JP3512031B2 - ウェーハ研磨方法 - Google Patents

ウェーハ研磨方法

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JP3512031B2
JP3512031B2 JP2002055014A JP2002055014A JP3512031B2 JP 3512031 B2 JP3512031 B2 JP 3512031B2 JP 2002055014 A JP2002055014 A JP 2002055014A JP 2002055014 A JP2002055014 A JP 2002055014A JP 3512031 B2 JP3512031 B2 JP 3512031B2
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polishing
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polishing pad
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弘之 小林
修 遠藤
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ研磨方法
関し、特にウェーハ表面の研磨量均一性を向上するため
の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のウェーハ研磨装置として、表面
に研磨パッドが貼付された円盤状のプラテンと、研磨す
べきウェーハの一面を保持して研磨パッドにウェーハの
他面を当接させる複数のウェーハ保持ヘッドと、これら
ウェーハ保持ヘッドをプラテンに対し相対回転させるヘ
ッド駆動機構とを具備し、研磨パッドとウェーハの間に
研磨砥粒を含むスラリーを供給することにより研磨を行
うものが広く知られている。
【0003】この種の装置を改良したものとして、米国
特許5,205,082号では、図6に示すようなウェ
ーハ保持ヘッドが開示されている。このウェーハ保持ヘ
ッドは、中空のヘッド本体1と、ヘッド本体1内に水平
に張られたダイヤフラム2と、ダイヤフラム2の下面に
固定されたキャリア4とを有し、ダイヤフラム2によっ
て形成された空気室6へ、シャフト8を通じて加圧空気
源10から加圧空気を供給することにより、キャリア4
を下方へ押圧できるフローティングヘッド構造になって
いる。このようなフローティングヘッド構造は、研磨パ
ッドに対するウェーハの当接圧力が均一化できる利点を
有する。
【0004】キャリア4の外周には同心状にリテーナリ
ング12が配置され、このリテーナリング12もダイヤ
フラム2に固定されている。リテーナリング12の下端
はキャリア4よりも下方に突出し、これにより、キャリ
ア4の下面に付着されたウェーハの外周を保持する。こ
のようにウェーハ外周を保持することにより、研磨中の
ウェーハがキャリア4から外れる不具合が防止できる。
また、ウェーハをリテーナリング12で囲み、このリテ
ーナリング12の下端をウェーハ下面と同じ高さに位置
させ研磨することにより、ウェーハ外周部での研磨量が
ウェーハ中央部よりも大きくなる現象が防止できるとさ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来は、前述
のように、リテーナリング12の下端面をウェーハの研
磨面とほぼ同一平面上に配置さえしておけば、ウェーハ
外周部の過研磨が防止できると考えられていた。
【0006】しかし、本発明者らがこのウェーハ研磨装
置について子細に検討した結果、研磨パッドの材質によ
っては、図7に示すように、リテーナリング12に当接
した箇所の内周縁に沿って研磨パッドPが局部的に盛り
上がり(以下、便宜のため「波打ち変形」と称する)、
この盛り上がり部分TによってウェーハWの外周部Gが
