JP3603394B2 - Lsi開発における検証方式および検証方法 - Google Patents

Lsi開発における検証方式および検証方法 Download PDF

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、LSIの開発における回路機能の検証方式および回路機能の検証方法に関する。このLSI開発における回路機能の検証作業は、従来、相互に共通性を持たないソフトウェアによるシミュレーションとハードウェアによるシミュレーションの2つの検証方法を並行に実施する手法が採られているが、相互を関係付けることで、シミュレーション全体の手番が短縮されて検証の効率が良くなると同時に、検証漏れが無く検証の信頼性が高くなることが望まれている。
【0002】
【従来の技術】
LSI開発における回路機能の検証作業は、ソフトシミュレーションだけではLSIの実動作的な検証が出来ないので、ハードシミュレーションが必要となる。そのソフトシミュレーションとハードシミュレーションを並行に実施する従来の作業フローを以下に説明する。ソフトシミュレーションの作業内容は、EWS(Enginering Work Station)又はCAD(Computer Aided Design)上で作成された回路情報により、ソフトウェア上でテストデータを作成し、其のテストデータでソフトウェア上の回路モデルに対し論理動作の検証を行う。ハードシミュレーションの作業の内容は、ソフトウェア上では検証が不可能な論理回路の非同期動作の検証や動作速度を変えた実動作的な検証を重点的に行なう為に、前記の回路情報を基にして LSI回路のブレッドボードを作成する。また、其の LSI回路を動作させる為の周辺回路( LSI回路に対する入力信号発生部)も該ブレッドボード内に用意する。そして此の作成されたブレッドボード上で、LSIの論理動作や其の他の動作機能の検証を行なっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
この従来方式は、上記の如く、ソフトシミュレーションだけではLSIの全部の動作の検証が出来ないので、ハードシミュレーションが必要となる。しかし、ハードシミュレーションを行うには、EWSまたはCAD上で作成された回路情報を基にした LSI回路と其の LSI回路を動作させる周辺回路とを、ブレッドボード内に作成する必要がある。其のブレッドボードを作成するには、作成の時間と費用とが掛かり、検証作業にも時間を要するという問題があった。本発明の目的は、ハードシミュレーション用のブレッドボードの LSI回路は作成するが其れを動作させる周辺回路の作成には特に時間と費用とを掛けずに、該ハードシミュレーションの LSI回路の検証作業が自動的に行われるようなLSI開発における検証方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
この目的達成のための本発明のLSI開発の検証作業は、図1の原理的な作業フロー図を参照して、1)EWS又はCAD上で作成された回路情報から得た回路情報を基にして,LSIの回路情報と等価な LSI回路部をブレッドボード内に作成する。2)該ブレッドボード内の LSI回路部の周辺回路として,先にソフトによるテストデータで検証モデルに対し行ったテストデータを、ハードのテストデータとして格納する格納部としてのROMと、該ROMの出力をテストデータとして行ったハードによる検証の結果をソフトのテストデータとして格納する格納部としてのRAMとを具える。3)ソフト上で作成されたシミュレーションのテストデータを用い検証モデルで検証した検証結果のデータをフォーマット化して該ROMのデータとする。4)該シミュレーションのテストデータが期待値(正常動作時の検証結果の値)付きの場合には、其の期待値のみを別のROMデータとする。5)該ROMのデータを読み出してブレッドボードを動作させる事により、該ROMから出力されるデータが前記1)の LSI回路部の入力のテストデータとする。6)該 LSI回路部から出力された検証結果のデータを該RAMに取り込む。7)該RAMデータをフォーマット変換し、正常動作時の検証結果に対する期待値として前記ソフトシミュレーションのテストデータに付加する。8)ブレッドボードの作成には、現場でプログラム可能なゲートアレイFPGAを最大限に利用して、任意の読出し速度を設定する速度設定部を設け、其の出力により駆動されるROMを持つように構成する。
【0005】
【作用】
本発明では、ソフトシミュレーション用のテストデータの中に、正常動作時の検証結果の値である期待値が存在する場合には、該テストデータと期待値とを、ROMデータに変換することにより、ブレッドボードによるハードシミュレーションにて、該ROMの出力データを LSI回路のテストデータとして検証を行い、其の検証結果をRAMに書込み読み出してソフトシミュレーション用のテストデータとする事により、ROMを使用した LSI回路の検証の作業が閉じたループとなって自動化が可能となり、検証作業に特別の時間を要しなくなる。
【0006】
また、ハードシミュレーション用のブレッドボード内の LSI回路部の作成と、其の周辺回路としてのROM,RAMの作成に際しては、現場でプログラム可能なゲートアレイ(FPGA)を用いる事により、ブレッドボードの作成の規模と作成時間とを削減することが可能となり、また汎用性を持たすことが出来る。ソフトシミュレーションのテストデータの中に期待値が存在しない場合には、ハードシミュレーションの結果を、そのままソフトシミュレーションの期待値として利用することが可能となる。
【0007】
【実施例】
図2は本発明の実施例のブレッドボードの構成図である。LSI開発のフローとして、先ず、EWSやCAD上で作成した回路情報を基にして、LSIと等価な (1)LSI回路部を、例えば標準IC等を用いて作成する。次にソフトシミュレーションに用いたテストデータを、テストデータからROMデータへの変換プログラムを用いて、ROMデータのフォーマットに変換し、 (2)テストデータ発生部(ROM)で用いる。該ROMからのデータ読出し速度が所要の速度と異なる場合には、別のROMに分けて用いて、読み出し速度を任意の速度に設定可能とするために、FPGA(Field Programmable Gate Array)を用いて、(3) 速度設定部を作成する。
【0008】
ROMの出力データをテストデータとするハードシミュレーションの実行により、 (1)LSI回路部より出力された検証結果のデータを (4)テストデータ格納部のRAMに保存し、ソフトシミュレーションの期待値を記憶するROMデータのフォーマットに変換したROMデータを有する (5)期待値データ発生部の出力データとの比較を、(6)結果比較部にて行う事により、開発LSIの検証作業が閉じたループとなり自動化が実現される。
【0009】
ハードシミュレーションの結果を、ソフトシミュレーションの期待値として利用する場合は、 (5)期待値データ発生部のROMに予め格納されたROMデータをテストデータに変換するデータ変換プログラムを用いて、期待値付きのソフトシミュレーションのテストデータを作成する。
【0010】
【発明の効果】
以上説明した如く、本発明によれば、通常はソフトとハードの両方での検証を必要とするLSI開発の検証作業が、ハードシミュレーションのLSI回路部を動作させる為に必要となる入力信号発生部としての周辺回路に、先のソフトシミュレーションで使用したテストデータを書き込んだROMを用いる事が可能となる。またハードシミュレーションの結果を、RAMに書き込み読み出してソフトシミュレーションのテストデータに用いる事も可能となる。更に、ハードシミュレーション用のブレッドボードの作成に、現場でプログラム可能なゲートアレイFPGAを有効に利用する事により、汎用性を持ち、作成規模の削減や作成期間を短縮する効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のLSI開発における検証方式の基本的なフローチャート
【図2】本発明の本発明の実施例のブレッドボードの構成図
【符号の説明】
(1) はハードシミュレーション用のブレッドボード内のLSI回路部、(2) はLSI回路部のテストデータ発生部としてのROM、(3) はROMの読出し速度をFPGAを用いて任意に設定する速度設定部、(4) はLSI回路部のテスト結果を記憶するRAMを内蔵し其の出力をソフトシミュレーションのテストデータとして格納するテストデータ格納部、(5) はソフトシミュレーションのテスト結果に対する期待値を予め記憶するROMを内蔵する期待値データ発生部、(6) はテストデータ格納部4 の出力と期待値データ発生部5 の出力とを比較し其の比較結果を結果判定部へ出力する結果比較部である。

Claims (3)

  1. EWS又はCAD上で作成されたLSIの回路情報を基に、ハードシミュレーション用としてブレッドボードに作成したLSIの回路情報と等価なLSI回路部の動作を検証するLSI開発における検証方式において、
    前記の回路情報を基にした検証モデルに対するソフトシミュレーションのテストデータを格納する第1の格納手段のROMと、
    前記の検証モデルに対して、前記のソフトシミュレーションのテストデータによって実施された検証の結果のデータを格納する第2の格納手段のROMと、
    前記のLSI回路部に対して、前記の第1の格納手段から読み出されるハードシミュレーションのテストデータによって実施された検証の結果のデータを格納する第3の格納手段のRAMと、
    前記の第2の格納手段に格納されたデータと前記の第3の格納手段に格納されたデータを比較する検証結果比較手段と、
    を備えることを特徴とするLSI開発における検証方式。
  2. EWS又はCAD上で作成されたLSIの回路情報を基に、ハードシミュレーション用としてブレッドボードに作成した該LSIの回路情報と等価なLSI回路部の動作を検証するLSI開発における検証方法において、
    前記の回路情報を基にした検証モデルに対するソフトシミュレーションのテストデータを第1の格納手段のROMに格納し、
    前記の検証モデルに対して、前記のソフトシミュレーションのテストデータによって検証を実施し、該検証の結果のデータを第2の格納手段のROMに格納し、
    前記のLSI回路部に対して、前記の第1の格納手段から読み出されるハードシミュレーションのテストデータによって検証を実施し、該検証の結果のデータを第3の格納手段のRAMに格納し、
    前記の第2の格納手段から読み出されるソフトシミュレーションの検証結果と前記の第3の格納手段から読み出されるハードシミュレーションの検証結果を比較することを特徴とするLSI開発における検証方法。
  3. 請求項2に記載のLSI開発における検証方法において、
    前記の第3の格納手段から読み出されるハードシミュレーションの検証結果を、前記のソフトシミュレーションの期待値として使用することを特徴とするLSI開発における検証方法。
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