JP3631607B2 - High frequency dielectric ceramics and laminates - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マイクロ波、ミリ波等の高周波領域において、高いQ値を有する高周波用誘電体磁器および積層体に関するものであり、例えば、マイクロ波やミリ波などの高周波領域において使用される種々の共振器用材料やMIC用誘電体基板材料、誘電体導波路用材料、積層型セラミックコンデンサの誘電体層等に用いることができる高周波用誘電体磁器および積層体に関する。
【0002】
【従来技術】
従来、誘電体磁器は、マイクロ波やミリ波等の高周波領域において誘電体共振器、MIC用誘電体基板や導波路等に広く利用されている。そして、近年においては、携帯電話をはじめとする移動体通信等の発達および普及に伴い、電子回路基板や電子部品の材料として、誘電体セラミックスの需要が増大しつつある。
【0003】
電子回路基板や電子部品において、誘電体セラミックスと内部導体を同時焼成するに際しては、従来の誘電体セラミックスの焼成温度が1100℃以上という高温であったため、導体材料としては、比較的高融点であるPt、Pd、W、Mo等が使用されていた。これら高融点の導体材料は導通抵抗が大きいため、従来の電子回路基板において、共振回路やインダクタンスのQ値が小さくなってしまい、導体線路の伝送損失が大きくなる等の問題があった。
【0004】
そこで、係る問題点を解決すべく、導通抵抗の小さいAg、Cu等と同時焼成可能な低温焼成の誘電体セラミックスが提案されている。例えば、本出願人が先1出願した特開平8−208330号公報に開示された誘電体磁器組成物は、MgO、CaO、TiOとB、LiCOからなるものであり、900〜1050℃の比較的低温でAg、Cu等の内部導体と同時に焼成でき、誘電体磁器の比誘電率εrが18以上、測定周波数7GHzでのQ値が2000以上、かつ共振周波数の温度係数τfが±40ppm/℃以内の優れた特性を有し、高周波電子部品の小型化と高性能化を実現できるものであった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特開平8−208330号公報に開示された誘電体磁器組成物では焼結温度がまだ高く、さらに焼結における収縮開始温度が845〜960℃と高温であるため、導体材料との収縮挙動のマッチングが悪く、焼成された基板や電子部品が反る、歪む等の問題があった。
【0006】
即ち、導体としては、Agおよび/またはCuを主成分とするもの、例えば、Ag、Cu、あるいはAg、Cuに対してガラス成分やセラミック成分、Pt、Pd等の金属を添加したものがあるが、これらの導体は、焼成時における収縮開始温度が高くとも650℃程度であるため、上記誘電体磁器組成物の収縮開始温度との差が大きく、これにより、基板等が変形する等の問題があった。
【0007】
本発明は上記課題に鑑みなされたもので、焼成温度をさらに低下させることができるとともに、収縮開始温度を低くして、導体の収縮開始温度に近づけることができ、AgやCuを主成分とする導体と同時焼成した場合でも反りや歪みを抑制できる高周波用誘電体磁器および積層体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の高周波用誘電体磁器は、低損失セラミックフィラー100重量部と、該低損失セラミックフィラー100重量部に対して、B、アルカリ金属、Siおよびアルカリ土類金属を含有する粒界相形成成分5〜30重量部とからなる組成物を焼成してなり、Q値とその測定周波数との積で表されるQf値が20000〔GHz〕以上のものである。
【0009】
ここで、粒界相形成成分は、重量比による組成式を、aB・bAO・cSiO・dROと表した時、前記a、b、cおよびdが、40≦a≦90、8≦b≦20、1≦c≦20、1≦d≦20、a+b+c+d=100を満足することが望ましい。ここで、Aはアルカリ金属のうち少なくとも一種以上、Rはアルカリ土類金属のうち少なくとも一種以上である。
【0010】
また、低損失セラミックフィラーは、単体でのQf値が30000〔GHz〕以上であることが望ましい。さらに、低損失セラミックフィラーは、少なくともMgとTiを含有するペロブスカイト型結晶粒子、もしくはBaTi粒子であることが望ましい。
【0012】
本発明の積層体は、誘電体層を複数積層してなる誘電基体の内部および/または表面に、Agおよび/またはCuを主成分とする導体を有する積層体であって、前記誘電体層が上記高周波用誘電体磁器からなるものである。
【0013】
【作用】
本発明の高周波用誘電体磁器は、B、アルカリ金属、Siおよびアルカリ土類金属を含有する粒界相形成成分により、低損失セラミックフィラー自体のQf値をそれほど低下させることなく、920℃以下の焼成温度で焼成できるとともに、収縮開始温度を830℃以下にでき、Ag、Cu等の内部導体と同時焼成しても変形することがなく、さらに、Q値とその測定周波数との積で表される磁器のQf値が20000〔GHz〕以上となり、共振器用材料やMIC用誘電体基板材料、誘電体導波路用材料、積層型セラミックコンデンサの誘電体層等に好適に用いることができる。
【0014】
また、粒界相形成成分が、重量比による組成式をaB・bAO・cSiO・dRO(Aはアルカリ金属のうち少なくとも一種、Rはアルカリ土類金属のうち少なくとも一種)と表した時、a、b、cおよびdが、40≦a≦90、8≦b≦20、1≦c≦20、1≦d≦20、a+b+c+d=100を満足することにより、920℃以下の焼成温度で焼成できるとともに、焼成収縮開始温度を830℃以下にすることができ、Agおよび/またはCuを主成分とする導体の収縮開始温度に近づけることができ、Ag、Cuを主成分とする導体と同時焼成した場合でも、基板や電子部品の反りや歪み等の発生を抑制することができ、さらに、共振周波数の温度係数τfを±40ppm/℃の範囲内とすることが可能となる。
【0015】
さらに、低損失セラミックフィラー単体でのQf値を30000以上とすることにより、磁器のQf値を確実に20000以上にできる。特に、低損失セラミックフィラーを、少なくともMgとTiを含有するペロブスカイト型結晶粒子、もしくはBaTi粒子とすることにより、低損失セラミックフィラーのQf値を高くすることができ、磁器の高Qf値化を促進できる。
【0017】
本発明の積層体では、上記したような誘電体磁器を用いることにより、Ag、Cuを主成分とする導体と同時焼成した場合でも、積層体のそり、歪み等の発生を抑制でき、マイクロ波やミリ波等の高周波領域において、共振器、MIC用基板、導波路用として好適に使用できる。
【0018】
【発明の実施の形態】
本発明の高周波用誘電体磁器は、低損失セラミックフィラー100重量部と、該低損失セラミックフィラー100重量部に対して、B、アルカリ金属、Siおよびアルカリ土類金属を含有する粒界相形成成分5〜30重量部とからなる組成物を焼成してなり、Q値とその測定周波数との積で表されるQf値が20000〔GHz〕以上のものである。
【0019】
ここで、低損失セラミックフィラーとしては、フィラー単独でのQf値が30000〔GHz〕以上であることが望ましい。例えば、モル比による組成式(1−x)MgTiO・xCaTiO(0≦x≦0.2)で表される少なくともMgとTiを含有するペロブスカイト型結晶粒子や、BaTi粒子が望ましい。
【0020】
B、アルカリ金属、Siおよびアルカリ土類金属を含有する粒界相形成成分を用いたのは、これらの成分を用いることにより、焼成温度を920℃以下とすることができるとともに、焼成収縮開始温度を830℃以下とでき、磁器としてのQf値を20000〔GHz〕以上とすることができるからである。
【0021】
粒界相形成成分量を、低損失セラミックフィラー100重量部に対して5〜30重量部としたのは、5重量部未満の場合には、焼成温度を低下させる効果が小さく、AgまたはCuを主成分とする導体と同時焼成ができなくなり、逆に30重量部を越える場合には、誘電体磁器の共振周波数の温度係数τfがプラス側に大きくなりすぎてしまう。とりわけ誘電体磁器の焼結性と共振周波数の温度係数τfの観点から添加量は、15〜25重量部が好ましい。
【0022】
粒界相形成成分としては、重量比による組成式をaB・bAO・cSiO・dRO(Aはアルカリ金属の少なくとも一種、Rはアルカリ土類金属の少なくとも一種)と表した時、a、b、cおよびdが、40≦a≦90、8≦b≦20、1≦c≦20、1≦d≦20、a+b+c+d=100を満足することが望ましい。
【0023】
ここで、B量aを40≦a≦90としたのは、aが40重量%未満の場合は焼成温度を低下させる効果が小さく、AgまたはCuを主成分とする導体と同時焼成ができなくなり、逆に90重量%を越える場合には、焼結体中のガラス相の割合が増加してQ値が低下するからである。よって、焼結性を維持し、高いQ値を得るという観点から60≦a≦75重量%が望ましい。
【0024】
また、AO量bを8≦b≦20重量%としたのは、bが8重量%未満の場合には、焼成温度を低下させる効果が小さく、AgまたはCuを主成分とする導体と同時焼成ができなくなり、逆に20重量%を越える場合には、結晶相が変化してQ値が低下するからである。誘電体磁器のQ値の観点から13≦b≦18重量%が望ましい。ここで、Aはアルカリ金属のうち少なくとも一種であり、アルカリ金属としてはLi、Na、Kがあるが、特にLiが望ましい。
【0025】
さらに、SiO量cを1≦c≦20重量%としたのは、cが1重量%未満の場合には誘電体磁器の焼結過程における収縮開始温度が830℃よりも高くなり、添加効果が得られないからである。一方、20重量%を越えると誘電体磁器の比誘電率εrあるいはQ値が低下するからである。誘電体磁器の比誘電率εrあるいはQ値の観点からは、cは4≦c≦8重量%が望ましい。
【0026】
さらにまた、RO量dを1≦d≦20重量%としたのは、dが1重量%未満の場合には誘電体磁器の焼結過程における収縮開始温度が830℃よりも高くなり、添加効果が得られない。一方、20重量%を越えると誘電体磁器の共振周波数の温度係数τfがプラス側に大きくなりすぎてしまう。とりわけ誘電体磁器の焼結性と共振周波数の温度係数τfの観点からはdは、5≦d≦15重量%が好ましい。ここで、Rはアルカリ土類金属のうち少なくとも一種であり、アルカリ土類金属としてはBe、Mg、Ca、Sr、Ba等があるが、このうちBaが望ましい。
【0027】
本発明の高周波用誘電体磁器は、主成分が、モル比による組成式を(1−x)MgTiO・xCaTiOと表した時、xが0≦x≦0.2を満足することが望ましい。ここで、xを0≦x≦0.2としたのは、xが0.2モルを越える場合には、共振周波数の温度係数τfがプラス側に大きくなりすぎてしまうからである。とりわけ誘電体磁器の共振周波数の温度係数τfの観点からはxは0.03≦x≦0.13が好ましい。また、MgTiOとCaTiOにおいて、Mg/Ti比またはCa/Ti比が0.9〜1.1の範囲であれば、本発明の磁器の主成分として使用できる。
【0028】
そして、本発明の高周波用誘電体磁器では、上記主成分100重量部に対して、BをB換算で3〜20重量部、アルカリ金属をアルカリ金属炭酸塩換算で1〜10重量部、SiをSiO換算で0.01〜5重量部、さらにアルカリ土類金属をアルカリ土類金属酸化物換算で0.1〜5重量部含有するものである。
【0029】
ここで、BをB換算で3〜20重量部含有したのは、Bが3重量部未満の場合には1100℃でも焼結せず、AgまたはCuを主成分とする導体と同時焼成ができなくなり、逆に20重量部を越える場合には焼結体中のガラス相の割合が増加してQ値が低下するからである。よって、焼結性を維持し、高いQ値を得るという観点からB換算で5〜15重量部含有することが望ましい。B含有化合物としては、金属硼素、B、コレマイト、CaB、ホウケイ酸ガラス、ホウケイ酸アルカリガラス、ホウケイ酸アルカリ土類ガラス等がある。
【0030】
また、アルカリ金属をアルカリ金属炭酸塩換算で1〜10重量部含有したのは、含有量が1重量部未満の場合には1100℃でも焼結せず、AgまたはCuを主成分とする導体と同時焼成ができなくなり、逆に10重量部を越える場合には結晶相が変化してQ値が低下するからである。誘電体磁器のQ値の観点から4〜9重量部が望ましい。アルカリ金属としてはLi、Na、Kを例示することができ、この中でもLiが特に望ましい。アルカリ金属含有化合物としては、上記アルカリ金属の炭酸塩、酸化物等を例示することができる。
【0031】
さらに、SiをSiO換算で0.01〜5重量部含有したのは、含有量が0.01重量部未満の場合には、誘電体磁器の焼結過程における収縮開始温度が約840℃と高く、添加効果が得られないからである。一方、5重量部を越えると比誘電率εrあるいはQ値が低下するからである。誘電体磁器の比誘電率εrあるいはQ値の観点から0.5〜3重量部が望ましい。Si含有化合物としてはSiO、MgSiO等がある。
【0032】
また、アルカリ土類金属をアルカリ土類金属酸化物換算で0.1〜5重量部含有するものである。これらが0.1重量部未満の場合には誘電体磁器の焼結過程における収縮開始温度が830℃よりも高く、添加効果が得られない。一方、5重量部を越えると誘電体磁器の共振周波数の温度係数τfがプラス側に大きくなりすぎてしまう。とりわけ誘電体磁器の焼結性と共振周波数の温度係数τfの観点からは合計0.5〜3.5重量部が好ましい。
【0033】
アルカリ土類金属としては、Mg、Ca、Sr、Baがあり、このなかでもBaが望ましい。アルカリ土類金属含有化合物としては、上記アルカリ金属の炭酸塩、酸化物等を例示することができる。
【0034】
さらに、本発明の高周波用誘電体磁器では、焼結性を改善する点から、主成分100重量部に対して、さらにMnをMnO換算で0.1〜3重量部含有することが望ましい。MnをMnO換算で0.1〜3重量部含有せしめたのは、0.1重量部よりも少ない場合にはその添加効果がなく、さらに3重量部よりも多い場合には誘電特性が悪化するからである。MnはMnO換算で1.2〜1.8重量部含有することが望ましい。
【0035】
本発明の高周波用誘電体磁器は、原料粉末として、例えば、MgTiO粉末、CaTiO粉末、およびB粉末、LiCO粉末、SiO粉末、MnO粉末、さらにアルカリ土類金属酸化物(MgO、CaO、SrO、BaO)粉末を準備し、これらを上記組成比となるように秤量し、ZrOボールにより粉砕混合し、この混合粉末を650〜850℃で仮焼した後、再度ZrOボールにより粉砕粒径が2.5μm以下になるまで粉砕混合し、この仮焼粉末をプレス成形やドクターブレード法等の公知の方法により所定形状に成形し、大気中または酸素雰囲気中または窒素雰囲気等の非酸化性雰囲気において920℃以下、特に870〜920℃で0.5〜2時間焼成することにより得られる。原料粉末は、焼成により酸化物を生成する水酸化物、炭酸塩、硝酸塩等の金属塩を用いても良い。
【0036】
アルカリ土類金属は、B、Li、Siを含むガラスフリットとして添加することが焼結性向上の点から望ましい。この場合には、B、Li、Si量は、ガラスフリットに含有される量と、粉末として添加される量の合計量となる。
【0037】
本発明の高周波用誘電体磁器では、原料の混合粉砕工程等の製造過程で、Zr、Al等が混入したり、原料の不可避不純物として、Al、Fe、Hf、Sn等が含まれることもある。
【0038】
また、本発明の高周波用誘電体磁器では、例えば、結晶相として、MgTiOとCaTiOを主結晶相とし、(Mg,Ti)(BO)Oが析出することもある。尚、アルカリ土類金属は、MgTiOとCaTiOのAサイトに固溶したり、あるいはガラス成分となって、焼結性を向上させることになる。また、Siはガラス相として存在する。さらに、本発明の高周波用誘電体磁器では平均結晶粒径が1〜5μmのものである。
【0039】
【実施例】
実施例1
原料として純度99%以上の、B、LiCO、SiO粉末、さらにアルカリ土類酸化物としてMgO、CaO、SrO、BaO粉末を用い、表1に示す割合となるように秤量し、純水を媒体とし、モル比0.95MgTiO・0.05CaTiO(Qf値100000)またはBaO・4.0TiO(Qf値50000)で表される低損失セラミックフィラー成分と、ZrOボールを用いたボ−ルミルにて20時間湿式混合した。次にこの混合物を乾燥(脱水)し、800℃で1時間仮焼した。この仮焼物を、粉砕粒径が1.0μm以下になるように粉砕し、誘電特性評価用の試料として直径10mm高さ8mmの円柱状に1ton/cmの圧力でプレス成形し、これを表1に示す温度で2時間焼成し、直径8mm、高さ6mmの円柱状の試料を得た。この際、熱収縮の測定により、収縮開始温度を測定した。
【0040】
誘電特性の評価は、前記試料を用いて誘電体円柱共振器法にて周波数8GHzにおける比誘電率とQ値を測定した。Q値と測定周波数fとの積で表されるQf値を表1に記載した。さらに、−40〜+85℃の温度範囲における共振周波数の温度係数τf〔ppm/℃〕を測定した。その結果を表1に記載した。
【0041】
【表1】

Figure 0003631607
【0042】
この表1から、本発明の誘電体磁器は、比誘電率が18〜40、Qf値が20000〔GHz〕以上、かつ、共振周波数の温度係数τfが±40ppm/℃以内の優れた誘電特性を有するとともに、760〜830℃で焼結収縮が開始し、920℃以下で焼成が可能な優れた焼結性を有していることが判る。
【0043】
尚、アルカリ金属としては、試料No.4でNaを、No.8でKを用い、その他はLiを用いた。また、アルカリ土類金属としては、試料No.10でCaを、No.11でMgを、No.12でBaを、No.13でSrを用い、その他ではBaとCaを用いた。この際BaOとCaOの重量比を1:1とした。尚、試料No.13は参考試料である。
【0044】
実施例2
原料として純度99%以上の、MgTiO粉末、CaTiO粉末、B粉末、アルカリ金属炭酸塩粉末(LiCO、NaCO、KCO)、SiO粉末、MnO粉末、さらにアルカリ土類酸化物粉末(MgO、CaO、SrO、BaO)を、表2に示す割合となるように秤量し、純水を媒体とし、ZrOボールを用いたボールミルにて20時間湿式混合した。次にこの混合物を乾燥(脱水)し、800℃で1時間仮焼した。
【0045】
この仮焼物を、粉砕粒径が1.0μm以下になるように粉砕し、誘電特性評価用の試料として直径10mm高さ8mmの円柱状に1ton/cmの圧力でプレス成形し、これを表3に示す温度で3時間焼成し、直径8mm、高さ6mmの円柱状の試料を得た。
【0046】
誘電特性の評価は、前記試料を用いて誘電体円柱共振器法にて周波数8GHzにおける比誘電率とQ値を測定した。Q値と測定周波数fとの積で表されるQf値を表3に記載した。さらに、−40〜+85℃の温度範囲における共振周波数の温度係数τf〔ppm/℃〕を測定した。その結果を表3に記載した。尚、試料No.32は参考試料である。
【0047】
【表2】
Figure 0003631607
【0048】
【表3】
Figure 0003631607
【0049】
これらの表2、3から、本発明の誘電体磁器組成物は、比誘電率が18〜20、Qf値が20000〔GHz〕以上、かつ、共振周波数の温度係数τfが±40ppm/℃以内の優れた誘電特性を有するとともに、760〜830℃で焼結収縮が開始し、920℃以下で焼成が可能な優れた焼結性を有していることが判る。
【0050】
尚、表1のアルカリの欄において、Li、Na、Kと記載したが、これはLiCO、NaCO、KCOの意味であり、また、アルカリ土類の欄において、Mg、Ba、Ca、Srと記載したが、これは、MgO、CaO、SrO、BaOの意味である。さらに、表1の試料No.24、25については、Mg/Ti、Ca/Ti比がそれぞれ1.1、0.9の原料粉末を用いた。
【0051】
【発明の効果】
本発明によれば、焼成温度を920℃以下に、収縮開始温度を830℃以下とすることが可能となるため、AgやCu等の導体金属と同時に焼成でき、その際導体金属の収縮挙動のミスマッチから発生する基板の反りや歪みが抑制されるとともに、高周波領域において20000以上のQf値を有するため、電子部品や基板の小型・高性能化が実現できる。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a high frequency dielectric ceramic having a high Q value in a high frequency region such as a microwave and a millimeter wave, and a laminated body. For example, the present invention relates to various types used in a high frequency region such as a microwave and a millimeter wave. The present invention relates to high-frequency dielectric ceramics and laminates that can be used for resonator materials, MIC dielectric substrate materials, dielectric waveguide materials, dielectric layers of multilayer ceramic capacitors, and the like.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, dielectric ceramics are widely used for dielectric resonators, MIC dielectric substrates, waveguides, and the like in high frequency regions such as microwaves and millimeter waves. In recent years, with the development and spread of mobile communications such as mobile phones, the demand for dielectric ceramics as materials for electronic circuit boards and electronic components is increasing.
[0003]
In the simultaneous firing of dielectric ceramics and internal conductors in electronic circuit boards and electronic parts, the firing temperature of conventional dielectric ceramics is as high as 1100 ° C. or higher, so the conductor material has a relatively high melting point. Pt, Pd, W, Mo, etc. were used. Since these high melting point conductor materials have a large conduction resistance, the conventional electronic circuit board has a problem that the Q value of the resonance circuit and the inductance is reduced, and the transmission loss of the conductor line is increased.
[0004]
Therefore, in order to solve such problems, low-temperature fired dielectric ceramics that can be fired simultaneously with Ag, Cu, etc. having a low conduction resistance have been proposed. For example, the dielectric ceramic composition disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-208330 filed earlier by the present applicant is composed of MgO, CaO, TiO 2 and B 2 O 3 , Li 2 CO 3 . It can be fired simultaneously with the inner conductors such as Ag and Cu at a relatively low temperature of 900 to 1050 ° C., the dielectric constant εr of the dielectric ceramic is 18 or more, the Q value at the measurement frequency of 7 GHz is 2000 or more, and the temperature coefficient of the resonance frequency It has excellent characteristics with τf within ± 40 ppm / ° C., and can realize miniaturization and high performance of high-frequency electronic components.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the dielectric ceramic composition disclosed in JP-A-8-208330 has a high sintering temperature and the shrinkage start temperature in sintering is as high as 845 to 960 ° C., the shrinkage behavior with the conductor material. There are problems such as poor matching, and the fired substrate and electronic parts are warped and distorted.
[0006]
That is, as a conductor, there is a conductor mainly composed of Ag and / or Cu, for example, a conductor obtained by adding a metal such as a glass component, a ceramic component, Pt, or Pd to Ag, Cu, or Ag, Cu. Since these conductors have a shrinkage start temperature of about 650 ° C. at the highest at the time of firing, there is a large difference from the shrinkage start temperature of the dielectric ceramic composition, thereby causing problems such as deformation of the substrate and the like. there were.
[0007]
The present invention has been made in view of the above problems, and can further reduce the firing temperature, lower the shrinkage start temperature, and can approach the shrinkage start temperature of the conductor, and is mainly composed of Ag or Cu. An object of the present invention is to provide a dielectric ceramic for high frequency and a laminate capable of suppressing warpage and distortion even when fired simultaneously with a conductor.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The dielectric ceramic for high frequency of the present invention comprises 100 parts by weight of a low-loss ceramic filler, and a grain boundary phase-forming component containing B, alkali metal, Si and alkaline earth metal with respect to 100 parts by weight of the low-loss ceramic filler A composition comprising 5 to 30 parts by weight is fired, and the Qf value represented by the product of the Q value and the measurement frequency is 20000 [GHz] or more.
[0009]
Here, the grain boundary phase-forming components, when the composition formula by weight, expressed as aB 2 O 3 · bA 2 O · cSiO 2 · dRO, wherein a, b, c and d, 40 ≦ a ≦ 90 8 ≦ b ≦ 20, 1 ≦ c ≦ 20, 1 ≦ d ≦ 20, and a + b + c + d = 100 are preferably satisfied. Here, A is at least one or more of alkali metals, and R is at least one or more of alkaline earth metals.
[0010]
Moreover, it is desirable that the low-loss ceramic filler has a single Qf value of 30000 [GHz] or more. Further, the low-loss ceramic filler is desirably perovskite-type crystal particles containing at least Mg and Ti, or BaTi 4 O 9 particles.
[0012]
The laminate of the present invention is a laminate having a conductor mainly composed of Ag and / or Cu inside and / or on the surface of a dielectric substrate formed by laminating a plurality of dielectric layers, wherein the dielectric layer comprises: It consists of the above-mentioned dielectric ceramic for high frequency.
[0013]
[Action]
The dielectric ceramic for high frequency of the present invention has a grain boundary phase-forming component containing B, alkali metal, Si, and alkaline earth metal, and does not lower the Qf value of the low-loss ceramic filler itself so much as 920 ° C. or less. It can be fired at the firing temperature, and the shrinkage start temperature can be made 830 ° C. or less. It does not deform even when fired simultaneously with an internal conductor such as Ag and Cu, and is further expressed by the product of the Q value and its measurement frequency. The Qf value of the ceramics is 20000 [GHz] or more, and can be suitably used for resonator materials, MIC dielectric substrate materials, dielectric waveguide materials, dielectric layers of multilayer ceramic capacitors, and the like.
[0014]
Further, the grain boundary phase forming component, aB 2 O 3 · bA 2 O · cSiO 2 · dRO the formula by weight ratio (A is at least one of an alkali metal, R represents at least one kind of alkaline earth metal) and When a, b, c and d satisfy 40 ≦ a ≦ 90, 8 ≦ b ≦ 20, 1 ≦ c ≦ 20, 1 ≦ d ≦ 20, a + b + c + d = 100, It can be fired at the firing temperature, the firing shrinkage start temperature can be 830 ° C. or less, can be close to the shrinkage start temperature of a conductor mainly composed of Ag and / or Cu, and Ag and Cu are the major components. Even in the case of simultaneous firing with the conductor, it is possible to suppress the occurrence of warpage, distortion, etc. of the substrate and electronic components, and it is possible to set the temperature coefficient τf of the resonance frequency within the range of ± 40 ppm / ° C.
[0015]
Further, by setting the Qf value of the low-loss ceramic filler alone to 30000 or more, the Qf value of the porcelain can be surely set to 20000 or more. In particular, when the low-loss ceramic filler is perovskite-type crystal particles containing at least Mg and Ti, or BaTi 4 O 9 particles, the Qf value of the low-loss ceramic filler can be increased, and the high Qf value of porcelain can be increased. Can be promoted.
[0017]
In the laminate of the present invention, by using the dielectric ceramic as described above, it is possible to suppress the occurrence of warpage, distortion, etc. of the laminate even when simultaneously fired with a conductor mainly composed of Ag and Cu. In a high frequency region such as a millimeter wave or a millimeter wave, it can be suitably used as a resonator, a substrate for MIC, and a waveguide.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The dielectric ceramic for high frequency of the present invention comprises 100 parts by weight of a low-loss ceramic filler, and a grain boundary phase-forming component containing B, alkali metal, Si and alkaline earth metal with respect to 100 parts by weight of the low-loss ceramic filler A composition comprising 5 to 30 parts by weight is fired, and the Qf value represented by the product of the Q value and the measurement frequency is 20000 [GHz] or more.
[0019]
Here, as a low loss ceramic filler, it is desirable that the Qf value of the filler alone is 30000 [GHz] or more. For example, a perovskite-type crystal grains containing at least Mg and Ti represented by the composition formula by molar ratio (1-x) MgTiO 3 · xCaTiO 3 (0 ≦ x ≦ 0.2), is desirable BaTi 4 O 9 particles .
[0020]
The grain boundary phase forming component containing B, alkali metal, Si and alkaline earth metal was used, and by using these components, the firing temperature could be 920 ° C. or lower, and the firing shrinkage start temperature This is because the Qf value as a porcelain can be 20000 [GHz] or more.
[0021]
The amount of the grain boundary phase forming component is 5 to 30 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the low-loss ceramic filler. When the amount is less than 5 parts by weight, the effect of lowering the firing temperature is small. Simultaneous firing with the conductor as the main component becomes impossible, and conversely, when it exceeds 30 parts by weight, the temperature coefficient τf of the resonance frequency of the dielectric ceramic becomes too large on the plus side. In particular, the addition amount is preferably 15 to 25 parts by weight from the viewpoint of the sinterability of the dielectric ceramic and the temperature coefficient τf of the resonance frequency.
[0022]
When a grain boundary phase-forming components, aB 2 O 3 · bA 2 O · cSiO 2 · dRO the formula by weight ratio (A is at least one alkali metal, R represents at least one alkaline earth metal) expressed as , A, b, c, and d preferably satisfy 40 ≦ a ≦ 90, 8 ≦ b ≦ 20, 1 ≦ c ≦ 20, 1 ≦ d ≦ 20, and a + b + c + d = 100.
[0023]
Here, the amount of B 2 O 3 is set to 40 ≦ a ≦ 90 because the effect of lowering the firing temperature is small when a is less than 40% by weight, and co-firing with a conductor mainly composed of Ag or Cu. This is because when the amount exceeds 90% by weight, the ratio of the glass phase in the sintered body increases and the Q value decreases. Therefore, 60 ≦ a ≦ 75 wt% is desirable from the viewpoint of maintaining sinterability and obtaining a high Q value.
[0024]
In addition, the amount of A 2 O b is set to 8 ≦ b ≦ 20% by weight because when b is less than 8% by weight, the effect of lowering the firing temperature is small, and the conductor mainly composed of Ag or Cu This is because the simultaneous firing cannot be performed and, on the contrary, when the content exceeds 20% by weight, the crystal phase changes and the Q value decreases. From the viewpoint of the Q value of the dielectric ceramic, 13 ≦ b ≦ 18% by weight is desirable. Here, A is at least one of alkali metals, and examples of the alkali metal include Li, Na, and K. Li is particularly desirable.
[0025]
Furthermore, the SiO 2 content c is set to 1 ≦ c ≦ 20 wt% when the c is less than 1 wt%, the shrinkage start temperature in the sintering process of the dielectric ceramic becomes higher than 830 ° C. It is because it cannot be obtained. On the other hand, if the content exceeds 20% by weight, the dielectric constant εr or Q value of the dielectric ceramic decreases. From the viewpoint of the relative dielectric constant εr or Q value of the dielectric ceramic, c is preferably 4 ≦ c ≦ 8% by weight.
[0026]
Furthermore, the RO amount d is set to 1 ≦ d ≦ 20% by weight. When d is less than 1% by weight, the shrinkage start temperature in the sintering process of the dielectric ceramic becomes higher than 830 ° C. Cannot be obtained. On the other hand, if it exceeds 20% by weight, the temperature coefficient τf of the resonance frequency of the dielectric ceramic becomes too large on the plus side. In particular, from the viewpoint of the sinterability of the dielectric ceramic and the temperature coefficient τf of the resonance frequency, d is preferably 5 ≦ d ≦ 15% by weight. Here, R is at least one of alkaline earth metals, and examples of alkaline earth metals include Be, Mg, Ca, Sr, Ba, and the like, among which Ba is desirable.
[0027]
High-frequency dielectric ceramic of the present invention, the main component is, when representing the formula by molar ratio (1-x) MgTiO 3 · xCaTiO 3, it is desirable that x satisfies 0 ≦ x ≦ 0.2 . Here, x is set to 0 ≦ x ≦ 0.2 because when x exceeds 0.2 mol, the temperature coefficient τf of the resonance frequency becomes too large on the plus side. In particular, from the viewpoint of the temperature coefficient τf of the resonance frequency of the dielectric ceramic, x is preferably 0.03 ≦ x ≦ 0.13. Further, in the MgTiO 3 and CaTiO 3, be in the range of Mg / Ti ratio or Ca / Ti ratio is 0.9 to 1.1, can be used as the main component of the ceramic of the present invention.
[0028]
In the high frequency dielectric ceramic of the present invention, B is 3 to 20 parts by weight in terms of B 2 O 3 and alkali metal is 1 to 10 parts by weight in terms of alkali metal carbonate with respect to 100 parts by weight of the main component. , Si is contained in an amount of 0.01 to 5 parts by weight in terms of SiO 2 , and further an alkaline earth metal in an amount of 0.1 to 5 parts by weight in terms of an alkaline earth metal oxide.
[0029]
Here, B is contained in an amount of 3 to 20 parts by weight in terms of B 2 O 3 when B is less than 3 parts by weight, it does not sinter even at 1100 ° C., and at the same time as a conductor mainly composed of Ag or Cu. This is because when firing is impossible and, on the contrary, the amount exceeds 20 parts by weight, the ratio of the glass phase in the sintered body increases and the Q value decreases. Therefore, it is desirable to contain 5 to 15 parts by weight in terms of B 2 O 3 from the viewpoint of maintaining sinterability and obtaining a high Q value. Examples of the B-containing compound include metal boron, B 2 O 3 , collimite, CaB 2 O 4 , borosilicate glass, borosilicate alkali glass, and borosilicate alkaline earth glass.
[0030]
In addition, 1 to 10 parts by weight of alkali metal in terms of alkali metal carbonate is contained in the case where the content is less than 1 part by weight. This is because simultaneous firing cannot be performed, and conversely, when the amount exceeds 10 parts by weight, the crystal phase changes and the Q value decreases. From the viewpoint of the Q value of the dielectric ceramic, 4 to 9 parts by weight is desirable. Examples of the alkali metal include Li, Na, and K. Among these, Li is particularly desirable. Examples of the alkali metal-containing compound include carbonates and oxides of the above alkali metals.
[0031]
Furthermore, Si is contained in an amount of 0.01 to 5 parts by weight in terms of SiO 2 when the content is less than 0.01 parts by weight, the shrinkage start temperature in the sintering process of the dielectric ceramic is about 840 ° C. This is because the addition effect cannot be obtained. On the other hand, if it exceeds 5 parts by weight, the relative dielectric constant εr or the Q value decreases. From the viewpoint of the relative dielectric constant εr or Q value of the dielectric ceramic, 0.5 to 3 parts by weight is desirable. Examples of the Si-containing compound include SiO 2 and MgSiO 3 .
[0032]
Moreover, 0.1-5 weight part of alkaline-earth metal is contained in conversion of alkaline-earth metal oxide. When these are less than 0.1 parts by weight, the shrinkage start temperature in the sintering process of the dielectric ceramic is higher than 830 ° C., and the addition effect cannot be obtained. On the other hand, when the amount exceeds 5 parts by weight, the temperature coefficient τf of the resonance frequency of the dielectric ceramic becomes too large on the plus side. In particular, from the viewpoint of the sinterability of the dielectric ceramic and the temperature coefficient τf of the resonance frequency, the total amount is preferably 0.5 to 3.5 parts by weight.
[0033]
Examples of the alkaline earth metal include Mg, Ca, Sr, and Ba, and Ba is preferable among them. Examples of the alkaline earth metal-containing compound include carbonates and oxides of the above alkali metals.
[0034]
Furthermore, in the high frequency dielectric ceramic according to the present invention, it is desirable to further contain 0.1 to 3 parts by weight of Mn in terms of MnO 2 with respect to 100 parts by weight of the main component from the viewpoint of improving the sinterability. When Mn is added in an amount of 0.1 to 3 parts by weight in terms of MnO 2 , the effect is not added when the amount is less than 0.1 part by weight, and the dielectric property is deteriorated when the amount is more than 3 parts by weight. Because it does. It is desirable to contain 1.2 to 1.8 parts by weight of Mn in terms of MnO 2 .
[0035]
The dielectric ceramic for high frequency of the present invention includes, for example, MgTiO 3 powder, CaTiO 3 powder, B 2 O 3 powder, Li 2 CO 3 powder, SiO 2 powder, MnO 2 powder, and alkaline earth metal as raw material powder. After preparing oxide (MgO, CaO, SrO, BaO) powders, these were weighed to the above composition ratio, pulverized and mixed with ZrO 2 balls, and this mixed powder was calcined at 650-850 ° C. It is pulverized and mixed again with a ZrO 2 ball until the pulverized particle size becomes 2.5 μm or less, and this calcined powder is molded into a predetermined shape by a known method such as press molding or a doctor blade method, It can be obtained by baking at 920 ° C. or lower, particularly 870 to 920 ° C. for 0.5 to 2 hours in a non-oxidizing atmosphere such as a nitrogen atmosphere. The raw material powder may be a metal salt such as a hydroxide, carbonate, nitrate, etc. that generates an oxide upon firing.
[0036]
The alkaline earth metal is preferably added as a glass frit containing B, Li, and Si from the viewpoint of improving the sinterability. In this case, the amounts of B, Li, and Si are the total amount of the amount contained in the glass frit and the amount added as a powder.
[0037]
In the dielectric ceramic for high frequency of the present invention, Zr, Al, etc. may be mixed in the manufacturing process such as the mixing and pulverizing process of raw materials, or Al, Fe, Hf, Sn, etc. may be included as inevitable impurities of the raw materials. .
[0038]
In the high frequency dielectric ceramic according to the present invention, for example, MgTiO 3 and CaTiO 3 may be main crystal phases as crystal phases, and (Mg, Ti) 2 (BO 3 ) O may be precipitated. The alkaline earth metal is dissolved in the A site of MgTiO 3 and CaTiO 3 or becomes a glass component to improve the sinterability. Si exists as a glass phase. Furthermore, the high frequency dielectric ceramic of the present invention has an average crystal grain size of 1 to 5 μm.
[0039]
【Example】
Example 1
The purity of 99% as a raw material, MgO, CaO, SrO, and BaO powder used as B 2 O 3, Li 2 CO 3, SiO 2 powder, further alkaline earth oxides, weighed such that the ratio shown in Table 1 And a low loss ceramic filler component represented by a molar ratio of 0.95 MgTiO 3 .0.05CaTiO 3 (Qf value 100000) or BaO · 4.0TiO 2 (Qf value 50000), and ZrO 2 balls Wet mixing was performed for 20 hours in a ball mill using The mixture was then dried (dehydrated) and calcined at 800 ° C. for 1 hour. This calcined product was pulverized so that the pulverized particle size was 1.0 μm or less, and was press-molded at a pressure of 1 ton / cm 2 into a cylindrical shape having a diameter of 10 mm and a height of 8 mm as a sample for dielectric property evaluation. The sample was fired for 2 hours at the temperature shown in 1 to obtain a cylindrical sample having a diameter of 8 mm and a height of 6 mm. At this time, the shrinkage start temperature was measured by measuring heat shrinkage.
[0040]
Evaluation of dielectric characteristics was performed by measuring the relative dielectric constant and Q value at a frequency of 8 GHz by the dielectric cylindrical resonator method using the sample. Table 1 shows the Qf value represented by the product of the Q value and the measurement frequency f. Furthermore, the temperature coefficient τf [ppm / ° C.] of the resonance frequency in the temperature range of −40 to + 85 ° C. was measured. The results are shown in Table 1.
[0041]
[Table 1]
Figure 0003631607
[0042]
From Table 1, the dielectric ceramic according to the present invention has excellent dielectric characteristics with a relative dielectric constant of 18 to 40, a Qf value of 20000 [GHz] or more, and a temperature coefficient τf of resonance frequency within ± 40 ppm / ° C. It can be seen that sintering shrinkage starts at 760 to 830 ° C. and has excellent sinterability capable of firing at 920 ° C. or lower.
[0043]
As the alkali metal, Na was used for sample No. 4, K was used for No. 8, and Li was used for the others. As alkaline earth metals, sample No. 10 uses Ca, No. 11 uses Mg, No. 12 uses Ba, No. 13 uses Sr, and others use Ba and Ca. At this time, the weight ratio of BaO and CaO was 1: 1. Sample No. Reference numeral 13 is a reference sample.
[0044]
Example 2
MgTiO 3 powder, CaTiO 3 powder, B 2 O 3 powder, alkali metal carbonate powder (Li 2 CO 3 , Na 2 CO 3 , K 2 CO 3 ), SiO 2 powder, MnO 2 with a purity of 99% or more as a raw material Powder, and alkaline earth oxide powder (MgO, CaO, SrO, BaO) were weighed so as to have the ratio shown in Table 2, and wet for 20 hours in a ball mill using pure water as a medium and ZrO 2 balls. Mixed. The mixture was then dried (dehydrated) and calcined at 800 ° C. for 1 hour.
[0045]
This calcined product was pulverized so that the pulverized particle size was 1.0 μm or less, and was press-molded at a pressure of 1 ton / cm 2 into a cylindrical shape having a diameter of 10 mm and a height of 8 mm as a sample for dielectric property evaluation. The sample was baked at the temperature shown in 3 for 3 hours to obtain a cylindrical sample having a diameter of 8 mm and a height of 6 mm.
[0046]
Evaluation of dielectric characteristics was performed by measuring the relative dielectric constant and Q value at a frequency of 8 GHz by the dielectric cylindrical resonator method using the sample. Table 3 shows the Qf value expressed by the product of the Q value and the measurement frequency f. Furthermore, the temperature coefficient τf [ppm / ° C.] of the resonance frequency in the temperature range of −40 to + 85 ° C. was measured. The results are shown in Table 3. Sample No. Reference numeral 32 is a reference sample.
[0047]
[Table 2]
Figure 0003631607
[0048]
[Table 3]
Figure 0003631607
[0049]
From Tables 2 and 3, the dielectric ceramic composition of the present invention has a relative dielectric constant of 18 to 20, a Qf value of 20000 [GHz] or more, and a temperature coefficient τf of resonance frequency within ± 40 ppm / ° C. It can be seen that it has excellent dielectric properties, has sintering shrinkage at 760 to 830 ° C., and has excellent sinterability capable of firing at 920 ° C. or lower.
[0050]
In the alkali column of Table 1, Li, Na, and K are described. This means Li 2 CO 3 , Na 2 CO 3 , and K 2 CO 3 , and in the alkaline earth column, Although described as Mg, Ba, Ca, Sr, this means MgO, CaO, SrO, BaO. Furthermore, sample No. For 24 and 25, raw material powders with Mg / Ti and Ca / Ti ratios of 1.1 and 0.9, respectively, were used.
[0051]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the firing temperature can be set to 920 ° C. or less and the shrinkage start temperature can be set to 830 ° C. or less, it can be fired simultaneously with a conductor metal such as Ag or Cu. The warpage and distortion of the substrate caused by the mismatch are suppressed, and since the Qf value is 20000 or more in the high frequency region, the electronic component and the substrate can be reduced in size and performance.

Claims (4)

低損失セラミックフィラー100重量部と、該低損失セラミックフィラー100重量部に対して、B、アルカリ金属、Si、およびアルカリ土類金属としてBe、Mg、CaおよびBaのうち少なくとも一種を含有する粒界相形成成分5〜30重量部とからなる組成物を焼成してなり、Q値とその測定周波数との積で表されるQf値が20000〔GHz〕以上であり、前記粒界相形成成分は、重量比による組成式を、
aB ・bA O・cSiO ・dRO
と表した時、前記a、b、cおよびdが、
40≦a≦90
8≦b≦20
1≦c≦20
1≦d≦20
a+b+c+d=100
Aはアルカリ金属のうち少なくとも一種
Rはアルカリ土類金属としてBe、Mg、CaおよびBaのうち少なくとも一種
を満足することを特徴とする高周波用誘電体磁器。
Grain boundary containing at least one of Be, Mg, Ca, and Ba as B, alkali metal, Si, and alkaline earth metal with respect to 100 parts by weight of low loss ceramic filler and 100 parts by weight of low loss ceramic filler A composition comprising 5 to 30 parts by weight of a phase forming component is fired, a Qf value represented by a product of a Q value and a measurement frequency thereof is 20000 [GHz] or more, and the grain boundary phase forming component is , Composition formula by weight ratio,
aB 2 O 3 · bA 2 O · cSiO 2 · dRO
Where a, b, c and d are
40 ≦ a ≦ 90
8 ≦ b ≦ 20
1 ≦ c ≦ 20
1 ≦ d ≦ 20
a + b + c + d = 100
A is at least one of alkali metals
R is at least one of Be, Mg, Ca and Ba as an alkaline earth metal
High frequency dielectric porcelain characterized by satisfying
低損失セラミックフィラーは、単体でのQf値が30000〔GHz〕以上であることを特徴とする請求項記載の高周波用誘電体磁器。Low loss ceramic filler is a high frequency dielectric ceramic according to claim 1, wherein the Qf value by itself is equal to or is 30000 [GHz] or higher. 低損失セラミックフィラーは、少なくともMgとTiを含有するペロブスカイト型結晶粒子、もしくはBaTi粒子であることを特徴とする請求項1又は2記載の高周波用誘電体磁器。Low loss ceramic filler is a perovskite-type crystal grains containing at least Mg and Ti, or BaTi 4 O 9 high frequency dielectric ceramic according to claim 1 or 2 characterized in that the particles. 誘電体層を複数積層してなる誘電基体の内部および/または表面に、Agおよび/またはCuを主成分とする導体を有する積層体であって、前記誘電体層が、請求項1乃至のいずれかに記載の高周波用誘電体磁器からなることを特徴とする積層体。A laminated body having a conductor mainly composed of Ag and / or Cu inside and / or on the surface of a dielectric substrate formed by laminating a plurality of dielectric layers, wherein the dielectric layer is as defined in claims 1 to 3 . A laminate comprising the dielectric ceramic for high frequency according to any one of the above.
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