JP3504477B2 - 熱処理装置 - Google Patents
熱処理装置Info
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Description
た熱板と、その熱板に対して半導体ウエハ、フォトマス
ク用ガラス基板、液晶表示用ガラス基板、光ディスク用
基板等の基板(以下、単に「基板」という。)を支持す
る支持手段と、上記熱板に対して支持手段を昇降させる
昇降手段と、を備える熱処理装置に関する。
冷却装置などの熱処理装置は温度調節がなされた熱板を
有し、当該熱板に近接するように基板を支持する支持手
段を有する。当該支持手段は熱板に対して垂直方向に昇
降する。そして、当該支持手段は上昇した状態で装置外
から基板を受け取り、降下して基板と熱板とを近接さ
せ、熱処理を行う。
サイズは複数あり、複数のサイズの基板を処理する場合
はそれぞれの基板サイズ専用の熱処理装置を用いるか、
装置内の支持手段およびそれを昇降する昇降手段を含む
ユニットを交換しなければならず、基板の製造コストを
上昇させるという問題が生じていた。
の克服を意図しており、複数サイズの基板を保持して熱
処理を施すことができる熱処理装置を提供することを目
的とする。
め、この発明の請求項1に記載の装置は、温度を調節さ
れた熱板と、熱板に対向して基板を支持する支持手段
と、熱板に対して支持手段を昇降させる昇降手段と、を
備える熱処理装置において、支持手段が第1のサイズの
基板を支持する第1支持手段と、第2のサイズの基板を
支持する第2支持手段と、を備え、前記第1支持手段が
第1の高さ調節部材を備える。
は、請求項1に記載の熱処理装置であって、前記第1の
高さ調節部材が、前記第1支持手段の先端において、第
1および第2の高さにのみ係止可能とされた部材である
ことを特徴とする。
は、請求項1に記載の熱処理装置であって、前記第1の
高さ調節部材が、前記第1支持手段の先端に対して着脱
されることによって、高さ調節を行う部材であることを
特徴とする。
は、請求項1乃至3のいずれかに記載の熱処理装置であ
って、前記第2支持手段が第2の高さ調節部材を備える
ことを特徴とする。
は、請求項4に記載の熱処理装置であって、前記第2の
高さ調節部材が、前記第2支持手段の先端において、第
1および第2の高さにのみ係止可能とされた部材である
ことを特徴とする。
は、請求項4に記載の熱処理装置であって、前記第2の
高さ調節部材が、前記第2支持手段の先端に対して着脱
されることによって、高さ調節を行う部材であることを
特徴とする。
は、請求項4乃至6のいずれかに記載の熱処理装置であ
って、前記第1及び第2の高さ調節部材のうちの少なく
とも一方によって高さ調節が行われることにより、前記
第1と第2の支持手段のうち、実際に基板を支持する支
持手段を切替え可能であることを特徴とする。
置は、請求項1乃至7のいずれかに記載の熱処理装置に
おいて、前記第1及び第2のサイズのうち、一方が他方
よりも小さいサイズであって、前記第1支持手段が前記
第1のサイズの基板の端縁部を支持するものであり、前
記第2支持手段が前記第2のサイズの基板の端縁部を支
持するものであるとともに、前記第1及び第2支持手段
のうち、小さいサイズの基板を支持する支持手段によっ
て囲まれる領域を囲むように、大きいサイズの基板を支
持する支持手段が配されているものであり、さらに、前
記昇降手段が前記第1支持手段と前記第2支持手段とを
一括して昇降させるものであることを特徴とする。ま
た、この発明の請求項9に記載の装置は、請求項8のい
ずれかに記載の熱処理装置であって、前記第1及び第2
支持手段のうち、大きいサイズの基板を支持する支持手
段が、小さいサイズの基板を支持する支持手段よりも相
対的に高い位置で基板を支持することを特徴とする。
を加熱するものだけでなく、冷却するものも含む。
施の形態を図1〜図7に基づいて説明する。図1はこの
発明の第1実施形態に係る熱処理装置の構成を示す縦断
面図であり、図2はその熱処理装置の要部を示す平面図
である。なお、図1は、図2におけるA−A断面に相当
する部分を表現している。
0mm径(「第1のサイズ」に相当)の略円形の半導体
ウエハまたは基板W2としての300mm径(「第2の
サイズ」に相当)の略円形の半導体ウエハに対して、加
熱処理を実行するものである。
レート11が配設されている。また、この加熱プレート
11は、その内部に図示しない板状ヒータを備えてい
る。この加熱プレート11には、図2に示すように、2
00mm径の同一円周上に6個の貫通孔12aと、それ
らと略同心で、かつ、それらを囲むように300mm径
の円周上に3個の貫通孔12bとが形成されている。
