JP3523592B2 - コリオリ流量計の校正を検証するシステム - Google Patents
コリオリ流量計の校正を検証するシステムInfo
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Description
【０００１】発明の分野
本発明は、コリオリ流量計の校正を検証するシステムに
関する。特に、本発明は、物質が流管内を通過するとき
の流管の振動周期を測定して、流管の物質又は断面の特
性に変化が生じたか否かを決定する方法に関する。更
に、本発明は、流管の振動周期から計算された物質密度
が物質の既知の密度と等しくないときを決定する方法に
関する。
関する。特に、本発明は、物質が流管内を通過するとき
の流管の振動周期を測定して、流管の物質又は断面の特
性に変化が生じたか否かを決定する方法に関する。更
に、本発明は、流管の振動周期から計算された物質密度
が物質の既知の密度と等しくないときを決定する方法に
関する。
【０００２】問題
１９８５年１月１日発行のＪ．Ｅ．スミスの米国特許第
４，４９１，０２５号及び１９８２年２月１１日のＪ．
Ｅ．スミスの米国再発行特許第３１，４５０号に開示さ
れる如き、パイプラインを通過する物質の質量流量その
他の情報を計測するためにコリオリ効果質量流量計を用
いることは公知である。これらの流量計は、湾曲した形
態の１つ以上の流管を有する。コリオリ質量流量計にお
ける各流管の形態は、単純な曲がり形、捩り形、放射形
又は結合形で生じ得る１組の固有振動モードを有する。
各流管は、これらの固有モードの１つにおいて共振状態
で振動するように駆動される。物質が充填された振動す
るシステムの固有振動モードは、一部は流管の合成質量
により、また一部は流管内の物質によって規定される。
物質は、流量計の流入側で接続されたパイプラインから
流量計へ流入する。次いで、物質は流管内に送られ、流
量計から流出側に接続されたパイプラインへ流出する。
４，４９１，０２５号及び１９８２年２月１１日のＪ．
Ｅ．スミスの米国再発行特許第３１，４５０号に開示さ
れる如き、パイプラインを通過する物質の質量流量その
他の情報を計測するためにコリオリ効果質量流量計を用
いることは公知である。これらの流量計は、湾曲した形
態の１つ以上の流管を有する。コリオリ質量流量計にお
ける各流管の形態は、単純な曲がり形、捩り形、放射形
又は結合形で生じ得る１組の固有振動モードを有する。
各流管は、これらの固有モードの１つにおいて共振状態
で振動するように駆動される。物質が充填された振動す
るシステムの固有振動モードは、一部は流管の合成質量
により、また一部は流管内の物質によって規定される。
物質は、流量計の流入側で接続されたパイプラインから
流量計へ流入する。次いで、物質は流管内に送られ、流
量計から流出側に接続されたパイプラインへ流出する。
【０００３】駆動装置が作用力を流管へ加える。この作
用力が流管を振動させる。流量計に流れる物質がないと
きは、流管に沿う全ての点が同位相で振動する。物質が
流管を通過し始めると、コリオリ加速度により、流管に
沿った各点は流管に沿った他の点に対して異なる位相を
持つ。流管の流入側における位相は駆動装置より遅れる
が、流管の流出側における位相は駆動装置より進む。管
の２つの点における運動を表わす正弦波信号を生じるよ
うに、センサが流管の２つの異なる点に配置される。セ
ンサから受取った２つの信号の位相差が、時間単位で計
算される。
用力が流管を振動させる。流量計に流れる物質がないと
きは、流管に沿う全ての点が同位相で振動する。物質が
流管を通過し始めると、コリオリ加速度により、流管に
沿った各点は流管に沿った他の点に対して異なる位相を
持つ。流管の流入側における位相は駆動装置より遅れる
が、流管の流出側における位相は駆動装置より進む。管
の２つの点における運動を表わす正弦波信号を生じるよ
うに、センサが流管の２つの異なる点に配置される。セ
ンサから受取った２つの信号の位相差が、時間単位で計
算される。
【０００４】２つのセンサ間の位相差は、１つ又は複数
の流管に流れる物質の質量流量に比例する。物質の質量
流量は、位相差に流量校正係数を乗じることにより決定
される。この流量校正係数は、流管の物質特性及び断面
特性によって決定される。パイプラインに対する流量計
の組込みに先立って、流量校正係数が校正プロセスによ
り決定される。校正プロセスにおいては、流体が所与の
流量で流管内に送られ、位相差と流量との間の比率が計
算される。
の流管に流れる物質の質量流量に比例する。物質の質量
流量は、位相差に流量校正係数を乗じることにより決定
される。この流量校正係数は、流管の物質特性及び断面
特性によって決定される。パイプラインに対する流量計
の組込みに先立って、流量校正係数が校正プロセスによ
り決定される。校正プロセスにおいては、流体が所与の
流量で流管内に送られ、位相差と流量との間の比率が計
算される。
【０００５】コリオリ流量計の１つの利点は、計測され
る質量流量の精度が流量計における運動構成要素の疲労
による影響を受けないことである。流量は、流管におけ
る２つの点間の位相差と流量の校正係数とを乗算するこ
とによって決定される。唯一の入力は、流管における２
つの点の振動を示すセンサからの正弦波信号である。前
記位相差は、この正弦波信号から計算される。振動する
流管には運動構成要素がない。流量校正係数は、物質
と、流管の断面特性とに比例する。従って、位相差と流
量校正係数との計測は、流管における運動構成要素の疲
労によって影響を受けない。
る質量流量の精度が流量計における運動構成要素の疲労
による影響を受けないことである。流量は、流管におけ
る２つの点間の位相差と流量の校正係数とを乗算するこ
とによって決定される。唯一の入力は、流管における２
つの点の振動を示すセンサからの正弦波信号である。前
記位相差は、この正弦波信号から計算される。振動する
流管には運動構成要素がない。流量校正係数は、物質
と、流管の断面特性とに比例する。従って、位相差と流
量校正係数との計測は、流管における運動構成要素の疲
労によって影響を受けない。
【０００６】しかし、流管の物質及び断面の特性がコリ
オリ流量計の使用中に変化し得ることが問題である。流
管の物質及び断面の特性における変化は、流管内を流れ
る物質による流管の侵食、腐食及びコーティングによっ
て生じる。流管の断面特性における変化の一例は、流管
の腐食によって生じる慣性モーメントにおける変化であ
る。流管の物質及び断面の特性における変化の第２の例
は、流管内を流れる物質による流管のコーティングによ
り生じる流管質量の増加及び断面積における減少であ
る。流管の物質及び断面の特性における変化は、流管の
流量校正係数を変化させ得る。流量計の流量校正係数が
変化すると、元の流量校正係数を用いて計算される流量
は不正確である。従って、流管の物質及び（又は）断面
の特性の生じ得る変化を検出して、コリオリ流量計によ
り計測される質量流量が不正確で生じ得ることを示すシ
ステムに対する技術上の必要性が存在する。
オリ流量計の使用中に変化し得ることが問題である。流
管の物質及び断面の特性における変化は、流管内を流れ
る物質による流管の侵食、腐食及びコーティングによっ
て生じる。流管の断面特性における変化の一例は、流管
の腐食によって生じる慣性モーメントにおける変化であ
る。流管の物質及び断面の特性における変化の第２の例
は、流管内を流れる物質による流管のコーティングによ
り生じる流管質量の増加及び断面積における減少であ
る。流管の物質及び断面の特性における変化は、流管の
流量校正係数を変化させ得る。流量計の流量校正係数が
変化すると、元の流量校正係数を用いて計算される流量
は不正確である。従って、流管の物質及び（又は）断面
の特性の生じ得る変化を検出して、コリオリ流量計によ
り計測される質量流量が不正確で生じ得ることを示すシ
ステムに対する技術上の必要性が存在する。
【０００７】解決法
コリオリ流量計の流量の校正係数を検証するためのシス
テムの提供によって、上記及び他の問題が解決され、当
該技術における進歩が達成される。本発明によれば、コ
リオリ流量計の流管の振動周期は、物質が流管を通過す
るときに計測される。次に、計測された振動周期を用い
てコリオリ流量計における生じ得るエラー条件が検出さ
れる。生じ得るエラー条件が検出されると、生じ得る破
損についてコリオリ流量計を検査すべきことを信号が指
示する。
テムの提供によって、上記及び他の問題が解決され、当
該技術における進歩が達成される。本発明によれば、コ
リオリ流量計の流管の振動周期は、物質が流管を通過す
るときに計測される。次に、計測された振動周期を用い
てコリオリ流量計における生じ得るエラー条件が検出さ
れる。生じ得るエラー条件が検出されると、生じ得る破
損についてコリオリ流量計を検査すべきことを信号が指
示する。
【０００８】コリオリ流量計は、流量計電子装置に接続
されるセンサを流管上に有する。これらセンサからの信
号は前記電子装置により受取られ、機械読み取り可能な
信号又はディジタル信号へ変換される。このディジタル
信号は、流管を流れる物質の質量流量及び密度のような
特性を決定するため、流量計電子装置におけるプロセッ
サにより実施されるアプリケーションのためのデータと
して用いられる。これらのアプリケーションに対する指
令は、プロセッサに接続されたメモリに格納される。本
発明は、コリオリ流量計の流管の流量校正係数を検証す
るプロセッサによって実施されるアプリケーションに関
するものである。この検証のアプリケーションは、既知
の密度を持つ物質が流管を通過するとき流管の振動周期
を計測する。次いで、計測された振動周期は、流管の振
動周期から物質の密度を決定するための数式の導出を用
いて、流管における生じ得るエラー条件を検出するため
に用いられる。
されるセンサを流管上に有する。これらセンサからの信
号は前記電子装置により受取られ、機械読み取り可能な
信号又はディジタル信号へ変換される。このディジタル
信号は、流管を流れる物質の質量流量及び密度のような
特性を決定するため、流量計電子装置におけるプロセッ
サにより実施されるアプリケーションのためのデータと
して用いられる。これらのアプリケーションに対する指
令は、プロセッサに接続されたメモリに格納される。本
発明は、コリオリ流量計の流管の流量校正係数を検証す
るプロセッサによって実施されるアプリケーションに関
するものである。この検証のアプリケーションは、既知
の密度を持つ物質が流管を通過するとき流管の振動周期
を計測する。次いで、計測された振動周期は、流管の振
動周期から物質の密度を決定するための数式の導出を用
いて、流管における生じ得るエラー条件を検出するため
に用いられる。
【０００９】振動周期は、流管の流量校正係数と流管を
流れる物質の計測密度との間の関係のゆえに、流管にお
ける生じ得るエラー条件を検出するために用いられる。
流量校正係数（ＦＣＦ）は、流管に対するヤングの弾性
率（Ｅ0）と流管の慣性モーメント（Ｉ0）とを乗算した
第１の幾何学的定数（Ｇ1）に等しい。流管を流れる物
質の密度は、物質が流管を流れるときの流管の振動周期
の２乗（Ｐ2）に第１の密度定数（Ｃ1）を乗算し、その
結果に第２の密度定数（Ｃ2）を加算することによって
計算される。第１の密度定数（Ｃ1）は、流管に対する
第２の幾何学的定数（Ｇ2）にヤング弾性率（Ｅ0）と流
管の慣性モーメント（Ｉ0）とを乗算することによって
決定される。流量校正係数の第１の幾何学的定数と密度
の第２の幾何学的定数とに対して流管に対するヤング弾
性率と流管の慣性モーメントとが乗算されるから、流量
校正係数と第１の密度定数とは比例する。
流れる物質の計測密度との間の関係のゆえに、流管にお
ける生じ得るエラー条件を検出するために用いられる。
流量校正係数（ＦＣＦ）は、流管に対するヤングの弾性
率（Ｅ0）と流管の慣性モーメント（Ｉ0）とを乗算した
第１の幾何学的定数（Ｇ1）に等しい。流管を流れる物
質の密度は、物質が流管を流れるときの流管の振動周期
の２乗（Ｐ2）に第１の密度定数（Ｃ1）を乗算し、その
結果に第２の密度定数（Ｃ2）を加算することによって
計算される。第１の密度定数（Ｃ1）は、流管に対する
第２の幾何学的定数（Ｇ2）にヤング弾性率（Ｅ0）と流
管の慣性モーメント（Ｉ0）とを乗算することによって
決定される。流量校正係数の第１の幾何学的定数と密度
の第２の幾何学的定数とに対して流管に対するヤング弾
性率と流管の慣性モーメントとが乗算されるから、流量
校正係数と第１の密度定数とは比例する。
【００１０】典型的には、第１の密度定数（Ｃ1）の変
化は、流管の物質及び（又は）断面の特性が変化すると
きに殆ど変化しない第２の幾何学定数（Ｇ2）の変化に
は寄与しない。従って、第１の密度定数（Ｃ1）の変化
は、通常、ヤング率（Ｅ0）又は流管の慣性モーメント
（Ｉ0）の変化によって生じる。ヤング率（Ｅ0）と慣性
モーメント（Ｉ0）とは流量校正係数（ＦＣＦ）を計算
するためにも用いられるので、第１の密度定数（Ｃ1）
の変化は流量校正係数（ＦＣＦ）の変化を表わすものと
仮定することができる。
化は、流管の物質及び（又は）断面の特性が変化すると
きに殆ど変化しない第２の幾何学定数（Ｇ2）の変化に
は寄与しない。従って、第１の密度定数（Ｃ1）の変化
は、通常、ヤング率（Ｅ0）又は流管の慣性モーメント
（Ｉ0）の変化によって生じる。ヤング率（Ｅ0）と慣性
モーメント（Ｉ0）とは流量校正係数（ＦＣＦ）を計算
するためにも用いられるので、第１の密度定数（Ｃ1）
の変化は流量校正係数（ＦＣＦ）の変化を表わすものと
仮定することができる。
【００１１】第１の密度定数（Ｃ1）の変化は、物質の
計測密度から検出することができる。物質の計測密度が
不正確であれば、密度の計算のため用いた第１及び第２
の密度定数（Ｃ1及びＣ2）もまた不正確な筈である。物
質が流管を流れるときの流管の振動周期（Ｐ）は、流管
を流れる物質の密度を計算するために用いられるから、
流量校正係数（ＦＣＦ）における生じ得る変化を示す第
１の密度定数（Ｃ1）の変化を検出するために流管の振
動周期（Ｐ）を用いることが可能である。
計測密度から検出することができる。物質の計測密度が
不正確であれば、密度の計算のため用いた第１及び第２
の密度定数（Ｃ1及びＣ2）もまた不正確な筈である。物
質が流管を流れるときの流管の振動周期（Ｐ）は、流管
を流れる物質の密度を計算するために用いられるから、
流量校正係数（ＦＣＦ）における生じ得る変化を示す第
１の密度定数（Ｃ1）の変化を検出するために流管の振
動周期（Ｐ）を用いることが可能である。
【００１２】本発明の下記の４つの例示的な実施の形態
は、流管の計測された振動周期により表わされるエラー
条件を検出する。例示的な第１及び第２の実施の形態
は、流管の計測された振動周期から計算された物質の密
度を用いて、エラー条件を検出する。例示的な第３の実
施の形態は、第１の密度定数を用いてエラー条件を検出
する。例示的な第４の実施の形態は、流管の計測された
振動周期と所与の物質に対する流管の既知の振動周期と
の比較からエラー条件を検出する。
は、流管の計測された振動周期により表わされるエラー
条件を検出する。例示的な第１及び第２の実施の形態
は、流管の計測された振動周期から計算された物質の密
度を用いて、エラー条件を検出する。例示的な第３の実
施の形態は、第１の密度定数を用いてエラー条件を検出
する。例示的な第４の実施の形態は、流管の計測された
振動周期と所与の物質に対する流管の既知の振動周期と
の比較からエラー条件を検出する。
【００１３】例示的な第１の実施の形態は、エラー条件
を下記の方法で検出する。流管の振動周期は、既知の密
度を持つ物質が流管を流れるときに計測される。物質の
密度は、計測された振動周期から計算される。物質の計
算密度と既知の密度とが比較される。計算密度が既知の
密度と等しくなければ、流量校正係数が既に変化してお
りコリオリ流量計の検査が必要であるから、信号がエラ
ー条件が生じたことを示す。計算密度と既知の密度とが
等しければ、計測された質量流量は正確であり、コリオ
リ流量計を検査する必要はない。
を下記の方法で検出する。流管の振動周期は、既知の密
度を持つ物質が流管を流れるときに計測される。物質の
密度は、計測された振動周期から計算される。物質の計
算密度と既知の密度とが比較される。計算密度が既知の
密度と等しくなければ、流量校正係数が既に変化してお
りコリオリ流量計の検査が必要であるから、信号がエラ
ー条件が生じたことを示す。計算密度と既知の密度とが
等しければ、計測された質量流量は正確であり、コリオ
リ流量計を検査する必要はない。
【００１４】本発明の第２の代替的な実施の形態は、次
のようにして、物質の計算密度と既知の密度との比較に
おける公差を考慮に入れる。物質の密度が計算された
後、既知の密度が計算密度から差し引かれ、計算密度の
偏差が計算される。この偏差は公差範囲と比較される。
この偏差が公差範囲外にあるならば、流量校正係数（Ｆ
ＣＦ）が既に変化しておりコリオリ流量計の検査が必要
であるので、信号がエラー条件が生じたことを指示す
る。前記偏差が公差範囲内にあれば、計測された質量流
量は正確であり、コリオリ流量計を検査する必要はな
い。
のようにして、物質の計算密度と既知の密度との比較に
おける公差を考慮に入れる。物質の密度が計算された
後、既知の密度が計算密度から差し引かれ、計算密度の
偏差が計算される。この偏差は公差範囲と比較される。
この偏差が公差範囲外にあるならば、流量校正係数（Ｆ
ＣＦ）が既に変化しておりコリオリ流量計の検査が必要
であるので、信号がエラー条件が生じたことを指示す
る。前記偏差が公差範囲内にあれば、計測された質量流
量は正確であり、コリオリ流量計を検査する必要はな
い。
【００１５】振動周期の計測と偏差の計算とは、周期的
間隔で行うことができる。各間隔で計算された偏差は、
将来用いられるように格納することができる。格納され
た計算偏差のこのような将来における１つの用途は、偏
差を制御チャート化することである。偏差の制御チャー
ト化から、公差範囲の下限と上限とを決定することがで
きる。
間隔で行うことができる。各間隔で計算された偏差は、
将来用いられるように格納することができる。格納され
た計算偏差のこのような将来における１つの用途は、偏
差を制御チャート化することである。偏差の制御チャー
ト化から、公差範囲の下限と上限とを決定することがで
きる。
【００１６】本発明の第３の代替的な実施の形態は、次
のようにして、第１の密度定数からコリオリ流量計のエ
ラー条件を検出する。第１の密度定数は、エラー条件の
検出のための第３の実施の形態を用いるのに先立ち、校
正によって計算される。校正において、流管の第１の振
動周期は、第１の既知の密度を持つ第１の基準物質が流
管に流れるときに計測され、第２の振動周期は、第２の
既知の密度を持つ第２の基準物質が流管に流れるときに
計測される。次いで、第１及び第２の振動周期が２乗さ
れる。第１の振動周期の２乗は、２乗された振動周期の
変化を決定するため、第２の振動周期の２乗から差し引
かれる。第１の既知の密度は、密度の変化を決定するた
め、第２の既知の密度から差し引かれる。密度の変化
は、次いで、２乗された振動周期の変化で除され、第１
の密度定数が決定される。第１の密度定数と、第１の既
知の密度と、第１の振動周期の２乗とは、以降のテスト
の比較においての使用のためメモリに格納される。
のようにして、第１の密度定数からコリオリ流量計のエ
ラー条件を検出する。第１の密度定数は、エラー条件の
検出のための第３の実施の形態を用いるのに先立ち、校
正によって計算される。校正において、流管の第１の振
動周期は、第１の既知の密度を持つ第１の基準物質が流
管に流れるときに計測され、第２の振動周期は、第２の
既知の密度を持つ第２の基準物質が流管に流れるときに
計測される。次いで、第１及び第２の振動周期が２乗さ
れる。第１の振動周期の２乗は、２乗された振動周期の
変化を決定するため、第２の振動周期の２乗から差し引
かれる。第１の既知の密度は、密度の変化を決定するた
め、第２の既知の密度から差し引かれる。密度の変化
は、次いで、２乗された振動周期の変化で除され、第１
の密度定数が決定される。第１の密度定数と、第１の既
知の密度と、第１の振動周期の２乗とは、以降のテスト
の比較においての使用のためメモリに格納される。
【００１７】エラー条件の検出のため、第３の実施の形
態は下記の方法で第１の密度定数をテストする。流管の
第３の振動周期が、第３の既知の密度を持つ第３の流体
が流管を流れるときに計測される。計測された第３の振
動周期は２乗される。流管を流れる第１の物質又は第２
の物質の振動周期の２乗が第３の振動周期の２乗から差
し引かれ、２乗された振動周期の変化が決定される。使
用される基準物質の選択は、振動周期における最大の変
化をどの物質が生じるかによって決定される。基準物質
の既知の密度は、密度の変化を決定するため、既知の第
３の密度から差し引かれる。次いで、密度の変化は２乗
された振動周期の変化で除され、新たな第１の密度定数
が決定される。この新たな第１の密度定数は、格納され
た密度定数と比較される。この新たな第１の密度定数が
格納された第１の密度定数に等しくなければ、流量校正
係数が既に変化しておりコリオリ流量計の検査が必要で
あるので、信号がエラー条件を指示する。新たな第１の
密度定数と格納された第１の密度定数とが等しければ、
計測された質量流量は正確であり、コリオリ流量計を検
査しなくともよい。
態は下記の方法で第１の密度定数をテストする。流管の
第３の振動周期が、第３の既知の密度を持つ第３の流体
が流管を流れるときに計測される。計測された第３の振
動周期は２乗される。流管を流れる第１の物質又は第２
の物質の振動周期の２乗が第３の振動周期の２乗から差
し引かれ、２乗された振動周期の変化が決定される。使
用される基準物質の選択は、振動周期における最大の変
化をどの物質が生じるかによって決定される。基準物質
の既知の密度は、密度の変化を決定するため、既知の第
３の密度から差し引かれる。次いで、密度の変化は２乗
された振動周期の変化で除され、新たな第１の密度定数
が決定される。この新たな第１の密度定数は、格納され
た密度定数と比較される。この新たな第１の密度定数が
格納された第１の密度定数に等しくなければ、流量校正
係数が既に変化しておりコリオリ流量計の検査が必要で
あるので、信号がエラー条件を指示する。新たな第１の
密度定数と格納された第１の密度定数とが等しければ、
計測された質量流量は正確であり、コリオリ流量計を検
査しなくともよい。
【００１８】上記の例示的な実施の形態では、周知であ
るか或いは公知の密度の表に見出すことができる密度を
持つ空気又は水のような物質が用いられるので、流管に
流れる物質の密度は公知である。しかし、物質の既知の
密度は、流管に流れる物質の既知の密度を決定するた
め、コリオリ流量計と一列に並んだ密度計に物質を流す
ことによって決定される。
るか或いは公知の密度の表に見出すことができる密度を
持つ空気又は水のような物質が用いられるので、流管に
流れる物質の密度は公知である。しかし、物質の既知の
密度は、流管に流れる物質の既知の密度を決定するた
め、コリオリ流量計と一列に並んだ密度計に物質を流す
ことによって決定される。
【００１９】第４の実施の形態においては、物質が流管
を流れるとき、流管の予測される振動周期と計測された
振動周期とが比較されて、生じ得るエラー条件が検出さ
れる。予測される振動周期は、物質の既知の密度を用い
る計算から、或いは、振動周期の予めの計測から決定さ
れる。流管の振動周期は、物質が流管を流れるときに計
測される。計測された振動周期は、予測される振動周期
と比較される。物質の計測された振動周期と計測された
振動周期とが等しくなければ、流量校正係数が既に変化
しておりコリオリ流量計の検査が必要であるため、エラ
ー条件が生じたことを信号が指示する。計測される振動
周期と既知の振動周期とが等しければ、計測された質量
流量は正確であり、コリオリ流量計を検査する必要はな
い。
を流れるとき、流管の予測される振動周期と計測された
振動周期とが比較されて、生じ得るエラー条件が検出さ
れる。予測される振動周期は、物質の既知の密度を用い
る計算から、或いは、振動周期の予めの計測から決定さ
れる。流管の振動周期は、物質が流管を流れるときに計
測される。計測された振動周期は、予測される振動周期
と比較される。物質の計測された振動周期と計測された
振動周期とが等しくなければ、流量校正係数が既に変化
しておりコリオリ流量計の検査が必要であるため、エラ
ー条件が生じたことを信号が指示する。計測される振動
周期と既知の振動周期とが等しければ、計測された質量
流量は正確であり、コリオリ流量計を検査する必要はな
い。
【００２０】本発明の上記の及び他の利点は、図面とそ
れについての詳細な記述を読むことから明らかになろ
う。 詳細な記述コリオリ流量計全般――図１ 図１は、流量計組立体１０と流量計電子装置２０とを備
えるコリオリ流量計５を示している。流量計電子装置２
０は、密度と質量流量と体積流量と総質量流量と他の情
報とを経路２６上に送るため、リード線１００を介して
流量計組立体１０に接続されている。当業者には、駆動
装置の数あるいはピックオフ・センサの数とは無関係に
本発明が任意の形式のコリオリ流量計により使用できる
ことは明らかであろう。
れについての詳細な記述を読むことから明らかになろ
う。 詳細な記述コリオリ流量計全般――図１ 図１は、流量計組立体１０と流量計電子装置２０とを備
えるコリオリ流量計５を示している。流量計電子装置２
０は、密度と質量流量と体積流量と総質量流量と他の情
報とを経路２６上に送るため、リード線１００を介して
流量計組立体１０に接続されている。当業者には、駆動
装置の数あるいはピックオフ・センサの数とは無関係に
本発明が任意の形式のコリオリ流量計により使用できる
ことは明らかであろう。
【００２１】流量計組立体１０は、１対のフランジ１０
１、１０１′と、マニフォールド１０２と、流管１０３
Ａ、１０３Ｂとを含んでいる。流管１０３Ａ、１０３Ｂ
に、駆動装置１０４とピックオフ・センサ１０５、１０
５′とが接続される。支柱バー１０６、１０６′は、流
管１０３Ａ、１０３Ｂの各々が周囲で振動する軸Ｗ、
Ｗ′を画定するように働く。
１、１０１′と、マニフォールド１０２と、流管１０３
Ａ、１０３Ｂとを含んでいる。流管１０３Ａ、１０３Ｂ
に、駆動装置１０４とピックオフ・センサ１０５、１０
５′とが接続される。支柱バー１０６、１０６′は、流
管１０３Ａ、１０３Ｂの各々が周囲で振動する軸Ｗ、
Ｗ′を画定するように働く。
【００２２】流量計組立体１０が計測される物質を搬送
するパイプライン系統（図示せず）へ挿入されると、物
質はフランジ１０１を介して流量計組立体１０へ流入
し、マニフォールド１０２を通過し、このマニフォール
ドで物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂへ向けられ、流管１
０３Ａ、１０３Ｂを通過して再びマニフォールド１０２
へ戻り、ここで物質は流量計組立体１０からフランジ１
０１′を経て流出する。
するパイプライン系統（図示せず）へ挿入されると、物
質はフランジ１０１を介して流量計組立体１０へ流入
し、マニフォールド１０２を通過し、このマニフォール
ドで物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂへ向けられ、流管１
０３Ａ、１０３Ｂを通過して再びマニフォールド１０２
へ戻り、ここで物質は流量計組立体１０からフランジ１
０１′を経て流出する。
【００２３】流管１０３Ａ、１０３Ｂは、曲げ軸Ｗ−
Ｗ、Ｗ′−Ｗ′に関して実質的に同じ質量分布、慣性モ
ーメント及び弾性率を持つようにそれぞれ選択されてマ
ニフォールド１０２へ適正に取付けられる。流管は、実
質的に平行にマニフォールドから外方へ延びている。
Ｗ、Ｗ′−Ｗ′に関して実質的に同じ質量分布、慣性モ
ーメント及び弾性率を持つようにそれぞれ選択されてマ
ニフォールド１０２へ適正に取付けられる。流管は、実
質的に平行にマニフォールドから外方へ延びている。
【００２４】流管１０３Ａ、１０３Ｂは、駆動装置１０
４により各流管の曲げ軸Ｗ、Ｗ′に関して、かつ、流量
計の第１の曲げ無し湾曲部と呼ばれるところで反対方向
に駆動される。駆動装置１０４は、流管１０３Ａに取付
けられた磁石と流管１０３Ｂに取付けられた対向コイル
のような多くの周知の装置の１つを含む。交流電流が対
向コイルへ送られ、両流管を振動させる。流量計電子装
置２０により、適切な駆動信号がリード線１１０を介し
て駆動装置１０４に対して印加される。図１の記述は、
コリオリ流量計の動作の単なる例示として示され、本発
明の教示を制限することを意図するものではない。
４により各流管の曲げ軸Ｗ、Ｗ′に関して、かつ、流量
計の第１の曲げ無し湾曲部と呼ばれるところで反対方向
に駆動される。駆動装置１０４は、流管１０３Ａに取付
けられた磁石と流管１０３Ｂに取付けられた対向コイル
のような多くの周知の装置の１つを含む。交流電流が対
向コイルへ送られ、両流管を振動させる。流量計電子装
置２０により、適切な駆動信号がリード線１１０を介し
て駆動装置１０４に対して印加される。図１の記述は、
コリオリ流量計の動作の単なる例示として示され、本発
明の教示を制限することを意図するものではない。
【００２５】流量計電子装置２０は、リード線１１１、
１１１′にそれぞれ現われる左右の速度信号を受取る。
流量計電子装置２０は、駆動装置１０４により流管１０
３Ａ、１０３Ｂを振動させる駆動信号をリード線１１０
に生じる。本発明は、本文に述べるように、多数の駆動
装置から多数の駆動信号を生じることができる。流量計
電子装置２０は、左右の速度信号を処理して質量流量を
計算し、かつ本発明の検証システムを提供する。経路２
６は、流量計電子装置２０がオペレータと対話すること
を可能にする入力手段と出力手段とを提供する。
１１１′にそれぞれ現われる左右の速度信号を受取る。
流量計電子装置２０は、駆動装置１０４により流管１０
３Ａ、１０３Ｂを振動させる駆動信号をリード線１１０
に生じる。本発明は、本文に述べるように、多数の駆動
装置から多数の駆動信号を生じることができる。流量計
電子装置２０は、左右の速度信号を処理して質量流量を
計算し、かつ本発明の検証システムを提供する。経路２
６は、流量計電子装置２０がオペレータと対話すること
を可能にする入力手段と出力手段とを提供する。
【００２６】流量計電子装置２０全般―─図２
図２は、本発明に関する処理を実施する流量計電子装置
２０の構成要素のブロック図を示している。経路１１
１、１１１′は、流量計組立体１０からの左右の速度信
号を流量計電子装置２０へ伝送する。この速度信号は、
流量計電子装置２０におけるアナログ／ディジタル（Ａ
／Ｄ）コンバータ２０３により受取られる。Ａ／Ｄコン
バータ２０３は、左右の速度信号をプロセッサ２０１に
より使用可能なディジタル信号へ変換し、このディジタ
ル信号を経路２１３によりＩ／Ｏバス２１０へ伝送す
る。当該ディジタル信号は、Ｉ／Ｏバス２１０によりプ
ロセッサ２０１へ送られる。駆動信号はＩ／Ｏバス２１
０上を経路２１２へ送られ、この経路は前記駆動信号を
ディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）コンバータ２０２へ印
加する。Ｄ／Ａコンバータ２０２からのアナログ信号
は、経路１１０を介して駆動装置１０４へ送られる。経
路２６はＩ／Ｏバス２１０へ接続され、信号を入出力手
段（図示せず）へ送る。入出力手段は流量計電子装置２
０がオペレータからデータを受取りオペレータへデータ
を送るものである。
２０の構成要素のブロック図を示している。経路１１
１、１１１′は、流量計組立体１０からの左右の速度信
号を流量計電子装置２０へ伝送する。この速度信号は、
流量計電子装置２０におけるアナログ／ディジタル（Ａ
／Ｄ）コンバータ２０３により受取られる。Ａ／Ｄコン
バータ２０３は、左右の速度信号をプロセッサ２０１に
より使用可能なディジタル信号へ変換し、このディジタ
ル信号を経路２１３によりＩ／Ｏバス２１０へ伝送す
る。当該ディジタル信号は、Ｉ／Ｏバス２１０によりプ
ロセッサ２０１へ送られる。駆動信号はＩ／Ｏバス２１
０上を経路２１２へ送られ、この経路は前記駆動信号を
ディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）コンバータ２０２へ印
加する。Ｄ／Ａコンバータ２０２からのアナログ信号
は、経路１１０を介して駆動装置１０４へ送られる。経
路２６はＩ／Ｏバス２１０へ接続され、信号を入出力手
段（図示せず）へ送る。入出力手段は流量計電子装置２
０がオペレータからデータを受取りオペレータへデータ
を送るものである。
【００２７】プロセッサ２０１は、物質の質量流量の計
算、物質の体積流量の計算、及び読出し専用メモリ（Ｒ
ＯＭ）２２０から経路２２１を介する物質の密度の計算
を含み且つこれに限定されない流量計の諸機能を実施す
るための指令を読出す。これら諸機能を実施するための
データならびに指令は、ランダム・アクセス・メモリ
（ＲＡＭ）２３０に格納される。プロセッサ２０１は、
経路２３１を介してＲＡＭメモリ２３０における読出し
／書込み操作を実施する。
算、物質の体積流量の計算、及び読出し専用メモリ（Ｒ
ＯＭ）２２０から経路２２１を介する物質の密度の計算
を含み且つこれに限定されない流量計の諸機能を実施す
るための指令を読出す。これら諸機能を実施するための
データならびに指令は、ランダム・アクセス・メモリ
（ＲＡＭ）２３０に格納される。プロセッサ２０１は、
経路２３１を介してＲＡＭメモリ２３０における読出し
／書込み操作を実施する。
【００２８】密度と流量校正係数との間の関係
本発明は、物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂを流れている
間の、コリオリ流量計組立体１０の流量校正係数と流管
１０３Ａ、１０３Ｂの振動により計測される流体の密度
との間の比例的関係を利用する流量計組立体１０の流量
校正係数を検証するためのプロセスに関するものであ
る。このような比例的関係は、流量校正係数を見出すた
めの式と、流管１０３Ａ、１０３Ｂの振動周期から物質
の密度を計算するための式とにおける要素に基いてい
る。前記流量校正係数（ＦＣＦ）は、式１に示されるよ
うに、流管のヤング率（Ｅ0）と流管の慣性モーメント
（Ｉ0）とが乗じられた第１の幾何学的定数に等しい。
間の、コリオリ流量計組立体１０の流量校正係数と流管
１０３Ａ、１０３Ｂの振動により計測される流体の密度
との間の比例的関係を利用する流量計組立体１０の流量
校正係数を検証するためのプロセスに関するものであ
る。このような比例的関係は、流量校正係数を見出すた
めの式と、流管１０３Ａ、１０３Ｂの振動周期から物質
の密度を計算するための式とにおける要素に基いてい
る。前記流量校正係数（ＦＣＦ）は、式１に示されるよ
うに、流管のヤング率（Ｅ0）と流管の慣性モーメント
（Ｉ0）とが乗じられた第１の幾何学的定数に等しい。
【００２９】
【数１】
流管内に流れる流体の密度は、式２により決定される。
【００３０】
【数２】
但し、
ρmaterial＝物質の密度
Ｃ1＝第１の密度定数
Ｐ2＝流管の振動周期の２乗、
Ｃ2＝流管の密度と、流管１０３Ａ、１０３Ｂの断面積
と、流管１０３Ａ、１０３Ｂ内の断面流路とにより決定
される第２の密度定数 である。第１の密度定数Ｃ1は式３により決定される。
と、流管１０３Ａ、１０３Ｂ内の断面流路とにより決定
される第２の密度定数 である。第１の密度定数Ｃ1は式３により決定される。
【００３１】
【数３】
但し、
Ｇ2＝流管の物質及び断面の特性により決定される第２
の幾何学的定数、 Ｅ0＝ヤングの弾性率 Ｉ0＝流管の慣性モーメント である。式１及び式３から、Ｃ1及びＦＣＦが式４に示
されるように比例することは明らかである。
の幾何学的定数、 Ｅ0＝ヤングの弾性率 Ｉ0＝流管の慣性モーメント である。式１及び式３から、Ｃ1及びＦＣＦが式４に示
されるように比例することは明らかである。
【００３２】
【数４】
正常な条件下では、流管１０３Ａ、１０３Ｂの物質及び
断面の特性が変化するとＧ1及びＧ2は一定のままである
ものと仮定することができる。また、流管の物質及び
（又は）断面の特性が変化してもＥ0及びＩ0は一定のま
までないこともまた仮定することができる。Ｅ0及びＩ0
が変化する結果として、流量校正係数（ＦＣＦ）と第１
の密度定数（Ｃ1）が変化する。このような関係は、Ｆ
ＣＦとＣ1のうちの一方の生じ得る変化を、他方におけ
る変化から検出することを可能にする。式２から判るよ
うに、第１の密度定数（Ｃ1）及び第２の密度定数
（Ｃ2）に対する元の値が密度の計算に用いられると、
第１の密度定数（Ｃ1）における変化は計測される密度
にエラーを生じる。従って、計測された密度から、流量
校正係数の生じ得る変化を検出することが可能である。
特に、物質が流管内に流れるとき、ＦＣＦを変化させ得
るエラー条件を流管の振動周期から検出することが可能
である。
断面の特性が変化するとＧ1及びＧ2は一定のままである
ものと仮定することができる。また、流管の物質及び
（又は）断面の特性が変化してもＥ0及びＩ0は一定のま
までないこともまた仮定することができる。Ｅ0及びＩ0
が変化する結果として、流量校正係数（ＦＣＦ）と第１
の密度定数（Ｃ1）が変化する。このような関係は、Ｆ
ＣＦとＣ1のうちの一方の生じ得る変化を、他方におけ
る変化から検出することを可能にする。式２から判るよ
うに、第１の密度定数（Ｃ1）及び第２の密度定数
（Ｃ2）に対する元の値が密度の計算に用いられると、
第１の密度定数（Ｃ1）における変化は計測される密度
にエラーを生じる。従って、計測された密度から、流量
校正係数の生じ得る変化を検出することが可能である。
特に、物質が流管内に流れるとき、ＦＣＦを変化させ得
るエラー条件を流管の振動周期から検出することが可能
である。
【００３３】第１の密度定数（Ｃ 1 ）と第２の密度定数
（Ｃ 2 ）を決定するための校正プロセス─―図３ 潜在的なエラー条件を検出するための式（２）を使用す
るには、流管１０３Ａ、１０３Ｂ内に流れる物質の密度
の計算時に使用するＣ1とＣ2を決定するよう、コリオリ
流量計組立体１０に対する密度校正が行われなければな
らない。図３に示されるプロセス３００は、コリオリ流
量計組立体１０のパイプラインへの組込みに先立ちＣ1
及びＣ2を決定するため行われる密度校正である。プロ
セス３００は、ステップ３０１において、既知の密度を
持つ第１の基準物質を流管１０３Ａ、１０３Ｂ内に流す
ことにより開始され、ステップ３０２において、第１の
既知の基準物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂに流れるとき
流管１０３Ａ、１０３Ｂが駆動装置１０４により振動さ
せられ、流管１０３Ａ、１０３Ｂの振動周期が計測され
る。ステップ３０３において、第２の既知の密度を持つ
第２の基準物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂに流される。
ステップ３０４において、第２の基準物質が流管１０３
Ａ、１０３Ｂを流れている間に駆動装置１０４が流管１
０３Ａ、１０３Ｂを振動させ、流管１０３Ａ、１０３Ｂ
の振動周期が計測される。ステップ３０５において、第
１及び第２の計測された振動周期の２乗が決定される。
振動周期の２乗における変化は、第１の振動周期の２乗
を第２の振動周期の２乗から差引くことによって、ステ
ップ３０６において計算される。ステップ３０７及び３
０８において、第１の基準物質の既知の密度と第２の基
準物質の既知の密度とがメモリ２３０から検索される。
密度における変化は、ステップ３０９において、第２の
基準物質の密度から第１の基準物質の既知の密度を差引
くことにより決定される。ステップ３１０において、振
動周期の２乗の変化により密度の変化を除すことによっ
てＣ1が決定される。Ｃ2は、ステップ３１１において式
（５）に従って計算される。
（Ｃ 2 ）を決定するための校正プロセス─―図３ 潜在的なエラー条件を検出するための式（２）を使用す
るには、流管１０３Ａ、１０３Ｂ内に流れる物質の密度
の計算時に使用するＣ1とＣ2を決定するよう、コリオリ
流量計組立体１０に対する密度校正が行われなければな
らない。図３に示されるプロセス３００は、コリオリ流
量計組立体１０のパイプラインへの組込みに先立ちＣ1
及びＣ2を決定するため行われる密度校正である。プロ
セス３００は、ステップ３０１において、既知の密度を
持つ第１の基準物質を流管１０３Ａ、１０３Ｂ内に流す
ことにより開始され、ステップ３０２において、第１の
既知の基準物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂに流れるとき
流管１０３Ａ、１０３Ｂが駆動装置１０４により振動さ
せられ、流管１０３Ａ、１０３Ｂの振動周期が計測され
る。ステップ３０３において、第２の既知の密度を持つ
第２の基準物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂに流される。
ステップ３０４において、第２の基準物質が流管１０３
Ａ、１０３Ｂを流れている間に駆動装置１０４が流管１
０３Ａ、１０３Ｂを振動させ、流管１０３Ａ、１０３Ｂ
の振動周期が計測される。ステップ３０５において、第
１及び第２の計測された振動周期の２乗が決定される。
振動周期の２乗における変化は、第１の振動周期の２乗
を第２の振動周期の２乗から差引くことによって、ステ
ップ３０６において計算される。ステップ３０７及び３
０８において、第１の基準物質の既知の密度と第２の基
準物質の既知の密度とがメモリ２３０から検索される。
密度における変化は、ステップ３０９において、第２の
基準物質の密度から第１の基準物質の既知の密度を差引
くことにより決定される。ステップ３１０において、振
動周期の２乗の変化により密度の変化を除すことによっ
てＣ1が決定される。Ｃ2は、ステップ３１１において式
（５）に従って計算される。
【００３４】
【数５】
但し、
Ｄ1＝第１の基準物質の密度
Ｄ2＝第２の基準物質の密度
Ｐ1＝第１の計測された振動周期、
Ｐ2＝第２の計測された振動周期
である。ステップ３１２において、第１の密度定数（Ｃ
1）と、第２の密度定数（Ｃ2）と、第１の基準物質の密
度（Ｄ1）と、第２の基準物質の密度（Ｄ2）と、第１の
計測された振動周期（Ｐ1）と、第２の計測された振動
周期（Ｐ2）とが、後の計算時に用いられるようメモリ
２３０に格納される。
1）と、第２の密度定数（Ｃ2）と、第１の基準物質の密
度（Ｄ1）と、第２の基準物質の密度（Ｄ2）と、第１の
計測された振動周期（Ｐ1）と、第２の計測された振動
周期（Ｐ2）とが、後の計算時に用いられるようメモリ
２３０に格納される。
【００３５】流量校正係数を検証するプロセス─―図４
図４は、コリオリ流量計組立体１０の流量校正係数を検
証するためのプロセス４００を示している。プロセス４
００は、ステップ４０１において、流管１０３Ａ、１０
３Ｂに既知の密度の物質を流すことにより開始する。ス
テップ４０２において、物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂ
を流れるとき、プロセッサ２０１は駆動装置１０４に対
して流管１０３Ａ、１０３Ｂを振動させるよう通知す
る。流管の振動周期は、ステップ４０３において計測さ
れる。ステップ４０４において、以下に述べるように、
エラー条件検出プロセスが実行されてコリオリ流量計組
立体１０に生じ得るエラー条件を検出する。エラー条件
が検出されると、エラー信号がステップ４０５において
生成される。エラー条件が検出されなければ、生じ得る
エラー条件が検出されないことを示す信号がステップ４
０６において生成される。
証するためのプロセス４００を示している。プロセス４
００は、ステップ４０１において、流管１０３Ａ、１０
３Ｂに既知の密度の物質を流すことにより開始する。ス
テップ４０２において、物質が流管１０３Ａ、１０３Ｂ
を流れるとき、プロセッサ２０１は駆動装置１０４に対
して流管１０３Ａ、１０３Ｂを振動させるよう通知す
る。流管の振動周期は、ステップ４０３において計測さ
れる。ステップ４０４において、以下に述べるように、
エラー条件検出プロセスが実行されてコリオリ流量計組
立体１０に生じ得るエラー条件を検出する。エラー条件
が検出されると、エラー信号がステップ４０５において
生成される。エラー条件が検出されなければ、生じ得る
エラー条件が検出されないことを示す信号がステップ４
０６において生成される。
【００３６】計測された密度を用いるエラー検出プロセ
ス─―図５ エラー検出プロセスの第１の実施の形態が図５に示され
ている。エラー検出プロセス５００は、ある物質の既知
の密度と振動周期から計算された物質の密度との間の単
純な比較である。プロセス５００は、ステップ５０１に
おいて、図３において述べた校正プロセス３００により
決定されるＣ1とＣ2とを用いて、計測された振動周期か
ら物質の密度を計算することによって開始する。図５の
ステップ５０２において、物質の既知の密度がメモリ２
３０から検索される。ステップ５０３において、計算さ
れた密度と既知の密度との比較が行われる。計算された
密度が既知の密度と等しければ、ステップ５０５におい
て、エラー条件が検出されないことを信号が指示する。
計算された密度が既知の密度に等しくなければ、生じ得
るエラー条件がステップ５０６において検出されること
を信号が指示する。プロセス５００は、ステップ５０４
又はステップ５０５が実行された後にプロセス４００の
ステップ４０４へ戻る。
ス─―図５ エラー検出プロセスの第１の実施の形態が図５に示され
ている。エラー検出プロセス５００は、ある物質の既知
の密度と振動周期から計算された物質の密度との間の単
純な比較である。プロセス５００は、ステップ５０１に
おいて、図３において述べた校正プロセス３００により
決定されるＣ1とＣ2とを用いて、計測された振動周期か
ら物質の密度を計算することによって開始する。図５の
ステップ５０２において、物質の既知の密度がメモリ２
３０から検索される。ステップ５０３において、計算さ
れた密度と既知の密度との比較が行われる。計算された
密度が既知の密度と等しければ、ステップ５０５におい
て、エラー条件が検出されないことを信号が指示する。
計算された密度が既知の密度に等しくなければ、生じ得
るエラー条件がステップ５０６において検出されること
を信号が指示する。プロセス５００は、ステップ５０４
又はステップ５０５が実行された後にプロセス４００の
ステップ４０４へ戻る。
【００３７】既知の密度からの偏差を用いるエラー検出
プロセス─―図６ エラー検出プロセスの第２の実施の形態が図６に示され
ている。エラー検出プロセス６００は、流管１０３Ａ、
１０３Ｂに流れる物質の計測された密度と物質の既知の
密度との間の許容し得る変化を提供する。この変化は、
物質の計算された密度と既知の密度との間の偏差を決定
し、この偏差を公差範囲とも呼ばれる許容し得る偏差の
範囲と比較することによって準備される。プロセス６０
０は、ステップ６０１において、図３において述べた密
度校正プロセス３００により決定されるＣ1とＣ2とを用
いて、振動周期から物質密度を計算することによって開
始する。物質の既知の密度は、図６のステップ６０２に
おいてメモリ２３０から検索される。ステップ６０３に
おいて、物質の既知の密度が物質の計算された密度から
差引かれて偏差を決定する。この偏差は、ステップ６０
４において、後で使用するためにメモリ２３０に格納さ
れる。このような後での使用の１つは、図１２に示され
るような公差範囲の上限と下限とを確立する複数回の試
行からの偏りを示す制御チャートである。公差範囲の上
限は、ステップ６０５においてメモリから検索される。
この偏差と上限はステップ６０６において比較され、偏
差が上限より大きいか否かが決定される。偏差が上限よ
り大きければ、ステップ６０９において、生じ得るエラ
ー条件を信号が指示する。偏差が上限より小さいかある
いはこれと等しければ、ステップ６０７において、公差
範囲の下限がメモリ２３０から検索される。ステップ６
０８において、偏差が下限と比較される。偏差が下限よ
り小さければ、ステップ６０９において、生じ得るエラ
ー条件を信号が指示する。偏差が下限より大きいかある
いはこれと等しければ、ステップ６１０において、信号
がエラー条件がないことを指示する。ステップ６０９又
はステップ６１０の後に、プロセス６００は図４のプロ
セス４００のステップ４０４へ戻る。
プロセス─―図６ エラー検出プロセスの第２の実施の形態が図６に示され
ている。エラー検出プロセス６００は、流管１０３Ａ、
１０３Ｂに流れる物質の計測された密度と物質の既知の
密度との間の許容し得る変化を提供する。この変化は、
物質の計算された密度と既知の密度との間の偏差を決定
し、この偏差を公差範囲とも呼ばれる許容し得る偏差の
範囲と比較することによって準備される。プロセス６０
０は、ステップ６０１において、図３において述べた密
度校正プロセス３００により決定されるＣ1とＣ2とを用
いて、振動周期から物質密度を計算することによって開
始する。物質の既知の密度は、図６のステップ６０２に
おいてメモリ２３０から検索される。ステップ６０３に
おいて、物質の既知の密度が物質の計算された密度から
差引かれて偏差を決定する。この偏差は、ステップ６０
４において、後で使用するためにメモリ２３０に格納さ
れる。このような後での使用の１つは、図１２に示され
るような公差範囲の上限と下限とを確立する複数回の試
行からの偏りを示す制御チャートである。公差範囲の上
限は、ステップ６０５においてメモリから検索される。
この偏差と上限はステップ６０６において比較され、偏
差が上限より大きいか否かが決定される。偏差が上限よ
り大きければ、ステップ６０９において、生じ得るエラ
ー条件を信号が指示する。偏差が上限より小さいかある
いはこれと等しければ、ステップ６０７において、公差
範囲の下限がメモリ２３０から検索される。ステップ６
０８において、偏差が下限と比較される。偏差が下限よ
り小さければ、ステップ６０９において、生じ得るエラ
ー条件を信号が指示する。偏差が下限より大きいかある
いはこれと等しければ、ステップ６１０において、信号
がエラー条件がないことを指示する。ステップ６０９又
はステップ６１０の後に、プロセス６００は図４のプロ
セス４００のステップ４０４へ戻る。
【００３８】Ｃ 1 を用いるエラー検出プロセス─―図７
第３のエラー検出プロセスが図７に示されている。この
エラー検出プロセス７００は、流量計に対する新たなＣ
1を決定し、この新たなＣ1と図３に示された密度校正プ
ロセス３００により決定された、前のＣ1とを比較する
ことによって、生じ得るエラー条件を検出する。プロセ
ス６００の目的のために、校正プロセス３００において
用いた第１及び第２の基準物質の密度と、第１及び第２
の基準物質の振動周期とが変化しないものと仮定され
る。これは変動系には妥当しない。第１及び第２の物質
に対する振動周期は変化するＣ1を補償するように変化
しなければならないからである。計算された新たなＣ1
は近似値であるけれども、プロセス６００の結果は、新
たなＣ1の精度計算が不正確であってもＣ1における変化
は検出されるのだから、エラー検出目的のためには信頼
し得る。
エラー検出プロセス７００は、流量計に対する新たなＣ
1を決定し、この新たなＣ1と図３に示された密度校正プ
ロセス３００により決定された、前のＣ1とを比較する
ことによって、生じ得るエラー条件を検出する。プロセ
ス６００の目的のために、校正プロセス３００において
用いた第１及び第２の基準物質の密度と、第１及び第２
の基準物質の振動周期とが変化しないものと仮定され
る。これは変動系には妥当しない。第１及び第２の物質
に対する振動周期は変化するＣ1を補償するように変化
しなければならないからである。計算された新たなＣ1
は近似値であるけれども、プロセス６００の結果は、新
たなＣ1の精度計算が不正確であってもＣ1における変化
は検出されるのだから、エラー検出目的のためには信頼
し得る。
【００３９】図７において、プロセス７００は、図４の
ステップ４０３で計測された振動周期の２乗を計算する
ことにより、ステップ７０１から始まる。校正プロセス
３００における基準物質の１つに対する振動周期の２乗
は、ステップ７０２においてメモリ２３０から検索され
る。使用された基準物質は、計測された振動周期から最
大の偏差を持つ振動周期を有する基準物質である。振動
周期の２乗における変化は、ステップ７０３において、
基準物質の振動周期の２乗を計測された振動周期の２乗
から差引くことによって計算される。計測された物質の
既知の密度は、ステップ７０４においてメモリ２３０か
ら検索され、校正プロセス３００からの基準物質の既知
の密度はステップ７０５においてメモリ２３０から検索
される。密度の変化は、ステップ７０６において、基準
物質の密度を計測された物質の既知の密度から差引くこ
とによって計算される。新たなＣ1は、ステップ７０７
において、密度の変化を振動周期の２乗における変化で
除すことによって計算される。前のＣ1はステップ７０
８においてメモリ２３０から検索され、新たなＣ1と比
較される。ステップ７０９において、新たなＣ1と前の
Ｃ1とが比較される。前のＣ1が新たなＣ1に等しけれ
ば、ステップ７１０において、エラー条件が検出されな
いことを信号が指示する。前のＣ1が新たなＣ1に等しく
なければ、ステップ７１１において、生じ得るエラー条
件が検出されないことを信号が指示する。ステップ７１
０又はステップ７１１が実行された後、プロセス７００
は図４におけるプロセス４００のステップ４０４へ戻
る。
ステップ４０３で計測された振動周期の２乗を計算する
ことにより、ステップ７０１から始まる。校正プロセス
３００における基準物質の１つに対する振動周期の２乗
は、ステップ７０２においてメモリ２３０から検索され
る。使用された基準物質は、計測された振動周期から最
大の偏差を持つ振動周期を有する基準物質である。振動
周期の２乗における変化は、ステップ７０３において、
基準物質の振動周期の２乗を計測された振動周期の２乗
から差引くことによって計算される。計測された物質の
既知の密度は、ステップ７０４においてメモリ２３０か
ら検索され、校正プロセス３００からの基準物質の既知
の密度はステップ７０５においてメモリ２３０から検索
される。密度の変化は、ステップ７０６において、基準
物質の密度を計測された物質の既知の密度から差引くこ
とによって計算される。新たなＣ1は、ステップ７０７
において、密度の変化を振動周期の２乗における変化で
除すことによって計算される。前のＣ1はステップ７０
８においてメモリ２３０から検索され、新たなＣ1と比
較される。ステップ７０９において、新たなＣ1と前の
Ｃ1とが比較される。前のＣ1が新たなＣ1に等しけれ
ば、ステップ７１０において、エラー条件が検出されな
いことを信号が指示する。前のＣ1が新たなＣ1に等しく
なければ、ステップ７１１において、生じ得るエラー条
件が検出されないことを信号が指示する。ステップ７１
０又はステップ７１１が実行された後、プロセス７００
は図４におけるプロセス４００のステップ４０４へ戻
る。
【００４０】Ｃ 1 に基くエラー補正プロセス─―図８
均等な腐食がコリオリ流量計組立体１０に生じているな
らば、慣性モーメントは均等に変化している。慣性モー
メントが均等に変化しているならば、第１の密度定数の
比例的な変化は流量校正係数に対する変化率に略々等し
い。図８のエラー補正プロセスは、このような関係を利
用してシステムに対する新たな流量校正係数を見出す。
プロセス８００は、ステップ８０１において流管の支柱
バーにおける均等な腐食を検出する診断テストで開始す
る。流管１０３Ａ、１０３Ｂを流れる物質の物理的特性
及び化学的特性を熟知するオペレータがこのような均等
な腐食を検出できるものと仮定する。均等な腐食が検出
されなければ、プロセス８００は、エラーが補正不可能
であることを通知するステップ８０２で終了する。均等
な腐食が検出されるならば、ステップ８０３は、変化率
を検出するため新たなＣを前のＣで除す。ステップ８０
４において、前記変化率と流量校正係数とが乗じられ
て、新たな流量校正係数が見出される。ステップ８０５
において、流量校正係数が後の使用のため格納される。
らば、慣性モーメントは均等に変化している。慣性モー
メントが均等に変化しているならば、第１の密度定数の
比例的な変化は流量校正係数に対する変化率に略々等し
い。図８のエラー補正プロセスは、このような関係を利
用してシステムに対する新たな流量校正係数を見出す。
プロセス８００は、ステップ８０１において流管の支柱
バーにおける均等な腐食を検出する診断テストで開始す
る。流管１０３Ａ、１０３Ｂを流れる物質の物理的特性
及び化学的特性を熟知するオペレータがこのような均等
な腐食を検出できるものと仮定する。均等な腐食が検出
されなければ、プロセス８００は、エラーが補正不可能
であることを通知するステップ８０２で終了する。均等
な腐食が検出されるならば、ステップ８０３は、変化率
を検出するため新たなＣを前のＣで除す。ステップ８０
４において、前記変化率と流量校正係数とが乗じられ
て、新たな流量校正係数が見出される。ステップ８０５
において、流量校正係数が後の使用のため格納される。
【００４１】ステップ８０６において、流管の腐食量が
決定される。腐食量の決定は、均等な腐食の期間での流
管１０３Ａ、１０３Ｂの断面特性における変化の下記の
観察に基く。流管１０３Ａ、１０３Ｂの均等な腐食が生
じると、流管が腐食するにつれ、流管の慣性モーメント
（Ｉ0）と断面積とが変化することが判る。しかし、腐
食検出の目的のためには慣性モーメントのみが変化する
ものと仮定する。式（３）から、Ｃ1＝（Ｇ2＊Ｅ0＊
Ｉ0）であることが判る。式（３）において新たなＩ0に
ついて解くために慣性モーメントの量を決定することが
できる。新たなＩ0について解を求めるには、Ｇ2は前の
Ｃ1とＥ0及びＩ0の既知の元の値とを用いて式（３）に
ついて解かれねばならない。従って、新たなＩ0は新た
なＣ1とＧ2及びＥ0の既知の値とを用いて解くことがで
きる。これは、式（６）において示される。
決定される。腐食量の決定は、均等な腐食の期間での流
管１０３Ａ、１０３Ｂの断面特性における変化の下記の
観察に基く。流管１０３Ａ、１０３Ｂの均等な腐食が生
じると、流管が腐食するにつれ、流管の慣性モーメント
（Ｉ0）と断面積とが変化することが判る。しかし、腐
食検出の目的のためには慣性モーメントのみが変化する
ものと仮定する。式（３）から、Ｃ1＝（Ｇ2＊Ｅ0＊
Ｉ0）であることが判る。式（３）において新たなＩ0に
ついて解くために慣性モーメントの量を決定することが
できる。新たなＩ0について解を求めるには、Ｇ2は前の
Ｃ1とＥ0及びＩ0の既知の元の値とを用いて式（３）に
ついて解かれねばならない。従って、新たなＩ0は新た
なＣ1とＧ2及びＥ0の既知の値とを用いて解くことがで
きる。これは、式（６）において示される。
【００４２】
【数６】
新たなＩ0＝新たなＣ1／（Ｇ2＊Ｅ0） （６）
Ｉ0は式（７）に示されるように流管の断面積の関数で
ある。
ある。
【００４３】
【数７】
但し、
ｒo＝流管１０３Ａ、１０３Ｂの外半径、
ｒi＝流管１０３Ａ、１０３Ｂの内半径
である。新たなＩ0が判れば、ｒ0は変化しないのだか
ら、式（７）を操作することによって新たなｒiを見出
すことが可能である。前のｒiは、ステップ８０６にお
いて、新たなｒiから差引かれ、腐食量が決定される。
これは、流管がプロセスが要求する精度を質量流量に与
える時間量を予測するために用いることができる。プロ
セス８００は、ステップ８０７において当該プロセスが
完了したことを表わす信号で終了する。
ら、式（７）を操作することによって新たなｒiを見出
すことが可能である。前のｒiは、ステップ８０６にお
いて、新たなｒiから差引かれ、腐食量が決定される。
これは、流管がプロセスが要求する精度を質量流量に与
える時間量を予測するために用いることができる。プロ
セス８００は、ステップ８０７において当該プロセスが
完了したことを表わす信号で終了する。
【００４４】計測された振動周期を用いる第４のエラー
検出プロセス─―図９ 第４のエラー検出プロセスが図９に示されている。第４
のエラー検出プロセス９００は単に、物質が流管１０３
Ａ、１０３Ｂを流れるときの計測された振動周期を物質
が流れる流管１０３Ａ、１０３Ｂに対して予測される振
動周期と比較する。このプロセスは、予測される振動周
期が判るならば、当該プロセスにおいて必要とされる計
算回数を低減する。プロセス９００は、ステップ９０１
において、予測される振動周期をメモリ２３０から検索
することによって開始する。この予測される振動周期
は、既知の密度を持つ物質について予め計算することが
でき、物質の既知の密度に基く計算により比較の時点で
決定でき、あるいは、同じ物質についての以前の計測か
ら知ることができる。ステップ９０２において、当該予
測される振動周期が計測された振動周期と比較される。
計測された振動周期が予測される振動周期と等しけれ
ば、ステップ９０３において、エラー条件が検出されな
いことを信号が指示する。計測された振動周期が予測さ
れる振動周期と等しくなければ、ステップ９０４におい
て、生じ得るエラー条件が検出されることを信号が指示
する。ステップ９０３又はステップ９０４の後で、プロ
セス９００が図４のプロセス４００のステップ４０４へ
戻る。
検出プロセス─―図９ 第４のエラー検出プロセスが図９に示されている。第４
のエラー検出プロセス９００は単に、物質が流管１０３
Ａ、１０３Ｂを流れるときの計測された振動周期を物質
が流れる流管１０３Ａ、１０３Ｂに対して予測される振
動周期と比較する。このプロセスは、予測される振動周
期が判るならば、当該プロセスにおいて必要とされる計
算回数を低減する。プロセス９００は、ステップ９０１
において、予測される振動周期をメモリ２３０から検索
することによって開始する。この予測される振動周期
は、既知の密度を持つ物質について予め計算することが
でき、物質の既知の密度に基く計算により比較の時点で
決定でき、あるいは、同じ物質についての以前の計測か
ら知ることができる。ステップ９０２において、当該予
測される振動周期が計測された振動周期と比較される。
計測された振動周期が予測される振動周期と等しけれ
ば、ステップ９０３において、エラー条件が検出されな
いことを信号が指示する。計測された振動周期が予測さ
れる振動周期と等しくなければ、ステップ９０４におい
て、生じ得るエラー条件が検出されることを信号が指示
する。ステップ９０３又はステップ９０４の後で、プロ
セス９００が図４のプロセス４００のステップ４０４へ
戻る。
【００４５】物質の既知の密度を決定するためのシステ
ム及びプロセス─―図１０及び図１１ 図１０は、ともにパイプライン１００２に組込まれた密
度計１００１とコリオリ流量計組立体１０とを備えるパ
イプライン１０００の図を示している。密度計１００１
は、ソラートロン社製のような従来技術では普通の密度
計であり、コリオリ流量計組立体１０は、マイクロモー
ション社製のエリート・コリオリ流量計のような従来技
術では普通のコリオリ流量計である。望ましい実施の形
態においては、密度計１００１は、図１０に示されるよ
うにコリオリ流量計組立体１０の上流側にある。しか
し、密度計１０００はコリオリ流量計１００の直後に又
は下流側にあることも考えられる。流量計電子装置２０
は、密度計１００１から信号を経路１０１０及び１０１
１上で受取る。図２に示されるように、流量計電子装置
２０は、密度計１００１から経路１０１０、１０１１を
介して受取った密度計１００１からの電子的信号を機械
読み取り可能な信号又はディジタル信号へ変換する回路
を有する。次に、流量計電子装置２０は、ＲＯＭ２２０
に格納された指令に従って密度を決定することができ
る。
ム及びプロセス─―図１０及び図１１ 図１０は、ともにパイプライン１００２に組込まれた密
度計１００１とコリオリ流量計組立体１０とを備えるパ
イプライン１０００の図を示している。密度計１００１
は、ソラートロン社製のような従来技術では普通の密度
計であり、コリオリ流量計組立体１０は、マイクロモー
ション社製のエリート・コリオリ流量計のような従来技
術では普通のコリオリ流量計である。望ましい実施の形
態においては、密度計１００１は、図１０に示されるよ
うにコリオリ流量計組立体１０の上流側にある。しか
し、密度計１０００はコリオリ流量計１００の直後に又
は下流側にあることも考えられる。流量計電子装置２０
は、密度計１００１から信号を経路１０１０及び１０１
１上で受取る。図２に示されるように、流量計電子装置
２０は、密度計１００１から経路１０１０、１０１１を
介して受取った密度計１００１からの電子的信号を機械
読み取り可能な信号又はディジタル信号へ変換する回路
を有する。次に、流量計電子装置２０は、ＲＯＭ２２０
に格納された指令に従って密度を決定することができ
る。
【００４６】図１０におけるシステムからの密度を決定
するためのプロセスは、図１１に示される。プロセス１
１００は、ステップ１１０１において、流量計電子装置
２０における密度計１００１から信号を受取ることによ
って開始する。物質の密度は、ステップ１１０２におい
て該信号から決定される。計算された密度は、ステップ
１１０３においてメモリ２３０に格納される。この密度
は、任意のエラー検出プロセスにおいて、流管１０３
Ａ、１０３Ｂに流れる物質の既知の密度として用いられ
る。
するためのプロセスは、図１１に示される。プロセス１
１００は、ステップ１１０１において、流量計電子装置
２０における密度計１００１から信号を受取ることによ
って開始する。物質の密度は、ステップ１１０２におい
て該信号から決定される。計算された密度は、ステップ
１１０３においてメモリ２３０に格納される。この密度
は、任意のエラー検出プロセスにおいて、流管１０３
Ａ、１０３Ｂに流れる物質の既知の密度として用いられ
る。
【００４７】許容し得る偏差範囲を生じるための結果の
フロー図─―図１２ 公差範囲の上限と下限の制御チャートによる計算は、図
１２において教示される。図１２における制御チャート
は図６のプロセス６００を用いてｎ回のテストで計算さ
れる偏差に適用されるが、制御チャートの方法は、プロ
セス６００と同様に、本発明の他の実施の形態に適用し
得ることが理解されよう。制御チャートのプロセス１２
００は、メモリに格納されるプロセス５００から結果的
に生じる偏差の数にカウンタのｎを設定するステップ１
２０１において開始する。ステップ１２０２において、
ｎ番目のテストから偏差を検索する反復的プロセスが開
始する。ステップ１２０３は、（ｎ−１）番目のテスト
について偏差を検索する。この（ｎ−１）番目の偏差値
はｎ番目の偏差から差引かれ、偏差間の範囲を決定し、
この範囲の絶対値がステップ１２０４において決定され
る。当該範囲の絶対値はステップ１２０５において格納
される。ステップ１２０６において、ｎは１だけ減分さ
れる。ｎはステップ１２０７においてテストされ、ｎ＝
１であるかどうかを決定する。ｎが１に等しくなけれ
ば、新たなｎを用いてステップ１２０２〜１２０７が反
復される。ｎが１に等しければ、前記範囲の全ての絶対
値の平均値がステップ１２０８において計算される。上
限は、ステップ１２０９において計算されて格納され
る。当該上限は、前記範囲の絶対値の絶対値に２.６６
を乗算することによって計算される。プロセス１２００
は、ステップ１２１０において、公差範囲の下限を計算
して格納することによって終了する。当該下限は、前記
範囲の絶対値の平均値に２.６６を乗算してゼロから差
引くことによって計算される。
フロー図─―図１２ 公差範囲の上限と下限の制御チャートによる計算は、図
１２において教示される。図１２における制御チャート
は図６のプロセス６００を用いてｎ回のテストで計算さ
れる偏差に適用されるが、制御チャートの方法は、プロ
セス６００と同様に、本発明の他の実施の形態に適用し
得ることが理解されよう。制御チャートのプロセス１２
００は、メモリに格納されるプロセス５００から結果的
に生じる偏差の数にカウンタのｎを設定するステップ１
２０１において開始する。ステップ１２０２において、
ｎ番目のテストから偏差を検索する反復的プロセスが開
始する。ステップ１２０３は、（ｎ−１）番目のテスト
について偏差を検索する。この（ｎ−１）番目の偏差値
はｎ番目の偏差から差引かれ、偏差間の範囲を決定し、
この範囲の絶対値がステップ１２０４において決定され
る。当該範囲の絶対値はステップ１２０５において格納
される。ステップ１２０６において、ｎは１だけ減分さ
れる。ｎはステップ１２０７においてテストされ、ｎ＝
１であるかどうかを決定する。ｎが１に等しくなけれ
ば、新たなｎを用いてステップ１２０２〜１２０７が反
復される。ｎが１に等しければ、前記範囲の全ての絶対
値の平均値がステップ１２０８において計算される。上
限は、ステップ１２０９において計算されて格納され
る。当該上限は、前記範囲の絶対値の絶対値に２.６６
を乗算することによって計算される。プロセス１２００
は、ステップ１２１０において、公差範囲の下限を計算
して格納することによって終了する。当該下限は、前記
範囲の絶対値の平均値に２.６６を乗算してゼロから差
引くことによって計算される。
【００４８】結語
本発明は、コリオリ流量計の流量校正係数における潜在
的なエラーを通知する検証システムである。コリオリ流
量計の大半のテストにおいては、エラーは検出されな
い。しかし、このテストは、質量流量及び他の測定が正
確であることを検証するものである。本発明は、流量計
におけるエラー条件の可能性を単に検出するものであ
り、流量計は流量計に対する何らかの破損を検出するた
めに検査されねばならない。
的なエラーを通知する検証システムである。コリオリ流
量計の大半のテストにおいては、エラーは検出されな
い。しかし、このテストは、質量流量及び他の測定が正
確であることを検証するものである。本発明は、流量計
におけるエラー条件の可能性を単に検出するものであ
り、流量計は流量計に対する何らかの破損を検出するた
めに検査されねばならない。
【００４９】本発明の特定の実施の形態について本文に
開示したが、当業者であれば、文言どおりにあるいは均
等論により請求の範囲内に入る本発明の代替的な実施の
形態を設計することができよう。 ［図面の簡単な説明］
開示したが、当業者であれば、文言どおりにあるいは均
等論により請求の範囲内に入る本発明の代替的な実施の
形態を設計することができよう。 ［図面の簡単な説明］
【図１】従来技術においては普通のコリオリ流量計を示
す図である。
す図である。
【図２】コリオリ流量計における流量計電子装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】コリオリ流量計に対する密度校正プロセスを示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図４】本発明の検証プロセスを示すフローチャートで
ある。
ある。
【図５】エラー条件検出プロセスの第１の実施の形態を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図６】エラー条件検出プロセスの第２の実施の形態を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図７】エラー条件検出プロセスの第３の実施の形態を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図８】エラー条件検出プロセスの第３の実施の形態か
らのデータを用いる、生じ得るエラー補正プロセスを示
すフローチャートである。
らのデータを用いる、生じ得るエラー補正プロセスを示
すフローチャートである。
【図９】エラー検出プロセスの第４の実施の形態を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図１０】物質の密度を決定する密度計を含むシステム
を示す図である。
を示す図である。
【図１１】物質がシステムを通過するときの物質の密度
を決定するためのフローチャートである。
を決定するためのフローチャートである。
【図１２】公差範囲に対する上限と下限とを見出す方法
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 スタック，チャールズ・ポール
アメリカ合衆国コロラド州80027，ルイ
スヴィル，ウエスト・マルベリー 818
(56)参考文献 特開 平２−221818（ＪＰ，Ａ)
特公 平６−63958（ＪＰ，Ｂ２)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01F 1/00 - 9/02
Claims (10)
- 【請求項１】流管手段（１０３Ａ、１０３Ｂ）と、前記
流管手段（１０３Ａ、１０３Ｂ）を振動させるドライバ
（１０４）と、前記流管に固定されたピックオフ・セン
サ（１０５、１０５’）とを備えた流量計電子装置（２
０）であって、 既知の密度値を有する物質が前記流管を流れるときの前
記流管手段の振動周期を表す信号を前記ピックオフ・セ
ンサから受信し、前記信号を処理して前記物質の計算さ
れた密度値を計算するよう構成されたプロセッサ（２０
１）を備えた流量計電子装置において、 前記プロセッサが、前記物質の前記既知の密度値と前記
計算された密度値とを比較して、偏差を決定し、前記偏
差に基づいて、前記コリオリ流量計によって使用される
流量校正係数を評価するように構成されてなる流量計電
子装置。 - 【請求項２】前記プロセッサ（２０１）が、前記偏差を
許容公差範囲と比較し、前記偏差が前記許容公差範囲の
外にあるときに誤り状態を指示する、請求項１記載の流
量計電子装置（２０）。 - 【請求項３】前記プロセッサ（２０１）が、前記偏差を
メモリ（２０３）に蓄積し、前記偏差と前に蓄積された
偏差とを処理して前記許容範囲の上限を確立し、前記偏
差と前記前に蓄積された偏差とを処理して前記許容範囲
の下限を確立するよう攻勢された、請求項２記載の流量
計電子装置（２０）。 - 【請求項４】前記プロセッサ（２０１）が、前記計算さ
れた密度値が前記既知の密度値に等しくないときに誤り
状態を指示する、請求項１記載の流量計電子装置（２
０）。 - 【請求項５】前記プロセッサ（２０１）が、前記計算さ
れた密度値が前記既知の密度値に等しいときに誤りなし
状態を指示する、請求項４記載の流量計電子装置（２
０）。 - 【請求項６】コリオリ流量計（５）の流量計電子装置
（２０）によって用いられる流量校正係数を評価する方
法（４００）であって、前記コリオリ流量計が、流管
（１０３Ａ、１０３Ｂ）と、該流管手段（１０３Ａ、１
０３Ｂ）を振動させるドライバ（１０４）と、前記流管
の振動周期を測定するよう構成されたピックオフ・セン
サ（１０５、１０５′）とを備える方法（４００）にお
いて、 既知の密度値を有する物質を前記コリオリ流量計の流管
に流すステップ（４０１）と、 前記物質が前記流管を流れるときに該流管を振動させる
ステップ（４０２）と、 前記物質が前記流管を流れるときに該流管の振動周期を
計測するステップ（４０３）と、 前記振動周期を処理して、前記物質の計算された密度値
を計算するステップと、 前記物質の既知の密度値と前記計算された密度値との比
較を行って偏差を決定するステップと、 前記偏差に基づいて、前記コリオリ流量計で使用される
前記流量校正係数を評価するステップと、 を備える方法。 - 【請求項７】前記流量校正係数を評価する前記ステップ
が、前記偏差と許容範囲との比較を行うステップと、 前記偏差が前記許容範囲の外にあるとき、誤り状態を指
示するステップと、 を含む、請求項６記載の方法（４００）。 - 【請求項８】前記偏差を記憶するステップ（６０４）
と、 前記偏差と前に記憶させた偏差とを処理して前記許容範
囲の上限を確立するステップと、 前記偏差と前記前に記憶させた偏差とを処理して前記許
容範囲の下限を確立するステップと、 を更に含む、請求項１６記載の方法（４００）。 - 【請求項９】前記計算された密度値が前記既知の密度値
に等しくないとき、誤り状態を指示するステップを更に
含む、請求項６記載の方法（４００）。 - 【請求項１０】前記計算された密度値が前記既知の密度
値に等しいとき、誤りなし状態を指示するステップを更
に含む、請求項６記載の方法（４００）。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/015,737 | 1998-01-29 | ||
| US09/015,737 US6092409A (en) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | System for validating calibration of a coriolis flowmeter |
| PCT/US1999/000722 WO1999039164A1 (en) | 1998-01-29 | 1999-01-13 | System for validating calibration of a coriolis flowmeter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002502022A JP2002502022A (ja) | 2002-01-22 |
| JP3523592B2 true JP3523592B2 (ja) | 2004-04-26 |
Family
ID=21773302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000529580A Expired - Lifetime JP3523592B2 (ja) | 1998-01-29 | 1999-01-13 | コリオリ流量計の校正を検証するシステム |
Country Status (14)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6092409A (ja) |
| EP (2) | EP1051597B1 (ja) |
| JP (1) | JP3523592B2 (ja) |
| KR (1) | KR100436483B1 (ja) |
| CN (1) | CN1289408B (ja) |
| AR (1) | AR014511A1 (ja) |
| AU (1) | AU737056B2 (ja) |
| BR (1) | BR9907238B1 (ja) |
| CA (1) | CA2317678C (ja) |
| HK (1) | HK1034768A1 (ja) |
| MY (1) | MY129545A (ja) |
| PL (1) | PL342027A1 (ja) |
| RU (1) | RU2216714C2 (ja) |
| WO (1) | WO1999039164A1 (ja) |
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