JP3671210B2 - エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料、アモルファス膜、及びエレクトロルミネッセンス素子 - Google Patents

エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料、アモルファス膜、及びエレクトロルミネッセンス素子 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料、この材料を用いるアモルファス膜、及びエレクトロルミネッセンス素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、略して「EL素子」という場合がある)の実用化のためには、高効率の発光を実現することが要求される。そのためには、前記EL素子に注入される正孔と電子とのバランスをとることが重要となる。EL素子においては、通常、電子に対して正孔が過剰となっており、過剰な正孔は発光層内において電子と再結合することなく、前記発光層から抜け出てしまう。このため、通常は前記発光層と隣接させて正孔ブロッキング層を設けるが、この正孔ブロッキング層に対して高いブロッキング特性を付与すべく、正孔ブロック材料の開発が重要な課題となっている。
【0003】
一方、EL素子の応用の観点から、EL素子自体にも高耐熱性及び高耐久性が要求される。例えば、カーナビゲーションシステムへの応用に関しては、100℃以上の耐熱性が求められている。このため、正孔ブロッキング層についても当然に高耐熱性及び高耐久性が要求される。上記正孔ブロック材料としては、これまでにいくつかのπ共役系分子が報告されているが、これらは耐熱性などに乏しく、さらにはブロッキング特性自体も十分なものではなかった。
【0004】
本発明は、耐熱性及び耐久性に優れ、エレクトロルミネッセンス素子における正孔ブロッキング層として使用することのできる、高ブロッキング特性を有する新規な正孔ブロック層用材料を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく、本発明は、一般式
【化4】
Figure 0003671210
(式中、Xは電子吸引基又は水素を表す)
で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料(第1の正孔ブロック層用材料)に関する。
【0006】
また、本発明は、一般式
【化5】
Figure 0003671210
(式中、Xは電子吸引基又は水素を表し、Rはアルキル基又は水素を表す)
で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料(第2の正孔ブロック層用材料)に関する。
【0007】
さらに、本発明は、一般式
【化6】
Figure 0003671210
(式中、Xは電子吸引基又は水素を表し、Rはアルキル基又は水素を表す)
で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料(第3の正孔ブロック層用材料)に関する。
【0008】
本発明者らは、EL素子の正孔ブロッキング層として使用することのできる新規なエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料を開発すべく鋭意検討した。その結果、上述した新規な材料の合成に成功し、これをスピンコート法又は蒸着法などで所定の基板又は下地層上に成膜することにより、容易にアモルファス化させることができることを見出した。
【0009】
そして、このようなアモルファス膜は、高いガラス転移温度を有し、室温以上でアモルファス状態を安定的に保持し、耐熱性及び耐久性に優れる。さらには、高い正孔ブロッキング特性を有する。したがって、前記アモルファス膜から正孔ブロッキング層を構成することによって、発光層内からの正孔の抜けを高度に抑制することができ、高い発光効率のEL素子を得ることができる。
【0010】
以下、本発明の具体的な態様及び詳細について、発明の実施の形態に基づいて詳細に説明する。
【0011】
【発明の実施の形態】
上述した第1の正孔ブロック層用材料の化学式1におけるXは、ハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることが好ましく、特には、水素、ハロゲン基、及びシアノ基の少なくとも一つであることが好ましい。これによって、第1の正孔ブロック層用材料の耐熱性及び耐久性、並びに正孔ブロッキング特性をさらに向上させることができる。また、Xの位置はオルト位、メタ位、及びパラ位のいずれでも良い。
【0012】
具体的には、Xが水素の場合、1,3,5-トリ(ビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式7で表される。また、Xがハロゲン基の場合、1,3,5-トリス(4’-フルオロビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式8で表される。さらに、Xがシアノ基の場合、1,3,5-トリス(4’-シアノビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式9で表される。
【0013】
【化7】
Figure 0003671210
【0014】
【化8】
Figure 0003671210
【0015】
【化9】
Figure 0003671210
【0016】
1,3,5-トリ(ビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物は、例えば、1,3,5-トリス(4-ヨードフェニル)ベンゼンとフェニルボロン酸とを、テトラキス(トリフェニルフォスフィノパラジウム(0))を触媒として、窒素置換条件において、テトラハイドロフラン及び2規定の炭酸カリウム水溶液の混合溶液中で還流撹拌し、スズキカップリング反応させることによって得ることができる。
【0017】
1,3,5-トリス(4’-フルオロビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物及び1,3,5-トリス(4’-シアノビフェニル-4-イル)ベンゼンなる化合物は、上記フェニルボロン酸に代えて、それぞれ4-フルオロフェニルボロン酸及び4-シアノフェニルボロン酸を用いることによって得ることができる。
【0018】
上述した第2の正孔ブロック層用材料の化学式2におけるXは、上記同様にハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることが好ましく、特には、水素、ハロゲン基、及びシアノ基の少なくとも一つであることが好ましい。また、Xの位置は、5、6、7、8位のいずれでも良い。
【0019】
また、化学式5におけるRは、炭素数1〜8のアルキル基であることが好ましく、さらにはメチル基であることが好ましい。これによって、第2の正孔ブロック層用材料の耐熱性及び耐久性、並びに正孔ブロッキング特性をさらに向上させることができる。
【0020】
具体的には、Xが水素の場合、1,3,5-トリス(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式10で表される。また、Xがハロゲン基の場合、1,3,5-トリス(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式11で表される。さらに、Xがシアノ基の場合、1,3,5-トリス(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式12で表される。
【0021】
【化10】
Figure 0003671210
【0022】
【化11】
Figure 0003671210
【0023】
【化12】
Figure 0003671210
【0024】
1,3,5-トリス(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる化合物は、例えば、1,3,5-トリブロモベンゼンと9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸とを、テトラキス(トリフェニルフォスフィノパラジウム(0))を触媒として、窒素置換条件において、テトラハイドロフラン及び2規定の炭酸カリウム水溶液の混合溶液中で還流撹拌し、スズキカップリング反応させることによって得ることができる。
【0025】
また、1,3,5-トリス(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる化合物及び1,3,5-トリス(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンベンゼンなる化合物は、上記9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸に代えて、それぞれ7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸及び7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸を用いることによって得ることができる。
【0026】
上述した第3の正孔ブロック層用材料の化学式3におけるXは、上記同様にハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることが好ましく、特には、水素、ハロゲン基、及びシアノ基の少なくとも一つであることが好ましい。また、Xの位置は、5、6、7、8位のいずれでも良い。
【0027】
また、化学式6におけるRは、炭素数1〜8のアルキル基であることが好ましく、さらにはメチル基であることが好ましい。これによって、第3の正孔ブロック層用材料の耐熱性及び耐久性、並びに正孔ブロッキング特性をさらに向上させることができる。
【0028】
具体的には、Xが水素の場合、1,3,5-トリス[4-(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式13で表される。また、Xがハロゲン基の場合、1,3,5-トリス[4-(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学式14で表される。さらに、Xがシアノ基の場合、1,3,5-トリス[4-(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる化合物から構成されることが好ましい。この化合物の構造式は化学15で表される。
【0029】
【化13】
Figure 0003671210
【0030】
【化14】
Figure 0003671210
【0031】
【化15】
Figure 0003671210
【0032】
1,3,5-トリス[4-(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる化合物は、例えば、1,3,5-トリス(4-ヨードフェニル)ベンゼンと9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸とを、テトラキス(トリフェニルフォスフィノパラジウム(0))を触媒として、窒素置換条件において、テトラハイドロフラン及び2規定の炭酸カリウム水溶液の混合溶液中で還流撹拌し、スズキカップリング反応させることによって得ることができる。
【0033】
また、1,3,5-トリス[4-(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる化合物及び1,3,5-トリス[4-(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンは、上記9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸に代えて、それぞれ7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸及び7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イルボロン酸を用いることによって得ることができる。
【0034】
上述したエレクトロルミネッセンス素子用材料は、加熱融解して得た融液を2枚の基板で挟んで冷却(放冷)する、溶液からのスピンコート法などによって所定の基板あるいは下地層上に塗布する、又は蒸着法などの成膜手法を用いることによって、アモルファス膜として形成することができる。
【0035】
このアモルファス膜は、室温以上でアモルファス状態を安定的に維持し、高耐熱性及び高耐久性を有する。また、高いブロッキング特性を示し、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロッキング層として好適に用いることができる。したがって、高耐熱性及び高耐久性であり、高発光効率のエレクトロルミネッセンス素子を得ることができる。
【0036】
【実施例】
本実施例においては、本発明のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料から正孔ブロッキング層を形成し、エレクトロルミネッセンス素子を作製することによって、その発光効率を評価した。
【0037】
(エレクトロルミネッセンス素子の作製)
図1は、本実施例において作製したエレクトロルミネッセンス素子10の構成を示す図である。図1に示すエレクトロルミネッセンス素子10は、ガラス基板1上において、ITO電極2、正孔輸送層3、発光層4、正孔ブロッキング層5、電子輸送層6、及び背面電極7が順次積層された構成を呈している。
【0038】
正孔輸送層3は、(4,4’,4’’-トリス[3-メチルフェニル(フェニル)アミノ]トリフェニルアミン)から、真空蒸着法により厚さ500Åに形成し、発光層4は、N,N,N’,N’-テトラキス(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)-[1,1’-ビフェニル]-4,4’-ジアミン)から、同じく真空蒸着法によって厚さ200Åに形成した。また、正孔ブロッキング層5は化学式10で示される、本発明の1,3,5-トリス[4-(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンから、真空蒸着法によって厚さ100Åに形成し、電子輸送層6は、(トリス(8―キノリノラト)アルミニウムから、真空蒸着法によって厚さ200Åに形成した。なお、背面電極7はMgAg電極より構成し、ITO電極2としては50Ω/cmのものを用いた。
【0039】
また、上記(4,4’,4’’-トリス[3-メチルフェニル(フェニル)アミノ]トリフェニルアミン)の一般式は化学式16で示され、上記N,N,N’,N’-テトラキス(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)-[1,1’-ビフェニル]-4,4’-ジアミン)の構造式は化学式17で示される。さらに、上記(トリス(8―キノリノラト)アルミニウムの構造式は化学式18で示される。
【0040】
【化16】
Figure 0003671210
【0041】
【化17】
Figure 0003671210
【0042】
【化18】
Figure 0003671210
【0043】
(エレクトロルミネッセンス素子の評価)
図2は、上記のようにして作製したエレクトロルミネッセンス素子10の発光スペクトルを示すグラフである。図2に示す発光スペクトルは、ITO電極2及びMgAg背面電極7間に、大気中、室温において8Vの電圧を印加して得たものである。図2から明らかなように、エレクトロルミネッセンス素子10からは発光層4からの濃青色の発光が得られ、正孔ブロッキング層5を含む各層が有効に機能していることが確認された。
【0044】
図3は、エレクトロルミネッセンス素子10の電圧−輝度特性、及び電圧−電流密度特性を示すグラフである。ITO電極2側を正電位とした場合において、3V以上の電圧を印加することにより濃青色の発光が確認された。また、最高輝度は13Vにおいて2240cd/mであり、300cd/m発光時における発光効率は0.20lm/W、量子効率は1.1%であった。すなわち、本実施例において得たエレクトロルミネッセンス素子10は、高い発光効率を有すると共に、十分に高い発光輝度を有することが確認された。
【0045】
以上、具体例を挙げながら発明の実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明してきたが、本発明は上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいて、あらゆる変形や変更が可能である。
【0046】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料によれば、室温以上で安定な、耐熱性及び耐久性に優れたアモルファス膜を提供することができる。このアモルファス膜は、前記正孔ブロック層用材料の特性に起因して高い正孔ブロッキング特性を示す。このため、前記アモルファス膜から正孔ブロッキング層を構成することにより、発光層からの正孔の抜けを効果的に抑制し、発光効率に優れたエレクトロルミネッセンス素子を提供することができる。
【0047】
また、前記正孔ブロック層用材料の高耐熱性及び高耐久性に起因して、前記エレクトロルミネッセンス素子に対して高い耐熱性及び耐久性を付与することができ、苛酷な環境条件、例えば自動車内におけるカーナビゲーションシステムなどにも使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のエレクトロルミネッセンス素子の構成の一例を示す概略図である。
【図2】 本発明のエレクトロルミネッセンス素子の発光スペクトルの一例を示すグラフである。
【図3】 本発明のエレクトロルミネッセンス素子の電圧−輝度特性、並びに電圧−電流密度特性を示すグラフである。
【符号の説明】
1 ガラス基板
2 ITO電極
3 正孔注入層
4 発光層
5 正孔ブロッキング層
6 電子輸送層
7 背面電極
10 エレクトロルミネッセンス素子

Claims (21)

  1. 一般式
    Figure 0003671210
    (式中、Xは電子吸引基又は水素を表す)
    で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  2. 前記Xは、水素、ハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることを特徴とする、請求項1に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  3. 1,3,5-トリ(ビフェニル-4-イル)ベンゼンなる、請求項2に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  4. 1,3,5-トリス(4’-フルオロビフェニル-4-イル)ベンゼンなる、請求項2に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  5. 1,3,5-トリス(4’-シアノビフェニル-4-イル)ベンゼンなる、請求項2に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  6. 一般式
    Figure 0003671210
    (式中、Xは電子吸引基又は水素を表し、Rはアルキル基又は水素を表す)
    で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  7. 前記Xは、水素、ハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることを特徴とする、請求項6に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  8. 前記Rは、炭素数1〜8のアルキル基であることを特徴とする、請求項6又は7に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  9. 前記Rはメチル基であることを特徴とする、請求項8に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  10. 1,3,5-トリス(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる、請求項9に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  11. 1,3,5-トリス(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる、請求項9に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  12. 1,3,5-トリス(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)ベンゼンなる、請求項9に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  13. 一般式
    Figure 0003671210
    (式中、Xは電子吸引基又は水素を表し、Rはアルキル基又は水素を表す)
    で示されることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  14. 前記Xは、水素、ハロゲン基、シアノ基、及びニトロ基の少なくとも一つであることを特徴とする、請求項13に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  15. 前記Rは、炭素数1〜8のアルキル基であることを特徴とする、請求項13又は14に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  16. 前記Rはメチル基であることを特徴とする、請求項15に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  17. 1,3,5-トリス[4-(9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる、請求項16に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  18. 1,3,5-トリス[4-(7-フルオロ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる、請求項16に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  19. 1,3,5-トリス[4-(7-シアノ-9,9-ジメチルフルオレン-2-イル)フェニル]ベンゼンなる、請求項16に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料。
  20. 請求項1〜19のいずれか一に記載のエレクトロルミネッセンス素子の正孔ブロック層用材料からなり、室温以上においてアモルファス状を呈することを特徴とする、アモルファス膜。
  21. 請求項20に記載のアモルファス膜から構成される正孔ブロッキング層を具えることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス素子。
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