過剰に研磨され、ウェーハWの研磨均一性が阻害される
という新規な現象が発見された。さらに、本発明者ら
は、この現象が生じた場合、リテーナリング12の研磨
パッドPに対する当接力を従来より弱い適切値にするこ
とによって、前記波打ち変形を防ぎ、ウェーハ外周部G
の過研磨をほぼ防止できることも見いだした。
【0007】本発明は、上記発見に基づいてなされたも
ので、リテーナリングの当接圧力を最適値に調整するこ
とにより、研磨均一性が高められるウェーハ研磨方法
提供することを課題としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係るウェーハ研磨方法は、研磨すべきウェ
ーハの一面をウェーハ保持ヘッドによって保持して、プ
ラテンの表面に貼付けられた研磨パッドに対して前記ウ
ェーハの他面を当接させながら前記ウェーハ保持ヘッド
と前記プラテンとを相対運動させることにより前記研磨
パッドでウェーハ他面を研磨するウェーハ研磨方法であ
って、前記ウェーハ保持ヘッドとして、下端が開口する
ヘッド本体と、該ヘッド本体の内部に張られたダイヤフ
ラムと、該ダイヤフラムの下面に固定されて前記ウェー
ハの一面を保持するキャリアと、該キャリアの外周に同
心状に配置されて前記ウェーハの外周を保持するリテー
ナリングと、前記ヘッド本体と前記リテーナリングとの
間に設けられる弾性材料からなるチューブと、前記ヘッ
ド本体と前記ダイヤフラムとの間に形成される第1流体
室内の流体圧力を調整して前記キャリアを前記プラテン
側へ向けて押圧する圧力を調整する第1圧力調整機構
と、前記チューブ内の流体圧力を調整して前記リテーナ
リングを前記プラテン側へ向けて押圧する圧力を調整す
る第2圧力調整機構とを有するウェーハ保持ヘッドを用
いて、前記研磨パッドに対する前記リテーナリングの当
接圧力を、前記研磨パッドに対する前記ウェーハの当接
圧力とは独立して調整しつつ前記ウェーハの研磨を行う
ことを特徴とする。 また、本発明に係るウェーハ研磨方
法は、研磨すべきウェーハの一面をウェーハ保持ヘッド
によって保持して、プラテンの表面に貼付けられた研磨
パッドに対して前記ウェーハの他面を当接させながら前
記ウェーハ保持ヘッドと前記プラテンとを相対運動させ
ることにより前記研磨パッドでウェーハ他面を研磨する
ウェーハ研磨方法であって、前記ウェーハ保持ヘッドと
して、下端が開口するヘッド本体と、該ヘッド本体の内
部に張られたダイヤフラムと、該ダイヤフラムの下面に
固定されて前記ウェーハの一面を保持するキャリアと、
前記ヘッド本体の下端に設けられる第2流体室と、該第
2流体室の下端に張られてこの第2流体室を気密に封止
する第2ダイヤフラムと、前記キャリアの外周に同心状
に配置された状態で前記第2ダイヤフラムに固定されて
前記ウェーハの外周を保持するリテーナリングと、前記
ヘッド本体と前記ダイヤフラムとの間に形成される第1
流体室内 の流体圧力を調整して前記キャリアを前記プラ
テン側へ向けて押圧する圧力を調整する第1圧力調整機
構と、前記第2流体室内の流体圧力を調整して前記リテ
ーナリングを前記プラテン側へ向けて押圧する圧力を調
整する第2圧力調整機構とを有するウェーハ保持ヘッド
を用いて、前記研磨パッドに対する前記リテーナリング
の当接圧力を、前記研磨パッドに対する前記ウェーハの
当接圧力とは独立して調整しつつ前記ウェーハの研磨を
行うことを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明に係るウェーハ研磨方法では、キャリア
をプラテン側へ向けて押圧する圧力、すなわち研磨パッ
ドに対するウェーハの当接圧力とは独立して、研磨パッ
ドに対するリテーナリングの当接圧力を調整すること
より、研磨パッドの波打ち変形を防いで、ウェーハ外周
部の過研磨を防止することが可能である。
【0010】
【発明の実施の形態】[第1の実施の形態] 図1〜図4は、本発明に係るウェーハ研磨方法に用いる
ウェーハ研磨装置の第1実施形態を示している。始めに
図1を参照して全体の構成を簡単に説明すると、図中符
号21は基台であり、この基台21の中央には円盤状の
プラテン22が水平に設置されている。このプラテン2
2は基台21内に設けられたプラテン駆動機構により軸
線回りに回転されるようになっており、その上面には全
面に亙って研磨パッド24が貼付されている。
【0011】プラテン22の上方には、複数の支柱26
を介して上側取付板28が水平に固定されている。この
上側取付板28の下面には円盤状のカルーセル(ヘッド
駆動機構)30が固定され、このカルーセル30にはプ
ラテン22と対向する計6基のウェーハ保持ヘッド32
が設けられている。これらウェーハ保持ヘッド32は、
図2に示すようにカルーセル30の中心から同一距離に
おいて、カルーセル30の中心軸回りに60゜毎に配置
され、カルーセル30によりそれぞれ遊星回転される。
ただし、ウェーハ保持ヘッド32の個数は6基に限定さ
れず、1〜5基または7基以上でもよい。
【0012】次に、図3および図4を参照してウェーハ
保持ヘッド32を説明する。ウェーハ保持ヘッド32
は、図3に示すように、軸線垂直に配置され下端が開口
する中空のヘッド本体34と、このヘッド本体34の内
部に張られたダイヤフラム44と、このダイヤフラム4
4の下面に固定されたキャリア46と、このキャリア4
6の外周に同心に配置されたリテーナリング50とを具
備するものである。
【0013】ヘッド本体34は円板状の天板部36と、
この天板部36の外周に固定された円筒状の周壁部38
とから構成され、天板部36はカルーセル30のシャフ
ト42に同軸に固定されている。周壁部38の内周面に
は、全周に亙って半径方向内方へ突出する円環状の取付
部38Aが形成され、この取付部38Aに円板状のダイ
ヤフラム44の外周が載せられ、固定リング45で固定
されている。ダイヤフラム44は、各種ゴム等の弾性材
料で形成されている。一方、シャフト42には第1流路
51が形成され、ヘッド本体34とダイヤフラム44と
により形成された流体室49は、第1流路51を通じて
第1圧力調整機構53に接続されている。そして、第1
圧力調整機構53で流体室49内の流体圧力を調整する
ことにより、ダイヤフラム44が上下に変位して研磨パ
ッド24へのキャリア46の押圧圧力が変化する。な
お、流体としては、一般に空気を使用すれば十分である
が、必要に応じては他種のガスや液体を使用してもよ
い。
【0014】キャリア46は、セラミック等の高い剛性
を有する材料で成形された一定厚さのものであり、弾性
変形はしない。キャリア46は、ダイヤフラム44の上
面に同軸に配置された固定リング48に対して複数のボ
ルトで固定されている。固定リング48の上端には外方
に広がるフランジ部が形成され、ヘッド上昇時には、図
示しない保持部材によりこのフランジ部が保持されて、
キャリア重量が支えられるようになっている。
【0015】リテーナリング50は、下端面が平坦な円
環状をなし、キャリア46の外周面との間に僅かな透き
間を空けて同心状に配置され、キャリア46とは独立し
て上下変位可能とされている。また、リテーナリング5
0の上端外周縁には、図4に示すように半径方向外方に
突出する保持部50Aが形成されており、ウェーハ保持
ヘッド32をカルーセル30と共にプラテン22から引
き上げた場合には、この保持部50Aが周壁部38の下
端に固定されたストッパ40により保持されるようにな
っている。
【0016】ヘッド本体34の取付部38Aの下面およ
びリテーナリング50の上面には、互いに対向する位置
に、ヘッド軸線と同心の円環状をなす断面円弧状の溝5
2が形成され、これら溝52間に円環状のチューブ54
が配置されている。チューブ54は溝52の内面に接着
されていてもよい。チューブ54の材質は限定されない
が、具体的には各種ゴムやエラストマーなどの弾性材料
で形成され、内部が全周に亙って空洞であり、流体が充
填されると断面円形状に膨らみ、その内部圧力に応じて
断面の直径が変化する。チューブ54に対する材質上の
制限はないが、少なくとも内圧5kg/cm2 に耐えら
れることが好ましい。チューブ54の断面形状は円形に
限らず、楕円形等であってもよいし、2本以上のチュー
ブを同心円状に配置して互いに連通させてもよい。
【0017】チューブ54の一部には、固定リング4
5、ダイヤフラム44および取付部38Aを貫通してパ
イプ56が接続されている。このパイプ56の上端には
第2流路58が接続され、シャフト42を通じて第2圧
力調整機構60に接続されている。そして、この第2圧
力調整機構60によりチューブ54内の流体圧力を調整
することにより、研磨パッド24に対するリテーナリン
グ50の当接圧力が、その当接面全面に亙ってほぼ均一
に保たれつつ変化するようになっている。
【0018】なお、研磨を行う場合には、キャリア46
の下面に、ウェーハ付着シートSを介してウェーハWが
付着される。ウェーハ付着シートSは、不織布等の吸水
性を有する材質で形成され、水分を吸収すると、表面張
力でウェーハを吸着する。このウェーハ付着シートSの
具体的な材質としては各種不織布等が挙げられ、その好
ましい厚さは0.6〜0.8mmである。ただし、本発
明は必ずしもウェーハ付着シートSを使用しなくてもよ
く、例えばキャリア46の下面にワックスを介してウェ
ーハWを付着させる構成としてもよいし、他の付着手段
を使用してもよい。
【0019】本発明に係るウェーハ研磨方法では、上記
構成からなるウェーハ研磨装置を用いて、第2圧力調整
機構60を制御することにより、チューブ54の内部圧
力を調整し、研磨パッド24に対するリテーナリング5
0の当接圧力を調整すること、研磨パッド24のリテ
ーナリング当接部分の周囲に盛り上がりが生じる波打ち
変形を防ぎ、これによりウェーハ外周部の過研磨を防い
で、研磨の均一性を高めることが可能である。なお、本
発明者らによる実験では、一般的な研磨パッド24の場
合、研磨パッド24に対するリテーナリング50の当接
圧力が、研磨パッド24に対するウェーハWの当接圧力
(一般には6psi以上とされる)の0.7〜1.7倍
の範囲の一定値であるときに、ウェーハ研磨均一性が極
大となることが確かめられている。また、6psi未満
の時は、1.7〜2.4倍の範囲が好ましい。
【0020】また、チューブ54は円環状かつ断面一定
のものであるから、リテーナリング50と研磨パッド2
4との当接圧力は、当接面の全面に亙って一定となる。
したがって、局部的な当接圧力の過剰が生じず、局部的
にさえ波打ち変形が生じることを防ぐことが可能であ
る。
【0021】また、取付部38Aおよびリテーナリング
50にそれぞれ溝52を形成し、これら溝52間にチュ
ーブ54をはめ込んでいるので、チューブ54が膨らん
でもその位置が半径方向にずれることが無く、ずれによ
る圧力不均一の発生を防ぐことができる。
【0022】なお、研磨パッド24は、ウェーハWに当
接する表面硬質層、および表面硬質層とプラテン22と
の間に位置する弾性支持層の2層を有するものであって
もよい。このような2層型の研磨パッドは、後述するよ
うにウェーハ研磨精度を高める上で特別の効果を奏する
ものであるが、同時に、図7で説明した問題が1層型研
磨パッドよりも顕著に現れる傾向を有する。したがっ
て、本発明と組み合わせた場合に、両者の効果は相乗し
合い、ウェーハの研磨精度を高める上で特に良好な効果
を奏する。ただし、本発明はこのような2層型研磨パッ
ドにのみ限定されるものではないことは勿論である。以
下、2層型研磨パッドについて具体的に説明する。
【0023】硬質表面層のショア硬度は好ましくは80
〜100、より好ましくは90〜100、弾性支持層の
ショア硬度は好ましくは50〜70、より好ましくは5
0〜65とされる。また、硬質表面層の厚さは好ましく
は0.5〜1.5mm、より好ましくは0.8〜1.3
mm、弾性支持層の厚さは好ましくは0.5〜1.5m
m、より好ましくは1.0〜1.3mmとされる。
【0024】硬質表面層および弾性支持層としてはそれ
ぞれ発泡ポリウレタンまたは不織布が好適で、特に、硬
質表面層としては発泡ポリウレタン、弾性支持層として
はポリエステル等の不織布が好ましい。硬質表面層,弾
性支持層を不織布で形成する場合、ポリウレタン樹脂等
の含浸剤を含浸させてもよい。ただし前記硬度範囲を満
足すれば、前記以外の材質で研磨パッド24を構成して
もよい。
【0025】この種の2層型研磨パッドを使用した場
合、特に、絶縁膜分離技術におけるウェーハ研磨に優れ
た効果を発揮する。この種の絶縁膜分離技術は、例えば
ウェーハの鏡面に配線用のアルミニウム等を蒸着して回
路パターンを形成し、その上にBPSG,PTEOS、
またはCVD法等によるSiO2 等の絶縁膜を積層形
成した後、この絶縁膜を研磨により平坦化して、さらに
その上に素子の内部構造を形成するものである。
【0026】上記絶縁膜研磨の場合、ウェーハ表面に回
路パターンなどに起因する初期凹凸が存在する場合があ
るが、2層型研磨パッドにおいては、パッド表面が相対
的に硬い表面硬質層により構成されているので、凹凸に
追従して研磨パッド24の表面が弾性変形することが少
ない。したがって、初期凹凸に起因する研磨後の段差発
生が低減できる。
【0027】また、ウェーハWに直接当接する表面硬質
層は、弾性支持層により裏側から弾性的に支持されてい
るので、フローティング型ヘッド32によるウェーハ当
接圧力の均一化作用、および弾性支持層によるクッショ
ン効果が相乗しあい、研磨パッド24あるいはウェーハ
Wにうねりが生じている場合にも、表面硬質層をうねり
に沿って変形させウェーハWの全面に亙って均一に当接
させる効果が得られる。これにより、研磨パッド24に
よるウェーハWの研磨速度がウェーハ全面に亙って均一
化されるから、研磨後のウェーハ厚さの不均一性が低減
でき、従来は両立しがたかった段差の低減および厚さ均
一性の向上が同時に達成できる。
【0028】さらに、上記2層型研磨パッドでは、表面
硬質層が柔らかい弾性支持層で裏打ちされているので、
リテーナリング50で表面硬質層を強く抑えると、その
押圧箇所の周囲が図7に示すように波打って盛り上がる
傾向が強い。したがって、チューブ54によりリテーナ
リング50の当接圧力を調整することにより、前記波打
ち変形を効果的に防ぎ、2層型研磨パッドの効果を十分
に発揮させることができるのである。
【0029】[第2の実施の形態] 次に、図5は本発明に係るウェーハ研磨方法に用いる
ェーハ研磨装置の第2実施形態のウェーハ保持ヘッド3
2を示す断面図である。この実施形態が第1実施形態と
異なる点は、チューブ54の代わりに第2ダイヤフラム
66を使用したことにある。なお、先の実施形態と同様
の構成要素には同一符号を付して説明を省略する。
【0030】この実施形態のヘッド本体34は、上部6
1および下部62から主構成されている。上部61の下
端面には、ヘッド軸線と同心に円環状の第2流体室64
が形成され、この第2流体室64の下端には、その全周
に亙って、円環状の第2ダイヤフラム66が水平に張ら
れ、これにより第2流体室64が気密的に封止されてい
る。第2ダイヤフラム66は、ダイヤフラム44と同様
の材質で形成されたものでよく、具体的には各種ゴム、
エラストマーなどが例示できるが、これらの材質は限定
されない。一方、第2流体室64内に開口する第2流路
65が上部61内に形成され、第2流路65はさらに第
2流路58を介し、シャフト42を通じて、第2圧力調
整機構60へ接続されている。
【0031】キャリア46の外周にはリテーナリング6
8が同心状かつ上下移動可能に配置され、その上端は第
2ダイヤフラム66の中央部に当接され、第2ダイヤフ
ラム66の上に同心状に配置された固定リング70に対
して、複数のネジ等で固定されている。リテーナリング
68の第2ダイヤフラム66に固定されている上端部の
幅、および固定リング70の幅は、いずれも第2ダイヤ
フラム66の変形可能域の幅よりもある程度小さくさ
れ、かつそれぞれ全周に亙って一定である。第2ダイヤ
フラム66によるリテーナリング68の押圧力を、全周
に亙って一様に保ったまま、調整できるようにするため
である。
【0032】また、リテーナリング68の上端部には半
径方向外方に広がるフランジ部が形成され、プラテン2
2からウェーハ保持ヘッド32を引き上げたときには、
このフランジ部が下部62の下端に形成されたストッパ
部62Aにより保持されるようになっている。
【0033】このような実施形態によっても、第2圧力
調整機構60を制御して第2流体室64内の流体圧力を
調整することにより、研磨パッド24に対するリテーナ
リング68の当接圧力を適正値に調整できるから、研磨
パッド24のリテーナリング当接部分の周囲に盛り上が
りが生じる波打ち変形を防ぎ、これによりウェーハ外周
部の過研磨を防いで、研磨の均一性を高めることが可能
である。
【0034】また、この実施形態では、第2流体室64
および第2ダイヤフラム66を使用しているので、各部
寸法を変更することにより圧力調整の幅を広範に亙って
設定可能であるという利点も有する。
【0035】なお、本発明は上記2種の実施形態に限定
されるものではなく、他にも様々な変形が可能である。
例えば、流体圧力を用いる代わりに、磁力や静電気力を
用いた押圧手段をリング圧調整機構として使用してもよ
い。また、キャリア圧調整機構もダイヤフラムを用いた
構成に限定されない。さらに、前記各実施形態ではウェ
ーハ保持ヘッド32を上、プラテン22を下とした構成
であったが、これに限定されず、上下関係を逆にしても
よいし、横倒しした配置状態にしてもよい。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るウェ
ーハ研磨方法では、研磨パッドに対するウェーハの当接
圧力とは独立して、研磨パッドに対するリテーナリング
の当接圧力を調整することで、研磨パッドの波打ち変形
を防いで、ウェーハ外周部の過研磨を防止することが可
能である。
【0037】また、チューブまたはダイヤフラムを使用
し、流体圧力を制御するようにした場合には、リテーナ
リングと研磨パッドとの当接圧力が当接面の全面に亙っ
て均一になる。したがって、局部的な当接圧力の過剰が
生じず、局部的にさえ波打ち変形が生じることを防ぐこ
とが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るウェーハ研磨装置の第1実施形
態を示す正面図である。
【図2】 同装置のウェーハ保持ヘッドとプラテンの配
置状態を示す平面図である。
【図3】 第1実施形態の装置のウェーハ保持ヘッドを
示す断面図である。
【図4】 図3の要部の拡大図である。
【図5】 本発明の第2実施形態に使用されたウェーハ
保持ヘッドを示す断面図である。
【図6】 従来のウェーハ研磨装置のウェーハ保持ヘッ
ドを示す断面図である。
【図7】 従来の装置の問題点を示す概略図である。
【符号の説明】
22 プラテン 24 研磨パッド 30 カルーセル(ヘッド駆動機構) 32 ウェーハ保持ヘッド 34 ヘッド本体 44 ダイヤフラム(キャリア圧調整機構) 46 キャリア 49 流体室 50,68 リテーナリング 51 第1流路 52 溝 53 第1圧力調整機構 54 チューブ(リング圧調整機構) 58,65 第2流路 60 第2圧力調整機構 64 第2流体室 66 第2ダイヤフラム(リング圧調整機構) W ウェーハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮入 広雄 埼玉県さいたま市北袋町1丁目297番地 三菱マテリアル株式会社 中央研究所 内 (56)参考文献 特開 平2−278822(JP,A) 特開 平6−21028(JP,A) 特開 平6−79618(JP,A) 特開 平6−91522(JP,A) 特開 昭55−157473(JP,A) 特開 昭56−146667(JP,A) 特開 昭63−144953(JP,A) 特開 昭63−144954(JP,A) 特開 昭63−300858(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 B24B 37/00 B24B 37/04

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 研磨すべきウェーハの一面をウェーハ保
    持ヘッドによって保持して、プラテンの表面に貼付けら
    れた研磨パッドに対して前記ウェーハの他面を当接させ
    ながら前記ウェーハ保持ヘッドと前記プラテンとを相対
    運動させることにより前記研磨パッドでウェーハ他面を
    研磨するウェーハ研磨方法であって、 前記ウェーハ保持ヘッドとして、下端が開口するヘッド
    本体と、該ヘッド本体の内部に張られたダイヤフラム
    と、該ダイヤフラムの下面に固定されて前記ウェーハの
    一面を保持するキャリアと、該キャリアの外周に同心状
    に配置されて前記ウェーハの外周を保持するリテーナリ
    ングと、前記ヘッド本体と前記リテーナリングとの間に
    設けられる弾性材料からなるチューブと、前記ヘッド本
    体と前記ダイヤフラムとの間に形成される第1流体室内
    の流体圧力を調整して前記キャリアを前記プラテン側へ
    向けて押圧する圧力を調整する第1圧力調整機構と、前
    記チューブ内の流体圧力を調整して前記リテーナリング
    を前記プラテン側へ向けて押圧する圧力を調整する第2
    圧力調整機構とを有するウェーハ保持ヘッドを用いて、 前記研磨パッドに対する前記リテーナリングの当接圧力
    を、前記研磨パッドに対する前記ウェーハの当接圧力と
    は独立して調整しつつ前記ウェーハの研磨を行うことを
    特徴とするウェーハ研磨方法。
  2. 【請求項2】 研磨すべきウェーハの一面をウェーハ保
    持ヘッドによって保持して、プラテンの表面に貼付けら
    れた研磨パッドに対して前記ウェーハの他面を当接させ
    ながら前記ウェーハ保持ヘッドと前記プラテンとを相対
    運動させることにより前記研磨パッドでウェーハ他面を
    研磨するウェーハ研磨方法であって、 前記ウェーハ保持ヘッドとして、下端が開口するヘッド
    本体と、該ヘッド本体の内部に張られたダイヤフラム
    と、該ダイヤフラムの下面に固定されて前記ウェーハの
    一面を保持するキャリアと、前記ヘッド本体の下端に設
    けられる第2流体室と、該第2流体室の下端に張られて
    この第2流体室を気密に封止する第2ダイヤフラムと、
    前記キャリアの外周に同心状に配置された状態で前記第
    2ダイヤフラムに固定されて前記ウェーハの外周を保持
    するリテーナリングと、前記ヘッド本体と前記ダイヤフ
    ラムとの間に形成される第1流体室内の流体圧力を調整
    して 前記キャリアを前記プラテン側へ向けて押圧する圧
    力を調整する第1圧力調整機構と、前記第2流体室内の
    流体圧力を調整して前記リテーナリングを前記プラテン
    側へ向けて押圧する圧力を調整する第2圧力調整機構と
    を有するウェーハ保持ヘッドを用いて、 前記研磨パッドに対する前記リテーナリングの当接圧力
    を、前記研磨パッドに対する前記ウェーハの当接圧力と
    は独立して調整しつつ前記ウェーハの研磨を行うことを
    特徴とするウェーハ研磨方法。
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