JP3766899B2

JP3766899B2 - 磁粉探傷試験用磁化装置

Info

Publication number: JP3766899B2
Application number: JP33191597A
Authority: JP
Inventors: 照政三吉
Original assignee: 日本電磁測器株式会社
Priority date: 1997-12-02
Filing date: 1997-12-02
Publication date: 2006-04-19
Anticipated expiration: 2017-12-02
Also published as: JPH11160282A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は磁粉探傷試験用磁化装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に鉄製の種々の部品の傷を検査するのに磁粉探傷試験が使用されている。
【０００３】
この磁粉探傷試験は鉄製の種々の部品である被検査物を磁化装置で磁化し、その後、この磁化された被検査物に磁粉を降りかけて、この磁粉が磁力により付着した部分を傷とするものである。
【０００４】
従来、この被検査物を磁化する磁粉探傷試験用磁化装置として、図２に示す如きものが使用されていた。この図２につき説明するに、図２において、１は例えば５０Ｈｚ、１００Ｖの商用電源を示し、この商用電源１の一端を電流供給制御素子を構成するサイリスタ２のアノード及びサイリスタ３のカソードに接続する。
【０００５】
このサイリスタ２のカソード及びサイリスタ３のアノードを昇圧用のトランスファ４の１次巻線４ａの一端に接続し、この１次巻線４ａの他端をノーヒューズブレーカ５を介して商用電源１の他端に接続する。
【０００６】
この昇圧用のトランス４の２次巻線４ｂの一端を整流用のダイオード６を介して、被検査物７を磁化する着磁器８の一端に接続し、この着磁器８の他端をこの２次巻線４ｂの他端に接続する。
【０００７】
この着磁器８は所定の着磁用のコイルが所定形状に巻装されたもので、着磁時即ち通電時にこの着磁用のコイルに１０００Ａ〜３０００Ａの電流が流れ、このコイルが発生する磁場により被検査物７が磁化される如くなしたものである。
【０００８】
また、９は磁化制御用のマイクロコンピュータを示し、このマイクロコンピュータ９が発生する制御信号をサイリスタ２及び３の夫々のゲートに供給し、このサイリスタ２及び３のオン・オフを制御して、通電時間Ｔ₀、非通電時間Ｔ₁及び着磁器８のコイルに流す電流値を制御する如くしている。
【０００９】
１０はマイクロコンピュータ９に磁化指令を行う磁化指令スイッチを示し、この磁化指令スイッチ１０が操作されたときは、このマイクロコンピュータ９はサイリスタ２及び３を制御し、図３に示す如く通電時間Ｔ₀例えば３秒間と非通電時間Ｔ₁例えば２０秒間とを繰り返して被検査物７を磁化する如くしている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
一般に磁粉探傷試験は品質保証という観点より、確実に試験が行われるという概念に基き、この磁粉探傷試験用磁化装置の構成も正確に作動することに主体が置かれ、特に、磁化行程の磁化通電は傷検出精度に重要な役割をもっており、従来から通電電流値の管理は行なわれており、例えばノーヒューズブレーカ５のブレークする電力は通電時間Ｔ₀の電流値１０００Ａ〜３０００Ａに鑑み例えば１０ＫＷとしていた。
【００１１】
然しながら、従来の磁粉探傷試験用磁化装置においては、被検査物７を磁化するときに、図３に示す如く通電時間Ｔ₀例えば３秒と非通電時間Ｔ₁例えば２０秒間とを繰り返して行なっているので、このノーヒューズブレーカ５のブレーク電力を例えば１０ＫＷとしたときに、この通電のデューティサイクルに従って、この磁粉探傷試験用磁化装置に使用する部品例えばサイリスタ２，３、昇圧トランス４、整流用ダイオード６の許容電力容量を、その１／３〜１／１０例えば３ＫＷのものを使用し、強制空冷等を用いて安価に製作するようにしていた。
【００１２】
この為、図２に示す如き従来の磁粉探傷試験用磁化装置においては、サイリスタ２，３が破損した場合又はノイズその他の理由でこのサイリスタ２，３がオンしたままの状態により、異常電流が流れたときであっても、ノーヒューズブレーカ５がブレークせずに、サイリスタ２，３、昇圧トランス４、整流用ダイオード６等が焼損する懼れがあった。
【００１３】
本発明は斯る点に鑑み、ノーヒューズブレーカ５がブレークせずに異常電流が流れたときにも、サイリスタ、昇圧トランス、整流用ダイオード等が焼損することがないようにすることを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明磁粉探傷試験用磁化装置は所定時間間隔で通電指令して、被検査物を磁化するようにした磁粉探傷試験用磁化装置において、この通電指令の時間以外のときの電流を検出し、このとき異常電流が検出されたときに電源を遮断するようにしたものである。
【００１５】
本発明によれば通電指令の時間以外のときの電流を検出し、このとき異常電流が検出されたときに電源を遮断するようにしたので、ノーヒューズブレーカがブレークせずに異常電流が発生してもサイリスタ、昇圧トランス、整流用ダイオード等が焼損することがない。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、図１を参照して本発明磁粉探傷試験用磁化装置の実施の形態の例につき説明しよう。この図１において、図２に対応する部分には同一符号を付して示す。
【００１７】
図１例においては、例えば５０Ｈｚ、１００Ｖの商用電源の一端を電流供給制御素子を構成するサイリスタ２のアノード及びサイリスタ３のカソードに夫々接続する。
【００１８】
このサイリスタ２のカソード及びサイリスタ３のアノードを昇圧用のトランス４の１次巻線４ａの一端に接続し、この１次巻線４ａの他端をノーヒューズブレーカ５を介して、この商用電源１の他端に接続する。
【００１９】
この昇圧用のトランス４の２次巻線４ｂの一端を整流用のダイオード６を介して、被検査物７を磁化する着磁器８の一端に接続し、この着磁器８の他端をこの２次巻線４ｂの他端に接続する。
【００２０】
この着磁器８は所定の着磁用のコイルが所定形状に巻装されたもので、着磁時即ち通電時にこの着磁用のコイルに１０００Ａ〜３０００Ａの電流が流れ、このコイルが発生する磁場により被検査物７が磁化される如くなしたものである。
【００２１】
また、磁化制御用のマイクロコンピュータ９が発生する制御信号をサイリスタ２及び３の夫々のゲートに供給し、このサイリスタ２及び３のオン・オフを制御して、通電時間Ｔ₀、非通電時間Ｔ₁及び着磁器８のコイルに流す電流値を制御する如くしている。
【００２２】
このマイクロコンピュータ９に磁化指令を行う磁化指令スイッチ１０を設け、この磁化指令スイッチ１０が操作されたときは、このマイクロコンピュータ９はサイリスタ２及び３を制御し、図３に示す如く通電時間Ｔ₀例えば３秒間と非通電時間Ｔ₁例えば２０秒間とを繰り返して被検査物７を磁化する如くする。
【００２３】
本例においては、トランス４の１次巻線４ａの他端とノーヒューズブレーカ５との間に電流センサ１１を設け、この電流センサ１１がマイクロコンピュータ９の指令により通電時間Ｔ₀以外のときの電流を検出して、この検出電流をマイクロコンピュータ９に供給する如くする。
【００２４】
本例においては、このマイクロコンピュータ９がこの電流センサ１１により検出した検出電流が異常電流と判断したときには、このマイクロコンピュータ９より制御信号を発生し、ノーヒューズブレーカ５を強制的にブレークする如くする。
【００２５】
本例においても、ノーヒューズブレーカ５のブレークする電力は通電時間Ｔ₀の電流値１０００Ａ〜３０００Ａに鑑み例えば１０ＫＷとすると共に被検査物７を磁化するときに図３に示す如く、通電時間Ｔ₀例えば３秒間と非通電時間Ｔ₁例えば２０秒間とを繰り返して行なっているので、この通電のデューティサイクルに従って、この磁粉探傷試験用磁化装置に使用する部品例えばサイリスタ２，３、昇圧トランス４、整流用ダイオード６の許容電力容量をその１／３〜１／１０例えば３ＫＷのものを使用し、この磁粉探傷試験用磁化装置を安価に製作する如くする。
【００２６】
本例は上述の如く構成されているので、被検査物７を磁化するときは、この被検査物７を着磁器８の所定位置に配置し、磁化指令スイッチ１０を操作する。このときは、図３に示す如く通電時間Ｔ₀例えば３秒間と非通電時間Ｔ₁例えば２０秒間とが繰り返されこの通電時間例えば３秒間に着磁器８の着磁用のコイルに１０００Ａ〜３０００Ａの電流が流れ、このときこのコイルが発生する磁場により被検査物７が磁化される。
【００２７】
また、通電時間Ｔ₀以外のとき即ち非通電時間Ｔ₁及び被検査物７が配されない無負荷時に電流センサ１１により電流が検出され、この検出電流がマイクロコンピュータ９により異常電流と判断されたときはノーヒューズブレーカ５が強制的にブレークするので、ノーヒューズブレーカ５がブレークせずに、異常電流が発生しても、サイリスタ２，３、昇圧トランス４、整流用ダイオード６等が焼損することがない利益がある。
【００２８】
従って本例によれば上述の如く許容電力容量の比較的小さい安価な部品を使用して磁粉探傷試験用磁化装置を製作しても不都合がない利益がある。
【００２９】
尚、本発明は上述例に限ることなく本発明の要旨逸脱することなく、その他種々の構成が採り得ることは勿論である。
【００３０】
【発明の効果】
本発明によれば、ノーヒューズブレーカがブレークせずに異常電流が発生したときにも、サイリスタ、昇圧トランス、整流用ダイオード等の部品が焼損することがない利益がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明磁粉探傷試験用磁化装置の例を示す構成図である。
【図２】従来の磁粉探傷試験用磁化装置の例を示す構成図である。
【図３】本発明の説明に供する線図である。
【符号の説明】
１‥‥商用電源、２，３‥‥サイリスタ、４‥‥昇圧トランス、５‥‥ノーヒューズブレーカ、６‥‥整流用ダイオード、７‥‥被検査物、８‥‥着磁器、９‥‥マイクロコンピュータ、１１‥‥電流センサ

Claims

所定時間間隔で通電指令して、被検査物を磁化するようにした磁粉探傷試験用磁化装置において、
前記通電指令の時間以外のときの電流を検出し、このとき異常電流が検出されたときに電源を遮断するようにしたことを特徴とする磁粉探傷試験用磁化装置。