JP3581031B2 - 光検出装置 - Google Patents
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 35
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
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- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
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- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は光検出装置に関し、更に詳しくは、カメラ等に効果的に用いられる光検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、カメラのオートフォーカス(AF)には、大別してパッシブ方式とアクティブ方式と呼ばれるものがあり、前者は被写体を2つのレンズ(セパレータ・レンズ)を通し2 像に分割して各々の像をセンサで検出し、検出された2像の間隔より測距するものであり、後者はカメラ本体からLED等で被写体へ投光を行い、その反射光の位置を検出して測距するものである。そして前者は被写体が暗い場合や被写体のコントラストが低い場合に測距精度が低下するという問題があり、後者には被写体の背景が明るいとLEDからの投光が検出できないという問題があり、両方式とも得意・不得意な領域を残している。
【0003】
このような問題がある中、アクティブ方式AF用のセンサで、背景光を除去してAF可能な撮影シーンを広げることのできるラインセンサが特開昭64―18255号公報に開示されている。図9に前記公報開示のラインセンサの一画素の構成を示し、図10にアクティブ方式AFモジュールの構成を示す。
【0004】
図9に示す検出セル101では、MOSトランジスタFT6のドレインD6 にはpチャンネル型のMOSトランジスタFT10のドレインD10が接続されている。MOSトランジスタFT10のソースS10は基準電位Vref に保持され、ゲートG10には容量素子107の一端が図示のように接続されている。又、上述のMOSトランジスタFT6のドレインD6 にはnチャンネル型のMOSトランジスタFT11が図示のように接続されている。MOSトランジスタFT11はゲートG11 にスイッチ信号SWが加わることで、MOSトランジスタFT10のゲートG10 とドレインD10とを導通したり遮断したりするようになっている。このような構成の検出セル101を備えた固体撮像素子を図10の受光素子124に用いる場合には、被写体122の測距を行うのに先立ち信号光以外の光、即ち背景光によってフォトダイオード102で発生する光電流ISHO 分の電荷を容量素子107に記憶するようになっている。
【0005】
また、上述のフォトダイオード102は、図示のようにMOSトランジスタFT0の一端に接続され、FT0の他端はスイッチングトランジスタFT1の一端に接続されている。このスイッチングトランジスタFT1は容量素子105の一端に接続され、ゲートG1 に情報蓄積信号DTが加わることで、スイッチング動作を行う。容量素子105は、更に、図示のようにスイッチング素子FT3と接続され、そのゲートG3 にリセット信号RSTを加えて同素子を導通せしめ、容量素子105の端子電圧値V0 を基準電位Vref に初期設定する。尚、図9 の回路構成のうち、トランジスタFT4、FT5、トランジスタFT7とFT8からなる定電流源103、及び容量素子105は上述の回路構成で検出された信号を出力するための回路であり、容量素子105の端子電圧V0 に対応した出力を後述する方法でビデオライン104へ出力する。
【0006】
上述の回路において背景光を記憶する場合、測距を行うのに先立ち、スイッチングトランジスタFT1のゲートG1 に情報蓄積信号DTを供給せず、フォトダイオード102と容量素子105とを切り離しておく。更に、スイッチング素子FT3のゲートG3 にリセット信号RSTを加えて上述のように容量素子105の端子電圧値V0 を基準電位Vref に初期設定する。又、光源120、従って、LEDを駆動せず、信号光をフォトダイオード102に入射させずに背景光だけが受光素子124に入射するようにし、更にスイッチ信号SWをハイレベルにしてMOSトランジスタFT11をONにしておく。このような状態では、MOSトランジスタFT10は所定の抵抗値を持つ負荷として機能し、背景光によりフォトダイオード102に発生する光電流ISHO は基準電位Vref から供給されてMOSトランジスタFT10、トランジスタFT6を介してフォトダイオード102に流れる。
【0007】
上述のように、このときフォトダイオード102と容量素子105とは切り離されている。従って、容量素子107の端子電圧値は、背景光による光電流ISHO が流れることにより負荷として機能するMOSトランジスタFT10の抵抗分だけ基準電位Vref よりも降下した電位となる。即ち、容量素子107には背景光による光電流ISHO に対応した電荷が蓄積される。
【0008】
容量素子107に蓄積される電荷量が飽和状態となったときには、蓄積された電荷量は背景光による光電流ISHO により蓄積された電荷を容量素子107に記憶させることができる。即ち、MOSトランジスタFT10のゲートG10の電圧として背景光による光電流ISHO を記憶させることができる。
【0009】
この状態で容量素子105への信号光である画素情報の信号蓄積を開始することができる。即ち、光源120を駆動して信号光を受光素子124、従って、フォトダイオード102に入射させると同時に情報蓄積信号DTをスイッチングトランジスタFT1のゲートG1 に加えてスイッチングトランジスタFT1をONにし、容量素子105とフォトダイオード102とを導通状態にする。
【0010】
フォトダイオード102には信号光に重畳した形で背景光が入射するが、背景光による光電流ISHO は、MOSトランジスタFT10のゲートG10に記憶された電圧に基づいて流れるので、容量素子105からフォトダイオード102に流れる電流は信号光による光電流ISH’ だけとなる。
【0011】
従って、容量素子105の端子電圧V0 は、信号光による光電流ISH’ だけに基づいて初期値Vref から降下するため、信号光の強度だけに対応した電圧変化量が得られ、背景光の影響を除去した信号が検出できる。
【0012】
このようにして蓄積された容量素子105の端子電圧V0 は、トランジスタFT4と、トランジスタFT7とFT8とからなる定電流源103とで構成される電流増幅回路、即ち、ソースフォロワ回路とに接続されたスイッチング素子FT5を介してスイッチング素子FT5をONすることでビデオライン104に読み出される。
【0013】
このような検出セルを一次元又は二次元状に配列することによってラインセンサ又はエリアセンサを構成するものであるが、この公報に記載のラインセンサを要約すると、MOSトランジスタFT10、FT11、容量素子107で構成される電流記憶回路により背景光による光電流ISHO を記憶し、スイッチングトランジスタFT1、トランジスタFT3、容量素子105で構成される信号光による光電流検出回路により、光源から発した投光に対する光電荷のみを容量素子105に蓄積し読み出すことによって、背景光の影響を低減させるようにしたものである。
【0014】
しかしながら、図9に示したセンサには以下に述べる不具合がある。即ち、MOSトランジスタFT6のゲート印加電圧をVG 、ゲート・ソース電圧をVGS6 、MOSトランジスタFT0のゲート・ソース電圧をVGS0 とすると、情報蓄積信号DTがOFF、即ち容量素子107に背景光を記憶させる時は、フォトダイオード102の端子電圧VPDは次式( 1) のようになる。
VPD=VG ―VGS6 ( ISHO)・・・・ (1)
このときMOSトランジスタFT0はOFF状態なので、VPDはISHO に対応した電圧がかかることになる。
【0015】
次に、情報蓄積信号DTがONになった状態を考える。このときMOSトランジスタFT0のゲート印加電圧をVG とすると、フォトダイオード102の端子電圧VPD は以下に示す2通りの式で表される。
VPD=VG ―VGS6 (ISHO)
VPD=VG ―VGS0 (ISH’) ・・・・ (2)
【0016】
上式のように、フォトダイオード102の端子電圧VPDはゲート接地型の2つのMOSトランジスタFT6とFT0の両者の影響を受けて電位が決まり、VGS 6 =VGS0 となるように帰還がかかる。例えばMOSトランジスタFT0とFT6のドレイン電圧が上昇し、MOSトランジスタFT10のソース・ドレイン間電圧が低くなり、電流記憶回路から流れ出す電流ISHO が記憶した値よりも小さくなる。その分MOSトランジスタFT0を介して流れる電流が大きくなり、結局はISHO =ISH’ となるような形で帰還がかかるため、容量素子105に蓄積される電荷は、背景光以外の影響を含んでしまう。即ち、図9に示した構成のラインセンサでは背景光に対して大幅な改善は望めないという問題点がある。
【0017】
そこで、本発明者はこの点を解決した構成の固体撮像素子を特開平7―203319号公報に開示した。図11はその一例を示す。
【0018】
図11において、トランジスタ1はソースをフォトダイオード2に、ドレインを蓄積容量素子5に接続している。このトランジスタ1のゲートには、ソース接地型増幅トランジスタ10とその負荷として動作するゲートに固定電位VBIAS1 が接続された負荷用トランジスタ11とにより構成された反転回路12の出力が接続されている。また、反転回路12の入力、即ち、ソース接地型pMOSトランジスタ10のゲートはフォトダイオード2に接続されている。この反転回路12とトランジスタ1は帰還ループを形成しており、フォトダイオード2は実質的に低インピーダンス状態が保たれるため、フォトダイオード2の電位は一定バイアスとなっておりフォトダイオード2で発生した光電荷はその大きさに関係なく定常的にトランジスタ1を介して蓄積容量素子5に流れる。
【0019】
そこで、蓄積容量素子5と並列に、電流記憶用トランジスタ6と、電流記憶容量素子7と、ゲートに記憶する電流のサンプリング及びホールドを制御するための制御パルスΦMCが印加されるスイッチングトランジスタ8とにより構成された電流記憶回路13を接続する。更に容量素子5の電圧を増幅して出力する増幅器14を設けるとともに図示しない各画素に対応する前記増幅器14に相当する各増幅器の出力をビデオライン4に選択的に出力するためのシフトレジスタ3にそれぞれゲートが接続された各選択用トランジスタ9(図では一つのみ表記)を各増幅器とビデオラインの間に設けている。
【0020】
次にこのように構成された固体撮像素子の動作について説明する。この固体撮像素子の画素は、次のように動作させて背景光を除去しながら光源からの投光に対応した信号を読み出すようになっている。
【0021】
まず、光源を投光しない状態でΦMCをONすると、フォトダイオード2で発生した背景光による光電流IPDは全て電流記憶用トランジスタ6に流れ、IPD=IM となる。この時、ノードN1、即ち、蓄積容量素子5の電位はIM に対応した電流記憶用トランジスタ6のソース・ゲート間電圧VGSとなる。
【0022】
その後、スイッチングトランジスタ8をONからOFF状態とする。トランジスタ8のフィードスルー電荷を無視すればこの状態でもIPD=IM となり、ノードN1はフローティング状態で、電位はVGSに保たれる。この状態で光源からの投光を行うと反射光を受けた画素のフォトダイオード電流は、投光による光電流IPD’ が加わり、IPD+IPD’ となる。すると、蓄積容量素子5には投光による光電流IPD’ に対応した電荷のみが蓄積される。
【0023】
投光終了後にこの容量素子5に蓄積された信号を増幅器14を介して選択用トランジスタ9を順次ONしながらビデオライン4より読み出す。このようにして全画素の出力を読み出し、投光に対応した反射光の受光素子上での位置を知ることができる。
【0024】
このような構成によれば図9の構成における前記のような問題が解決でき、背景光を効果的に除去しながら投光を検出できるが、検討の結果、更に、以下のような問題があることが判明した。
【0025】
( 1) 蓄積容量素子5に投光による光電流IPD’ が蓄積されるとノードN1の電圧が変化するため記憶電流IM を発生するトランジスタ6のソース・ドレイン間の電圧が変化し、記憶電流IM の値が記憶時の値からずれてくる。このため、背景光による光電流IPD、即ち、記憶電流IM が投光による光電流IPD’ に比較して大きい場合、上記投光による光電流IPD’ に対する記憶電流IM のずれ量の影響も大きく、投光による光電流IPD’ が正確に測定できなくなる。
【0026】
( 2) 初段の反転回路12とトランジスタ1で構成される回路の周波数帯域が、背景光による光電流IPDによりトランジスタ1のコンダクタが変わるために光電流に依存して変化する。特に、背景光による光電流IPDが小さい場合はコンダクタンスが非常に小さくなるために前記回路の周波数帯域を上げるのが困難になる。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたもので、投光による光電流の検出時に、背景光による光電流が精度良く除去でき、光電流を検出する系の周波数帯域がフォトダイオード電流に依存しない光検出装置を提供することを目的とする。
【0028】
【課題を解決するための手段】
本発明による光検出装置は、背景光または投光された信号光を受光して光電変換することにより前記背景光または前記投光された信号光による光電流を得る光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した前記背景光による光電流を流すためにソースが前記光電変換素子に接続されるとともに、ドレインを介して前記背景光による光電流を接地電位へ流れるようになされたトランジスタと、入力側が前記光電変換素子と前記トランジスタのソースとの接続部に接続されるとともに、前記投光された信号光による光電流を検出するための検出素子を前記入力側と出力側の間に備えた反転増幅器(12)と、一端が前記反転増幅器の入力側及び前記トランジスタのソースに接続され、他端が前記トランジスタのゲートに接続された、前記背景光による光電流に対応した信号を記憶する信号記憶回路と、一端が前記反転増幅器(12)の出力側に接続され、他端が前記トランジスタのゲート及び前記信号記憶回路に接続された、前記信号記憶回路への信号の記憶を制御する記憶用スイッチと、を有し、前記投光された信号光による光電流に対応した出力のみを前記反転増幅器(12)の出力変化によって検出するものである。
