JP3768589B2 - 電気的接続装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体装置(以下「IC」という)等の一方の電子機器と他方の電子機器とを電気的に接続する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のこの種のものとしては、例えば図13に示すようなものがある。図中符号1は「電気的接続装置」としてのICソケットで、このICソケット1は、「一方の電子機器」であるIC2の性能試験を行うために、このIC2のICリード2aと、「他方の電子機器」である測定器(テスター)のプリント配線板3との電気的接続を図るものである。
【0003】
このICソケット1は、第1絶縁基板4の凹所4aが、第2絶縁基板5で閉成され、この凹所4a内に、接触子6の菱形のバネ部6aが収納されている。そして、この接触子6の上端部に形成された上側接触部6bが、第2絶縁基板5の挿通孔5aから上方に突出され、下端部に形成された下側接触部6cが挿通孔4bを介して下方に突出されている。この下側接触部6c側は係止部6dにより、第1絶縁基板4の挿通孔4bの内壁に係止されている。
【0004】
そして、この下側接触部6cがプリント配線板3に半田7付けされる一方、図中二点鎖線に示すように上側接触部6bにICリード2aが当接された状態で、カバー押圧部材8により押圧されることにより、バネ部6aが図中二点鎖線に示すように弾性変形されて、ICリード2aと上側接触部6bとが所定の押圧力で接触されることとなる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来のものにあっては、ICリード2aと上側接触部6bとの接触圧が大き過ぎると、ICリード2aを損傷する虞があるため、適当な接触圧を確保するのに接触子6の伸縮量を長くすることが望ましいが、バネ部6aの菱形形状を拡大すると、幅Hも大きくなることから、多数のICリード2aが接近して配設されているIC2の試験に使用するICソケット1にあっては、その幅Hの拡大にも制約があり、伸縮量をそれ程長くすることはできなかった。
【0006】
そこで、この発明は、接触子の伸縮量を長くすることができ、且つ、接触子の幅はそれ程大きくする必要がない電気的接続装置を提供することを課題としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、両端部に接触部が形成された接触子が絶縁基板に配設され、前記両接触部が、前記絶縁基板の互いに反対側の面から突出された電気的接続装置において、前記接触子は、前記両接触部の間に直列に複数のバネ部が形成されると共に、該各バネ部の間に非弾性部が形成されて伸縮自在に設けられ、これらバネ部及び非弾性部が前記絶縁基板の凹所に収納され、更に、前記非弾性部の横方向への変位を規制するガイド部材を、前記接触子とは別体に形成し、前記非弾性部の周囲と前記凹所の内壁との間に配設すると共に、該ガイド部材を前記バネ部の伸縮方向に前記非弾性部に伴い変位自在とした電気的接続装置としたことを特徴とする。
【0008】
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の構成に加え、前記バネ部は3カ所以上直列に形成され、前記ガイド部材は、前記各バネ部の間のすべての非弾性部の横方向への変位を規制するように配設されたことを特徴とする。
【0009】
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の構成に加え、前記接触子が複数、同一の前記凹所に配設され、前記ガイド部材が該複数の接触子に跨って形成されたことを特徴とする。
【0010】
請求項4に記載された発明は、請求項1乃至3の何れかに記載の構成に加え、前記絶縁基板は、上側絶縁基板と下側絶縁基板が重ねられて構成され、該重合わせ部位が、前記ガイド部材の移動範囲以外に設定されていることを特徴とする。
【0011】
請求項5に記載された発明は、請求項1乃至4の何れかに記載の構成に加え、前記接触子の複数の非弾性部に跨るガイド部材を設けたことを特徴とする。
【0012】
請求項6に記載された発明は、請求項1乃至5の何れかに記載の構成に加え、前記ガイド部材には、前記接触子の接触部の前記伸縮方向への移動を許容し、横方向への変位を規制する接触部規制部を形成したことを特徴とする。
【0013】
請求項7に記載された発明は、請求項1乃至6の何れかに記載の構成に加え、前記接触子の接触部に一番近いバネ部は、軸線の両側でバネ定数を異ならせることにより、前記接触子の接触部を斜めに変位させるように設定したことを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について説明する。
【0015】
[発明の実施の形態1]
図1乃至図5には、この発明の実施の形態1を示す。
【0016】
まず構成を説明すると、図中符号11は、「電気的接続装置」としてのICソケットで、このICソケット11は「一方の電子機器」であるIC12の性能試験を行うために、このIC12のICリード12aと、「他方の電子機器」である測定器(テスター)のプリント配線板13との電気的接続を図るようになっている。
【0017】
このICソケット11は、図1に示すように、ソケット本体14にカバー15が開閉自在に配設され、このカバー15の閉成状態を維持するロックレバー16が設けられている。そして、このソケット本体14とカバー15との間にIC12が保持されるようになっていると共に、このソケット本体14がボルト19・ナット20により 、プリント配線板13に取り付けられるようになっている。
【0018】
そのソケット本体14は、図2に示すように、上側,下側絶縁基板17,18がボルト21・ナット22により組み付けられ、これら基板17,18の前記複数のICリード12aに対応した位置に、複数(図には1カ所しか示していない)の凹所17a,18aが形成されている。
【0019】
そして、これら凹所17a,18a内に、接触子23が配設されている。この接触子23は、導電性を有する材料で、上端部に上側接触部23aが、又、下端部に下側接触部23bがそれぞれ形成され、これら両接触部23a,23bの間には、直列に3個のバネ部23c,23d,23eが形成されている。
【0020】
これらバネ部23c,23d,23eは、それぞれ大略菱形形状に形成され、上下方向に伸縮するように設定され、これらバネ部23c,23d,23eの間には、それぞれ弾性変形しない非弾性部23f,23gが形成されている。そして、これらバネ部23c,23d,23e及び非弾性部23f,23gが、絶縁基板17,18の凹所17a,18a内に収納され、上側接触部23aが上側絶縁基板17の挿通孔17bを介して上方に突出され、下側接触部23bが下側絶縁基板18の挿通孔18bを介して下方に突出されている。この下側接触部23b側は係止部23hにより、下側絶縁基板18の挿通孔18bの内壁に係止されている。
【0021】
また、その凹所17a,18a内には、非弾性部23fの側方に一対のガイド部材24が、又、非弾性部23gの側方に一対のガイド部材25がそれぞれ配設されている。これらガイド部材24,25は、接触子23の伸縮に応じて伸縮方向、ここでは上下方向にスライド自在に配設され、ガイド部材24は、非弾性部23fの横方向(伸縮方向と直交する方向)への変位を、ガイド部材25は、非弾性部23gの横方向への変位を規制するように設定されている。
【0022】
さらに、上側絶縁基板17と下側絶縁基板18との重合わせ部位Pは、ガイド部材24の移動範囲以外に設定されている。
【0023】
かかる構成のICソケット11を使用するには、まず、このICソケット11をプリント配線板13にボルト19・ナット20により取り付けると共に、接触子23の下側接触部23bをプリント配線板13の挿通孔13aに挿入して半田26により固定する。
【0024】
その後、IC12をソケット本体14上に載置し、カバー15を閉成すると、図3に示すように、このカバー15の押圧部27にてICリード12aが押される。すると、このICリード12aにより、上側接触部23aが押圧されて、各バネ部23c,23d,23eが弾性変形され、接触子23が短縮され、接触子23とICリード12aとが所定の押圧力で接触されることとなる。
【0025】
この場合には、上下に直列に3つのバネ部23c,23d,23eを形成することにより、幅Hを広げずに、接触子23の伸縮量を従来より長くすることができ、適当な接触圧を確保することができる。
【0026】
また、このバネ部23c,23d,23eの変形に伴って、ガイド部材24,25が下方にスライドすることにより、バネ部23c,23d,23eの変形の邪魔にならないと共に、非弾性部23f,23gの横方向への変位を規制することにより、接触子23の安定した伸縮動作を得ることができ、ひいては、安定した接触圧を確保することができる。ガイド部材24,25が設けられていない場合には、図5に示すように、接触子23が不安定に変形することから、安定した接触圧を確保することができない虞がある。
【0027】
しかも、重合わせ部位Pが、ガイド部材24に移動範囲以外に設定されているため、ガイド部材24のスライド時にその部位Pに引っ掛かったりすることなく、円滑なスライド動作を確保することができる。
【0028】
[発明の実施の形態2]
図6には、この発明の実施の形態2を示す。
【0029】
この実施の形態2は、接触子23の上側接触部23aに一番近いバネ部23cは、大略菱形形状を呈し、菱形の対角線の一方の側部23iが他方の側部23jより薄く形成されることにより、軸線の両側でバネ定数が異なっている。
【0030】
これにより、上側接触部23aが押されたときには、バネ部23cの一方の側部23iの方が他方の側部23jより変形量が大きく、傾くことから、上側接触部23aが図6の(b)に示すように斜め下方に変位し、ワイピング効果が発揮されることとなる。
【0031】
他の構成及び作用は実施の形態1と同様であるので説明を省略する。
【0032】
次に、図7乃至図12には、それぞれガイド部材24,25の変形例を示す。
【0033】
図7に示すものは、コ字状のガイド部材28と長方形のガイド部材29とを組み合わせて変位を規制するようにしており、図8に示すものは、一つのコ字状のガイド部材31にて変位を規制するようにしている。
【0034】
図9に示すものは、凹所18aが大きく形成され、この凹所18a内に4つの接触子23が並列に収納され、(a)に示すような、一対の長方形のガイド部材33がそれら4つの接触子23に跨って配設されている。このガイド部材33の形状の種類としては、図9の(c)に示すような溝部33aを有する形状、図9の(d)に示すようなコ字状の形状に形成することもできる。
【0035】
また、図10に示すものは、四角形の枠状の一対のガイド部材35が上下の非弾性部23f,23gに跨るように配設され、非弾性部23f,23gが挿入される溝部35aが形成されている。このようにすれば、少ない部品点数で、上下の非弾性部23f,23gの横方向への変位を規制することができる。また、このガイド部材35の形状は図10の(c)に示すようにコ字状にすることもできる。
【0036】
さらに、図11に示すガイド部材37は、一対設けられ、四角形の枠状を呈し、「接触部規制部」としての上面部37aに上側接触部23aがガイドされる溝部37bが形成され、下面部37cに接触子25の非弾性部23fがガイドされる溝部37dが形成されている。
【0037】
このようなものあっては、ガイド部材37の上面部37aで、接触子23の上側接触部23aの伸縮方向への移動が許容され、横方向への変位を規制されるようになっている。従って、実施の形態1の上側絶縁基板17に相当する部材を廃止できる。
【0038】
また、図12に示すものは、図11に示す接触子23の上側接触部23aにフランジ部23kが形成されている点で異なっている。これによれば、上側接触部23aが下方に押された時には、そのフランジ部23kによりガイド部材37の上面部37aが押されて下方にスライドされることとなる。
【0039】
なお、上記各実施の形態では、この発明をICソケットに適用したが、これに限らず、電気的な接続を図るものであれば他の装置にも適用できることは勿論である。また、上記各実施の形態の接触子23には、3カ所のバネ部23c,23d,23eが形成されているが、2カ所でも、4カ所以上でも良いと共に、これらバネ部23c,23d,23eの形状は菱形に限らず、円形等でも良い。
【0040】
【発明の効果】
請求項1又は2に記載の発明によれば、接触子に直列に複数のバネ部を形成することにより、接触子の幅を広げずに、接触子の伸縮量を従来より長くすることができ、適当な接触圧を確保することができる。
【0041】
また、これらバネ部の変形に伴ってガイド部材がスライドすることにより、バネ部の変形の邪魔にならないと共に、非弾性部の横方向への変位を規制することにより、接触子の安定した伸縮動作を得ることができ、ひいては、安定した接触圧を確保することができる。
【0042】
請求項3に記載された発明によれば、上記効果に加え、前記接触子が複数、同一の前記凹所に配設され、前記ガイド部材が該複数の接触子に跨って配設されることにより、絶縁基板自体の形状を単純にすることができると共に、ガイド部材の部品点数も削減できる。
【0043】
請求項4に記載された発明によれば、上記効果に加え、上側絶縁基板と下側絶縁基板との重合わせ部位が、ガイド部材の移動範囲以外に設定されているため、ガイド部材のスライド時にその部位に引っ掛かったりすることなく、円滑なスライド動作を確保することができる。
【0044】
請求項5に記載された発明によれば、上記効果に加え、前記接触子の複数の非弾性部に跨るガイド部材を設けることにより、ガイド部の部品点数の削減を図ることができる。
【0045】
請求項6に記載された発明によれば、上記効果に加え、前記ガイド部材には、前記接触子の接触部の前記伸縮方向への移動を許容し、横方向への変位を規制する接触部規制部を形成することにより、上側絶縁基板を廃止できる。
【0046】
請求項7に記載された発明によれば、上記効果に加え、前記接触子の接触部に一番近いバネ部は、軸線の両側でバネ定数を異ならせることにより、前記接触子の接触部を斜めに変位させるように設定することにより、ワイピング効果を発揮できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態1に係るICソケットの側面図である。
【図2】同実施の形態1に係るICソケットを示す図で、(a)は要部の断面図、(b)は(a)の平面図である。
【図3】同実施の形態1に係るICリードとの接触状態を示す図1の(a)に相当する断面図である。
【図4】同実施の形態1に係るガイド部材等を示す図で、(a)は図2の(a)のA−A線に沿う断面図、(b)はガイド部材の斜視図である。
【図5】同実施の形態1に係るガイド部材を外した状態を示す断面図である。
【図6】この発明の実施の形態2を示し、(a)は図2の(a)に相当する断面図、(b)は図3に相当する断面図である。
【図7】ガイド部材の変形例を示す図で、(a)は図4の(a)に相当する断面図、(b)は図4の(b)に相当する斜視図である。
【図8】ガイド部材の他の変形例を示す図で、(a)は図4の(a)に相当する断面図、(b)は図4の(b)に相当する斜視図である。
【図9】ガイド部材の他の変形例を示す図で、(a)は図4の(a)に相当する断面図、(b),(c),(d)は図4の(b)に相当する斜視図である。
【図10】ガイド部材の他の変形例を示す図で、(a)は図2の(a)に相当する断面図、(b),(c)はガイド部材の斜視図である。
【図11】ガイド部材の他の変形例を示す図で、(a)は図10の(a)に相当する断面図、(b)は図10の(b)に相当する斜視図である。
【図12】ガイド部材の他の変形例を示す図で、図11の(a)に相当する断面図である。
【図13】従来例を示すICソケットを示す断面図である。
【符号の説明】
11 ICソケット(電気的接続装置)
12 IC(一方の電子機器)
13 プリント配線板(他方の電子機器)
17 上側絶縁基板
17a 凹所
18 下側絶縁基板
18a 凹所
23 接触子
23a 上側接触部
23b 下側接触部
23c,23d,23e バネ部
23f,23g 非弾性部
24,25,28,29,31,33,35,37 ガイド部材
37a 上面部(接触部規制部)
P 重合わせ部位
Claims (7)
- 両端部に接触部が形成された接触子が絶縁基板に配設され、前記両接触部が、前記絶縁基板の互いに反対側の面から突出された電気的接続装置において、
前記接触子は、前記両接触部の間に直列に複数のバネ部が形成されると共に、該各バネ部の間に非弾性部が形成されて伸縮自在に設けられ、
これらバネ部及び非弾性部が前記絶縁基板の凹所に収納され、更に、前記非弾性部の横方向への変位を規制するガイド部材を、前記接触子とは別体に形成し、前記非弾性部の周囲と前記凹所の内壁との間に配設すると共に、該ガイド部材を前記バネ部の伸縮方向に前記非弾性部に伴い変位自在としたことを特徴とする電気的接続装置。 - 前記バネ部は3カ所以上直列に形成され、前記ガイド部材は、前記各バネ部の間のすべての非弾性部の横方向への変位を規制するように配設されたことを特徴とする請求項1記載の電気的接続装置。
- 前記接触子が複数、同一の前記凹所に配設され、前記ガイド部材が該複数の接触子に跨って形成されたことを特徴とする請求項1又は2記載の電気的接続装置。
- 前記絶縁基板は、上側絶縁基板と下側絶縁基板が重ねられて構成され、該重合わせ部位が、前記ガイド部材の移動範囲以外に設定されていることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の電気的接続装置。
- 前記接触子の複数の非弾性部に跨るガイド部材を設けたことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載の電気的接続装置。
- 前記ガイド部材には、前記接触子の接触部の前記伸縮方向への移動を許容し、横方向への変位を規制する接触部規制部を形成したことを特徴とする請求項1乃至5の何れか一つに記載の電気的接続装置。
- 前記接触子の接触部に一番近いバネ部は、軸線の両側でバネ定数を異ならせることにより、前記接触子の接触部を斜めに変位させるように設定したことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一つに記載の電気的接続装置。
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