JP3534208B2 - ポジ型フォトレジスト組成物 - Google Patents

ポジ型フォトレジスト組成物

Info

Publication number
JP3534208B2
JP3534208B2 JP16752995A JP16752995A JP3534208B2 JP 3534208 B2 JP3534208 B2 JP 3534208B2 JP 16752995 A JP16752995 A JP 16752995A JP 16752995 A JP16752995 A JP 16752995A JP 3534208 B2 JP3534208 B2 JP 3534208B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
mol
bis
cresol
less
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP16752995A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0915851A (ja
Inventor
史郎 丹
保雅 河辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP16752995A priority Critical patent/JP3534208B2/ja
Publication of JPH0915851A publication Critical patent/JPH0915851A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3534208B2 publication Critical patent/JP3534208B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は輻射線に感応するポ
ジ型フォトレジスト組成物に関するものであり、特に高
い解像力、広いデフォーカスラチチュード、高耐熱性を
備え、更にドライエッチング耐性を付与するためのDe
ep UV硬化性に富んだ微細加工用フォトレジスト組
成物に関するものである。 【0002】本発明に成るポジ型フォトレジスト組成物
は、半導体ウエハー、ガラス、セラミツクスもしくは金
属等の基板上にスピン塗布法もしくはローラー塗布法で
0.5〜3μmの厚みに塗布される。その後、加熱、乾
燥し、露光マスクを介して回路パターン等を紫外線照射
等により焼き付け、現像してポジ画像が形成される。更
にこのポジ画像をマスクとしてエツチングすることによ
り、基板上にパターンの加工を施すことができる。代表
的な応用分野にはIC等の半導体製造工程、液晶、サー
マルヘツド等の回路基板の製造、その他のフォトファブ
リケーション工程等がある。 【0003】 【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂(例えばノボラック樹脂)と
感光物としてのナフトキノンジアジド化合物とを含む組
成物が用いられている。感光物に用いるナフトキノンジ
アジド化合物は、それ自身ノボラツク樹脂のアルカリ溶
解性を低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照
射を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむし
ろノボラツク樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする
点で特異であり、この光に対する大きな性質変化の故に
ポジ型フォトレジストの感光物として特に有用である。 【0004】また、結合剤としてのノボラツク樹脂は、
膨潤することなくアルカリ水溶液に溶解可能であり、ま
た生成した画像をエツチングのマスクとして使用する際
に特にプラズマエツチングに対して高い耐性を与えるが
故に本用途に特に有用である。例えば、「ノボラツク型
フエノール樹脂/ナフトキノンジアジド置換化合物」と
してUSP−3, 666, 473号、USP−4, 11
5, 128号及びUSP−4, 173, 470号等に、
また最も典型的な組成物として「クレゾールーホルムア
ルデヒドより成るノボラツク樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフエノンー1, 2ーナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクシヨン・ト
ウー・マイクロリソグラフイー」 (L. F. Thomp
son「Introduction to Micro
lithography」) (ACS出版、No.21
9号、P112〜121)に記載されている。 【0005】また、特開平6−242601号公報に
は、ノボラック樹脂としてフェノール性化合物(フェノ
ール、m−/p−クレゾール、キシレノール)と、芳香
族アルデヒド(ベンズアルデヒド、ヒドロキシベンズア
ルデヒド)を含むアルデヒド類とを酸触媒の存在下で反
応させて得られる低分子量を単離せずに、更にフェノー
ル類及びホルムアルデヒドと縮合させて得られるノボラ
ック樹脂が記載されている。そして、このノボラック樹
脂にo−ナフトキノンジアジド化合物を含有させること
により、解像度、プロファイル、感度、焦点深度及び耐
熱性等の諸特性のバランスに優れ、しかもスカムのない
感光性樹脂組成物が得られることが記載されている。 【0006】また、USP−5, 266, 440号に
は、芳香族アルデヒド類(ベンズアルデヒド、サリシル
アルデヒド)と、フェノール類(フェノール、m−/p
−クレゾール、キシレノール、ナフトール、ビスフェノ
ール)と、必要に応じてホルムアルデヒドとの縮合物か
らなるノボラック樹脂に、o−キノンジアジド化合物を
含有させたフォトレジスト組成物が記載されている。こ
のフォトレジスト組成物は、耐熱性に優れるという特性
を有する。 【0007】また、特開平2−84414号公報には、
ノボラック樹脂として、フェノール性化合物(フェノー
ル、m−/p−クレゾール)、ホルムアルデヒド及びモ
ノヒドロキシ芳香族アルデヒドからなるノボラック樹脂
が記載されている。そして、ホルムアルデヒド及びモノ
ヒドロキシ芳香族アルデヒドを含むアルデヒドの混合物
からノボラック樹脂が調製されることにより、耐熱性、
高解像力を有するポジ型感光性レジストが得られること
が記載されている。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】しかし、超LSIなど
の半導体基板の製造においては1μm以下の線幅から成
る超微細パターンの加工が必要とされる。かかる用途に
おいては、特に高い解像力、デフォーカスラチチュード
が広く高耐熱性、露光マスクの形状を正確に写しとる高
いパターン形状再現精度及び高生産性の観点からの高感
度を有するフォトレジストが要求され、従来の上記ポジ
型フォトレジストでは対応できないのが実状である。 【0009】また、近年、スループット向上の観点から
より厳しいドライエッチング条件が用いられるに至り、
露光・アルカリ溶液現像して得られたレジストパターン
を更に加熱しつつ遠紫外線を照射して硬化せしめる「D
eep UV硬化法」が適用される傾向にある(例え
ば、遠藤政孝等、「ポジ型フォトレジストの遠紫外線照
射効果とそのリソグラフィーへの応用」;高分子論文
集、Vol.45、No.10、pp.771−776
(Oct.1988))。しかしながら、上記に挙げた
ような従来のフェノール、クレゾール、キシレノール主
体のノボラック樹脂や、単に芳香族アルデヒドを用いて
共縮合させたノボラック樹脂では、DeepUVによる
硬化が不十分であった。 【0010】従って本発明の目的とする所は、特に半導
体デバイスの製造において、(1)高い解像力を有する
ポジ型フォトレジスト組成物、(2)広いデフォーカス
ラチチユードを有するポジ型フォトレジスト組成物、
(3)得られるレジスト像が耐熱性に優れるポジ型フォ
トレジスト組成物、(4)Deep UV硬化性に富ん
だポジ型フォトレジスト組成物を提供することにある。 【0011】 【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、特定のアルカリ可溶性ノ
ボラック樹脂とキノンジアジド化合物を用いることによ
り、上記目的を達成できることを見いだし、この知見に
基づいて本発明を完成させるに到った。 【0012】即ち、本発明の目的は、下記構成により達
成することができる。 (1) 下記一般式(1)で示されるフェノール化合物
と、ホルムアルデヒドおよび下記一般式(2)で示され
る芳香族アルデヒドを縮合させて得られるアルカリ可溶
性樹脂と、1,2−キノンジアジド化合物を含むことを
特徴とするポジ型フォトレジスト組成物。 【0013】 【化2】 【0014】ここで、 R1〜R3:同一でも異なっても良く、水素原子、水酸
基、ハロゲン原子、アルキル基、シクロアルキル基、ア
ルコキシ基、アルケニル基、アリール基、アラルキル
基、アルコキシカルボニル基もしくはアリールカルボニ
ル基、 R4〜R8:同一でも異なっても良く、水素原子、水酸
基、ホルミル基、ハロゲン原子、アルキル基、シクロア
ルキル基、アルコキシ基、アルケニル基、アリール基、
アラルキル基、互いに環を形成してなるアルキレンジオ
キシ基、ただし、R4〜R8のうち少なくとも2つは互い
に環を形成してなるアルキレンジオキシ基である。 【0015】即ち、本発明は、アルカリ可溶性樹脂とし
て、下記一般式(1)で示されるフェノール化合物と、
ホルムアルデヒド及び一般式(2)で示される芳香族ア
ルデヒド化合物とを縮合して得られるアルカリ可溶性樹
脂を用いることにより、高い解像力及び広いデフォーカ
スラチチュード、高耐熱性を有するとともに、ドライエ
ッチング耐性を付与するためのDeepUV硬化性に優れた
ポジ型フォトレジストを提供することができる。 【0016】本発明に係るポジ型フォトレジスト組成物
は、特に耐熱性が要求されるドライエッチング処理に好
適に使用可能である。 【0017】以下、本発明を詳細に説明する。 【0018】上記一般式(1)のR1〜R3において、ハ
ロゲン原子としては塩素原子、臭素原子もしくは沃素原
子が好ましく、塩素原子がより好ましい。アルキル基と
してはメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル
基、イソブチル基、sec−ブチル基もしくはt−ブチ
ル基の様な炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、メチ
ル基が感度の点でより好ましい。シクロアルキル基とし
ては、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘ
プチル基、シクロオクチル基が好ましく、シクロヘキシ
ル基がより好ましい。アルコキシ基としてはメトキシ
基、エトキシ基、ヒドロキシエトキシ基、プロポキシ
基、ヒドロキシプロポキシ基、イソプロポキシ基、n−
ブトキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキシ基もし
くはt−ブトキシ基の様な炭素数1〜4のアルコキシ基
が好ましく、メトキシ基及びエトキシ基がより好まし
い。アルケニル基としてはビニル基、プロペニル基、ア
リル基もしくはブテニル基のような炭素数2〜4のアル
ケニル基が好ましく、ビニル基及びアリル基がより好ま
しい。アリール基としてはフェニル基、キシリル基、ト
ルイル基もしくはクメニル基が好ましく、フェニル基が
より好ましい。アラルキル基としてはベンジル基、フェ
ネチル基もしくはクミル基が好ましく、ベンジル基がよ
り好ましい。アルコキシカルボニル基としてはメトキシ
カルボニル基もしくはエトキシカルボニル基が好まし
く、メトキシカルボニル基がより好ましい。アリールカ
ルボニル基としてはベンゾイルオキシ基が好ましい。 【0019】また、R1〜R3は同一でもよく、異なって
いてもよい。更に、各置換基の置換位置も特に限定され
ない。 【0020】上記一般式(1)で示されるフェノール類
のより具体的な例としては、フェノール、o−クレゾー
ル、m−クレゾール、p−クレゾール等のクレゾール
類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、
3,4−キシレノール、2,4−キシレノール、2,6
−キシレノール等のキシレノール類、o−エチルフェノ
ール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、
p−t−ブチルフェノール等のアルキルフェノール類、
o−メトキシフェノール、m−メトキシフェノール、p
−メトキシフェノール、o−エキトシフェノール、m−
エキトシフェノール、p−エキトシフェノール、3,5
−ジメトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフ
ェノール、o−プロポキシフェノール、m−プロポキシ
フェノール、p−プロポキシフェノール、o−ブトキシ
フェノール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフ
ェノール等のアルコキシフェノール類、o−ビニルフェ
ノール、m−ビニルフェノール、p−ビニルフェノー
ル、o−アリルフェノール、m−アリルフェノール、p
−アリルフェノール等のアルケニルフェノール類、2,
3,5−トリメチルフェノール、3,4,5−トリメチ
ルフェノール、2,3,6−トリメチルフェノール等の
トリメチルフェノール類、o−フェニルフェノール、m
−フェニルフェノール、p−フェニルフェノール等のア
リールフェノール類、o−ベンジルフェノール、m−ベ
ンジルフェノール、p−ベンジルフェノール等のアラル
キルフェノール類、o−メトキシカルボニルフェノー
ル、m−メトキシカルボニルフェノール、p−メトキシ
カルボニルフェノール等のアルコキシカルボニルフェノ
ール類、o−ベンゾイルオキシフェノール、m−ベンゾ
イルオキシフェノール、p−ベンゾイルオキシフェノー
ル等のアリールカルボニルフェノール類、o−クロロフ
ェノール、m−クロロフェノール、p−クロロフェノー
ル等のハロゲン化フェノール類、カテコール、レゾルシ
ノール、ヒドロキノン、フロログルシノール、ピロガロ
ール等のポリヒドロキシベンゼン類等を示すことができ
るがこれらに限定されるものではない。 【0021】また、フェノール類のメチロール化物、例
えばビスヒドロキシメチル−p−クレゾール等を用いる
こともできる。 【0022】これらの中で、フェノール、クレゾール
類、キシレノール類、トリメチルフェノール類が好まし
く、m−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾー
ル、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、
3,5−キシレノール、2,6−キシレノール、3,4
−キシレノール、2,3,5−トリメチルフェノールが
より好ましい。 【0023】更に、一般式(1)のフェノール化合物と
しては、2,3−キシレノール又は3,5−キシレノー
ルと他のフェノール化合物との併用が好ましい。また例
えば、特開平5−181270号、特開平5−3236
04号、特開平5−249666号、特開平5−232
696号、特開昭60−164740号、特開平5−3
23605号、特開平4−226458号、特開平5−
188590号及び特開平7−72623号等各公報に
記載されている2〜5個の芳香環を有するポリフェノー
ル類と併用することができる。さらに2,2′−ジヒド
ロキシ−5,5′−ジメチルジフェニルメタンを好適に
用いることができる。 上記キシレノール又はこれらポ
リフェノール類の併用比率は、一般式(1)のフェノー
ル化合物に対して30モル%以下、好ましくは20モル
%以下であることが好ましい。 【0024】上記一般式(2)のR4〜R8において、ハ
ロゲン原子としては塩素原子、臭素原子もしくは沃素原
子が好ましく、塩素原子がより好ましい。アルキル基と
してはメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル
基、イソブチル基、sec−ブチル基もしくはt−ブチ
ル基の様な炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、メチ
ル基が感度の点でより好ましい。シクロアルキル基とし
ては、シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘ
プチル基、シクロオクチル基が好ましく、シクロヘキシ
ル基がより好ましい。アルコキシ基としてはメトキシ
基、エトキシ基、ヒドロキシエトキシ基、プロポキシ
基、ヒドロキシプロポキシ基、イソプロポキシ基、n−
ブトキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキシ基もし
くはt−ブトキシ基の様な炭素数1〜4のアルコキシ基
が好ましく、メトキシ基及びエトキシ基がより好まし
い。アルケニル基としてはビニル基、プロペニル基、ア
リル基もしくはブテニル基の様な炭素数2〜4のアルケ
ニル基が好ましく、ビニル基及びアリル基がより好まし
い。アリール基としてはフェニル基、キシリル基、トル
イル基もしくはクメニル基が好ましく、フェニル基がよ
り好ましい。アラルキル基としてはベンジル基、フェネ
チル基もしくはクミル基が好ましく、ベンジル基がより
好ましい。互いに環を形成してなるアルキレンジオキシ
基としては、メチレンジオキシ基、エチレンジオキシ基
が好ましい。但し、R4〜R8のうち少なくとも2つは互
いに環を形成してなるアルキレンジオキシ基である必要
がある。なお置換位置は特に制限されない。 【0025】一般式(2)で示される芳香族アルデヒド
類のより具体的な例を以下に示すが、本発明において使
用できる化合物はこれらに限定される訳ではない。 【0026】 【化3】 【0027】一般式(1)で示されるフェノール類と、
ホルムアルデヒド、一般式(2)で示される芳香族アル
デヒド類との混合比率は、本発明の効果を十分に発揮す
るために必要な量の芳香族アルデヒド類を用いれば良
く、特に限定されないが、一般式(1)のフェノール類
100モル%に対して芳香族アルデヒドは40モル%以
下であることが好ましく、0.1〜30モル%未満がさ
らに好ましい。 【0028】本発明の効果を十分に発揮するフェノール
類混合物と一般式(2)で示される芳香族アルデヒド類
との特に好ましい組み合わせと、その好ましい混合比を
以下に示す。 m−クレゾール ; 30モル%以上 90モル%未満 2,3−キシレノール; 10モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 0.1モル%以上 40モル%未満 より好ましくは、 m−クレゾール ; 30モル%以上 80モル%未満 2,3−キシレノール; 20モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 1モル%以上 30モル%未満 または、 m−クレゾール ; 30モル%以上 90モル%未満 3,5−キシレノール; 10モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 0.1モル%以上 40モル%未満 より好ましくは、 m−クレゾール ; 30モル%以上 80モル%未満 3,5−キシレノール; 20モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 1モル%以上 30モル%未満 または、 m−クレゾール ; 30モル%以上 90モル%未満 p−クレゾール ; 1モル%以上 5モル%未満 2,3−キシレノール; 10モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 0.1モル%以上 40モル%未満 より好ましくは、 m−クレゾール ; 30モル%以上 80モル%未満 p−クレゾール ; 1モル%以上 5モル%未満 2,3−キシレノール; 20モル%以上 70モル%未満 芳香族アルデヒド ; 1モル%以上 30モル%未満 また、m−クレゾールを含まない系としては、以下に示
す組み合わせが好ましい。 【0029】 2,2′−ジヒドロキシ−5,5′−ジメチルジフェニルメタン; 1モル%以上 30モル%未満 o−クレゾール ; 1モル%以上 20モル%未満 2,3−キシレノール; 40モル%以上 80モル%未満 2,6−キシレノール; 3モル%以上 20モル%未満 2,3,5−トリメチルフェノール; 5モル%以上 40モル%未満 芳香族アルデヒド類 ; 1モル%以上 30モル%未満 より好ましくは 2,2′−ジヒドロキシ−5,5′−ジメチルジフェニルメタン; 3モル%以上 20モル%未満 o−クレゾール ; 1モル%以上 10モル%未満 2,3−キシレノール; 40モル%以上 80モル%未満 2,6−キシレノール; 3モル%以上 20モル%未満 2,3,5−トリメチルフェノール; 5モル%以上 30モル%未満 芳香族アルデヒド類 ; 1モル%以上 20モル%未満 【0030】本発明においては、更にホルムアルデヒド
を必須成分として含み、その使用量は、一般式(1)で
示されるフェノール類100モル%に対して20〜15
0モル%であることが好ましく、50〜120モル%が
更に好ましい。尚、ホルムアルデヒドはホルムアルデヒ
ド前駆体、即ち、パラホルムアルデヒド、トリオキサン
等の形態で用いることもできる。更に第3成分として、
アセトアルデヒド、フルフラール、ベンズアルデヒド、
ヒドロキシベンズアルデヒド類、クロトンアルデヒド、
クロロアセトアルデヒド等を使用することもできる。 【0031】縮合反応に用いる酸性触媒としては塩酸、
硫酸、ギ酸、酢酸、p−トルエンスルホン酸及びシユウ
酸等を使用することができ、中でもシュウ酸およびp−
トルエンスルホン酸が好ましい。また、これらを併用し
て用いることもできる。 【0032】本発明の上記成分からなるノボラツク樹脂
の重量平均分子量は、3000〜20000、好ましく
は4000〜18000、より好ましくは5000〜1
6000の範囲であることが好ましい。3000未満で
は未露光部の現像後の膜減りが大きく、20000を超
えると現像速度が小さくなって感度が低下してしまう。
本発明のノボラック樹脂は低分子量成分を除去し、除去
した後の分子量が上記範囲にあるとき、最も効果を発揮
する。ノボラック樹脂の低分子量成分の除去方法として
は、特開昭60−45238、同60−97347、同
60−140235、同60−189739、同64−
14229、特開平1−276131、同2−6091
5、同2−275955、同2−282745、同4−
101147、同、4−122938等の公報に記載さ
れている技術、例えば分別沈澱、分別溶解、カラムクロ
マトグラフィー等の方法により除去すると、スカム、耐
熱性等の性能が向上するので更に好ましい。除去する低
分子量成分の量は20重量%〜70重量%が好ましく、
30重量%〜60重量%が更に好ましい。 【0033】ここで、重量平均分子量はゲルパーミエー
シヨンクロマトグラフイー(GPC) のポリスチレン換算値
をもって定義される。また、ノボラック樹脂の分散度
(重量平均分子量Mwと数平均分子量Mnの比、即ちM
w/Mn)は1.5〜4.0、好ましくは1.8〜3.
5、更に好ましくは2.0〜3.3である。4を越える
と感度、耐熱性、プロファイル等の性能が損なわれる。
他方、1.5未満ではノボラック樹脂を合成する上で高
度の精製工程を要するので、実用上の現実性を欠き不適
切である。 【0034】併用可能なアルカリ可溶性樹脂は、ノボラ
ック樹脂と相溶すれば特に限定されないが、ポリヒドロ
キシスチレン、アセトン−ピロガロール樹脂、アセトン
−レゾルシン樹脂等が耐熱性を劣化させないので好まし
い。 【0035】本発明では、感光物として1,2−キノン
ジアジド化合物、特に1,2−ナフトキノンジアジドス
ルホニルエステル類を用いるが、これらは、以下に示す
ポリヒドロキシ化合物と1,2−ナフトキノンジアジド
−5− (及び/又は−4−)スルホニルクロリドとを、
塩基性触媒の存在下で、エステル化することにより得ら
れる。 【0036】ポリヒドロキシ化合物の例としては、2,
3, 4−トリヒドロキシベンゾフエノン、2, 4, 4'
−トリヒドロキシベンゾフエノン、2, 4, 6−トリヒ
ドロキシベンゾフエノン、2, 3, 4−トリヒドロキシ
−2' −メチルベンゾフエノン、2, 3, 4, 4' −テ
トラヒドロキシベンゾフエノン、2, 2',4, 4' −テ
トラヒドロキシベンゾフエノン、2, 4, 6, 3',4'
−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2, 3, 4, 2',
4' −ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,3, 4,
2',5' −ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2, 4,
6, 3',4',5' −ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、
2, 3, 4, 3',4',5' −ヘキサヒドロキシベンゾフ
エノン等のポリヒドロキシベンゾフエノン類、 【0037】2, 3, 4−トリヒドロキシアセトフエノ
ン、2, 3, 4−トリヒドロキシフエニルペンチルケト
ン、2, 3, 4−トリヒドロキシフエニルヘキシルケト
ン等のポリヒドロキシフエニルアルキルケトン類、 【0038】ビス(2, 4−ジヒドロキシフエニル)メ
タン、ビス(2, 3, 4−トリヒドロキシフエニル)メ
タン、ビス(2, 4−ジヒドロキシフエニル)プロパン
−1、ビス(2, 3, 4−トリヒドロキシフエニル)プ
ロパン−1、ノルジヒドログアイアレチン酸等のビス
((ポリ)ヒドロキシフエニル)アルカン類、 【0039】3, 4, 5−トリヒドロキシ安息香酸プロ
ピル、2, 3, 4−トリヒドロキシ安息香酸フエニル、
3, 4, 5−トリヒドロキシ安息香酸フエニル等のポリ
ヒドロキシ安息香酸エステル類、 【0040】ビス(2, 3, 4−トリヒドロキシベンゾ
イル)メタン、ビス(3−アセチル−4, 5, 6−トリ
ヒドロキシフエニル)ーメタン、ビス(2, 3, 4−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、ビス(2, 4, 6
−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビス(ポリ
ヒドロキシベンゾイル)アルカン又はビス(ポリヒドロ
キシベンゾイル)アリール類、 【0041】エチレングリコール−ジ(3, 5−ジヒド
ロキシベンゾエート)、エチレングリコール−ジ(3,
4, 5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレン
−ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、 【0042】2, 3, 4−ビフエニルトリオール、3,
4, 5−ビフエニルトリオール、3, 5, 3',5' −ビ
フエニルテトロール、2, 4, 2',4' −ビフエニルテ
トロール、2, 4, 6, 3',5' −ビフエニルペントー
ル、2, 4, 6, 2',4',6' −ビフエニルヘキソー
ル、2, 3, 4, 2', 3',4' −ビフエニルヘキソー
ル等のポリヒドロキシビフエニル類、 【0043】4, 4' −チオビス(1, 3−ジヒドロキ
シ)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシ)スルフイド
類、 【0044】2, 2',4, 4' −テトラヒドロキシジフ
エニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフエニル)エ
ーテル類、 【0045】2, 2',4, 4' −テトラヒドロキシジフ
エニルスルフオキシド等のビス(ポリヒドロキシフエニ
ル)スルフオキシド類、 【0046】2, 2',4, 4' −ジフエニルスルフオン
等のビス(ポリヒドロキシフエニル)スルフオン類、 【0047】トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、4, 4',4" −トリヒドロキシ−3, 5, 3',5'
−テトラメチルトリフェニルメタン、4, 4',3'',
4''−テトラヒドロキシ−3, 5, 3',5' −テトラメ
チルトリフエニルメタン、4, 4',2'', 3'', 4''−
ペンタヒドロキシ−3, 5, 3',5' −テトラメチルト
リフエニルメタン、2, 3, 4, 2',3',4' −ヘキサ
ヒドロキシ−5, 5' −ジアセチルトリフエニルメタ
ン、2, 3, 4, 2',3',4',3'', 4''−オクタヒド
ロキシ−5, 5' −ジアセチルトリフエニルメタン、
2, 4, 6, 2',4',6' −ヘキサヒドロキシ−5,
5' −ジプロピオニルトリフエニルメタン等のポリヒド
ロキシトリフエニルメタン類、 【0048】3, 3, 3',3' −テトラメチル−1,
1' −スピロビ−インダン−5, 6,5',6' −テトロ
ール、3, 3, 3',3' −テトラメチル−1, 1' −ス
ピロビ−インダン−5, 6, 7, 5',6',7' −ヘキソ
オール、3, 3, 3',3' −テトラメチル−1, 1' −
スピロビ−インダン−4, 5, 6, 4',5',6' −ヘキ
ソオール、3, 3, 3',3' −テトラメチル−1, 1'
−スピロビ−インダン−4, 5, 6, 5',6',7' −ヘ
キソオール等のポリヒドロキシスピロビ−インダン類、 【0049】3, 3−ビス(3, 4−ジヒドロキシフエ
ニル)フタリド、3, 3−ビス(2, 3, 4−トリヒド
ロキシフエニル)フタリド、3',4',5',6' −テトラ
ヒドロキシスピロ [フタリド−3, 9' −キサンテン]
等のポリヒドロキシフタリド類、 【0050】モリン、ケルセチン、ルチン等のフラボノ
色素類、 【0051】α,α’,α”−トリス(4−ヒドロキシ
フエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α’,α”−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシフエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼ
ン、α,α’,α”−トリス(3,5−ジエチル−4−
ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイソプロピルベ
ンゼン、α,α’,α”−トリス(3,5−ジn−プロ
ピル−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5−トリイソ
プロピルベンゼン、α,α’,α”−トリス(3,5−
ジイソプロピル−4−ヒドロキシフエニル)1,3,5
−トリイソプロピルベンゼン、α,α’,α”−トリス
(3,5−ジn−ブチル−4−ヒドロキシフエニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α’,
α”−トリス(3−メチル−4−ヒドロキシフエニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α’,
α”−トリス(3−メトキシ−4−ヒドロキシフエニ
ル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α’,α”−トリス(2,4−ジヒドロキシフエニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,3,5−
トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフエニル)
ベンゼン、1,3,5−トリス(5−メチル−2−ヒド
ロキシフエニル)ベンゼン、2,4,6−トリス(3,
5−ジメチル−4−ヒドロキシフエニルチオメチル)メ
シチレン、1−[α−メチル−α−(4’−ヒドロキシ
フエニル)エチル]−4−[α,α’−ビス(4”−ヒ
ドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(4’−ヒドロキシフエニル)エチル]−3−
[α,α’−ビス(4”−ヒドロキシフエニル)エチ
ル]ベンゼン、1−[α−メチル−α−(3' ,5’−
ジメチル−4’−ヒドロキシフエニル)エチル]−4−
[α,α’−ビス(3”,5”−ジメチル−4”−ヒド
ロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチル
−α−(3’−メチル−4’−ヒドロキシフエニル)エ
チル]−4−[α' ,α’−ビス(3”−メチル−4”
−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−[α−
メチル−α−(3’−メトキシ−4’−ヒドロキシフエ
ニル)エチル]−4−[α',α’−ビス(3”−メト
キシ−4”−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、
1−[α−メチル−α−(2’,4’−ジヒドロキシフ
エニル)エチル]−4−[α’,α’−ビス(4”−ヒ
ドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(2’,4’−ジヒドロキシフエニル)エチ
ル]−3−[α’’α’−ビス(4”−ヒドロキシフエ
ニル)エチル]ベンゼン等の特開平4−253058号
公報に記載のポリヒドロキシ化合物、 【0052】p−ビス (2, 3, 4−トリヒドロキシベ
ンゾイル)ベンゼン、p−ビス (2, 4, 6−トリヒド
ロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス (2, 3, 4−
トリヒド ロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス
(2, 4, 6−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、
p−ビス (2, 5−ジヒドロキシ−3−ブロムベンゾイ
ル)ベンゼン、p−ビス (2, 3, 4−トリヒドロキシ
−5−メチルベンゾイル)ベンゼン、p−ビス (2,
3, 4−トリヒドロキシ−5−メトキシベンゾイル)ベ
ンゼン、p−ビス (2, 3, 4−トリヒドロキシ−5−
ニトロベンゾイル)ベンゼン、p−ビス (2, 3, 4−
トリヒドロキシ−5−シアノベンゾイル)ベンゼン、
1, 3, 5−トリス (2, 5−ジヒドロキシベンゾイ
ル)ベンゼン、1,3, 5−トリス (2, 3, 4−トリ
ヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1, 2,3−トリス
(2, 3, 4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、
1, 2, 4−トリス (2, 3, 4−トリヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン、1, 2, 4, 5−テトラキス (2,
3, 4−トリヒドロ キシ ベンゾイル)ベンゼン、
α, α’−ビス (2, 3, 4−トリヒドロキシベンゾイ
ル)−p−キシレン、α, α’,α’−トリス (2, 3,
4−トリヒドロキシベンゾイル)メシチレン、 【0053】2,6−ビス−(2’−ヒドロキシ−
3’,5’−ジメチル−ベンジル)−p−クレゾール、
2,6−ビス−(2’−ヒドロキシ−5’−メチル−ベ
ンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−(2’−ヒ
ドロキシ−3’,5’−ジ−t−ブチル−ベンジル)−
p−クレゾール、2,6−ビス−(2’−ヒドロキシ−
5’−エチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−
ビス−(2’,4’−ジヒドロキシ−ベンジル)−p−
クレゾール、2,6−ビス−(2’−ヒドロキシ−3’
−t−ブチル−5’−メチル−ベンジル)−p−クレゾ
ール、2,6−ビス−(2’,3’,4’−トリヒドロ
キシ−5’−アセチル−ベンジル)−p−クレゾール、
2,6−ビス−(2’,4’,6’−トリヒドロキシ−
ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−(2’,
3’,4’−トリヒドロキシ−ベンジル)−p−クレゾ
ール、2,6−ビス−(2’,3’,4’−トリヒドロ
キシ−ベンジル)−3,5−ジメチル−フエノール、
4,6−ビス−(4’−ヒドロキシ−3’,5’−ジメ
チル−ベンジル)−ピロガロール、4,6−ビス−
(4’−ヒドロキシ−3’,5’−ジメトキシ−ベンジ
ル)−ピロガロール、2,6−ビス−(4’−ヒドロキ
シ−3’,5’−ジメチル−ベンジル)−1,3,4−
トリヒドロキシ−フエノール、4,6−ビス−(2’,
4’,6’−トリヒドロキシ−ベンジル)−2,4−ジ
メチル−フエノール、4,6−ビス−(2’,3’,
4’−トリヒドロキシ−ベンジル)−2,5−ジメチル
−フエノール等を挙げることができる。 【0054】また、ノボラツク樹脂等フエノール樹脂の
低核体を用いる事もできる。 【0055】更に、以下に示すポリヒドロキシ化合物を
用いることもできる。 【0056】 【化4】 【0057】 【化5】【0058】前記感光物のエステル化反応は、所定量の
ポリヒドロキシ化合物と、1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−(及び/叉は−4−)スルホニルクロリドとを
ジオキサン、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルエ
チルケトン、N−メチルピロリドン、クロロホルム、ト
リクロロエタン、トリクロロエチレンあるいはジクロロ
エタン等の溶媒に溶かし、塩基性触媒、例えば水酸化ナ
トリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリウム、トリ
エチルアミン、N−メチルモルホリン、N−メチルピペ
ラジン、4−ジメチルアミノピリジン等を滴下して縮合
させる。得られた生成物は、水洗後精製し乾燥する。 【0059】通常のエステル化反応においては、エステ
ル化数及びエステル化位置が種々異なる混合物が得られ
るが、合成条件叉はポリヒドロキシ化合物の構造を選択
することにより、ある特定の異性体のみを選択的にエス
テル化させることもできる。本発明でいうエステル化率
は、この混合物の平均値として定義される。 【0060】このように定義されたエステル化率は、原
料であるポリヒドロキシ化合物と1, 2−ナフトキノン
ジアジド−5− (及び/又は−4−)スルホニルクロリ
ドとの混合比により制御できる。即ち、添加された1,
2−ナフトキノンジアジド−5− (及び/又は−4−)
スルホニルクロリドは、実質上総てエステル化反応を起
こすので、所望のエステル化率の混合物を得るために
は、原料のモル比を調整すれば良い。 【0061】必要に応じて、1, 2−ナフトキノンジア
ジド−5−スルホニルクロリドと1, 2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホニルクロリドとを併用することも
できる。また、前記方法における反応温度は、通常−2
0〜60℃、好ましくは0〜40℃である。 【0062】前記のような方法で合成される感光性化合
物は、樹脂組成物として使用する際に、単独でもしくは
2種以上混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用さ
れるが、その配合量は、ノボラツク樹脂100重量部に
対し該化合物5〜150重量部、好ましくは20〜10
0重量部である。この使用比率が5重量部未満では残膜
率が著しく低下し、また150重量部を越えると感度及
び溶剤への溶解性が低下する。 【0063】本発明の組成物には、更に現像液への溶解
促進のために、ポリヒドロキシ化合物を含有することが
できる。好ましいポリヒドロキシ化合物としては、フエ
ノール類、レゾルシン、フロログルシン、2, 3, 4−
トリヒドロキシベンゾフエノン、2, 3, 4, 4’−テ
トラヒドロキシベンゾフエノン、2, 3, 4, 3’,
4’, 5’−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、アセト
ン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルシド、2, 4,
2’, 4’−ビフエニルテトロール、4, 4’−チオビ
ス (1, 3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2, 2’, 4,
4’−テトラヒドロキシジフエニル エーテル、2,
2’, 4, 4’−テトラヒドロキシジフエニルスルフオ
キシド、2, 2’, 4, 4’−テトラヒドロキシジフエ
ニルスルフオン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メ
タン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シクロ
ヘキサン、4,4’−(α−メチルベンジリデン)ビス
フェノール、α, α',α" −トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1, 3, 5−トリイソプロピルベンゼン、
α, α',α" −トリス(4−ヒドロキシフェニル)−1
−エチル−4−イソプロピルベンゼン、1,2,2−ト
リス(ヒドロキシフェニル)プロパン、1,1,2−ト
リス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)プ
ロパン、2,2,5,5−テトラキス(4−ヒドロキシ
フェニル)ヘキサン、1,2−テトラキス(4−ヒドロ
キシフェニル)エタン、1,1,3−トリス(ヒドロキ
シフェニル)ブタン、パラ[α,α,α’,α’−テト
ラキス(4−ヒドロキシフェニル)]−キシレン等を挙
げることができる。 【0064】これらのポリヒドロキシ化合物は、キノン
ジアジド化合物100重量部に対して、通常100重量
部以下、好ましくは5〜70重量部以下の割合で配合す
ることができる。 【0065】本発明の感光物及びアルカリ可溶性ノボラ
ツク樹脂を溶解させる溶剤としては、エチレングリコー
ルモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチル
エーテル、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソ
ルブアセテート、ジエチレングリコールモノメチルエー
テル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、プロ
ピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレ
ングリコールプロピルエーテルアセテート、トルエン、
キシレン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、2
−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2
−メチルプロピオン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒ
ドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタ
ン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メ
トキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸
エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、ピルビン酸
メチル、ピルビン酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、
プロピレングリコールモノメチルエーテルプロピオネー
ト等を用いることができる。これらの有機溶剤は単独
で、又は2種以上の組み合わせで使用される。 【0066】更に、N−メチルホルムアミド、N,N−
ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル等の高沸
点溶剤を混合して使用することができる。 【0067】本発明のポジ型フオトレジスト用組成物に
は、ストリエーシヨン等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合する事ができる。界面活性剤とし
ては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエー
テル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリ
オキシエチレンオクチルフエノールエーテル、ポリオキ
シエチレンノニルフエノールエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン
・ポリオキシプロピレンブロツクコポリマー類、ソルビ
タンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソ
ルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトツプEF
301, EF303, EF352 (新秋田化成( 株)
製)、メガフアツクF171, F173 (大日本インキ
( 株) 製)、フロラードFC430, FC431 (住友
スリーエム( 株) 製)、アサヒガードAG710, サー
フロンS−382, SC101, SC102, SC10
3, SC104, SC105, SC106 (旭硝子(
株) 製)等のフツ素系界面活性剤、オルガノシロキサン
ポリマーKP341 (信越化学工業( 株) 製)やアクリ
ル酸系もしくはメタクリル酸系 (共)重合ポリフローN
o.75, No.95 (共栄社 油脂化学工業( 株)
製)等を挙げることができる。これらの界面活性剤の配
合量は、本発明の組成物中のアルカリ可溶性樹脂及びキ
ノンジアジド化合物100重量部当たり、通常、2重量
部以下、好ましくは1重量部以下である。 【0068】これらの界面活性剤は単独で添加してもよ
いし、また、いくつかの組み合わせで添加することもで
きる。 【0069】本発明のポジ型フオトレジスト組成物用の
現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、
炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリ
ウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミ
ン、n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルア
ミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエ
チルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、
ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等の
アルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロ
キシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリ
ン等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等
の環状アミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用するこ
とができる。更に、上記アルカリ類の水溶液にイソプロ
ピルアルコール等のアルコール類、ノニオン系界面活性
剤等の界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。 【0070】本発明のポジ型フオトレジスト組成物に
は、必要に応じ、吸光剤、架橋剤、接着助剤等を配合す
ることができる。吸光剤は、基板からのハレーションを
防止する目的や透明基板に塗布した際の視認性を高める
目的で、必要に応じて添加される。例えば、「工業用色
素の技術と市場」(CMC出版)や、染料便覧(有機合
成化学協会編)に記載の市販の吸光剤、例えば、C.I.De
sperse Yellow 1,3,4,5,7,8,13,23,31,49,50,51,54,56,
60,64,66,68,79,82,88,90,93,102,114及び124 、C.I.Di
sperse Orange 1,5,13,25,29,30,31,44,57,72 及び73、
C.I.Disperse Red1,5,7,13,17,19,43,50,54,58,65,72,7
3,88,117,137,143,199 及び210 、C.I.Disperse Violet
43、C.I.Disperse Blue 96、C.I.Fluorescent Brighte
ning Agent 112, 135及び163 、C.I.Solvent Yellow 1
4,16,33 及び56、C.I.Solvent Orange 2 及び45、C.I.
Solvent Red 1,3,8,23,24,25,27 及び49、C.I.Pigment
Green 10、C.I.Pigment Brown 2 等を好適に用いること
ができる。吸光剤は通常、アルカリ可溶性樹脂100重
量部に対し、100重量部以下、好ましくは50重量部
以下、更に好ましくは30重量部以下の割合で配合され
る。 【0071】架橋剤は、ポジ画像を形成するのに影響の
無い範囲で添加される。架橋剤の添加の目的は、主に、
感度調整、耐熱性の向上、耐ドライエッチング性向上等
である。架橋剤の例としては、メラミン、ベンゾグアナ
ミン、グリコールウリル等にホルムアルデヒドを作用さ
せた化合物、叉はそのアルキル変性物や、エポキシ化合
物、アルデヒド類、アジド化合物、有機過酸化物、ヘキ
サメチレンテトラミン等を挙げることができる。これら
の架橋剤は、感光剤100重量部に対して、10重量部
未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合できる。架
橋剤の配合量が10重量部を超えると感度が低下し、ス
カム(レジスト残渣)が生じるようになり好ましくな
い。 【0072】接着助剤は、主に、基板とレジストの密着
性を向上させ、特にエッチング工程においてレジストが
剥離しないようにするための目的で添加される。具体例
としては、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルク
ロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン、クロロメ
チルジメチルクロロシラン等のクロロシラン類、トリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチ
ルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、フェニルトリエトキシシ
ラン等のアルコキシシラン類、ヘキサメチルジシラザ
ン、N,N' −ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメ
チルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダ
ゾール等のシラザン類、ビニルトリクロロシラン、γ−
クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン等のシラン類、ベンゾトリアゾール、ベ
ンゾイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−
メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンズ
チアゾール、2−メルカプトベンズオキサゾール、ウラ
ゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メル
カプトピリミジン等の複素環状化合物や、1,1−ジメ
チルウレア、1,3−ジメチルウレア等の尿素、叉はチ
オ尿素化合物を挙げることができる。 【0073】これらの接着助剤は、アルカリ可溶性樹脂
100重量部に対し、通常10重量部未満、好ましくは
5重量部未満の割合で配合される。 【0074】上記ポジ型フオトレジスト用組成物を精密
集積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリ
コン/二酸化シリコン被覆、ガラス基板、ITO基板等
の透明基板等)上にスピナー、コーター等の適当な塗布
方法により塗布後プリベークして、所定のマスクを通し
て露光し、必要に応じて後加熱(PEB:Post ExposureBak
e)を行い、現像、リンス、乾燥することにより良好な
レジストを得ることができる。本発明はPS版にも用い
られる。 【0075】以下、本発明の実施例を示すが、本発明は
これらに限定されるものではない。なお、%は、他に指
定のない限り、重量%を示す。 【0076】 【実施例】 ノボラック樹脂の合成 (1)ノボラック樹脂(a−1)の合成 m−クレゾール81.11g、p−クレゾール4.87
g、2,3−キシレノール86.13gおよびピペロナ
ール22.52gを攪拌機、還流冷却管および温度計を
取り付けた500mLの三つ口フラスコに仕込み90℃で
攪拌下、シュウ酸2水和物5.67gを添加した。30
分後、浴温を130℃に上げ、更に8.5時間攪拌し内
容物をリフラックスさせた。次いで、ホルマリン水溶液
(37.32%)120.70gを30分かけて滴下さ
せた。反応混合物を更に4時間リフラックスさせた。 【0077】次いで、3−エトキシプロピオン酸エチル
40gを添加した後、還流冷却管をリービッヒコンデン
サーに取り替え、浴温を約1時間かけて200℃まで上
げ、未反応のホルマリン、水等を除去した。更に1時間
常圧留去を行った後、徐々に1mmHgまで減圧して未反応
のモノマー等を留去した。減圧留去には2時間を要し
た。 【0078】溶融したアルカリ可溶性ノボラック樹脂を
室温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂の重量
平均分子量は5120(ポリスチレン換算)であった。
このノボラック樹脂100gを1000gのアセトンに
溶解し、攪拌下n−ヘキサン1000gを添加して更に
室温下30分攪拌の後、1時間静置した。上層をデカン
テーション除去した後、残った下層をロータリーエバポ
レーターを用いて溶媒を留去し固形ノボラック(a−
1)を得た。得られたノボラック樹脂(a−1)の重量
平均分子量は10790(ポリスチレン換算)、分散度
は2.6であった。 (2)ノボラック樹脂(a−2)の合成 m−クレゾール81.11g、p−クレゾール4.87
g、2,3−キシレノール86.13g、ピペロナール
22.52gおよびホルマリン水溶液(37.32%)
30.12gを攪拌機、還流冷却管および温度計を取り
付けた500mLの三つ口フラスコに仕込み90℃で攪拌
下、シュウ酸2水和物5.67gを添加した。30分
後、浴温を130℃に上げ、更に12.5時間攪拌し内
容物をリフラックスさせた。次いで、ホルマリン水溶液
(37.32%)90.58gを30分かけて滴下させ
た。反応混合物を更に4時間リフラックスさせた。次い
で、3−エトキシプロピオン酸エチル40gを添加した
後、還流冷却管をリービッヒコンデンサーに取り替え、
浴温を約1時間かけて200℃まで上げ、未反応のホル
マリン、水等を除去した。更に1時間常圧留去を行った
後、徐々に1mmHgまで減圧して未反応のモノマー等を留
去した。減圧留去には2時間を要した。 【0079】溶融したアルカリ可溶性ノボラック樹脂を
室温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂の重量
平均分子量は5240(ポリスチレン換算)であった。
このノボラック樹脂100gを1000gのアセトンに
溶解し、攪拌下n−ヘキサン1000gを添加して更に
室温下30分攪拌の後、1時間静置した。上層をデカン
テーション除去した後、残った下層をロータリーエバポ
レーターを用いて溶媒を留去し固形ノボラック(a−
2)を得た。得られたノボラック樹脂(a−2)の重量
平均分子量は11000(ポリスチレン換算)、分散度
は2.6であった。 (3)ノボラック樹脂(a−3)の合成 2,3−キシレノール54.98gおよびピペロナール
45.04gを攪拌機、還流冷却管および温度計を取り
付けた1000mLの三つ口フラスコに仕込み90℃で攪
拌下、p−トルエンスルホン酸0.86gを添加した。
30分後、浴温を130℃に上げ、更に5時間攪拌し内
容物をリフラックスさせた。次いで、m−クレゾール1
62.21g、p−クレゾール9.73g、2,3−キ
シレノール117.28gおよびホルマリン水溶液(3
7.30%)241.53gを30分かけて滴下させ
た。反応混合物を更に4時間リフラックスさせた。次い
で、3−エトキシプロピオン酸エチル100gを添加し
た後、浴温を80℃にさげた。反応混合物にイオン交換
水300mLを加え攪拌、水洗およびデカンテーションを
3回繰り返した。 【0080】次いで還流冷却管をリービッヒコンデンサ
ーに取り替え、浴温を約1時間かけて200℃まで上
げ、未反応のホルマリン、水等を除去した。更に1時間
常圧留去を行った後、徐々に1mmHgまで減圧して未反応
のモノマー等を留去した。減圧留去には2時間を要し
た。溶融したアルカリ可溶性ノボラック樹脂を室温に戻
して回収した。得られたノボラック樹脂の重量平均分子
量は4170(ポリスチレン換算)であった。 【0081】このノボラック樹脂100gを1000g
のアセトンに溶解し、攪拌下n−ヘキサン1500gを
添加して更に室温下30分攪拌の後、1時間静置した。
上層をデカンテーション除去した後、残った下層をロー
タリーエバポレーターを用いて溶媒を留去し固形ノボラ
ック(a−3)を得た。得られたノボラック樹脂(a−
3)の重量平均分子量は8440(ポリスチレン換
算)、分散度は2.5であった。 (4)ノボラック樹脂(a−4)〜(a−10)の合成 表1記載のモノマーおよび芳香族アルデヒドを所定の重
量仕込み、他は実施例(1)と同様に重合、分別を実施
し、ノボラック樹脂(a−4)〜(a−10)を得た。
(表1中モノマー仕込みはモル比を表し、全モノマー仕
込み量は計1.5モルとした。 【0082】また、芳香族アルデヒドの仕込み量はモノ
マー仕込み量(1.5モル)に対するモル%で示し
た。) 【0083】 【表1】【0084】 【表2】 【0085】(5)ノボラック樹脂(a−11)の合成 2,2′−ジヒドロキシ−5,5′−ジメチルジフェニ
ルメタン14.27g、o−クレゾール5.41g、
2,3−キシレノール198.53g、2,3,5−ト
リメチルフェノール68.10g、2,6−キシレノー
ル24.43gおよびピペロナール37.53gを攪拌
機、還流冷却管および温度計を取り付けた1Lの三つ口
フラスコに仕込み更に3−エトキシプロピオン酸エチル
50gを添加した。混合物を90℃で攪拌下、シュウ酸
2水和物0.46gを添加した。1時間後、浴温を13
0℃に上げ、更に30時間攪拌し内容物をリフラックス
させた。次いで、シュウ酸2水和物9.46gを再度添
加した後、反応混合物を更に13時間リフラックスさせ
た。次いで、ホルマリン水溶液(37.30%)24
5.30gを添加し、130℃で12時間リフラックス
させ、3−エトキシプロピオン酸エチル25gを添加し
た。更に6時間リフラックスさせ再度3−エトキシプロ
ピオン酸エチル25gを添加した。次に、還流冷却管を
リービッヒコンデンサーに取り替え、浴温を約1時間か
けて200℃まで上げ、未反応のホルマリン、水等を留
去した。留去には3時間を要した。加熱を停止し、内温
が180℃まで低下したところで乳酸エチル620gを
徐々に滴下しノボラックの乳酸エチル溶液を得た。得ら
れたノボラック樹脂(a−11)の重量平均分子量は3
430(ポリスチレン換算)、分散度は2.3であっ
た。 (6)ノボラック樹脂(b−1)〜(b−2)の合成 表2記載のモノマーおよび芳香族アルデヒドを所定の重
量仕込み、他は実施例(1)と同様に重合、分別を実施
し、ノボラック樹脂(b−1)〜(b−2)までを得
た。(表2中モノマー仕込みはモル比を表し、全モノマ
ー仕込み量は計1.5モルとした。 【0086】また、芳香族アルデヒドの仕込み量はモノ
マー仕込み量(1.5モル)に対するモル%で示し
た。) 【0087】 【表3】 【0088】感光物の合成 (7)感光物(S−1)の合成 表3記載の化合物(1)62.9g、1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホニルクロリド53.7g、ア
セトン800mLを三つ口フラスコに仕込み、均一に溶解
した。 【0089】次いで、トリエチルアミン21.2gを徐
々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合物を
1%塩酸水溶液3L中に注ぎ、生じた沈殿をロ別し、水
洗、乾燥を行い感光物(S−1)を得た。 (8)感光物(S−2)の合成 表3記載の化合物(2)53.8g、1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホニルクロリド53.7g、ア
セトン800mLを三つ口フラスコに仕込み、均一に溶解
した。 【0090】次いで、トリエチルアミン21.2gを徐
々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合物を
1%塩酸水溶液3L中に注ぎ、生じた沈殿をロ別し、水
洗、乾燥を行い感光物(S−2)を得た。 (9)感光物(S−3)の合成 表3記載の化合物(3)56.5g、1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホニルクロリド53.7g、ア
セトン800mLを三つ口フラスコに仕込み、均一に溶解
した。 【0091】次いで、トリエチルアミン21.2gを徐
々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合物を
1%塩酸水溶液3L中に注ぎ、生じた沈殿をロ別し、水
洗、乾燥を行い感光物(S−3)を得た。 【0092】 【表4】【0093】(10)ポジ型フォトレジスト組成物の調
製と評価 上記(1)〜(6)で得られたノボラック樹脂(a−
1)〜(a−11)および(b−1)〜(b−4)、上
記(7)〜(9)で得られた感光物(S−1)〜(S−
3)、表5に示した溶剤(Y−1)〜(Y−4)および
表4に示したポリヒドロキシ化合物(P−1)〜(P−
3)を表5に示す割合で混合し、均一溶液とした後、孔
径0.10μmのミクロフィルターを用いてろ過し、フ
ォトレジスト組成物を調製した。このフォトレジスト組
成物を、スピナーを用いてシリコンウエハー上に塗布
し、真空吸着式ホットプレートで90℃、60秒間乾燥
して膜厚が1.02μmのレジスト膜を得た。 【0094】 【表5】【0095】 【表6】 【0096】この膜に縮小投影露光装置(ニコン社製縮
小投影露光装置NSR−2005i9C)を用い露光し
た後、110℃で60秒間PEBを行い、2.38%の
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で1分間
現像し、30秒間水洗して乾燥した。このようにして得
られたシリコンウエハーのレジストパターンを走査型電
子顕微鏡で観察し、レジストを評価した。結果を表6に
示す。 【0097】 【表7】【0098】感度は0.4μmのマスクパターンを再現
する露光量の逆数をもって定義し、比較例1の感度との
相対値で示した。解像力は0.40μmのマスクパター
ンを再現する露光量における限界解像力を示す。デフォ
ーカスラチチュードは実効感度において0.40μmの
レジストパターンが膜減りなく分離する焦点の幅を走査
型電子顕微鏡で断面観察して評価した。 【0099】耐熱性は0.50μmのラインパターンの
エッジ部が丸くなり始める温度で示した。DeepUV硬化
性は、前記方法によりシリコンウエハー上に形成された
レジストパターンを、大日本スクリーン社製AEW−6
12装置を用い加熱昇温させながら(初期温度100
℃、最終温度200℃)、遠紫外線を60秒間照射し、
その後、レジストパターンを酢酸イソアミルに1分間浸
漬(エッチング)し、乾燥後、走査型電子顕微鏡で観察
して評価した。表中の記号を以下に示す。 【0100】○;レジストパターンが全くエッチングさ
れず、また、パターンの変形、荒れを生じない場合(硬
化が完全)。 △;基板とレジストパターンの間にわずかにエッチング
が観察された場合か、あるいは、パターンの荒れや変形
がわずかである場合。 ×;基板とレジストパターンの間が大きくエッチングさ
れたり、あるいは、パターンの変形、荒れが大きい場
合。 【0101】表6に示される評価結果から、本発明に係
るポジ型フォトレジストは、相対感度、解像力、デフォ
ーカスラチチユード、耐熱性に優れるとともに、Dee
pUV硬化性に富むことが確認された。 【0102】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高い解像力、広いデフォーカスラチチユードを有し、得
られるレジスト像が耐熱性に優れるとともに、Deep
UV硬化性に富んだポジ型フォトレジスト組成物が得
られる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−10348(JP,A) 特開 平2−84414(JP,A) 特開 平5−32751(JP,A) 特開 昭63−100440(JP,A) 特開 昭62−201801(JP,A) 特開 昭57−31674(JP,A) 特開 平6−100480(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03F 7/023 511 G03F 7/022 CA(STN) REGISTRY(STN)

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 下記一般式(1)で示されるフェノール
    化合物と、ホルムアルデヒドおよび下記一般式(2)で
    示される芳香族アルデヒドを縮合させて得られるアルカ
    リ可溶性樹脂と、1,2−キノンジアジド化合物を含む
    ことを特徴とするポジ型フォトレジスト組成物。 【化1】 ここで、 R1〜R3:同一でも異なっても良く、水素原子、水酸
    基、ハロゲン原子、アルキル基、シクロアルキル基、ア
    ルコキシ基、アルケニル基、アリール基、アラルキル
    基、アルコキシカルボニル基もしくはアリールカルボニ
    ル基、 R4〜R8:同一でも異なっても良く、水素原子、水酸
    基、ホルミル基、ハロゲン原子、アルキル基、シクロア
    ルキル基、アルコキシ基、アルケニル基、アリール基、
    アラルキル基、互いに環を形成してなるアルキレンジオ
    キシ基、ただし、R4〜R8のうち少なくとも2つは互い
    に環を形成してなるアルキレンジオキシ基である。
JP16752995A 1995-07-03 1995-07-03 ポジ型フォトレジスト組成物 Expired - Fee Related JP3534208B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16752995A JP3534208B2 (ja) 1995-07-03 1995-07-03 ポジ型フォトレジスト組成物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16752995A JP3534208B2 (ja) 1995-07-03 1995-07-03 ポジ型フォトレジスト組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0915851A JPH0915851A (ja) 1997-01-17
JP3534208B2 true JP3534208B2 (ja) 2004-06-07

Family

ID=15851390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16752995A Expired - Fee Related JP3534208B2 (ja) 1995-07-03 1995-07-03 ポジ型フォトレジスト組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3534208B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3635598B2 (ja) * 1995-07-13 2005-04-06 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フォトレジスト組成物
DE112004002240T5 (de) * 2003-11-21 2006-11-02 Sekisui Chemical Co., Ltd. Positiv arbeitender Photolack und Verfahren zur Erzeugung einer Struktur
JP5859420B2 (ja) * 2012-01-04 2016-02-10 信越化学工業株式会社 レジスト下層膜材料、レジスト下層膜材料の製造方法、及び前記レジスト下層膜材料を用いたパターン形成方法
JP6451065B2 (ja) * 2014-03-27 2019-01-16 住友ベークライト株式会社 感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜および電子装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0915851A (ja) 1997-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0185994B1 (ko) 양성 포토레지스트 조성물
US5709977A (en) Positive working photoresist composition
JPH0990622A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3501422B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
EP0764884B1 (en) Positive working photoresist composition
JPH10186650A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3230925B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JP3503849B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3534208B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH04296754A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JP3562673B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3449826B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3373072B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3635598B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP2761823B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JP3444689B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3429039B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH1152567A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP3349607B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JP2715328B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JP2753917B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JP3311877B2 (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH09146269A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH0545869A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH10307389A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040303

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20040303

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080319

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080319

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090319

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090319

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100319

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100319

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110319

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees