JP3787091B2 - 荷電粒子ビーム装置のためのカラム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、荷電粒子のビームで試料を検査するための装置に関する。特に、本発明は、荷電粒子ビーム装置のための小型化カラムに関するものである。さらに、本発明は荷電粒子ビーム装置のための偏向器に関する。
【0002】
【発明の背景】
ほんのわずかだけを評価するための走査装置、伝送装置あるいはマイクロプローブ装置のような荷電粒子装置は、不均質有機材料および不均質無機材料およびその表面の観測、特性決定および改質を可能にする強力な器具である。これらの器具では、検査される(改質される)領域は、静的であってもよいしあるいは試料の表面を横切ってラスタで走査されてもよい荷電粒子ビームで照射される。特定の用途に応じて、荷電粒子ビームは多かれ少なかれ集束され、この粒子の運動エネルギーは大きく変わり得る。
【0003】
荷電粒子が試料表面に衝突する場合に発生される信号の種類は、例えば、二次電子、後方散乱電子、特有なX線、およびいろいろなエネルギーの光子を含む。これらの信号は、サンプル内の特定の放射量から得られ、組成、表面トポグラフィー、結晶学等のようなサンプルの多数の特性を検査するために使用できる。
【0004】
最近、荷電粒子ビーム装置を小型化する試みが行われた。これらの装置のいくつかは、したがって試料のより大きな領域を同時に検査あるいは改質するためにひとつにまとめることができるかあるいは狭い空間制限のプロセスラインに設置できる。さらに粒子ビーム装置の球面収差および色収差はその幾何学的寸法に比例して増減するので、電位が一定のままである限り、小型化装置は、より高い空間分解能および所与のスポットサイズの高ビーム電流を与えることができる。
【0005】
一般に、本荷電粒子装置の大部分は、約15cmから40cmの平均直径を有して高さが0.5メートルから1.2メートルである。これらの装置とは全然異なって、開発者は、約4cmの平均直径を有して10cmよりも小さいビーム装置を製造することを目指している。しかしながら、最新の荷電粒子ビーム装置は高性能の真空系、整列機構および電子制御装置を有する複雑な技術器械であるので、その幾何学的寸法は単に比例して小さくできなく、たとえそうであっても、可能である場合、これが試みられる。
【0006】
粒子ビームカラムの粒子ビームを形成するために、電磁レンズおよび電磁多重極が使用される。レンズは、ビームの集束のために使用される軸方向に対称的な電磁界にある。電磁多重極は、電磁レンズを通るビームパスの補正のためおよびビームを試料に位置決めするための静的偏向フィールド(偏向器)、試料の一面にビームを走査するために使用される動的偏向フィールドおよび軸対称性からのレンズのかたよりから生じる収差の補償のために使用される4重極フィールド(無非点収差器)を発生する。各粒子ビーム器具は、通常整列のための少なくとも1つの多重極、無非点収差補正のための1つの多重極、試料のビームシフトのための1つの多重極および試料で走査するビームのための1つの多重極を含む。各多重極は、通常8つの電極あるいはコイルからなる。これは、大量、例えば30から40の粒子ビームカラムに供給されなければならない個別の電圧および電流を生じ得る。
【0007】
単一の標準の商用カラムでは、この装置を作動するのに必要とされる制御信号数は制限する要因を示さない。しかしながら、小型化カラムおよびカラムアレイでは、各カラムに供給されねばならないたくさんの電圧および電流は主要な問題を生じる。特に、カラムアレイのあらゆるカラムを制御するのに必要とされる電気接続の複雑さは、カラムアレイのコストを著しく増加させる。さらに、たくさんの電圧および電流を制御し、駆動するのに必要とされる回路の複雑さは、カラムアレイのコストの著しい増加ももたらす。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、荷電粒子ビーム装置、特に小型化荷電粒子ビーム装置のための改良されたカラムを提供する。さらに、本発明は荷電粒子ビーム装置のための改良された偏向器を提供する。本発明の1つの態様によれば、独立請求項1に特定されるような荷電粒子ビーム装置のためのカラムが提供される。本発明の他の態様によれば、独立請求項17および19に特定されるような荷電粒子ビーム装置のための偏向器が提供される。本発明の他の有利な特徴、態様および詳細は、従属請求項、説明および添付図面から明らかである。この請求項は、本発明を一般的な用語で規定する非限定的なアプローチとして理解されるように意図される。
【0009】
本発明は、荷電粒子ビーム装置のための改良されたカラムを提供する。このカラムは、試料の一面にビームを走査し、対物レンズに対してビームを整列させ、対物レンズによって引き起こされる収差を補償する偏向器を備えている。それによって、偏向器のために使用され、独立して制御可能である電極装置および/またはコイル装置の全数は8またはそれよりも小さい。これは、発明者に既知である最善のカラムに比較して、ビームの方向を制御するためにカラムに供給されねばならない信号数の50%の減少を生じる。したがって、これらの信号をカラムに供給するのに必要とされる配線の複雑さはかなり減少される。さらに、駆動回路の複雑さも減少される。
【0010】
本発明の他の態様によれば、荷電粒子ビーム装置のための偏向器が提供される。1つの実施形態による偏向器は、4つの電極装置を含み、各電極装置は、3つの単一電極からなり、各電極はリングセグメントの形状を有し、4つの電極装置は、1つ電極装置からの各対の電極間に他の電極装置からの電極が置かれるようにリングに沿って置かれる。他の実施形態による偏向器は、4つのコイルを含み、2つのコイルは、第1のリングに沿って置かれ、2つのコイルは、リングの中心から見た場合、第1のリング上に置かれたあらゆるコイルが第2のリング上に置かれた2つのコイルと重なるように第1のリングと同心であり、第1のリングよりも大きい直径を有する第2のリングに沿って置かれる。これらの改良された偏向器は、電気、磁気偏向フィールドのそれぞれの高度の均質を提供する長所を有する。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明の上記に示された態様および他の詳細な態様のいくつかは、上記の説明に示され、図を参照して部分的に示される。
【0012】
本発明による実施形態の概略が図1に示されている。荷電粒子ビーム装置1は、荷電粒子供給源3が取り付けられる上部カバープレート2を含む。電子ビーム装置では、タングステン・ヘアピン銃、ランタン六ホウ化物銃、電界放出銃等のような電子供給源を使用できる。しかしながら、本発明は、電子供給源に限定されない。すなわち、本発明は全ての種類の荷電粒子供給源とともに使用できる。図1に示された実施形態では、抽出器4Aおよび抑制器4Bは粒子供給源3の下に配置される。加速電位に設定される抽出器4Aは、この供給源から得られる荷電粒子を加速する。抽出器4Aに反して、加速器4Aと供給源3との間に配置される抑制器は、供給源3から引き出される粒子数を制限する抑制電位に設定される。このようにビーム電流は、高くなることを防止される。
【0013】
荷電粒子5のビームが形成され、供給源3を離れた後、偏向器30および40は、荷電粒子ビームが試料8に当たる前に荷電粒子ビームを制御し、改良するために使用される。これらの構成要素における特定の装置は、図2Aおよび図2Bに示される。ビーム5を整形するために、1つあるいはそれ以上の集光レンズ(図示せず)を使用できる。このビームは、次にビーム5を試料8上に集束するために使用できる静電対物レンズ10に入る。本例では、静電対物レンズ10は、各々が平らなリングの形を有する3つの電極10A、10B、および10Cを含む。
【0014】
ビーム10の粒子が試料8の表面に当たる場合、この粒子は、試料の原子の核および電子との一連の複雑な相互作用を行う。この相互作用は、異なるエネルギーの電子、X線、熱、および光のようないろいろな二次生成物を生成する。これらの二次生成物の多くは、サンプルの画像を生成し、付加データをそれから収集するために使用される。試料の検査あるいは画像形成の主要な重要な二次生成物は、比較的低いエネルギー(3から50eV)によっていろいろの角度で試料8から脱出する二次電子である。二次電子および後方散乱電子は、検出器16に達し、測定される。試料の一面に電子ビームを走査し、検出器16の出力を表示/記録することによって、試料8の表面の画像が形成される。
【0015】
図2A、Bは、図1に示されたカラムで使用される偏向器30および40の概略を示している。この偏向器30および40は、静電界によって荷電粒子のビームに影響する静電偏向器である。偏向器の各々は、荷電粒子のビームの周りに中心があるリングに沿って置かれる4つの電極、すなわち電極31、33、35、37および41、43、45、47をそれぞれ備えている。荷電粒子のビームに垂直な断面において、電極31、33、35、37および41、43、45、47の全ては、図2A、Bから分かるようにリングセグメントの形状を示す。荷電粒子ビームの伝搬に影響するために、あらゆる電極は、あらゆる電極の電位が全ての他の電極にある電極から独立して選択できる意味で独立して制御可能である。
【0016】
選択電極に所定の電位を与えるために、あらゆる電極は接続部32、34、36、38および42、44、46、48を含む。この接続部32、34、36、38および42、44、46、48は、選択電極に対応する電圧を供給するために使用される。図1に示されたカラムの動作中、偏向器30および40は、試料の一面に荷電粒子のビームを走査するために協働し、対物レンズ軸に対してビームを整列させ、対物レンズによって引き起こされた収差を補償する。対物レンズ(収差)によって引き起こされた収差(特に非点収差)を補償するために、例えば、電圧+V1は、偏向器30の電極31および35に供給するのに対して、電圧−V1は、偏向器30の電極33および37に供給する。しかしながら、一般に、4極のフィールドは、対物レンズによって引き起こされた非点収差を補償するのに充分でない。したがって、電圧+V2は、偏向器40の電極41および45に供給するのに対して、電圧−V2は、偏向器40の電極43および47に供給する。2つの偏向器30および40は互いに対して(本例では45°だけ)回転されるという事実により、非点収差は、図面の平面に垂直なあらゆる選択された平面で補償できる。V1およびV2を互いから独立して変更することによって、あらゆる平面配置を選択できる。
【0017】
対物レンズに対して荷電粒子のビームを整列させるかあるいは対物レンズに対して荷電粒子のビームをシフトさせるために、例えば、電圧+Uxおよび電圧−Uxは、それぞれ偏向器30の電極35および31に供給される。さらに、電圧−kxUxは、電極43および45に供給され、電圧+kxUxは、それぞれ偏向器40の電極41および47に供給される。それによって、kxは、偏向器30および40の2つとx方向の荷電粒子の所望の経路との間の回転角によって決まる定数である。この装置を使用することによって、荷電粒子ビームは、ビームが最初のミスアライメントを示す状態に対応する図1Aに示されるような2つの偏向器を通って誘導できる。明らかに、電圧+Uyを電極33に、−Uyを電極37に、−kyUyを電極41および43に、+kyUyを電極45および47に供給することによって、同じことをy方向に対して行うことができる。
【0018】
試料の一面に荷電粒子のビームを走査するために、ビームを整列させるために使用される同じ電圧装置が使用できる。電圧の値(例えば、VxおよびVy)および定数(例えばcxおよびcy)の値だけは異なっている。偏向器の動作中、これらの電圧(V1、V2、Ux、Uy、VxおよびVy)の全部が同時に使用されるので、一般に、あらゆる電極は、全ての他の電極の電位と異なる電位を有してもよい。走査、整列および無非点収差を制御する信号は、最終増幅器(図示せず)の前で既に混合されているので、電子回路は、比較的簡単に保持され、結果として生じる電圧だけが各電極に供給される。したがって、2つの偏向器は、8つの接続部(32、34、36、38および42、44、46、48)のみを介して制御される。
【0019】
偏向器の必要な接続部の数をさらに減らすために、各偏向器30および40の電極の2つ、例えば、偏向器30の電極35および37、および偏向器40の電極41および43は、固定電位、例えばグラウンド電位に保持されてもよい。したがって、電極35、37、41および43の電位を制御する信号は、全然供給される必要がなく、対応する配線を省略できる。このような実施形態では、独立して制御可能である電極の数は4に減少される。
【0020】
図2AおよびBに示された偏向器30および40は、静電界によって荷電粒子のビームに影響する静電偏向器である。図3AおよびBに示されたような代替の磁気偏向器50および60としても使用できる。偏向器50および60は、荷電粒子のビームの周りに中心があるリングに沿って置かれている、4つのコイル、すなわちコイル51、53、55、57および61、63、65、67のそれぞれを含む。荷電粒子のビームに垂直な断面において、コイル51、53、55、57および61、63、65、67の全部は、図3A、Bから分かるように、リングセグメントの形状を示す。荷電粒子ビームの伝搬に影響するために、あらゆるコイルは、あらゆるコイルを通る電流が他のコイルを流れる電流から独立して選択できるという意味で独立して制御可能である。
【0021】
選択されたコイルを流れる所定の電流を供給するために、あらゆるコイルは、対応する電流を選択されたコイルに供給するために使用される2つの接続部(52、54、56、58および62、64、66、68)を含む。電圧を電流と交換する場合、静電偏向器30および40に対して示された基本的に全てのことは磁気偏向器50および60に対して依然として当てはまる。したがって、偏向器50および60は、試料の一面に荷電粒子のビームを走査し、対物レンズに対してビームを整列させ、対物レンズによって引き起こされた収差を補償するために8つの個別信号だけによっても制御できる。
【0022】
図4は、本発明による他の実施形態による偏向器の概略を示している。図3AおよびBに示されるような磁気偏向器50および60は、荷電粒子ビームの近くで高均質度を示す磁界を示している。しかしながら、均質の磁界を改善するために、図4に示されるような磁気偏向器70が提供される。偏向器70は、4つのコイル71、73、75、および77を含む。それによって、2つのコイル71および75は、第1のリングに沿って置かれ、2つのコイル73および77は、第1のリングと同心であり、第1のリングよりも大きい直径を有する第2のリングに沿って位置決めされている。4つのコイルは、リングの中心から見た場合、第1のリングに置かれたあらゆるコイル71および75が第2のリングに置かれた2つのコイル73および77と重なるように置かれている。コイル71、73、75および77は、コイルによってカバーされる角度が約120°であるように設計される。この磁気偏向器70は、荷電粒子ビームの周辺に非常に高い均質度を示す磁界を示す。
【0023】
図5は、本発明によるさらにもう一つの実施形態による偏向器の概略を示している。図2AおよびBに示されるような静電偏向器30および40は、荷電粒子ビームの周辺に高均質度を示す電界を示す。しかしながら、静電界の均質性を改善するために、図5に示されるような静電偏向器80が提供される。この偏向器80は、4つの電極装置81、83、85、および87を含む。それによって、各電極装置81、83、85、および87は、3つの信号電極(81a、81b、81c、83a、83b、83c、85a、85b、85c、87a、87bおよび87c)からなり、各電極(81a、81b、81c、83a、83b、83c、85a、85b、85c、87a、87bおよび87c)はリングセグメントの形状を有する。4つの電極装置81、83、85、および87は、1つの電極装置からの各対の電極間に他の電極装置からの電極が置かれるようにリングに沿って置かれる。
【0024】
1つの電極装置の電極、例えば、電極装置81の電極81a、81b、および81cは、常に同じ電位に保持される。したがって、1つの接続部82だけは、対応する電圧を電極(81a、81b、および81c)に供給するのに必要である。図5から分かるように、電極装置(例えば81)の3つの電極の中の1つ(例えば81a)は、電極装置の他の電極(81bおよび81c)のサイズの少なくとも2倍である。静電偏向器70は、荷電粒子ビームの周辺に非常に高い均質度を示す静電界を示す。
【0025】
本発明による他の実施形態の概略が、図6に示されている。このカラム100は、下記のことを除いて図1のカラムと同様である。このカラムは、荷電粒子ビームの経路に沿って置かれた4つの偏向器110、120、130および140を含む。対応する偏向器は、図7A〜図7Dに示されている。
【0026】
偏向器110、120、130および140は、静電界によって荷電粒子のビームに影響する静電偏向器である。偏向器の各々は、荷電粒子のビームの周りに中心があるリングに沿って置かれている、2つのアクティブ電極111、115、121、125、131、135、141および145だけをそれぞれ含む。荷電粒子のビームに垂直な断面において、アクティブ電極111、115、121、125、131、135、141および145の全部は、図7A〜図7Dから分かるように約120°の角度をカバーするリングセグメントの形状を示す。アクティブ電極に加えて、偏向器110、120、130および140の各々は、固定電位、例えばカラム電位に保持される2つの非アクティブ電極200を含む。荷電粒子ビームの伝搬に影響するために、さらにあらゆる電極は、あらゆる電極の電位が全ての他の電極にある電位から独立して選択できる意味で独立して制御可能である。
【0027】
選択された電極に所定の電位を供給するために、あらゆる電極は、それぞれ接続部112、116、122、126、131、136、141および146を含む。この接続部112、116、122、126、131、136、141および146は、選択された電極に対応する電圧を供給するために使用される。図6に示されたカラムの動作中、偏向器110、120、130および140は、試料の一面に荷電粒子のビームを走査し、対物レンズに対してビームを整列させ、対物レンズによって引き起こされる収差を補償するために協働する。対物レンズによって引き起こされる収差(無非点収差)を補償するために、例えば、電圧+V1は、偏向器110の電極111および115に供給されるのに対して、−V1は、偏向器130の電極131および135に供給される。さらに、電圧+V2は、偏向器120の電極121および125に供給されるのに対して、電圧−V2は、偏向器140の電極141および145に供給される。偏向器110、120、130および140が互いに対して(本例では45°だけ)回転されるという事実により、収差は図面の平面に垂直なあらゆる選択された平面で補償できる。
【0028】
対物レンズに対して荷電粒子のビームを整列させるかあるいは対物レンズに対して荷電粒子のビームをシフトさせるために、例えば、電圧−Uxおよび電圧+Uxは、それぞれ偏向器110の電極111および115に供給される。さらに、電圧−k1xUxは、電極121および125に供給され、電圧+k2xUxは、それぞれ偏向器140の電極121および125に供給される。k1xおよびk2xは、偏向器110、120および140とx方向の荷電粒子の所望の経路との間の回転角によって決まる定数である。明らかに、電圧+Uyを電極131に、−Uyを電極135に、−k1yUyを電極121および125に、+k2yUyを電極141および145に供給することによって、同じことをy方向に対して行うことができる。
【0029】
試料の一面に荷電粒子のビームを走査するために、ビームを整列させるために使用される同じ電圧装置が使用できる。電圧の値(例えば、VxおよびVy)および定数(例えばc1x、c2x、c1yおよびc2y)の値だけは異なっている。偏向器の動作中、これらの電圧(V1、V2、Ux、Uy、VxおよびVy)の全部が同時に使用されるので、一般に、あらゆる電極は、全ての他の電極の電位と異なる電位を有してもよい。さらに、走査、整列および無非点収差を制御する信号は、最終増幅器(図示せず)の前で既に混合されているので、電子回路は、比較的簡単に保持され、結果として生じる電圧だけが各電極に供給される。したがって、4つの偏向器は、8つの接続部のみを介して制御される。
【0030】
図7A〜図7Dに示された偏向器110、120、130および140は、静電界によって荷電粒子のビームに影響する静電偏向器である。代替の磁気偏向器として、2つの独立して制御可能なコイルを有する各々も使用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による第1の実施形態によるカラムの概略を示す。
【図2A】 図1に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【図2B】 図1に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【図3A】 図1に示された実施形態に使用できる他の偏向器の概略を示す。
【図3B】 図1に示された実施形態に使用できる他の偏向器の概略を示す。
【図4】 本発明による他の実施形態による偏向器の概略を示す。
【図5】 本発明によるさらにもう一つの実施形態による偏向器の概略を示す。
【図6】 本発明による他の実施形態によるカラムの概略を示す。
【図7A】 図6に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【図7B】 図6に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【図7C】 図6に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【図7D】 図6に示された実施形態に使用される偏向器の概略を示す。
【符号の説明】
1 粒子ビーム装置
2 カバープレート
3 供給源
4A 加速器
4B 抑制器
5 荷電粒子
8 試料
10 静電対物レンズ
10A 電極
10B 電極
10C 電極
16 検出器
30 偏向器
40 偏向器
Claims (22)
- 試料を検査又は改質するために使用される荷電粒子ビーム装置のためのカラムであって、
a)荷電粒子のビームを供給する粒子供給源と、
b)前記ビームを前記試料上に集束する対物レンズと、
c)前記試料の一面に前記ビームを走査し、前記対物レンズ軸に対して前記ビームを整列させ、かつ前記対物レンズによって引き起こされる収差を補償する偏向器であって、前記粒子供給源と前記対物レンズ間に配置された前記偏向器と、
を備え、前記偏向器のために使用され、かつ独立して制御可能である電極装置および/またはコイル装置の全数が8あるいはそれよりも少なく、
前記偏向器は互いに対して回転され、非点収差が補償される、前記カラム。 - 前記カラムが、各々が独立して制御可能である4つの電極装置からなる2つの偏向器を含む、請求項1に記載のカラム。
- 前記カラムが、各々が独立して制御可能である4つのコイル装置からなる2つの偏向器を含む、請求項1に記載のカラム。
- 前記カラムが、各々が独立して制御可能である2つの電極装置からなる4つの偏向器を含む、請求項1に記載のカラム。
- 各々の前記電極装置が、リングセグメントの形状を有する単一電極からなり、かつ前記電極によってカバーされる角度が約120°である、請求項4に記載のカラム。
- 前記カラムが、各々が独立して制御可能である2つのコイル装置からなる4つの偏向器を含む、請求項1に記載のカラム。
- 前記2つの偏向器が、同一の構造を有し、かつ一方の偏向器が、他方の偏向器に対して前記ビームの軸の周りに30°から60°だけ回転される、請求項2に記載のカラム。
- 前記2つの偏向器が、同一の構造を有し、かつ一方の偏向器が、他方の偏向器に対して前記ビームの軸の周りに45°だけ回転される、請求項3に記載のカラム。
- 前記4つの偏向器が、同一の構造を有し、かつ各偏向器が、隣接偏向器に対して前記ビームの軸の周りに30°から60°だけ回転される、請求項4又は5に記載のカラム。
- 前記4つの偏向器が、同一の構造を有し、かつ各偏向器が、隣接偏向器に対して前記ビームの軸の周りに45°だけ回転される、請求項6に記載のカラム。
- 各々の前記電極装置が、リングセグメントの形状を有する単一電極からなる、請求項2、4、7,9のいずれかに記載のカラム。
- 各々の前記電極装置が、3つの単一電極からなり、各電極がリングセグメントの形状を有する、請求項2、4、7、9のいずれかに記載のカラム。
- 4つの前記電極装置が、1つの電極装置からの各対の電極間に他の電極装置からの電極が位置決めされるようにリングに沿って配置される、請求項12に記載のカラム。
- 前記電極装置の3つの電極の1つが、前記電極装置の他の電極のサイズの少なくとも2倍である、請求項13に記載のカラム。
- 各々の前記コイル装置が、リングセグメントの形状を有する単一コイルからなる、請求項3、8、10のいずれかに記載のカラム。
- 2つの前記単一コイルが、第1のリングに沿って位置決めされ、更に2つの前記単一コイルが、第2のリングに沿って位置決めされ、前記第2のリングは、前記第1のリングと同心であり、かつ前記第1のリングよりも大きい直径を有し、前記リングの中心から見た場合、前記第1のリング上に位置決めされたあらゆるコイルが前記第2のリング上に置かれた前記2つのコイルと重なる、請求項15に記載のカラム。
- 前記コイルによってカバーされる角度が、約120°である、請求項16に記載のカラム。
- 前記対物レンズが静電対物レンズである、請求項1〜8のいずれか一項に記載のカラム。
- 前記偏向器が、4つの電極装置を含み、各電極装置が3つの単一電極からなり、各電極がリングセグメントの形状を有し、かつ前記4つの電極装置が、1つの電極装置からの各対の電極間に他の電極装置からの電極が位置決めされるようにリングに沿って配置される、請求項1記載のカラム。
- 前記電極装置の3つの電極の1つが、前記電極装置の他の電極のサイズの少なくとも2倍である、請求項19に記載のカラム。
- 前記偏向器が、4つのコイルを含み、2つのコイルが第1のリングに沿って位置決めされ、かつ2つのコイルが、前記リングの中心から見た場合、前記第1のリング上に位置決めされたあらゆるコイルが前記第2のリング上に位置決めされた前記2つのコイルと重なるように、前記第1のリングと同心であり、かつ前記第1のリングよりも大きい直径を有する第2のリングに沿って位置決めされる、請求項1記載のカラム。
- コイルによってカバーされる前記角度が約120°である、請求項21に記載のカラム。
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