【0029】
本発明の光検出装置では、前記反転増幅器(12)は前記検出素子として入出力間に信号蓄積のための蓄積容量(5)及び該蓄積容量をリセットするためのリセットスイッチ(16)を備えるとともに、前記反転増幅器(12)の出力側が入力側に接続され、入出力間に信号蓄積のための蓄積容量(19)及び該蓄積容量をリセットするためのリセットスイッチ(20)が設けられた容量結合型の反転増幅回路(21)とを有するものである。
【0035】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。
【0036】
図1は本発明の第1 の実施の形態を示し、例えば、図10のアクティブ方式AFモジュールの受光素子124として適用可能なものである。尚、図1において、既述の従来例と同様の回路要素は同じ符号により示してある。尚、測距のために被写体へ投光する光源としては、図10の光源120に相当するものとして、LED等を用いるものとする。
【0037】
フォトダイオード2は一端が電源に接続され、他端が光信号を検出するトランジスタ1のソースに接続されている。トランジスタ1のドレインは接地され、ゲートはスイッチングトランジスタ等で構成される記憶用スイッチ15を介して反転増幅器12の出力に接続されている。また、トランジスタ1のソース・ゲート間に光電流記憶用の容量素子7を設けるとともに、このソースとフォトダイオード2の接続点は反転増幅器12の入力に接続されている。この反転増幅器12は、例えば図11の12で示されるp型MOSトランジスタ10とn型MOSトランジスタ11で構成されるCMOS構成の反転増幅器などを含んで構成されていて、入出力間に光電流を検出するための帰還をかける要素として容量素子5が接続された構成となっている。
【0038】
図2 は、図1の回路により背景光除去動作を行って投光信号を検出する場合のタイムチャートである。図中、SW15は記憶用スイッチ15の動作、光源は既述の光源としてのLEDの発光タイミング、Vs は反転増幅器12の出力電圧(即ち、本発明の装置の出力)を夫々表している。以下、図2 を用いて図1 の回路の動作について説明する。
【0039】
期間T1 は被写体へLEDを投光しないで背景光のみを記憶する期間である。期間T1において記憶用スイッチ15をONすると、フォトダイオード2で発生した背景光による光電流IPDがトランジスタ1を介してグランドへ流れるように、トランジスタ1のゲート電圧に反転増幅器12を介して帰還がかかる。これによりトランジスタ1のソース・ゲート間電圧Vgsは背景光による光電流IPDに対応した電圧値となる。この状態で記憶用スイッチ15をOFFしても背景光記憶用の容量素子7に電荷が保持されるためトランジスタ1のソース・ゲート間電圧Vgsは変化せず、トランジスタ1を介して背景光による光電流IPDが流れ続ける。
【0040】
次に期間T2でLEDをONして被写体へ投光すると、投光による光電流IPD’ が背景光による光電流IPDに重畳される。背景光による光電流IPDはトランジスタ1より排出されるので、投光による光電流IPD’ が投光光検出用の容量素子5に蓄積される。これにより、反転増幅器12の出力はLED投光時間をt、投光光検出用の容量素子5の容量をC2 とすると IPD’ ・t/C2 だけ出力電圧Vs が変化する。
【0041】
このように、図1の構成を用いることにより投光による光電流IPD’ のみが検出可能になる。即ち、この構成によれば、投光により反転増幅器12の出力が変化しても投光による光電流IPD’ が正確に検出できる。これは、トランジスタ1のソース電圧は、反転増幅器12のオープンループ・ゲインをAvとすると出力変化に対して1/Avに圧縮されるため、トランジスタ1のソース・ドレイン間電圧は殆ど変わらず背景光による光電流IPDの値は略一定に保持されるからである。また、記憶用スイッチ15をOFFした状態では、文献 SPIE Vol.2226 (1994) 等により公知であるように、投光光検出用の容量素子5が入出力間に接続された反転増幅器12の周波数帯域は光電流に依存せず、このため設計の自由度が大きい。
【0042】
さらに、図11の構成と比較してわかるように図1 において、投光光検出用の容量素子5が入出力間に接続された反転増幅器12がトランジスタ1に帰還をかける機能と光電流積分出力を増幅する機能とを実現しているため、投光による光電流の正確な検出が少ない素子数で実現でき、従って消費電流を低く抑えることも可能になる。
【0043】
ここで図1 の回路構成は、CMOS構造のデバイスで実現することができる。例えば、記憶用スイッチ15にはMOSトランジスタを用い、背景光記憶用の容量素子7にはMOSのゲート容量を用いればよい。このとき、MOSのゲート容量はC−V特性の直線性を確保するため、ゲート酸化膜下の拡散層の濃度をMOSトランジスタのそれよりも高くする。
【0044】
