JP3495488B2 - プラズマcvd装置 - Google Patents
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Description
成するためのプラズマCVD装置に関する。
用した化学蒸着は、比較的低い温度例えば室温でワーク
に皮膜を形成することができる方法として、最近注目さ
れている。このプラズマCVDを実行する一般的な装置
では、実開昭64ー13119号公報の図3に開示され
ているように、接地された真空槽内に平板形状をなす第
1,第2電極が互いに平行に配置されている。第1電極
に高周波電源が接続され、第2電極は接地されている。
真空槽の内部空間は反応空間として提供される。この反
応空間内に供給された反応ガスの一部は、第1電極と第
2電極との間に発生する高周波電界により、プラズマと
なり、プラズマのうち負イオンすなわち電子がこの高周
波電界により激しく運動する。その結果、反応ガスの一
部が分解してラジカルが発生する。第2電極には、平板
形状のワークが第2電極に沿って取り付けられており、
このワークの表面に正イオンやラジカルが付着して、皮
膜が形成される。
てバイアスされないので、ワークに形成される皮膜は、
付着強度が低く薄い。また、第1電極,第2電極にも皮
膜が形成されること、第1電極とこれに対峙するチャン
バの壁との間にもプラズマが発生すること等の理由によ
り、電力が無駄に消費される。
が、特開平5ー311448号公報に開示されている。
この装置では、真空槽の内部空間が金網で複数に分割さ
れている。分割されたそれぞれの空間は真空槽の壁と金
網で囲われており、反応空間として提供される。真空槽
と金網は接地されており、第2電極となっている。上記
各反応空間には、平板形状の第1電極が収容されてい
る。この第1電極は、インピーダンスマッチング回路を
介して高周波電源に接続されている。第1電極の上面に
は、ほぼ立方体形状のワークが載せられる。高周波電界
により生じたプラズマのうち正イオンは、インピーダン
スマッチング回路のバイアス機能に基づき、ワークに向
かって進み、この正イオンに伴ってラジカルも同方向に
進む。その結果、第1電極の表面に皮膜が形成される。
448号公報に開示された装置では、第1電極に載せら
れたワークの複数の面のうち上面は、第2電極に対峙し
ており、正イオンとそれに追随するラジカルがほぼ直角
をなして衝突するので、ここに形成される皮膜は付着強
度が強くて厚い。しかし、第1電極の上面と直交するワ
ークの面に形成される皮膜、特に、第1電極に近い下端
部に形成される皮膜は、付着強度が弱く、薄い。その理
由は、正イオンとそれに追随するラジカルが、第1電極
の上面に引き付けられるため、ワーク下端部に衝突する
量が少ないこと、ワーク下端部に直角に衝突せず斜めに
衝突することにあると推定される。また、第1電極の上
面の広い領域に皮膜が形成されること、第1電極の下面
とこれに対応する第2電極との間の空間に発生するプラ
ズマがワークの皮膜形成に全く寄与しないことにより、
電力が無駄に消費される。
(イ)導電性ワークを取り付けるための取り付け部を有
する第1電極と、(ロ)第2電極と、(ハ)上記第1電
極と第2電極との間の反応空間を真空にする吸引手段
と、(ニ)上記反応空間に反応ガスを供給するガス供給
手段と、(ホ)上記第1電極に接続され、上記反応空間
に高周波電力を供給することにより、この反応空間にプ
ラズマを発生させる高周波電源と、(ヘ)上記プラズマ
の正イオンをワークに向かって引き付けるバイアス手段
と、を備えたプラズマCVD装置において、上記第2電
極は、上記ワークと第1電極の取り付け部を囲むよう
に、また上記反応空間を区画してこの反応空間内に生じ
たプラズマを閉じ込めるように、容器形状をなしてお
り、上記容器形状の第2電極は、内方に突出して配置領
域を区画する補助壁を有し、上記第1電極の取り付け部
は、補助壁から電気的に絶縁された状態でこの配置領域
内に配置されるとともに、補助壁の先端縁から補助壁の
突出方向に突出していることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記第2電極の補助壁は、互
いに離間対向して一対設けられており、上記一対の補助
壁で区画された配置領域に上記第1電極の取り付け部が
配置されていることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記ワークは互いに平行をな
す一対の平坦面を有し、これら平坦面と直交するワーク
の他の面が上記第1電極の取り付け部に接する接触面と
して提供され、上記第2電極は、上記ワークが第1電極
に取り付けられた状態でワークの一対の平坦面にそれぞ
れ対峙する一対の平坦な第1対向壁と、これら一対の第
1対向壁とそれぞれ平行をなして対峙する上記一対の補
助壁と、これら補助壁を対応する第1対向壁に連ねる第
1連結壁と、を有しており、各補助壁はこの第1連結壁
から内方に突出していることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記第1電極にワークが取り
付けられた状態で、ワークの一対の平坦面とこれらにそ
れぞれ対応する上記第2電極の一対の第1対向壁との間
の距離が、互いに等しいことを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記ワークは、上記接触面の
反対側に位置するとともに上記一対の平坦面と交わる頂
面を有し、第2電極は、さらに、この頂面と対峙する第
2対向壁と、この第2対向壁を上記一対の第1対向壁に
連ねる一対の円弧形状の第2連結壁とを有していること
を特徴とする。
ズマCVD装置において、上記第1電極が細長く延びる
とともに上記一対の補助壁間に配置されたベース部を有
し、上記第2電極の補助壁と第1対向壁がこのベース部
と同方向に延びており、上記取り付け部が間隔をおいて
上記ベース部の延び方向に複数配置され、上記ベース部
において取り付け部間に位置する部分がこの取り付け部
より凹んでいることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記補助壁は筒形状をなし、
この補助壁で区画された配置領域に上記第1電極の取り
付け部が配置されることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記ワークはほぼ円柱形状を
なし、その一方の端面が上記第1電極の取り付け部に接
する接触面として提供され、上記第1電極の取り付け部
は円柱形状をなし、第2電極の補助壁はこの取り付け部
と同心の円筒形状をなし、第2電極は、さらに、ワーク
が第1電極に取り付けられた状態でワークの周面に対峙
するとともに補助壁と同心をなす円筒形状の第1対向壁
と、この第1対向壁と補助壁とを連ねる第1連結壁とを
有しており、上記補助壁はこの第1連結壁から内方に突
出していることを特徴とする。
ズマCVD装置において、上記第2電極は、上記ワーク
が第1電極に取り付けられた状態でワークの他方の端面
と対峙する第2対向壁と、この第2対向壁を第1対向壁
に連ねる第2連結壁とを備え、この第2連結壁はほぼ半
球殻形状をなしていることを特徴とする。
ラズマCVD装置において、上記第1電極の取り付け部
においてワークを受ける受面が、この受面に対峙するワ
ークの面と等しい形状をなしており、ワークは、上記取
り付け部に取り付けられた状態においてこの取り付け部
と面一をなしていることを特徴とする。
ラズマCVD装置において、上記第1電極の取り付け部
においてワークを受ける受面が、この受面に対峙するワ
ークの面より小さい形状をなしており、ワークは、上記
取り付け部に取り付けられた状態においてこの取り付け
部から補助壁に向かって突出していることを特徴とす
る。
ラズマCVD装置において、上記第2電極は、複数の挿
通孔を有する平板形状の共通のベース部と、このベース
部に挿通孔を囲むようにして取り付けられベース部と協
働してそれぞれ上記反応空間を区画する複数のフード部
と、各フード部内において上記貫通孔を囲むようにして
上記ベース部に設けられた筒形状をなす上記補助壁とを
備え、上記第1電極は、上記第2電極のベース部とほぼ
平行に対峙して上記フード部の反対側に配置されたベー
ス部と、この第1電極のベース部から突出した複数の上
記取り付け部とを備え、各取り付け部は、第2電極のベ
ースの挿通孔を通り補助壁を通って、この補助壁の先端
縁から突出していることを特徴とする。
実施態様をなすプラズマCVD装置が示されている。こ
のプラズマCVD装置は、導電性ワークWに皮膜を形成
するためのものである。このワークWは、例えばベーン
ポンプのベーンであり、長方形の平板(六面体)により
形成されている。ワークWは、互いに平行をなし広い面
積を有する一対の平坦面W1,W2と、頂面W3と、側
面W4,W5と、底面W6とを有している。面W1〜W
5が皮膜形成の対象となる面であり、特に、面W1,W
2,W3は、皮膜による高い耐摩耗性を要求される。底
面W6は後述する第1電極10への接触面として提供さ
れ、この底面W6には皮膜が形成されない。
を備えている。これら電極は、銅やステンレスからな
り、図1の紙面と直交する方向に延びている。第2電極
20は接地されており、また、後述するプラズマを閉じ
込めるために容器形状をなし、その内部空間が反応空間
29となっている。第2電極20は、水平をなす長方形
の底壁21(第1連結壁)と、図1に示すようにこの底
壁21の長辺から垂直に立ち上がる互いに平行な一対の
側壁22(第1対向壁)と、図2に示すように底壁21
の短辺から垂直に立ち上がる互いに平行な一対の側壁2
3と、幅の狭い長方形をなす水平な頂壁24(第2対向
壁)と、この頂壁24を上記一対の側壁22に連ねる円
弧壁25(第2連結壁)とを備えている。上記側壁2
2,23,頂壁24,円弧壁25は、一体をなしてフー
ド部26を構成している。このフード部26は、上記底
壁21に対して着脱可能にかつ気密に取り付けられるよ
うになっている。
部から一対の補助壁27が垂直に上方に突出している。
これら補助壁27は、側壁22と平行をなし、側壁22
と同じ長さを有している。互いに離れた一対の補助壁2
7間に第1電極10を配置するための配置領域Aが区画
されている。一対の補助壁27とこれらにそれぞれ対峙
する一対の側壁22との間の距離は、互いに等しい。
は、細長いベース部11と、このベース部11から上方
に突出する複数例えば3つの取り付け部12と、ベース
部11の中央から下方に突出する凸部13とを有してい
る。上記取り付け部12は、ベース部11の延び方向に
等間隔をおいて配置されており、その上面12a(受
面)は、上述したワークWの底面W1と同形状をなして
いる。ベース11において取り付け部12間に位置する
部位の上面11aは、取り付け部12の上面12aより
低い位置にある。
助壁27の間の配置領域A内に配置されている。図1に
示すように、第1電極10の両側面は一対の補助壁27
に対して、互いに等しい間隔をもって離れている。な
お、第1電極10は第2電極20より短くなっており、
第1電極10の両端面は、第2電極20の一対の側壁2
3から等しい間隔をもって離れている。
セラミック等の絶縁体30が収容されており、電極1
0,20間の電気的絶縁を確保している。上記第1電極
10のベース部11は、この絶縁体30の上面30aに
形成された収容凹部30bに収容されている。本実施例
では、絶縁体30の上面30aと、第1電極10のベー
ス11の上面11aは、第2電極20の補助筒27の上
端縁と同一高さにある。第1電極10の取り付け部12
は、補助筒27の上端縁から上方に突出している。
0の中央部に形成された貫通孔30cを通り、第2電極
20の底壁21に形成された開口21aを通って、下方
に突出されており、ここに、高周波電源31がインピー
ダンスマッチング回路32を介して接続されている。
れており、この管33には反応ガスを蓄えたガスボンベ
34(ガス供給手段)が接続されている。また、第2電
極20には、排気管35が取り付けられており、この管
35には真空ポンプ36(真空吸引手段)が接続されて
いる。
晶質炭素の皮膜を形成する工程について説明する。ま
ず、第2電極20のフード部26を底壁21から取り外
した状態で、第1電極10の3つの取り付け部12の上
面12aに、それぞれワークWを載せる。本実施例で
は、この上面12aに形成されて上方に突出する凸部1
2xを、ワークWの底面W6に形成された穴に嵌め込む
ことにより、ワークWの位置決めと確実な支持を行って
いる。なお、これら凸部12xと穴はなくてもよい。上
記ワークWの位置決め状態において、ワークWの底面W
6と取り付け部12の上面12aが実質的に一致し、そ
の結果、ワークWの面W1,W2,W4,W5は、対応
する取り付け部12の側面と面一をなしている。
6を底壁21に気密に取り付ける。この状態において、
ワークWの2つの平坦面W1,W2に対して、第2電極
20の一対の側壁22が互いに等しい距離Dだけ離れて
平行に対峙している。また、第2電極20の頂壁24
は、同距離Dだけ離れて対峙している。円弧壁25は、
面W1,W2と頂面W3の交差点を中心とする円(この
円の半径は、上記距離Dと等しい)上に配置されてい
る。
は、真空ポンプ36の駆動で真空となる。この反応空間
29には、ガスボンベ34から、反応ガス例えばテトラ
メチルシラン(TMS)、メタンガスの混合ガスを供給
する。また、高周波電源32から第1電極10に高周波
電力を供給する。この際、ワークWは導電性を有してい
るので、第1電極10の一部として機能する。
ガスの一部がプラズマとなり、最初は負イオンすなわち
電子が高周波電界によって、主にワークW,第2電極2
0に至る。第2電極20に達した電子はアースへ逃げ、
ワークWに達した電子は、第1電極10を通り、インピ
ーダンスマッチング回路31のコンデンサに蓄えられ
る。その結果、ワークWと第1電極10は負の電位レベ
ルとなり、後述する正イオンを引き付ける(自己バイア
ス)。なお、ワークWの電位レベルは負の一定レベルに
達して安定する。
は、中心電位レベルが負の所定の閾値より低いため、プ
ラズマが発生しない。プラズマは、第1電極10および
ワークWの近傍空間を除いた反応空間29で発生する。
また、主にプラズマ中の電子の激しい運動により、ガス
の一部が分解してラジカルが発生する。
に生じた電位レベルの勾配により、ワークWに向かって
進み、これらに衝突する。この際ラジカルも正イオンの
流れにしたがって進みワークWに衝突する。これら正イ
オンおよびラジカルの衝突により、図3に示すように、
ワークWの面W1〜W5に均一厚さの皮膜Sが大きな付
着強度をもって形成される。
ークWの一対の平坦面W1,W2および頂面W3には、
第2電極20の一対の側壁22および頂壁24がそれぞ
れ対峙しており、しかも側壁22,頂壁24間は円弧壁
25で覆われている。そのため、ワークWの面W1,W
2,W3を囲む空間には、プラズマが安定して発生す
る。しかも、ワークW近傍での電位勾配は、ワークWの
各面W1,W2,W3とほぼ平行な等電位レベル線を描
くようにして生じているので、正イオンをこれら面W
1,W2,W3に対して実質的に直交した方向から大き
な衝突エネルギーで衝突させることができる。その結
果、これら面W1,W2,W3に形成される皮膜Sは、
厚く、付着強度も大きい。
側壁22までの距離Dが互いに等しいので、これら平坦
面W1,W2に形成される皮膜Sの厚さを等しくするこ
とができる。
成については、次の通りである。第1電極10の取り付
け部12は、一対の補助壁27により区画された狭い配
置領域Aに配置されている。しかも、この取り付け部1
2とワークWの平坦面W1,W2が面一をなしているた
め、平坦面W1,W2の下端部でも上部と同様の電位勾
配が得られる。しかも、取り付け部12が補助壁27か
ら上方に突出しており、平坦面W1,W2の下端部の電
位勾配が補助壁27により大きな影響を受けない。その
結果、平坦面W1,W2の下端部に形成される皮膜S
は、それより上方の部位と差のない付着強度と厚さを得
ることができる。
は、次の通りである。各ワークWの側面W4,W5は、
側壁23と対峙するか他のワークWと十分な間隔をおい
て離れている。また、取り付け部12間のベース部11
の上面11aが凹んでおり、ワークWの側面W4,W5
と取り付け部12の側面とが面一をなしている。このた
め、側面W4,W5にも比較的良好な皮膜Sを形成する
ことができる。
する。上記ワークWの下端部での皮膜形成を良好に行う
ためには、補助壁27を形成せずに、第1電極10を第
2電極20の底壁21から突出させて露出させることも
考えられる。この場合には、水平に広がる底壁21によ
るワークW近傍の電位勾配への影響を無くすように、第
1電極10を底壁21から上方に大きく突出させ、ワー
クWを底壁21から大きく離す必要がある。しかし、こ
のような構成では、底壁21から突出して露出する第1
電極10の広い面に皮膜が形成されてしまい、電力消費
に無駄が生じる。
10の大部分を覆う。補助壁27は水平方向の面的広が
りがないので、ワークWの下端部近傍の電位勾配が補助
壁27からの影響を回避できる突出量(補助壁27の上
端縁からの第1電極10の取り付け部12の突出量)
は、小さくて済む。そのため、反応空間29に露出した
第1電極10の面積を最小限にすることができ、第1電
極10への皮膜形成による電力消費を最小限にすること
ができる。
間29を区画することにより、プラズマを閉じ込めるの
で、発生するプラズマを有効に利用でき、これによって
も電力消費を節約できる。また、3つのワークWに同時
に皮膜形成をすることができるので生産性が高い。な
お、本実施例では、第2電極20は、第1電極10およ
び絶縁体30と協働して、真空槽となっているので、こ
の第2電極20を囲む真空槽を別途必要とせず、装置を
小型にすることができる。
行った。この実験において、ワークWは、40mm×2
0mm×5mmの6面体をなすアルミニウム合金製のベ
ーンを用いた。装置の寸法は以下の通り。補助壁27の
高さは20mm,補助壁27と第1電極10の間の距離
は3mm,補助壁27の上端縁からの取り付け部12の
突出量は5mmである。取り付け部12の受面12aは
20mm×5mmの長方形をなしている。3つのワーク
Wを第1電極10に取り付けた状態で、ワークWの配置
間隔は40mm,図2において左側のワークWの側面W
4と側壁23との距離,右側のワークWの側面W5と他
方の側壁23との間の距離は、それぞれ20mmであ
る。また、各ワークWの平坦面W1,W2とこれに対応
する側壁22との間の距離は、それぞれ35mm、ワー
クWの頂面W3と頂壁24との間の距離も35mmであ
る。
し、sccmは、スタンダードキュービックセンチメー
トル/分の略) 成膜時間 2時間
成された非晶質炭素の皮膜Sの厚さは10μmであり、
この頂面W3の全域にわたってほぼ均一であった。平坦
面W1,W2,側面W4,W5に形成された皮膜Sの厚
さは共に7μm(±0.5μm)であり、各面での皮膜
Sの厚さは均一であった。これらの面W1〜W5での皮
膜Sの付着強度を、スクラッチテストによる剥離荷重と
して測定したところ、30Nであった。なお、剥離荷重
が大きいほど付着強度が大きいことを示している。
2電極は、それぞれ直径180mmの円板からなり、互
いに水平をなし65mmの間隔で上下に離れている。こ
れら電極は真空槽に収容されている。下側の第1電極の
上面中央には、1つのワークWが載せられる。ワークW
の寸法および他の条件は、上記本実施例装置での実験と
同じである。この比較実験では、ワークWの頂面W3の
皮膜Sの厚さは6μmであり、全域にわたって均一であ
った。面W1,W2,W4,W5での皮膜の厚さは、下
端に向かうにしたがって減少しており、最大4μm最小
1μmであった。剥離荷重は頂面W3で30N、他の面
W1,W2,W4,W5で約10Nであった。
うに、本実施例装置によれば、皮膜の厚さと付着強度の
両方に大幅な改善が認められた。
つだけ設置するようにしてもよい。この場合、第1電極
10,第2電極20は短く形成され、ワークWの2つの
側面W4,W5に第2電極20の両側壁23がそれぞれ
対峙する。補助壁は第1電極10の取り付け部12を囲
むように断面矩形の筒形状に形成してもよい。
け部12の上面12aは、ワークWの底面W6より小さ
くてもよい。この場合には、底面W6の周縁部が取り付
け部12から水平に突出して段となる。この段は、ワー
クWの下端部の電位勾配に大きな影響を与えない。
け部12の上面12aは、ワークWの底面W6より小さ
くてもよい。この場合には、上面12aの周縁部がワー
クWから水平に突出して段となる。この段は、所定突出
量の範囲であれば、ワークWの下端部の電位勾配に大き
な影響を与えない。
縁体30が収容され、この絶縁体30の上面と補助壁2
7の上端縁は同じ高さになっている。絶縁体30の上面
には、複数の第1電極10が補助壁27から突出するよ
うにして固定されている。これら第1電極10は、その
まま取り付け部12として提供される。この装置でも図
1,図2に示す実施例と同様の作用効果が得られる。
ズマだけを閉じ込めるようにしてもよい。この場合に
は、第2電極を真空槽に収容し、この真空槽にガス供給
ボンベと真空ポンプを接続する。補助壁および第1電極
の取り付け部の突出方向は、水平方向であってもよい。
この場合、取り付け部へのワークの取り付けには特殊な
取り付け手段が必要となる。
の円柱形状のワークW’に皮膜を形成するためのもので
ある。このワークW’の一方の端面W1’が後述する第
1電極50に接する接触面となり、周面W2’と他方の
端面W3’が皮膜形成対象面となる。
電極50と第2電極60とを備えている。第2電極60
は、円板形状をなす水平なベース部61(第1連結壁)
と、このベース部61の上面に着脱可能に取り付けられ
る複数例えば4つのフード部62と、これらフード部6
2の上端を連結する円板形状の水平な連結板63と、フ
ード部62内においてベース部61の上面に固定された
円筒形状の補助壁64と、を備えている。
挿通孔61aが周方向に等しい角度間隔だけ離れて形成
されるとともに、この挿通孔61aから離れた位置に複
数例えば5つのガス流出孔61bが形成されている。ガ
ス流出孔61bには網61cが取り付けられている。上
記補助壁64は、上記挿通孔61aを同心をなして囲む
ように、その周縁に固定されている。さらに、ベース部
61の上面には、上記挿通孔61aおよび補助壁64と
同心をなして円筒形状の取り付け筒65が固定されてい
る。
て反応空間69を区画しており、円筒66(第1対向
壁)と、この円筒66の中間部内周に固定された半球殻
形状のカップ67(第2連結壁)とを有している。カッ
プ67の頂部67a(第2対向壁)は平坦をなし網によ
って形成されている。フード部62は、その下端部を上
記取り付け筒65に嵌めることにより、ベース部61に
取り付けられ、この状態で、円筒66は、挿通孔61a
および補助壁64と同心に配置されている。
ップ67の頂部67aが、上記連結板63の下面に取り
付けられている。連結板63には、このカップ67の頂
部67aに対応してガス導入孔63aが形成されてい
る。このガス導入孔63aには上方に延びる管80を介
してガスボンベ(図示しない)が接続されている。
ース部51と、このベース部51の上面から垂直に突出
する円柱形状の取り付け部52とを有している。この第
1電極50のベース部51は、平行をなす円板形状の絶
縁体70に載せられている。この絶縁体70の周縁部に
は、上方に突出するリング形状の凸部71が形成されて
いる。この凸部71の上面に上記第2電極60のベース
部61が載せられている。その結果、第1電極50のベ
ース部51は、上記第2電極60のベース部61の下方
において、狭い間隔で離間しており、このベース部61
と平行をなしている。
2電極60のベース部61の挿通孔61aを通り、補助
壁64を通って、この補助壁64の上端縁から上方に突
出している。取り付け部52は補助壁64に対して同心
をなして離れている。
央には凸部53が形成されており、この凸部53は、絶
縁体70を貫通して下方に突出し、ここにインピーダン
スマッチング回路32を介して高周波電源31が接続さ
れている。
縁体70は、真空槽90内に収容されるようになってい
る。この真空槽90には真空ポンプ(図示しない)が接
続されている。
非晶質炭素の皮膜を形成する工程について説明する。ま
ず、第2電極60のフード部62をベース部61から取
り外した状態で、第1電極50のすべての取り付け部5
2の上面52a(受面)にそれぞれワークW’を載せて
位置決めする。このワークW’の位置決め状態におい
て、ワークW’の底面W1’と取り付け部12の上面1
2aが実質的に一致し、その結果、ワークW’の周面W
2’は、取り付け部52の周面と面一をなしている。
62をベース部61に取り付ける。この状態において、
ワークW’の周面W2’に対して、第2電極60の円筒
66が、全周にわたって等しい距離D’だけ離れて平行
に対峙している。また、ワークW’の頂面W3’に対し
て、カップ67の頂部67aは、同距離D’だけ離れて
対峙している。
90を閉じ、真空ポンプを駆動するとともに、ガスボン
ベから反応ガスを供給する。この反応ガスは、連結板6
3のガス導入孔63aからカップ67の網製の頂部67
aを経て反応空間69に入る。そして、補助壁64と取
り付け部52の間を通り、ベース部61の挿通孔61b
を通り、ベース部51,61間を通り、ガス排出孔61
bから真空槽90内に排出される。この状態で、高周波
電源32から第1電極50に高周波電力を供給する。
ワークへのバイアスに関しては、最初の実施例と実質的
に同じであるので、説明を省略する。正イオンおよびラ
ジカルは、ワークW’近傍に生じた電位レベルの勾配に
より、ワークW’に向かって進み、その周面W2’およ
び頂面W3’に衝突する。この正イオンおよびラジカル
の衝突により、ワークW’の面W2’,W3’に均一厚
さの皮膜が大きな付着強度をもって形成される。
クW’の周面W2’および頂面W3’には、第2電極6
0の円筒66およびカップ67の頂部67aがそれぞれ
対峙しており、しかも円筒66および頂部67a間はカ
ップ67で覆われている。そのため、ワークW’の面W
2’,W3’を囲む空間には、プラズマが安定して発生
する。しかも、ワークW’近傍での電位勾配は、周面W
2’,頂面W3’とほぼ平行な等電位レベル線を描くよ
うにして生じているので、正イオンをこれら面W2’,
W3’に対して実質的に直交した方向から大きな衝突エ
ネルギーで衝突させることができる。その結果、これら
面W2’,W3’に形成される皮膜は、厚く、付着強度
も大きい。
6までの距離D’が全周にわたって等しいので、この周
面W2’に形成される皮膜の厚さを周方向に均等にする
ことができる。
は、次の通りである。第1電極50の取り付け部52
は、円筒形状の補助壁64により区画された狭い配置領
域に配置されている。しかも、この取り付け部52の周
面とワークW’の周面W2’が面一をなしているため、
周面W2’の下端部でも上部と同様の電位勾配が得られ
る。しかも、取り付け部52が補助壁64から上方に突
出しており、周面W2’の下端部の電位勾配が補助壁6
4により大きな影響を受けない。その結果、周面W2’
の下端部に形成される皮膜は、それより上方の部位と差
のない付着強度と厚さを得ることができる。
例と同じ理由により電力を節約することができる。ま
た、4本のワークW’の皮膜形成を同時に行うことがで
き、生産性が高い。
行った。この実験において、ワークW’は、直径10m
m,長さ30mmの高速度切削工具を用いた。装置の寸
法は以下の通り。補助壁64の高さは20mm,補助壁
64と第1電極50の取り付け部52間の距離は3m
m,補助壁64の上端縁からの取り付け部52の突出量
は5mmである。取り付け部52の受面52aは直径1
0mmの円形をなしている。ワークW’を第1電極50
に取り付けた状態で、ワークW’の周面W2’とこれに
対応する円筒66との間の距離は35mm、ワークWの
端面W3’とカップ67の頂部67aとの間の距離も3
5mmである。
に形成された非晶質炭素の皮膜の厚さは10μmであ
り、この頂面W3’の全域にわたってほぼ均一であっ
た。周面W2’に形成された皮膜の厚さは7μm(±
0.5μm)であり、全域にわたって皮膜の厚さは均一
であった。これらの面W2’,W3’での皮膜の剥離荷
重は、ともに30Nであった。
実験には最初の実施例との比較実験に用いた装置をその
まま用いた。ワークW’は、第1電極の中央に載せた。
この比較実験では、ワークW’の頂面W3’の皮膜の厚
さは6μmであり、全域にわたって均一であった。周面
W2’での皮膜の厚さは、下端に向かうにしたがって減
少しており、最大5μm最小1μmであった。剥離荷重
は頂面W3’で30N、周面W2’で約10Nであっ
た。
うに、図7,図8の装置によれば、皮膜の厚さと付着強
度の両方に大幅な改善が認められた。
2aを、ワークW’の端面W1’より小径にしてもよい
し、若干大径にしてもよい。また、ワークW’を水平に
設置してもよい。
よれば、第2電極を容器形状にして第1電極の取り付け
部とワークを囲むようにし、この取り付け部を第2電極
の補助壁で区画された配置領域に配置するとともに補助
壁の先端縁から突出させたので、ワークにおいて、第1
電極の近傍部位に形成された皮膜の厚さや付着強度を、
第1電極から離れた部位と実質的な差がなく、満足すべ
きものにすることができる。
応して一対の補助壁で配置領域を区画するので、特にワ
ークの2つの面を皮膜対象面とする場合に、好適であ
る。請求項3の発明によれば、ワークの一対の平坦面を
皮膜形成対象面とした時に、各平坦面に、ほぼ均等の厚
さ,ほぼ均等の付着強度で皮膜を形成することができ
る。請求項4の発明によれば、ワークの一対の平坦面の
皮膜厚さを互いに等しくすることができる。請求項5の
発明によれば、ワークの頂面にも良好な皮膜を形成する
ことができる。請求項6の発明によれば、複数のワーク
に同時に皮膜を形成することができ、生産性を向上でき
る。請求項7の発明によれば、補助壁が筒形状をなして
いるので、この補助壁に対応するワークの面すべてに良
好な皮膜を形成することができる。請求項8の発明によ
れば、円柱形状のワークの周面全域にわたって良好な皮
膜を形成することができる。請求項9の発明によれば、
円柱形状のワークの頂面にも良好な皮膜を形成すること
ができる。請求項10,11の発明によれば、ワーク下
端部において一層確実に良好な皮膜を形成することがで
きる。請求項12の発明によれば、複数のワークに同時
に皮膜を形成することができ、生産性を向上できる。
膜を形成するためのプラズマCVD装置を示す断面図で
ある。
さは誇張して示されている。
(A)は側面図、(B)は平面図である。
示し、(A)は側面図、(B)は平面図である。
マCVD装置を示す縦断面図である。
Claims (12)
- 【請求項1】(イ)導電性ワークを取り付けるための取
り付け部を有する第1電極と、(ロ)第2電極と、
(ハ)上記第1電極と第2電極との間の反応空間を真空
にする吸引手段と、(ニ)上記反応空間に反応ガスを供
給するガス供給手段と、(ホ)上記第1電極に接続さ
れ、上記反応空間に高周波電力を供給することにより、
この反応空間にプラズマを発生させる高周波電源と、
(ヘ)上記プラズマの正イオンをワークに向かって引き
付けるバイアス手段と、を備えたプラズマCVD装置に
おいて、 上記第2電極は、上記ワークと第1電極の取り付け部を
囲むように、また上記反応空間を区画してこの反応空間
内に生じたプラズマを閉じ込めるように、容器形状をな
しており、 上記容器形状の第2電極は、内方に突出して配置領域を
区画する補助壁を有し、上記第1電極の取り付け部は、
補助壁から電気的に絶縁された状態でこの配置領域内に
配置されるとともに、補助壁の先端縁から補助壁の突出
方向に突出していることを特徴とするプラズマCVD装
置。 - 【請求項2】上記第2電極の補助壁は、互いに離間対向
して一対設けられており、上記一対の補助壁で区画され
た配置領域に上記第1電極の取り付け部が配置されてい
ることを特徴とする請求項1に記載のプラズマCVD装
置。 - 【請求項3】上記ワークは互いに平行をなす一対の平坦
面を有し、これら平坦面と直交するワークの他の面が上
記第1電極の取り付け部に接する接触面として提供さ
れ、 上記第2電極は、上記ワークが第1電極に取り付けられ
た状態でワークの一対の平坦面にそれぞれ対峙する一対
の平坦な第1対向壁と、これら一対の第1対向壁とそれ
ぞれ平行をなして対峙する上記一対の補助壁と、これら
補助壁を対応する第1対向壁に連ねる第1連結壁と、を
有しており、 各補助壁はこの第1連結壁から内方に突出していること
を特徴とする請求項2に記載のプラズマCVD装置。 - 【請求項4】上記第1電極にワークが取り付けられた状
態で、ワークの一対の平坦面とこれらにそれぞれ対応す
る上記第2電極の一対の第1対向壁との間の距離が、互
いに等しいことを特徴とする請求項3に記載のプラズマ
CVD装置。 - 【請求項5】上記ワークは、上記接触面の反対側に位置
するとともに上記一対の平坦面と交わる頂面を有し、第
2電極は、さらに、この頂面と対峙する第2対向壁と、
この第2対向壁を上記一対の第1対向壁に連ねる一対の
円弧形状の第2連結壁とを有していることを特徴とする
請求項3に記載のプラズマCVD装置。 - 【請求項6】上記第1電極が細長く延びるとともに上記
一対の補助壁間に配置されたベース部を有し、上記第2
電極の補助壁と第1対向壁がこのベース部と同方向に延
びており、上記取り付け部が間隔をおいて上記ベース部
の延び方向に複数配置され、上記ベース部において取り
付け部間に位置する部分がこの取り付け部より凹んでい
ることを特徴とする請求項2に記載のプラズマCVD装
置。 - 【請求項7】上記補助壁は筒形状をなし、この補助壁で
区画された配置領域に上記第1電極の取り付け部が配置
されることを特徴とする請求項1に記載のプラズマCV
D装置。 - 【請求項8】上記ワークはほぼ円柱形状をなし、その一
方の端面が上記第1電極の取り付け部に接する接触面と
して提供され、 上記第1電極の取り付け部は円柱形状をなし、第2電極
の補助壁はこの取り付け部と同心の円筒形状をなし、 第2電極は、さらに、ワークが第1電極に取り付けられ
た状態でワークの周面に対峙するとともに補助壁と同心
をなす円筒形状の第1対向壁と、この第1対向壁と補助
壁とを連ねる第1連結壁とを有しており、 上記補助壁はこの第1連結壁から内方に突出しているこ
とを特徴とする請求項7に記載のプラズマCVD装置。 - 【請求項9】上記第2電極は、上記ワークが第1電極に
取り付けられた状態でワークの他方の端面と対峙する第
2対向壁と、この第2対向壁を第1対向壁に連ねる第2
連結壁とを備え、この第2連結壁はほぼ半球殻形状をな
していることを特徴とする請求項8に記載のプラズマC
VD装置。 - 【請求項10】上記第1電極の取り付け部においてワー
クを受ける受面が、この受面に対峙するワークの面と等
しい形状をなしており、ワークは、上記取り付け部に取
り付けられた状態においてこの取り付け部と面一をなし
ていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマCV
D装置。 - 【請求項11】上記第1電極の取り付け部においてワー
クを受ける受面が、この受面に対峙するワークの面より
小さい形状をなしており、ワークは、上記取り付け部に
取り付けられた状態においてこの取り付け部から補助壁
に向かって突出していることを特徴とする請求項1に記
載のプラズマCVD装置。 - 【請求項12】上記第2電極は、複数の挿通孔を有する
平板形状の共通のベース部と、このベース部に挿通孔を
囲むようにして取り付けられベース部と協働してそれぞ
れ上記反応空間を区画する複数のフード部と、各フード
部内において上記貫通孔を囲むようにして上記ベース部
に設けられた筒形状をなす上記補助壁とを備え、 上記第1電極は、上記第2電極のベース部とほぼ平行に
対峙して上記フード部の反対側に配置されたベース部
と、この第1電極のベース部から突出した複数の上記取
り付け部とを備え、 各取り付け部は、第2電極のベースの挿通孔を通り補助
壁を通って、この補助壁の先端縁から突出していること
を特徴とする請求項1に記載のプラズマCVD装置。
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