JP3624117B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像形成装置に関し、特に、複数のレーザ光源を有し、前記複数のレーザ光源から出力される複数のレーザ光によって像担持体に静電潜像を形成する画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の画像形成装置は、1つの光源(シングルレーザ)を用いて感光体上に書き込みを行っている。
【0003】
図8は、従来の画像形成装置全体の断面図である。基本的な動作について図8を用いて説明する。原稿給紙部1上に積載された原稿は、1枚づつ順次原稿台ガラス面2上に搬送される。原稿が搬送されると、スキャナ部3のランプが点灯し、かつスキャナユニット4が移動して原稿を照射する。
【0004】
原稿の反射光は、ミラー5,6,7を介してレンズ8を通過し、その後イメージセンサ部9に入力される。イメージセンサ部9に入力された画像信号は、直接、あるいは、一旦図示しない画像メモリに記憶され、再び読み出された後、露光制御部10に入力され、所望の照射光が出力される。照射光によって感光体11上に潜像が作られ、潜像は現像器12、あるいは13によって現像される。
【0005】
潜像とタイミングを合わせて被転写紙積載部14、あるいは15より転写紙が搬送され、転写部16において、現像されたトナー像が転写される。転写されたトナー像は定着部17にて被転写紙に定着された後、排紙部18より装置外部に排出される。
【0006】
図9は、露光制御部10の内部構成図である。半導体レーザ31の内部には、レーザ光の一部を検出するフォトダイオードが設けられている。フォトダイオードの検出信号を用いて半導体レーザ31のAPC(Auto Power Control)制御を行う。半導体レーザ31から発したレーザビームは、コリメータレンズ35及び絞り32によりほぼ平行光となり、所定のビーム径で回転多面鏡33に入射する。
【0007】
回転多面鏡33は、矢印の様な方向に等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射したレーザビームが連続的に角度を変える偏向ビームとなって反射される。偏向ビームは、f−θレンズ34により集光作用を受ける。一方、f−θレンズ34は、同時に、走査の時間的な直線性を保証するような歪曲収差の補正を行うために、レーザビームを像担持体としての感光体11上に図の矢印の方向に等速で結合走査する。
【0008】
なお、36は回転多面鏡33からの反射光を検出するビームディテクト(BD)センサである。BDセンサ36の検出信号は、回転多面鏡33の回転とデータの書き込みの同期とをとるための同期信号として用いられる。
【0009】
このように、従来の画像形成装置において、レーザビームの副走査間隔は、回転多面鏡33の回転速度と像担持体としての感光体11の回転速度とによって、一様に決まっていた。したがって、副走査間隔を測定せずに、画像形成装置を作動していた。
【0010】
また、感光体11上の回転軸とレーザビームの走査軸とのずれを検出するために、CCDラインセンサが用いられている。感光体11の手前/中央/奥側とメカ的に精度を出して主走査方向と垂直にCCDラインセンサに取り付け、実際にレーザを走査させて受光しているCCDのライン上のアドレスを見ることで、感光体11上の回転軸とレーザビームの軸との傾きを検出している。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、シングルビームのレーザを構成すると、ポリゴンモータの回転速度が追いつかず、システムが成立しなくなりつつある。この結果、レーザビームを2つ使用する構成が考えられ、その中でも1つのチップの中に2つのビームを持つようなマルチビームのレーザを用いた装置が提案されている。ビーム数を複数にすることで、一度の走査で複数ラインの画像を形成することが可能となり、ポリゴンモータの回転速度を、特に上げることなく、複写速度をおよそ2倍とした画像形成装置を提供することができる。
【0012】
マルチビームのレーザを用いると、画像形成時に、レーザ光の副走査方向の間隔を、ポリゴンモータの回転速度と感光体の回転速度とだけでは、制御することができない。そのため、画像形成装置は、製造時に合わせられた位置を変更できない。画像形成装置は、使用される温度状況下などによって、装置を構成する部材が膨張等するため、レーザ光の副走査方向の間隔が製造時に設定した間隔と異なる場合がある。具体的には、CCDラインセンサの画素間はせいぜい7〜8μmであり、600dpi相当すなわち42.3μmの間隔を測定するには精度が不足する場合がある。
【0013】
そこで、本発明は、マルチビームを備え、複数ライン間のライン間隔を調整する画像形成装置を提供することを課題とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明は、2つのレーザ光源を画像信号に応じて駆動し、光変調された2つのレーザ光を像担持体に導光して、静電潜像を形成する画像形成装置において、前記2つのレーザ光の走査路に、2つの2分割光センサを並べて配置し、かつその分割線のなす角度が所定角度をもって斜めに傾いた状態で配置し、前記2つの2分割光センサの各受光素子の出力信号に基づいて前記各々のレーザ光が前記2つの2分割センサ間を通過する各々時間を検出する検出手段と、前記検出された各々の時間と前記各々のレーザ光の走査速度とから、前記各々の走査路のうち各々の前記分割線の間隔を算出し、該各々の分割線の間隔と前記所定の角度とによって前記各々のレーザ光の副走査間隔を算出する演算手段とを備える。
また、本発明は、2つのレーザ光源を画像信号に応じて駆動し、光変調された2つのレーザ光を像担持体に導光して、静電潜像を形成する画像形成装置において、前記2つのレーザ光の走査路に、2つの2分割光センサを並べて配置し、かつその分割線のなす角度が所定角度をもって斜めに傾いた状態で配置し、前記2つの2分割光センサの各受光素子の出力信号に基づいて前記各々のレーザ光が前記2つの2分割センサ間を通過する各々時間を検出する検出手段と、前記検出された各々の時間と前記各々のレーザ光の走査速度とから、前記各々の走査路のうち各々の前記分割線の間隔を算出し、該各々の分割線の間隔と前記所定の角度とによって前記各々のレーザ光の副走査間隔を算出する演算手段と、を備え、2分割センサの各々のセンサから出力される出力波形が重なる位置がレーザ光と前記分割線との交点となるように前記センサ間の間隔はレーザ光の径より小さいことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施形態について説明する。
【0016】
(実施形態1)
図1は、本実施形態の画像形成装置のライン間隔を測定する測定系を示す図である。本実施形態では、マルチビームとして2つの光源(ツインビーム)を用いた場合を例に説明する。図1において、101,102は2分割光量センサである。2分割光量センサ101,102は、ビーム1、ビーム2の走査路に配置されている。
【0017】
また、103〜106は2分割光量センサ101、102の出力電流を電圧変換して増幅するアンプ、107はアンプ103〜106によって増幅された各々の増幅信号からビーム101、102が2分割光量センサ101、102上を走査されるタイミングを検出する検出手段、108は検出手段107で検出されたタイミングから、ビーム1とビーム2との間隔を算出する演算手段である。
【0018】
なお、2分割光量センサ101及び102の各々を通る中心線を結ぶ角の角度をθとする。この角度θは、理論上0°又は180°でなければよいが、実際には20°〜40°とすることが好ましい。
【0019】
図2は、2分割光量センサ101をビーム1が走査されるタイミングを検出する原理を示す図である。図2において、110及び111は2分割光量センサ101の各々のセンサである。また、丸印は、ビーム1の光スポットを示している。
【0020】
ビーム1がセンサ110上を走査されると、センサ110から電流信号112が出力される。ビーム1がセンサ111を走査されると、センサ111から電流信号113が出力される。
【0021】
そして、ビーム1が2分割光量センサ101上を走査されるタイミングを、一律に電流信号112及び113の各信号波形の交点とする。すなわち、センサ110とセンサ111との間の中心線とビーム1との交点を上記タイミングとする。したがって、2分割光量センサ101を通過するタイミングによってビーム1を検出する。
【0022】
なお、電流信号112、113の各波形に交点があるためには、センサ110及び111の間隔を、ビーム1の光スポットのスポット径よりも狭くする必要がある。同様に、2分割光量センサ101をビーム2が走査されるタイミングと、2分割光量センサ102をビーム1及び2が走査されるタイミングとを検出する。
【0023】
図3は、検出手段107の内部構成図である。図3において、120は電流信号112と電流信号113との和をとって、イネーブル区間を設定するイネーブル回路、122は電流信号112と電流信号113との信号波形を比較するコンパレータ、121はイネーブル回路120の出力信号とコンパレータ122の出力信号との積をとって、積信号として出力するイネーブル回路である。なお、2分割光量センサ102から出力される電流信号も図3に示すような回路によって処理する。
【0024】
図4は、電流信号112及び電流信号113の波形と、図3に示す検出回路を構成する各々の回路の出力信号の波形とを示す図である。図4及び図3を用いて、検出回路の動作について説明する。
【0025】
検出回路に電流信号112及び電流信号113が入力されると、各々の電流信号112、113は、イネーブル回路120及びコンパレータ122に入力される。そして、イネーブル回路120は、各々の電流信号112、113の和信号をイネーブル回路121に出力する。また、コンパレータ122は、電流信号112と電流信号113との差をとって、それをイネーブル回路121に出力する。
【0026】
イネーブル回路121は、イネーブル回路120の出力信号とコンパレータ122の出力信号との積をとって、積信号として出力する。上記のように、2分割光量センサ101がビーム1を検出する位置は、電流信号112と電流信号113との交点であるため、イネーブル回路121の出力信号の立ち下がりとなる。
【0027】
したがって、イネーブル回路121の出力信号によって、ビーム1が2分割光量センサ101を走査されるタイミングを検出する。同様に、ビーム2が2分割光量センサ101を走査されるタイミングと、ビーム1及びビーム2が2分割光量センサ102を走査されるタイミングとを検出する。
【0028】
なお、2分割光量センサ101及び102の配置位置・配置角度とビーム1及びビーム2の走査位置とを考慮すると、2分割光量センサ101によってビーム1の走査を検出し、2分割光量センサ101によってビーム2の走査を検出し、2分割光量センサ102によってビーム2の走査を検出し、2分割光量センサ102によってビーム1の走査を検出するという順になる。
【0029】
図5(a)は、2分割光量センサ101から出力される電流信号に基づいて検出回路で検出する検出信号波形を示す図である。図5(b)は、2分割光量センサ102から出力される電流信号に基づいて検出回路で検出する検出信号波形を示す図である。
【0030】
図5(a)及び図5(b)に示すように、まず、2分割光量センサ101から出力される電流信号によって、ビーム1とビーム2とが2分割光量センサ101を走査されるタイミングが検出される。その後、2分割光量センサ102から出力される電流信号によって、ビーム1とビーム2とが2分割光量センサ102を走査されるタイミングが検出される。
【0031】
前述したように、2分割光量センサ101がビーム1の走査を検出するタイミングは、イネーブル回路121(図4)の出力信号波形の立ち下がりである。したがって、ビーム1及びビーム2の走査を、2分割光量センサ101及び102によって検出するタイミングは、図5(a)及び(b)に示す各々の出力信号波形の立ち下がりである。
【0032】
また、T1はビーム1が2分割光量センサ101上を走査されてから、2分割光量センサ102上を走査されるまでに要する時間である。T2はビーム2が分割光量センサ101上を走査されてから、2分割光量センサ102上を走査されるまでに要する時間である。
【0033】
検出手段107(図1)は、T1、T2を計測するカウンター回路(図示せず)を備えている。このカウンター回路によって、T1、T2は計測される。ここで、本実施形態の画像形成装置を、たとえば解像度600dpi、画像クロック35.5MHzのものとすると、1画素時間は28.17nsとなる。したがって、図1に示すように、2つの2分割センサを配置すると、ビーム1とビーム2との間の距離Xを求めることができる。
【0034】
図6は、ビーム1とビーム2との間の距離Xを求める原理を示す図である。図6は、図1における2分割光量センサ101及び102の各々を通る分割線を結ぶ角θと、ビーム1及びビーム2とを示している。
【0035】
図6において、X1はビーム1と2分割光量センサ101の2つセンサ間の分割線との交点からビーム1と2分割光量センサ102の分割線との交点までの距離である。X2はビーム2と2分割光量センサ101の2つセンサ間の分割線との交点からビーム2と2分割光量センサ102の2つセンサ間の分割線との交点までの距離である。Xはビーム1とビーム2とのライン間隔である。
【0036】
したがって、
X1=T1/28.17ns×42.3μm
X2=T2/28.17ns×42.3μm
ビーム1とビーム2とのライン間隔Xは、
X=1/2×(X1−X2)×1/tan(θ/2)
という式より求まる。この演算を演算手段108により行う。カウンター回路の精度誤差は、±1ns以内である。よって、ライン間隔Xの測定誤差は、
42.3μm×1/28.17ns=1.5μm
すなわち、1.5μm以下となる。
【0037】
(実施形態2)
図7は、本実施形態の画像形成装置のライン間隔を測定する測定系である。図7において、109は演算手段108の出力信号を表示する表示手段である。なお、図1と同様の部材は図1の同一の符号を付している。本実施形態では、表示手段109に表示される演算の解を見ながらライン間隔を調整する。この調整は、画像形成装置の製造時等に行う。
【0038】
また、ライン間隔の調整は、画像形成装置を市場で設置するとき、画像形成装置のスキャナユニットを交換するときなどであっても行うことができる。したがって、本実施形態の画像形成装置は、レーザスキャナの温度上昇や画像形成装置本体の傾きによる光学系の歪みなどによってライン間隔が変化しても、それを補正することができる。
【0039】
以上、ライン間隔を測定する場合について説明したが、図5(a)及び図5(b)に示したビーム1及びビーム2の検出信号のうち、ビーム1とビーム2とが1つの2分割センサを通過する時間差を検出することで、2つのビームの主走査間隔を検出することもできる。主走査間隔は、±1nsの誤差で検出することができるので、1/14画素の精度で調整ができる。なお、マルチビームとして2つの光源(ツインビーム)を用いた場合を例に説明したが、光源の数量は2つに限定されるものでなく、複数個備えてもよい。
【0040】
この調整方法としては、大きくズレている場合は画素単位で画像を走査し、1画素以内の微調整に関しては画像クロックの位相をずらすという手法がとられている。
【0041】
つぎに、レーザビームの主走査間隔の調整方法について説明する。本実施形態では、2つのレーザビームの発光の開始時期をずらすことによりレーザビームの主走査間隔を調整する。具体的には、先の走査される方のレーザビームの発光開始時期を、測定結果の分だけディレイすることにより調整する。この際、ディレイ量は、1画素程度という小さいものに限定されず、大きな量の場合もある。したがって、たとえば小さい量を細かくディレイする手法と大きな量を粗くディレイする手法との2つの手法を併用している。
【0042】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によると、複数のレーザ光の走査路に、2つの2分割光センサを並べて配置し、かつその分割線のなす角度が所定角度をもって斜めに傾いた状態で配置し、2つの2分割光センサの各受光素子の出力信号に基づいて各々のレーザ光が2つの2分割センサ間を通過する各々時間を検出する。
【0043】
そして、検出された各々の時間と各々のレーザ光の走査速度とから、各々の走査路のうち各々の分割線の間隔を算出し、各々の分割線の間隔と所定の角度とによって各々のレーザ光の副走査間隔を算出する。これによって、マルチビームを用いる画像形成装置の副走査間隔を制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の主走査間隔及び副走査間隔の測定系を示す図である。
【図2】2分割光量センサをビームが走査されるタイミングを検出する原理を示す図である。
【図3】図1の検出手段の内部構成図である。
【図4】電流信号の波形と、検出回路を構成する各々の回路の出力信号の波形とを示す図である。
【図5】2分割光量センサから出力される電流信号に基づいて検出回路で検出する検出信号波形を示す図である。
【図6】ビームの副走査間隔Xを求める原理を示す図である。
【図7】本発明の実施形態2の主走査間隔及び副走査間隔の測定系を示す図である。
【図8】従来技術の画像形成装置の断面図である。
【図9】図8の露光制御部の内部構成図である。
【符号の説明】
101,102 2分割光量センサ
103〜106 アンプ
107 検出手段
108 演算手段
120,121 イネーブル回路
122 コンパレータ
Claims (4)
- 2つのレーザ光源を画像信号に応じて駆動し、光変調された2つのレーザ光を像担持体に導光して、静電潜像を形成する画像形成装置において、
前記2つのレーザ光の走査路に、2つの2分割光センサを並べて配置し、かつその分割線のなす角度が所定角度をもって斜めに傾いた状態で配置し、
前記2つの2分割光センサの各受光素子の出力信号に基づいて前記各々のレーザ光が前記2つの2分割センサ間を通過する各々時間を検出する検出手段と、
前記検出された各々の時間と前記各々のレーザ光の走査速度とから、前記各々の走査路のうち各々の前記分割線の間隔を算出し、該各々の分割線の間隔と前記所定の角度とによって前記各々のレーザ光の副走査間隔を算出する演算手段と、を備え、
2分割センサの各々のセンサから出力される出力波形が重なる位置がレーザ光と前記分割線との交点となるようになっていて、前記センサ間の間隔は、レーザ光の径より小さいことを特徴とする画像形成装置。 - 前記2つの2分割光センサ及び前記検出手段、前記演算手段は、露光制御部に備えられていることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記演算手段によって算出された主走査間隔又は副走査間隔を表示する表示手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記検出手段は、前記2つの2分割光センサのうち、1つの2分割光センサの各受光素子の出力信号に基づいて前記各々のレーザ光が前記各受光素子間を通過する時間を検出し、前記検出された時間と前記各々のレーザ光の走査速度とから、前記各々のレーザ光の主走査間隔を算出する演算手段とを備えることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
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