通して、支持ピン10a、10bが昇降可能に配設され
ている。支持ピン10a、10bはそれぞれ支柱14
a、14bと支柱14a、14bの先端に設けられた支
持部材13a、13bとを有する。なお、支持ピン10
a,10bについては後に詳述する。
うに、それぞれに支持する基板W1およびW2の裏面端
縁部と対向する位置において支持アーム15上に立設さ
れている。なお、このとき平面視において支持ピン10
aによって囲まれる領域を囲むように支持ピン10bが
設けられている。さらにいえば、平面視において支持ピ
ン10aが配されている円周を有する円の中心と支持ピ
ン10bが配されている円周を有する円の中心とは略同
心、すなわち略一致している。一方、支持アーム15
は、昇降手段としてのエアシリンダ16と連結されてい
る。このため、エアシリンダ16の駆動により、支持部
材13a,13bは、その先端が加熱プレート11の表
面より突出する基板W1,W2の受け渡し位置と、その
先端が加熱プレート11における貫通孔12a,12b
内に収納された基板W1,W2の加熱処理位置との間を
昇降する。
に示すように、それぞれ、3個ずつ組となった球体17
aおよび17bがそれぞれ200mm径より若干小さい
同一円周上および300mm径より若干小さい同一円周
上に埋設されている。この球体17a,17bは、例え
ば、アルミナ、マテアタイト等の低伝熱部材から構成さ
れる。この球体17a,17bの上端は、加熱プレート
11の表面より微小量だけ突出する状態で配設されてお
り、基板W1またはW2と加熱プレート11表面との間
にいわゆるプロキシミティギャップと称される微小間隔
を保った状態で、基板W1またはW2を加熱プレート1
1の球体17上に載置、支持して、これらの基板W1ま
たはW2を加熱するよう構成されている。
第1の実施の形態である熱処理装置の主要部について説
明する。
13a,13bの支柱14a,14bへの取り付け機構
を示す斜視図であり、図4はその取り付け状態を示す図
である。
材13a,13bおよび支柱14a,14bは、例えば
フッ素樹脂、セラミックスまたはポリイミド樹脂等の耐
熱性絶縁材料から構成されている。そして、図示のよう
に、支持部材13a,13bは上面が一直径を境にして
半分が基板W1またはW2を支持する傾斜面131a,
131bを有する円柱状の支持部131と、その下面に
支柱14a,14bに挿入して取り付けるための取付け
シャフト132を備えており、さらに、その取付けシャ
フト132の下端付近の外周面に垂直に取り付けピン1
33が設けられている。
が設けられた円筒状となっており、外周面には上端から
下方に延びた切り欠き溝Dが設けられており、その切り
欠き溝Dは途中で2又に分かれており、一方は下方に向
けて相対的に短い使用時溝D1、他方は相対的に長い不
使用時溝D2となっている。
ており、取付けシャフト132を支柱の開口Oに挿入
し、取り付けピン133を支柱の切り欠き溝Dに嵌入さ
せて、図4(a)のように、不使用時溝D2において取
り付けピン133が支持されるように支持部材13a,
13bを支柱14a,14bに取り付けると、支持部材
13a,13bの支持部131が支柱14a,14b上
端に接した状態である不使用状態になる。
において取り付けピン133が支持されるように支持部
材13a,13bを支柱14a,14bに取り付ける
と、その支持部13a,13bが支柱14a,14b上
端に接した状態である不使用状態になる。
を必要に応じて着脱したり、使用状態や不使用状態にす
ることが可能となっている。
持部材の状態を模式的に示す図である。とくに、図5は
この装置の典型的使用例であり、図5(a)は300m
m径の基板W2を支持する際の支持部材13a,13b
の支柱14a,14bへの取付け状態を示しており、図
5(b)は200mm径の基板W1を支持する際のそれ
を示している。なお、図1における支持部材13a,1
3bの支柱14a,14bへの取付け状態は図5(a)
と同様である。
で支持部材13aが不使用状態となっており、図5
(b)では支持部材13aおよび13bともに使用状態
となっている。
説明する。
になっており、支持ピン10a、10bは貫通孔12
a、12bから突出している。そして、図示しない搬送
ロボットの搬送アームが基板W1またはW2を水平状態
で装置内に搬入する。このときの基板W1またはW2の
下面の位置は支持ピン10a、10bのいずれの先端よ
りも高い。そして、搬送アームは進入が完了した後、降
下し、支持ピン10aまたは10bに基板W1またはW
2を載置する。そして、搬送アームが装置外に退避した
後、エアシリンダ16を駆動して支持アーム15を降下
させることによって支持ピン10a、10bを降下させ
る。こうすることによって、支持ピン10aまたは10
bに支持されていた基板W1またはW2は球体17aま
たは球体17b上に載置される。また、支持ピン10
a、10bは貫通孔12a、12b内に収納される。そ
して、この状態で熱処理が開始される。熱処理が終了す
ると上述の手順とは逆の手順で基板W1またはW2が装
置外へ搬出される。
受け取る際には、図5(a)のような支持部材の状態、
すなわち、支持部材13aが不使用状態となっているの
で、その先端は使用状態の支持部材13bの傾斜面13
1bよりも低くなっている。そのため、搬送アームが降
下して基板W2を支持ピン10bに載置する際にも基板
W2の裏面が支持ピン10aと接触することはない。よ
って、基板の裏面が支持ピン10aと擦れてパーティク
ルが発生するということを防止することができる。
際には、基板W1は200mm径であるので、それより
外側に設けられた支持ピン10bと接触することはな
い。そのため、図5(b)に示すように支持部材13b
を不使用状態にしなくても基板W1の裏面が支持ピン1
0bと接触することが防止できる。
ムの構造により、その搬送アームと支持ピン10bとが
干渉する等のその他の理由により、図6に示すような、
この装置の他の使用例のように支持部材13bを不使用
状態にしても、もちろん問題はない。
W1およびW2のどちらを支持する場合にも図5(a)
の状態のままで使用することも可能である。
bは、それぞれ支柱14a,14bに対して着脱自在の
ものとなっている。よって、図5および図6のような状
態ではなく、図7に示すような、この装置のさらに他の
使用例のようにしてもよい。すなわち、使用しない支持
部材を不使用状態にする代わりに、それらを支柱14
a,14bから取り外してもよい。つまり、基板W2の
受け渡しおよび処理の際には図7(a)のように支持部
材13bを使用状態とし、支持部材13aを取り外し、
逆に、基板W1の受け渡しおよび処理の際には図7
(b)のように、支持部材13aを使用状態とし、支持
部材13bを取り外すのである。
a,13bを着脱したり、取付け状態を変更することに
より支持ピン10a,10bの高さを調節することがで
きるので、基板支持の自由度が高いものとなっている。
よれば、200mm径の基板W1を支持しつつ昇降させ
る支持ピン10aと、300mm径の基板W2を支持し
つつ昇降させる支持ピン10bとを備えるため、一つの
熱処理装置において複数サイズの基板を受け渡し、熱処
理を施すことができる。
って囲まれる領域を囲むように支持ピン10bが設けら
れているので、装置がコンパクトなものとなり、設置の
ためのスペースも小さくて済む。
よび10bとを一括して昇降させるので、支持ピン10
aおよび10bのそれぞれに対し、個別に昇降手段を設
ける必要がないため、装置の製造コストの増加を防止す
ることができる。
す典型的な使用例では、支持ピン10bが支持ピン10
aよりも相対的に高い位置で基板W2を支持するので、
支持ピン10bによって基板W2を支持したときに支持
ピン10aが基板W2、とりわけその裏面に接触するこ
とがないので、基板W1,W2の汚染、とりわけ基板W
1,W2の裏面の汚染を減少させることができる。
13a,13bが、それぞれ支柱14a,14bに対し
て使用状態と不使用状態にのみ係止可能であるので、簡
単な構造で支持部材13a,13bを構成することがで
きる。
の第2の実施の形態に係る熱処理装置の構成を示す縦断
面図である。この装置では第1の実施の形態の装置にお
いて支持部材および支柱が一体となった形状の支持ピン
20a,20bを備えている点が異なるのみでその他の
加熱プレート11、支持アーム15、エアシリンダ16
等は第1の実施の形態の装置と全く同様のものとなって
いる。また、支持ピン20a,20bの配置は図2に示
す第1の実施の形態の装置の支柱14a,14bおよび
支持部材13a,13bと全く同様となっている。
ピン20aの傾斜面201aより高くなるように支持ア
ーム15に立設されている。図9は支持ピン20a,2
0bの高さと基板W1,W2との関係を模式的に示した
図である。図9(a)に示すように、300mm径の基
板W2の受け渡しを行う際には、基板W2の外側の支持
ピン20bの傾斜面201bより、内側の支持ピン20
aの先端の方が低くなっており、支持ピン20aが支持
された基板W2に接触することがない。
行うために内側の支持ピン20aによりそれを支持する
際には、支持ピン20bは基板W1より外側に設けられ
ているために、基板W1と干渉することはない。
したような構成であるので、第1の実施の形態と同様、
200mm径の基板W1を支持しつつ昇降させる支持ピ
ン20aと、300mm径の基板W2を支持しつつ昇降
させる支持ピン20bとを備えるため、一つの熱処理装
置において複数サイズの基板を受け渡し、熱処理を施す
ことができる。
同心に設けられているので、装置がコンパクトなものと
なり、設置のためのスペースも小さくて済む。
よび20bとを一括して昇降させるので、支持ピン20
aおよび20bのそれぞれに対し、個別に昇降手段を設
ける必要がないため、装置の製造コストの増加を防止す
ることができる。
20a,20bは、第1の実施の形態の装置のように支
持ピン10a,10bの支持部材13a,13bが着脱
できるものではないので、支持部材を取り外す作業をす
ることなく、複数サイズの基板W1,W2を処理するこ
とができ、支持部材を支柱から外した際にその支持部材
を紛失したりすることがない。
の形態では200mmの基板W1と300mmの基板W
2を支持する支持ピン10a,10bおよび20a,2
0bを備えるものとしたが、この発明はこれに限られ
ず、3種以上の支持ピンの組を設け、3つ以上のサイズ
の基板を対象としてもよい。
0a,10bの高さ調節を支持部材13a,13bが着
脱、取付け高さの変更により行うものとしたが、この発
明はこれに限られず、一体として形成された支持ピンの
下部に高さ調節用の部材を着脱可能に設ける等その他の
機構によってもよい。
0a,10bが支持部材13a,13bが着脱、取付け
高さの変更が可能なものであり、第2の実施の形態では
支持ピン20a,20bは、それぞれ一体のものとした
が、基板W1,W2のうちの一方を支持する支持ピンを
支持部材の着脱、取付け高さの変更が可能なものとし、
基板W1,W2のうちの他方の支持ピンを一体のものと
してもよい。
a,14bへの支持部材13a,13bの係止を、使用
時溝D1、不使用時溝D2に支持部材の取り付けピンを
支持させることによって行うものとしたが、この発明は
これに限られず、支持部材の取り付けシャフトおよび支
柱それぞれの長手方向に沿って複数の孔を設け、ピン状
の部材をそれら孔に貫通させることよって所望の高さに
支持部材を係止する方法等その他のその他の機構によっ
てもよい。
熱処理装置として加熱プレートを備える装置としたが、
この発明における熱処理装置は温度調節がなされた熱板
に基板を近接させて処理をする装置全般をいい、熱板と
して冷却プレートを備えた冷却装置、さらには、アッシ
ング装置、CVD装置等その他の熱処理を伴う装置に上
記第1および第2の実施の形態のような基板支持機構を
用いてもよい。
持していたが、同様に第1のサイズである第1矩形基板
と第2のサイズである第2矩形基板とを支持させてもよ
い。この場合は以下のように構成する。すなわち、例え
ば、第2のサイズが第1のサイズよりも大きい場合、第
1矩形基板を支持する複数の第1支持ピンを当該第1矩
形基板の端縁部に対応する位置に設け、平面視で第1支
持ピンを結ぶことによって規定される領域を囲むように
第2矩形基板の端縁部を支持する第2支持ピンを設け
る。このように構成することによって、複数サイズの矩
形基板を支持することができる。
0bが取り付けられた1つの支持アーム15を1つのエ
アシリンダ16によって上下させているが、図10のよ
うに第1支持アーム115と第2支持アーム117とを
設け、第1支持アーム115、第2支持アーム117そ
れぞれに第1サイズの基板を支持する第1支持ピン11
0aおよび第2サイズの基板を支持する第2支持ピン1
10bを設け、第1支持アーム115、第2支持アーム
117それぞれにエアシリンダ116、118を接続
し、第1支持アーム115、第2支持アーム117それ
ぞれを各個別に上下させることによって複数サイズの基
板を保持させてもよい。
9に記載の発明によれば、第1のサイズの基板を支持す
る第1支持手段と、第2のサイズの基板を支持する第2
支持手段とを備えるため、一つの熱処理装置において複
数サイズの基板を受け渡し、熱処理を施すことができ
る。
昇降手段が第1支持手段と第2支持手段とを一括して昇
降させるので、第1支持手段、第2支持手段のそれぞれ
に対し、個別に昇降手段を設ける必要がなく、装置の製
造コストの増加を防止することができる。
第1及び第2支持手段のうち、大きいサイズの基板を支
持する支持手段が、小さいサイズの基板を支持する支持
手段よりも相対的に高い位置で基板を支持するので、大
きいサイズの基板を支持する支持手段によって大きいサ
イズの基板を支持したときに、当該基板に、小さいサイ
ズの基板を支持する支持手段が接触することがないので
基板の汚染を減少させることができる。
発明によれば、高さ調節部材が第1および第2の高さに
のみ係止可能であるので、簡単な構造で調節部材を構成
することができる。
構成を示す縦断面図である。
面図である。
取り付け機構を示す斜視図である。
る。
模式的に示す図である。
模式的に示す図である。
模式的に示す図である。
構成を示す縦断面図である。
式的に表わした図である。
す縦断面図である。
段、第1および第2支持手段) 11 加熱プレート(熱板) 13a,13b 支持部材(高さ調節部材) 14a,14b 支柱 15 支持アーム(昇降手段) W1,W2 基板
Claims (9)
- 【請求項1】 温度を調節された熱板と、前記熱板に対
向して基板を支持する支持手段と、前記熱板に対して前
記支持手段を昇降させる昇降手段と、を備える熱処理装
置において、 前記支持手段が 第1のサイズの基板を支持する第1支持手段と、 第2のサイズの基板を支持する第2支持手段と、を備
え、 前記第1支持手段が第1の高さ調節部材を備える ことを
特徴とする熱処理装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の熱処理装置であって、前記第1の高さ調節部材が、前記第1支持手段の先端に
おいて、第1および第2の高さにのみ係止可能とされた
部材である ことを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の熱処理装置であって、 前記第1の高さ調節部材が、前記第1支持手段の先端に
対して着脱されることによって、高さ調節を行う部材で
ある ことを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載の熱処
理装置であって、 前記第2支持手段が第2の高さ調節部材を備えることを
特徴とする熱処理装置。 - 【請求項5】 請求項4に記載の熱処理装置であって、前記第2の高さ調節部材が、前記第2支持手段の先端に
おいて、第1および第2の高さにのみ係止可能とされた
部材である ことを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項6】 請求項4に記載の熱処理装置であって、前記第2の高さ調節部材が、前記第2支持手段の先端に
対して着脱されることによって、高さ調節を行う 部材で
あることを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項7】 請求項4乃至6のいずれかに記載の熱処
理装置であって、前記第1及び第2の高さ調節部材のうちの少なくとも一
方によって高さ調節が行われることにより、前記第1と
第2の支持手段のうち、実際に基板を支持する支持手段
を切替え可能である ことを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項8】 請求項1乃至7のいずれかに記載の熱処
理装置において、前記第1及び第2のサイズのうち、一
方が他方よりも小さいサイズであって、 前記第1支持手段が前記第1のサイズの基板の端縁部を
支持するものであり、 前記第2支持手段が前記第2のサイズの基板の端縁部を
支持するものであるとともに、 前記第1及び第2支持手段のうち、小さいサイズの基板
を支持する支持手段によって囲まれる領域を囲むよう
に、大きいサイズの基板を支持する支持手段が配されて
いるものであり、さらに、 前記昇降手段が前記第1支持手段と前記第2支持手段と
を一括して昇降させるものである ことを特徴とする熱処
理装置。 - 【請求項9】 請求項8のいずれかに記載の熱処理装置
であって、 前記第1及び第2支持手段のうち、大きいサイズの基板
を支持する支持手段が、小さいサイズの基板を支持する
支持手段よりも相対的に高い位置で基板を支持すること
を特徴とする熱処理装置。
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JP30560897A JP3504477B2 (ja) | 1997-11-07 | 1997-11-07 | 熱処理装置 |
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CN102859031A (zh) * | 2010-04-28 | 2013-01-02 | 株式会社爱发科 | 真空处理装置、基板和对位掩模的移动方法以及对位方法及成膜方法 |
CN102859031B (zh) * | 2010-04-28 | 2014-08-20 | 株式会社爱发科 | 真空处理装置、基板和对位掩模的移动方法以及对位方法及成膜方法 |
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JPH11145149A (ja) | 1999-05-28 |
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