JP3531522B2 - 圧電共振子 - Google Patents

圧電共振子

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発振子、フイルタ
などに使用される高次の振動モ−ドを利用した多層構造
の圧電共振子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の厚み縦振動を用いた圧電共振子と
しては、図13に示すように、圧電薄膜21aの両面に
薄膜電極e1、e2を設けた薄膜圧電体21と絶縁薄膜
22とを積層して振動部40aを形成した圧電共振子4
0、また、図14に示すように、絶縁薄膜22、薄膜圧
電体21および絶縁薄膜22をそれぞれ積層して振動部
50aを形成した圧電共振子50などがあった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、薄膜圧
電体21の1層構造よりなる従来の圧電共振子40、5
0は、厚み縦振動の基本モード或いは2次モードなどの
比較的低い次数の振動モードでしか大きな電気機械結合
係数が得られなかった。そのため、高い共振周波数を得
ようとすると、その共振周波数は振動部40a、50a
の厚みに反比例するので、振動部40a、50aの厚み
を薄くする必要がある。例えば、図13に示す構造の圧
電共振子40においては、圧電薄膜21aに酸化亜鉛
(Zn0)を用いた場合、650MHzの共振周波数を
得るためには、振動部40aの厚みを4.7μm程度に
しなけらばならない。そのため、振動部40aの機械的
強度が弱くなり、振動部40aが壊れやすくなるという
欠点があった。また、従来の圧電共振子40、50は、
振動部40a、50aの厚みに対して薄膜電極e1、e
2の厚さの割合いが大きくなることによりダンピング増
となり、共振の機械的Qが低下するという問題もあっ
た。
【0004】そこで、本発明は、高次の振動モードを利
用することにより、振動部の機械的強度を保持したま
ま、高い共振周波数を得ることのできる圧電共振子を提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、厚み縦振動を用いた圧電共振子において、複数の薄
膜圧電体と複数の絶縁薄膜とを交互に積層して前記薄膜
圧電体がn層(nは2以上の自然数)から成る振動部を
構成し、前記薄膜圧電体にはそれぞれ両面に電極を有
し、且つ、n次の振動モードを用いるとともに、前記振
動部の薄膜圧電体の位置と、前記n次の振動モードの節
の位置またはその近傍の位置とが略一致するものであ
【0006】この発明は、厚み縦振動の1次(基本)共
振波長の半分の長さ(厚み)を有する振動部を、n次
(2次以上)の高次振動モードで励振する。この励振
は、例えば分極方向が同じ場合、隣り合うn層の薄膜圧
電体に互いに逆位相の交流電圧を印加して行われる。そ
して、この励振振動は、n層からなる各層の薄膜圧電体
をn次の高次振動モードの節の位置に配置して行われ
る。これにより、1次(基本)振動モードまたはn次よ
り低次の振動モードは、n層の薄膜圧電体の逆相の機械
的振動の干渉により互いに打ち消されて消滅ないし減衰
し、n次の高次振動モードのみが優勢的に励振される。
【0007】また、(振動部の厚さ)=(共振の次数)
×λ/2であるので、次数の高い共振を使用することが
できれば、振動部の厚さを一定に保ったまま波長λの小
さい高い共振周波数を得ることができる。振動部が薄く
なり過ぎると機械的強度の点で問題となるが、この発明
は、厚さを保持したまま高周波化を図ることができる点
で有利となる。
【0008】請求項2に記載の発明は、前記薄膜圧電体
はn層(nは2以上の自然数)からなり、前記各薄膜圧
電体が、前記振動部の片面から厚さ方向に下式によって
求められる距離dだけ離れた部位に位置するものであ
る。
【0009】d=t(2m−1)/2n ただし、t:振動部の厚さ m:自然数 m≦n この発明は、n層からなる薄膜圧電体がn次の振動モー
ドの節に位置して振動し、各薄膜圧電体により与えられ
るn次の励振振動が全て同相となって相加わり励振振幅
が大きくなる。また、n次未満の振動は、n層の薄膜圧
電体の振動が互いに逆相となって打ち消し合って消滅な
いし減衰する。
【0010】請求項3に記載の発明は、前記振動部の厚
みが1次の振動モードの共振波長の半分であることを特
徴とするものである。また、請求項に記載の発明は、
前記薄膜圧電体と絶縁薄膜とは、それらの弾性定数の温
度係数が逆符号である材料から構成されているものであ
る。
【0011】この発明は、薄膜圧電体と絶縁薄膜との弾
性定数の温度係数が互いにキャンセルされる。
【0012】請求項に記載の発明は、前記薄膜圧電体
は、近隣同士が同方向に分極され、該近隣同士に互いに
逆位相の電圧が印加されるものである。
【0013】この発明においては、薄膜圧電体の近隣同
士に逆位相の電圧を印加することにより、基本振動モー
ドまたは低次の振動モードは、n層からなる薄膜圧電体
の逆相の機械共振振動により互いに打ち消されて消滅な
いし減衰し、n次の高次モードの振動は各層の薄膜圧電
体の振動が同相となって相加わり優勢的に励振される。
【0014】請求項に記載の発明においては、前記薄
膜圧電体は、近隣同志が交互に逆分極され、該近隣同士
に同位相の電圧が印加されるものである。
【0015】この発明は、近隣同士が互いに逆分極(配
向)された薄膜圧電体に同相電圧を印加する。基本振動
モードまたは低次の振動モードは、n層からなる薄膜圧
電体の逆相の機械共振振動により互いに打ち消されて消
滅ないし減衰する。n次の高次モードの振動は各層の薄
膜圧電体の振動が同相となって相加わり優勢的に励振さ
れる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下に、図1を参照して、本発明
の第1実施例の圧電共振子10について説明する。11
はシリコンよりなる支持基板で、中央部に矩形状の孔1
1aを有している。この支持基板11と孔11aとの上
には、(n+1)層の酸化シリコン(SiO2)膜12
と両面に薄膜電極e1、e2をそれぞれ有するn層の薄
膜圧電体1〜nとが交互に積層される。そして、内側と
外側には絶縁薄膜12が形成される。なお、nは2以上
の自然数である。
【0017】この多層構造よりなる圧電共振子10は、
スパッタリング法、化学気相成長法、蒸着法などの薄膜
形成手段およびフォトエッチング技術を適宜用いて形成
される。即ち、シリコン基板(支持基板11の親基板)
の上に下層の絶縁薄膜12を成膜し、更にその上に銅、
アルミニュウム、金/クロムなどの電極薄膜を成膜し、
この電極薄膜をパターニングして下層の薄膜電極e1を
形成する。そして、この薄膜電極e1を含む下層の絶縁
薄膜12の上に酸化亜鉛(ZnO)、チタン酸ジルコン
酸鉛などの圧電材料よりなる圧電薄膜を成膜する。さら
に、この圧電薄膜の上に電極薄膜を成膜し、この電極薄
膜をパターニングして上層の薄膜電極e2を形成する。
そして、中央部で下層の薄膜電極e1と上層の薄膜電極
e2とを圧電薄膜を介在させて重なるように配置して、
薄膜圧電体1を形成する。以下同様に、この薄膜圧電体
1の上に絶縁薄膜12、その上に薄膜圧電体2を順次積
層して、(n+1)層の絶縁薄膜12とn層の薄膜圧電
体1〜nより成る多層構造の圧電共振子10を形成す
る。各層の薄膜圧電体1〜nは、それらの間に介在する
絶縁薄膜12により層間絶縁される。ついで、支持体1
1となるシリコン基板の中央部を貫通エッチングして孔
11aを形成する。この孔11aで、各層の薄膜電極e
1、e2が重なっている部分が振動部10aとなる。な
お、図示しないが、各層の薄膜電極e1、e2は外部に
導出される。
【0018】この場合、薄膜圧電体1〜nの積層構造の
配列位置は、図2に示すように決定される。即ち、振動
部10aをn次(nは2以上の自然数)の高次モードで
振動させる場合には、薄膜圧電体1〜nはn層よりな
る。そして、n層よりなる薄膜圧電体1〜nは、振動部
10aの片面(図1においては、下面)から厚み方向に
距離dだけ隔たった部位に位置する。この距離dは下式
により与えられ、この距離dの位置は、圧電共振子のn
次振動の節の位置またはその近傍の位置に相当する。
【0019】d=t(2m−1)/2n ただし、t:振動部10aの厚み m:自然数 m
≦n n≧2 この場合、1層目の薄膜圧電体1は、m=1で、d=t
/2nとなる。また、2層目の薄膜圧電体2は、m=2
で、d=3t/2nとなる。また、n層目の薄膜圧電体
nは、m=nで、d=t(2n−1)/2nとなる。
【0020】また、隣り合う薄膜圧電体1〜nは、その
圧電材料が酸化亜鉛の場合は、配向軸(C軸)を厚み方
向に配置し、また、チタン酸ジルコン酸鉛などの圧電材
料の場合は、分極方向を厚み方向に配置する。
【0021】また、薄膜圧電体1〜nと絶縁薄膜11と
は、弾性定数の温度係数が互いに逆特性の材料、例え
ば、ZnO(−161ppm/℃)、LiNbO3(−
153ppm/℃)、水晶(−188ppm/℃)と、S
iO2(+239ppm/℃)、AlN(+100pp
m/℃)とのように、正負異なる材料を組み合わせて用
いることが望ましい。そうすることにより圧電共振子の
周波数温度特性が安定する。
【0022】また、圧電共振子10を動作させるときに
は、図2に矢印で示すように、隣り合う薄膜圧電体1〜
nに互いに逆位相の電圧を加えてn次モードで励振す
る。このように、薄膜圧電体1〜nを振動の節の部位に
配置し、かつ、隣り合う薄膜圧電体1〜nを逆位相で励
振することにより、n次の高次振動モードの電気機械結
合係数を高くして、n次の高次振動モードを強く励振す
ることができる。
【0023】図3は圧電基本式から導いた圧電共振子の
シュミレーション波形を示すもので、前記与式〔d=t
(2m−1)/2n〕により与えられる多層薄膜圧電体
の配置位置は、このシュミレーション波形の節の位置に
近似する。波形(1)は従来の圧電共振子の場合で、薄
膜圧電体1が一層よりなる1次(基本)振動モードを示
す。波形(2)〜(5)は本発明の場合で、隣り合う薄
膜圧電体1〜nに逆相電圧を印加した2次〜5次の高次
振動モードを示す。これらの場合、振動部の厚みは、1
次(基本)振動モードの共振波長の半分(λ/2)に合
わせる。
【0024】図4は、前記与式により配置された図2に
示す薄膜圧電体1〜n(5)の位置と図3に示すシュミ
レーションにより与えられた節の位置とこれらの位置の
差の絶対値とを示すもので、前記与式により与えられる
薄膜圧電体1〜n(5)の位置とシュミレーションによ
り与えられる節の位置とが微小の差で一致していること
がわかる。
【0025】つぎに、図5を参照して、第2実施例の圧
電共振子20について説明する。この圧電共振子20の
振動部20aは、絶縁薄膜と薄膜圧電体とを交互に積層
して形成した2層の薄膜圧電体1a、2aと3層の絶縁
薄膜13とよりなる。薄膜圧電体1a、2aとしてZn
Oを用い、絶縁薄膜12としてSiO2 を用いている。
2層の薄膜圧電体1a、2aのZnOは、厚み方向に配
向軸を有している。
【0026】振動部20aの厚みは10μmである。薄
膜圧電体1a、2aの厚みはそれぞれ3μmである。各
絶縁薄膜13の厚みは4/3μmである。1層目の薄膜
圧電体1aは、与式〔d=t(2m−1)/2n〕によ
り、下面から10/4(=2.5)μmの部位に位置
し、2層目の薄膜圧電体2は、下面から30/4(=
7.5)μmの部位に位置している。
【0027】このような構成の圧電共振子20におい
て、薄膜圧電体1a、2aに矢印で示すように同方向
(同相)の電界を加えると図10に示すように、250
MHz付近に基本(1次)振動モードによる共振が現れ
る。この場合、2次振動モードの周波数は、薄膜圧電体
1aと2aとに互いに逆相の機械的振動が発生するた
め、これらの振動が互いに打ち消し合って、2次振動モ
ードの周波数領域にはレスポンスは生じない。
【0028】つぎに、図5に示す圧電共振子20と同じ
構造の圧電共振子20において、図6に矢印で示すよう
に、隣り合う薄膜圧電体1aと2aとに互いに逆方向の
電界を加えると、図11に示すような共振特性が得られ
る。これによると、580MHz付近に2次振動モード
による共振が現れている。この共振は、2次振動モード
において薄膜圧電体1aと2aとの機械振動が同相とな
って互いに強め合うからである。この場合、1次振動モ
ードによるレスポンスは、互いにキャンセルされて消失
ないし減衰する。
【0029】なお、上記の580MHzの2次振動モー
ドが250MHzの基本(1次)振動モードの2倍にな
っていないのは、ZnO(6400m/s)とSiO2
(6000m/s)の音速が若干異なることと、多層構
造のためと考えられる。
【0030】次に、図5の場合において、図10に示す
ように、2次振動モードが打ち消しあう態様について図
7を参照して説明する。この図7は説明の便宜上、振動
部20a(薄膜圧電体1a、2aなど)を横向けにした
形状にしている。そして、この図7は薄膜圧電体1aと
2aとに同相電圧を印加した場合である。この同相電圧
の印加により薄膜圧電体1aで発生した振動は、実線矢
印で示す励振コサインカーブに乗って薄膜圧電体2aの
方向に伝搬する。また、薄膜圧電体2aで発生した振動
は、破線矢印で示す励振コサインカーブに乗って薄膜圧
電体1aの方向に伝搬する。これらの2つの伝搬する励
振コサイカーブの振動は、伝搬先において互いに逆位相
で干渉することになり、振動部20aの厚み方向のいず
れの位置においても加算された励振振幅は、直線bで示
すように、一定でゼロとなる。しかし、この場合、1次
振動モードは強制的に励振される。
【0031】また、図8は薄膜圧電体1aと2aとに逆
相電圧を印加して、2次振動モードを強く励振した場合
である。薄膜圧電体1aで発生した振動は、実線矢印で
示す励振コサインカーブに乗って薄膜圧電体2aの方向
に伝搬する。また、薄膜圧電体2aで発生した振動は、
破線矢印で示す励振コサインカーブに乗って薄膜圧電体
1aの方向に伝搬する。これらの2つの伝搬する励振コ
サインカーブの振動は、伝搬先において互いに同相で干
渉することになり、圧電共振子の厚み方向のいずれの位
置においても振動振幅は、コサインカーブcで示すよう
に、加算されて倍になる。したがって、薄膜圧電体1
a、2aに逆相電圧を印加すると、図11に示すよう
に、2次モードの振動が強く励振される。しかし、この
場合、1次振動モードは相殺して減衰する。
【0032】つぎに、図9を参照して、第3実施例の圧
電共振子30について説明する。この圧電共振子30の
振動部30aは、絶縁薄膜と薄膜圧電体とをそれぞれ交
互に積層して形成した3層の薄膜圧電体1b〜3bと4
層の絶縁薄膜14とよりなる。薄膜圧電体1b〜3bの
圧電薄膜としてZnOを用い、絶縁薄膜14としてSi
O2 を用いている。3層の薄膜圧電体1b〜3bの圧電
薄膜(ZnO)は、厚み方向に配向軸を有している。
【0033】振動部30aの厚みは10μmである。薄
膜圧電体1b〜3bの厚みはそれぞれ2μmである。各
絶縁薄膜14の厚みは1μmである。1層目の薄膜圧電
体1bは、与式〔d=t(2m−1)/2n〕により、
下面から10/6μmの部位に位置し、2層目の薄膜圧
電体2bは、下面から30/6μmの部位に位置し、3
層目の薄膜圧電体3bは、下面から50/6μmの部位
に位置している。
【0034】このような構成の圧電共振子30におい
て、隣り合う薄膜圧電体1b〜3bに矢印で示すように
互いに逆相の電界を加えると図12に示すように、65
0MHz付近に3次振動モードによる共振が現れる。こ
の3次モードで共振が強く現れるのは、薄膜圧電体1b
〜3bが3次モードの厚み振動の節を含む部位に配置さ
れているため、この3次モードで薄膜圧電体1b〜3b
の機械振動が全て同相となって互いに強め合うからであ
る。そして、この3次モードで、電気機械結合係数が大
きくなり、電気エネルギーが機械振動エネルギーに最も
効率よく変換される。この場合、1次振動モードおよび
2次振動モードは打ち消し合って消滅ないし減衰する。
【0035】なお、上記1次振動モードの周波数と2次
振動モードおよび3次振動モードの周波数との間に偶
数、奇数の倍数関係が成立しないのは、ZnOとSiO
2の複合構造、それらの膜圧比、音速が異なるためと考
えらえる。
【0036】
【発明の効果】請求項1に記載の発明は、振動部の厚さ
を薄くすることなく、振動部の機械的強度を保持して、
高次の振動モードである高い共振周波数を得ることがで
きる。
【0037】請求項2に記載の発明は、n層からなる薄
膜圧電体のn次の励振振動が加算されるので、n次の励
振振幅が大きくなり、電気機械結合係数も大きくなっ
て、尖鋭な共振曲線が得られる。
【0038】請求項3に記載の発明は、前記振動部の厚
みが1次の振動モードの共振波長の半分であることを特
徴とするものである。また、請求項に記載の発明は、
振動部を構成する薄膜圧電体と絶縁薄膜との弾性定数の
温度係数が互いにキャンセルされるので、周波数温度特
性が安定する。
【0039】請求項に記載の発明は、同方向に分極
(配向)された近隣同士の薄膜圧電体に互いに逆位相の
交流電圧を印加して、高次振動モードを励振することが
できるので、基本振動モードを用いる場合に比べて、振
動部の機械的強度を向上させることができる。
【0040】請求項に記載の発明は、互いに逆分極
(配向)された近隣同士の薄膜圧電体に同相の交流電圧
を印加して、高次振動モードを励振することができるの
で、基本振動モードを用いる場合に比べて、振動部の機
械的強度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施例に係る圧電共振子の縦断
面形態図
【図2】 図1に示す圧電共振子の振動部の縦断面拡大
形態図
【図3】 多層構造の圧電共振子の節の位置と薄膜圧電
体の配置位置との関係を示す図
【図4】 本発明の与式による多層薄膜圧電体の配置位
置とシュミレーションによる圧電共振子の節の位置との
関係を示す図
【図5】 本発明の第2実施例に係る圧電共振子の2層
構造の薄膜圧電体に同方向電界を印加した場合の振動部
の縦断面形態図
【図6】 同じく、図5に示す2層構造の薄膜圧電体に
互いに逆方向電界を印加した場合の振動部の縦断面形態
【図7】 2層構造の薄膜圧電体に同相電圧を印加した
場合の変位の態様を示す図
【図8】 同じく、2層構造の薄膜圧電体に互いに逆相
電圧を印加した場合の変位の態様を示す図
【図9】 本発明の第3実施例に係る圧電共振子の3層
構造の薄膜圧電体の近隣同士に逆方向電界を印加した場
合の振動部の縦断面形態図
【図10】図5に示す圧電共振子の位相特性図
【図11】図6に示す圧電共振子の位相特性図
【図12】図9に示す圧電共振子の位相特性図
【図13】従来の圧電共振子の形態図
【図14】従来の他の圧電共振子の形態図
【符号の説明】
1〜n、1a、2a、1b〜3b 薄膜圧電体 e1、e2 薄膜電極 10、20、30 圧電共振子 10a、20a、30a 振動部 11 支持基板 11a 孔 12〜14 絶縁薄膜

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】厚み縦振動を用いた圧電共振子において、
    複数の薄膜圧電体と複数の絶縁薄膜とを交互に積層して
    前記薄膜圧電体がn層(nは2以上の自然数)から成る
    振動部を構成し、前記薄膜圧電体にはそれぞれ両面に電
    極を有し、且つ、n次の振動モードを用いるとともに、 前記振動部の薄膜圧電体の位置と、前記n次の振動モー
    ドの節の位置またはその近傍の位置とが略一致すること
    を特徴とする圧電共振子。
  2. 【請求項2】前記各薄膜圧電体が、前記振動部の片面か
    ら厚さ方向に下式によって求められる距離dだけ離れた
    部位に位置することを特徴とする請求項に記載の圧電
    共振子。 d=t(2m−1)/2 ただし、t:振動部の厚さ m:自然数 m≦n
  3. 【請求項3】前記振動部の厚みが1次の振動モードの共
    振波長の半分であることを特徴とする請求項1又は2に
    記載の圧電共振子。
  4. 【請求項4】前記薄膜圧電体と絶縁薄膜とは、それらの
    弾性定数の温度係数が逆符号である材料から構成されて
    いることを特徴とする請求項1ないしのいずれか1項
    に記載の圧電共振子。
  5. 【請求項5】前記薄膜圧電体は、近隣同士が同方向に分
    極され、該近隣同士に互いに逆位相の電圧が印加される
    請求項1ないしのいずれか1項に記載の圧電共振子。
  6. 【請求項6】前記薄膜圧電体は、近隣同志が交互に逆分
    極され、該近隣同士に同位相の電圧が印加される請求項
    1ないしのいずれか1項に記載の圧電共振子。
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Families Citing this family (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6441539B1 (en) * 1999-11-11 2002-08-27 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric resonator
JP3903842B2 (ja) * 2001-07-03 2007-04-11 株式会社村田製作所 圧電共振子、フィルタおよび電子通信機器
US6936954B2 (en) * 2001-08-29 2005-08-30 Honeywell International Inc. Bulk resonator
DE10149542A1 (de) * 2001-10-08 2003-04-17 Infineon Technologies Ag BAW-Resonator
DE10155927A1 (de) * 2001-11-14 2003-06-05 Infineon Technologies Ag Passivierter BAW-Resonator und BAW-Filter
US6670866B2 (en) * 2002-01-09 2003-12-30 Nokia Corporation Bulk acoustic wave resonator with two piezoelectric layers as balun in filters and duplexers
KR20030073842A (ko) * 2002-03-13 2003-09-19 엘지이노텍 주식회사 박막용적 탄성공진기 필터 및 그 제조방법
US7275292B2 (en) 2003-03-07 2007-10-02 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method for fabricating an acoustical resonator on a substrate
EP1528677B1 (en) * 2003-10-30 2006-05-10 Agilent Technologies, Inc. Film acoustically-coupled transformer with two reverse c-axis piezoelectric elements
US7019605B2 (en) 2003-10-30 2006-03-28 Larson Iii John D Stacked bulk acoustic resonator band-pass filter with controllable pass bandwidth
US7242270B2 (en) * 2003-10-30 2007-07-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Decoupled stacked bulk acoustic resonator-based band-pass filter
US7362198B2 (en) 2003-10-30 2008-04-22 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd Pass bandwidth control in decoupled stacked bulk acoustic resonator devices
US7332985B2 (en) * 2003-10-30 2008-02-19 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte Ltd. Cavity-less film bulk acoustic resonator (FBAR) devices
US6946928B2 (en) 2003-10-30 2005-09-20 Agilent Technologies, Inc. Thin-film acoustically-coupled transformer
CN1947333A (zh) 2004-04-30 2007-04-11 株式会社村田制作所 压电薄膜谐振器
US7615833B2 (en) 2004-07-13 2009-11-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator package and method of fabricating same
US7388454B2 (en) 2004-10-01 2008-06-17 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using alternating frame structure
US8981876B2 (en) 2004-11-15 2015-03-17 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters having frame elements
US7202560B2 (en) 2004-12-15 2007-04-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Wafer bonding of micro-electro mechanical systems to active circuitry
US7791434B2 (en) 2004-12-22 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator performance enhancement using selective metal etch and having a trench in the piezoelectric
JP2006203304A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 圧電薄膜共振器及びそれを用いた発振器並びにそれを内蔵した半導体集積回路
US7427819B2 (en) 2005-03-04 2008-09-23 Avago Wireless Ip Pte Ltd Film-bulk acoustic wave resonator with motion plate and method
US7369013B2 (en) 2005-04-06 2008-05-06 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using filled recessed region
US7436269B2 (en) 2005-04-18 2008-10-14 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically coupled resonators and method of making the same
US7934884B2 (en) * 2005-04-27 2011-05-03 Lockhart Industries, Inc. Ring binder cover
US7443269B2 (en) 2005-07-27 2008-10-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for selectively blocking radio frequency (RF) signals in a radio frequency (RF) switching circuit
FR2889374A1 (fr) * 2005-07-29 2007-02-02 Michelin Soc Tech Structure resonnante hybride pour verifier des parametres d'un pneumatique
US7868522B2 (en) 2005-09-09 2011-01-11 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Adjusted frequency temperature coefficient resonator
US7391286B2 (en) 2005-10-06 2008-06-24 Avago Wireless Ip Pte Ltd Impedance matching and parasitic capacitor resonance of FBAR resonators and coupled filters
US7525398B2 (en) 2005-10-18 2009-04-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically communicating data signals across an electrical isolation barrier
US7425787B2 (en) 2005-10-18 2008-09-16 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single insulated decoupled stacked bulk acoustic resonator with acoustically-resonant electrical insulator
US7737807B2 (en) 2005-10-18 2010-06-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating series-connected decoupled stacked bulk acoustic resonators
US7675390B2 (en) 2005-10-18 2010-03-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single decoupled stacked bulk acoustic resonator
US7423503B2 (en) 2005-10-18 2008-09-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating film acoustically-coupled transformer
US7463499B2 (en) 2005-10-31 2008-12-09 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte Ltd. AC-DC power converter
US7561009B2 (en) 2005-11-30 2009-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with temperature compensation
KR100718095B1 (ko) 2005-12-19 2007-05-16 삼성전자주식회사 결합 공진 필터 및 그 제작 방법
US7746677B2 (en) 2006-03-09 2010-06-29 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. AC-DC converter circuit and power supply
US7479685B2 (en) 2006-03-10 2009-01-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Electronic device on substrate with cavity and mitigated parasitic leakage path
US7629865B2 (en) 2006-05-31 2009-12-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters
US7515018B2 (en) 2006-08-31 2009-04-07 Martin Handtmann Acoustic resonator
US7508286B2 (en) 2006-09-28 2009-03-24 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. HBAR oscillator and method of manufacture
DE102007042663A1 (de) * 2007-09-10 2009-03-12 Krohne Ag Ultraschallsonde
US7791435B2 (en) 2007-09-28 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Single stack coupled resonators having differential output
US7732977B2 (en) 2008-04-30 2010-06-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Transceiver circuit for film bulk acoustic resonator (FBAR) transducers
US7855618B2 (en) 2008-04-30 2010-12-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator electrical impedance transformers
US8902023B2 (en) 2009-06-24 2014-12-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure having an electrode with a cantilevered portion
US8248185B2 (en) 2009-06-24 2012-08-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure comprising a bridge
US8193877B2 (en) 2009-11-30 2012-06-05 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Duplexer with negative phase shifting circuit
US8796904B2 (en) 2011-10-31 2014-08-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising piezoelectric layer and inverse piezoelectric layer
US9243316B2 (en) 2010-01-22 2016-01-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating piezoelectric material with selected c-axis orientation
US8962443B2 (en) 2011-01-31 2015-02-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same
US9425764B2 (en) 2012-10-25 2016-08-23 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having composite electrodes with integrated lateral features
US9148117B2 (en) 2011-02-28 2015-09-29 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge and frame elements
US9154112B2 (en) 2011-02-28 2015-10-06 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge
US9203374B2 (en) 2011-02-28 2015-12-01 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator comprising a bridge
US9136818B2 (en) 2011-02-28 2015-09-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked acoustic resonator comprising a bridge
US9048812B2 (en) 2011-02-28 2015-06-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic wave resonator comprising bridge formed within piezoelectric layer
US9083302B2 (en) 2011-02-28 2015-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator
US9444426B2 (en) 2012-10-25 2016-09-13 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having integrated lateral feature and temperature compensation feature
US8575820B2 (en) 2011-03-29 2013-11-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator
US8350445B1 (en) 2011-06-16 2013-01-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising non-piezoelectric layer and bridge
US9406865B2 (en) 2011-08-19 2016-08-02 Qualcomm Incorporated Composite piezoelectric laterally vibrating resonator
US8922302B2 (en) 2011-08-24 2014-12-30 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator formed on a pedestal
US20160352307A1 (en) * 2015-05-27 2016-12-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Mems resonator with high quality factor

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1207974A (en) 1966-11-17 1970-10-07 Clevite Corp Frequency selective apparatus including a piezoelectric device
JPS58137317A (ja) * 1982-02-09 1983-08-15 Nec Corp 圧電薄膜複合振動子
JPS6016010A (ja) * 1983-07-07 1985-01-26 Nec Corp 圧電薄膜複合振動子
JPS60189307A (ja) * 1984-03-09 1985-09-26 Toshiba Corp 圧電薄膜共振器およびその製造方法
JPS6367910A (ja) 1986-09-10 1988-03-26 Fujitsu Ltd 圧電薄膜共振子
US5075641A (en) * 1990-12-04 1991-12-24 Iowa State University Research Foundation, Inc. High frequency oscillator comprising cointegrated thin film resonator and active device
US5231327A (en) 1990-12-14 1993-07-27 Tfr Technologies, Inc. Optimized piezoelectric resonator-based networks
US5587620A (en) * 1993-12-21 1996-12-24 Hewlett-Packard Company Tunable thin film acoustic resonators and method for making the same
JP3371050B2 (ja) 1995-10-27 2003-01-27 三菱電機株式会社 薄膜圧電素子
US6140740A (en) * 1997-12-30 2000-10-31 Remon Medical Technologies, Ltd. Piezoelectric transducer

Also Published As

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