JP3839733B2

JP3839733B2 - 撮像装置および画像データ出力方法

Info

Publication number: JP3839733B2
Application number: JP2002039914A
Authority: JP
Inventors: 耕司久保田; 直基久保
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 2002-02-18
Filing date: 2002-02-18
Publication date: 2006-11-01
Anticipated expiration: 2022-02-18
Also published as: US20040160520A1; JP2003244552A; US7271833B2

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＣＤイメージセンサ，ＣＭＯＳイメージセンサなどの固定撮像素子を備える撮像装置および画像データ出力方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタルスチルカメラ，デジタルビデオカメラなどの撮像装置は、ＣＣＤイメージセンサなどの固体撮像素子を備えている。このような固体撮像素子の中には、その製造時に、受光量に応じた電荷を生成することができない画素や，暗電流の不均一によるノイズが規定値以上に発生してしまう画素などのいわゆる欠陥画素が形成される場合がある。
【０００３】
欠陥画素は、その画像信号を表示させた際に、黒傷，白傷などの傷となって撮像画像に現れ、画像品質を著しく低下させる。そのため、固体撮像素子の製造時においては、その検査過程で、欠陥画素であるか否かを判断する。欠陥画素であると判断された場合は、その欠陥画素の位置（座標）などを表わす「欠陥画素データ」を、撮像装置の記憶部（メモリ）に予め記憶していた。
【０００４】
そして、撮像装置は画像欠陥補正装置を備え、この画像欠陥補正装置は上記「欠陥画素データ」に基づいて欠陥画素に対する欠陥補正を行っていた。この画像欠陥補正装置に関する技術としては、特開平１−１０５６７１号公報に記載のものがある。
【０００５】
即ち、上述した画像欠陥補正装置は、実際の撮像時において、予め記憶してした「欠陥画素データ」に対応する欠陥画素のみを、この欠陥画素の周辺画素データに基づき補正処理していた。欠陥画素を補正する方法としてメモリに予め記憶した「欠陥画素データ」のみを用いるのは、連写，動画などの実際の撮影処理を速くするためである。このような欠陥画素補正方法は、小型軽量で低価格のデジタルスチルカメラにおいて、要請されるものである。
【０００６】
そして、上記デジタルスチルカメラでは、「欠陥画素データ」を記憶するメモリの上限値（限界）が、コストなどによって予め決められていた。上記メモリの個数は、２５６個乃至１０００個の範囲内に抑えられていた。そのため、上記メモリの範囲内における欠陥画素は、その周辺画素データに基づき、適切に補正され、良好な画像を得ていた。
【０００７】
また、従来のデジタルスチルカメラの中には、画像データの画像を第三者に見られないようにするため、画像データ自体を暗号化する暗号処理手段を有するものがあった。この暗号処理に関する技術としては、特開２０００−１６５７２０号公報に記載のものがある。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、不特定多数のユーザに貸し出し回収する、いわゆる使い捨てタイプのデジタルスチルカメラなどを販売する販売システムが、構築されることを仮に想定すると、上記デジタルスチルカメラを借りた第三者が、そのＣＣＤイメージセンサ，ＣＭＯＳイメージセンサなどの撮像素子を他の撮像装置に利用（流用）することが考えられる。なお、上述した画像データ自体を暗号する場合には、撮像装置における処理などに負荷が生じる。
【０００９】
本発明の目的は、上記事実を考慮して、撮像素子の流用を阻止し得る撮像装置および画像データ出力方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の撮像装置では、欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子を備える。請求項１記載に係る発明において、予め定めた配列パターンに応じて形成した欠陥画素を、欠陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、上記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータが認識できない場合には上記撮像素子によって撮像された画像データを正常に再生させることができない。
【００１１】
一方、上記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータを認識し得る場合には、既知のパターンデータに基づき、予め形成した欠陥画素を適切に補正し、良好な画像データを得る。即ち、請求項１記載に係る発明によれば、撮像素子に欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成したので、ＣＣＤイメージセンサ，ＣＭＯＳイメージセンサなどの撮像素子の流用を阻止できる。なお、請求項１記載に係る発明は、撮像素子の流用を阻止し得るように構成したので、不特定多数のユーザに貸し出し回収する、使い捨てタイプのデジタルカメラなどの撮像装置に適している。
【００１２】
また、請求項１記載に係る発明では、撮像素子（ハード）自体に欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成することにより、撮像された画像データを正常に再生できないようにしたので、画像データ自体を暗号する場合と異なり、撮像装置における処理などに負荷が全く生じない。
【００１３】
請求項２記載に係る発明では、請求項１に係る撮像装置において、Ｇ画素を前記欠陥画素とすることを特徴とする。請求項２記載に係る発明によれば、欠陥画素を、撮像素子において画素数の多いＧ画素としたので、Ｓ／Ｎ（信号対雑音比）の劣化を最小限にできる。
【００１４】
請求項３記載の画像データ出力方法では、欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子によって撮像された画像データを読出すと共に、前記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータを読出し、前記パターンデータに基づき、前記画像データを補正し出力する。
【００１５】
欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子によって撮像された画像データを、撮像装置における例えばフラッシュＲＯＭなどの記録媒体から読出す。上記欠陥画素の配列パターンは予め異なる複数種類が存在し、そのため上記画像データに記録された欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータを読出す。そして、読出したパターンデータに基づき、画像データを補正すると共に、例えばプリンタなどに出力する。
【００１６】
請求項３記載に係る発明によれば、予め定めた配列パターンに応じて形成した欠陥画素を、欠陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、上記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータが認識できない場合には上記撮像素子によって撮像された画像データを正常に再生させることができない。すなわち、請求項３記載に係る発明によれば、撮像素子に欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成したので、撮像素子の流用を阻止できる。
【００１７】
なお、本発明では、画像データを記録する記録媒体を、スマート・メディア（SmartMedia（Ｒ））、コンパクト・フラッシュ（CompactFlash）、ＡＴＡ（AT Attachment）カード、フロッピィディスク、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）、ＣＤ−ＲＷ（Compact Disc-ReWritable）などとしても良い。また、本発明に係る撮像装置は、デジタルスチルカメラ，デジタルビデオカメラ，撮像機能を備えた携帯電話，パーソナル・コンピュータ，ＰＤＡ（Personal Digital Assistance）などを含む概念である。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、図１乃至図６に基づいて、本発明の実施形態であるデジタルスチルカメラ（以下、単に「カメラ」という）について説明する。なお、図１は本実施形態のカメラにおけるＣＣＤイメージセンサの要部を示す平面図、図２は図１に示すＣＣＤイメージセンサとは異なるタイプの要部を示す平面図である。
【００１９】
ここで、本実施形態のカメラは、不特定多数のユーザに貸し出し回収する、いわゆる使い捨てタイプである。また、本実施形態では、小型軽量で低価格なカメラとしたので、「欠陥画素データ」を記憶するメモリの個数（限界）が、２５６個となっている。
【００２０】
カメラに内蔵された撮像素子であるＣＣＤイメージセンサは、図１に示すように、半導体基板（図示省略）上に、平面形状が正八角形のフォトダイオード（光電変換素子である画素）１４を所定間隔（垂直画素ピッチＶＰ）で垂直方向に複数配列した第１の光電変換素子列１６と、複数のフォトダイオード１４を第１の光電変換素子列１６と同じ間隔で垂直方向に配列し、かつ第１の光電変換素子列１６に対して垂直方向に垂直画素ピッチＶＰに対して１／２ずらして配置された第２の光電変換素子列１８と、で構成された素子列の組を水平方向に複数組並べて構成されている。
【００２１】
そして、隣り合う第１の光電変換素子列１６及び隣り合う第２の光電変換素子列１８は、垂直画素ピッチと同じ間隔（水平画素ピッチＨＰ）で配置され、第１の光電変換素子列１６に含まれるフォトダイオード１４により構成される光電変換素子行に対して、第２の光電変換素子列１８に含まれるフォトダイオード１４により構成される光電変換素子行は、水平方向に水平画素ピッチＨＰに対して１／２ずらして配置されている。即ち、フォトダイオード１４は、いわゆるハニカム状に配列されている。
【００２２】
なお、相互に接近して配列された第１の光電変換素子列１６と第２の光電変換素子列１８との間には、フォトダイオード１４で発生した信号電荷を読み出して垂直方向に転送する垂直電荷転送チャネル２０が各々設けられている。垂直電荷転送チャネル２０は、両側に位置する光電変換素子列の各フォトダイオード間に侵入した侵入部２０Ａと非侵入部２０Ｂとが交互に位置するように連続して構成され、ハニカム状に配列したフォトダイオード１４の間を蛇行しながら垂直方向に延びている。
【００２３】
また、図１の想像線に示すように、所定位置のフォトダイオード１４は、故意に欠陥を設けたフォトダイオード（以下、単に「故意欠陥画素」という）１５としている。この故意欠陥画素１５は、黒を検出するための領域（オプティカルブラック部分）を形成する工程において、フォトダイオード１４の表面部分をアルミニウムで覆い隠す（マスクする）ことによって形成する。
【００２４】
即ち、本実施形態では、故意欠陥画素１５を予め定めた配列パターンに応じて形成すると共に、故意欠陥画素１５の個数をカメラのメモリ（「欠陥画素データ」を記憶するメモリ）で欠陥補正ができる限界（２５６個）以上の個数としている。故意欠陥画素１５は欠陥補正できるメモリの限界に対する数値として例えば１０００個以上を形成し、かつ故意欠陥画素１５の配列パターンは規則正しくなっている。
【００２５】
なお、本実施形態においても、ＣＣＤイメージセンサの製造時に不慮に形成された欠陥画素に対し、その欠陥画素の位置（座標）などを表わす「欠陥画素データ」がカメラの記憶部（メモリ）に予め記憶されている。そして、本実施形態においても、実際の撮像時において、予め記憶していた上記「欠陥画素データ」に対応する欠陥画素を、この周辺画素データに基づいて補正処理する。
【００２６】
上述のように構成されたＣＣＤイメージセンサは、被写界に向けて配置された撮像レンズによって結像される被写体像を電気信号に変換する。ＣＣＤイメージセンサの撮像面には、ＧストライプＲ／Ｂ完全市松配列のＲＧＢ原色フィルタが被着されている。即ち、Ｒ（レッド），Ｇ（グリーン），およびＢ（ブルー）の各フィルタに対応する画素（フォトダイオード）１４において、Ｇ画素は、Ｒ画素またはＢ画素の２倍の画素数となっている。
【００２７】
そして、本実施形態では、Ｒ・Ｂの画素よりも画素数の多いＧ画素を、上述した故意欠陥画素１５の主対象としている。そのため、本実施形態においては、故意欠陥画素１５を、画素数の多いＧ画素としたので、Ｓ／Ｎ（信号対雑音比）の劣化を最小限にし得る。
【００２８】
図２には、図１とは平面形状および配列が異なる画素を備えたＣＣＤイメージセンサが示されている。即ち、図２に示すように、平面形状が正四角形のフォトダイオード（画素）２２は、図示しない半導体基板上に、垂直方向および平行方向において所定間隔をもって整列している。
【００２９】
また、図２の想像線に示すように、所定位置のフォトダイオード２２は、故意に欠陥を設けたフォトダイオード（以下、単に「故意欠陥画素」という）２３としている。この故意欠陥画素２３は、オプティカルブラック（ＯＢ）部分を形成する工程において、フォトダイオード２２の表面部分をアルミニウムでマスクすることによって形成する。その他の構成は図１に示すＣＣＤイメージセンサと同様であるので、説明は省略する。
【００３０】
なお、カメラには、ＣＣＤイメージセンサからの出力信号に基づき被写体像を示すデジタル画像データを生成すると共にＣＣＤイメージセンサなどを駆動するためのタイミング信号を生成する信号処理部と、主としてＣＣＤイメージセンサによる撮像によって得られたデジタル画像データを記憶するＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic RAM）と、カメラの全体的な動作を司る制御部（ＣＰＵ）と、を含んで構成されている。
【００３１】
また、ＣＰＵは、図示しない所定容量のラインバッファを内蔵した撮像制御部と、所定の圧縮形式（本実施形態ではＪＰＥＧ（Joint Photographic Experts Group）形式）でデジタル画像データに対して圧縮処理を施すと共に、圧縮処理されたデジタル画像データに対して伸張処理を施す圧縮・伸張部と、がバスを介して相互に接続されて構成されている。
【００３２】
さらに、カメラは、ＣＣＤイメージセンサによる撮像によって得られた被写体像や各種情報を表示する表示部（ＬＣＤ）と、電源スイッチなどの各種操作キーを備える操作部と、カメラのＩＤ（このＩＤは故意欠陥画素１５，２３の配列パターンを特定するための「カメラＩＤ」である）や各種パラメータなどを記憶した記憶部（フラッシュＲＯＭ）と、ＵＳＢコネクタなどのインターフェイス３２（図３参照）を接続する外部接続部と、を含んで構成されている。
【００３３】
即ち、上記配列パターンは複数種類が存在し、カメラ（撮像素子）毎に異なるよう設定されている。また、フラッシュＲＯＭは、装置本体に内蔵され、取外し不可能となっている。
【００３４】
外部接続部は、ＣＰＵに接続されており、Ｉ／Ｆ３２を介して接続された外部端末（図３に示すような再生装置３０など）との間の通信を司る。なお、信号処理部は、相関２重サンプリング回路（ＣＤＳ）と、ゲインコントローラと、Ａ／Ｄコンバータと、タイミングジェネレータと、を含んで構成されている。
【００３５】
そして、信号処理部は、ＲＧＢ原色フィルタのフィルタ配列に対応するＣＣＤイメージセンサの各画素を３つの原色ＲＧＢとして表わす画素補間機能を有し、Ｒ，Ｇ，およびＢ各原色の画素から１つのＲＧＢ画素を補間処理によって生成する機能を有している。即ち、ＣＣＤイメージセンサから出力された信号は、相関２重サンプリング回路によって相関２重サンプリング処理が施され、ゲインコントローラによってＣＣＤイメージセンサにおけるＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）毎の感度調整が施された後、各画素毎のＲ、Ｇ、Ｂ信号としてＡ／Ｄコンバータに加えられる。
【００３６】
Ａ／Ｄコンバータは、ゲインコントローラから順次加えられるＲ，Ｇ，Ｂ信号を、各々１２ビットのＲ，Ｇ，Ｂ信号（以下、「デジタル画像データ」という。）に変換してＣＰＵに出力する。そして、ＣＰＵは、内蔵しているラインバッファにＡ／Ｄコンバータから順次入力されるデジタル画像データを、蓄積して一旦ＳＤＲＡＭに格納する。
【００３７】
ＳＤＲＡＭに格納されたデジタル画像データは、ＣＰＵによって読み出され、これらに光源種に応じたデジタルゲインをかけることでホワイトバランス調整を行なうと共に、ガンマ処理及びシャープネス処理を行なって８ビットのデジタル画像データを生成し、更にＹＣ信号処理して輝度信号Ｙとクロマ信号Ｃｒ、Ｃｂ（以下、単に「ＹＣ信号」という。）を生成し、ＹＣ信号を再びＳＤＲＡＭに格納する。
【００３８】
シャッターボタンが撮影者によって押圧操作された場合には、ＳＤＲＡＭに格納されたＹＣ信号を、圧縮・伸張部によって所定の圧縮形式で圧縮した後にフラッシュＲＯＭに記憶する。即ち、フラッシュＲＯＭには、被写体の画像データが記憶される。また、図３に示すように、Ｉ／Ｆ３２には再生装置３０が接続され、そしてフラッシュＲＯＭに記憶されているデジタル画像データ，カメラＩＤなどの各種情報は再生装置３０に読込まれる。
【００３９】
次に、図３に基づき、再生装置３０の構成を説明する。なお、本実施形態の再生装置３０は、いわゆるラボ（写真現像店）に設置されたパーソナル・コンピュータ（パソコン）である。
【００４０】
再生装置３０には、その装置全体の動作を司るＣＰＵ（中央演算処理装置）３４と，カメラ２８などが接続される入力用のＩ／Ｆ３２と，Ｉ／Ｆ３２から入力されたデジタル画像データを処理する信号処理部３６と，テンキーなど配置された操作部３８と，デジタル画像データなどを表示する表示部４０と，欠陥画素の配列パターンに対応する欠陥パターンデータおよびカメラＩＤなどの各種情報が記憶されたメモリ４２と，信号処理部３６で画像処理などされたデジタル画像データを外部に出力する出力用のＩ／Ｆ４４と，がバスＢＵＳを介して相互に接続されて構成されている。なお、再生装置３０であるパソコンは一般的なものであるので、その詳細な説明は省略する。
【００４１】
図４に示すように、メモリ４２の記憶領域４５は、カメラＩＤと欠陥パターンとを対応付けるデータ（図５参照）を予め記憶したテーブル領域４６，カメラ２８からのデジタル画像データなどを記憶する画像領域４７，欠陥パターンに基づいてデジタル画像データを欠陥補正するプログラムなどが予め記憶されたプログラム領域４８，テーブル領域４６の欠陥パターンに対応する欠陥パターンデータ（故意欠陥画素の座標などのデータ）が予め記憶された欠陥パターンデータ領域４９などを備えている。
【００４２】
引続き、図６に基づき、図３に示す再生装置３０におけるデジタル画像データの出力処理について説明する。なお、図６に示す処理は使い捨てタイプのカメラを販売する販売システムが構築されることが前提であり、そして撮像済みのカメラ２８をラボに持ち込む。また、本処理は、Ｉ／Ｆ３２にカメラ２８を接続し、かつＩ／Ｆ４４にプリンタ５０を接続していることが前提である。
【００４３】
図６に示すように、ステップ１００ではカメラ２８のフラッシュＲＯＭに記憶されているカメラＩＤを読込み、ステップ１０２では読込んだカメラＩＤに対応する欠陥パターンデータを図３に示すメモリ４２の欠陥パターンデータ領域４９（図４参照）から読込む。即ち、欠陥パターンデータは、カメラＩＤと欠陥パターンとが対応付けられたテーブル（図５参照）に基づき、欠陥パターンデータ領域４９から読出す。
【００４４】
また、ステップ１０４ではカメラ２８のフラッシュＲＯＭから出力されたデジタル画像データを画像領域４７（図４参照）から読込み、ステップ１０６では欠陥パターンデータに基づいて故意欠陥画素１５（図１参照）または２３（図２参照）を補正する。即ち、上記「欠陥パターンデータ」に対応する欠陥画素を、この周辺画素データに基づいて補正処理する。
【００４５】
そして、ステップ１０８では、補正処理されたデジタル画像データを、図３に示すプリンタ５０に転送する。プリンタ５０は、信号処理部３６で画像処理されたデジタル画像データに基づく画像を、プリントアウトする。即ち、本実施形態においては、故意欠陥画素１５，２３の配列パターンに対応する既知の欠陥パターンデータに基づき、予め形成した故意欠陥画素１５，２３を適切に補正し、良好な画像データを得ることができる。
【００４６】
なお、上述したように、本実施形態に係るカメラ２８は使い捨てタイプであるので、プリントアウト後に、業者がカメラ２８を回収する。また、本処理の終了後は、カメラ２８のフラッシュＲＯＭに記録されたデジタル画像データを、全て消去し、その後の再利用を図る。
【００４７】
本実施形態においては、予め定めた配列パターンに応じて形成した故意欠陥画素１５，２３を、欠陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、故意欠陥画素１５，２３の配列パターンに対応する欠陥パターンデータが認識できない（読出すことができない）場合すなわち欠陥パターンデータを記憶している再生装置３０以外ではデジタル画像データを正常に再生させることができない。
【００４８】
従って、本実施形態によれば、ＣＣＤイメージセンサに欠陥補正ができる限界以上の個数の故意欠陥画素１５，２３を、予め定めた配列パターンに応じて形成したので、カメラ２８に配置されたＣＣＤイメージセンサを他の撮像装置に利用（流用）することができない。なお、上述したように、本実施形態のＣＣＤイメージセンサは、その流用を阻止し得るように構成したので、使い捨てタイプのデジタルカメラに適している。
【００４９】
また、本実施形態では、ＣＣＤイメージセンサ（ハード）自体に欠陥補正ができる限界以上の個数の故意欠陥画素１５，２３を予め定めた配列パターンに応じて形成することにより、撮像された画像データを正常に再生できないようにしたので、画像データ自体を暗号する場合と異なり、カメラ２８における処理などに負荷が全く生じない。
【００５０】
なお、上記各実施形態では撮像素子をＣＣＤイメージセンサとした例であるが、本発明に係る撮像素子はＣＭＯＳイメージセンサなどとしても良い。また、故意欠陥画素１５，２３の形成は、物理的手段であるアルミニウム等でマスクする他に、転送電極を部分的に欠損させたり，所定位置に配置するべきフォトダイオード（画素）を設けない（開口させる）ようにしても良い。さらに、本発明に係る欠陥画素の形成は、上述した遮光の他に、白傷などが形成できるように開光させても良い。
【００５１】
本発明では、欠陥パターンデータ（故意欠陥画素１５，２３の座標データなど）を、暗号化させても良い。この場合には、画像データのセキュリティが確保される。また、本実施形態ではカメラ２８をＩ／Ｆ３２に接続した例であるが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えばカメラに対して着脱可能なスマート・メディアなどを再生装置３０に装着できるようにしても良い。
【００５２】
本実施形態ではプリンタ５０をＩ／Ｆ４４に接続しプリントアウトする例であるが、上記「欠陥パターンデータ」に基づいて補正処理されたデジタル画像データをＣＤ−Ｒ，スマート・メディア，コンパクト・フラッシュ，ＡＴＡカード，フロッピィディスク，ＣＤ−ＲＷなどの記録媒体に記録させるようにしても良い。また、本実施形態において説明したプログラムの処理の流れ（図６参照）は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【００５３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、予め定めた配列パターンに応じて形成した欠陥画素を、欠陥補正できるメモリなどの限界以上の個数としたので、上記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータが認識できない場合には上記撮像素子によって撮像された画像データを正常に再生させることができない。即ち、本発明によれば、撮像素子に欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成したので、撮像素子の流用を阻止できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るＣＣＤイメージセンサの要部を示す平面図である。
【図２】図１に示すＣＣＤイメージセンサとは異なるタイプの要部を示す平面図である。
【図３】本実施形態に係る再生装置の構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示すメモリのメモリマップを示す図である。
【図５】図４に示すテーブル領域のメモリマップを示す図である。
【図６】本実施形態に係る再生装置におけるデジタル画像データの出力処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１４、２２フォトダイオード（画素）
１５、２３故意欠陥画素
２８デジタルカメラ（撮像装置）

Claims

欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を、予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子を備える撮像装置。
Ｇ画素を前記欠陥画素とする請求項１記載の撮像装置。
欠陥補正ができる限界以上の個数の欠陥画素を予め定めた配列パターンに応じて形成した撮像素子によって撮像された画像データを読出すと共に、
前記欠陥画素の配列パターンに対応するパターンデータを読出し、
前記パターンデータに基づき、前記画像データを補正し出力する画像データ出力方法。