JP3932188B2 - Flexible substrate - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フレキシブル基板に関し、さらに詳しく言えば、チップ部品配設部内に露出しているインナーリードをめっきするために形成された特定のめっきリード配線を切断するめっきリードカット孔を備えているフレキシブル基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
液晶ドライバー用のパッケージとして、図4に示すように、フレキシブル基板10のチップ部品配設部であるデバイスホール20内に、例えばLSIチップ30を配置したTCP(Tape Carrier Package)が広く使用されている。
【0003】
デバイスホール20内には、フレキシブル基板10に形成されているリード配線11から引き出された多数のインナーリード12が露出しており、このインナーリード12にLSIチップ30のバンプが接続される。
【0004】
しかる後、その接続部分を保護するため、図5に示すように、LSIチップ30の周りからデバイスホール20の周縁にかけて、デバイスホール20を埋めるように封止樹脂40が充填される。
【0005】
リード配線11はソルダレジストで被覆されているが、インナーリード12は剥き出し状態であるため、このままでは酸化したり、水分にて腐蝕することがある。これを防止するため、インナーリード21に例えば金めっきを施すようにしている。
【0006】
インナーリード12に対するめっきは、多くの場合、電気めっき法により行われている。すなわち、目的とする金属の塩を含有した溶液中に、フレキシブル基板10を浸漬し、その入力電極部13および出力電極部14を陰極として各リード配線11に電流を流すことにより、露出しているインナーリード12に金属皮膜を形成する。
【0007】
ところで、インナーリード12の中に、例えばジャンパ端子のように、入力側電極部13もしくは出力側電極部14のいずれにもつながれていない独立した電気的に中立のインナーリードが存在していると、その電気的に中立のインナーリードはめっきされないことになる。
【0008】
そこで、電気的に中立のインナーリードを、入力側電極部13もしくは出力側電極部14につながっている他のリード配線11に接続するためのめっき用リード配線(図示しない)を形成して、電気的に中立のインナーリードを含めてすべてのインナーリード12の電気めっきを行い、その後に、めっき用リード配線が形成されている部分にパンチングによりめっきリードカット孔Hを穿設して、そのめっき用リード配線を切断するようにしている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
このめっきリードカット孔Hの孔径は、たかだか1.0mm程度であるが、その孔内には入力側電極部13もしくは出力側電極部14につながっているリード配線の端面が露出しているため、例えばフレキシブル基板10に他の回路基板が重ねられる場合には、何らかの原因で電気的に導通するおそれがある。
【0010】
そこで、従来では、めっきリードカット孔Hに絶縁テープを貼るようにしているが、その分、作業工数が増えるため生産性の面で好ましくない。また、熱的影響や外部衝撃などにより絶縁テープが剥がれてしまうこともある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記した課題を解決するためになされたもので、めっきが施された多数のインナーリードを有するチップ部品配設部内にチップ部品が配置され、上記チップ部品の周りから上記チップ部品配設部の周縁にかけて上記チップ部品配設部が封止樹脂で充填されているとともに、特定の上記インナーリードをめっきするために形成されためっき用リード配線を切断するめっきリードカット孔を備えているフレキシブル基板において、上記めっきリードカット孔が、上記チップ部品配設部の周縁で上記封止樹脂の塗布領域内に配置されていることを特徴としている。
【0012】
この構成によれば、チップ部品の周りからチップ部品配設部の周縁にかけて封止樹脂を塗布する際に、その封止樹脂にてめっきリードカット孔が塞がれるため、絶縁テープ貼り作業が不要となる。また、封止樹脂はめっきリードカット孔内にも入り込むため、熱的影響や外部衝撃などにより、剥がれ落ちるおそれもない。
【0013】
【発明の実施の形態】
次に、図1ないし図3を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は本発明によるフレキシブル基板の平面図、図2は図1のA−A線拡大断面図、図3は封止樹脂が塗布される前のチップ部品配設部であるデバイスホール部分を示す一部拡大平面図である。なお、上記従来技術で説明した部分と同一もしくは同一と見なされてよい部分には、それと同じ参照符号を用いる。
【0014】
この実施形態はTCPについてのもので、図1に示すように、このフレキシブル基板10Aは、入力側電極部13と出力側電極部14とを備え、これらの間には、液晶ドライバ用のチップ部品である例えばLSIチップ30を配置するためのデバイスホール20が穿設されている。
【0015】
図2に示すように、デバイスホール20内には、ベースフィルム101上に形成された例えば銅箔よりなるリード配線11から引き出された多数のインナーリード12が露出しており、このインナーリード12にLSIチップ30のバンプ31がハンダ付けされる。
【0016】
インナーリード12にLSIチップ30を接続した後に、そのハンダ付け部分を保護するため、LSIチップ30の周りからデバイスホール20の周縁にかけて、デバイスホール20を埋めるように所定の封止樹脂40が塗布・充填される。
【0017】
インナーリード12には、図3に示す特定のインナーリード12a,12bが含まれており、そのリード配線11a,11bを除いて、他のインナーリード12のリード配線11は、入力側電極部13もしくは出力側電極部14のいずれかとつながっている。なお、リード配線11a,11bを含めてすべてのリード配線11は、ソルダレジスト102にて被覆されている。
【0018】
この実施形態において、特定のインナーリード12a,12bは、それらのリード配線11a,11b間が短絡されていて、かつ、入力側電極部13もしくは出力側電極部14のいずれにも接続されていない電気的に中立なジャンパ端子である。したがって、インナーリード12a,12bによって、LSIチップ30の所定のバンプ31間が短絡される。
【0019】
インナーリード12は剥き出し状態であり、このままでは酸化したり、水分にて腐蝕するおそれがあるため電気めっきを行う。すなわち、フレキシブル基板10Aを目的とする金属の塩を含有した溶液中に浸漬し、入力側電極部13と出力側電極部14とを陰極として電流を流して、インナーリード12にめっきを施すのであるが、特定のインナーリード12a,12bは、入力側電極部13もしくは出力側電極部14のいずれにも接続されていないため、このままではめっきできない。
【0020】
そこで、図3に示すように、特定のインナーリード12a,12bのリード配線11a,11bと例えば直近に配置されるリード配線11との間に、めっき用リード配線110を形成して、特定のインナーリード12a,12bにもめっき電流が流れるようにしている。なお、めっき用リード配線110は、リード配線形成工程において同時に形成される。
【0021】
このめっき用リード配線110は、めっき後においては用済み的な存在で、これが残されると却って特定のインナーリード12a,12bがジャンパ端子としての役割を果たさなくなり、LSIチップ30が正常に動作しなくなることがある。
【0022】
そこで、めっき後に、めっき用リード配線110が存在する箇所に、めっきリードカット孔Hを例えばパンチングやドリルにて穿設して、めっき用リード配線110を断線するのであるが、本発明では、めっき後で封止樹脂40を塗布する前の間に、図1に示すように、デバイスホール20の周縁で上記封止樹脂40の塗布領域内にめっきリードカット孔Hを穿設する。
【0023】
これによれば、デバイスホール20内にLSIチップ30を配置し、そのバンプ31とインナーリード12とを接合した後、LSIチップ30の周りからデバイスホール20の周縁にかけて、デバイスホール20を埋めるように所定の封止樹脂40を塗布する際に、その封止樹脂40によってめっきリードカット孔Hが塞がれる。
【0024】
したがって、めっきリードカット孔Hを従来技術で説明したように絶縁テープでわざわざ塞ぐ必要がなくなる。また、封止樹脂40がめっきリードカット孔H内にも入り込むため、熱的影響や外部衝撃などにより、封止樹脂40がめっきリードカット孔Hから剥がれ落ちるおそれもない。
【0025】
上記実施形態では、特定のインナーリード12a,12bをジャンパー端子として説明したが、これは一例であって、本発明において、特定のインナーリードとは、入力側電極部13もしくは出力側電極部14のいずれにも接続されていない電気的に中立のインナーリードのすべてを含む。
【0026】
また、封止樹脂40の塗布領域も、設計上許される範囲内で任意に決めることができる。搭載されるチップ部品にはLSIチップのほかにICチップなども含まれる。また、上記実施形態では、液晶ドライバとして広く使用されているTCPとしてのフレキシブル基板について説明したが、本発明はTCPに限定されるものでもなく、デバイスホール20が形成されていないフレキシブル基板、例えばCOF(Chip on Film)にも適用することができる。
【0027】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、めっきが施された多数のインナーリードを有するチップ部品配設部内にチップ部品が配置され、上記チップ部品の周りから上記チップ部品配設部の周縁にかけて上記チップ部品配設部が封止樹脂で充填されているとともに、特定の上記インナーリードをめっきするために形成されためっき用リード配線を切断するめっきリードカット孔を備えているフレキシブル基板において、上記めっきリードカット孔を、上記チップ部品配設部の周縁で上記封止樹脂の塗布領域内に配置したことにより、チップ部品の周りからチップ部品配設部の周縁にかけて封止樹脂を塗布する際に、その封止樹脂にてめっきリードカット孔が塞がれるため、絶縁テープ貼り作業が不要となる。また、封止樹脂はめっきリードカット孔内にも入り込むため、熱的影響や外部衝撃などにより、剥がれ落ちるおそれもない、という効果が奏される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるフレキシブル基板の平面図。
【図2】図1のA−A線拡大断面図。
【図3】本発明において、封止樹脂が塗布される前のデバイスホール部分を示す一部拡大平面図。
【図4】従来技術によるフレキシブル基板の平面図。
【図5】図4の右側面図。
【符号の説明】
10A フレキシブル基板
11,11a,11b リード配線
110 めっき用リード配線
12,12a,12b インナーリード
13 入力側電極部
14 出力側電極部
20 デバイスホール
30 LSIチップ
31 バンプ
40 封止樹脂
H めっきリードカット孔
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a flexible board, and more specifically, a flexible board having a plating lead cut hole for cutting a specific plating lead wiring formed to plate an inner lead exposed in a chip component placement portion. It relates to a substrate.
[0002]
[Prior art]
As a liquid crystal driver package, as shown in FIG. 4, for example, a TCP (Tape Carrier Package) in which an LSI chip 30 is disposed in a device hole 20 which is a chip component disposition portion of the flexible substrate 10 is widely used. .
[0003]
A large number of inner leads 12 drawn from the lead wiring 11 formed on the flexible substrate 10 are exposed in the device hole 20, and bumps of the LSI chip 30 are connected to the inner leads 12.
[0004]
Thereafter, in order to protect the connection portion, as shown in FIG. 5, the sealing resin 40 is filled from the periphery of the LSI chip 30 to the periphery of the device hole 20 so as to fill the device hole 20.
[0005]
The lead wiring 11 is covered with a solder resist. However, since the inner lead 12 is exposed, it may be oxidized or corroded with moisture. In order to prevent this, for example, the inner lead 21 is plated with gold.
[0006]
In many cases, the inner lead 12 is plated by an electroplating method. That is, the flexible substrate 10 is immersed in a solution containing a target metal salt, and the current is passed through the lead wires 11 by using the input electrode portion 13 and the output electrode portion 14 as cathodes. A metal film is formed on the inner lead 12.
[0007]
By the way, if there is an independent electrically neutral inner lead that is not connected to either the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14, such as a jumper terminal, in the inner lead 12, The electrically neutral inner lead will not be plated.
[0008]
Therefore, a lead wire for plating (not shown) for connecting the electrically neutral inner lead to another lead wire 11 connected to the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14 is formed. In general, all of the inner leads 12 including the neutral inner lead are electroplated, and thereafter, a plating lead cut hole H is formed by punching in the portion where the lead wiring for plating is formed. The lead wiring is cut.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
The hole diameter of the plating lead cut hole H is at most about 1.0 mm, but since the end face of the lead wiring connected to the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14 is exposed in the hole, For example, when another circuit board is stacked on the flexible board 10, there is a risk of electrical conduction for some reason.
[0010]
Therefore, conventionally, an insulating tape is applied to the plating lead cut hole H. However, since the number of work steps increases, it is not preferable in terms of productivity. In addition, the insulating tape may be peeled off due to thermal influence or external impact.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has been made in order to solve the above-described problems. A chip component is arranged in a chip component arrangement portion having a plurality of plated inner leads, and the chip component arrangement is arranged around the chip component. The chip component placement portion is filled with sealing resin over the periphery of the installation portion, and has a plating lead cut hole for cutting a plating lead wiring formed for plating the specific inner lead. The flexible substrate is characterized in that the plating lead cut hole is arranged in the sealing resin application region at the periphery of the chip component arrangement portion.
[0012]
According to this configuration, when the sealing resin is applied from the periphery of the chip component to the periphery of the chip component placement portion, the plating lead cut hole is closed by the sealing resin, so that an insulating tape attaching work is not required. It becomes. Further, since the sealing resin also enters the plating lead cut hole, there is no possibility of peeling off due to thermal influence or external impact.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 is a plan view of a flexible substrate according to the present invention, FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1, and FIG. 3 shows a device hole portion which is a chip component placement portion before a sealing resin is applied. It is a partially enlarged plan view. Note that the same reference numerals are used for portions that may be considered the same as or the same as the portions described in the above prior art.
[0014]
This embodiment relates to a TCP. As shown in FIG. 1, the flexible substrate 10A includes an input side electrode portion 13 and an output side electrode portion 14, and a chip component for a liquid crystal driver is interposed between them. For example, a device hole 20 for placing an LSI chip 30 is formed.
[0015]
As shown in FIG. 2, a large number of inner leads 12 drawn from a lead wiring 11 made of, for example, copper foil formed on the base film 101 are exposed in the device hole 20. The bumps 31 of the LSI chip 30 are soldered.
[0016]
After the LSI chip 30 is connected to the inner lead 12, a predetermined sealing resin 40 is applied to fill the device hole 20 from around the LSI chip 30 to the periphery of the device hole 20 in order to protect the soldered portion. Filled.
[0017]
The inner leads 12 include the specific inner leads 12a and 12b shown in FIG. 3. Except for the lead wires 11a and 11b, the lead wires 11 of the other inner leads 12 are connected to the input side electrode portion 13 or It is connected to one of the output side electrode portions 14. All the lead wires 11 including the lead wires 11a and 11b are covered with a solder resist 102.
[0018]
In this embodiment, the specific inner leads 12a, 12b are short-circuited between the lead wires 11a, 11b and are not connected to either the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14. Neutral jumper terminal. Therefore, the predetermined leads 31 of the LSI chip 30 are short-circuited by the inner leads 12a and 12b.
[0019]
The inner lead 12 is bare and may be oxidized or corroded with moisture, so electroplating is performed. That is, the inner lead 12 is plated by immersing the flexible substrate 10A in a solution containing a target metal salt and passing an electric current with the input side electrode portion 13 and the output side electrode portion 14 as cathodes. However, since the specific inner leads 12a and 12b are not connected to either the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14, they cannot be plated as they are.
[0020]
Therefore, as shown in FIG. 3, a plating lead wiring 110 is formed between the lead wirings 11a and 11b of the specific inner leads 12a and 12b and, for example, the lead wiring 11 arranged closest to the specific inner leads 12a and 12b. A plating current also flows through the leads 12a and 12b. The plating lead wiring 110 is formed at the same time in the lead wiring forming step.
[0021]
The plating lead wiring 110 is used after plating. If the lead wiring 110 is left, the specific inner leads 12a and 12b do not function as jumper terminals, and the LSI chip 30 does not operate normally. Sometimes.
[0022]
Therefore, after plating, a plating lead cut hole H is formed in a place where the plating lead wiring 110 exists, for example, by punching or drilling, and the plating lead wiring 110 is disconnected. Before applying the sealing resin 40 later, as shown in FIG. 1, a plating lead cut hole H is formed in the application region of the sealing resin 40 at the periphery of the device hole 20.
[0023]
According to this, the LSI chip 30 is arranged in the device hole 20, the bump 31 and the inner lead 12 are joined, and then the device hole 20 is filled from around the LSI chip 30 to the periphery of the device hole 20. When the predetermined sealing resin 40 is applied, the plating lead cut hole H is closed by the sealing resin 40.
[0024]
Therefore, it is not necessary to bother the plating lead cut hole H with the insulating tape as described in the prior art. Further, since the sealing resin 40 also enters the plating lead cut hole H, there is no possibility that the sealing resin 40 is peeled off from the plating lead cut hole H due to a thermal influence or an external impact.
[0025]
In the above embodiment, the specific inner leads 12a and 12b have been described as jumper terminals. However, this is an example, and in the present invention, the specific inner lead refers to the input side electrode portion 13 or the output side electrode portion 14. Includes all electrically neutral inner leads that are not connected to either.
[0026]
Further, the application region of the sealing resin 40 can also be arbitrarily determined within a range allowed in design. The chip components to be mounted include IC chips in addition to LSI chips. In the above embodiment, a flexible substrate as a TCP widely used as a liquid crystal driver has been described. However, the present invention is not limited to the TCP, and a flexible substrate in which the device hole 20 is not formed, for example, a COF (Chip on Film) can also be applied.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the chip component is arranged in the chip component arrangement portion having a large number of plated inner leads, and extends from the periphery of the chip component to the periphery of the chip component arrangement portion. In the flexible substrate in which the chip component placement portion is filled with a sealing resin and has a plating lead cut hole for cutting a plating lead wiring formed for plating the specific inner lead. When the sealing resin is applied from the periphery of the chip component to the periphery of the chip component arrangement portion by arranging the plating lead cut hole in the application region of the sealing resin at the periphery of the chip component arrangement portion. Since the plating lead cut hole is closed by the sealing resin, an insulating tape attaching operation is not necessary. Further, since the sealing resin also enters the plating lead cut hole, there is an effect that there is no possibility of peeling off due to thermal influence or external impact.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view of a flexible substrate according to the present invention.
FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line AA in FIG.
FIG. 3 is a partially enlarged plan view showing a device hole portion before a sealing resin is applied in the present invention.
FIG. 4 is a plan view of a flexible substrate according to the prior art.
FIG. 5 is a right side view of FIG. 4;
[Explanation of symbols]
10A Flexible substrate 11, 11a, 11b Lead wiring 110 Plating lead wiring 12, 12a, 12b Inner lead 13 Input side electrode part 14 Output side electrode part 20 Device hole 30 LSI chip 31 Bump 40 Sealing resin H Plating lead cut hole

Claims (1)

めっきが施された多数のインナーリードを有するチップ部品配設部内にチップ部品が配置され、上記チップ部品の周りから上記チップ部品配設部の周縁にかけて上記チップ部品配設部が封止樹脂で充填されているとともに、特定の上記インナーリードをめっきするために形成されためっき用リード配線を切断するめっきリードカット孔を備えているフレキシブル基板において、
上記めっきリードカット孔が、上記チップ部品配設部の周縁で上記封止樹脂の塗布領域内に配置されていることを特徴とするフレキシブル基板。
A chip component is arranged in a chip component arrangement portion having a large number of plated inner leads, and the chip component arrangement portion is filled with sealing resin from the periphery of the chip component to the periphery of the chip component arrangement portion. In a flexible substrate having a plating lead cut hole for cutting a lead wire for plating formed to plate the specific inner lead,
The flexible substrate, wherein the plating lead cut hole is disposed in a coating region of the sealing resin at a peripheral edge of the chip component disposition portion.
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