JP3626066B2 - 計算装置及び計算方法 - Google Patents

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    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/42Circuits effecting compensation of thermal inertia; Circuits for predicting the stationary value of a temperature

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、計算装置及び計算方法の技術に関し、特に、熱電対出力電位と周囲温度とから熱電対入力温度を求める演算装置及び演算方法に関する。
【0002】
【従来技術】
従来、熱電対入力温度を求める式は、数式1(以下、式(1)という)に与えられている。
【0003】
【数1】
Figure 0003626066
【0004】
そして、熱電対入力温度を求めるには、求めるべき式(1)を直接計算して求める方法と、式(1)の近似式である数式2(以下、式(2)という)を計算して求める方法とがある。
【0005】
【数2】
Figure 0003626066
【0006】
ここで、図6及び図7は、高速クロックの下限周波数520kHzにおける式(1)及び式(2)を計算したシュミレーション結果を示している。図7は、図6に記載されたシュミレーション結果をグラフ化したものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の計算方法において、式(1)を計算するには、乗算/除算計算を3回と、加算/減算計算を3回と、平方根計算を2回計算する必要がある。ここで、各計算を1回行うためには、乗算/除算計算に17msec、加算/減算計算に0.4msec、平方根計算に25msecの計算時間を必要とする。つまり、式(1)を計算するためには、合計102.2msecの計算時間を必要とする。なお、式(1)によると、熱電対出力電位が0.02[V]、周囲温度が18[℃]の場合、熱電対入力温度は、122.83[℃]である。
【0008】
一方、式(2)を計算するには、乗算/除算計算を3回と、加算/減算計算を3回と、平方根計算を2回計算する必要がある。つまり、式(2)を計算するためには、合計69.2msecの計算時間を必要とする。なお、式(2)によると、熱電対出力電位が0.02[V]、周囲温度が18[℃]の場合、熱電対入力温度は、121.89[℃]である。
【0009】
このように、式(1)を計算すると求める熱電対入力温度の値は正しいが、102.2msecの計算時間を必要とする。一方、式(2)を計算すると計算時間は33msec短縮して69.2msecになるが、計算結果は式(1)と0.94℃の誤差を生じて121.89℃となる。
【0010】
つまり、式(1)を計算すると計算結果は正確であるが計算時間がかかり、式(2)を計算すると計算時間は短縮されるが計算結果に大きな誤差を生じてしまう。
【0011】
本発明は、計算結果に生じる誤差を極力少なくし、かつ、計算時間の短い計算装置及び計算方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
【0013】
すなわち、本発明の計算装置は、熱電対出力電位と周囲温度とから熱電対入力温度を計算する装置であって、熱電対出力電位の複数の値及び周囲温度の複数の値とを用いて計算された熱電対入力温度の複数の値を格納するメモリと、熱電対出力電位の所定の値と周囲温度の所定の値とを入力し入力された熱電対出力電位の所定の値に対応する格納された熱電対出力電位の複数の値をメモリから読み出し入力された周囲温度の所定の値に対応する格納された周囲温度の複数の値をメモリから読み出し読み出された熱電対出力電位の複数の値と読み出された周囲温度の複数の値とにより選択される格納された熱電対入力温度の複数の値をメモリから読み出し補間法を用いて入力された熱電対出力電位の所定の値と入力された周囲温度の所定の値とに対応する熱電対入力温度を計算する計算部と、を有するものである。
【0014】
上記の手段によれば、計算結果に生じる誤差を極力少なくし、計算時間を短くすることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施を図面に基づいて詳細に説明する。なお、発明の実施の形態を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付与し、その繰り返しの説明は省略する。
【0016】
(第1の実施の形態)
図1から図3までは、本発明の第1の実施の形態の計算装置及び計算方法に係わる図である。図1は本発明の第1の実施の形態の計算装置のシステム構成を示す図であり、図2は本発明の第1の実施の形態の計算手順を示すフローチャートであり、図3は本発明の第1の実施の形態の計算手順を示す概念図である。
【0017】
初めに、図1を用いて、本発明の第1の実施の形態の計算装置について説明する。本発明の第1の実施の形態の計算装置は、EEPROMなどで構成される記憶素子101(以下、メモリ101という)と、熱電対入力温度を計算する計算部102とにより構成される。ここで、計算部102は、熱電対入力温度を計算する手順を格納するROM103を有している。
【0018】
メモリ101は、図6(a)に示すように、熱電対出力電位xと周囲温度yとから式(1)を計算し、求められた熱電対入力温度zをテーブル形式で格納している。メモリ101には、熱電対出力電位x、周囲温度y及び熱電対入力温度zとが格納されている。そして、熱電対入力温度zは、熱電対出力電位x及び周囲温度yの2つの値でアクセスされる。
【0019】
ROM103は、数式3〜数式7(以下、式(3)〜式(7)という)がプログラム化されて格納されている。格納されたプログラムは、計算部102の指示により読み出させる。
【0020】
【数3】
Figure 0003626066
【0021】
【数4】
Figure 0003626066
【0022】
【数5】
Figure 0003626066
【0023】
【数6】
Figure 0003626066
【0024】
【数7】
Figure 0003626066
【0025】
次に、図2及び図3を用いて、本発明の第1の実施の形態の計算方法を具体例を用いて説明する。ここでは、具体例として、熱電対出力電位0.02[V]、周囲温度18[℃]における熱電対入力温度zを求める場合について説明する。
【0026】
初めに、ステップ201において、計算部102は、求めるべき熱電対入力温度zに対応する熱電対出力電位x(=0.02)と周囲温度y(=18.0)を入力する。
【0027】
次に、ステップ202において、計算部102は、あらかじめ式(1)の計算結果をテーブル形式で格納しているメモリ101から、入力した熱電対出力電位xに最も近く、“x1≦入力した熱電対出力電位x≦x2”を満たすx1及びx2の値を選択する。つまり、メモリ101から選択されるx1及びx2の値は、入力した熱電対出力電位xに最も近い値が選択される。この具体例では、計算部102は、メモリ101から、x1の値として0.018をx2の値として0.022を選択し、x1の値として0.013をx2の値として0.027を選択しない。なぜなら、x1の値として0.013及びx2の値として0.027を選択した場合は、x1の値として0.018及びx2の値として0.022を選択した場合に比べ、求めるべき熱電対入力温度zの誤差が大きくなってしまうからである。
【0028】
同様にして、計算部102は、メモリ101から、入力した周囲温度yに最も近く、“y1≦入力した周囲温度y≦y2”を満たすy1及びy2の値を選択する。つまり、メモリ101から選択されるy1及びy2の値は、入力した周囲温度yに最も近い値が選択される。この具体例では、計算部102は、メモリ101から、y1の値として14.0をy2の値として20.0を選択し、y1の値として9.0をy2の値として26.0を選択しない。なぜなら、y1の値として9.0及びy2の値として26.0を選択した場合は、y1の値として14.0及びy2の値として20.0を選択した場合に比べ、求めるべき熱電対入力温度zの誤差が大きくなってしまうからである。
【0029】
次に、計算部102は、メモリ101のテーブルから、選択されたx1(=0.0018)及びy1(=14.0)の値に対応する熱電対入力温度z1(=113.97)を選択する。同様にして、計算部102は、メモリ101のテーブルから、選択されたx2(=0.022)及びy1(=14.0)の値に対応する熱電対入力温度z2(=128.17)を、選択されたx1(=0.018)及びy2(=20.0)の値に対応する熱電対入力温度z3(=116.47)を、選択されたx2(=0.022)及びy2(=20.0)の値に対応する熱電対入力温度z4(=130.42)を選択する。
【0030】
次に、ステップ203において、計算部102は、入力した熱電対出力電位x(=0.02)及び選択された熱電対出力電位x1(=0.018)及びx2(=0.022)を用いて式(3)を計算し、熱電対出力電位の増減率ofs_x(=0.5)を求める。
【0031】
次に、計算部102は、入力した周囲温度y(=18.0)及び選択された周囲温度y1(=14.0)及びy2(=20.0)を用いて式(4)を計算し、周囲温度の増減率ofs_y(=0.6667)を求める。
【0032】
次に、計算部102は、選択された熱電対入力温度z1(=113.97)及びz2(=128.17)及び計算された熱電対出力電位の増減率ofs_x(=0.5)を用いて式(5)を計算する。そして、周囲温度y1(=14.0)に対する熱電対出力電位の増加率における第1の予測熱電対入力温度z_r1(=121.07)を求める。
【0033】
次に、計算部102は、選択された熱電対入力温度z3(=116.47)及びz4(=130.42)及び計算された熱電対出力電位の増減率ofs_x(=0.5)を用いて式(6)を計算する。そして、周囲温度y2(=20.0)に対する熱電対出力電位の増加率における第2の予測熱電対入力温度z_r2(=123.445)を求める。
【0034】
次に、計算部102は、計算された第1の予測熱電対入力温度z_r1(=121.07)と、計算された第2の予測熱電対入力温度z_r2(=123.445)と、計算された周囲温度の増減率ofs_y(=0.6667)とを用いて式(7)を計算する。そして、熱電対入力温度z(=122.653)を求める。
【0035】
本発明の第1の実施の形態の計算装置及び計算方法によれば、以下の効果を奏する。
(1)本発明の第1の実施の形態においては、式(3)〜式(7)を計算するには、乗算/除算計算を5回、加算/減算計算を10回及び平方根計算を0回行う。ここで、各計算を1回行うためには、乗算/除算計算に17msec、加算/減算計算に0.4msecの計算時間を必要とすると、合計89msecの計算時間を必要とする。つまり、本発明の第1の実施の形態の計算時間は、従来の式(1)の計算時間に比べ、13msec短縮される。また、本発明の第1の実施の形態の計算結果は122.653[℃]であり、従来の式(1)の計算結果(122.83[℃])と比べると、その誤差は、わずか0.177[℃]である。これは、従来の式(1)と従来の式(2)との計算結果の誤差(0.94[℃])に比べると大幅に改善される。
(2)また、入力した熱電対出力電位xと入力した周囲温度yの両方が、メモリ101内にあった場合、上記のステップ3を実行することなく、メモリ101から熱電対入力温度zを求めることができる。この場合、ステップ3を実行するための時間を省略できることにより、熱電対入力温度zを求めるための計算時間を短縮することができる。
(3)本発明の第1の実施の形態の計算装置では、式(1)に示すような熱電対出力xと周囲温度yとから熱電対入力温度zを求める関数をあらかじめ計算した結果を、書き換え可能な記憶素子に格納している。そのため、用途に応じて関数を変更したい場合、記憶素子に格納しているデータを変更するだけでよく、計算部を変更する必要はない。さらに、本発明を採用した製品は、その製造が完了した場合でもオンボードでデータを書き換えることができる。
【0036】
(第2の実施の形態)
図4は、本発明の第2の実施の形態の計算装置及び計算方法に係わる図である。図4(a)は本発明の第2の実施の形態の計算手順を示す概念図であり、図4(b)は図4(a)のテーブルをグラフ化したものである。
【0037】
本発明の第2の実施の形態の計算装置及び計算方法において、メモリ101は、図4(a)に示すように、熱電対出力電位xと周囲温度yとを用いて式(1)を計算し、求められた熱電対入力温度zをテーブル形式で格納している。本発明の第2の実施の形態で使用されるテーブルは、高精度の演算が要求される領域のみ細かく計算されている。つまり、高精度の演算が要求される領域において、熱電対出力電位x及び周囲温度yの間隔を細かくして、それらに対応する熱電対入力温度zを求め、テーブル形式でメモリ101に格納している。
【0038】
本発明の第2の実施の形態の計算装置及び計算方法によれば、本発明の第1の実施の形態の計算装置及び計算方法において得られる効果(1)〜(3)に加え、以下の効果を奏する。
(4)計算装置及び計算方法においては、高精度を要求される領域において、高精度の熱電対入力温度を得ることができる。さらに、高精度を要求される領域以外の領域については、粗い設定をすることにより、メモリ101の容量を節約することができる。
【0039】
(第3の実施の形態)
図5は、本発明の第3の実施の形態の計算装置及び計算方法に係わる図である。図5は、本発明の第3の実施の形態の計算手順を示す概念図であり、図5(b)は図5(a)のテーブルをグラフ化したものである。
【0040】
本発明の第3の実施の形態の計算装置及び計算方法において、メモリ101は、図5(a)に示すように、熱電対出力電位xと周囲温度yとを用いて式(1)を計算して、求められた熱電対入力温度zをテーブル形式で格納している。本発明の第3の実施の形態で使用されるテーブルは、第1の実施の形態及び第2の実施の形態において示されたテーブルに加えて、誤差が大きく生じる領域の熱電対入力温度zが格納されている。つまり、あらかじめ誤差が大きくなる領域の熱電対入力温度zを求め、テーブル形式でメモリ101に格納している。
【0041】
本発明の第3の実施の形態の計算方法によれば、本発明の第1の実施の形態の計算装置及び計算方法において得られる効果(1)〜(3)に加え、以下の効果を奏する。
(5)あらかじめ誤差が大きく生じる領域においてはテーブル化してメモリに格納しておくことにより、その領域において計算をすることを防ぐことができ、誤差を生じることがなくなる。さらに、熱電対入力温度zを求めるための計算時間を短縮することができる。
【0042】
以上本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0043】
【発明の効果】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
【0044】
本発明によれば、熱電対入力温度を求める計算時間が短縮され、かつ、計算精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の計算装置のシステム構成を示す図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態の計算手順を示すフローチャートである。
【図3】本発明の第1の実施の形態の計算手順を示す概念図である。
【図4】図4(a)は本発明の第2の実施の形態の計算手順を示す概念図であり、図4(b)は図(a)のテーブルをグラフ化したものである。
【図5】図5(a)は本発明の第3の実施の形態の計算手順を示す概念図であり、図5(b)は図(a)のテーブルをグラフ化したものである。
【図6】高速クロックの下限周波数520kHzにおける式(1)及び式(2)を計算したシュミレーション結果である。
【図7】図6に記載されたシュミレーション結果をグラフ化したものである。
【符号の説明】
101 メモリ
102 計算部
103 ROM

Claims (3)

  1. 熱電対出力電位と周囲温度とから熱電対入力温度を計算する装置であって、
    予め設定された複数の前記熱電対出力電位の値と、予め設定された複数の前記周囲温度の値と、該熱電対出力電位の値と該周囲温度の値とを用いて計算により求められた複数の前記熱電対入力温度の値と、を格納するメモリと、
    求めたい熱電対入力温度のための情報として必要な前記熱電対出力電位の値と前記周囲温度の値とが入力され、前記メモリに格納された複数の前記熱電対出力電位の値のうち、該入力された熱電対出力電位の値に近似する2つを前記メモリから読み出し、前記メモリに格納された複数の前記周囲温度の値のうち、該入力された周囲温度の値に近似する2つを前記メモリから読み出し、前記読み出された2つの熱電対出力電位の値と前記読み出された2つの周囲温度の値とにより選択される前記格納された熱電対入力温度の値を前記メモリから読み出し、読み出された前記2つの熱電対出力電位の値から算出される熱電対出力電位の増減率と読み出された前記熱電対入力温度の値とから第1と第2の予測熱電対入力温度を算出し、読み出された2つの周囲温度の値から算出される周囲温度の増減率と該第1と第2の予測熱電対入力温度とから所望の熱電対入力温度を求める計算部とからなることを特徴とする計算装置。
  2. 請求項1記載の計算装置であって、前記読み出される2つの熱電対出力電位の値は、前記入力された熱電対出力電位の値よりも小さい値のうちで該入力された熱電対出力電位の値に最も近似するものと、前記入力された熱電対出力電位の値よりも大きい値のうちで該入力された熱電対出力電位の値に最も近似するものと、であり、
    前記読み出される2つの周囲温度の値は、前記入力された周囲温度の値よりも小さい値のうちで該入力された周囲温度の値に最も近似するものと、前記入力された周囲温度の値よりも大きい値のうちで該入力された周囲温度の値に最も近似するものと、であること、
    を特徴とする計算装置。
  3. 熱電対出力電位と周囲温度とを用いて熱電対入力温度を計算する方法であって、
    予め設定された複数の前記熱電対出力電位の値電位の値と、予め設定された複数の前記周囲温度の値と、該熱電対出力電位の値と該周囲温度の値とを用いて計算により求められた複数の前記熱電対入力温度の値と、をメモリに格納し、
    求めたい熱電対入力温度のための情報として必要な前記熱電対出力電位の値と前記周囲温度の値とを入力し、
    前記入力された熱電対出力電位の値と前記格納された複数の熱電対出力電位の値とを比較し、
    前記格納された複数の熱電対出力電位の値の1つであって、前記入力された熱電対出力電位の値よりも小さい値のうちで該入力された熱電対出力電位の値に最も近似するものを第1の熱電対出力電位として前記メモリから読み出し、
    前記格納された複数の熱電対出力電位の値の1つであって、前記入力された熱電対出力電位の値よりも大きい値のうちで該入力された熱電対出力電位の値に最も近似するものを第2の熱電対出力電位として前記メモリから読み出し、
    前記入力された周囲温度の値と前記格納された複数の周囲温度の値とを比較し、
    前記格納された複数の周囲温度の値の1つであって、前記入力された周囲温度の値よりも小さい値のうちで該入力された周囲温度の値に最も近似するものを第1の周囲温度として前記メモリから読み出し、
    前記格納された複数の周囲温度の値の1つであって、前記入力された周囲温度の値よりも大きい値のうちで該入力された周囲温度の値に最も近似するものを第2の周囲温度として前記メモリから読み出し、
    前記第1の熱電対出力電位と前記第1の周囲温度及び前記第2の周囲温度とに対応する前記格納された熱電対入力温度を第1の熱電対入力温度及び第2の熱電対入力温度として前記メモリから読み出し、
    前記第2の熱電対出力電位と前記第1の周囲温度及び前記第2の周囲温度とに対応する前記格納された熱電対入力温度を第3の熱電対入力温度及び第4の熱電対入力温度として前記メモリから読み出し、
    前記第1及び第2の熱電対出力電位から算出される熱電対出力電位の増減率と前記第1、第2、第3及び第4の熱電対入力温度とから第1及び第2の予測熱電対入力温度を算出し、前記第1及び第2の周囲温度から算出される周囲温度の増減率と該第1及び第2の予測熱電対入力温度とから所望の熱電対入力温度を求めることを特徴とする計算方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002373076A (ja) * 2001-06-13 2002-12-26 Oki Electric Ind Co Ltd 計算装置及び計算方法
JP3812884B2 (ja) * 2001-06-27 2006-08-23 日本電信電話株式会社 温度検出方法および温度検出器
US7234864B2 (en) * 2004-09-30 2007-06-26 Rockwell Automation Technologies, Inc. Measurement of multi-channel cold junction temperature
JP2007248288A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Fujitsu Ltd 温度特性補正方法及びセンサ用増幅回路
CN111930749A (zh) * 2020-08-18 2020-11-13 厦门安东电子有限公司 热电偶电势数据存储方法及查询方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2705174A1 (fr) * 1993-05-12 1994-11-18 Philips Laboratoire Electroniq Appareil comprenant un circuit ayant une réponse entrée/sortie contrôlable par un signal de commande et méthode d'approximation.
JPH0756894A (ja) 1993-08-18 1995-03-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> フレネル積分計算装置及び該装置を用いた無線ゾーン計算装置
FI113405B (fi) * 1994-11-02 2004-04-15 Jarmo Juhani Enala Reaaliaikainen mittausmenetelmä
DE19516627A1 (de) * 1995-05-05 1996-11-07 Ranco Inc Verfahren und Vorrichtung zur Regelung eines Prozesses

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