JP3721215B2 - Channel cut crystal - Google Patents
Channel cut crystal Download PDFInfo
- Publication number
- JP3721215B2 JP3721215B2 JP22119395A JP22119395A JP3721215B2 JP 3721215 B2 JP3721215 B2 JP 3721215B2 JP 22119395 A JP22119395 A JP 22119395A JP 22119395 A JP22119395 A JP 22119395A JP 3721215 B2 JP3721215 B2 JP 3721215B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystal
- cut
- channel cut
- base portion
- cut crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、X線ビームを単色化かつ平行化するためのチャンネルカット結晶に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線回折装置の技術分野において、X線源と試料との間にチャンネルカット結晶を挿入して、X線ビームを単色化かつ平行化する技術が知られている。図4(a)はチャンネルカット結晶の使用状態を示す平面図である。入射X線ビーム10は、チャンネルカット結晶12の一方の反射表面14で回折し、さらに他方の反射表面16で回折して、単色化かつ平行化されたビーム18となり、これが試料に照射される。図4(b)は2個のチャンネルカット結晶12、13を対称に配置して4結晶モノクロメータとして使用する例である。
【0003】
図5は従来のチャンネルカット結晶の正面図である。チャンネルカット結晶12は、一つの単結晶から切り出された対向する2個の直立部分20、22と基台部分24とからなる。この基台部分24の底面26が接着剤によって固定台28に接着固定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
図5のように固定台28に接着固定されたチャンネルカット結晶12は、接着剤が乾いた状態において、基台部分24の底面26にわずかな応力が生じる。この応力は、チャンネルカット結晶にわずかな歪みをもたらし、2個の直立部分20、22の姿勢が微妙に変化する。チャンネルカット結晶12は一つの単結晶ブロックから切り出されているので、本来、一方の反射表面14の部分の回折面(特定の結晶格子面)と他方の反射表面16の部分の回折面とは、完全に平行になっているはずである。しかし、上述のようにチャンネルカット結晶に歪みが生じると、二つの反射表面の間で回折面同志の平行性が狂うことになる。この平行性の狂いは、チャンネルカット結晶の性能に重大な影響を及ぼし、入射ビームに対する出射ビームの強度(反射率)が極端に低下することになる。
【0005】
この発明は上述の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、基台部分の底面を固定台に接着固定した場合に、二つの反射表面における回折面の平行性が高精度に維持されるようなチャンネルカット結晶を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明のチャンネルカット結晶は、二つの反射表面に対して垂直な底面を備えていて、前記底面と前記反射表面との間の基台部分に前記底面に平行な切り込みが形成されている。このチャンネルカット結晶の基台部分の底面を固定台に接着固定した場合、切り込みの存在により、接着部分に生じる応力や歪みが反射表面の姿勢変化に影響を及ぼしにくくなる。したがって、対向する二つの反射表面における回折面の平行性が高精度に維持される。前記切り込みは最低一つあれば足りるが、底面からの距離が異なる2個の切り込みを形成し、互いに反対の側面に開口するようにするのが好ましい。また,前記底面を固定台に接着固定する場合は,底面に一番近い切り込みに対応する面積部分において互いに接着固定するのが好ましい。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1は、この発明の実施の一形態を示す斜視図である。このチャンネルカット結晶30は、一つの単結晶ブロックから切り出した二つの直立部分32、34を備え、その下方の基台部分36と一体になっている。直立部分32、34には対向する二つの反射表面33、35が形成されている。この反射表面33、35は、図1に示すように互いに平行になるようにカットしてもよいし、非平行(すなわち非対称カット)にしてもよい。基台部分36には二つの切り込み38、40が形成されている。これらの切り込み38、40は基台部分36の底面42に平行である。上側の切り込み38は一方の側面44に開口していて、他方の側面46に向かって延びている。下側の切り込み40は他方の側面46に開口していて、一方の側面44に向かって延びている。なお、このチャンネルカット結晶は、加工後に、加工歪みの残っている表面層を湿式エッチングで除去して加工歪みを完全に除去することが必要である。
【0008】
図2は図1のチャンネルカット結晶の正面図である。上側の切り込み38の最深部39と他方の側面46との距離は、直立部分32、34の厚さHに等しい。また、下側の切り込み40の最深部41と一方の側面44との距離も、直立部分32、34の厚さHに等しい。基台部分36の底面42は固定台48に接着剤によって接着固定される。その接着部分50(ハッチングを施した部分)の面積は、その上方の切り込み40の面積にほぼ等しい。この接着部分50は、図2の紙面に対して垂直に延びていて基台部分36の長さ(紙面に垂直な寸法)と同じである。底面42の全面を接着することも可能であるが、図2に示すように底面に近い側の切り込み40の下方部分だけを接着する方が、直立部分32、34への影響が少なくて好ましい。
【0009】
使用する接着剤としては、セメダインを溶剤で希釈したものを用いている。そのほかには、蜜ろう、エレクトロンワックス、エポキシ系接着剤などを利用できる。
【0010】
図2において、具体的な寸法例を説明すると、直立部分32、34の厚さHは4mm、基台部分36の幅Wは13mm、基台部分36の長さ(紙面に垂直な寸法)は28mm、切り込み38、40の深さDは9mm、切り込み36、38の間隙Gは0.5mmである。切り込み38、40の長さ(紙面に垂直な寸法)は基台部分36の長さと同じである。
【0011】
このような切り込み36、38を形成すると、基台部分36の底面42を固定台48に接着固定した場合に、接着部分から受ける応力や歪みが直立部分32、34の姿勢変化に影響を及ぼしにくくなる。したがって、反射表面33、35の間で回折面の平行性が高精度に維持される。
【0012】
図3は本発明の別の実施形態の正面図である。この実施形態では、基台部分36に一つの切り込み40だけを形成してある。この実施形態は、図2に示すような二つの切り込み38、40を形成する場合と比較して、反射表面33、35の間で回折面の平行性を維持する効果は多少劣るが、チャンネルカット結晶の加工は容易になる。このような一つの切り込みで十分な場合もある。
【0013】
チャンネルカット結晶の材質としては、結晶の完全性の高いゲルマニウムやシリコンが代表的であり、回折面としては、Ge(220)面、Ge(440)面、Si(400)面、Si(220)面、Si(111)面、Si(333)面などが使われる。
【0014】
図2に示す固定台48は、さらに、姿勢調整機能付きの結晶ホルダ(図示せず)で支持されて、結晶ホルダに対する固定台48の姿勢が調整される。これにより、光学系に挿入されたチャンネルカット結晶の位置や姿勢が調整できる。
【0015】
本発明のチャンネルカット結晶は、チャンネルカットモノクロメータとして単体で使用される場合もあるし、4結晶モノクロメータを構成するように1対で使用される場合もある。また、X線回折装置の光学系において試料の入射側に挿入される以外に、試料の回折側(受光側)に挿入される場合(アナライザー結晶と呼ばれる。)もある。
【0016】
【発明の効果】
この発明のチャンネルカット結晶は、底面と反射表面との間の基台部分に、底面に平行な切り込みが形成されているので、底面を固定台に接着固定した場合に、切り込みの存在により、接着部分に生じる応力や歪みが反射表面の姿勢変化にほとんど影響を及ぼさなくなる。したがって、対向する二つの反射表面の間で回折面の平行性が高精度に維持される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の一形態を示す斜視図である。
【図2】図1のチャンネルカット結晶の正面図である。
【図3】この発明の別の実施形態の正面図である。
【図4】チャンネルカット結晶と4結晶モノクロメータの使用状態の平面図である。
【図5】従来のチャンネルカット結晶の正面図である。
【符号の説明】
30 チャンネルカット結晶
32、34 直立部分
33、35 反射表面
36 基台部分
38、40 切り込み
42 底面
44、46 側面
50 接着部分[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a channel cut crystal for monochromatic and collimating an X-ray beam.
[0002]
[Prior art]
In the technical field of X-ray diffractometers, a technique is known in which a channel cut crystal is inserted between an X-ray source and a sample to make the X-ray beam monochromatic and parallel. FIG. 4A is a plan view showing a usage state of the channel cut crystal. The
[0003]
FIG. 5 is a front view of a conventional channel cut crystal. The channel cut
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
As shown in FIG. 5, the channel cut
[0005]
The present invention has been made to solve the above-described problems, and its purpose is to provide a highly accurate parallelism of the diffractive surfaces on the two reflecting surfaces when the bottom surface of the base portion is bonded and fixed to the fixing table. It is an object of the present invention to provide a channel cut crystal that can be maintained at the same time.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The channel cut crystal according to the present invention has a bottom surface perpendicular to the two reflecting surfaces, and a base portion between the bottom surface and the reflecting surface is formed with a cut parallel to the bottom surface. When the bottom surface of the base portion of the channel cut crystal is bonded and fixed to the fixing table, the presence of the cut makes it difficult for stress and strain generated in the bonded portion to affect the posture change of the reflecting surface. Therefore, the parallelism of the diffractive surfaces at the two opposing reflecting surfaces is maintained with high accuracy. At least one notch is sufficient, but it is preferable to form two notches having different distances from the bottom surface and to open on opposite sides. Further, when the bottom surfaces are bonded and fixed to the fixing base, it is preferable to bond and fix each other in the area corresponding to the notch closest to the bottom surface.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention. The channel cut
[0008]
FIG. 2 is a front view of the channel cut crystal of FIG. The distance between the
[0009]
As an adhesive to be used, a solution obtained by diluting cemedine with a solvent is used. In addition, beeswax, electron wax, epoxy adhesive, etc. can be used.
[0010]
In FIG. 2, a specific example of dimensions will be described. The thickness H of the
[0011]
When
[0012]
FIG. 3 is a front view of another embodiment of the present invention. In this embodiment, only one
[0013]
The material of the channel cut crystal is typically germanium or silicon with high crystal perfection, and the diffractive surfaces are Ge (220) plane, Ge (440) plane, Si (400) plane, Si (220). Surface, Si (111) surface, Si (333) surface, etc. are used.
[0014]
2 is further supported by a crystal holder (not shown) having an attitude adjustment function, and the attitude of the
[0015]
The channel cut crystal of the present invention may be used alone as a channel cut monochromator or may be used in a pair so as to constitute a four crystal monochromator. In addition to being inserted on the incident side of the sample in the optical system of the X-ray diffractometer, it may be inserted on the diffraction side (light receiving side) of the sample (called an analyzer crystal).
[0016]
【The invention's effect】
In the channel cut crystal of the present invention, a notch parallel to the bottom surface is formed in the base portion between the bottom surface and the reflective surface. Stress and distortion generated in the portion hardly affect the posture change of the reflecting surface. Therefore, the parallelism of the diffractive surface is maintained with high accuracy between the two reflecting surfaces facing each other.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.
2 is a front view of the channel cut crystal of FIG. 1. FIG.
FIG. 3 is a front view of another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a plan view of a channel cut crystal and a four crystal monochromator in use.
FIG. 5 is a front view of a conventional channel cut crystal.
[Explanation of symbols]
30 Channel cut
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22119395A JP3721215B2 (en) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | Channel cut crystal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22119395A JP3721215B2 (en) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | Channel cut crystal |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0949899A JPH0949899A (en) | 1997-02-18 |
JP3721215B2 true JP3721215B2 (en) | 2005-11-30 |
Family
ID=16762934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22119395A Expired - Fee Related JP3721215B2 (en) | 1995-08-08 | 1995-08-08 | Channel cut crystal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3721215B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4313844B2 (en) | 2000-05-31 | 2009-08-12 | 株式会社リガク | Channel cut monochromator |
JP4347560B2 (en) * | 2002-12-17 | 2009-10-21 | シャランインスツルメンツ株式会社 | Optical element fixing structure, optical element fixing body, optical element and optical element holder |
JP2006337122A (en) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Shimadzu Corp | X-ray spectroscope |
JP2006337290A (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Shimadzu Corp | X-ray spectral instrument |
-
1995
- 1995-08-08 JP JP22119395A patent/JP3721215B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0949899A (en) | 1997-02-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0532184B1 (en) | Polycrystalline diamond substrate coated with non-hydrogenated amorphous diamond-like carbon thin films as durable optical element | |
JP3721215B2 (en) | Channel cut crystal | |
US6574306B2 (en) | Channel-cut monochromator | |
JPS63117337A (en) | Waveguide type optical head | |
TW201015230A (en) | Immersion inclined lithography apparatus and tank thereof | |
JP2594548B2 (en) | Polarizing beam splitter | |
JP2002100062A (en) | Optical pickup device | |
JP3922896B2 (en) | Package of optical semiconductor parts | |
JPH04156505A (en) | Lens adhesion-fixing method to lens supporter for constituting optical system | |
JP4540155B2 (en) | Optical isolator | |
Hashizume et al. | Some Studies on X-Ray Wave Fields in Elastically Distorted Single Crystals. I. Experimental Observations | |
Degand et al. | Measurement of surface stress: description of an interferometric method | |
JP3299383B2 (en) | Polarizing beam splitter and optical head device using the same | |
JPH0447459B2 (en) | ||
JPH05224079A (en) | Coupling structure of optical waveguide path and optical fiber | |
JP2003077160A (en) | Semiconductor laser device | |
JPH08160281A (en) | Reflector member and reflection surface device | |
JPH0682397A (en) | Sample positioning mechanism | |
JPH0212110A (en) | Production of optical integrated circuit | |
US20020041426A1 (en) | Optical module | |
JP2002082072A (en) | X-ray imaging device | |
JP5316448B2 (en) | Optical element packaging method and optical element package | |
JPS58704A (en) | Film thickness measuring device | |
JP2580943B2 (en) | Measuring method for unevenness of single crystal substrate | |
JPH01232310A (en) | Method of fixing optical appliance |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040519 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040525 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040720 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050906 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050912 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080916 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090916 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090916 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100916 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100916 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110916 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120916 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120916 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130916 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |