JP3559974B2 - X線管 - Google Patents

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明はX線またはガンマ線発生技術に関する。本発明は、CTスキャナ用のX線管と共に用いる特定の用途があるので、特にこれを参照して説明する。しかしながら本発明は、他の用途用のX線発生に関連した用途も有すると解すべきである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、患者はCTスキャナの中心ボア内の水平コーチ上にうつ伏せ状態に位置しており、X線管は回転自在なガントリー部分に取り付けられた高速で患者の回りを回転する。より高速のスキャンをするには、X線管をより高速で回転させなければならない。しかしながら、X線管をより速く回転すると、X線管の出力を上げない限り像ごとの純放射線量が減少してしまう。CTスキャナが高速になるにつれて、単位時間当たり、より多くの放射線を発生するより大きなX線管が必要であった。当然ながら慣性力も大きくなる。
【0003】
CTスキャナ等用の高性能X線管は、固定カソードと、回転するアノードディスクを一般に含み、いずれも真空ハウジング内に収納される。強度のより強いX線ビームを発生すると、アノードディスクの加熱が強くなる。真空を介して周辺の流体に熱を放射することにより充分な時間をかけてアノードディスクを冷却するには、しだいに大きなアノードディスクを備えたX線管を製造しなければならない。
【0004】
アノードディスクが大きくなればなる程、大きいX線管が必要となり、X線管は現在のCTスキャナのガントリーの小さい閉空間に容易に嵌合できない。第4世代のスキャナでは、より大きなX線管と頑丈な支持構造体を組み込むには放射線検出器を大きな径で移動させなければならない。これにより、同じ解像度を得るには、より多くの検出器が必要となり、X線管と検出器の間の通路長さも長くなる。通路長さが長くなると、放射線の発散も大きくなったり、像データも劣化することもある。取り大きなX線管が必要となるだけでなく、発生する多量の熱を除去するのにより大きな熱交換構造体が必要となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
一本のX線管を被検体のまわりに回転する代わりに、被検体のまわりにリング状に配置したX線管のスイッチング可能なアレイ、例えば5つまたは6つのX線管を使用することが提案されている。しかしながら、管が回転しなければ限られたデータしか発生せず、限られた解像度しか得られない。X線管が回転すれば、管のすべてを移動させる上で同様な機械上の問題が生じる。
【0006】
更にX線管のウェル部内に患者を収容できるよう充分大きなマウス部を備えたほぼベル状の真空X線管エンベロープを製造することも提案されている。ベルの頂点にX線ビーム源が配置され、マウスのアノードリングに衝突する電子ビームをベルまで発生させるようになっている。真空ベル状のエンベロープのまわりにX線ビームをスキャンするための電子回路が設けられる。この設計の問題は、約270°のスキャニングしかできないことである。別の問題点は、走査電子ビームを収容するのに極めて大きな真空スペースは、真空状態を維持することが困難であることである。手間がかかり、複雑な真空ポンプが必要である。別の問題は、焦点からずれた放射線に対する対策がないことである。
【0007】
核科学に関するIEEEトランザクション「高速コンピュータ断層撮像のための新設計」1979年4月、NS−26巻、第2号において、マイデン・シェップおよびチョー氏は、カソードを大径アノードリングのまわりに回転させることにより円錐の、すなわちベル形状の上記管の寸法を小さくすることを提案している。しかしながら、これらの設計はいくつかの工学上の欠陥を有しているので、商業的に製造されていない。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記問題を解決した新規でかつ改良されたCTスキャナを提供するものである。
【0009】
本発明の一つの特徴によれば、大径の状の真空にされたトロイダル状ハウジングが提供される。X線をトロイダル状ハウジングの中心軸に向けるよう環状ウィンドに隣接してハウジング内に環状のアノードターゲットが配置される。電子源からこの環状アノードまでの短距離を走行する電子ビームを発生するよう、アノードに接して電子放出手段が配置される。そして、アノードの円周に沿って電子ビームを回転するための手段が設けられ、また、冷却流体を受けるための通路がアノードに沿ってかつアノードと密な熱伝達をするよう定される。
【0010】
一つの実施例では、電子ビーム回転手段ではハウジングの内周に沿い回転できるよう、機械的または磁気的ベアリングに取り付けられた環状カソードアセンブリを含む。
別の実施例では、X線ビームは調節自在である。ある実施例では各々径の異なる複数のアノードが設けられる。各アノードには少なくとも一つのカソードフィラメントまたは他の制御可能な電子源が関連する。別の実施例ではウィンドアセンブリがカソードアセンブリと共に回転できる。寸法の異なる複数のウィンドのそれぞれに電子源が関連しており、別の実施例ではアノード面が移動自在となっている。
【0011】
別の実施例では前記アノードと実質的に同じ径の環状カソードリング固定するカソードが設けられ、電子ビームをアノード衝突させるようカソードの部分だけを選択的にゲート制御するための複数のゲート制御グリッドが設けられた電子放出手段を成す
回転するカソードの実施例のより限定された特徴によれば、このカソードアセンブリはハウジング内で磁気的に浮揚される環状カソードリングを含む。
【0012】
本発明の別の特徴によれば、環状カソードリングは、このハウジングの外部の環状ステータとハウジングの内部に配置された環状ロータを有するブラッシュレス誘導モータによって駆動される。
本発明の別の特徴によれば、電子放出手段である多数のカソードカップが設けられる。各カソードカップはカソードフィラメントまたは他の電子エミッタと発生した電子ビームを合焦するための適当なグリッドを含む。これら多数のカソードカップは種々の所定ビーム焦点およびその他の特性を有する。
【0013】
本発明の別の特徴によれば、ハウジング内のロータの環状カソードリングとなる金属部品はカソードカップから絶縁され、ハウジングの電位近くに保持される。
本発明の更に限定された特徴によれば、カソードカップアイソレーショントランスによりロータの環状カソードリングとフィラメント電流制御回路から電気的絶縁される。そこで、このアイソレーショントランスフィラメント電流制御回路のスイッチおよびその他部品より低い電流および電圧で作動できるようにする。
【0014】
本発明の別の特徴によれば、トロイダル状ハウジングは焼き付いたカソードカップの修理および交換を容易とするためのアクセスパネルを含む。
本発明の別の特徴によれば、電子を放出する固定高電圧カソードに接続された高電圧部分によりカソードアセンブリの高電圧バイアス手段に高電圧が加えられる。この高電圧バイアス手段は高電圧カソードに接し、好ましくはこれを部分的に囲むトロイダルの電子受けプレートを含む。グリッド制御、ミリアンペア安定化および能動的フィルタリングのため一つ以上のグリッドがフィラメントを囲むことが好ましい。高電圧カソードと電子受けプレートとの間の電子の移動により、カソードアセンブリの高電圧バイアス手段ほぼ100kVの大きさのX線管作動電圧までカソードアセンブリがドライブされる。カソードカップをグリッド制御してオン、オフするのに他の高温フィラメント、グリッドおよびプレートアセンブリを用いてもよい。
【0015】
本発明の別の特徴によれば、焦点ずれ放射線低減器すなわちフィルタが回転カソードアセンブリと共に回転できるようこの回転カソードアセンブリに取り付けられる。
本発明の別の更に限定された特徴によれば、外部からエンベロープへのカソード電流を回転カソードアセンブリに流すための電流カプリング手段が設けられる。受けた電流をカソードまたはカソードグリッドの選択可能な一つに選択的に向けるのをカソードアセンブリに複数の磁気制御されるスイッチが取り付けられる。カソードが回転する際、磁気制御スイッチが通る通路に隣接するハウジングに隣接して、環状電磁石が固定的に配置される。これら電磁石のリングはスイッチを開閉して電流を選択したカソードまたはグリッドに向けるよう、選択的に付勢される。
【0016】
固定カソード実施例のより限定された特徴によれば、環状カソードは多数のカソードセグメントを含む。各カソードセグメントは電子ビームをアノードに向けるよう選択的にゲート処理される。
本発明の別の特徴によれば、ビームをゲート制御し、ビームを合焦し、ビームをアノードのセグメントのまわりの円周に沿ってスイープするよう、各カソードセグメントに隣接してグリッドが設けられる。
【0017】
当業者であれば下記の好ましい実施例の詳細な説明を読めば、本発明の更に別の特徴が明らかとなろう。
本発明は、種々の部品およびそれらの配列を変えることもできるし、種々の工程およびそれらの順序をかえることもできる。添付図面は単に実施例の例示のためのものであり、本発明を限定するものではない。
【0018】
【実施例】
図1を参照すると、トロイダル状ハウジングAは、大きい、全体がドーナツ形状の内部空間を定し、トロイダル状ハウジングの内部空間内にアノードBが取り付けられ、このアノードはその空間の円周方向に伸びている。電子の少なくとも一つのビームを発生するようトロイダル状ハウジングの内部空間内に回転手段C配置して駆動手段Dが電子ビームをアノードBに沿って特定の回転を与える
【0019】
より詳細に述べれば、アノードBは、電子ビームが衝突するようになっているタングステン面10を有するタングステンのディスクである。ハウジングおよびアノードは、環状の冷却流体路すなわちチャンネル12を画定し、このチャンネルはアノード面、特にアノードの裏面に沿って密に熱連通する。このアノードは、大きな連続した部材すなわち組み立てられた形態の多数の部分で構成できる。またこのアノードは、冷却流体との熱連通を促進するため、任意に内部通路、フィン等を有してもよい。流体循環手段14は、固定されたアノードおよびハウジングを通して熱交換機16に流体を循環させ、ターゲットアノードを低温に保持する。
【0020】
ハウジング内には、ターゲットアノードBに接してウィンド20を設けてある。このウィンド20は、電子ビームとタングステンターゲットアノードとの相互作用により発生されるX線ビーム22が中心ボア26トロイダル管の中心軸心24けて進むよう位置に配置しる。ハウジングAには真空手段、好ましくは一つ以上のイオンポンプ28が相互に接続され、ハウジングA内の真空を維持するようになっている。
【0021】
図1および図2の実施例では、前記回転手段 C であるカソードアセンブリは、トロイダル状ハウジングAの内部の内周の沿って延びる環状カソードリング30を含む。この環状カソードリング30にはカソードカップ32a32bを含む複数のカソードカップ32が取り付けられている。カソードカップ32の各々はカソードフィラメント34およびグリッドアセンブリ36を含む。グリッドは、電子ビームをオン、オフするようゲート制御するためのグリッドと、ラジアル方向の電子ビームの幅を合焦するためのグリッドアセンブリと、円周方向の電子ビームの大きさを合焦するためのグリッドアセンブリを含むことが好ましい。
【0022】
好ましい実施例では、カソードカップ32の各々は、種々の所定のフォーカス特性の一つを備えたグリッドアセンブリを有する。このようにカソードカップ32を選択することによりX線ビームの焦点スポットの異なる大きさを選択できる。また第1のカソードが焼損した場合にバックアップカソードカップとなるように最も一般的に使用される寸法で合焦されるカソードカップを多数設けてもよい。
【0023】
ハウジングA内にはベアリング手段40により環状カソードリング30が回転自在に支持されている。好ましい実施例では、ベアリング手段は磁気浮揚ベアリングである。真空中で絶縁状態となるよう適当に調製されたケイ素鉄または他の材料の薄いリング42は、ベアリングのラジアル方向に対するように円筒状であり、長手方向に重ねて形成している。更に、ベアリングの軸方向部分は、真空中で使用するよう適当に調製したケイ素鉄または他の材料の薄いフープ体を円筒形に挟み込んで形成するよう組み立てられている。そして、吸引力を調整して、環状カソードリング30をトロイダル真空空間の中心に正確に吊り下げ、更に、この環状カソードリングを軸方向の中心に位置させるよう近接センサフィードバック回路により受動機素および能動機素、例えば永久磁石44および電磁石46が制御される。セラミック製の絶縁体48は、カソードの電位にる環状カソードリング30カソードとその他の部分から、薄いリング42を電気的絶縁する。この電気的絶縁により、薄いリングはハウジングAの電位に保持されるので、薄いリング42と磁石44、46とハウジングとの間でのアークの発生を防止できる。
【0024】
ブラシレスの大径の誘導モータ50は、ハウジングに固定的に取り付けられたステータ52とカソードリングに接続されたロータ54から成る。このモータは、ハウジングのトロイダル状真空内でカソードアセンブリCを所定速度で回転させる。磁気浮揚システムが故障した場合、カソードリングを支持するための機械式ローラベアリング56が設けられている。この機械式ローラベアリングは環状カソードリング30が固定ハウジングAおよび他の構造物と相互干渉するのを防止する。角度位置モニタ手段58は、カソードアセンブリの角度位置すなわちアノード表面上のX線ビームのアペックス(頂点)位置をモニタする。セラミック製絶縁体48は、カソード電位からロータ54と角度位置モニタも電気的絶縁をする。
【0025】
カソードカップ32と共に回転する支持体60が各カソードカップ32の各々に隣接して設けられている。この支持体60は、焦点ずれ放射線制限手段すなわちコリメータ62、例えばX線ビームの長さおよび幅を制限する鉛プレートの対を担持する。これとは異なり、焦点ずれ放射線制限手段は、1つ以上の穴開き鉛またはタングステン−タンタルプレートを含んでもよい。ウィンド20に近接して支持体60にフィルタまたはコンペンセータ64が取り付けられ、発生したX線ビームをフィルタリングし、ビームの硬度補正等を行う。コンペンセータ64の材料としては酸化ベリリウムが好ましい。
【0026】
電流源70は、所定のカソードカップ32を作動するためのAC電流を発生する。このAC電流は、ハウジング内部に取り付けられた固定された環状のコンデンサプレートまたは誘導コイル72に送られる。そして、環状カソードリング30により支持された対応する回転コンデンサプレートまたは誘導コイル74が、固定コンデンサプレート72近接して取り付けられている。この回転コンデンサプレートは、一連の磁気制御スイッチ76に電気的に接続されている。磁気制御スイッチ76の各々は、カソードカップ32のうちの一つに接続されている。ハウジングAに沿って複数の環状電磁石78が固定的に取り付けられている。電気制御手段80は、一つ以上の電磁石を作動させ、磁気制御スイッチ76を開閉し、カソードカップ32のうちのいずれかを選択させる。
【0027】
これとは異なり、外部スイッチ(図示せず)が、複数の固定コンデンサリングのうちの一つに電力を与える方法の場合は、複数の対応する回転リングの各々は、異なるカソードカップに接続されている。また更に別案として、容量性カップリングを誘導性カップリング、例えば回転環状2次巻線上に空隙を介して密に隣接し、空隙を横断するように取り付けた固定環状1次巻線と置換してもよい。
【0028】
アノードおよびカソードは、相対的に高い電圧差、代表的には100kVの大きさの電圧差に維持される。図1の実施例では、固定ハウジングAおよびアノードBはユーザーの安全のためアース電位に保持される。回転する環状カソードリング30は、ハウジングに対して−100〜−200kVの大きさのバイアスがかけられる。この目的のため、高電圧90は、真空ダイオードアセンブリの高電圧カソード92に印加される高電圧を発生する。この高電圧90は、高圧ケーブルおよび終端の問題を防止するよう高電圧カソード92に直接取り付けられるコンパクトで高周波タイプのものであることが好ましい。高電圧カソード92は、仕事関数の低いタイプのものであることが好ましい。ドーナツ形状すなわちトロイダル状の電子受けプレート94の円形チャンネルは、高電圧カソード92を部分的に囲む。この電子受けプレート94は、カソードアセンブリと共に回転できるようカソードカップ32と一体に取り付けられる。セラミック製または他の材料製の熱絶縁プレートまたは手段96は、好ましくは電子受けプレート94を回転する環状カソードリング30から断熱する。電子受けプレート94の電流は、熱伝達を制限するために、回転カソードアセンブリの他の部分に薄いワイヤすなわちメタルフィルム98によす。そして、一つ以上のグリッド99が、グリッド制御や電流のmA調節および能動的フィルタリングのため高電圧カソード92を囲む。
【0029】
図3の実施例ではハウジングAに対し−100から−200kVに保持されているカソードカップ32はハウジングと同じ電位好ましくはアース電位に保持されている回転環状カソードリング30の高電圧でない残りの部分から完全に電気的絶縁される。より詳細に述べれば、トロイダル状の電子受けプレート94は金属ストラップ100と接続端子であるバヨネットまたは他のクイックコネクタ102接続されている。カソードアセンブリはコネクタ102に受け入れられる嵌合コネクタである電気接続部を有する。このようにしてカソードカップ32はトロイダル状の電子受けプレート94と同じ電位に保持される。カソードフィラメント34は一端がカソードカップ32に接続され、他端が2次巻線104の巻線に接続される。導電性ストラップ100、カソードカップ32およびトロイダル状の電子受けプレート94を環状カソードリング30の残りの部分から絶縁する電気絶縁手段であるセラミック製絶縁106の管状部分のまわりに2次巻線104が巻かれている。電圧アイソレーショントランス内のセラミック製絶縁管106はその良好な磁束伝達特性および電気絶縁特性によりフェライト材料であることが好ましい。
【0030】
管状絶縁部材110は2次巻線104を囲み、1次巻線112を支持する。このようにカソードフィラメント34の電圧をフィラメント電流コントロールから絶縁する電圧アイソレーショントランスが構成されている。1次巻線の一端は回転手段であるカソードアセンブリのトロイダル状導電性部分114に接続され、他端は磁気制御スイッチ76の一つに接続されている。磁気制御スイッチ76を選択的に開閉することにより導電性または容量性パワー伝達手段72、74からのパワーが1次巻線に選択的に送られる。これら1次巻線と2次巻線はアイソレーショントランスにより電流が大きくなるように異なる巻線比を有することが好ましい。
【0031】
アイソレーショントランスは2次巻線104およびカソードフィラメント34により誘導される4〜5アンペアおよび高くても10アンペアよりも低いアンペアで磁気制御スイッチ76が作動できるようにするものである。更にアイソレーショントランスは磁気制御スイッチ76が2次巻線104の−100〜−200kVよりもかなり低いわずか数百ボルトのACで作動できるようにする。
【0032】
カソードアセンブリの導電性部分114はセラミック製絶縁管106および110を用いていても帯電する傾向があり、最終的にはカソードの電位に達すると解すべきである。これは一部はセラミック製絶縁体の有限の抵抗によるものである。ハウジングAと導電性ロータ部分114との間で電位を平衡させるため、回転及び固定コンデンサプレートから成るパワー伝達手段72、74と導電性部分114すなわちアースとの間にフィラメント116が接続される。これによりフィラメント116に電流が流れ、電子が加熱されて除かれ、環状カソードリング30上の余分な電荷がハウジングに運ばれる。このようにして回転部分の電位がアース電位に保持される。
【0033】
磁束シールド118、好ましくはフェライト材料はカソードカップ32とトロイダルプレート94を囲み、磁束の遮断を行う。これとは異なり、磁束シールド118は金属製の導電性材料から製造してもよい。
【0034】
図3、4および5の実施例において、ハウジングAもトロイダル状である。アノードBも環状であり、ハウジングの一部と共に冷却路12を画定している。タングステンのアノード表面10は、カソードからの電子ビームにより励起されると、X線ビームを発生するようカソードアセンブリ(回転手段)Cに向けて配置されている。カソードアセンブリは、ハウジングA内部でリング状に互いに密に隣接して配置された多数のカソードカップ32を含む。各カソードカップは、カソードフィラメント122を含み、このフィラメントは、励起流により加熱されて熱電子放出を行う。グリッドアセンブリは発生された電子ビームをアノードに対して円周方向に合焦する一対のグリッド124と、電子ビームを径方向に合焦するための一対のグリッド126から成る。ゲート電極128は、電子ビームがアノードに到達するのを選択的に可能としたり、阻止したりする。好ましい実施例では、スイッチング手段130は、ゲートグリッド128の各々電子ビームを通過できるように逐次スイッチングする。このように電子ビームは、アノードのまわりでステップ操作または他の所定パターンで移動される。
【0035】
バイアス合焦制御回路132は、グリッドペア124、126に適当なバイアス電圧をかけて、カソードカップにたいするアノード上の所定の点で所定のビーム寸法に電子ビームを合焦する。バイアス合焦制御回路132は、グリッド124、126間のバイアス電圧を徐々にまたは増分的にシフトし、カソードカップの円周長さに一致するアノードの円弧セグメントに沿って電子ビームを連続的にまたは複数の位置に複数のステップで電子ビームをスウィープすなわちスキャンする。スイッチング手段130が次のカソードカップをスイッチングするごとにビームスキャニング手段134が所定の円周ビーム位置の各々に沿って電子ビームをスウィープするようにさせる。
【0036】
高電圧手段140は、ハウジングに対する高電圧のバイアスをカソードアセンブリCにかける。セラミック絶縁層142は、カソードカップをハウジングに対して−100kVの大きさの電位に維持できるようハウジングからカソードカップを絶縁する。オペレータの安全のため、ハウジングはアース電位に保持し、カソードカップはハウジングおよびアノードに対し−100kVの大きさのバイアスをかけることが好ましい。これとは異なり、アノードをハウジングから電気的に絶縁し、ハウジングに対し正の電圧のバイアスをかけてもよい。かかる実施例では、冷却流体がアノードとハウジングをショートさせないように冷却流体を誘電体にすることが必要である。
【0037】
カソードカップのすべてのフィラメントは、同時にドライブすることが好ましい。更にスイッチング手段130は、高圧電源140をカソードカップ120の各々に逐次スイッチングする。このように一時期には、カソードカップのうちの一つまたは小グループしかX線ビームおよびX線を発生するのに充分な高電圧にアノードに対し維持されない。当然ながら、グリッド128または個々のカソードカップ(またはその双方)にバイアスをかけることにより電子ビームおよびX線ビームを制御してもよい。
【0038】
各々のカソードセグメントまたはカップは、スロットごとにフィラメントが直列または並列接続されたラジアルスロットをもうけることが好ましい。かかるスロットおよびフィラメント部分は所望のセグメントからグリッド電圧を除いた時ターゲットローディングに好ましいラインフォーカス電子ビームを自然に発生する。このラジアル方向にスロットの設けられた部分は、アノードトラックを横断させる焦点スポットのスイープを容易にするよう半分に分割され、適当に絶縁される。これらの半分割体は、焦点スポットの大きさを変えるのにも使用できる。
【0039】
主カソード構造体と同じようにエミッタの後方にあり、よりゆるやかな電位および局部的に制御されるグリッドにより加速される第2カソード構造体により、フィラメント、より一般的には電子エミッタを加熱するよう更に変更することも可能である。このような構造体により得られる利点の一つは、低温の、仕事関数の低いフィラメントを使用できる点にある。これにより加熱電流の要件がかなり低くなる。電子エミッタは極めて均一に加熱できるので、極めて均一な焦点スポッとが得られる。これらエミッタは、タングステンリボンまたは低い有効熱質量の他の適当な形状と材料から製造できるので、エミッタは極めて短時間に作動温度まで昇温でき、第2フィラメントのグリッド制御だけでよいので、電子エミッタへの加熱エネルギーは著しく低くなり、信頼性も高まる。
【0040】
図7を参照すると、複数のアノード10、10'および10''の各々は対応するウィンド20、20'および20''に隣接してステップ状に取り付けられている。環状カソードリング30にはカソードカップ32、32'および32''が取り付けられている。環状カソードリング30は上記のように磁気ベアリングに回転自在に取り付けられることが好ましい。これとは別に、図3〜5を参照して説明したように、環状カソードリング30のまわりに多数のカソードカップを配置してもよい。オペレータが複数の作動モードを選択できるよう各カソードカップは磁気スイッチ制御装置80により制御される。例えば、マルチスライス撮像のために3つのカソードカップのすべてを同時に作動できる。各コリメータは異なる寸法または形状のX線ビームを発生するよう異なる開口の大きさを有することができる。別例としては、各アノードカソードカップの組み合わせはこれに連動する異なるフィルタまたはコンペンセータ64'、64''を有してもよい。
【0041】
図8を参照すると、アノードアセンブリは電子源に対して移動できる面10を有する。図8に示した実施例では冷却流体チャンネル12を画定する周辺構造体に沿うアノード表面10は仮想線で示した誇張した程度まで選択的に回転自在または傾斜自在である。この表面は回転するかわりに曲がってもよい。またアノード表面はその位置を変えると電子ビームを受けているアノード表面の特性が代わるように単一平面以外の面にしてもよい。
【0042】
【効果】
本発明の利点の一つは従来使用されている125mmおよび175mmのアノードX線管よりもパワーが大きいことである。
本発明の別の利点はアノードを効率的に冷却する工夫がされていることである。
本発明の別の利点は容易に高速でスキャンできることである。
本発明の別の利点はベアリングの摩耗が少なく、管の寿命が長いことである。
本発明の別の利点は管を現場で修理できることである。
以上で好ましい実施例を参照して本発明について説明したが、上記の詳細な説明を読めば変形例および変更例は明らかとなろう。本発明は添付した特許請求の範囲またはその均等物の範囲内でこれら変形例、変更例のすべてを含むものと解される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるトロイダル状の回転カソードX線管の横断面図である。
【図2】図1のX線管の正面図である。
【図3】回転構造体からカソードがアイソレートされている実施例詳細図である。
【図4】図1のトロイダルX線管の別の実施例の横方向断面図である。
【図5】図4の管の一部を断面図にした正面図である。
【図6】図4及び図5のカソードカップの一方の斜視図である。
【図7】多数のアノード管のアノード/カソードカップ部分の断面図である。
【図8】移動自在なアノード管のアノード/カソードカップ部分の断面図である。
【符号の説明】
A トロイダル状のハウジング
アノード
C カソードアセンブリ
12 冷却流体通路
22 電子ビーム
30 カソードリング
32 カソードカップ
50 モータ
62 コリメータ
64 フィルタ
76 磁気制御スイッチ
104、112 トランス
124、126 グリッド

Claims (26)

  1. 真空にされた内部を有する全体がトロイダル状のハウジングと、
    前記トロイダル状ハウジング内に配置した固定の環状アノードであって、前記環状アノードの表面を冷却する冷却媒体の循環流体通路と熱伝達する前記環状アノードと、
    前記トロイダル状ハウジング内に配置し、前記ハウジングと同電位の回転する環状カソードリングであって、前記アノード表面に衝突させる電子ビームを形成する電子放出手段を保持する前記環状カソードリングから成るカソードアセンブリと、
    前記環状カソードリングを前記ハウジングの内周に沿って回転する手段と、
    前記ハウジング電位と比較して負極の高電圧を電子放出手段に印加する高電圧バイアス手段であって、前記高電圧バイアス手段前記ハウジングに固定された少なくとも一つの高電圧カソードと前記環状カソードリングに支持されたトロイダル状の電子受けプレートを有し、前記電子受けプレートが前記電子放出手段と電気的接続を成し、前記環状カソードリングが回転する際に、前記電子受けプレートが少なくとも部分的に前記高電圧カソードを近接して囲む構成を成す高電圧バイアス手段と、
    を具備することを特徴とするX線管。
  2. 前記環状カソードリングはベアリングに取り付けられ、
    モータ手段が、前記ハウジングに固定的に取り付けられたステータ部と、前記環状カソードリングに取り付けられたロータ部から成る請求項1に記載のX線管。
  3. 前記ハウジング内で前記環状カソードリングを回転自在に支持するための磁気浮揚ベアリング手段を更に含む請求項1に記載のX線管。
  4. 前記磁気浮揚ベアリング手段が故障したとき、前記環状カソードリングを支持するための機械式ベアリング手段を更に含む請求項3に記載のX線管。
  5. 前記ハウジングに取り付けられた固定コンデンサプレートに容量結合するよう、前記環状カソードリングに取り付けられた回転コンデンサプレートを更に含み、この回転コンデンサプレートが、前記環状カソードリングに取り付けた複数の前記電子放出手段を選択する制御手段に電気的に接続され、
    一方前記固定コンデンサプレートがAC電源に電気的に接続されている請求項1に記載のX線管。
  6. 前記ハウジングに取り付けられた固定インダクタに誘導結合されるよう前記環状カソードリングに取り付けられた回転環状インダクタを更に含み、
    この回転環状インダクタが、前記環状カソードリングに取り付けた複数の前記電子放出手段を選択する制御手段に電気的に接続されている請求項1に記載のX線管。
  7. 前記電子放出手段を保持する前記環状カソードリングに取り付けられた支持手段を更に含み、この支持手段が焦点ずれ放射線コリメータ手段およびX線ビームをフィルタ処理するためのフィルタ手段の少なくとも一方を支持し、
    このフィルタ手段およびコリメータ手段が前記電子ビームと共に回転する際、前記フィルタ手段およびコリメータ手段を前記アノードに近接して配置する前記支持手段を有する請求項1に記載のX線管。
  8. 前記カソードアセンブリで、前記高電圧バイアス手段を電気的絶縁するアイソレーショントランスを更に含む請求項1に記載のX線管。
  9. 前記環状カソードリングにより支持された複数の前記電子放出手段と、
    前記電子放出手段と外部電流源とを電気的に結合するための結合手段と、
    前記電子放出手段に供給する電流を選択するための前記環状カソードリングに支持されたスイッチング手段を有す請求項1に記載のX線管。
  10. 前記環状カソードリングと共に回転できるよう取り付けられた複数の磁気制御スイッチである前記スイッチング手段と、
    前記ハウジングに取り付けられた複数の環状電磁石を含み、各環状電磁石は制御磁界を選択的に供給するための磁気制御スイッチであり、前記環状電磁石の成すそれぞれの円状の面を近接して積層した請求項9に記載のX線管。
  11. 前記ハウジングの電位に対して負極の高電圧のバイアスを前記カソードアセンブリにかけるための高電圧源を更に含む請求項1に記載のX線管。
  12. 前記高電圧バイアス手段の前記高電圧カソードと、前記電子受けプレートとの間に、電流制御グリッドを設けた請求項8に記載のX線管。
  13. 前記環状カソードリングの前記高電圧バイアス手段と前記電子放出手段の間の電気接続部を、前記環状カソードリングの他の部分から絶縁するための電気絶縁手段内に更に含む請求項11に記載のX線管。
  14. 前記環状カソードリングの前記高電圧バイアス手段と前記電子放出手段の間の電気接続部を、電気的かつ機械的に接続するための接続端子を有す請求項13に記載のX線管。
  15. 前記電気絶縁手段を第1の電気絶縁手段として、この第1の電気絶縁手段の周囲の、少なくとも一部に2次巻線を巻回すると共に、
    前記2次巻線の一端を前記電子放出手段に接続して、他端を前記高電圧バイアス手段に接続してあり、
    更に、前記2次巻線を囲む位置に第2の電気絶縁手段を配して、前記第2の電気絶縁手段を巻回する1次巻線を更に含む請求項13記載のX線管。
  16. 前記1次巻線が、前記電子放出手段に供給する電流を選択するためのスイッチング手段に接続された請求項15に記載のX線管。
  17. 前記ハウジングに対する前記環状カソードリングの角度位置を表示するエンコードされた信号を発生するための位置エンコーダを更に含む請求項1に記載のX線管。
  18. 前記電子放出手段に隣接して前記環状カソードリングに取り付けられたコリメータおよびフィルタの少なくとも一方を支持するための支持手段を有し、この支持手段が前記電子放出手段と共に回転する請求項1に記載のX線管。
  19. 第2冷却流体通路と熱伝達する前記ハウジングの内部に取り付けられた第2アノード表面と、
    第2アノード表面に衝突する第2電子ビームを選択的に形成するよう前記カソードアセンブリに取り付けられた第2電子放出手段とを更に含む請求項1に記載のX線管。
  20. 第1および第2アノード表面は異なる径の同心状円形環状体である請求項19に記載のX線管。
  21. 前記カソードアセンブリに取り付けられ、前記第1アノード表面に隣接して配置された第1フィルタおよびコリメータアセンブリと、
    前記第2アノード表面に隣接してカソードアセンブリに取り付けられた第2フィルタおよびコリメータアセンブリとを更に含む請求項19に記載のX線管。
  22. 前記カソードアセンブリは前記環状アノードの表面に対向して前記ハウジング内の前記環状カソードリングに配置された複数の電子放出手段を有し、この回転する環状カソードリングに、前記電子放出手段の電子放出をするように選択的にさせるためのスイッチング手段を更に保持する請求項1に記載のX線管。
  23. 前記電子放出手段の各々がゲートグリッドを含み、前記スイッチング手段が電子ビームを前記アノードへの放射を制限するゲートグリッドに選択的にバイアスをかける請求項22に記載のX線管。
  24. 前記電子放出手段の各々によって発生された電子ビームをアノード表面の円弧セグメントに沿って選択的に走査するためのバイアス手段を更に含む請求項23に記載のX線管。
  25. 前記電子放出手段の各々は前記ハウジングから、かつ互いに絶縁されており、前記スイッチング手段は少なくとも一つの選択された前記電子放出手段と前記アノード表面との間のバイアス電圧を選択的にスイッチする請求項22に記載のX線管。
  26. 前記カソードアセンブリは電子ビームを放出するよう通過する電流により加熱されるカソードフィラメントを保持するカソードカップを含み、前記カソードカップが第1電気絶縁体に取り付けられて、
    前記電子ビームを移動するための手段が第1絶縁体を支持する前記環状カソードリングと、前記環状カソードリングを回転させるためのモータ手段を含み、
    前記環状カソードリングがトロイダル状の前記ハウジング内で磁気的に浮揚されて、
    前記カソードフィラメントの一端が前記カソードカップに接続され、前記カソードフィラメントの他端が前記第1絶縁手段の一部のまわりに延びる2次巻線に接続して、
    前記環状カソードリングから絶縁された第1絶縁手段を貫通し、前記カソードカップから高電圧バイアス手段に延びる電気的導通部であって、前記2次巻線が前記電気的導通部に接続して
    前記2次巻線から絶縁される前記第2電気絶縁手段のまわりに巻かれた1次巻線とから成り、前記1次巻線は前記カソードフィラメントを流れる電流を制御するための手段に接続され、よって前記カソードフィラメントを通る電流を制御するための手段が前記カソードフィラメントより絶縁される請求項1に記載のX線管。
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Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5485493A (en) * 1988-10-20 1996-01-16 Picker International, Inc. Multiple detector ring spiral scanner with relatively adjustable helical paths
US5268955A (en) * 1992-01-06 1993-12-07 Picker International, Inc. Ring tube x-ray source
US5438605A (en) * 1992-01-06 1995-08-01 Picker International, Inc. Ring tube x-ray source with active vacuum pumping
JP3256579B2 (ja) * 1992-09-18 2002-02-12 株式会社島津製作所 回転陰極x線管装置
JP3323323B2 (ja) * 1994-04-25 2002-09-09 浜松ホトニクス株式会社 シンチレーションカメラ
US6151384A (en) * 1998-07-14 2000-11-21 Sandia Corporation X-ray tube with magnetic electron steering
US6256364B1 (en) 1998-11-24 2001-07-03 General Electric Company Methods and apparatus for correcting for x-ray beam movement
US6125167A (en) * 1998-11-25 2000-09-26 Picker International, Inc. Rotating anode x-ray tube with multiple simultaneously emitting focal spots
US6229870B1 (en) 1998-11-25 2001-05-08 Picker International, Inc. Multiple fan beam computed tomography system
US6445769B1 (en) 2000-10-25 2002-09-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Internal bearing cooling using forced air
US6542576B2 (en) * 2001-01-22 2003-04-01 Koninklijke Philips Electronics, N.V. X-ray tube for CT applications
US10483077B2 (en) 2003-04-25 2019-11-19 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources having reduced electron scattering
US8094784B2 (en) 2003-04-25 2012-01-10 Rapiscan Systems, Inc. X-ray sources
US9208988B2 (en) 2005-10-25 2015-12-08 Rapiscan Systems, Inc. Graphite backscattered electron shield for use in an X-ray tube
GB0525593D0 (en) 2005-12-16 2006-01-25 Cxr Ltd X-ray tomography inspection systems
GB0812864D0 (en) 2008-07-15 2008-08-20 Cxr Ltd Coolign anode
US8243876B2 (en) 2003-04-25 2012-08-14 Rapiscan Systems, Inc. X-ray scanners
US7068749B2 (en) * 2003-05-19 2006-06-27 General Electric Company Stationary computed tomography system with compact x ray source assembly
JP3909048B2 (ja) * 2003-09-05 2007-04-25 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー X線ct装置およびx線管
US9046465B2 (en) 2011-02-24 2015-06-02 Rapiscan Systems, Inc. Optimization of the source firing pattern for X-ray scanning systems
DE102006037543B4 (de) * 2006-08-10 2009-08-27 Aerolas Gmbh, Aerostatische Lager- Lasertechnik Vorrichtung mit einem direkt angetriebenen Rotationskörper und aerostatisches Lager
US7835486B2 (en) * 2006-08-30 2010-11-16 General Electric Company Acquisition and reconstruction of projection data using a stationary CT geometry
US7702077B2 (en) * 2008-05-19 2010-04-20 General Electric Company Apparatus for a compact HV insulator for x-ray and vacuum tube and method of assembling same
US8008632B2 (en) * 2008-07-24 2011-08-30 Seagate Technology Llc Two-zone ion beam carbon deposition
DE102008034584A1 (de) * 2008-07-24 2010-02-04 Siemens Aktiengesellschaft Röntgen-Computertomograph
GB0816823D0 (en) 2008-09-13 2008-10-22 Cxr Ltd X-ray tubes
GB0901338D0 (en) 2009-01-28 2009-03-11 Cxr Ltd X-Ray tube electron sources
US8269388B2 (en) * 2009-02-02 2012-09-18 Aktiebolaget Skf Magnetic bearing assembly for rotors
US8270563B2 (en) * 2010-02-09 2012-09-18 Aktiebolaget Skf Diagnostic scanning apparatus
CN103235626B (zh) * 2013-02-06 2014-12-31 桂林狮达机电技术工程有限公司 电子束快速成型制造设备加速电源装置及其控制方法
US9538963B2 (en) 2013-03-15 2017-01-10 Aktiebolaget Skf Diagnostic scanning apparatus
CN103997839B (zh) * 2014-06-06 2018-03-30 同方威视技术股份有限公司 一种准直可调制的x射线发生器
CN106486257B (zh) 2014-06-23 2018-05-04 上海联影医疗科技有限公司 高压发生器
DE102014015974B4 (de) * 2014-10-31 2021-11-11 Baker Hughes Digital Solutions Gmbh Anschlusskabel zur Verminderung von überschlagsbedingten transienten elektrischen Signalen zwischen der Beschleunigungsstrecke einer Röntgenröhre sowie einer Hochspannungsquelle
US11404235B2 (en) 2020-02-05 2022-08-02 John Thomas Canazon X-ray tube with distributed filaments
EP3933881A1 (en) 2020-06-30 2022-01-05 VEC Imaging GmbH & Co. KG X-ray source with multiple grids

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4048496A (en) * 1972-05-08 1977-09-13 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
NL7611391A (nl) * 1975-10-18 1977-04-20 Emi Ltd Roentgentoestel.
GB1568782A (en) * 1976-02-28 1980-06-04 Jeol Ltd Apparatus for obtaining an x-ray image of a slice plane of an object
DE2650237C2 (de) * 1976-11-02 1985-05-02 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Röntgendiagnostikgerät zur Herstellung von Transversalschichtbildern
US4122346A (en) * 1977-03-23 1978-10-24 High Voltage Engineering Corporation Optical devices for computed transaxial tomography
DE2729353A1 (de) * 1977-06-29 1979-01-11 Siemens Ag Roentgenroehre mit wanderndem brennfleck
DE2750551C2 (de) * 1977-11-11 1985-11-21 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Computertomograph
US4300051A (en) * 1978-06-29 1981-11-10 Spire Corporation Traveling cathode X-ray source
JPS5546408A (en) * 1978-09-29 1980-04-01 Toshiba Corp X-ray device
DE3043046A1 (de) * 1980-11-14 1982-07-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Drehanoden-roentgenroehre
NL8502533A (nl) * 1985-09-17 1987-04-16 Philips Nv Roentgenscanner met een lineaire electrische aandrijfmotor.
US4821305A (en) * 1986-03-25 1989-04-11 Varian Associates, Inc. Photoelectric X-ray tube
JPS6321040A (ja) * 1986-07-16 1988-01-28 工業技術院長 超高速x線ctスキヤナ
IL88904A0 (en) * 1989-01-06 1989-08-15 Yehuda Elyada X-ray tube apparatus
SU1635090A1 (ru) * 1989-04-25 1991-03-15 Научно-исследовательский институт интроскопии при Томском политехническом институте им.С.М.Кирова Вычислительный томограф
US5067143A (en) * 1989-06-26 1991-11-19 Origin Electric Co., Ltd. Current detecting circuit for X-ray tube
JPH03226950A (ja) * 1990-01-30 1991-10-07 Eruyada Ehuda X線管装置
DE4004013A1 (de) * 1990-02-09 1991-08-14 Siemens Ag Roentgen-drehroehre
US5179583A (en) * 1990-04-30 1993-01-12 Shimadzu Corporation X-ray tube for ct apparatus
EP0455177A3 (en) * 1990-04-30 1992-05-20 Shimadzu Corporation High-speed scan type x-ray generator
DE4015180A1 (de) * 1990-05-11 1991-11-28 Bruker Analytische Messtechnik Roentgen-computer-tomographie-system mit geteiltem detektorring
EP0466956A1 (de) * 1990-07-18 1992-01-22 Siemens Aktiengesellschaft Computertomograph
US5241577A (en) * 1992-01-06 1993-08-31 Picker International, Inc. X-ray tube with bearing slip ring
US5200985A (en) * 1992-01-06 1993-04-06 Picker International, Inc. X-ray tube with capacitively coupled filament drive
US5268955A (en) * 1992-01-06 1993-12-07 Picker International, Inc. Ring tube x-ray source

Also Published As

Publication number Publication date
DE69326496T2 (de) 2000-02-03
JPH0613008A (ja) 1994-01-21
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US5268955A (en) 1993-12-07
EP0564293A1 (en) 1993-10-06
DE69326496D1 (de) 1999-10-28

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