また、背景光記憶用の容量素子7を実現する別の方法としてトランジスタ1そのもののゲート容量を利用することも可能である。この場合、所望の容量値が得られるようにゲート長及びゲート幅、即ち、ゲート面積を必要量まで大きくするように設定する。このような構成をとれば、個別の容量素子を形成して回路接続する場合に比べて、配線等のスペースが必要なくなる他、トランジスタ1の1/f雑音も低減できるという効果が得られる。
【0045】
図3 は、図1 の構成を改良した第2 の実施の形態である。図1 の構成では期間T1 での反転増幅器12の出力電圧Vs はトランジスタ1のソース・ゲート間電圧Vgsに依存し、更にVgsは背景光による光電流IPD に依存するため、期間T1 での反転増幅器12の出力電圧Vs は背景光の明るさにより変化する。このため、期間T1に続く期間T2における投光光電流の検出時の基準電圧が背景光により変化する。
【0046】
そこで、図3において、投光光検出用の容量素子5の蓄積電荷をリセットするために投光光検出用の容量素子5と並列にリセット用スイッチ16を設け、投光による光電流IPD’ に対する積分の開始前に期間T2 においてリセット用スイッチ16をONすることによって容量素子5の蓄積電荷をリセットし、常に一定電位より積分を開始するようにした。
【0047】
ここで、リセット用スイッチ16は、MOSトランジスタをスイッチングトランジスタとして用いることにより実現できる。
【0048】
図4 は、図3 の回路の動作を表すタイムチャートである。図中、SW15は記憶用スイッチ15の動作、SW16はリセット用スイッチ16の動作、光源は既述の光源としてのLEDの発光タイミング、Vs は反転増幅器12の出力電圧(即ち、図3の光検出装置の出力)を夫々表している。図4において、期間T1 は非投光時の背景光を記憶する期間で、記憶用スイッチ15をONし、リセット用スイッチ16をOFFすることで背景光による光電流IPDが流れるようにトランジスタ1のソース・ゲート間電圧Vgsが決まる。この状態で記憶用スイッチ15をOFFしてもトランジスタ1のソース・ゲート間電圧Vgsは保持されるため背景光による光電流IPDは流れ続ける。
【0049】
次に、上記の期間T1に続く期間T2においてリセット用スイッチ16をONすることで投光光検出用の容量素子5の蓄積電荷をリセットする。このリセットにより、反転増幅器12の出力電圧Vs は、リセット時の該反転増幅器の回路の動作点に相当する電圧となる。そこでリセット用スイッチ16をOFFし、その後LEDによる投光を行う。このとき、図1 の回路におけると同様に、投光による光電流IPD’ が投光光検出用の容量素子5に蓄積され、これに対応した出力電圧が反転増幅器12の出力電圧Vs より検出できる。
【0050】
図5 は、本発明の第3 の実施の形態を表す。本実施の形態では反転増幅器の帰還系として抵抗を用いて実現した例で、反転増幅器12の入出力間にスイッチングトランジスタ等によるリセット用スイッチ16とトランスインピーダンス用(光電流―電圧変換用)の抵抗17を直列接続して投光光による光電流IPD’ を検出する。
【0051】
図6は図5の回路の動作を示すタイムチャートである。図中、SW15は記憶用スイッチ15の動作、SW16はリセット用スイッチ16の動作、光源は既述の光源としてのLEDの発光タイミング、Vs は反転増幅器12の出力電圧(即ち、図5の光検出装置の出力)を夫々表している。図6において、期間T1は、LEDによる投光を行わず、記憶用スイッチ15をON、リセット用スイッチ16をOFFとして背景光による光電流IPDを容量素子7に記憶する。
【0052】
次に、T1に続く期間T2で記憶用スイッチ15をOFF、リセット用スイッチ16をONしてLEDを非投光状態とすると、トランスインピーダンス用抵抗17には電流が流れないので反転増幅器12の出力電圧Vs は既述の実施形態と同様、該反転増幅器12の回路の動作点に相当する電圧となる。
【0053】
その後、LED投光を行うと投光による光電流IPD’ の増加分により反転増幅器12の出力電圧Vs は抵抗17の抵抗値をRz とすると、IPD’ ・Rz だけ電圧が下がる。この電圧値を投光中に読み出すか、サンプルホールド回路等を用いて投光中の電位を保持した後読み出すことで投光による光電流IPD’ を検出することが可能になる。
【0054】
図7は、本発明の第4 の実施の形態を示しており、図3 の構成の検出回路の後段に容量結合型の反転増幅回路を設けたものである。
【0055】
同図では、反転増幅器12の出力と次段の反転増幅器21の入力間に容量素子18を接続し、前記次段の反転増幅器21の入出力間に容量素子19とリセットスイッチ20とが並列に接続された構成となっている。反転増幅器21の出力電圧Vs2、即ち図7 の態様の光検出装置の出力は、反転増幅器12の出力電圧Vs の位相が反転されるとともに、ゲインC3 /C4 で増幅された値として得られる。ここで、C3 は、容量素子18の容量、C4 は、容量素子19の容量を表す。
【0056】
図8 は、前記図7の動作を表すタイムチャートである。図中、SW15は記憶用スイッチ15の動作、SW16はリセット用スイッチ16の動作、SW20はリセット用スイッチ20の動作、光源は既述の光源としてのLEDの発光タイミング、Vs は反転増幅器12の出力電圧(即ち、図3の光検出装置の出力)、Vs2は反転増幅器21の出力電圧(即ち、図7の光検出装置の出力)を夫々表している。本実施例では反転増幅器12のリセット用スイッチ16をLED投光、非投光のそれぞれの動作においてリセット動作を行い、2回の積分動作を行って両者の差を検出するものである。
【0057】
期間T1は既述の実施形態と同様、背景光を記憶する期間で、記憶用スイッチ15をON、リセット用スイッチ16をOFFしてトランジスタ1より背景光による光電流IPDが排出されるように背景光記憶用の容量素子7の電位が保持される。
【0058】
記憶用スイッチ15がOFFすると、フィード・スルー電荷により背景光記憶用の容量素子7に保持された電荷量が変化してしまいトランジスタ1で流れる電流にΔIPD の誤差が生じる。この誤差成分ΔIPDは反転増幅器12の帰還系に流れる。そこで、期間T2でリセット用スイッチ16をONし、投光光検出用の容量素子5をリセットした後、期間T3で誤差成分ΔIPDの積分を行う。
【0059】
次に、期間T4で再びリセット用スイッチ16をONして蓄積電荷をリセットした後、期間T5でLED投光を行い誤差成分ΔIPDと投光による光電流IPD’ とが加算された電流(ΔIPD+IPD’ )の積分を行う。
【0060】
期間T3と期間T5とは同一の積分時間とし、その積分値の差分をとることで投光による光電流IPD’ に対する出力を検出する。ここで、差分に関しては18〜21で構成される容量結合型の反転増幅回路を以下のように動作させればよい。
【0061】
期間T3の誤差電流成分ΔIPDの積分終了時までリセットスイッチ20をONしておき、期間T4でリセット用スイッチ16をONする直前にリセットスイッチ20をOFFする。これにより、反転増幅器21の出力電圧Vs2にはリセットスイッチ20がONからOFFに変化した時点の反転増幅器12の出力電圧Vs を基準にそれ以降のVs の変化分が表れる。従って期間T5の積分終了時点の反転増幅器21の出力電圧Vs2は期間T3の第1 回目の積分終了時刻の反転増幅器12の出力電圧Vs と期間T5の第2 回目の積分終了時刻の反転増幅器21の出力電圧Vs2との差電圧に対応した電圧、即ち、誤差電流成分ΔIPDの成分が除去され、投光光電流IPD’ に対応した電圧が以下に示す値で検出される。
【0062】
IPD’ ・t/C2 ・C3 /C4 (tはLED投光時間)
【0063】
このように、図7の構成によりトランジスタ1にて排出される電流が背景光による光電流IPDに対して誤差電流成分ΔIPDを有していても正確に投光光による光電流IPD’ に対応した電圧のみを検出することができる。
【0064】
以上の各実施の形態では1つのフォトダイオードに対する信号処理について示したが、これは複数のフォトダイオードを一次元に並べてシフトレジスタ等で読み出すラインセンサにも応用できる他、受光素子としてPSD(位置検出素子)を用いた場合の光検出回路にも応用できる。
【0065】
また、ラインセンサに用いる場合、トランジスタ1を完全にOFFすることによりパッシブ用のラインセンサとして利用することも可能である。
【0066】
上述した本発明の実施の形態によれば、各請求項の発明は、以下の効果を有する。
【0067】
請求項2に係る本発明の光検出装置では、前記信号記憶回路へ光電変換素子からの出力信号を記憶するときと前記反転増幅器の出力を読み出すときとに対応したスイッチング動作をなすことにより、反転増幅器に帰還がかかり精度良く信号を記憶できる。また、光電流の大きさによらず正確な検出が可能になる。更に、反転増幅器一つで信号の保持と検出・増幅を行うので少ない素子数で回路を実現できるといった効果が得られる。
【0068】
請求項3に係る本発明の光検出装置では、前記信号記憶回路は、 前記トランジスタのゲート容量を含んでなるものであり、更に、請求項4に係る本発明の光検出装置では、前記トランジスタのゲート面積の大きさによって形成される該トランジスタのゲート容量を含んでなるものであり、より少ない回路素子で光検出装置が実現できる。
【0069】
請求項5に係る本発明の光検出装置では、前記反転増幅回路の入出力間に、 信号蓄積のための蓄積容量及び該蓄積容量をリセットする為の第2 のスイッチング素子が設けられたことにより、反転増幅回路による信号蓄積を常に一定値から蓄積可能となり、正確な信号検出が可能となる。
【0070】
請求項6に係る本発明の光検出装置では、前記反転増幅回路の入出力間に、 抵抗及び該抵抗と直列接続した第3 のスイッチング素子が設けられたことにより、抵抗を用いても反転増幅器での信号検出が可能となる。
【0071】
請求項7に係る本発明の光検出装置では、前記反転増幅器の出力が次段の反転増幅器に入力されるよう接続され、且つ、前記次段の反転増幅回路の入出力間に信号蓄積のための第2 の蓄積容量及び該第2 の蓄積容量をリセットする為の第4のスイッチング素子が設けられたことにより、検出動作中に発生する誤差成分が除去でき、更に精度の良い信号検出が可能になる。
【0072】
【発明の効果】
以上のように、本発明による光検出装置は、背景光光電流に対応した信号を精度良く記憶することができ、また、光電流の大きさによらず、検出回路の周波数特性に依存しないで信号検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態による装置の回路構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態における背景光除去動作と信号出力を表すタイムチャートである。
【図3】本発明の第2の実施の形態における蓄積電荷のリセット機能を備えた回路構成を示すブロック図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態における背景光除去動作と信号出力を表すタイムチャートである。
【図5】本発明の第3の実施の形態における帰還系を抵抗とスイッチで構成した場合の回路構成を示すブロック図である。
【図6】本発明の第3の実施の形態における背景光除去動作と信号出力を表すタイムチャートである。
【図7】本発明の第4の実施の形態における更に誤差分を除去可能な構成とした場合の回路構成を示すブロック図である。
【図8】上記図7の実施形態における背景光除去動作と信号出力を表すタイムチャートである。
【図9】従来の背景光除去回路例を示すブロック図である。
【図10】従来のアクティブ方式の測距装置を表す概念図である。
【図11】従来の背景光除去回路例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 トランジスタ
2 フォトダイオード(光電変換素子)
5 投光光検出用の容量素子(C2 )
7 背景光記憶用の容量素子(C1 )
12 反転増幅器
15 記憶用スイッチ(スイッチング素子)
16 リセット用スイッチ
17 抵抗(Rz )
18 容量素子(C3 )
19 容量素子(C4 )
20 リセットスイッチ
21 次段の反転増幅器
Claims (2)
- 背景光または投光された信号光を受光して光電変換することにより前記背景光または前記投光された信号光による光電流を得る光電変換素子と、
前記光電変換素子で発生した前記背景光による光電流を流すためにソースが前記光電変換素子に接続されるとともに、ドレインを介して前記背景光による光電流を接地電位へ流れるようになされたトランジスタと、
入力側が前記光電変換素子と前記トランジスタのソースとの接続部に接続されるとともに、前記投光された信号光による光電流を検出するための検出素子を前記入力側と出力側の間に備えた反転増幅器(12)と、
一端が前記反転増幅器の入力側及び前記トランジスタのソースに接続され、他端が前記トランジスタのゲートに接続された、前記背景光による光電流に対応した信号を記憶する信号記憶回路と、
一端が前記反転増幅器(12)の出力側に接続され、他端が前記トランジスタのゲート及び前記信号記憶回路に接続された、前記信号記憶回路への信号の記憶を制御する記憶用スイッチと、を有し、
前記投光された信号光による光電流に対応した出力のみを前記反転増幅器(12)の出力変化によって検出することを特徴とする光検出装置。 - 請求項1記載の光検出装置において、前記反転増幅器(12)は前記検出素子として入出力間に信号蓄積のための蓄積容量(5)及び該蓄積容量をリセットするためのリセットスイッチ(16)を備えるとともに、前記反転増幅器(12)の出力側が入力側に接続され、入出力間に信号蓄積のための蓄積容量(19)及び該蓄積容量をリセットするためのリセットスイッチ(20)が設けられた容量結合型の反転増幅回路(21)とを有することを特徴とする光検出装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33692198A JP3581031B2 (ja) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | 光検出装置 |
US09/448,230 US6350981B1 (en) | 1998-11-27 | 1999-11-24 | Photo-sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33692198A JP3581031B2 (ja) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | 光検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000162041A JP2000162041A (ja) | 2000-06-16 |
JP3581031B2 true JP3581031B2 (ja) | 2004-10-27 |
Family
ID=18303870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33692198A Expired - Fee Related JP3581031B2 (ja) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | 光検出装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6350981B1 (ja) |
JP (1) | JP3581031B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8279326B2 (en) | 2008-09-09 | 2012-10-02 | Sony Corporation | Light quantity detecting apparatus and imaging apparatus |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4817636B2 (ja) | 2004-10-04 | 2011-11-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置およびその作製方法 |
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US8748796B2 (en) | 2005-10-07 | 2014-06-10 | Integrated Digital Technologies, Inc. | Interactive display panel having touch-sensing functions |
TWI291237B (en) | 2005-10-07 | 2007-12-11 | Integrated Digital Technologie | Photo detector array |
US9064772B2 (en) | 2005-10-07 | 2015-06-23 | Integrated Digital Technologies, Inc. | Touch screen system having dual touch sensing function |
KR101003170B1 (ko) | 2006-09-25 | 2010-12-22 | 인테그레이티드 디지털 테크놀로지스, 인코포레이티드 | 광 검출기 어레이 |
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US8743348B2 (en) | 2010-09-03 | 2014-06-03 | Pixart Imaging Inc. | Optical distance detection system |
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Family Cites Families (3)
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JPS6418255A (en) | 1987-07-13 | 1989-01-23 | Hamamatsu Photonics Kk | Solid-state image sensor |
JP3542154B2 (ja) | 1993-12-28 | 2004-07-14 | オリンパス株式会社 | 固体撮像素子 |
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-
1998
- 1998-11-27 JP JP33692198A patent/JP3581031B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-11-24 US US09/448,230 patent/US6350981B1/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000162041A (ja) | 2000-06-16 |
US6350981B1 (en) | 2002-02-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011003 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040609 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |