造方法及び単結晶の製造装置 | |
JP2008230868A (ja) | 窒化ガリウム結晶の成長方法および窒化ガリウム結晶基板 | |
JP2007145679A (ja) | 窒化アルミニウム単結晶の製造装置及びその製造方法 | |
JP7439117B2 (ja) | 下地基板及びその製造方法 | |
JP2023529341A (ja) | 炭化珪素インゴットの製造方法、炭化珪素インゴット及びその成長システム | |
US20160284545A1 (en) | System and method for producing polycrystalline group iii nitride articles and use thereof in production of single crystal group iii nitride articles | |
JP2004284870A (ja) | 窒化物単結晶の製造方法およびその製造装置 | |
JP2010150109A (ja) | 窒化物単結晶およびその製造方法 | |
JP4552516B2 (ja) | AlN単結晶の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060214 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060413 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060530 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060725 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070529 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070606 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3970789 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100615 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110615 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110615 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120615 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120615 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130615 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |