JP3825617B2 - ディスク装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、ディスク装置に関し、特にたとえば、半導体レーザから出力されたレーザ光を最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値がともに温度依存性を有するディスク記録媒体に形成されたランドエリアおよびグルーブエリアの一方に照射して所望の信号の記録／再生を行うディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＡＤ−ＭＳＲ（Central Aperture Detection Magnetically Induced Super Resolution）技術を採用しているＡＳ−ＭＯ（Advanced Storage Magneto Optical）方式のディスクのように、最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値の両方が温度依存性を備えるディスク記録媒体に所望の信号を記録するディスク装置では、ディスク記録媒体の温度が変化するたびに最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値を変更する必要がある。
【０００３】
ここで、最適再生レーザパワー値とはディスク記録媒体からの再生信号の再生品質を最もよくする再生レーザパワー値であり、最適記録レーザパワー値とは所定の信号の記録品質を最もよくする記録レーザパワー値である。再生品質は再生信号に含まれる本来再生される信号と異なった信号（以下、「誤り信号」と呼ぶ）の量によって判断する。また、最もよい記録品質とは再生品質を最もよくする信号がディスク記録媒体に記録された状態である。
【０００４】
従来のこの種のディスク装置では、ディスク記録媒体の温度が変化する度に最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値を決定するために次のような処理を行っていた。
【０００５】
まず、デフォルト値の記録レーザパワーで所定のテスト信号を記録領域に記録する（テストライト）。つぎに、再生レーザパワー値を段階的に変化させてテスト信号を再生し（テストリード）、再生されたテスト信号に含まれる誤り信号の量を、段階的に異なる再生レーザパワー値毎に算出する。そして、誤り信号の量が最も少なくなる再生レーザパワー値を最適再生レーザパワー値に決定する。
【０００６】
つぎに、記録レーザパワー値を段階的に変化させてテスト信号を記録領域に記録し（テストライト）、最適再生レーザパワー値でテスト信号を再生する（テストリード）。そして、再生されたテスト信号に含まれる誤り信号の量を、段階的に異なる記録レーザパワー値毎に算出する。そして、最も誤り信号の量が少ない記録レーザパワー値を最適記録レーザパワー値に決定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来のディスク装置では、上述したようにディスク記録媒体の温度が変化する度に、ディスク記録媒体にテストライトおよびテストリードを行って最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値を決定するので、最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値の決定に時間がかかり過ぎるという問題があった。
【０００８】
特に、リアルタイムで信号を記録するディジタルカメラなどでは、頻繁に最適記録レーザパワー値を更新する時間が取れず、最適な記録レーザパワー値で常に信号を記録するということができなかった。このため、最適な条件で信号を記録できないばかりでなく、信号の記録そのものが実行できなくなるという問題があった。
【０００９】
それゆえに、この発明の主たる目的は、短時間で最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値を決定できる、ディスク装置を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
この発明に従うディスク装置は、ディスク記録媒体にレーザ光を照射して所望の信号の記録および再生を行うディスク装置において、最適記録レーザパワー値と最適再生レーザパワー値との関係を示す第１関係式を格納する第１格納手段、ディスク記録媒体にレーザ光を照射して最適再生レーザパワー値を測定する測定手段、および測定手段による測定値と第１関係式とに基づいて最適記録レーザパワー値を算出する算出手段を備えることを特徴とする。
【００１２】
【作用】
この発明においては、最適再生レーザパワー値を測定により決定し、最適記録レーザパワー値を演算によって決定する。つまり、第１格納手段は最適記録レーザパワー値と最適再生レーザパワー値との関係を示す第１関係式を格納している。測定手段はディスク記録媒体にレーザ光を照射して最適再生レーザパワー値を測定する。そして、算出手段は測定手段によって測定された測定値と第１関係式とに基づいて最適記録レーザパワー値を決定する。
【００１３】
この発明の好ましい実施例では、第１能動化手段はディスク記録媒体の周辺温度の変化が所定の閾値を超えたときに測定手段と算出手段を能動化する。
【００１４】
この発明の別の局面では、最適記録レーザパワー値および最適再生レーザパワー値をさらに演算のみによって更新する。つまり、第２格納手段は最適記録レーザパワー値と温度（ディスク記録媒体の周辺温度）との関係を示す第２関係式（温度に対する最適記録レーザパワー値の変化率）を格納し、第３格納手段は最適再生レーザパワー値と温度（ディスク記録媒体の周辺温度）との関係を示す第３関係式（温度に対する最適再生レーザパワー値の変化率）を格納している。そして、第１更新手段はディスク記録媒体の周辺温度（前回の周辺温度と今回の周辺温度）と第２関係式とに基づいて最適記録レーザパワー値を更新し、第２更新手段はディスク記録媒体の周辺温度（前回の周辺温度と今回の周辺温度）と第３関係式とに基づいて最適再生レーザパワー値を更新する。
【００１５】
この発明のさらに好ましい実施例では、所定の時間おきに最適記録レーザパワー値および最適再生レーザパワー値を更新する。つまり、第２能動化手段は所定の時間おきに第１更新手段および第２更新手段の少なくとも一方を能動化する。
【００１６】
なお、ディスク記録媒体としては、ＣＡＤ−ＭＳＲ方式を採用するディスク記録媒体が好ましい。
【００１８】
【発明の効果】
この発明によれば、演算によって最適レーザパワー値を算出するので、短時間で最適再生レーザパワー値および最適記録レーザパワー値を決定できるディスク装置を提供することができる。
【００１９】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【００２０】
【実施例】
［実施例１］
図１を参照して、この実施例１のディジタルカメラ１０は、被写体を撮影するＣＣＤイメージャ１２を含む。ＣＣＤイメージャ１２は、受光面に入射された被写体の光像に光電変換を施し、光像に対応する電荷（カメラ信号）を生成する。ディジタルカメラ１０は、静止画像および動画像の記録が可能であり、モード切換スイッチ３４によって記録モードが切り換えられる。
【００２１】
モード切換スイッチ３４によって静止画像記録モードが選択されているときにシャッタボタン３６が押し下げられると、システムコントローラ３２は、ＴＧ（Timing Generator）１４に対して１画面分のカメラ信号の全画素読み出し命令を与える。ＴＧ１４は、１画面に相当する期間だけ、ＣＣＤイメージャ１２を全画素読み出し方式で駆動する。これによって、受光面で生成された静止画像のカメラ信号が、ＣＣＤイメージャ１２から出力される。
【００２２】
一方、モード切換スイッチ３４によって動画像記録モードが選択されているときにシャッタボタン３６が押し下げられると、システムコントローラ３２は、ＴＧ１４に対してカメラ信号の間引き読み出し命令を与える。ＴＧ１４は、再度シャッタボタン３６が押し下げられるまでＣＣＤイメージャ１２を間引き読み出し方式で駆動し、これによってＣＣＤイメージャ１２から動画像のカメラ信号が出力される。
【００２３】
ＣＣＤイメージャ１２から出力されたカメラ信号は、ＣＤＳ／ＡＧＣ回路１６に与えられる。ＣＤＳ／ＡＧＣ回路１６は、カメラ信号にノイズ除去およびレベル調整を施し、Ａ／Ｄ変換器１８に与える。Ａ／Ｄ変換機１８によってディジタル信号に変換されたカメラ信号は、信号処理回路２０によってＹＵＶ信号に変換され、さらにＹＵＶ信号にＪＰＥＧ圧縮が施される。圧縮されたＹＵＶ信号は、信号処理回路２０によってバッファメモリ２２に書き込まれる。バッファメモリ２２に設定された圧縮ＹＵＶ信号は、ディスク制御回路２４によって読み出され、光ピックアップ２６に設けられたレーザダイオード２６ａおよび磁気ヘッド２８によって光磁気ディスク３０に記録される。なお、上述したように光磁気ディスク３０としては、ＣＡＤ−ＭＳＲ技術が採用されたＡＳ−ＭＯなどの着脱可能なディスクが用いられる。
【００２４】
一方、光磁気ディスク３０から読み出された圧縮ＹＵＶ信号は、ディスク制御回路２４およびバッファメモリ２２を介して信号処理回路２０に与えられる。信号処理回路２０は圧縮ＹＵＶ信号をＪＰＥＧ伸長してモニタドライバ４０に与える。そして、モニタドライバ４０はモニタ４２を駆動してディジタル信号を映像としてモニタ４２に表示させる。なお、光磁気ディスク３０からの再生は、再生ボタン（図示せず）の操作によって開始される。
【００２５】
光ピックアップ２６およびディスク制御回路２４は、具体的には図２に示すように構成されている。光磁気ディスク３０の径方向における光ピックアップ２６の位置は、スレッドサーボ機構４８によって制御される。また、光ピックアップ２６に設けられた光学レンズ２６ｃの光軸方向における位置は、フォーカスサーボ機構４４によって制御される。さらに、光磁気ディスク３０の径方向における光学レンズ２６ｃの位置は、トラッキングサーボ機構４６によって制御される。
【００２６】
レーザドライブ５０は、ＭＰＵ５２から与えられる制御信号によってレーザパワー値が設定され、レーザドライブ５０は設定されたレーザパワー値のレーザ光をレーザダイオード２６ａから発振させる。レーザドライブ５０は、具体的には図３に示すように、光磁気ディスク３０への記録波形パターンを形成して出力する波形処理ＬＳＩ（ＰＬＬ）７２と半導体レーザ制御ＬＳＩ（ＡＰＣ）７４とから構成される。ＭＰＵ５２はワークエリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐに設定されている値のいずれかであるレジスタ値およびリード／ライト設定信号を波形処理ＬＳＩ７２に与え、レジスタ値はレジスタ値設定ピン７２ａに、リード／ライト設定信号はリード／ライト設定ピン７２ｂにそれぞれ入力される。波形処理ＬＳＩ７２はレジスタ値設定ピン７２ａに入力されたレジスタ値に応じた出力の記録波形パターンを波形出力ピン７２ｃから半導体レーザ制御ＬＳＩ７４に出力する。波形処理ＬＳＩ７２はリード／ライト設定ピン７２ｂに設定された信号によってリードモードとライトモードを切り換える。つまり、レジスタ設定値が同じであっても、リードモードとライトモードとでは波形出力ピン７２から出力される記録波形パターンの出力値が異なる。たとえば、リードモードの出力値を１とするとライトモードの出力値は５倍となる。そのため、たとえレジスタ値設定ピン７２ａに設定される再生用の設定値が記録用の設定値よりも大きくても、レーザダイオード２６ａから発振されるレーザ光は記録用のレーザパワー値が再生用のレーザパワー値よりも大きくなる。
【００２７】
波形処理ＬＳＩ７２から出力された記録波形パターンは、半導体レーザ制御ＬＳＩ７４の波形入力ピン７４ａに入力される。半導体レーザ制御ＬＳＩ７２は入力された記録波形パターンに応じた制御信号を制御信号出力ピン７４ｂからレーザダイオード２６ａへ出力する。
【００２８】
なお、レーザドライブ５０としては、株式会社東芝製のレーザパワーコントロール（ＬＰＣ）（製品番号：ＱＦＰ６４−Ｐ−１０１０−０．５０Ｃ）が適用できる。このレーザパワーコントロールは、波形処理ＬＳＩ７０としてのＩＣ「ＴＡ８５７７ＡＦ」と半導体レーザ制御ＬＳＩ７４としてのＩＣ「ＴＡ８５７６ＡＦＮ」とが一体となっている。
【００２９】
レーザダイオード２６ａから発振されたレーザ光は、光学レンズ２６ｃで収束されて光磁気ディスク３０の記録面に照射される。
【００３０】
上述のように光磁気ディスク３０はＣＡＤ−ＭＳＲ技術が採用されたＡＳ−ＭＯが適用できる。ＡＳ−ＭＯは再生層および記録層を含んでおり、ＹＵＶ信号は記録層に記録される。ＹＵＶ信号を記録層に記録するときには記録層にフォーカスされたレーザ光が再生層側から記録層に照射される。レーザ光によってキュリー温度に達した記録層に磁気ヘッド２８によって磁界が加えられると、記録層のキュリー温度に達した部分は磁界の方向に磁化される。この磁化された部分の一つ一つはマークと呼ばれる。磁気ヘッド２８が発生する磁界を制御することによって、所望の信号（ＭＯ信号）が光磁気ディスク３０の記録層に記録される。
【００３１】
一方、光磁気ディスク３０からＭＯ信号を読み出すときには、再生層にフォーカスされたレーザ光が照射される。レーザ光の照射により所定の温度（キュリー温度よりも低い温度）に達した再生層は磁性を示し、記録層のマークが保持する磁界に応じて磁化される。こうして再生層に染み出した記録層の磁界は磁界の方向に応じてレーザ光の反射光を偏向させる。そして光ピックアップ２６では反射光の偏向に基づいてＭＯ信号（ＹＵＶ信号）が読み取られる。
【００３２】
記録層をキュリー温度まで上昇させるので、記録レーザ光は再生レーザ光よりも大きな出力（パワー）が必要である。また、再生層が記録層の磁界を染み出させるようになる温度は一定であるが、光磁気ディスク３０の温度によって、その温度にまで達成させるレーザ光の強度が異なる。したがって、この光磁気ディスク３０は最適記録レーザパワー値のみでなく、最適再生レーザパワー値も光磁気ディスク３０の温度に依存する。
【００３３】
映像信号を光磁気ディスク３０に記録するときは、ＭＰＵ５２から与えられる映像信号にＥＣＣエンコーダ６４において誤り訂正符号（ECC:Error Correcting Code）が付加され、誤り訂正符号が付加された映像信号に対応するエンコード信号が磁気ヘッド２８に与えられる。磁気ヘッド２８は、ＥＣＣエンコーダ６４から与えられるエンコード信号に応じた磁界を発生する。
【００３４】
ここで誤り訂正符号は、所定量の映像信号毎に付加される符号であり、誤り訂正符号が付加された所定量の映像信号はＥＣＣブロックと呼ばれる。ＥＣＣブロックは複数のラインと呼ばれる信号の集合から構成される。ＥＣＣブロックは、ブロック内のディジタル信号に誤りが含まれているときに、誤った信号（以下、「誤り信号」と呼ぶ）を誤り訂正符号を用いて自動的に訂正することができる。ただし、訂正できる誤り信号の信号量には一定の限界がある。
【００３５】
光磁気ディスク３０に記録された映像信号を再生するときには、レーザドライブ５０によってレーザダイオード２６ａが制御され、レーザダイオード２６ａは制御に応じたレーザ光を発振する。発振されたレーザ光は光学レンズ２６ｃを介して光磁気ディスク３０の表面に照射される。光磁気ディスク３０の表面からの反射光は、同じ光学レンズ２６ｃを通過して光検出器２６ｂに入射される。光検出器２６ｂは、受け取った検出光に応じた信号（ＲＦ信号）をイコライザ５６に与える。イコライザ５６はＲＦ信号の周波数特性を補償し、ＰＲＭＬ５８（Partial Response Maximum Likelihood）に与える。ＰＲＭＬ５８は、ＲＦ信号に基づいてディジタル信号を生成し、生成したディジタル信号をＥＣＣデコーダ６０に与える。ＥＣＣデコーダ６０はＰＲＭＬ５８から受け取ったディジタル信号に含まれる誤り信号を１ＥＣＣブロック毎に誤り訂正する。また、ＥＣＣデコーダ６０はＥＣＣブロックの１ライン中のどれだけの誤り信号を訂正したか、つまり１ライン中にどれだけの誤り信号が含まれていたかを示す情報（以下、「訂正量情報」と呼ぶ）を符号誤り率算出回路６２に与える。符号誤り率算出回路６２は、ＥＣＣデコーダ６０から与えられた訂正量情報に基づいて符号誤り率（以下、単に「誤り率」と記載）を算出し、ＭＰＵ５２に与える。
【００３６】
なお、上述したようにＥＣＣデコーダ６０によって誤り訂正されたディジタル信号は、ディスク制御回路２４から出力され、バッファメモリ２２（図１参照）を介して信号処理回路２０に与えられる。そしてさらにディジタル信号は信号処理回路２０によってＪＰＥＧ伸長され、モニタドライバ４０に与えられる。モニタドライバ４０はモニタ４２を駆動し、ディジタル信号を映像としてモニタ４２に表示させる。
【００３７】
光磁気ディスク３０はスピンドル（図示せず）の上に搭載され、スピンドルはシャフト６８を介してスピンドルモータ６６に連結されている。スピンドルモータ６６は、ＭＰＵ５２から与えられる制御信号に応じてシャフト６８を回転させる。シャフト６８の回転に伴ってスピンドル、つまり光磁気ディスク３０が回転する。また、スピンドルモータ６６はスピンドルの回転数に関連するＦＧ信号を発生し、このＦＧ信号をＭＰＵ５２に与える。このＦＧ信号をＭＰＵ５２がモニタすることによりシャフト６８に連結されたスピンドル、つまり光磁気ディスク３０の回転数が適切に制御される。これらの制御によって、レーザダイオード２６ａから出力されたレーザ光が光磁気ディスク３０の所望の位置に正確に照射される。
【００３８】
上述したように、ランドエリア／グルーブエリアの最適再生レーザパワー値／最適記録レーザパワー値は光磁気ディスク３０の表面温度によって異なる。したがって、光磁気ディスク３０の所望の位置に正確にレーザ光を照射してもＲＦ信号には誤り信号が含まれる。なお、光ピックアップ２６の近傍に設けられた温度センサ６４が、光磁気ディスク３０および光ピックアップ２６の周辺温度を検知してＭＰＵ５２に与える。しかし、温度センサ６４が検知する周辺温度は光磁気ディスク３０の正確な表面温度を示しているわけではない。
【００３９】
通常、ＥＣＣブロック内に含まれる誤り信号は、ＥＣＣデコーダ６０において誤り訂正符号を用いて正しい信号に訂正される。しかし、光磁気ディスク３０に記録する記録装置と再生する再生装置とが異なるときや、記録時と再生時とで温度および湿度などの外的要因が大きく異なるときなどには、誤り信号の量が増大し、誤り訂正符号による訂正能力を超える可能性がある。この場合には、誤り信号がそのまま出力されると、再生信号が静止画像であればその再生画像にノイズを生じる。
【００４０】
そこで、極力誤り信号の量が少なくなるように最も誤り率が低くなる記録時および再生時のレーザパワー値（最適記録レーザパワー値および最適再生レーザパワー値）をランドエリアとグルーブエリアとのそれぞれについて決定する。また、動画像のように連続した記録信号を記録し、リアルタイムで画像を記録するディジタルカメラではより短時間で最適なレーザパワー値を決定する必要がある。
【００４１】
実施例１のディジタルカメラ１０では、起動されたときもしくは光磁気ディスク３０が装着されたときに、テストライト／リードによってランドエリアおよびグルーブエリアの最適再生レーザパワー値を実測によって決定し、決定された各最適再生レーザパワー値および光磁気ディスク３０の周辺温度に基づいてランドエリアおよびグルーブエリアの最適記録レーザパワー値を決定する。
【００４２】
ランド用最適再生レーザパワー値，ランド用最適記録レーザパワー値，グルーブ用最適レーザパワー値およびグルーブ用最適レーザパワー値のすべて（以下「各最適レーザパワー値」）が決定されると、以後は所定の時間Ｔが経過する毎に演算によってその時点の周辺温度における各最適レーザパワー値を前回の各最適レーザパワー値に基づく演算によって決定する。つまり、時間Ｔ経過時のランド用最適再生レーザパワー値は前回のランド用最適再生レーザパワー値に基づく演算によって決定される。また、周辺温度に大きな変化（１０℃程度の変化）が生じたときには、テストライト／リードによって再びランド用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適再生レーザパワー値を実測によって決定し、決定された各最適再生レーザパワー値およびランド用最適再生レーザパワー値とランド用最適記録レーザパワー値との関係，グルーブ用最適再生レーザパワー値とグルーブ用最適記録レーザパワー値との関係を示すそれぞれの線形関数に従って、ランド用最適記録レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値をそれぞれ決定する。
【００４３】
光磁気ディスク３０にランドエリアおよびグルーブエリアを含むテストエリア３０ａを設定する。このテストエリア３０ａに対して所定のテスト信号のテストライト／リードを行うことによって誤り率を測定する。なお、テストエリア３０ａに含まれるランドエリアおよびグルーブエリアをそれぞれ「ランドテストエリア」および「グルーブテストエリア」と呼ぶ。なお、テスト信号はＭＰＵ５２から読み出しが可能となったＲＯＭ５４に記録されている。また、テストエリア３０ａは光磁気ディスク３０の外周もしくは内周のどちらかに設けることが好ましい。
【００４４】
実施例１のディジタルカメラ１０では、電源スイッチ３８が投入される、もしくは光磁気ディスク３０が装着されるとシステムコントローラ３２が制御信号をＭＰＵ５２に与える。ＭＰＵ５２はシステムコントローラ３２からの制御信号を受けてスピンドルモータ６６を制御して光磁気ディスク３０を回転させる。そして、図５から図８のフロー図に示す処理を実行する。なお、図５から図８のフロー図には、各最適レーザパワー値の決定および設定に関する処理のみを示している。
【００４５】
まず、ステップＳ１でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えて半導体レーザ２６ａをオン状態にする。そして、ステップＳ３でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えてランド用記録レーザパワーのデフォルト値を設定する。なお、各レーザパワーのデフォルト値はＲＯＭ５４に記録されている。ステップＳ５で制御信号をスレッドサーボ機構に与えて光ピックアップ２６をランドテストエリアにシークさせる。ステップＳ７で、ＭＰＵ５２はＲＯＭ５４からテスト信号を読み出し、ランド用記録レーザパワーのデフォルト値でランドテストエリアに記録する。
【００４６】
つぎに、ステップＳ９でＭＰＵ５２は再生レーザパワー値を段階的に変化させて、ランドテストエリアからテスト信号を再生し、各段階別再生レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。そして、ステップＳ１１で最も値が低い誤り率に対応する再生レーザパワー値をランド用最適再生レーザパワー値としてＭＰＵ５２内のワークエリア（レジスタ）Ｐｌに設定する。以下においてワークエリアＰｌおよびワークエリアＰｌに設定されている値を単に「Ｐｌ」とも表記する。なお、誤り率の算出方法および最低の誤り率を特定する方法は従来の方法が適用できるため詳細な説明を省略する。そして、ステップＳ１３ではランド用最適再生レーザパワー値（Ｐｌ）に基づいてランド用最適記録レーザパワー値を以下の方法で算出し、ワークエリアＹｐに設定する。
【００４７】
ここで、ランド用最適再生レーザパワー値（Ｐｌ）と温度センサ６４による温度値ｘとの間には図４の四角―四角線に示す関係がある。この四角―四角線を直線で近似したものが近似線Ｐｒ（Ｌ）線である。この近似線Ｐｒ（Ｌ）は、温度センサ６４による温度値を「ｘ」とすると以下の数１で表現される。
【００４８】
同様に、ランド用最適記録レーザパワー値（Ｙｐ）と温度値ｘとの間には丸―丸線に示す関係があり、丸―丸線の近似線Ｐｗ（Ｌ）は数２で表現される。
【００４９】
また、グルーブ用最適再生レーザパワー値（Ｐｇ）と温度値ｘとの間には菱形―菱形線に示す関係があり、菱形―菱形線の近似線Ｐｒ（Ｇ）は数３で表現される。
【００５０】
そして、グルーブ用最適記録レーザパワー値（Ｚｐ）と温度値ｘとの間には三角―三角線に示す関係があり、三角―三角線の近似線Ｐｗ（Ｇ）は数４で表現される。
【００５１】
なお、温度値ｘと各最適レーザパワー値との関係を示す各線（四角−四角線，丸−丸線，菱形−菱形線，三角−三角線）は、一般的な光磁気ディスクにおける温度値と各最適レーザパワー値との関係を示す標準値である。
【００５２】
また、図４のグラフの縦軸は、ＭＰＵ５２のレジスタに設定される値であり、レーザパワー値そのものではない。上述したように、レジスタに設定されている値が同じであっても、記録時のレーザパワー値は再生時のレーザパワー値の５倍となる。図４のグラフにおいて、再生レーザパワーのレジスタ値が記録レーザパワーのレジスタ値よりも高い値となっているのはこのためである。
【００５３】
【数１】
Ｐｌ＝−０．３４６０ｘ＋７５．９０６
【００５４】
【数２】
Ｙｐ＝−０．１８３４ｘ＋５６．８３７
【００５５】
【数３】
Ｐｇ＝−０．３０６２ｘ＋７２．４６８
【００５６】
【数４】
Ｚｐ＝−０．３０６２ｘ＋６８．４６８
数１および数２から数５が得られ、数５を用いることによってランド用最適再生レーザパワー値からランド用最適記録レーザパワー値を算出することができる。
【００５７】
【数５】
Ｙｐ＝０．５３０Ｐｌ＋１６．６０２
同様に、数３および数４から数６が得られ、数６を用いることによってグルーブ用最適再生レーザパワー値からグルーブ用最適記録レーザパワー値を算出することができる。
【００５８】
【数６】
Ｚｐ＝Ｐｇ−４．０００
なお、ＲＯＭ５４には、数１，数３，数５，数６が示す各線形関数ならびに数１から数４における各変化率（「−０．３４６０」，「−０．１８３４」，「−０．３０６２」，「−０．３０６２」）が予め記録されている。
【００５９】
このようにして、数５を用いてステップＳ１１で決定したランド用最適再生レーザパワー値からランド用最適記録レーザパワー値を求める。なお、最適記録レーザパワー値を実測し、最適記録レーザパワー値から最適再生パワー値を算出してもよいが、最適再生レーザパワー値を実測値とするほうがより時間を短縮することができるので好ましい。
【００６０】
ランド用最適再生レーザパワー値およびランド用最適記録レーザパワー値が決定すると、同様の手順によってグルーブ用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値を決定する。
【００６１】
まず、ステップＳ１５でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えてグルーブ用記録レーザパワーのデフォルト値を設定する。つぎに、ステップＳ１７で制御信号をスレッドサーボ機構に与えて光ピックアップ２６をグルーブテストエリアにシークさせる。そして、ステップＳ１９でＭＰＵ５２はＲＯＭ５４からテスト信号を読み出してデフォルト値のグルーブ用記録レーザパワー値でグルーブテストエリアに記録する。
【００６２】
つぎに、ステップＳ２１でＭＰＵ５２は、再生レーザパワー値を段階的に変化させて、グルーブテストエリアに記録したテスト信号を再生し、各段階別再生レーザパワー値での誤り率を測定する。そして、ステップＳ２３で誤り率が最も低くなる再生レーザパワー値を決定し、グルーブ用最適再生レーザパワー値としてワークエリアＰｇに設定する。ステップＳ２５では、Ｐｇの値を数６に代入してグルーブ用最適記録レーザパワー値を算出し、ワークエリアＺｐに設定する。
【００６３】
このようにして各最適レーザパワー値を決定すると、ＭＰＵ５２はステップＳ２７で温度センサ６４が示す温度値を取得してワークエリアＴｄに設定する。ステップＳ２９でワークアリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐに設定されている値をワークアリアＰｌｃ，Ｙｐｃ，Ｐｇｃ，Ｚｐｃにそれぞれ複写する。なお、ＭＰＵ５２は、ワークエリアＰｌｃ，Ｙｐｃ，Ｐｇｃ，Ｚｐｃに設定されている値をそれぞれ適宜に選択してレーザドライブ５０に設定する。
【００６４】
ステップＳ３１では、タイマフラグがオン状態であるかどうかを判断する。ここでタイマフラグはタイマがスタートしているかどうかを判断するためのフラグである。また、タイマは定期的に各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔを計測するダウンカウンタである。タイマフラグがオン状態でないと判断すると、ステップＳ３３でタイマをスタートし、ステップＳ３５でタイマフラグをオン状態にする。なお、タイマでカウントする時間Ｔ、つまり周辺温度と無関係に定期的に各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔは１分程度が好ましい。ただし、時間Ｔは１分程度に限られるわけではない。
【００６５】
ステップＳ３７で温度センサ６４が示す温度値を取得してワークエリアＴｃに設定する。そして、ステップＳ３９で、温度値Ｔｃと温度値Ｔｄとの差の絶対値が所定の閾値ΔＴよりも大きいかどうかを判断する。つまり、ワークエリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐに設定されている各最適レーザパワー値を決定した時の温度値（Ｔｄ）と、ステップＳ３７で取得した現在の温度値（Ｔｃ）との差が閾値ΔＴよりも大きいかどうかを判断する。閾値ΔＴの値としては１０℃程度が好ましいが、１０℃に限るわけではない。
【００６６】
温度値Ｔｃと温度値Ｔｄとの差の絶対値が閾値ΔＴより大きいときにはステップＳ４１の「実測に基づくレーザパワー値の更新」処理で、実測に基づく各最適レーザパワー値の更新を行う。「実測に基づくレーザパワー値の更新」処理は図７のフロー図に示す手順にしたがって実行される。なお、「実測に基づくレーザパワー値の更新」処理であるステップＳ６１からステップＳ７５の処理は、図５のフロー図に示すステップＳ３からステップＳ２５の処理内容とほぼ同様である。ただし、符号誤り率の測定に使用するテスト信号は図５のステップＳ７およびステップＳ１９で既にテストエリア３０ａに記録されたテスト信号が使用される。
【００６７】
まず、ステップＳ６１でＭＰＵ５２は制御信号をスレッドサーボ機構に与えて光ピックアップ２６をランドテストエリアにシークさせる。つぎに、ステップＳ６３で再生レーザパワー値を段階的に変化させて、ランドテストエリアからテスト信号を再生し、各段階別の再生レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。そして、ステップＳ６５で最も低い誤り率に対応する再生レーザパワー値をランド用最適再生レーザパワー値としてワークエリアＰｌに設定する。そして、ステップＳ６７で、ランド用最適再生レーザパワー値（Ｐｌ）を数５に代入してランド用最適記録レーザパワー値を算出し、ワークエリアＹｐに設定する。
【００６８】
つぎに、ＭＰＵ５２は再び制御信号をスレッドサーボ機構に与えてグルーブテストエリアに光ピックアップ２６をシークさせる。そして、ステップＳ７１では再生レーザパワー値を段階的に変化させて、グルーブテストエリアからテスト信号を再生し、各段階別の再生レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。ステップＳ７３で最も低い誤り率を決定し、その誤り率に対応する再生レーザパワー値をグルーブ用最適再生レーザパワー値としてワークエリアＰｇに設定する。そして、ステップＳ７５で、グルーブ用最適再生レーザパワー値（Ｐｇ）を数６に代入してグルーブ用最適記録レーザパワー値を算出し、ワークエリアＺｐに設定する。
【００６９】
このようにして各最適レーザパワー値を更新すると図６のステップＳ４１における「実測に基づくレーザパワー値の更新」処理を終了する。各最適レーザパワー値の更新が終了するとステップＳ４７でタイマをリセットし、ステップＳ４９でタイマフラグをオフ状態とする。定期的に各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔは経過していないが（タイマがタイムアップしていないが）、各最適レーザパワー値が更新されたのでタイマをリセットする。そして、ステップＳ５１で、ワークエリアＴｃに設定されている温度値をワークエリアＴｄに複写してステップＳ２９に戻る。ステップＳ２９では、ワークエリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐに設定されている更新された各最適レーザパワー値をワークエリアＰｌｃ，Ｙｐｃ，Ｐｇｃ，Ｚｐｃにそれぞれ複写する。
【００７０】
ステップＳ３１では再びタイマフラグがオン状態であるかどうかを判断する。現在、タイマフラグはオフ状態であるから、ステップＳ３３でタイマを再びスタートし、ステップＳ３５でタイマブラグをオン状態にする。
【００７１】
ステップＳ３７で温度センサ７０から周辺温度を取得してワークエリアＴｃに設定する。そして、ステップＳ３９で温度値Ｔｃと温度値Ｔｄとの差の絶対値が閾値ΔＴよりも大きいかどうかを判断する。両温度値の差の絶対値が閾値ΔＴ以下であるときには、ステップＳ４３でタイマがタイムアップしているか、つまり時間Ｔが経過しているかどうかを判断する。タイムアップしていないときにはステップＳ３７に戻って再び温度センサ７０から周辺温度を取得してワークエリアＴｃに設定する。一方、タイマがタイムアップしているとき、つまり各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔが経過しているときにはステップＳ４５で、演算に基づいて各最適レーザパワー値を更新する「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を実行する。この「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理は図８のフロー図に示す手順に従って実行される。
【００７２】
まず、図８のステップＳ９１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」よりも大きいか、つまり、光磁気ディスク３０の周辺温度が上昇したかどうかを判断する。周辺温度が上昇したときは、ステップＳ９３からステップＳ９９の処理で各最適レーザパワー値を下方修正する。
【００７３】
ここで、数１から数４に示されるように、ランド用最適再生レーザパワー値Ｐｌの周辺温度に対する変化率は「−０．３０６２／℃」、ランド用最適記録レーザパワー値Ｙｐの周辺温度に対する変化率は「−０．１８３４／℃」、グルーブ用最適再生レーザパワー値Ｐｇの周辺温度に対する変化率は「−０．３４６／℃」、グルーブ用最適記録レーザパワー値Ｚｐの周辺温度に対する変化率は「−０．３０６２／℃」である。
【００７４】
そこで、温度変化量（Ｔｃ−Ｔｄ）に上述の各変化率を乗算して各レーザパワー値の変化量をそれぞれ決定し、この各レーザパワー値の変化量を現在の各最適レーザパワー値（Ｐｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐ）から減じることによって現在の温度値（Ｔｃ）における各最適レーザパワー値を算出する。この算出方法を式で示したのが数７から数１０である。
【００７５】
まず、ステップＳ９３では、ワークエリアＰｌに以下の数７で与えられる値を設定する。ただし、以下において“［］”はガウス記号であり、［ａ］はａを超えない最大の整数値である。同様に、ステップＳ９５からステップＳ９９において、ワークエリアＹｐ，Ｐｇ，Ｚｐに数８から数１０で与えられる値をそれぞれ設定する。
【００７６】
【数７】
Ｐｌ＝Ｐｌ−［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３４６］
【００７７】
【数８】
Ｙｐ＝Ｙｐ−［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．１８３４］
【００７８】
【数９】
Ｐｇ＝Ｐｇ−［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３０６２］
【００７９】
【数１０】
Ｚｐ＝Ｚｐ−［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３０６２］
一方、ステップＳ９１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」以下である、つまり、光磁気ディスク３０の周辺温度が上昇していないと判断するときには、さらにステップＳ１０１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」であるかどうかを判断する。「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」、つまり周辺温度に変化がないときには「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を終了する。周辺温度が下降しているときにはステップＳ１０３からステップＳ１０９において各最適レーザパワー値を上方修正する。
【００８０】
ステップＳ１０３からステップＳ１０９の各ステップでは、以下の数１１から数１４で与えられる値をワークエリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐにそれぞれ設定する。各最適レーザパワー値の算出方法は、下方修正の算出方法と同様であり、各最適レーザパワー値の変化量を現在の各最適レーザパワー値に加算する方法である。
【００８１】
【数１１】
Ｐｌ＝Ｐｌ＋［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３４６］
【００８２】
【数１２】
Ｙｐ＝Ｙｐ＋［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．１８３４］
【００８３】
【数１３】
Ｐｇ＝Ｐｇ＋［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３０６２］
【００８４】
【数１４】
Ｚｐ＝Ｚｐ＋［（Ｔｃ−Ｔｄ）×０．３０６２］
こうして各最適レーザパワー値の更新が終了すると、図６のステップＳ４５における「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を終了する。「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理が終了すると、ステップＳ４７でタイマをリセットし、ステップＳ４９でタイマフラグをオフ状態にする。そして、ステップＳ５１でワークエリアＴｃに設定されている温度値をワークエリアＴｄに再び複写して、ステップＳ２９に戻る。
【００８５】
以下同様にして、この実施例１のディジタルカメラ１０では、Ｔ時間毎に演算に基づいて各最適レーザパワー値を更新するとともに、光磁気ディスク３０の周辺温度の変化が閾値ΔＴ以上となる毎に実測に基づく各最適レーザパワー値を更新する。
【００８６】
このように、実施例１のディジタルカメラ１０では、起動時もしくは光磁気ディスク３０の装着時にテストライト／リードによって実測によるランド用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値を決定し、各最適再生レーザパワー値から演算によってランド用最適記録レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値を決定する。
【００８７】
そして、所定の時間Ｔが経過する毎に現在の各最適レーザパワー値から演算によって現在の周辺温度における各最適レーザパワー値を決定する。
【００８８】
さらに、周辺温度が閾値ΔＴより大きい変化を示したときには、テストライト／リードによってランド用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適再生レーザパワー値を実測し、各最適再生レーザパワー値に基づく演算によってランド用最適記録レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値を決定する。
【００８９】
したがって、短時間で適切な各最適再生レーザパワー値および各最適記録レーザパワー値を決定できるので、リアルタイムで信号を記録するディジタルカメラ１０においても頻繁に各最適レーザパワー値を更新することができる。さらに、大きな周辺温度変化が生じたときには再度各最適再生レーザパワー値を実測するので、より適切な各最適レーザパワー値を得ることができる。
【００９０】
なお、図５から図７のフロー図には示していないがＭＰＵ５２は、所定の信号の再生／記録を行う対象が、光磁気ディスク３０のランドエリアであるかグルーブエリアであるかを判断し、再生／記録およびランドエリア／グルーブエリアに応じた最適レーザパワー値をＰｌｃ，Ｙｐｃ，Ｐｇｃ，Ｚｐｃから適宜に選択してレーザドライブ５０に設定する。
［実施例２］
実施例２のディジタルカメラ１０では、起動時もしくは光磁気ディスク３０の装着時にテストライト／リードによってランド用最適再生レーザパワー値，ランド用記録レーザパワー値，グルーブ用最適再生レーザパワー値，グルーブ用最適記録レーザパワー値のすべて（各最適レーザパワー値）を実測で算出する。そして時間Ｔが経過する毎に、前回の各最適レーザパワー値に基づいて現在の周辺温度における各最適レーザパワー値を決定する。
【００９１】
実施例２のディジタルカメラ１０では、電源スイッチ３８が投入される、もしくはディジタルカメラ１０に光磁気ディスク３０が装着されるとシステムコントローラ３２が制御信号をＭＰＵ５２に与える。ＭＰＵ５２はシステムコントローラ３２からの制御信号を受けてスピンドルモータ６６を制御して光磁気ディスク３０を回転させる。そして、図９から図１２のフロー図に示す処理を実行する。なお、図９から図１１のフロー図には、各最適レーザパワー値の決定および設定に関する処理のみを示している。
【００９２】
まず、ステップＳ１１１でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えて半導体レーザ２６ａをオン状態にする。ステップＳ１１３でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えてランド用記録レーザパワーのデフォルト値を設定する。つぎに、ステップＳ１１５でスレッドサーボ機構に制御信号を与えて光ピックアップ２６をランドテストエリアにシークさせる。そして、ステップＳ１１７で、ＭＰＵ５２はＲＯＭ５４からテスト信号を読み出してランドテストエリアに記録する。
【００９３】
つぎに、ステップＳ１１９でＭＰＵ５２は再生レーザパワー値を段階的に変化させてテスト信号をランドテストエリアから再生し、各段階別の再生レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。そして、ステップＳ１２１では、各誤り率のなかから最も低い誤り率を特定し、その誤り率に対応する再生レーザパワー値をランド用最適再生レーザパワー値としてワークエリアＰｌに設定する。
【００９４】
ランド用最適再生レーザパワー値が決定すると、ステップＳ１２３で記録レーザパワー値を段階的に変化させてテスト信号をランドテストエリアに記録する。つぎに、ＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与え、ランド用最適再生レーザパワー値（Ｐｌ）を設定する。ステップＳ１２７でランドテストエリアに記録されたテスト信号を読み出して、各段階別の記録レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。そして、ステップＳ１２９で最も低い誤り率を特定し、特定された誤り率に対応する記録レーザパワー値をランド用最適記録レーザパワー値としてワークエリアＹｐに設定する。
【００９５】
こうしてランド用最適再生レーザパワー値およびランド用最適記録レーザパワー値が決定すると、図１０のステップＳ１３１以降でグルーブ用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値を決定する。
【００９６】
ステップＳ１３１でＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えてグルーブ用記録レーザパワーのデフォルト値を設定する。つぎに、ステップＳ１３３で制御信号をスレッドサーボ機構に与えて光ピックアップ２６をグルーブテストエリアにシークさせ、ステップＳ１３５でＭＰＵ５２はＲＯＭ５４から読み出したテスト信号をグルーブテストエリアに記録する。
【００９７】
ステップＳ１３７では、再生レーザパワー値を段階的に変化させて、グルーブテストエリアからテスト信号を再生し、各段階別の再生レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。ステップＳ１３９では測定した各誤り率のなかから最も低い誤り率を特定し、その誤り率に対応する再生レーザパワー値をグルーブ用最適再生レーザパワー値としてワークエリアＰｇに設定する。
【００９８】
つぎに、ステップＳ１４１では記録レーザパワー値を段階的に変化させて、グルーブテストエリアにテスト信号を記録する。ステップＳ１４３ではＭＰＵ５２は制御信号をレーザドライブ５０に与えてグルーブ用最適再生レーザパワー値Ｐｇを設定する。そして、ステップＳ１４５でグルーブテストエリアからテスト信号を再生して、段階別の記録レーザパワー値に対応する誤り率を測定する。そして、ステップＳ１４７では測定した複数の誤り率のなかから最も低い誤り率を特定し、特定した誤り率に対応する記録レーザパワー値をグルーブ用最適記録レーザパワー値としてワークエリアＺｐに設定する。
【００９９】
こうして、ランド用およびグルーブ用の各最適レーザパワー値が決定すると、ステップＳ１４９で現在の周辺温度を温度センサ７０から取得してワークエリアＴｄに設定し、ステップＳ１５１（図１１）では、ワークアリアＰｌ，Ｙｐ，Ｐｇ，Ｚｐに設定されている各最適レーザパワー値をワークエリアＰｌｃ，Ｙｐｃ，Ｐｇｃ，Ｚｐｃにそれぞれ複写する。
【０１００】
ステップＳ１５３でタイマフラグがオン状態であるかどうかを判断する。このタイマフラグは実施例１と同様、タイマがスタートしているかどうかを判断するためのフラグである。タイマフラグがオン状態でないときには、ステップＳ１５５でタイマをスタートし、ステップＳ１５７でタイマフラグをオン状態にする。なお、ステップＳ１５３でタイマフラグがオン状態であるときにはステップＳ１５５およびステップＳ１５７をスキップする。
【０１０１】
ステップＳ１５９では温度センサ７０から現在の周辺温度を取得してワークエリアＴｃに設定する。そして、ステップＳ１６１で、タイマがタイムアップしているかどうかを判断する。タイマがタイムアップしていないとき、つまり各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔが経過していないときにはステップＳ１５９に戻って再び温度センサ７０から周辺温度を取得する。
【０１０２】
一方、タイムアップして各最適レーザパワー値を更新する時間Ｔが経過しているときには、ステップＳ１６３で「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を実行する。この「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理は図１２のフロー図に示す手順にしたがって実行される。なお、図１２のフロー図に示す「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理は、実施例１の図８のフロー図に示した「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理の手順と同じである。
【０１０３】
まず、ステップＳ１７１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」よりも大きいかどうかを判断し、大きいときには周辺温度が上昇しているのでステップＳ１７３からステップＳ１７９で各最適レーザパワー値の下方修正を行う。ステップＳ１７３からステップＳ１７９で行う処理は、実施例１におけるフロー図６のステップＳ９３からステップＳ９９の処理と同じであり、現在の各最適レーザパワー値，周辺温度値ＴｃおよびＴｄのそれぞれを数７から数１０にそれぞれ代入することによって現在の周辺温度に対応する各最適レーザパワー値を決定する。
【０１０４】
一方、ステップＳ１７１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」以下であると判断すると、さらにステップＳ１８１で「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」であるかどうかを判断する。そして、「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」であるときには周辺温度が変化していないので各最適レーザパワー値の更新を行わずに「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を終了する。また「Ｔｃ−Ｔｄ」が「０」でないときは、周辺温度が降下しているのでステップＳ１８３からステップＳ１８９で各最適レーザパワー値の上方修正を行う。
【０１０５】
ステップＳ１８３からステップＳ１８９における処理は、実施例１のフロー図６のステップＳ１０３からステップＳ１０９の処理と同じであり、現在の各最適レーザパワー値，周辺温度値ＴｃおよびＴｄのそれぞれを数１１から数１４のそれぞれに代入して現在の温度に対応する各最適レーザパワー値が決定される。
【０１０６】
こうして各最適レーザパワー値が決定されると、「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を終了する。各最適レーザパワー値の更新が終了すると、ステップＳ１６５でタイマをリセットし、ステップＳ１６７でタイマフラグをオフ状態にする。さらに、ステップＳ１６９で、ワークエリアＴｃに設定されている温度値をワークエリアＴｄに複写し、ステップＳ１５１に戻る。
【０１０７】
以降は、タイマがタイマアップする毎に、つまり時間Ｔが経過する毎にステップＳ１６３の「演算に基づくレーザパワー値の更新」処理を実行し、演算によって現在の光磁気ディスク３０の周辺温度に対応する各最適レーザパワー値を決定する。
【０１０８】
このように、実施例２のディジタルカメラ１０では、起動時および光磁気ディスク３０の装着時にランド用最適再生レーザパワー値，ランド用最適記録レーザパワー値，グルーブ用最適再生レーザパワー値およびグルーブ用最適記録レーザパワー値（各最適レーザパワー値）のすべてを光磁気ディスク３０に対するテストライト／リードによる実測によって求める。
【０１０９】
そして、所定の時間Ｔが経過する毎に、現在の各最適レーザパワー値に基づく簡単な演算によって当該周辺温度における各最適レーザパワー値を求める。したがって、より短時間で各最適レーザパワー値を決定することができる。
【０１１０】
なお、この発明は実施例１および実施例２の実施例に限らず、種々に変更して実施してもよい。たとえば、各最適レーザパワー値を実測によって求めるか、もしくは演算によって求めるかはディスク装置の形態に応じて選択するとよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１の実施例におけるディスク制御回路の一構成例を示すブロック図である。
【図３】レーザドライブ５０の一構成例を示すブロック図である。
【図４】センサ温度と各最適レーザパワー値に対応するセットレジスタ値（最適レーザパワー値）との関係を示す図解図である。
【図５】実施例１においてＭＰＵが行う処理の一部を示すフロー図である。
【図６】実施例１においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【図７】実施例１においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【図８】実施例１においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【図９】実施例２においてＭＰＵが行う処理の一部を示すフロー図である。
【図１０】実施例２においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【図１１】実施例２においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【図１２】実施例２においてＭＰＵが行う処理のその他の一部を示すフロー図である。
【符号の説明】
１０ …ディジタルカメラ
１２ …ＣＣＤイメージャ
２６ …光ピックアップ
２６ａ …レーザダイオード
２６ｂ …光検出器
２６ｃ …光学レンズ
２８ …磁気ヘッド
３０ …光磁気ディスク３０
３０ａ …テストエリア
３２ …システムコントローラ
３６ …シャッタボタン
３８ …電源スイッチ
４４ …フォーカスサーボ機構
４６ …トラッキングサーボ機構
４８ …スレッドサーボ機構
５０ …レーザドライブ
５２ …ＭＰＵ
６０ …ＥＣＣデコーダ
６２ …符号誤り率算出回路
７０ …温度センサ
６４ …ＥＣＣエンコーダ

Claims (5)

1. ディスク記録媒体にレーザ光を照射して所望の信号の記録および再生を行うディスク装置において、
   最適記録レーザパワー値と最適再生レーザパワー値との関係を示す第１関係式を格納する第１格納手段、
   前記ディスク記録媒体に前記レーザ光を照射して前記最適再生レーザパワー値を測定する測定手段、および
   前記測定手段による測定値と前記第１関係式とに基づいて前記最適記録レーザパワー値を算出する算出手段を備えることを特徴とする、ディスク装置。
2. 前記ディスク記録媒体の周辺温度の変化が閾値を超えたとき前記測定手段および前記算出手段を能動化する第１能動化手段をさらに備える、請求項１記載のディスク装置。
3. 前記最適記録レーザパワー値と温度との関係を示す第２関係式を格納する第２格納手段、
   前記最適再生レーザパワー値と温度との関係を示す第３関係式を格納する第３格納手段、
   前記ディスク記録媒体の周辺温度と前記第２関係式とに基づいて前記最適記録レーザパワー値を更新する第１更新手段、および
   前記ディスク記録媒体の周辺温度と前記第３関係式とに基づいて前記最適再生レーザパワー値を更新する第２更新手段をさらに備える、請求項１または２記載のディスク装置。
4. 前記第１更新手段および前記第２更新手段の少なくとも一方を所定期間おきに能動化する第２能動化手段をさらに備える、請求項３記載のディスク装置。
5. 前記ディスク記録媒体はＣＡＤ−ＭＳＲ方式を採用する、請求項１ないし４のいずれかに記載のディスク装置。

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