JP3963381B2 - 側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置 - Google Patents
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Description
(1)真空装置の排気管内の排気流とともに流れる一つの微粒子に着目し、パーティクルの速度、粒子の大きさを、レーザー光を照射して微粒子から発生する散乱光をCCD受光素子で撮像受光して測定する方法である(特許文献1)。この発明は、基本的に配管等の流れのある流体の中をCCD受光素子で捕らえた連続的な微粒子の画像の動きから微粒子の速度、粒径を求める方法である。しかし、この方法は、本発明のように空気中を対象とした気中の粒子数、粒径分布を同時に計測することを可能とする方法とは異なる。
(1) パルスレーザー発生装置、(2) レーザー拡大出射光学系(シリンドリカルレンズ)、(3)シート状に拡大出射されるレーザー光、(4) 高感度2次元光検出器カメラ視野、(5) 伝播するレーザー光シート領域かつカメラ視野内に存在する気中の微粒子、 (6) 高感度2次元光検出器(CCDカメラ)、(7) 側方散乱光集光学系(望遠鏡レンズ)、(8)微粒子から発生する側方散乱光、(9)計測制御システム、(10) 計測制御システムとレーザー装置及び高感度2次元光検出器間の信号ケーブル
Claims (1)
- パルス発振のレーザー装置、レーザー拡大出射光学系、側方散乱光の集光光学系、側方散乱光を検出する高感度2次元光検出器及び計測制御システムから構成され、
レーザー出射地点より遠方にある大気中に浮遊する微粒子群に向けてレーザー光をシート状に拡大して照射し、レーザー光と微粒子群との相互作用によって微粒子個々から側方散乱光を発生させ、
レーザー光の出射方向に対して横方向で且つレーザー光のシート面の主に垂直方向位置に、側方散乱光の集光光学系及び高感度2次元光検出器を配置し、
高感度2次元光検出器で計測される微粒子個々からの側方散乱光の画像からシート状のレーザー照射領域内の限られた空間の微粒子の計測処理を行う、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置において、
集光光学系の観測視野を出射拡大されたレーザー光シート面内に設置し、高感度2次元光検出器のシャッター機能を用いてシャッター時間内にその観測視野内をレーザー光が通過することにより、この視野内のレーザー光シート面から発する微粒子個々の側方散乱光をレーザーパルス光と同期をとった高感度2次元光検出器で斑点状の画像として検出し、その画像中の斑点の数及び斑点の輝度を解析することにより、遠方の限られた空間に存在する微粒子の数、密度、粒径分布及び空間分布を同時に算出し、
レーザー光の出射方向、又は計測するレーザー光のシート面からの側方散乱光の計測位置を変化させることにより、大気中の微粒子の数量及び粒径分布の空間3次元分布情報を同時に得、且つ
高感度2次元光検出器のシャッター時間を変化させることにより計測される画像内の微粒子の画面内での空間及び時間的な変化を捕捉し、これを解析することにより、微粒子の運動速度、大気又は室内の風速、及び風向情報を同時に得ることを特徴とする前記装置。
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