JP3552877B2 - 回路基板 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路基板に関し、詳しくは、高周波回路を構成するとともに、この高周波回路の調整あるいは特性検査等をするための信号の入力用あるいは出力用の導体パタ−ンを設けた回路基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
高周波電子機器の製造においては、製造工程の中で高周波回路を調整したりあるいは高周波回路の特性検査をする工程があり、このような場合には、高周波回路を構成している回路基板上に、この高周波回路に接続された導体ランドを設け、この導体ランドに金属製の接触子を接触させて、接触子を介して高周波回路の調整や特性測定のための信号の授受を行うようにしている。このような場合における従来の構成並びに方法について図5及び図6を参照して説明する。
【0003】
先ず、図5は、回路基板31の一部を示す斜視図であり、この回路基板31上には、図示しない回路パタ−ンとこの回路パタ−ンに接続された図示しない電子部品等によって高周波回路32が構成されている。また、回路基板31上には、高周波回路32に接続された円形状の導体ランド33が形成されている。そして、この導体ランド33と高周波回路32とは、導体パタ−ン34によって相互に接続されている。
また、この回路基板31上には、その周縁に、この回路基板31が、図示しない金属ケ−スに収納さてた場合に、ハンダ等によって金属ケ−スに接続される接地導体35が形成され、さらに、この接地導体35に接続された接地パタ−ン36と、この接地パタ−ン36の先端に設けられた円形状の接地ランド37とが形成されている。なお、、高周波回路32に接続された導体ランド33と接地導体35に接続された接地ランド37とは相互に近接して設けられている。そして、図示しない測定器等からの信号が、導体ランド33、導体パタ−ン34を介して高周波回路32に入力されるようになっている。
【0004】
一方、図6は、回路基板31上の導体ランド33と接地ランド37に接触する接触治具38を示す。接触治具38は、絶縁基板39と、この絶縁基板39に植設された金属製の一対の接触ピン40、41とを有している。接触ピン40、41の一端(図6の下方側である先端)は先細となっており、他端には、図示はしないが、測定器等からのケ−ブルが接続されている。即ち、図示しないケ−ブルの中心導体が接触ピン41に、また、ケ−ブルの外導体が接触ピン40に接続されている。
【0005】
そして、この接触治具38は図示しない昇降手段等によって回路基板31上に降下して接触ピン40が回路基板31上の接地ランド37に接触し、また、接触ピン41が導体ランド33に接触するようになっている。このように、接触ピン40、41をそれぞれ接地ランド37、導体ランド33に接触することによって、図示しない測定器等からの信号が回路基板31上の高周波回路32に送られるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような従来の回路基板33においては、導体ランド33と接地ランド37とは、単に並設された状態であり、従って、これらの導体ランド33と接地ランド37に接触する接触ピン40、41も接触治具38の絶縁基板39に並列に植設された状態となっている。そのため、図示しないケ−ブルと接触治具との接続点から高周波回路32までの信号伝送経路、即ち、接触治具38の接触ピン40および41、接地ランド37および導体ランド33、 導体パタ−ン33および接地パタ−ン36のそれぞれにおける信号伝送経路としての特性インピ−ダンスが、図示しないケ−ブルの特性インピ−ダンスに整合もしくは近づけることが難しかった。その結果、図示しない測定器からの信号が導体ランド33等において反射されて、高周波回路に正確な信号のレベルが入力されなかったり、あるいは、高周波回路からの出力信号のレベルが変化した状態で図示しない測定器等に送られたりして正確な調整や検査が出来ないという問題が生じていた。この問題は周波数が高くなるほど顕著となるものである。
そこで、本発明は、回路基板における、測定器からの信号の伝送経路の特性インピ−ダンスを所定の値、例えば、ケ−ブルの特性インピ−ダンスに整合させ、あるいは近づけることができるようにし、高周波回路の調整や検査のための測定が高い周波数まで誤差なくできるようにするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明の回路基板は、高周波回路が構成されるとともに、接地導体と、前記高周波回路に接続された測定用信号導入出用の測定用の導体ランドとが形成されており、前記接地導体に円形状の導体除去部を形成し、測定用の前記導体ランドが前記導体除去部のほぼ中心位置に設けられ、前記導体ランドが前記測定用信号導入端、或いは、前記測定用信号導出端として形成された。
【0008】
また、本発明の回路基板は、前記高周波回路と、前記高周波回路に接続された導体パタ−ンとを前記回路基板の一方の面に設け、前記接地導体と前記導体ランドとを前記回路基板の他方の面に形成し、前記導体パタ−ンを、前記接地導体に対向させるとともに前記導体ランドに接続した。
【0009】
また、本発明の回路基板は、前記接地導体に接続されるとともに、前記円形状の導体除去部を中心に有するリング状の接地導体部を設け、前記導体除去部のほぼ中心に前記導体ランドを設けた。
【0010】
また、本発明の回路基板は、前記リング状の接地導体部に、前記導体パタ−ンで前記リング状の接地導体部を分断する第二の導体除去部を形成し、前記導体パタ−ンを前記第二の導体除去部に配置した。
【0011】
また、本発明の回路基板は、前記導体パタ−ンに近接するとともに、前記導体パタ−ンに沿って前記リング状の接地導体部から延在した平行接地導体部を形成した。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の回路基板の実施の形態を図1乃至図4により説明する。先ず、図1は本発明の回路基板の一部の斜視図であり、回路基板1の上面には、この回路基板1が、図示しない金属ケ−スに収納された場合に、ハンダ等によって金属ケ−スに接続される接地導体2がほぼ全面にわたって形成され、一方、この回路基板1の裏面には高周波回路3が構成されている。また、回路基板1の上面には、高周波回路3が構成されている領域の近傍の位置に、この接地導体2の一部を除去した円形状の導体除去部4が形成され、さらに、この導体除去部4のほぼ中心位置に、島状の導体ランド5が形成されている。そして、この導体ランド5と高周波回路3とは、回路基板1の裏面に形成した導体パタ−ン6によって相互に接続されている。なお、導体ランド5と導体パタ−ン6とは、例えば、スル−ホ−ルメッキにより接続される。
【0013】
ここで、本発明の回路基板1における導体ランド5に接触する接触治具について、図2により説明する。接触治具11は、同軸コネクタ12に接触子13を接続して構成されている。先ず、同軸コネクタ12は外導体14、誘電体15、中心導体16とが同軸構造となって構成されており、外導体14にはネジ部14aが形成されている。
一方、接触子13は、円筒形の金属管からなる外導体17の内部に、絶縁体18によって外導体17から絶縁した中心導体19を同軸的に収納することによって構成されている。このため、接触子13は、同軸コネクタとともに、いわゆる同軸ケ−ブルと同じ構成になり、その特性インピ−ダンスは外導体17、絶縁体18、中心導体19の機械的寸法等によって決定されることになる。
【0014】
ここで、中心導体19は、金属管20と、この金属管20内に摺動自在に収納された、金属ピン21およびコイルバネ22とから構成されている。そして、金属ピン21は、コイルバネ22によって先端方向に付勢されるとともに適宜手段によって抜け止めされている。また、金属ピン21の先端を外導体17よりも軸方向に突出させている。
そして、接触子13は、金属ピン21が突出する側とは反対側の端部が同軸コネクタ12の外導体14内に挿入され、同軸コネクタ12の外導体14と接触子13の外導体17、および同軸コネクタ12の内導体16と接触子13の内導体19とが、適宜手段、例えば、ハンダ23等によって相互に固定され接触治具11が構成されている。
【0015】
従って、本発明の回路基板1においては、図1に示すように、接地導体2に円形状の導体除去部4を形成して、この導体除去部4の中心に導体ランド5を形成したので、図2に示すような同軸型の接触治具11を使用することが可能となる。ここで、接触治具11における接触子13の外導体17の径は、回路基板1の接地導体2における導体除去部4の径よりも若干大きくなっている。そして、接触治具11の金属ピン21の先端を、例えば、図1の導体ランド5に当接させ、さらに、接続治具11を回路基板1側に押すことによって金属ピン21がコイルバネ22の付勢力に抗して摺動し、接触子13の外導体17の先端17aを接地導体2に当接させることが出来る。
【0016】
また、この接触治具11に接触する接地導体2と導体ランド5も、いわゆる同軸的な配置となり、しかも、導体ランド5と高周波回路3とを接続する導体パタ−ン6は、接地導体2に対向して回路基板1の裏面に形成されているので、いわゆるマイクロストリップライン構造となり、接触治具11から高周波回路3までの信号伝送経路の特性インピ−ダンスを、図示しない同軸ケ−ブルの特性インピ−ダンスに比較的近づけたものとすることができる。
【0017】
従って、図示しない測定器からの信号が回路基板1の導体ランド5等において反射することがなく高周波回路3の正確な測定等が可能となる。
さらに、図示しない測定器からの同軸ケ−ブルをこの接続治具11の同軸コネクタ12のネジ部14aに適宜の手段で螺合することが可能であるので接触治具11と図示しない同軸ケ−ブルとの接続も簡単になる。
また、導体ランド5と高周波回路3とを接続する導体パタ−ン6は裏面に設けられるので、接地導体2とは関係なく短くできる。
【0018】
なお、図1に示す回路基板1においては、接地導体2を上面全体にわたって形成し、この接地導体2の導体除去部4の中心に導体ランド5を形成したが、必ずしもその必要はなく、図3に示すように、回路基板1の上面の一部に、図示しない金属ケ−スとの接続用の接地導体7を形成し、この接地導体7に接続されるとともに、中心に導体除去部4を有し、前記接地導体7の一部となるリング状の接地導体部25を形成し、導体除去部4に中心に導体ランド5を設けてもよい。この場合においても、接触治具11における接触子13の金属ピン21を導体ランド5に接触させるとともに、接触子13の外導体17をリング状の接地導体部25に接触させることができ、図1の回路基板と同様に、接触治具11に接触するリング状の接地導体部25と導体ランド5が、いわゆる同軸的な配置となっており、しかも、導体ランド5と高周波回路3とを接続する導体パタ−ン6が、いわゆるマイクロストリップライン構造となっているので、接触治具11から高周波回路3までの信号伝送経路の特性インピ−ダンスを、図示しない同軸ケ−ブルの特性インピ−ダンスに比較的近づけたものとすることができる。
【0019】
図3に示す回路基板1の場合では、上面に形成した接地導体7の面積が少なくなっているので、この接地導体7を形成した領域以外に、他の高周波回路等を形成できるので、高周波電子機器の小型化に寄与する。
【0020】
図1および図3における回路基板1では、導体ランド5およびこの導体ランド5を囲む接地導体2またはリング状の接地導体部25を形成した面とは反対の面に、高周波回路3を構成しているが、図4に示すように、導体ランド5およびこの導体ランド5を囲む接地導体部26と、高周波回路3とを同一面に形成した場合においても本発明の回路基板1の実施が可能である。即ち、図4に示すように、先ず、回路基板1の上面の一部に、図示しない金属ケ−スとの接続用の接地導体7を形成し、中心に導体除去部4を有して、接地導体7に接続されるとともに前記接地導体7の一部となるリング状の接地導体部26を形成し、導体除去部4の中心に導体ランド5を設ける。そして、このリング状の接地導体部26の一部に、このリング状の接地導体部26を分断する第二の導体除去部27を形成し、導体ランド5と高周波回路3とを接続する導体パタ−ン6をこの第二の導体除去部27に配設するようにする。従って、リング状の接地導体部26は、導体パタ−ンによって分断されるようになっている。
【0021】
一方、高周波回路3は、導体ランド5およびこの導体ランド5を囲むリング状の接地導体部26が形成された面と同一面に構成する。そして、前述したように、導体ランド5と高周波回路3とを、リング状の接地導体部26に形成した導体除去部27に配設した導体パタ−ン6によって接続するようにする。このようにすることによって、回路基板1は、いわゆる片面銅張積層基板を使用することができる。
【0022】
なお、図4に示した回路基板1において、導体ランド5と高周波回路3とを接続する導体パタ−ン6に近接するとともに、この導体パタ−ン6の両側に沿って、リング状の接地導体部26を延在して形成した平行接地導体部28を設けることができる。このようにすると、導体パタ−ン6と平行接地導体部28とはいわゆる平行二線型の伝送線路となり導体パタ−ン6と平行接地導体部28との間隔等の設定によってこの導体パタ−ンの特性インピ−ダンスを所定の値に設定可能となる。従って、導体パタ−ン6の特性インピ−ダンスを、例えば、図示しない同軸ケ−ブルの特性インピ−ダンスに近づけることが可能となり、高周波回路3の特性測定において、測定誤差を少なくすることができる。
【0023】
【発明の効果】
以上のように、本発明の回路基板は、高周波回路が構成されるとともに、接地導体と、前記高周波回路に接続された信号導入出用の導体ランドとが形成されており、前記接地導体に円形状の導体除去部を形成し、前記導体ランドを前記導体除去部のほぼ中心位置に設けたので、この導体ランドと接地導体とは同軸的に配置され、これらの導体ランドと接地導体に接続する接触子に同軸型の接触子を用いることができる、従って、測定用の信号の伝送経路の特性インピ−ダンスを所定の値にあわせることができ、高周波回路の測定時に信号の反射を抑えて正確な測定が可能となる。
【0024】
また、本発明の回路基板は、前記高周波回路と、前記高周波回路に接続された導体パタ−ンとを前記回路基板の一方の面に設け、前記接地導体と前記導体ランドとを前記回路基板の他方の面に形成し、前記導体パタ−ンを、前記接地導体に対向させるとともに前記導体ランドに接続したので、導体ランドと高周波回路とを接続する導体パタ−ンを短くできて、接地導体の配置に関係なく最短距離で接続ができる。従って導体ランドと高周波回路回路とを接続する導体パタ−ンにおけるインピ−ダンスを無視できて、この導体パタ−ンにおける特性インピ−ダンスによる測定ようの信号の反射をなくすことができる。
【0025】
また、本発明の回路基板は、前記接地導体に接続されるとともに、前記円形状の導体除去部を中心に有するリング状の接地導体部を設け、前記導体除去部のほぼ中心に前記導体ランドを設けたので、接地導体の占める面積を少なくすることができ、その分、他の回路を余分に構成できる。
【0026】
また、本発明の回路基板は、前記リング状の接地導体部に、前記導体パタ−ンで前記リング状の接地導体部を分断する第二の導体除去部を形成し、前記導体パタ−ンを前記第二の導体除去部に配置したので、高周波回路と導体ランドとリング状の接地導体とを、回路基板の同一面に形成することができる。従って、回路基板には、いわゆる片面銅張積層基板を使用することができる。
【0027】
また、本発明の回路基板は、前記導体パタ−ンに近接するとともに、前記導体パタ−ンに沿って前記リング状の接地導体部から延在した平行接地導体部を形成したので、導体パタ−ンにおいても特性インピ−ダンスを所定の値に設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の回路基板の斜視図である。
【図2】本発明の回路基板の測定等に使用する接触治具の側面図である。
【図3】本発明の回路基板における他の実施の形態の斜視図である。
【図4】本発明の回路基板における他の実施の形態の斜視図である。
【図5】本発明の従来の回路基板の斜視図である。
【図6】従来の回路基板の測定等に使用する接触治具の断面図である。
【符号の説明】
1 回路基板
2、7 接地導体
3 高周波回路
4 導体除去部
5 導体ランド
6 導体パタ−ン
11 接触治具
12 同軸コネクタ
13 接触子
14、17 外導体
14a ネジ部
15、18 絶縁体
16、19 内導体
20 金属管
21 金属ピン
22 コイルバネ
25、26 リング状の接地導体
27 第二の導体除去部
28 平行接地導体
Claims (5)
- 高周波回路が構成されるとともに、接地導体と、前記高周波回路に接続された測定用信号導入出用の測定用の導体ランドとが形成されており、前記接地導体に円形状の導体除去部を形成し、測定用の前記導体ランドが前記導体除去部のほぼ中心位置に設けられ、前記導体ランドが前記測定用信号導入端、或いは、前記測定用信号導出端として形成されたことを特徴とする回路基板。
- 前記高周波回路と、前記高周波回路に接続された導体パタ−ンとを前記回路基板の一方の面に設け、前記接地導体と前記導体ランドとを前記回路基板の他方の面に形成し、前記導体パタ−ンを、前記接地導体に対向させるとともに前記導体ランドに接続したことを特徴とする請求項1記載の回路基板。
- 前記接地導体に接続されるとともに、前記円形状の導体除去部を中心に有するリング状の接地導体部を設け、前記導体除去部のほぼ中心に前記導体ランドを設けたことを特徴とする請求項1または2記載の回路基板。
- 前記リング状の接地導体部に 、 前記リング状の接地導体部を分断する第二の導体除去部を形成し、前記導体パターンを前記第二の導体除去部に配置したことを特徴とする請求項3記載の回路基板
- 前記導体パタ−ンに近接するとともに、前記導体パタ−ンに沿って前記リング状の接地導体部から延在した平行接地導体部を形成したことを特徴とする請求項4記載の回路基板。
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