JP3881856B2 - 保護回路 - Google Patents
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【発明の属する技術分野】
本発明は、インダクタンス性の負荷への電流の通流状態を制御するFET等を保護するための保護回路に関し、特に車載用の各種電源分配部における電源制御に適用される保護回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は、従来の保護回路およびその保護回路が適用される回路構造の回路図である。この種の保護回路としては、図3に示すように、インダクタンス性の負荷(例えばモータ)1の電源オフ時に発生するサージ電圧への対策としてダイナミッククランプ回路を用いたものがある。このダイナミッククランプ回路は、MOSFET3のゲートとドレインとの間に介装されたツェナーダイオード5を備えている。
【0003】
図4は、図3の回路構造における負荷1の電源オフ時のサージ電流等の様子を示す図である。図4中のグラフG1は、図3の回路構造において負荷1の電源オフ時に負荷1に流れる電流IL(図3参照)の時間変化を示しており、グラフG2は、同じく図3の回路構造において負荷1の電源オフ時にMOSFET3のソース電圧VS(図3参照)の時間変化を示している。また、図4のグラフG3は、図3の回路構造においてツェナーダイオード5を取り除いたときの負荷1の電源オフ時のソース電圧VSの時間変化を示している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の従来の保護回路では、ツェナーダイオード5を使用するため、回路構成が大型化および高コスト化するという問題がある。また、ツェナーダイオード5のオン、オフ時に高周波ノイズが発生するという問題もある。
【0005】
そこで、本発明は前記問題点に鑑み、回路構成の小型化および低コスト化を図りつつ、本発明が適用される回路構造における負荷の電源オフ時のサージ電圧対策を図ることができ、しかも高周波ノイズを発生するツェナーダイオードのような素子を使用する必要のない保護回路を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するための技術的手段は、インダクタンス性の負荷と、前記負荷に対して電源電流の通流方向上流側に設けられ、前記負荷への通電状態を制御するFETとを備える回路構造に対して設けられる保護回路であって、前記FETのゲートとグランドとの間に介装されたサージ電圧対策用の抵抗を備えることを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の一実施形態に係る保護回路およびその保護回路が適用される回路構造の回路図である。本実施形態に係る保護回路10が適用される回路構造は、図1に示すように、インダクタンス性の負荷(例えばモータ)11と、負荷11への通電状態を制御するNチャンネルMOSFET13と、MOSFET13を駆動するチャージポンプ回路15とを備えている。負荷11とMOSFET13とは、MOSFET13の方が電源電流の通流方向上流側となるように、通電路17に直列に介装されている。通電路17は、電源ライン19とグランドとの間に介装される。チャージポンプ回路15とMOSFET13のゲートとの間には、抵抗21が介装されている。通電路17には、MOSFET13と並列になるようにダイオード23が接続されている。ダイオード23は、その順方向が電源ライン19から通電路17に供給される電源電流の通流方向と逆向きになるように接続されている。
【0008】
本実施形態に係る保護回路10は、MOSFET13のゲートとグランドとの間に介装された抵抗31を備えている。
【0009】
次に、図1の回路構造の動作を説明する。まず負荷11の駆動時は、チャージポンプ回路15によって昇圧された駆動電圧がMOSFET13のゲートに与えられてMOSFET13がオンし、これによって、電源ライン19からの電源電流がMOSFET13を介して負荷11に流れ、負荷11が駆動される。
【0010】
負荷11の電源オフ時には、MOSFET13がオンしている状態でチャージポンプ回路15の出力電圧が下げられ、ゲート電圧がしきい値電圧を下回った時点でMOSFET13がオフされる。そして、そのMOSFET13のオフに伴って、MOSFET13のソース電位に、負荷11のインダクタンス逆起電力による負サージが発生する。MOSFET13のゲートは抵抗31を介してグランドに接続されており、チャージポンプ回路15の出力オフ時は、ゲート電圧がグランド電圧に保持されているため、ソース電位の負サージ発生に伴って、ゲート、ソース間電圧がしきい値電圧を上回り、MOSFET13がオンする。このMOSFET13のオン状態は、ゲート、ソース間電圧がしきい値を下回るまで保たれ、これによって、このMOSFET13がオンしている期間は、MOSFET13の電力で負荷11の逆起電力が吸収される。
【0011】
図2は、図1の回路構造における負荷11の電源オフ時のサージ電流等の様子を示す図である。図2中のグラフG4は、図1の回路構造において負荷11の電源オフ時に負荷11に流れる電流IL(図1参照)の時間変化を示しており、グラフG5は、同じく図1の回路構造において負荷11の電源オフ時にMOSFET13のソース電圧VS(図1参照)の時間変化を示している。グラフG4,G5の状態より、本実施形態に係る保護回路10によっても前述の図3の保護回路とほぼ同等のサージ抑制効果が得られることが分かる。
【0012】
これによって、本実施形態に係る保護回路10は、MOSFET13のゲートとグランドとの間に抵抗31を介装する回路構成であるため、回路構成の小型化および低コスト化を図りつつ、本実施形態が適用される回路構造における負荷11の電源オフ時のサージ電圧対策を図ることができ、しかも高周波ノイズを発生するツェナーダイオードような素子を使用する必要がない。
【0013】
【発明の効果】
請求項1に記載の発明によれば、FETのゲートとグランドとの間に抵抗を介装する回路構成であるため、回路構成の小型化および低コスト化を図りつつ、本発明が適用される回路構造における負荷の電源オフ時のサージ電圧対策を図ることができ、しかも高周波ノイズを発生するツェナーダイオードような素子を使用する必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る保護回路およびその保護回路が適用される回路構造の回路図である。
【図2】図1の回路構造における負荷の電源オフ時のサージ電流等の様子を示す図である。
【図3】従来の保護回路およびその保護回路が適用される回路構造の回路図である。
【図4】図3の回路構造における負荷の電源オフ時のサージ電流等の様子を示す図である。
【符号の説明】
10 保護回路
11 負荷
13 MOSFET
31 抵抗
Claims (1)
- インダクタンス性の負荷と、前記負荷に対して電源電流の通流方向上流側に設けられ、前記負荷への通電状態を制御するFETとを備える回路構造に対して設けられる保護回路であって、
前記FETのゲートとグランドとの間に介装されたサージ電圧対策用の抵抗を備えることを特徴とする保護回路。
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JP2001226080A JP3881856B2 (ja) | 2001-07-26 | 2001-07-26 | 保護回路 |
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JP2001226080A JP3881856B2 (ja) | 2001-07-26 | 2001-07-26 | 保護回路 |
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JP3881856B2 true JP3881856B2 (ja) | 2007-02-14 |
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Country | Link |
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2001
- 2001-07-26 JP JP2001226080A patent/JP3881856B2/ja not_active Expired - Lifetime
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