JP3946180B2 - 光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法 - Google Patents
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なお、さらに時間短縮のため、ステップ305を省くことが可能である。またステップ303を省くことも可能である。
Claims (8)
- 光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する3スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の3つの光検出器で検出し、該3つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、
前記サブフォーカスエラー信号を調整可能な増幅率Kで増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にする可変アンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する演算アンプと、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号を入力し、当該フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、
前記フォーカスエラー信号のS字振幅を取得するS字振幅取得回路と、
前記漏れ込み成分測定回路から出力されるフォーカスエラー信号の測定した前記漏れ込み成分が前記S字振幅取得回路で取得したS字振幅に対して所定レベルを超えていたら、その量を減らすように、前記可変アンプの前記増幅率Kを変える増幅率K値補正コントローラとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。 - 光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する3スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の3つの光検出器で検出し、該3つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、
前記サブフォーカスエラー信号を調整可能な増幅率Kで増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にする第1可変アンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する第1演算アンプと、
前記サブトラッキングエラー信号を調整可能な増幅率K2で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にする第2可変アンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力する第2演算アンプと、
前記フォーカスエラー信号のS字振幅を取得するS字振幅取得回路と、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記第2可変アンプでの前記増幅率K2を変える増幅率K2値補正コントローラと、
前記第1演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、
前記漏れ込み成分測定回路から出力されるフォーカスエラー信号の測定した前記漏れ込み成分が前記S字振幅取得回路で取得したS字振幅に対して所定レベルを超えていたら、その量を減らすように、前記第1可変アンプでの前記増幅率Kを変える増幅率K値補正コントローラとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項2記載において、前記補正コントローラは、前記第1可変アンプでの前記増幅率Kを変えた後、再度、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記増幅率K2値補正コントローラで前記第2可変アンプでの前記増幅率K2を変えることを特徴とする光ディスク装置。
- 請求項1から3のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度、前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記増幅率K値補正コントローラは前記可変アンプでの前記増幅率Kを変えることを特徴とする光ディスク装置。
- 光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する3スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の3つの光検出器で検出し、該3つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、
前記サブフォーカスエラー信号を可変アンプで調整可能な増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号
から、演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、
測定した前記漏れ込み成分が前記S字振幅取得回路で取得したS字振幅に対して所定レベルを超えていたら、その量を減らすように、前記可変アンプの前記増幅率Kを変える増幅率K値補正コントローラで前記可変アンプでの前記増幅率Kを変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。 - 光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する3スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の3つの光検出器で検出し、該3つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、
前記サブフォーカスエラー信号を第1可変アンプの調整可能な増幅率Kで増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から第1演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、
前記サブトラッキングエラー信号を第2可変アンプの調整可能な増幅率K2で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から第2演算アンプで前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力し、
前記フォーカスエラー信号のS字振幅をS字振幅取得回路で取得し、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、増幅率K値補正コントローラで前記第2可変アンプでの前記増幅率K2を変え、
前記第1演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、
測定した前記漏れ込み成分が取得した前記S字振幅に対して所定レベルを超えていたら、その量を減らすように、前記増幅率K値補正コントローラで前記第1可変アンプでの前記増幅率Kを変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。 - 請求項6記載において、前記第1可変アンプでの前記増幅率Kを変えた後、再度、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記増幅率K2補正コントローラで前記第2アンプ可変での前記増幅率K2を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
- 請求項5から7のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度、前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記増幅率K補正コントローラで前記可変アンプでの前記増幅率Kを変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
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