JP3606034B2 - 三次元計測器による長孔計測方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、ワークに形成された孔の形状を計測する方法に係り、特に三次元計測器による長孔計測方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば自動車等の製造工程には、楕円状あるいは長方形状となっている孔(以下、長孔と言う)をワークに形成する長孔形成工程が含まれている。形成された長孔は、いわゆる三次元計測器で検査され、これが設計通りに形成されていた場合には孔形成の工程が正常に行なわれていると判断される。
【0003】
図6は、三次元計測器による一般的な長孔の計測方法を説明する図である。
【0004】
三次元測定器で長孔計測を行なう場合、探針(プローブ)を例えば点cに下ろし、図示しないコントローラによって移動させて長孔1の内壁に順次当接させ、プローブが内壁と当接するP1、P2、P3、P4、P5、P6の各点を点cを原点とする座標として記録する。計測者は、この各点の座標を長孔1の設計値と比較して長孔1が正常に形成されているか否かを判断する。
【0005】
プローブを移動するコントローラには、計測開始点cの座標や、プローブをP1、P2、P3、P4、P5、P6の各点に移動する際の移動の軌跡が予めプログラムされており、常に一定の座標の点にプローブを下ろし、この点から常に一定の軌跡でプローブを移動するようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
特にワークの試作初期には、ワークのばらつきなどにより、長孔1がワーク上の設計された位置に形成されていない場合がある。しかしながら、コントローラには長孔1が設計通りに形成されているものとして計測開始点cやプローブの移動軌跡がプログラミングされている。よって、長孔1がワーク上の設計された位置に形成されていない場合、プローブが実際に下ろされた位置とプログラム上で設定された計測開始点cとの間にずれが生じる場合がある。
【0007】
このような場合には、P1、P2、P3、P4、P5、P6の各点を計測する原点がプログラムされた点と異なるために各点の計測された座標に誤差が生じることになり、長孔1を正しく評価することができないばかりでなく、計測途中でプローブが長孔1の内周面に当たってそれ以上移動することができず、計測が停止するといったことも起こり得る。
【0008】
本発明は、上記の点に鑑みて行なわれたものであって、ワークのばらつきによらず長孔1を正確に計測すると共に、計測が途中で停止することなく行なわれる三次元測定器による長孔計測方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
以上述べた課題を解決するため、請求項1記載の発明は、設定されたプログラムにしたがって、ワークに形成された長孔の周縁を探針で計測する三次元計測器による長孔計測方法であって、前記長孔の計測に先だって、前記プログラムに設定された座標軸の原点に前記探針を下ろし、前記原点から前記座標軸に沿って前記探針を移動して前記探針が前記長孔の周縁と接触する点を測定点とし、複数の当該測定点の座標を測定し、測定された複数の前記測定点の座標に基づいて前記長孔の計測開始点を設定し、当該計測開始点を原点とする座標による前記長孔の径の長さと前記長孔の径の設計値とに基づいて、前記計測開始点を原点とする座標軸の前記プログラムに設定された座標軸に対する傾きを求めると共に、この傾きを補正するように前記計測開始点を原点とする座標軸を回転し、当該座標軸の回転後、前記基準座標による前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとを比較し、前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとが一致していなければ前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとが一致するように再度前記計測開始点を原点とする座標軸を回転して前記ワーク上の座標である基準座標を設定し、前記基準座標によって前記長孔を計測することを特徴とするものである。
【0010】
このように構成することによって、長孔計測に先だって、予め探針を計測のプラグラム上で設定された座標の原点に位置決めし、さらに計測で得た座標をプログラム上で設定された座標に合わせることができる。よって、例えばワークにばらつきがあって計測開始位置がずれたとしても、これを自動的に実際のワークの原点に合わせ、また、プログラム上で設定された座標に沿って長孔の計測を行なうようにすることができ、ワークのばらつきによる長孔計測のばらつきを抑えることができる。また、長孔が設計通りに形成されていない場合にプログラムにしたがって探針を移動しても、探針が停止するといったことがなくなり、効率的に長孔の計測を行なうことができる。また、基準座標の傾きの方向が判断でき、より確実に基準座標の傾きを補正することができる。よって、実ワーク座標による長孔計測の信頼性をより高めることができる。
【0011】
また、請求項2記載の発明は、前記測定開始点は、前記基準座標が有する一つの軸上にあってかつ互いに対向する位置にある前記測定点からの距離が前記基準座標が有するすべての軸についてそれぞれ等しくなるように設定されることを特徴とするものである。
【0012】
このように構成することによって、測定開始点すなわち基準座標の原点を前記長孔の径線が交わる位置に設定することができる。
【0013】
また、請求項3記載の発明は、前記測定開始点は、前記基準座標が有する一つの軸上にあってかつ互いに対向する位置にある前記測定点からの距離が前記基準座標が有するすべての軸についてそれぞれ等しくなるまで前記基準座標が有する軸を繰り返して平行移動することにより設定されることを特徴とするものである。
【0014】
このように構成することによって、測定開始点すなわち基準座標の原点を比較的簡易に前記長孔の径線が交わる位置に設定することができる。
【0017】
【発明の効果】
請求項1記載の発明は、ワークのばらつきによる長孔計測のばらつきを抑えることができる。また、長孔が設計通りに形成されていない場合にプログラムにしたがって探針を移動しても、探針が停止するといったことがなくなり、効率的に長孔の計測を行なうことができる。さらに、基準ワーク座標による長孔計測の信頼性をより高めることができる。
【0018】
請求項2記載の発明は、測定開始点すなわち基準座標の原点を前記長孔の径線が交わる位置に設定することができる。
【0019】
請求項3記載の発明は、測定開始点すなわち基準座標の原点を比較的簡易に前記長孔の径線が交わる位置に設定することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を用いて説明する。
本実施の形態は、本発明の三次元測定器による長孔計測方法を自動車のパネルに形成された長孔に適用した例を示すものである。
【0022】
図1は、一般的な三次元測定器の概略構成を説明する図である。
プローブ10は、ワークの表面に接触させて、各部の座標を入力するために用いられる。このプローブ10は、プローブ駆動部15によって動かされる。また、プローブ10の接触位置の座標は、座標測定部20によって測定される。測定動作制御部30は、プローブ駆動部15の動作を制御したり、座標測定部20によって測定された座標を記憶したりするものである。
【0023】
プローブ駆動部15は、動作制御部30に記憶されているプログラムにしたがって動作する。このプログラムでは、長孔1がワーク上に設計通り形成されている場合の長孔1の計測開始点の座標や、測定を行なう際のプローブ10の移動軌跡が設定されている。
【0024】
図2は、図1に示した構成を有する三次元測定器による長孔1の計測方法を説明する図である。
図2の長孔1は、楕円形状を有しており、その短径が2L0 の長さを有しており、設計された位置からずれて形成されているものとする。
【0025】
本来、本実施の形態の動作制御部30では長孔1の計測に際して長径と短径との交点c(実ワーク中心点)を計測開始点として、短径に沿う方向の軸pと長径に沿う方向の軸qとに沿ってプローブを移動し、軸p、軸q(実ワーク座標軸)に基づいて決定される座標(p,q)(実ワーク座標)を用いて長孔1の内周面と当接する点の座標を計測している。
【0026】
しかし、前述したように図2の長孔1は、設計された位置からずれているためにプローブ10の下ろされる位置が点c1にずれてしまうことになる。本実施の形態では、以下に述べる方法によって点c1に下ろされたプローブ10を実ワーク中心点cに移動させ、実ワーク中心点cから長孔1の計測を開始できるようにしている。
【0027】
先ず、図2(A)に示したように、動作制御部30に記憶されているプログラムにしたがって点c1からプローブ10を動作させる。このときプローブ10は、点c1を原点(0,0)とする直交座標系をなすv軸、w軸(仮基準座標軸)の正負方向に移動され、長孔1の内周面に順次接触した点▲1▼、点▲2▼、点▲3▼、点▲4▼の位置を、それぞれ仮基準座標軸を用いて表される座標(仮基準座標)(v1,w1)、(v2,w2)、(v3,w3)、(v4,w4)として測定し、動作制御部30に記憶する。なお、この各座標測定の原点とした点を仮中心点c1と記す。
【0028】
次に、図3で説明する方法によって、長孔1の計測に先だってプローブ10を仮中心点c1から実ワーク中心点cに移動させている。
すなわち、図3(A)に示した点▲1▼(v1,w1)、点▲3▼(v3,w3)の座標から、点▲1▼、点▲3▼とそれぞれ等しい長さにある点、すなわち((v1−v3)/2,(w1−w3)/2)を求め、この点(図3(B)中に点aと記す)で軸vが軸wと交わるように軸vを平行移動する。さらに、点▲2▼(v2,w2)、点▲4▼(v4,w4)の座標から、点▲2▼、点▲4▼とそれぞれ等しい長さにある点、すなわち((v4−v2)/2,(w4−w2)/2)を求め、この点(図3(C)中に点bと記す)で軸vが軸wと交わるように軸wを平行移動する。
【0029】
そして、図3(C)の点bを新たな仮中心点c2とし、プローブ10を仮中心点c2に移動して動作制御部30に記憶されているプログラムにしたがって点c2から動作させ、長孔1の内周面に順次接触した点▲5▼、点▲6▼、点▲7▼、点▲8▼の位置を座標として測定する(図3(D))。
【0030】
以上の手順によって、軸vおよび軸w上にある2つの測定点から等しい距離にある点を仮中心点として繰り返し求め(図2(B))、仮中心点からの軸w上にある2つの測定点の座標までの距離がそれぞれ等しく、また、仮中心点から軸v上にある2つの測定点の座標からの距離がそれぞれ等しくなった場合、この仮中心点が実ワーク中心点cと一致したものと判断する(図2(C))。
【0031】
次に、仮基準座標軸の実ワーク座標軸に対する傾きを補正し、仮基準座標を実ワーク座標に変換する基準座標を求める方法を図4を用いて説明する。
図4中に示す仮基準座標軸は、原点が実ワーク中心cと一致しており、仮基準座標軸のw軸は、長孔1の周縁と点m(v,w)で交わっている。また、仮基準座標軸は、実ワーク座標軸に対して角度θの傾きを持っているものとする。このとき、実ワーク中心cから長孔1の周縁までの軸wの長さLと、長孔1の短径の長さL0 とから、
θ=cos−1(L/L0 )
の式を用いて仮基準座標軸の実ワーク座標軸に対する角度θが求められる。なお、長さLは、測定点mのw軸座標の値に等しく、L0 は、測定動作制御部30に記憶されている値であるから、角度θを求める演算は比較的簡易に行なうことができる。
【0032】
以上のようにして角度θを求め、この角度θが0となるように仮基準座標を時計回りに回転させるように座標変換し、実ワーク座標と一致させる。また、座標変換された仮基準座標を基準座標とする。基準座標は、この後に行なわれる長孔1の計測に用いられる座標である。
【0033】
ところで、以上の処理では実ワーク座標軸に対する仮基準座標軸の傾きの方向を判定することができない。つまり、軸wが、図4に示す軸w´のように傾いていた場合には、基準座標の軸をθ度時計回りに回転することによって実ワーク座標軸に対する仮基準座標軸の傾きがさらに大きくなり、仮基準座標軸の傾きを補正することはできないことになる。
【0034】
したがって、本実施の形態では、仮基準座標軸の回転の後にさらに長さLを求め、この長さが長さL0 と一致するか否かを判定する。そして、長さLが長さL0 に一致していた場合には仮基準座標が実ワーク座標と一致したと判断し、長さLが長さL0 に一致していない場合には回転方向を変えて再度仮基準座標軸を回転する、あるいは同じ回転方向に再度仮基準座標軸を360−θ度回転するよう座標変換することによって仮基準座標軸を実ワーク座標軸と一致させる。
【0035】
以上述べた処理により、プローブ10は仮基準座標軸に沿って移動して測定点の座標を計測する。計測された座標は、すべて角度θ回転するように変換されることになり、実ワーク座標を基準に計測されたのと同じように記録される。測定動作制御部30は、この変換された座標に基づいて測定点の位置を認識するので、予め設定されたプログラム通りに計測の結果を処理することができる。
【0036】
したがって、ワークのばらつきなどによって三次元測定の測定開始点が実ワーク中心点cからずれた場合にも、三次元測定に先だってプローブ10を測定開始点に移動し、ここから長孔1の形状を計測することができる。よって、ばらつきのあるワーク上に形成された長孔に対して予めプログラミングされた実ワーク座標に沿ってプローブを移動して計測を行なった場合にも、計測された座標は基準座標によって実ワーク座標に変換され、長孔1を正確に計測することができる。
【0037】
また、計測途中でプローブが長孔1の周縁に当たって計測が中断することを防ぐことができる。
【0038】
図5は、以上説明した本実施の形態の処理を説明するフローチャートである。本実施の形態で行なう処理では、先ずプローブ10が下ろされた位置を最初の仮中心点としてこの座標を測定する。なお、この仮中心点は、仮基準座標軸の原点である。(S1)。次に、ステップ1で測定した仮中心点を原点とする仮基準座標軸に沿ってプローブを4方向に移動し、長孔1の内周に接触した4点の測定を行ない(S2)、4点全ての測定が終了すると(S3)、図3で説明した方法によって次の仮中心点を算出する(S4)。
【0039】
そして、ステップ4で算出された仮中心点と測定された4点との測定点との座標から、軸v上にある二つの測定点から仮中心点までの距離がそれぞれ等しく、また、軸w上にある二つの測定点から仮中心点までの距離がそれぞれ等しい場合には、この仮中心点が実ワーク中心点cと一致していると判断する(S5)。また、この仮中心点が実ワーク中心点cからずれていた場合には、再び仮中心点を原点にして仮基準座標軸と長孔1の周縁との4つの交点を測定し(S2)、次の仮中心点を算出する(S4)。
【0040】
この判断で、仮中心点が実ワーク中心点cと一致した場合には、この仮中心点を通る軸wのw座標の値Lと長孔1の短径のL0 の1/2の値から仮基準座標軸と実ワーク座標軸とのなす角度を算出し(S6)、算出された角度を補正するために軸w、軸vを回転させるように仮基準座標を変換する(S7)。この回転の後、LをL0 と比較して仮基準座標軸の回転方向を確認する(S8)。
【0041】
以上述べた本実施の形態は、長孔1の計測に先だって、予めプローブ10を実ワーク中心点cに位置決めし、さらに計測に用いる座標軸をも実ワーク座標に合わせることができる。よって、例えばワークにばらつきがあって長孔1がワーク上の設計された位置に形成されていないことによって計測開始位置がずれたとしても、これを自動的に実ワークの原点に合わせて長孔の計測を開始することができ、ワークのばらつきによる長孔計測のばらつきを抑えることができる。
【0042】
また、長孔が設計通りに形成されていない場合にプログラムにしたがって探針を移動しても、探針が停止するといったことがなくなり、効率的に長孔1の計測を行なうことができる。
【0043】
また、本実施の形態は、長孔1の短径、長径の各中心点をワーク中心点とした場合、比較的簡易に基準座標の原点を実ワーク中心点に変換することができる。
【0044】
また、本実施の形態は、仮基準座標軸の実ワーク座標軸に対する傾きの方向が判断でき、より実ワーク座標による長孔計測の信頼性をより高めることができる。
【0045】
なお、以上説明した本実施の形態は、長孔として上面から見た形状が楕円であるものを例示したが、本発明は、このような長孔の計測に限定されるものではなく、例えば上面から見た形状が長方形である長孔に適用することも可能である。
【0046】
また、以上説明した本実施の形態では、仮基準座標軸を2軸設定し、仮基準座標軸と長孔の周縁との交点を4点測定する例を示したが、この仮基準座標軸はさらに多く設定しても良いし、より多くの測定点を設定することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】一般的な三次元測定器の構成を説明するブロック図である。
【図2】本発明の一実施の形態の三次元測定器による長孔計測方法を簡単に説明する図である。
【図3】図1中の4つの点▲1▼、点▲2▼、点▲3▼、点▲4▼の座標から、実ワーク中心点を求める方法を説明する図である。
【図4】本発明の一実施の形態の基準座標軸を求める方法を説明する図である。
【図5】本発明の一実施の形態の処理を説明するフローチャートである。
【図6】三次元計測器による一般的な長孔の計測方法を説明する図である。
【符号の説明】
1…長孔
10…プローブ
15…プローブ駆動部
20…座標測定部
30…測定動作制御部
p,q…実ワーク座標軸
v,w…仮基準座標軸
Claims (3)
- 設定されたプログラムにしたがって、ワークに形成された長孔の周縁を探針で計測する三次元計測器による長孔計測方法であって、
前記長孔の計測に先だって、前記プログラムに設定された座標軸の原点に前記探針を下ろし、
前記原点から前記座標軸に沿って前記探針を移動して前記探針が前記長孔の周縁と接触する点を測定点とし、
複数の当該測定点の座標を測定し、
測定された複数の前記測定点の座標に基づいて前記長孔の計測開始点を設定し、
当該計測開始点を原点とする座標による前記長孔の径の長さと前記長孔の径の設計値とに基づいて、前記計測開始点を原点とする座標軸の前記プログラムに設定された座標軸に対する傾きを求めると共に、この傾きを補正するように前記計測開始点を原点とする座標軸を回転し、
当該座標軸の回転後、前記基準座標による前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとを比較し、
前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとが一致していなければ前記長孔の径線の長さと長孔の径線の設計値の長さとが一致するように再度前記計測開始点を原点とする座標軸を回転して前記ワーク上の座標である基準座標を設定し、
前記基準座標によって前記長孔を計測することを特徴とする三次元計測器による長孔計測方法。 - 前記測定開始点は、前記基準座標が有する一つの軸上にあってかつ互いに対向する位置にある前記測定点からの距離が前記基準座標が有するすべての軸についてそれぞれ等しくなるように設定されることを特徴とする請求項1記載の三次元計測器による長孔計測方法。
- 前記測定開始点は、前記基準座標が有する一つの軸上にあってかつ互いに対向する位置にある前記測定点からの距離が前記基準座標が有するすべての軸についてそれぞれ等しくなるまで前記基準座標が有する軸を繰り返して平行移動することにより設定されることを特徴とする請求項1または2に記載の三次元計測器による長孔計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06795998A JP3606034B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 三次元計測器による長孔計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06795998A JP3606034B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 三次元計測器による長孔計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11264727A JPH11264727A (ja) | 1999-09-28 |
JP3606034B2 true JP3606034B2 (ja) | 2005-01-05 |
Family
ID=13360024
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06795998A Expired - Fee Related JP3606034B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 三次元計測器による長孔計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3606034B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1970667B1 (de) * | 2007-03-16 | 2013-06-12 | TRUMPF Werkzeugmaschinen GmbH + Co. KG | Maschnielle Anordung für die Blechfertigung mit einer Vorrichtung zur Überprüfung einer Werkstücköffnung als Ergebnis einer Werkstückbearbeitung |
CN103335626B (zh) * | 2013-06-04 | 2015-12-23 | 上海交通大学 | 三坐标测量机测量平面度的样本点优化选取方法 |
CN109341612B (zh) * | 2018-11-05 | 2020-11-13 | 西安飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种以非法向长圆孔为基准建立坐标系的方法 |
CN112284273B (zh) * | 2020-10-19 | 2022-02-08 | 中国航发哈尔滨轴承有限公司 | 一种测量竖直圆柱形兜孔薄壁塑料轴承保持架兜孔尺寸的测量方法 |
-
1998
- 1998-03-18 JP JP06795998A patent/JP3606034B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11264727A (ja) | 1999-09-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040312 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040519 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081015 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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