JP3909366B2

JP3909366B2 - Low dielectric constant porcelain composition and method for producing substrate for electronic circuit using the porcelain composition

Info

Publication number: JP3909366B2
Application number: JP2001254877A
Authority: JP
Inventors: 寿文山元; 良男築山
Original assignee: Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc; Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc; Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 2001-08-24
Filing date: 2001-08-24
Publication date: 2007-04-25
Anticipated expiration: 2021-08-24
Also published as: JP2003063857A

Description

【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、数GHzから数十GHzの高周波領域で使用する電子部品やモジュールに好適な誘電体の磁器組成物およびその磁器組成物を用いた電子回路用基板の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、情報の高速大量伝達通信および移動体通信の発達にともない、基板上の集積回路においては、小型化、高密度化ばかりでなく、取り扱われる信号に数GHzさらにはそれ以上の帯域の周波数の利用が検討されており、基板に用いられる誘電体の磁器組成物に対しても、このような高周波帯域に適合した材料が要望されている。この磁器組成物に要求される性能は、高周波帯域において比誘電率が低いこと、誘電損失tanδが小さいことすなわちＱ値が高いことである。
【０００３】
一般に、比誘電率が低いほど誘電体中の信号伝搬速度は速くなるので、高周波帯域の用途には比誘電率ε_ｒは低いことが望ましい。そして信号伝達の上で損失は少なければ少ないほどよく、Ｑ値はできるだけ高くする必要がある。また、誘電体としての機能は例えばフィルタや共振器などに利用されるが、その際に温度変化に対して安定な作動をさせるためには、共振周波数の温度係数τ_ｆの絶対値はできるだけ小さいこと、すなわち温度依存性の少ないことが重要になる。
【０００４】
実装基板に内部導体や内部電極として利用される導電材料は、小型化、高密度化から細線化が要求されることもあって、比抵抗値が高ければそれだけ損失が増し、さらには発熱の原因となるので、できるだけ低抵抗であることが望ましい。このような低抵抗材料は、Ａｇ、ＣｕまたはＡｕなどであるが、これらの金属はいずれも融点が1000℃前後と低い。
【０００５】
磁器組成物を基板とする集積回路は、グリーンシートにペースト状の導電体素材を用いて回路パターンを印刷し、これらのシートを積層して一体化焼成により、導電材料と磁器組成物とが同時に焼結され形成される。しかし、焼成温度が導体金属の融点近くさらには融点以上になると拡散や流動化が生じ、とくにＡｇの場合、導体が細くなったり消失してしまうおそれがある。このため、磁器組成物としては1000℃以下の焼成温度で焼結できるものでなければならない。
【０００６】
このような低温での焼成が可能な磁器組成物として、いわゆるガラスセラミックスがある。これは、ガラスにセラミックスの骨材を混在させたもので、ガラスの軟化により低温での焼結を可能にしており、骨材とガラスとの組み合わせで様々な改良が行われている。たとえば特開平10-297960号公報に開示された発明は、骨材としてオルト珪酸亜鉛（Ｚｎ_２ＳｉＯ_４）およびクリストバライト（ＳｉＯ_２）、ガラスとしてＳｉＯ_２−Ｌｉ_２Ｏ−ＺｎＯを用い、焼成温度は800〜1000℃で損失が小さく誘電率の低いセラミックスが得られるとしている。
【０００７】
しかしながらガラスセラミックスはガラス組成が多いので、一般に比誘電率は低いがＱ値も低く、したがって高周波帯域における損失が大きく、その上共振周波数の温度係数τ_ｆが大きいため、周波数帯域が高くなるとこれらによる性能低下が問題化してくる。また多くの場合、ガラス組成とセラミックス組成とを別々に作製し、これらを混合してグリ−ンシートとするので製造工程が繁雑である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、低温焼結が可能で、比誘電率が低く高周波帯域での損失が小さく、かつ温度依存性の小さい低誘電率磁器組成物とその磁器組成物を用いた電子回路用基板の製造方法の提供にある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、2GHzまたはそれ以上の高周波帯域で電子回路用基板として使用される磁器組成物の性能を改善すべく種々検討をおこなった。ここで比誘電率ε_r、誘電損失tanδおよび温度係数τ_fは、いずれも両端短絡形誘電体共振器法（ハッキ・コールマン法）を用いて測定した。その際に目標とした性能は、比誘電率ε_rが10以下と低く、Ｑ（誘電正接tanδの逆数）と周波数ｆ（GHzで表示）との積が3500以上で、共振周波数の温度係数が−30〜＋30ppm／℃であり、そして、基板作製のための焼成温度すなわち焼結可能温度は、Ａｇ導体の適用可能限界である950℃またはそれ以下であることとした。
【００１０】
Ｑ値には周波数依存性があり周波数が高くなると低下の傾向を示すので、材料によりほぼ一定の値を示すとされるｆＱ値（ｆとＱとの積の値）の大小で、損失の優劣を比較することにした。種々の磁器組成物にてその性能を比較検討した結果、在来材よりすぐれていると判断されたのは、上記のようにｆＱ値が3500以上の材料である。共振周波数の温度依存性は、両端短絡形誘電体共振器法にて共振周波数の温度係数τ_ｆとして計測されるが、このτ_ｆが−30〜＋30ppm／℃、すなわちその絶対値が30ppm／℃より小さければ、在来材より改善できていると考えられる。
【００１１】
室温近傍における比抵抗の最も低い材料であるＡｇを導体として用いるには、磁器組成物の焼成温度はＡｇの融点960.5℃以下にすべきであり、拡散や磁器組成物との反応を配慮すれば、950℃以下で、十分緻密な強度のある焼結体にする必要がある。
【００１２】
ガラスまたはガラスセラミックスはこのような低温での焼結が可能であるが、前述のようにＱ値が小さいため損失が大きく、温度依存性も大きいので、セラミックスの磁器組成物で、上記の目標性能を実現する可能性について検討した。まずセラミックスを構成する成分としてのＳｉＯ_２とＺｎＯとは、比誘電率が低く高いＱ値の高周波用の磁器組成物を得るためには必須であると考えられた。そこで、これら２成分を主要組成とし、種々の成分含有による焼結温度の低下を検討した。
【００１３】
その結果、Ｂｉ_２Ｏ_３、Ｋ_２Ｏ、ＣｕＯおよびＬｉ_２Ｏの４成分の複合添加が、焼結温度の低下にきわめて有効であることが見出された。これらの各成分は、焼結温度の低下に効果があるが、単独では多くの含有を必要とし、そうするとＱ値が大きく低下してくる。これに対し複合して添加すると、それぞれの成分個々の効果は必ずしも明らかではないが、Ｑ値の低下を少なくして、大きく焼結温度を低下させることができたのである。
【００１４】
このようにして得られた組成物に、さらにＴｉＯ_２とＭｇＯとを併せて含有させると、Ｑ値の低下や比誘電率の増大を少なくして共振周波数の温度係数τ_ｆを小さくすることができた。ＴｉＯ_２を含有させるとτ_ｆが小さくなる。ところが、それとともに比誘電率が高くなり、加えてＱ値が大幅に低下する。これに対し、ＭｇＯを併せて含有させると、Ｑ値の大幅低下なしにτ_ｆを小さくできることがわかったのである。ＭｇＯのみの添加ではτ_ｆを小さくする効果はなく、Ｑ値が多少改善されるだけであった。ＴｉＯ_２に併せて添加することによりこのような効果が得られるが、その理由は明らかでない。
【００１５】
以上のような検討結果から、さらにそれぞれの成分含有の効果を有効に発揮できる限界を確認して本発明を完成させた。本発明の要旨は次のとおりである。
(1)酸化物組成比として質量％で、ＳｉＯ₂：18.0〜40.0％、ＺｎＯ：30.0〜54.0％、Ｂｉ₂Ｏ₃：1.0〜6.0％、ＭｇＯ：1.0〜6.0％、ＴｉＯ₂：4.0〜12.4％、Ｌｉ₂Ｏ：0.2〜1.1％、Ｋ₂Ｏ：3.0〜7.4％およびＣｕＯ：0.5〜3.7％を含有することを特徴とする低誘電率磁器組成物。
(2)各酸化物の粉末原料を所要量配合しボールミルにて湿式混合して、乾燥後700〜900℃にて仮焼後粉砕整粒した後、バインダを添加して混練し成形して、導電体の印刷および積層をおこなってから、800〜950℃にて焼結することを特徴とする、酸化物組成比として質量％で、ＳｉＯ ₂ ： 18.0 〜 40.0 ％、ＺｎＯ： 30.0 〜 54.0 ％、Ｂｉ ₂ Ｏ ₃ ： 1.0 〜 6.0 ％、ＭｇＯ： 1.0 〜 6.0 ％、ＴｉＯ ₂ ： 4.0 〜 12.4 ％、Ｌｉ ₂ Ｏ： 0.2 〜 1.1 ％、Ｋ ₂ Ｏ： 3.0 〜 7.4 ％およびＣｕＯ： 0.5 〜 3.7 ％を含有する磁器組成物を用いた電子回路用基板の製造方法。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の低誘電率磁器組成物の成分組成範囲を以下のとおりに限定する。ここで含有組成は酸化物の形で表した質量％である。
【００１７】
ＳｉＯ_２の含有範囲は18.0〜40.0％とする。これは含有量が18.0％未満であっても40.0％を超えても、高周波域におけるＱ値が低下するからである。望ましいのは19.4〜39.7％である。
【００１８】
ＺｎＯは30.0〜54.0％とする。ＳｉＯ_２と共に含有させることにより強度、密度、絶縁性、熱伝導度など、磁器組成物の基本的特性を具現させる。30.0％未満の場合、950℃以下の焼成温度では焼結が不十分となって緻密な磁器組成物にならず機械的強度が不足し、54.0％を超えて含有するとＱ値が低下する。望ましいのは32.1〜50.8％である。
【００１９】
Ｂｉ_２Ｏ_３は1.0〜6.0％、Ｋ_２Ｏは3.0〜7.4％、Ｌｉ_２Ｏは0.2〜1.1％、そしてＣｕＯは0.5〜3.7％をそれぞれ含有させる。これらの成分を同時に含有させた組成とすることにより、焼成温度が950℃以下で緻密な強度の十分大きい磁器組成物に焼結することができる。それぞれの成分はいずれも上記の下限量を下回ると焼結温度低下の効果が十分でなくなり、緻密な磁器組成物が得られない。しかしいずれも上記の上限値を超えて含有させると、Ｑ値が低下し損失が増加する。より好ましい含有範囲は、それぞれＢｉ_２Ｏ_３は1.2〜5.0％、Ｋ_２Ｏは3.0〜7.0％、Ｌｉ_２Ｏは0.2〜1.0％、そしてＣｕＯは1.0〜3.3％である。
【００２０】
ＴｉＯ_２は4.0〜12.4％、ＭｇＯは1.0〜6.0％を併せて含有させる。ＴｉＯ_２は共振周波数の温度係数を小さくするために含有させるが、この効果を得るには4.0％以上の含有が必要である。しかし比誘電率が高くなり、Ｑ値が低下してくるのでＴｉＯ_２の含有量は12.4％以下にしなければならない。ＭｇＯはこのＴｉＯ_２含有による比誘電率の増大およびＱ値の低下を抑止する作用があり、その効果を得るために少なくとも1.0％以上含有させる。しかしＭｇＯは焼結性を悪くするので、多くても6.0％までとする。好ましい含有範囲はＴｉＯ_２が4.4〜11.8％、ＭｇＯが1.1〜5.5％である。
【００２１】
上記以外の成分としては、原料に混入してくる種々の不純物があるが、磁器組成物の特性に悪影響をおよぼさないものであれば、とくには限定しない。
【００２２】
磁器組成物の製造は、通常のセラミックを焼結する方法に準じておこなえばよいが、原料となる各成分のそれぞれの酸化物粉末を所要量用意し、ボールミルにて十分に混合する。酸化物粉末はＫ_２Ｏのように吸湿性のある不安定な材料の場合、炭酸塩など他の形のものを用いてもよく、その場合は焼結後の酸化物量に相当するモル分量の粉末を配合する。混合後仮焼して、セラミックの形成反応がおこなわれていることを確認してから粉砕整粒する。仮焼は最終焼成にて十分に焼結させるためには低い温度でおこなうことが望ましいが、低すぎるとセラミックの形成反応が生じないので、700〜900℃とするのがよい。
【００２３】
整粒粉にバインダ等を添加して混練し成形して、必要により導電回路の印刷、積層、最終形状への加工等をおこなって、800〜950℃で焼成し磁器組成物とする。焼成温度は800℃未満では焼結が十分おこなわれず、緻密性に欠け機械的強度が得られないことがある。また内部導体にＡｇを用いるときは導体の流失や拡散消失を引き起こすことがあるので、焼成温度を950℃までとするのがよい。なお、内部導体にＣｕを用いる場合、950℃を超えて焼成をおこなってもよいが、Ｃｕの酸化を抑止するため、酸素を含まない例えば窒素雰囲気など不活性雰囲気とする必要がある。その場合、保持台などとの焼き付きを生じる恐れがあるので、1000℃までとすることが好ましい。
【００２４】
【実施例】
95％以上の高純度のＳｉＯ_２、ＺｎＯ、Ｂｉ_２Ｏ_３、ＭｇＯ、ＴｉＯ_２、Ｋ_２Ｏ（Ｋ_２ＣＯ_３として）およびＣｕＯの粉末原料にて表１の組成の配合とし、磁器組成物を作製した。
【００２５】
所定の組成に配合した原料粉末をジルコニア製ボールのボールミルを用い、純水を加えて24時間湿式混合し、乾燥後ライカイ機にて攪拌した後、約750℃で2時間仮焼した。仮焼後Ｘ線回折により、焼結反応がおこなわれたことを確認し、さらにジルコニア製ボールのボールミルにて純水を加えて24時間粉砕して、粒径1〜4μmの粉末とした。乾燥後10％ＰＶＡ水溶液のバインダーを加えて造粒し、金型を用い1t／cm^２の圧力にて直径15mm、高さ8mmの円柱状に成形後、大気中で焼成をおこなって試片を作製した。
【００２６】
その場合、各試料は一部の試片を用いてあらかじめ840〜980℃温度で試験的に焼成して、十分な緻密化に必要な温度を見出し、その温度を焼成温度として該当試料の全試片の焼成をおこなった。焼成時間はいずれも2時間である。
【００２７】
焼成後の焼結体は、底面を研磨し平滑にしてから両端短絡形誘電体共振器法により比誘電率ε_ｒおよび誘電損失tanδ（またはＱ＝1／tanδ）を求めた。誘電損失は測定共振周波数ｆにより変化するので、周波数に影響されず被測定材で一定の値になるとされるｆとＱとの積のｆＱ値で損失の大小を評価した。共振周波数の温度係数τ_ｆは、−25℃から85℃までの温度範囲で共振周波数を測定し、25℃における共振周波数ｆ_０を基準としてその変化率から求めた。これらの測定結果を併せて表２に示す。
【００２８】
【表１】

【００２９】
【表２】

【００３０】
表２の結果からわかるように、各酸化物成分の含有量が本発明にて定める範囲内である試番1〜20では、焼成温度すなわち焼結可能温度が、Ａｇ導体の適用可能限界である950℃またはそれ以下であり、当初目標とした比誘電率ε_ｒが10以下で、Ｑｆ値が3500以上、共振周波数の温度係数τ_ｆが−30〜＋30ppm／℃のものが得られている。
【００３１】
これに対し、組成が本発明で規定した範囲を外れると、上述の特性のすべてを満足する磁器組成物が得られない。例えば、Ｌｉ_２Ｏが規定範囲より低い試番36ではｆＱ値が高くτ_ｆが小さいすぐれたものが得られるが、その特性を得るための必要焼成温度は980℃と高く、Ａｇの導体使用には不適当である。Ｂｉ_２Ｏ_３を規定範囲より多く含む試番29では860℃で焼結でき、比誘電率ε_ｒが低く温度係数τ_ｆは小さいが、ｆＱ値が低く損失が大きい。また、試番38では低い比誘電率で高いｆＱ値が低い焼成温度で得られているが、ＴｉＯ_２の量が規定範囲を下回っており、温度係数τ_ｆが大きな値を示している。
【００３２】
なお、試番32および34は、Ｑ値が低すぎ、両端短絡形誘電体共振器法では、これらの特性が測定できなかった。
【００３３】
このように、本発明の低誘電率磁器組成物は、比誘電率が低く高周波帯域における損失が低く、温度依存性が小さいものであり、しかも低い焼成温度でその特性を得ることができる。
【００３４】
【発明の効果】
本発明の低誘電率磁器組成物は、比誘電率が低く高周波帯域における損失が低く、温度依存性が小さいものであり、しかも低い焼成温度でその特性を得ることができる。したがって、内部導体や電極として比抵抗の低いＡｇを使用することができ、すぐれた高周波性能と相俟って、電子回路の高周波化、小型化、高密度化のための基板用等の用途に好適である。[0001]
[Technical field to which the invention belongs]
The present invention relates to a dielectric porcelain composition suitable for an electronic component or module used in a high frequency region of several GHz to several tens of GHz, and a method for manufacturing an electronic circuit board using the porcelain composition .
[0002]
[Prior art]
In recent years, with the development of high-speed mass communication and mobile communication of information, in the integrated circuit on the substrate, not only miniaturization and high density, but also the signal to be handled has a frequency of several GHz or more. Utilization has been studied, and a material suitable for such a high frequency band is also demanded for a dielectric ceramic composition used for a substrate. The performance required for this porcelain composition is that the relative permittivity is low in the high frequency band, the dielectric loss tan δ is small, that is, the Q value is high.
[0003]
In general, the lower the relative permittivity, the faster the signal propagation speed in the dielectric, so it is desirable that the relative permittivity ε _r be low for high frequency band applications. The smaller the loss in signal transmission, the better. The Q value should be as high as possible. In addition, the function as a dielectric is used for, for example, a filter or a resonator. In this case, the absolute value of the temperature coefficient τ _f of the resonance frequency is as small as possible in order to perform a stable operation against a temperature change. That is, it is important that the temperature dependency is small.
[0004]
Conductive materials used as internal conductors and internal electrodes on the mounting substrate may be required to be thinned due to miniaturization and high density, so the higher the specific resistance value, the more the loss increases and the cause of heat generation Therefore, it is desirable that the resistance is as low as possible. Such a low resistance material is Ag, Cu, Au, or the like, but these metals all have a melting point as low as about 1000 ° C.
[0005]
An integrated circuit using a porcelain composition as a substrate prints a circuit pattern using a paste-like conductor material on a green sheet, and laminates these sheets and fires them together so that the conductive material and the porcelain composition are simultaneously formed. Sintered and formed. However, when the firing temperature is close to the melting point of the conductor metal or higher than the melting point, diffusion and fluidization occur, and in particular, in the case of Ag, the conductor may become thin or disappear. For this reason, the porcelain composition must be capable of being sintered at a firing temperature of 1000 ° C. or less.
[0006]
As such a porcelain composition that can be fired at a low temperature, there is a so-called glass ceramic. This is a mixture of ceramic aggregates in glass, which makes it possible to sinter at low temperatures by softening the glass, and various improvements have been made by combining aggregates and glass. For example, in the invention disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-297960, zinc orthosilicate (Zn ₂ SiO ₄ ) and cristobalite (SiO ₂ ) are used as aggregates, and SiO ₂ —Li ₂ O—ZnO is used as glass. It is said that ceramics with low loss and low dielectric constant can be obtained at 800-1000 ° C.
[0007]
However, since glass ceramics have a large glass composition, the dielectric constant is generally low but the Q value is also low. Therefore, the loss in the high frequency band is large, and the temperature coefficient τ _{f of the} resonance frequency is large. Performance degradation becomes a problem. In many cases, the glass composition and the ceramic composition are prepared separately and mixed to obtain a green sheet, which makes the manufacturing process complicated.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
An object of the present invention is a low dielectric constant ceramic composition that can be sintered at low temperature, has a low relative dielectric constant, has a low loss in a high frequency band, and has a low temperature dependency, and a substrate for an electronic circuit using the ceramic composition To provide a manufacturing method.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The present inventors have made various studies to improve the performance of a porcelain composition used as an electronic circuit substrate in a high frequency band of 2 GHz or higher. Here, the relative permittivity ε _r , the dielectric loss tan δ, and the temperature coefficient τ _f were all measured by using a both-end short-circuited dielectric resonator method (Hack-Coleman method). The target performance at that time is that the relative dielectric constant ε _r is as low as 10 or less, the product of Q (reciprocal of dielectric loss tangent tan δ) and frequency f ( _{expressed in} GHz) is 3500 or more, and the temperature coefficient of the resonance frequency is The firing temperature for substrate production, that is, the sinterable temperature, was 950 ° C. or lower, which is the applicable limit of Ag conductors.
[0010]
Since the Q value has frequency dependency and tends to decrease as the frequency increases, the fQ value (the value of the product of f and Q), which is assumed to show a substantially constant value depending on the material, is superior or inferior in loss. Decided to compare. As a result of comparing and examining the performance of various porcelain compositions, it was determined that the material having an fQ value of 3500 or more was determined to be superior to conventional materials. The temperature dependence of the resonance frequency is measured as a temperature coefficient τ _f of the resonance frequency by the double-end short-circuited dielectric resonator method. This τ _f is −30 to +30 ppm / ° C., that is, its absolute value is 30 ppm / ° C. If it is smaller, it is considered that it is improved over conventional materials.
[0011]
In order to use Ag, which is the material having the lowest specific resistance near room temperature, as the conductor, the firing temperature of the porcelain composition should be below the melting point of Ag of 960.5 ° C., considering diffusion and reaction with the porcelain composition. It is necessary to make the sintered body sufficiently strong at 950 ° C. or less.
[0012]
Glass or glass-ceramics can be sintered at such a low temperature. However, as described above, since the Q value is small, the loss is large and the temperature dependence is large. We examined the possibility of realizing this. First, it was considered that SiO ₂ and ZnO as components constituting ceramics are indispensable for obtaining a high-frequency porcelain composition having a low relative dielectric constant and a high Q value. Therefore, these two components were used as main compositions, and the reduction of the sintering temperature due to the inclusion of various components was examined.
[0013]
As a result, it has been found that the combined addition of four components of Bi ₂ O ₃ , K ₂ O, CuO and Li ₂ O is extremely effective for lowering the sintering temperature. Each of these components is effective in lowering the sintering temperature, but it alone needs to be contained in a large amount, so that the Q value is greatly lowered. On the other hand, when added in combination, the effect of each component is not necessarily clear, but the decrease in the Q value can be reduced and the sintering temperature can be greatly reduced.
[0014]
When TiO ₂ and MgO are further contained in the composition thus obtained, the temperature coefficient τ _f of the resonance frequency can be reduced by reducing the decrease in the Q value and the increase in the relative dielectric constant. did it. When TiO ₂ is contained, τ _f becomes small. However, the relative dielectric constant increases with this, and in addition, the Q value significantly decreases. On the other hand, it has been found that when MgO is contained together, τ _f can be reduced without a significant decrease in the Q value. No effect of reducing the tau _f in the addition of MgO only, Q value was only slightly improved. Such an effect can be obtained by adding it together with TiO ₂ , but the reason is not clear.
[0015]
Based on the above examination results, the present invention was completed by confirming the limit of effectively exhibiting the effect of each component. The gist of the present invention is as follows.
(1) in mass% as the oxide composition _{ratio, SiO 2: 18.0~40.0%, ZnO} : 30.0~54.0%, Bi 2 O 3: 1.0~6.0%, MgO: 1.0~6.0%, TiO 2: 4.0~12.4 %, Li ₂ O: 0.2 to 1.1%, K ₂ O: 3.0 to 7.4%, and CuO: 0.5 to 3.7%.
(2) Each oxide powder raw material is blended in a required amount and wet-mixed in a ball mill, dried, calcined at 700 to 900 ° C., pulverized and sized, then added with a binder, kneaded and molded, After conducting printing and laminating of the conductor, it is sintered at 800 to 950 ° C. , and the oxide composition ratio is mass%, SiO ₂ : 18.0 to 40.0 %, ZnO: 30.0 to 54.0 %, _{_{Bi 2 O 3: 1.0 ~ 6.0}} %, MgO: 1.0 ~ 6.0%, TiO 2: 4.0 ~ 12.4%, Li 2 O: 0.2 ~ 1.1%, K 2 O: 3.0 ~ 7.4% and CuO: the 0.5 to 3.7% The manufacturing method of the board | substrate for electronic circuits using the porcelain composition containing .
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The component composition range of the low dielectric constant ceramic composition of the present invention is limited as follows. Here, the content composition is mass% expressed in the form of an oxide.
[0017]
The content range of SiO ₂ is 18.0 to 40.0%. This is because the Q value in the high-frequency region decreases even if the content is less than 18.0% or exceeds 40.0%. Desirable is 19.4 to 39.7%.
[0018]
ZnO is 30.0 to 54.0%. By incorporating it together with SiO ₂ , the basic characteristics of the porcelain composition such as strength, density, insulation and thermal conductivity are realized. When the content is less than 30.0%, sintering is insufficient at a firing temperature of 950 ° C. or lower, resulting in a dense porcelain composition and insufficient mechanical strength. When the content exceeds 54.0%, the Q value decreases. Desirable is 32.1 to 50.8%.
[0019]
Bi ₂ O ₃ contains 1.0 to 6.0%, K ₂ O contains 3.0 to 7.4%, Li ₂ O contains 0.2 to 1.1%, and CuO contains 0.5 to 3.7%. By using a composition containing these components at the same time, it can be sintered into a ceramic composition having a dense and sufficiently strong firing temperature of 950 ° C. or lower. If each component is less than the above lower limit, the effect of lowering the sintering temperature is not sufficient, and a dense porcelain composition cannot be obtained. However, if both are included exceeding the above upper limit value, the Q value decreases and the loss increases. More preferable content range is, _Bi 2 _{O 3} is 1.2 to 5.0%, respectively, _{K 2} O is 3.0 to 7.0% Li ₂ O 0.2 to 1.0%, and CuO is from 1.0 to 3.3%.
[0020]
TiO ₂ is contained in an amount of 4.0 to 12.4%, and MgO is contained in an amount of 1.0 to 6.0%. TiO ₂ is contained in order to reduce the temperature coefficient of the resonance frequency, but 4.0% or more is necessary to obtain this effect. However, since the relative permittivity increases and the Q value decreases, the content of TiO ₂ must be 12.4% or less. MgO has an action of suppressing the increase of the relative dielectric constant and the decrease of the Q value due to the inclusion of TiO _{2, and is} contained at least 1.0% in order to obtain the effect. However, MgO deteriorates the sinterability, so it is at most 6.0%. Preferred range of content TiO ₂ is 4.4 to 11.8%, MgO is 1.1 to 5.5%.
[0021]
The components other than the above are various impurities mixed into the raw material, but are not particularly limited as long as they do not adversely affect the characteristics of the porcelain composition.
[0022]
The production of the porcelain composition may be carried out in accordance with a method for sintering ordinary ceramics, but a required amount of each oxide powder of each component as a raw material is prepared and sufficiently mixed in a ball mill. When the oxide powder is a hygroscopic unstable material such as K ₂ O, other forms such as carbonate may be used, and in that case, the oxide powder has a molar amount corresponding to the oxide amount after sintering. Blend powder. After mixing, the mixture is calcined, and after confirming that the ceramic formation reaction has been performed, pulverization and sizing. The calcination is desirably performed at a low temperature in order to be sufficiently sintered in the final calcination, but if it is too low, a ceramic formation reaction does not occur.
[0023]
A binder or the like is added to the sized powder, kneaded and molded, and if necessary, the conductive circuit is printed, laminated, processed into a final shape, etc., and fired at 800 to 950 ° C. to obtain a porcelain composition. When the firing temperature is less than 800 ° C., sintering is not sufficiently performed, and the mechanical strength may not be obtained due to lack of denseness. When Ag is used for the inner conductor, the conductor may be lost or diffused, so the firing temperature should be up to 950 ° C. In addition, when using Cu for an internal conductor, you may bake over 950 degreeC, However, In order to suppress the oxidation of Cu, it is necessary to set it as inert atmospheres, such as nitrogen atmosphere which does not contain oxygen. In that case, it is preferable to set the temperature up to 1000 ° C. because there is a possibility that seizure with a holding table or the like may occur.
[0024]
【Example】
A porcelain composition having a composition of Table 1 composed of powder materials of high purity SiO ₂ , ZnO, Bi ₂ O ₃ , MgO, TiO ₂ , K ₂ O (as K ₂ CO ₃ ) and CuO having a purity of 95% or more Was made.
[0025]
The raw material powder blended in a predetermined composition was added with pure water using a ball mill made of zirconia balls, wet-mixed for 24 hours, dried and stirred with a laika machine, and calcined at about 750 ° C. for 2 hours. After calcination, it was confirmed by X-ray diffraction that a sintering reaction was performed, and further, pure water was added in a ball mill made of zirconia balls and pulverized for 24 hours to obtain powder having a particle diameter of 1 to 4 μm. After drying, add a binder of 10% PVA aqueous solution, granulate it, mold it into a cylindrical shape with a diameter of 15mm and a height of 8mm at a pressure of 1t / cm ² using a mold, and then fire it in the air to make a specimen. Produced.
[0026]
In that case, each sample is preliminarily baked experimentally at a temperature of 840 to 980 ° C. using a part of the sample, and a temperature necessary for sufficient densification is found. The piece was fired. Both firing times are 2 hours.
[0027]
The sintered body after firing was smoothed by polishing the bottom surface, and then the relative permittivity ε _r and the dielectric loss tan δ (or Q = 1 / tan δ) were determined by a double-end short-circuited dielectric resonator method. Since the dielectric loss varies depending on the measurement resonance frequency f, the magnitude of the loss was evaluated by the fQ value of the product of f and Q, which is assumed to be a constant value in the measured material without being influenced by the frequency. The temperature coefficient τ _f of the resonance frequency was obtained from the rate of change with the resonance frequency f ₀ at 25 ° C. as a reference by measuring the resonance frequency in the temperature range from −25 ° C. to 85 ° C. These measurement results are shown together in Table 2.
[0028]
[Table 1]

[0029]
[Table 2]

[0030]
As can be seen from the results in Table 2, in trial numbers 1 to 20 in which the content of each oxide component is within the range defined in the present invention, the firing temperature, that is, the sinterable temperature is the applicable limit of the Ag conductor. 950 ° C. or lower, an initial target dielectric constant ε _r of 10 or less, a Qf value of 3500 or more, and a resonance frequency temperature coefficient τ _f of −30 to +30 ppm / ° C. are obtained.
[0031]
On the other hand, if the composition is out of the range defined in the present invention, a porcelain composition satisfying all of the above characteristics cannot be obtained. For example, sample No. 36 with a Li ₂ O lower than the specified range can provide an excellent one with a high fQ value and a small τ _f, but the necessary firing temperature for obtaining the characteristics is as high as 980 ° C. Is inappropriate. Sample 29 containing more Bi ₂ O ₃ than the specified range can be sintered at 860 ° C., has a low dielectric constant ε _{r and a} small temperature coefficient τ _f , but has a low fQ value and a large loss. Further, in the trial number 38, a high fQ value with a low relative dielectric constant is obtained at a low firing temperature, but the amount of TiO ₂ is below the specified range, and the temperature coefficient τ _f shows a large value.
[0032]
In the trial numbers 32 and 34, the Q value was too low, and these characteristics could not be measured by the both-end short-circuited dielectric resonator method.
[0033]
As described above, the low dielectric constant ceramic composition of the present invention has a low relative dielectric constant, a low loss in a high frequency band, a small temperature dependency, and can obtain the characteristics at a low firing temperature.
[0034]
【The invention's effect】
The low dielectric constant ceramic composition of the present invention has a low relative dielectric constant, a low loss in a high frequency band, a small temperature dependency, and its characteristics can be obtained at a low firing temperature. Therefore, Ag having a low specific resistance can be used as an internal conductor or electrode, and combined with excellent high frequency performance, it can be used for applications such as substrates for higher frequency, smaller size, and higher density of electronic circuits. Is preferred.

Claims

In mass% as the oxide composition _{ratio, SiO 2: 18.0~40.0%, ZnO} : 30.0~54.0%, Bi 2 O 3: 1.0~6.0%, MgO: 1.0~6.0%, TiO 2: 4.0~12.4%, Li A low dielectric constant ceramic composition comprising ₂ O: 0.2 to 1.1%, K ₂ O: 3.0 to 7.4%, and CuO: 0.5 to 3.7%.

The required amount of powder raw materials for each oxide is mixed and wet mixed in a ball mill, dried, calcined at 700 to 900 ° C., pulverized and sized, then added with a binder, kneaded and molded, After printing and laminating, it is sintered at 800 to 950 ° C. , and the oxide composition ratio is mass%, SiO ₂ : 18.0 to 40.0 %, ZnO: 30.0 to 54.0 %, Bi ₂ O _{3: 1.0 ~ 6.0%, MgO} : 1.0 ~ 6.0%, TiO 2: 4.0 ~ 12.4%, Li 2 O: 0.2 ~ 1.1%, K 2 O: 3.0 ~ 7.4% and CuO: porcelain containing 0.5 to 3.7% The manufacturing method of the board | substrate for electronic circuits using a composition.