JP3963572B2 - 基板搬入搬出装置 - Google Patents

基板搬入搬出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3963572B2
JP3963572B2 JP12127498A JP12127498A JP3963572B2 JP 3963572 B2 JP3963572 B2 JP 3963572B2 JP 12127498 A JP12127498 A JP 12127498A JP 12127498 A JP12127498 A JP 12127498A JP 3963572 B2 JP3963572 B2 JP 3963572B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
image data
storage container
dimensional image
substrate storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12127498A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11312725A (ja
Inventor
彰彦 森田
保夫 今西
潤 渋川
和浩 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd, Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP12127498A priority Critical patent/JP3963572B2/ja
Publication of JPH11312725A publication Critical patent/JPH11312725A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3963572B2 publication Critical patent/JP3963572B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板収納容器の各収納棚における基板の有無を検出して基板収納容器との間で基板の受け渡しを行う基板搬入搬出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基板等の基板に種々の処理を行うために複数の基板処理部が統合された基板処理装置が用いられている。基板処理装置はクリーンルーム内に設置され、各基板処理装置間の基板の搬送は、基板収納容器を用いて行われる。基板収納容器は複数枚の基板を収納し、基板搬送ロボット等によってクリーンルーム内を搬送され、基板処理装置に供給される。
【0003】
基板処理装置は、基板収納容器との間で基板の受け渡しを行う基板搬入搬出装置を備えている。基板搬入搬出装置は、基板収納容器から処理前の基板を取り出し、基板の処理を行うために基板処理部の配置された領域に払い出し、一方、基板処理部で処理の終了した基板を受け取って基板収納容器に搬入するようにしている。さらに、基板搬入搬出装置は、基板検出装置を有しており、基板検出装置を用いて基板収納容器の複数段の基板収納位置に基板があるか否かを検出できるように構成されている。
【0004】
従来より、基板収納容器の種類に応じて種々の基板検出装置が提案されている。図7は基板収納容器の一例を示す斜視図であり、図8は基板収納容器の他の例を示す斜視図である。図7の基板収納容器30はオープン型カセットと呼ばれるもので、両側面に開口部を有している。このオープン型カセット30に対しては、一方の開口部側に投光部を配置し、他方の開口部側に透過型センサからなる受光部を配置し、投光部および受光部を同時に上下に移動させることにより、投光部から照射された光が基板により遮光されるタイミングおよび位置を検出して基板の有無を判定する基板検出装置が提案されている。
【0005】
また、図8の基板収納容器35はFOUP(Front Opening Unified Pod ;以下、一体型カセットと称する)と呼ばれるもので、開口部36が蓋(図示せず)により閉じられた密閉空間内に基板Wが収納される。このため、一体型カセット35では、搬送時に基板Wが外気に晒されて外気中のパーティクルの付着により汚染されることを防止することができる長所を有している。
【0006】
このような一体型カセット35に対しては、オープン型カセット30に用いられる投光部と受光部とからなる光透過型の基板検出装置を適用することができない。このため、一体型カセット35に対しては、反射型光センサを用いた基板検査装置が提案されている。この基板検査装置では、一体型カセット35の開口部36の外方から一体型カセット35内の基板Wに向けて投光し、その反射光を反射型光センサで受光することにより一体型カセット35内の各収納位置における基板Wの有無を検出している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、反射型光センサを用いた基板検査装置では、基板Wの表面に形成される膜の種類や膜厚によって光の反射率が異なる。このため、基板Wの表面に形成される膜の状態によって反射光の光量が変化するため、反射光の光量に基づく基板の有無の判定が難しく、誤検出を生じるおそれがある。基板の有無に誤検出が生じると、基板搬入搬出動作に誤りが生じ、基板の処理漏れが発生したり、基板収納容器へ基板を収納する際に基板の衝突事故が生じるおそれがある。
【0008】
本発明の目的は、基板収納容器内の基板の有無を確実に検出することが可能な基板搬入搬出装置を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段および発明の効果】
第1の発明に係る基板搬入搬出装置は、基板が収納される複数段の収納棚を有する基板収納容器との間で基板の受け渡しを行う基板搬入搬出装置であって、基板収納容器が載置される載置部と、基板収納容器から基板を取り出すことと基板収納容器に基板を収納することが可能な基板受け渡し手段と、載置部に載置された基板収納容器を照明する照明手段と、載置部に載置された基板収納容器を撮像して画像の明るさを示す画像データを出力する撮像手段と、照明手段の点灯時に撮像手段から出力される画像データから、照明手段の消灯時に撮像手段から出力される画像データを差し引くことによって基板の端縁の画像データを抽出する抽出手段と、抽出手段により抽出された画像データに基づいて基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を判定する判定手段とを備え、撮像手段が、基板収納容器の斜め上方に設けられ、基板収納容器を撮像して画像の明るさを示す2次元画像データを出力し、抽出手段は、照明手段の点灯時および消灯時に撮像手段から出力される2次元画像データを、基板収納容器内に収納される複数の基板の整列方向に一致する中心軸を有する円柱座標系における画像データに変換する座標変換手段と、円柱座標系における画像データを中心軸に沿う方向に走査し、各走査位置の画像データが1次元に配列された照明手段の点灯時および消灯時の1次元画像データを求める算出手段と、算出手段によって求められた照明手段の点灯時の1次元画像データから照明手段の消灯時の1次元画像データを減算することによって基板の端縁が抽出された1次元画像データを算出する減算手段とを備え、算出手段が、各走査位置ごとに円柱座標系における画像データを周方向に沿って所定範囲積分することにより各走査位置の画像データを求め判定手段が、基板の端縁が抽出された1次元画像データに基づいて基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を判定するものである。
【0010】
第1の発明に係る基板搬入搬出装置においては、照明手段が点灯された際の基板収納容器の画像の明るさを示す画像データと照明手段が消灯された際の基板収納容器の画像の明るさを示す画像データとを撮像手段により作成している。点灯時の画像データには、検出すべき基板の端縁の画像データと、外乱等による画像データとが含まれる。また、消灯時の画像データには、外乱等の画像が含まれる。そこで、抽出手段が照明点灯時の画像データから照明消灯時の画像データを差し引くことにより検出すべき基板の端縁の画像データを抽出することができる。そして、判定手段が、抽出された画像データに基づいて基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を判定することにより、基板収納容器内における基板の収納状態を正確に検出することができる。特に、基板収納容器の画像の明るさを示す画像データは撮像手段により得られるため、基板収納容器の種類によらず基板の収納状態を検出することができる。また、消灯時の画像データを用いて外乱等の影響を排除することにより、基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を正確に判定することができる。
【0012】
また、撮像手段から出力される2次元画像データを円柱座標系の画像データに変換することにより、実際に基板収納容器内に整列された基板に対応した座標系に2次元画像データの各画素を変換し、各画素を基板の整列方向に沿って走査することにより1次元画像データを得ることができる。1次元画像データでは、基板の端縁からの反射光が生じた画素の値が大きく示されている。これにより、基板収納容器内の各収納棚に基板が収納されているか否かを正確に検出することができる。
【0014】
さらに、各走査位置ごとに画像データの積分値が求められることにより、基板収納容器内において反射光が生じた領域と生じなかった領域との際が明確となり、それによって基板の有無を正確に判定することができる。
【0015】
の発明に係る基板搬入搬出装置は、第の発明に係る基板搬入搬出装置の構成において、判定手段が、基板の端縁が抽出された1次元画像データの各点の値が所定の閾値を越えるか否かによって基板収納容器の各収納棚における基板の有無を判定するものである。
【0016】
この場合、1次元画像データでは基板が存在する位置における画素の値が大きく示されている。そこで、所定の閾値を設定することにより、閾値を超える1次元画像データの画素位置に基づいて基板収納容器の収納棚に基板が収納されているか否かを正確に判定することができる。
【0017】
の発明に係る基板搬入搬出装置は、第の発明に係る基板搬入搬出装置の構成において、判定手段が、基板の端縁が抽出された1次元画像データの変曲点を求め、変曲点の有無によって基板収納容器の各収納棚における基板の有無を判定するものである。
【0018】
この場合、1次元画像データでは、基板が存在する位置に対応して画像データの変曲点が存在する。このため、変曲点の有無によって基板収納容器の各収納棚に基板が収納されているか否かを正確に判定することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の実施例による基板搬入搬出装置の側部断面模式図である。基板搬入搬出装置1は基板処理装置において複数の基板処理部に隣接するように配置されている。基板搬入搬出装置1は、載置部2および基板搬送部3を備える。載置部2の上面には、基板収納容器が載置される。なお、以下では、基板収納容器として図8の一体型カセット35を例に説明する。一体型カセット35は基板搬送路3側に開口部36が向くように載置される。一体型カセット35の蓋35aは蓋開閉機構(図示せず)により取り外され、基板搬送部3の下方に保持される。
【0020】
基板搬送部3には基板搬送機構5が配置されている。基板搬送機構5は、基板Wを保持する基板保持アーム6と、基板保持アーム6を水平方向に進退移動させ、鉛直軸の周りに回動させるアーム駆動機構7と、基板保持アーム6およびアーム駆動機構7を昇降移動させる昇降駆動部8と、基板保持アーム6、アーム駆動機構7および昇降駆動部8を水平方向(紙面垂直方向)に延びるレール9aに沿って移動させる水平方向移動部9とから構成される。
【0021】
基板搬送部3の上部には空調ユニット4が配置されている。空調ユニット4はファン4aとフィルタ4bとから構成され、基板搬送部3内に清浄な空気を下降させて基板搬送部3内を清浄な雰囲気に保持する。
【0022】
さらに、基板搬入搬出装置1には、一体型カセット35内の基板Wの有無を検出する基板検出装置100が設けられている。基板検出装置100は、一体型カセット35内を照明する照明装置10、一体型カセット35内を撮像するCCD(電荷結合素子)カメラ11およびCCDカメラ11から出力される画像データに対して画像処理を行う画像処理部15とを備える。
【0023】
照明装置10は基板搬送部3の載置部2側の内壁面に取り付けられ、一体型カセット35の内部を照明する。また、CCDカメラ11は、一体型カセット35の斜め上方から一体型カセット35の内部を撮像するように載置部2と反対側の基板搬送部3の壁面に固定されている。CCDカメラ11により撮像された一体型カセット35内の画像は画像処理部15に出力される。
【0024】
基板搬入搬出装置1の載置部2に一体型カセット35が載置されると、まず基板検出装置100が動作され、一体型カセット35内の各収納棚に基板Wが収納されているか否かが検出される。基板の検出動作が終了すると、検出結果に基づいて基板搬送機構5のアーム駆動機構7、昇降駆動部8および水平方向移動部9が動作して基板保持アーム6が一体型カセット35内に収納された基板Wを一体型カセット35から取り出して基板の処理を行うために基板処理部の配置された領域に払い出し、一方、基板処理部で処理の終了した基板を受け取って一体型カセット35内の収納棚に収納する。
【0025】
ここで、本実施例の載置部2が本発明の載置部に相当し、基板搬送機構5が、基板受け渡し手段に相当し、照明装置10が照明手段に相当し、CCDカメラ11が撮像手段に相当し、画像処理部15が抽出手段および判定手段に相当する。
【0026】
次に、基板検出装置100の動作について説明する。図2は基板検出装置100の動作を示すフローチャートである。図2において、まず照明装置10を点灯し、一体型カセット35の開口部36内に光を照射する。光が照射されると、一体型カセット35内の基板Wでは開口部36側の端縁が光を基板搬送部3側に反射し、主表面は照射された光を一体型カセット35の奥側へ反射する。このため、基板搬送部3側から見ると、一体型カセット35内で基板Wの端縁が明るく見える。また、一体型カセット35の奥側の壁面が透明な場合や、周囲に他の光源がある場合などには、それら外乱により明るい部分が生じる(ステップS1)。
【0027】
この状態で、CCDカメラ11から一体型カセット35内を撮像する。図3はCCDカメラ11により撮像された一体型カセット35内部の画像データを示す模式図である。図3において、画像データ20はX−Y平面の2次元画像データからなり、枡目は画像データ20の各画素21を示している。各画素21は256階調の明るさを示す画素値(濃淡データ)を有する。また、画像データ20において黒色で塗り潰した画素領域22は一体型カセット35内で明るい領域を示している。なお、図3では、明るい領域として基板Wの端縁のみを図示し、外乱による明るい部分については図示を省略している。
【0028】
画像データ20は2次元のX−Y平面で規定される。一方、CCDカメラ11は一体型カセット35内に収納された基板Wの斜め上方から円板状の基板Wを撮像している。このため、明るく光る基板Wの端縁は画像データ20のX−Y平面で楕円状の領域22で示される。したがって、画像データ20の各画素21の値に基づいて明るい部分を抽出したとしても、このままでは明るい部分が一体型カセット35内のどの部分に相当するかを直接検出することができない(ステップS2)。
【0029】
そこで、X−Y平面の画像データ20を一体型カセット35内の複数の基板Wに対応する円柱座標系の画像データに変換する。図4は基板に対応する円柱座標系を示す模式図である。円柱座標系25では中心軸Zと、中心軸Zからの半径位置rと、中心軸Z周りの角度θにより3次元空間が定義される。ここでは、中心軸Zを一体型カセット35内に収納される複数の基板Wの整列方向(上下方向)に一致させており、それによって基板Wの半径と等しい半径位置rwに、一体型カセット35内に整列された複数枚の基板Wにより構成される仮想の円柱領域に等しい円柱状の座標領域26が規定される。
【0030】
一体型カセット35に対するCCDカメラ11の取り付け位置は予め検出されている。このため、CCDカメラ11により得られた画像データ20の各画素と、円柱座標系25の円柱状の座標領域26の各画素との対応関係は予め求められる。そこで、予め求められた対応関係に基づいて画像データ20の各画素を図4の円柱座標系に変換する。この変換処理により、例えば図3の画像データ20内の明るい領域22(基板Wの端縁)は図4の円柱座標系25において黒色で示す領域27に変換される(ステップS3)。
【0031】
CCDカメラ11の画像データ20が図4の円柱座標系25に変換されると、円柱座標系25における座標領域26の各画素を中心軸Zに平行な走査方向Pに沿って走査する。各走査位置では、基板Wの端縁から光が反射すると想定される領域に対応する画素領域θ1内の画素値を積分し、各走査位置における代表画素値とする。このような積分処理を走査方向Pに沿って各走査位置で行うことにより1次元の画像データを得ることができる。図5(a)は、この積分処理により得られた1次元画像データを示す図である。図5(a)において、横軸は図4の円柱座標系25の走査方向Pに相当し、横軸の各数字は、図6に示すように、走査方向Pの所定の走査位置が対応する一体型カセット35内の各基板Wの収納棚の位置を示している。また、図5(a)の縦軸は、各走査位置での画素の濃淡データの積分値A、すなわち明るさを示している。なお、積分処理を行わず、走査方向Pに沿う各画素を走査して1次元画像データを求めてもよい(ステップS4)。
【0032】
次に、照明装置10を消灯した状態での上記ステップS2〜S4の処理に移行する(ステップS5)。
【0033】
照明装置10を消灯して(ステップS6)、上記のステップS2〜S4の処理を行うと、基板Wの端縁からの光の反射が生じなくなる。このため、基板Wからの反射光に対応する画像データがなくなり、外部から一体型カセット35内に透過する光や散乱光等の外乱による画像データを得ることができる。図5(b)は、外乱による1次元画像データを示す図である。
【0034】
照明装置10を消灯しての処理が終了すると(ステップS5)、照明装置10を点灯した状態での1次元画像データ(図5(a))から照明装置10を消灯した状態での1次元画像データ(図5(b))を減算することにより、図5(c)に示す基板Wの端縁からの反射光に基づく1次元画像データが得られる(ステップS7)。
【0035】
基板Wの端縁からの反射光のみに基づく1次元画像データが得られると、この1次元画像データに基づいて一体型カセット35内の各収納棚における基板Wの有無を判定する。基板の有無の第1の判定方法では、まず画素の積分値Cに対し閾値Vを設定する。そして、明るさを示す画素の積分値Cが閾値Vを越える走査方向Pの位置を求める。そして、求めた位置が一体型カセット35内の収納棚の位置に相当する場合には、その収納棚に基板Wが収納されていると判定し、それ以外の位置では、基板Wが収納されていないと判定する。
【0036】
また、第2の方法では、図5(c)に示す1次元画像データの分布曲線を微分して変曲点を求める。また、この変曲点が一体型カセット35内の収納棚の位置に相当する場合には、その位置に基板Wが収納されているものと判定する。したがって、一体型カセット35の収納棚の位置に相当する変曲点が存在しない場合には、その収納棚に基板Wが収納されていないものと判定する(ステップS8)。
【0037】
以上の処理により、一体型カセット35内の基板Wの有無を各収納棚ごとに判定することができる。
【0038】
このように、上記実施例による基板搬入搬出装置の基板検出装置100では、一体型カセット35の周囲に外部雰囲気からの外乱が生じた場合でも、基板Wからの反射光のみを抽出して基板Wの有無検出を行うことができる。このため、基板収納容器の種類によらず正確に基板収納容器内の基板の有無を検出することができる。
【0039】
なお、上記ステップS1〜S8の処理を複数回繰り返すことにより、基板Wの検出精度をさらに高めることができる。すなわち、複数回処理を繰り返すことにより、ある処理時に一体型カセット35の周囲において強い外乱が発生した場合等における基板Wの誤検出を排除することができる。
【0040】
また、上記実施例において、図3のX−Y平面の画像データ20を図4の円柱座標系25に変換する際に、基板Wの直線状切欠き部(オリエンテーションフラット部)の形状データを加味して変換することが好ましい。直線状切欠き部の形状は基板の種類に応じて規定されている。したがって、CCDカメラ11から撮像した場合の直線状切欠き部の2次元平面での形状を予め求めることが可能であり、それに基づいて直線状切欠き部を有する基板Wの画像データ20を円柱座標系25に変換することができる。
【0041】
さらに、上記実施例では、一体型カセット35に収納された基板Wの検出動作について説明したが、上記の基板検出装置は図7のオープン型カセットに対しても同様に適用することができる。
【0042】
さらに、照明装置10は、基板収納容器の内部を照明できる位置であれば、その取り付け位置は上記実施例の位置に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による基板搬入搬出装置の側部端面模式図である。
【図2】図1の基板搬入搬出装置における基板検出装置の動作を示すフローチャートである。
【図3】CCDカメラにより撮像された一体型カセット内部の画像データを示す模式図である。
【図4】円柱座標系の模式図である。
【図5】画像処理により得られた1次元画像データを示す図である。
【図6】基板収納容器と走査方向との対応を示す図である。
【図7】オープン型カセットの斜視図である。
【図8】一体型カセットの斜視図である。
【符号の説明】
1 基板搬入搬出装置
2 載置部
10 照明装置
11 CCDカメラ
15 画像処理部
20 画像データ
25 円柱座標系
30 オープン型カセット
35 一体型カセット
36 開口部
100 基板検出装置

Claims (3)

  1. 基板が収納される複数段の収納棚を有する基板収納容器との間で基板の受け渡しを行う基板搬入搬出装置であって、
    前記基板収納容器が載置される載置部と、
    前記基板収納容器から基板を取り出すことと前記基板収納容器に基板を収納することが可能な基板受け渡し手段と、
    前記載置部に載置された前記基板収納容器を照明する照明手段と、
    前記載置部に載置された前記基板収納容器を撮像して画像の明るさを示す画像データを出力する撮像手段と、
    前記照明手段の点灯時に前記撮像手段から出力される画像データから、前記照明手段の消灯時に前記撮像手段から出力される画像データを差し引くことによって基板の端縁の画像データを抽出する抽出手段と、
    前記抽出手段により抽出された画像データに基づいて前記基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を判定する判定手段とを備え
    前記撮像手段は、前記基板収納容器の斜め上方に設けられ、前記基板収納容器を撮像して画像の明るさを示す2次元画像データを出力し、
    前記抽出手段は、
    前記照明手段の点灯時および消灯時に前記撮像手段から出力される前記2次元画像データを、前記基板収納容器内に収納される複数の基板の整列方向に一致する中心軸を有する円柱座標系における画像データに変換する座標変換手段と、
    前記円柱座標系における前記画像データを前記中心軸に沿う方向に走査し、各走査位置の画像データが1次元に配列された前記照明手段の点灯時および消灯時の1次元画像データを求める算出手段と、
    前記算出手段によって求められた前記照明手段の点灯時の1次元画像データから前記照明手段の消灯時の1次元画像データを減算することによって前記基板の端縁が抽出された1次元画像データを算出する減算手段とを備え、
    前記算出手段は、各走査位置ごとに前記円柱座標系における画像データを周方向に沿って所定範囲積分することにより各走査位置の画像データを求め、
    前記判定手段は、前記基板の端縁が抽出された前記1次元画像データに基づいて前記基板収納容器内の各収納棚の基板の有無を判定することを特徴とする基板搬入搬出装置。
  2. 前記判定手段は、前記基板の端縁が抽出された前記1次元画像データの各点の値が所定の閾値を越えるか否かによって前記基板収納容器の各収納棚における基板の有無を判定することを特徴とする請求項記載の基板搬入搬出装置。
  3. 前記判定手段は、前記基板の端縁が抽出された前記1次元画像データの変曲点を求め、前記変曲点の有無によって前記基板収納容器の収納棚における基板の有無を判定することを特徴とする請求項記載の基板搬入搬出装置。
JP12127498A 1998-04-30 1998-04-30 基板搬入搬出装置 Expired - Fee Related JP3963572B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12127498A JP3963572B2 (ja) 1998-04-30 1998-04-30 基板搬入搬出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12127498A JP3963572B2 (ja) 1998-04-30 1998-04-30 基板搬入搬出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11312725A JPH11312725A (ja) 1999-11-09
JP3963572B2 true JP3963572B2 (ja) 2007-08-22

Family

ID=14807207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12127498A Expired - Fee Related JP3963572B2 (ja) 1998-04-30 1998-04-30 基板搬入搬出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3963572B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4632590B2 (ja) * 2001-08-30 2011-02-16 キヤノンアネルバ株式会社 基板搬送システム及び基板処理装置
JP4762209B2 (ja) * 2007-07-25 2011-08-31 大日本スクリーン製造株式会社 基板検出装置および基板処理装置
JP4618458B2 (ja) * 2008-08-18 2011-01-26 株式会社安川電機 薄型基板検出装置
JP2011134898A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
DE102010034176A1 (de) * 2010-08-12 2012-02-16 Würth Elektronik Ics Gmbh & Co. Kg Behälter mit Erfassungsvorrichtung
JP5880265B2 (ja) * 2012-05-07 2016-03-08 株式会社ダイフク 基板収納設備
KR102162366B1 (ko) * 2014-01-21 2020-10-06 우범제 퓸 제거 장치
US20220399219A1 (en) * 2021-06-11 2022-12-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer alignment apparatus and method for multi-cassette load port

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11312725A (ja) 1999-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5241245B2 (ja) 検査装置及び検査方法
KR20150052230A (ko) 반도체 기판의 위치 검출 장치 및 위치 검출 방법
US20230187244A1 (en) Method for inspecting a container and inspection system
JP2011134898A (ja) 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
EP0620430A1 (en) Apparatus for inspecting a bottom border portion of a transparent glass vessel
JP3963572B2 (ja) 基板搬入搬出装置
JP4385419B2 (ja) 外観検査方法及び外観検査装置
KR20190039269A (ko) 기판 검사 장치, 기판 처리 장치, 기판 검사 방법 및 기판 처리 방법
US6452503B1 (en) Semiconductor wafer imaging system
TWI805588B (zh) 用於基板容器的檢測系統及檢測方法
US6419439B2 (en) Indexer for magazine shelves of a magazine and wafer-shaped objects contained therein
JP5529522B2 (ja) 基板収納状態検出装置及び基板収納状態検出方法
JP5657039B2 (ja) 試料搭載装置
JP2010175551A (ja) 検査装置及び検査方法
TW202241258A (zh) 驗蛋裝置
JPH0477465B2 (ja)
JP7276090B2 (ja) 検査方法、シリコンウェーハの製造方法および検査装置
JP2005083959A (ja) 搬送基板不良検出装置及びこの搬送基板不良検出装置を備えたレーザトリミングマシン
KR20230021892A (ko) 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법
KR200176165Y1 (ko) 3디센서를 이용한 아이시 및 패턴드 웨이퍼의 3차원 외관및 대미지 검사장치
JP2000269308A (ja) 密閉形基板収納器及び密閉型基板収納器内の基板検知方法
JP4551318B2 (ja) 半導体処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061114

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070522

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070522

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100601

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100601

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees